JPH0862316A - 回路網測定装置の校正方法 - Google Patents

回路網測定装置の校正方法

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JPH0862316A
JPH0862316A JP6222655A JP22265594A JPH0862316A JP H0862316 A JPH0862316 A JP H0862316A JP 6222655 A JP6222655 A JP 6222655A JP 22265594 A JP22265594 A JP 22265594A JP H0862316 A JPH0862316 A JP H0862316A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】多数の測定ポートを有する回路網測定装置のス
ルー校正において、校正用標準器等の接続回数及び測定
回数を低減する。 【構成】スルー校正の目的は、2つの測定ポート間の順
逆両方向の伝送係数の誤差補正である。測定ポートがn
個の場合は、n個の測定ポートから2つを選ぶ全ての組
合せに対して伝送係数の誤差補正が必要である。本発明
の校正方法は、校正のための測定を全ての組合せではな
くn通りの組合せで行い、全ての組合せの校正値を論理
演算処理による演算によって求める方法である。n通り
の組合せとその測定は、下記の条件を満たせば如何なる
組合せでもよい。(A)三角形状の組合せがあること
(図1の例:1と3、3と4、4と1の組合せ)。
(B)他の全ての組合せが前項の三角形状の組合せに連
結していること。(C)三角形状の組合せのうちの1つ
は1方向のみの伝送係数の測定でよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の技術分野】本発明は一般に回路網測定装置に関
し、特に多数の測定ポートを有する回路網測定装置の測
定ポート間の伝送係数の誤差を補正するために行うスル
ー校正の方法に関する。
【0002】
【従来技術と問題点】図6に多数の測定ポートを有する
回路網測定装置として8ポートの例を示す。この構成
は、一般にSパラメータテストシステムあるいはネット
ワークアナライザシステムと呼ばれるものである。該シ
ステムは、図示するように上部のネットワークアナライ
ザ11と下部のテストセット12から構成されている
が、両者を一体にした装置もある。ここでは一般的な分
離型のSパラメータテストシステムを例にして述べる。
テストセット12は、ネットワークアナライザ11内の
ソースからの測定信号を被測定回路へ導き、Sパラメー
タを測定するのに必要な伝送及び反射信号を分離してネ
ットワークアナライザ内のレシーバへ送る。ネットワー
クアナライザとテストセット間の測定信号の授受は、4
本の同軸ケーブル13を介して行われる。また図示して
いないが、一般には電源や制御信号をやりとりするため
にネットワークアナライザとテストセットの背面でも適
当なケーブルで互いに接続されている。また、図示して
いないが、回路網測定装置をコンピュータで制御する場
合もある。
【0003】テストセット12には、測定ポート(以
下、測定ポートをポートと記す)となるコネクタ14が
ポート数だけ設けてある。コネクタに付している数字は
ポートの番号である。回路網の測定において、被測定回
路をこれらのコネクタ14に直結して測定するときは、
このコネクタが測定の基準面、即ちポートになる。しか
し被測定回路網をコネクタ14に直結することは希で
り、一般にはコネクタ14に同軸ケーブル15を接続
し、同軸ケーブル15の先端のコネクタ16に被測定回
路網を接続して測定を行う。このときは、該ケーブル1
5の先端のコネクタ16がポート(測定の基準面)とな
る。なお、図6では一部の同軸ケーブルのみを図示し、
また図示した同軸ケーブルのテストセット側のコネクタ
の図を省略している。
【0004】この回路網測定装置を校正する方法では、
フル2ポート校正方法が実用的に最も優れた方法として
知られている。フル2ポート校正は、(イ)1ポート校
正、(ロ)アイソレーション校正、(ハ)スルー校正、
(ニ)ロードマッチ校正からなる。1ポート校正は、3
つの既知インピーダンスを標準器として用意し、1つの
