JPH085659A - 挿入式試験端子の試験プラグ - Google Patents
挿入式試験端子の試験プラグInfo
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- JPH085659A JPH085659A JP6134662A JP13466294A JPH085659A JP H085659 A JPH085659 A JP H085659A JP 6134662 A JP6134662 A JP 6134662A JP 13466294 A JP13466294 A JP 13466294A JP H085659 A JPH085659 A JP H085659A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 試験プラグ挿入時の保護回路の誤作動を防止
して、保護回路の動作試験を容易に行うことのできる挿
入式試験端子の試験プラグを提供すること。 【構成】 複数の変流器と複数の過電流継電器と地絡過
電流継電器とを備えた保護回路に装備された挿入式試験
端子であって、試験プラグ３０Ａは、中性点Ｎと地絡過
電流継電器５５間の接点装置１０に挿入される接触子３
５Ｎ，４５Ｎの長さが、変流器５１Ｂ，Ｗ，Ｒと過電流
継電器５３Ｂ，Ｗ，Ｒ間の接点装置１０に挿入される接
触子３５Ｂ，Ｗ，Ｒ、４５Ｂ，Ｗ，Ｒの長さより短く形
成されてなる、ことを特徴とする。
して、保護回路の動作試験を容易に行うことのできる挿
入式試験端子の試験プラグを提供すること。 【構成】 複数の変流器と複数の過電流継電器と地絡過
電流継電器とを備えた保護回路に装備された挿入式試験
端子であって、試験プラグ３０Ａは、中性点Ｎと地絡過
電流継電器５５間の接点装置１０に挿入される接触子３
５Ｎ，４５Ｎの長さが、変流器５１Ｂ，Ｗ，Ｒと過電流
継電器５３Ｂ，Ｗ，Ｒ間の接点装置１０に挿入される接
触子３５Ｂ，Ｗ，Ｒ、４５Ｂ，Ｗ，Ｒの長さより短く形
成されてなる、ことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、保護継電器盤等にお
ける過電流継電器、地絡過電流継電器等の動作試験を行
う挿入式試験端子の試験プラグに関する。
ける過電流継電器、地絡過電流継電器等の動作試験を行
う挿入式試験端子の試験プラグに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、送配電用の電気設備に対する電気
的保護方式として、例えば、図６に示すような保護回路
がある。この保護回路は、母線５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒ
の各相に変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒが設けられると
ともに、その一端側が中性点Ｎに接続されるとともに、
他端側がそれぞれ過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ
に接続されており、各過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５
３Ｒと中性点Ｎとの間には地絡過電流継電器５５が設け
られ、例えば、地絡過電流継電器５５よりの信号に基づ
いて、母線５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒと変圧器５７との間
に設けられた遮断器５９を遮断制御するように構成され
ていた。なお、以下では、変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１
Ｒのそれぞれの相をＢ，Ｗ，Ｒ相といい、中性点Ｎにつ
ながる相をＮ相という。
的保護方式として、例えば、図６に示すような保護回路
がある。この保護回路は、母線５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒ
の各相に変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒが設けられると
ともに、その一端側が中性点Ｎに接続されるとともに、
他端側がそれぞれ過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ
に接続されており、各過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５
３Ｒと中性点Ｎとの間には地絡過電流継電器５５が設け
られ、例えば、地絡過電流継電器５５よりの信号に基づ
いて、母線５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒと変圧器５７との間
に設けられた遮断器５９を遮断制御するように構成され
ていた。なお、以下では、変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１
Ｒのそれぞれの相をＢ，Ｗ，Ｒ相といい、中性点Ｎにつ
ながる相をＮ相という。
【０００３】このような保護回路においては、過電流継
電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地絡過電流継電器５５と
各変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの間に試験端子本体５
を配設し、試験プラグ３０に計器，電流発生器等を備え
た試験装置６０を接続した後、これを試験端子本体５に
挿入して、母線５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒを活線状態のま
ま、上記各継電器の試験が行われていた。
電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地絡過電流継電器５５と
各変流器５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの間に試験端子本体５
を配設し、試験プラグ３０に計器，電流発生器等を備え
た試験装置６０を接続した後、これを試験端子本体５に
挿入して、母線５０Ｂ，５０Ｗ，５０Ｒを活線状態のま
ま、上記各継電器の試験が行われていた。
【０００４】ここで試験端子本体５の概要を図７に基づ
いて説明する。図７は試験端子本体５の縦断面図を示
し、プラグ挿入口７を有する箱体６内には、４個の接点
装置１０が上記Ｂ，Ｗ，Ｒ相およびＮ相の各相に対応し
て並設されている。
いて説明する。図７は試験端子本体５の縦断面図を示
し、プラグ挿入口７を有する箱体６内には、４個の接点
装置１０が上記Ｂ，Ｗ，Ｒ相およびＮ相の各相に対応し
て並設されている。
【０００５】この接点装置１０は、副接触部１２，２
２、主接触部１３，２３、接点１４，２４をそれぞれ有
する上下１対の可動接触板１１，２１、および支持導体
１５，２５を主体とし、それぞれ端子１７，２７に接続
されて構成されている。なお、符号１６，２６は中継接
点であり、１８は圧縮コイル状のばねである。そして端
子１７は、例えば、変流器５１Ｂに接続され、端子２７
は過電流継電器５３Ｂに接続されて保護回路に介装され
ている。
２、主接触部１３，２３、接点１４，２４をそれぞれ有
する上下１対の可動接触板１１，２１、および支持導体
１５，２５を主体とし、それぞれ端子１７，２７に接続
されて構成されている。なお、符号１６，２６は中継接
点であり、１８は圧縮コイル状のばねである。そして端
子１７は、例えば、変流器５１Ｂに接続され、端子２７
は過電流継電器５３Ｂに接続されて保護回路に介装され
ている。
【０００６】また、従来の試験プラグ３０は、図８に示
すように、基体３１から突出した絶縁板３２に、各相に
対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の接
触子３５Ｂ，４５Ｂ、３５Ｗ，４５Ｗ、３５Ｒ，４５
Ｒ、３５Ｎ，４５Ｎが並設されており、それらの基端部
は、同軸状に配設された４組の端子３７，４７にそれぞ
れ接続されている。
すように、基体３１から突出した絶縁板３２に、各相に
対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の接
触子３５Ｂ，４５Ｂ、３５Ｗ，４５Ｗ、３５Ｒ，４５
Ｒ、３５Ｎ，４５Ｎが並設されており、それらの基端部
は、同軸状に配設された４組の端子３７，４７にそれぞ
れ接続されている。
【０００７】この試験プラグ３０は、例えば、複数の短
絡片３８により４個の端子３７間が連結接続されるとと
もに、他の端子４７には、試験装置６０が接続されて保
護回路の試験に供されていた。試験端子本体５に試験プ
ラグ３０が挿入されていない状態において、端子１７と
端子２７間は、支持導体１５，中継接点１６，接点２
４，可動接触板２１，支持導体２５、および支持導体２
５，中継接点２６，接点１４，可動接触板１１，支持導
体１５を介して閉路状態にあり、例えば、変流器５１Ｂ
は、過電流継電器５３Ｂおよび地絡過電流継電器５５と
閉回路を形成している。
絡片３８により４個の端子３７間が連結接続されるとと
もに、他の端子４７には、試験装置６０が接続されて保
護回路の試験に供されていた。試験端子本体５に試験プ
ラグ３０が挿入されていない状態において、端子１７と
端子２７間は、支持導体１５，中継接点１６，接点２
４，可動接触板２１，支持導体２５、および支持導体２
５，中継接点２６，接点１４，可動接触板１１，支持導
体１５を介して閉路状態にあり、例えば、変流器５１Ｂ
は、過電流継電器５３Ｂおよび地絡過電流継電器５５と
閉回路を形成している。
【０００８】過電流継電器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒ、地
絡過電流継電器５５の試験に際して、試験端子本体５に