ポートにこれらの標準器を順次接続して各々の状態で、
該ポートを校正する。他のポートについても同様の校正
を行う。通常3つの既知インピーダンスは、開放(OP
EN)、短絡(SHORT)、基準抵抗(LOAD)が
用いられている。アイソレーション校正は、各ポート間
の漏れ信号による誤差を補正するための校正である。ス
ルー校正は、各ポート間の伝送係数の誤差を補正するた
めの校正である。ロードマッチ校正は、ポートが伝送信
号を受信するときの不整合に起因して生じる誤差を補正
するための校正である。これら4つの校正における測定
値を演算処理して誤差を補正するのである。フル2ポー
ト校正法の詳細については次の文献を参照のこと。"Acc
uracy Enhancement Fundamentals - Characterizing Mi
crowave Systematic Errors ", HP 8753C Network Anal
yzer Operating Manual, Reference section, Appendix
to Chapter 5.スルー校正は、上記のようにフル2ポー
ト校正の一部に含まれるが、単独の校正としても実施さ
れる。
【0005】スルー校正の方法は、あらかじめ伝送係数
が既知のスルー標準器をポート間に接続して伝送係数を
測定し、スルー標準器の値と測定値の差から誤差を補正
するのである。スルー標準器は、一般には損失の無視で
きる同軸ケーブルあるいは同軸コネクタである。しか
し、ポートが同軸ケーブルの先端のAPC7コネクタの
ように、コネクタ同士を直結できる場合はスルー標準器
は不要である。上記校正方法において、フル2ポート校
正のスルー校正と単独のスルー校正との違いは、誤差を
補正する補正式のみである。以下の説明においては、単
独のスルー校正の場合の補正式について示し、従来技術
の校正の方法の問題点を述べる。
【0006】高周波における回路網の特性表示には、S
パラメータが使用される。図4に2ポートの回路網を示
す。図のポート1から回路網への入射波をa1、反射波
をb1、ポート2から回路網への入射波をa2、反射波を
b2とすると、これらの関係はSパラメータを用いて、
次式のように表される。
【0007】
【数1】
【0008】ポート1からポート2への信号の伝送係数
はS21であり、次式で表される。
【0009】
【数2】
【0010】図4の回路網の伝送係数S21を測定する場
合の誤差モデルを、シグナルフロー図により図5に示
す。回路網の伝送係数の真値をS21a、測定系の誤差を
Etとすると、測定値S21mは、
【0011】
【数3】
【0012】となる。スルー校正は、伝送係数が既知の
値S21asであるスルー標準器をポート間に接続して、S
21を測定する。この測定値をS21msと表せば、測定系の
誤差Etは、次式から求められる。
【0013】
【数4】
【0014】このように、あらかじめスルー校正によっ
てEtが求められていれば、任意の測定に対して、測定
系の誤差を補正した値S21aが得られる。すなわち補正
式は次の(1)式になる。
【0015】
【数5】
【0016】S21とは伝送方向が逆向きのS12について
スルー校正を行う場合には、S21測定でポート1がネッ
トワークアナライザ11のソース側に、ポート2がレシ
ーバ側に接続されていたのを、S12測定ではポート2を
ソース側に、ポート1をレシーバ側に接続変更する。こ
の変更は、ネットワークアナライザの論理演算制御によ
りテストセット12内で行われる。なおスルー標準器の
接続を変更する必要はない。ここで、ポート数がn個の
回路網測定装置において全ての伝送方向についてスルー
校正を行う場合を考える。スルー標準器の接続は、n個
から2個を選ぶ組合せの数、n2=n(n−1)/2回
必要である。また測定は順方向と逆方向について行うか
ら、n(n−1)通りになる。従って従来技術の問題点
は、nが大きくなると2乗に比例して標準器の接続回数
と測定時間が増加し、校正作業の負担も大きくなること
である。
【0017】
【発明の目的】本発明の目的は、多数のポートを有する
回路網測定装置のスルー校正において、校正用標準器等
の接続回数、及び測定回数を低減する方法について提案
するものである。
【0018】