試験プラグ３０が挿入されると、各接点装置１０の接点
１４，２４と中継接点２６，１６との間が開離される。
そして、例えば、変流器５１Ｂ，過電流継電器５３Ｂ間
の接続が遮断されるとともに、短絡片３８により変流器
５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの両端が短絡され、過電流継電
器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒおよび地絡過電流継電器５５
が試験装置６０に接続される。
絡過電流継電器５５の試験に際して、試験端子本体５に
試験プラグ３０が挿入されると、各接点装置１０の接点
１４，２４と中継接点２６，１６との間が開離される。
そして、例えば、変流器５１Ｂ，過電流継電器５３Ｂ間
の接続が遮断されるとともに、短絡片３８により変流器
５１Ｂ，５１Ｗ，５１Ｒの両端が短絡され、過電流継電
器５３Ｂ，５３Ｗ，５３Ｒおよび地絡過電流継電器５５
が試験装置６０に接続される。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来構成の挿入式試験端子の試験プラグにおいては、プラ
グ挿入時に次のような問題が生じる。
来構成の挿入式試験端子の試験プラグにおいては、プラ
グ挿入時に次のような問題が生じる。
【００１０】すなわち、プラグ挿入開始時に、試験プラ
グ３０がプラグ挿入軸に対し斜めに挿入されたとき、例
えば、接触子３５Ｂが接触子３５Ｎより遅れて接点装置
１０の副接触部１２に接触すると（両者の中間位置にあ
る接触子は、対応する副接触部に既に接触状態にあ
る）、図９に点線矢印で示すように、Ｂ，Ｗ，Ｒ相の電
流に不平衡が生じ、Ｂ相の電流が過電流継電器５３Ｂを
経て地絡過電流継電器５５を作動させる。従って、遮断
器５９が駆動されて母線が遮断されるという問題が発生
する。
グ３０がプラグ挿入軸に対し斜めに挿入されたとき、例
えば、接触子３５Ｂが接触子３５Ｎより遅れて接点装置
１０の副接触部１２に接触すると（両者の中間位置にあ
る接触子は、対応する副接触部に既に接触状態にあ
る）、図９に点線矢印で示すように、Ｂ，Ｗ，Ｒ相の電
流に不平衡が生じ、Ｂ相の電流が過電流継電器５３Ｂを
経て地絡過電流継電器５５を作動させる。従って、遮断
器５９が駆動されて母線が遮断されるという問題が発生
する。
【００１１】これを避けるため、従来は地絡過電流継電
器５５をリレーロックして、それによる遮断動作を停止
状態にしてから試験プラグ３０の挿入が行われていた。
そのため、試験準備のために手間がかかり、さらに、こ
のような保護回路は、一般には、保護継電器盤に多数並
列状に装備されており、誤操作防止のために格別の注意
力を必要とするという問題があった。
器５５をリレーロックして、それによる遮断動作を停止
状態にしてから試験プラグ３０の挿入が行われていた。
そのため、試験準備のために手間がかかり、さらに、こ
のような保護回路は、一般には、保護継電器盤に多数並
列状に装備されており、誤操作防止のために格別の注意
力を必要とするという問題があった。
【００１２】この発明は、上記にかんがみてなされたも
のであり、その目的とするところは、試験プラグ挿入時
の保護回路の誤動作を防止して、保護回路の動作試験を
容易に行うことのできる挿入式試験端子の試験プラグを
提供しようとするものである。
のであり、その目的とするところは、試験プラグ挿入時
の保護回路の誤動作を防止して、保護回路の動作試験を
容易に行うことのできる挿入式試験端子の試験プラグを
提供しようとするものである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】この発明は上記目的を達
成するためになされたものであり、母線の各相に設けら
れて一端が中性点に接続された複数の変流器と、一端が
前記複数の変流器の他端側にそれぞれ接続された複数の
過電流継電器と、前記複数の過電流継電器の他端と前記
中性点との間に設けられた地絡過電流継電器と、を備え
た保護回路において、前記変流器と過電流継電器との間
および前記中性点と地絡過電流継電器との間にそれぞれ
設けられそれらの間を開離可能な複数組の接点装置を有
する試験端子本体と、前記試験端子本体に挿入可能に形
成されるとともに絶縁板の上下面に固着されて前記複数
組の接点装置にそれぞれ接触可能な複数組の接触子を有
する試験プラグと、からなる挿入式試験端子であって、
前記試験プラグは、前記中性点と地絡過電流継電器間の
接点装置に挿入される接触子の長さが、前記変流器と過
電流継電器間の接点装置に挿入される接触子の長さより
短く形成されてなる、ことを特徴とする挿入式試験端子
の試験プラグである。
成するためになされたものであり、母線の各相に設けら
れて一端が中性点に接続された複数の変流器と、一端が
前記複数の変流器の他端側にそれぞれ接続された複数の
過電流継電器と、前記複数の過電流継電器の他端と前記
中性点との間に設けられた地絡過電流継電器と、を備え
た保護回路において、前記変流器と過電流継電器との間
および前記中性点と地絡過電流継電器との間にそれぞれ
設けられそれらの間を開離可能な複数組の接点装置を有
する試験端子本体と、前記試験端子本体に挿入可能に形
成されるとともに絶縁板の上下面に固着されて前記複数
組の接点装置にそれぞれ接触可能な複数組の接触子を有
する試験プラグと、からなる挿入式試験端子であって、
前記試験プラグは、前記中性点と地絡過電流継電器間の
接点装置に挿入される接触子の長さが、前記変流器と過
電流継電器間の接点装置に挿入される接触子の長さより
短く形成されてなる、ことを特徴とする挿入式試験端子
の試験プラグである。
【００１４】
【作用】この発明は上記のように構成されたものであ
り、試験プラグが、その変流器側が短絡処理されて試験
端子本体に挿入すると、挿入途中において、各変流器と
各過電流継電器間のすべての接触子が、それぞれ該当す
る接点装置に接触し、各変流器の中性点側と地絡過電流
継電器間の接触子が、それに該当する接点装置に未接触
状態にある。
り、試験プラグが、その変流器側が短絡処理されて試験
端子本体に挿入すると、挿入途中において、各変流器と
各過電流継電器間のすべての接触子が、それぞれ該当す
る接点装置に接触し、各変流器の中性点側と地絡過電流
継電器間の接触子が、それに該当する接点装置に未接触
状態にある。
【００１５】この状態において、各変流器の他端側は短
絡し、地絡過電流継電器は非作動状態を保持している。
この状態は、試験プラグが斜めに挿入されたときにおい
ても、各変流器と各過電流継電器間のすべての接触子
が、該当する接点装置に接触するまで保持され、地絡過
電流継電器は非作動状態は保持されている。
絡し、地絡過電流継電器は非作動状態を保持している。
この状態は、試験プラグが斜めに挿入されたときにおい
ても、各変流器と各過電流継電器間のすべての接触子
が、該当する接点装置に接触するまで保持され、地絡過
電流継電器は非作動状態は保持されている。
【００１６】そして、試験プラグの完全挿入により、中
性点と地絡過電流継電器間の接触子が接点装置に接触
し、各変流器が短絡された状態で、各過電流継電器およ
び地絡過電流継電器が各変流器より切離され、挿入式試
験端子の試験プラグによる保護回路の試験可能の状態と
なる。
性点と地絡過電流継電器間の接触子が接点装置に接触
し、各変流器が短絡された状態で、各過電流継電器およ
び地絡過電流継電器が各変流器より切離され、挿入式試
験端子の試験プラグによる保護回路の試験可能の状態と
なる。
【００１７】
【実施例】以下、この発明の挿入式試験端子の試験プラ
グの一実施例を図面に基づいて説明する。なお、以下で
は従来例との共通の部分は共通の符号を以って示し、重
複する説明を省略する。
グの一実施例を図面に基づいて説明する。なお、以下で
は従来例との共通の部分は共通の符号を以って示し、重
複する説明を省略する。
【００１８】図１，２は本発明の実施例を示し、本実施
例における試験プラグ３０Ａは、基体３１から突出した
絶縁板３２Ａに、相互に絶縁された上下各一対の接触子
３５Ｂ，４５Ｂ、３５Ｗ，４５Ｗ、３５Ｒ，４５Ｒがそ
の先端部を揃えて並設されており、さらに、それらより
も突出長の短い上下一対の接触子３６Ｎ，４６Ｎが、相
互に絶縁されて並設されて構成されている。
例における試験プラグ３０Ａは、基体３１から突出した
絶縁板３２Ａに、相互に絶縁された上下各一対の接触子
３５Ｂ，４５Ｂ、３５Ｗ，４５Ｗ、３５Ｒ，４５Ｒがそ
の先端部を揃えて並設されており、さらに、それらより
も突出長の短い上下一対の接触子３６Ｎ，４６Ｎが、相
互に絶縁されて並設されて構成されている。
【００１９】接触子３６Ｎ，４６Ｎは、試験プラグ３０
Ａが試験端子本体５に任意条件で挿入されるとき、図３
に示すように、挿入途中において、接触子３５Ｂ，４５
Ｂ、３５Ｗ，４５Ｗ、３５Ｒ，４５Ｒが、それぞれの系
統の接点装置１０の副接触部１２，２２に接触するまで
（試験プラグ３０Ａが斜めに挿入される状態も含む）、
接触子３６Ｎ，４６Ｎが当該系統の接点装置１０の副接
触部１２，２２に接触しない長さに設定されている。
Ａが試験端子本体５に任意条件で挿入されるとき、図３
に示すように、挿入途中において、接触子３５Ｂ，４５
Ｂ、３５Ｗ，４５Ｗ、３５Ｒ，４５Ｒが、それぞれの系
統の接点装置１０の副接触部１２，２２に接触するまで
（試験プラグ３０Ａが斜めに挿入される状態も含む）、
接触子３６Ｎ，４６Ｎが当該系統の接点装置１０の副接
触部１２，２２に接触しない長さに設定されている。
【００２０】さらに、接触子３６Ｎ，４６Ｎの長さは、
図４に示すように、試験プラグ３０Ａが試験端子本体５
に完全挿入状態において、接点装置１０の主接触部１
３，２３に押圧接触して電気的導通状態を形成するとと
もに、接点１４，２４をそれぞれ相対する中継接点２
６，１６より開離できる長さに設定されている。