【発明の概要】本発明は、n個のポートを有する回路網
測定装置において、n通りのポート間の接続で得られる
測定値から、全ての組み合わせに対するスルー校正を論
理演算制御による演算で得る方法である。
【0019】
【発明の実施例】n個のポートに1からnまでの番号を
付ける。ポートiとポートjをスルー標準器で接続した
場合に測定できる伝送係数は、Sji及びSijである。こ
こで、Sjiはソース側の伝送係数Siとレシーバ側の伝
送係数Rjの積であるから、
【0020】
【数6】
【0021】と表せる。同様に
【0022】
【数7】
【0023】である。次に、このSi及びRiがn通りの
接続による測定によって比の形に分離できることを帰納
的に示す。まず、n=3の場合を考える。ポート1とポ
ート2の間をスルー標準器で接続(以下、これをスルー
接続と記す)し、次の伝送係数を測定する。
【0024】
【数8】
【0025】同様に、ポート1とポート3間のスルー接
続から
【0026】
【数9】
【0027】を、ポート2とポート3間のスルー接続か
【0028】
【数10】
【0029】の伝送係数を測定する。ここで、S23=S
3・R2は測定しない。上記の5つの式から、次式に示す
比を得る。
【0030】
【数11】
【0031】また、
【0032】
【数12】
【0033】であるから、測定しなかったS23は、
【0034】
【数13】
【0035】と計算で求めることができる。ここまでの
結果を、次表にまとめて示す。この表の中段は(2)式
の比を並べたものであり、下段は(3)式の比に(4)
式を掛けたものを並べている。
【0036】
【表1】
【0037】表の中段のみ、下段のみの値は意味をもた
ないが、中段と下段との積は任意のポート間の伝送係数
を表している。以上でn=3のとき3接続、5測定から
全ての組み合わせの伝送係数を求めることができること
が示された。次に、nポートの場合を同様に考える。ソ
ース側の係数の比 S1:S2:S3:・・・・:Sn、レ
シーバ側の比R1:R2:R3:・・・・:Rn、及びあ
る伝送係数Shg=Sg・Rh(1≦g≦n、1≦h≦n、
g≠h)が既知であれば、任意のボート間の伝送係数S
jiは次式の計算で求めることができる。n=3のとき、
計算で求めることができることは先に述べた。
【0038】
【数14】
【0039】この状態に1ポートを追加した(n+1)
ポートの場合について考える。ポート(n+1)とポー
トm(1≦m≦n)の間をスルー接続して、
【0040】
【数15】
【0041】を測定する。任意のSgに対するSn+1の比
は、
【0042】
【数16】
【0043】として求められる。上式の右辺の分子は追
加した測定値であり、分母はnポートの場合に既知の値
である。同様に、任意のRhに対するRn+1の比は、
【0044】
【数17】
【0045】から計算で求められる。よって、ソース側
の伝送係数の比S1:S2:S3:・・・:Sn:Sn+1、
レシーバ側の伝送係数の比R1:R2:R3:・・・:R
n:Rn+1及びある伝送係数Shg=Sg・Rh(1≦g≦n
+1、1≦h≦n+1、g≠h)が求められた。従って
nポートの場合と同様に、任意のポート間の伝送係数S
jiは、
【0046】
【数18】
【0047】と計算で求めることができる。従って、n
ポートから(n+1)ポートにポート数が増えても、1
接続追加して2個の測定値を得れば、全ての組み合わせ
について伝送係数を計算で求めることができる。以上を
まとめると、次の条件を満すスルー接続で測定を行え
ば、全ての組み合わせについて伝送係数の校正値を計算
で求めることができる。 (A)三角形状の組合せがあること。(任意の3つのポ
ート、例えばポート1、2、3間で1と2、2と3、3
と1のような組合せがあること。) (B)前項以外の全ての組合せは、前項の三角形状の組
合せに直接または間接に連結し、孤立したポートや組合
せがないこと。(例えば、前項の例で、ポート6と5の
組合せが、ポート5と4の組合せ及びポート4と3の組
合せを介して、三角形状の組合せのポート3に連結して
いればよい。) (C)三角形状の組合せのうちの1つの組合せでは、1
方向のみの伝送係数の測定でよい。 この条件で、組合せ数はポート数nになる。
【0048】本発明による上記のポートの組合せの条件