図４に示すように、試験プラグ３０Ａが試験端子本体５
に完全挿入状態において、接点装置１０の主接触部１
３，２３に押圧接触して電気的導通状態を形成するとと
もに、接点１４，２４をそれぞれ相対する中継接点２
６，１６より開離できる長さに設定されている。
【００２１】図４に示す試験プラグ３０Ａの完全挿入状
態では、例えば、接触子３６Ｎ，４６Ｎは、それぞれ副
接触部１２，２２および主接触部１３，２３と導通し、
接点１４と中継接点２６および接点２４と中継接点１６
とは開離している。
態では、例えば、接触子３６Ｎ，４６Ｎは、それぞれ副
接触部１２，２２および主接触部１３，２３と導通し、
接点１４と中継接点２６および接点２４と中継接点１６
とは開離している。
【００２２】従って、端子１７は支持導体１５→可動接
触板１１の副接触部１２，主接触部１３→接触子３６Ｎ
→端子３７に接続される。また、端子２７は支持導体２
５→可動接触板２１の副接触部２２，主接触部２３→接
触子４６Ｎ→端子４７に接続される。これにより、端子
１７に接続された中性点Ｎと、端子２７に接続された地
絡過電流継電器５５との間は開離され、試験プラグ３０
Ａを介して保護回路の動作試験が行われる。
触板１１の副接触部１２，主接触部１３→接触子３６Ｎ
→端子３７に接続される。また、端子２７は支持導体２
５→可動接触板２１の副接触部２２，主接触部２３→接
触子４６Ｎ→端子４７に接続される。これにより、端子
１７に接続された中性点Ｎと、端子２７に接続された地
絡過電流継電器５５との間は開離され、試験プラグ３０
Ａを介して保護回路の動作試験が行われる。
【００２３】なお、この発明は上述の説明および図例に
限定されることなく、この発明の技術的思想から逸脱し
ない範囲において、その実施態様を変更することができ
る。例えば、Ｎ相の接触子は、図５に示すように、中性
点Ｎ側（図例では端子１７側）に接触する側のみを短く
した接触子３６Ｎ，絶縁板３２Ｂで構成した試験プラグ
３０Ｂであっても、同様の作用効果を奏する。
限定されることなく、この発明の技術的思想から逸脱し
ない範囲において、その実施態様を変更することができ
る。例えば、Ｎ相の接触子は、図５に示すように、中性
点Ｎ側（図例では端子１７側）に接触する側のみを短く
した接触子３６Ｎ，絶縁板３２Ｂで構成した試験プラグ
３０Ｂであっても、同様の作用効果を奏する。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように本発明の挿入式試験
端子の試験プラグによれば、Ｎ相の接触子を他の相の接
触子の長さより短くしたので、試験プラグを試験端子本
体へ挿入するとき、他のすべての相の接触子が接点装置
に接触後、Ｎ相の接触子の接点装置への接触を行うこと
ができる。
端子の試験プラグによれば、Ｎ相の接触子を他の相の接
触子の長さより短くしたので、試験プラグを試験端子本
体へ挿入するとき、他のすべての相の接触子が接点装置
に接触後、Ｎ相の接触子の接点装置への接触を行うこと
ができる。
【００２５】従って、試験プラグの斜め挿入等によるＮ
相接触子の先行接触が防止でき、地絡過電流継電器の誤
作動を防止することができる。そのため、保護回路の動
作試験のためのリレーロック等の準備の手間を省略でき
るとともに、従来例のように、リレーロックの誤操作防
止のための格別の注意を必要とせず、動作試験を簡潔、
かつ容易に行うことができる効果を奏する。
相接触子の先行接触が防止でき、地絡過電流継電器の誤
作動を防止することができる。そのため、保護回路の動
作試験のためのリレーロック等の準備の手間を省略でき
るとともに、従来例のように、リレーロックの誤操作防
止のための格別の注意を必要とせず、動作試験を簡潔、
かつ容易に行うことができる効果を奏する。
【図１】本発明の実施例の挿入式試験端子の試験プラグ
の平面図。
の平面図。
【図２】同じく側面図。
【図３】試験端子本体への試験プラグの挿入途中時の側
断面図。
断面図。
【図４】試験端子本体への試験プラグの完全挿入時の側
断面図。
断面図。
【図５】試験プラグの他の例を示す側面図。
【図６】挿入式試験端子を装備した保護回路の例を示す
回路図。
回路図。
【図７】試験端子本体を示す側断面図。
【図８】従来の試験プラグを示す斜視図。
【図９】保護回路の動作試験例を示す説明図。
５ 試験端子本体 １０ 接点装置 ３０，３０Ａ，３０Ｂ 試験プラグ ３２Ａ，３２Ｂ 絶縁板 ３５Ｂ、３５Ｗ、３５Ｒ 接触子 ３６Ｎ 接触子 ４５Ｂ、４５Ｗ、４５Ｒ 接触子 ４６Ｎ 接触子 ５１Ｂ、５１Ｗ、５１Ｒ 変流器 ５３Ｂ、５３Ｗ、５３Ｒ 過電流継電器 ５５ 地絡過電流継電器 Ｎ 中性点
Claims (1)
- 【請求項１】 母線の各相に設けられて一端が中性点に
接続された複数の変流器と、一端が前記複数の変流器の
他端側にそれぞれ接続された複数の過電流継電器と、前
記複数の過電流継電器の他端と前記中性点との間に設け
られた地絡過電流継電器と、を備えた保護回路におい
て、前記変流器と過電流継電器との間および前記中性点
と地絡過電流継電器との間にそれぞれ設けられそれらの
間を開離可能な複数組の接点装置を有する試験端子本体
と、前記試験端子本体に挿入可能に形成されるとともに
絶縁板の上下面に固着されて前記複数組の接点装置にそ
れぞれ接触可能な複数組の接触子を有する試験プラグ
と、からなる挿入式試験端子であって、 前記試験プラグは、前記中性点と地絡過電流継電器間の
接点装置に挿入される接触子の長さが、前記変流器と過
電流継電器間の接点装置に挿入される接触子の長さより
短く形成されてなる、 ことを特徴とする挿入式試験端子の試験プラグ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6134662A JPH085659A (ja) | 1994-06-16 | 1994-06-16 | 挿入式試験端子の試験プラグ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6134662A JPH085659A (ja) | 1994-06-16 | 1994-06-16 | 挿入式試験端子の試験プラグ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH085659A true JPH085659A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15133627
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6134662A Pending JPH085659A (ja) | 1994-06-16 | 1994-06-16 | 挿入式試験端子の試験プラグ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH085659A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003018739A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-01-17 | Chubu Electric Power Co Inc | 保護継電器、その試験方法及び試験用ケーブル |
| JP2007166744A (ja) * | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 接続用治具 |
| JP2007288833A (ja) * | 2006-04-12 | 2007-11-01 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 機器の保守に用いられる試験用電気接続器具、着脱カバー体及び電気試験方法 |
| JP2007285937A (ja) * | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | テストプラグの性能判定器 |
| JP2008107088A (ja) * | 2006-10-23 | 2008-05-08 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 試験プラグ |
| DE112008003304T5 (de) | 2007-12-07 | 2010-11-25 | Mitsubishi Jidosha Kogyo Kabushiki Kaisha | Berührungssensorvorrichtung und Berührungssensorprogramm |
| CN103378839A (zh) * | 2012-04-11 | 2013-10-30 | 福特全球技术公司 | 具有适应性时间延迟的接近开关总成及方法 |
| CN103941048A (zh) * | 2014-05-14 | 2014-07-23 | 国家电网公司 | 一种测量保护压板对地电压的方法及专用接地接口 |
-
1994
- 1994-06-16 JP JP6134662A patent/JPH085659A/ja active Pending
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| US8436494B2 (en) | 2007-12-07 | 2013-05-07 | Mitsubishi Jidosha Kogyo Kabushiki Kaisha | Touch sensor device and touch sensor program |
| CN103378839A (zh) * | 2012-04-11 | 2013-10-30 | 福特全球技术公司 | 具有适应性时间延迟的接近开关总成及方法 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030506 |