に従ったスルー接続の実施例を図1に示す。図は8ポー
トの例で、円形がポートを、その中の数字がポート番号
を示している。また、図のポート間を結ぶ線がスルー接
続を示し、矢印がその向きの伝送係数を測定することを
示している。図1では、ポート1と3、3と4、4と1
の組合せが三角形状を形成している。また、他の組合
せ、例えばポート7と8の組合せは、7と5の組合せ、
5と6の組合せ、6と4の組合せを介し三角形状の組合
せのポート4に連結している。三角形状を成す組合せの
1つである、ポート1と4の組合せでは1方向ののみの
測定を行う。図示するように、接続数8、測定回数は1
5である。従来の技術では、全ての組み合わせの接続を
行うので、その接続数は28、測定回数は56である。
【0049】次に図1の8通りのスルー接続と測定を実
施する方法を述べる。まず図示した接続の1つを行い、
その状態で伝送係数を測定し、次の接続に変更して再び
測定する。これを8回順番に行う。以上は容易に考えら
れる素朴な方法である。次に効率的な方法を図2に示
す。これは8個の接続を3回の接続グループに分けて行
う方法である。まず4個のスルー標準器を用意する。1
回目の接続では、ポートの1と2、3と4、5と6及び
7と8を一度にスルー接続し、測定は回路網測定装置内
の演算処理装置の制御により自動的にポートの組合せと
測定方向を順次切り替えて行う。2回目の接続グループ
では、ポートの1と3、4と6及び5と7をスルー接続
し、1回目と同様に自動的に測定する。3回目はポート
の1と4のスルー接続で1方向のみの測定を行う。この
方法は、接続と測定の総数は変わらないが、接続するポ
ートの組合わせがグループ毎に単純であり、接続手続き
が3回ですむので作業の負担やミスが小さい。次に、本
発明によるポートの組合せの条件に従ったスルー接続の
第2の実施例を図3に示す。これは、ポート1と他の全
てのポート間との接続を順次繰り返すことと、三角形状
を形成するためにポート7と8間の接続を加える方法で
ある。これも合計8接続、15測定である。以上に本発
明の実施例を示したが、ポート間の接続と測定は、前記
(A)、(B)及び(C)の条件を満たせば如何なる組
み合わせでもよく、例示の組み合わせに限定するもので
はない。また、接続及び測定する順序を限定するもので
はない。さらに、回路網測定装置の配置、その他に限定
するものでなく、必要に応じて本発明の要旨を失うこと
なく構成の変形も許容される。
【0050】
【発明の効果】本発明によれば、多数のポートを備えた
回路網測定装置のスルー校正に必要な接続回数、及び校
正のための測定時間が大幅に低減される。nポートの場
合、n(n−1)/2の接続数がnで済み、n(n−
1)の測定回数が2n−1回に低減される。実例を示す
と、8ポートの場合、30%以下に低減される。さら
に、本発明を用いて求めた補正係数は、各ポートのソー
ス側、レシーバ側に分離した形にまとめることができ
る。このため、全ての組み合わせについての補正係数を
演算制御装置のメモリに保存する場合に比べ、必要なメ
モリも大幅に低減される。このように、従来の方法に比
べて実用に供して有益である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す図である。
【図2】本発明の第1の実施例の接続をグループに分け
て行う例を示す図である。
【図3】本発明の第2の実施例を示す図である。
【図4】2ポート回路を示す図である。
【図5】伝送係数の誤差モデルを示す図である。
【図6】多数の測定ポートを有する回路網測定装置の例
を示す図である。
【符号の説明】
1:ポート番号 2:ポート番号 3:ポート番号 4:ポート番号 5:ポート番号 6:ポート番号 7:ポート番号 8:ポート番号 11:ネットワークアナライザ 12:テストセット 13:同軸ケーブル 14:同軸コネクタ 15:同軸ケーブル 16:同軸コネクタ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】3個以上の測定ポートを有する回路網測定
    装置の2つの測定ポート間の伝送係数の誤差を補正する
    スルー校正において、測定ポートから2つを選ぶ組合せ
    の数を測定ポート数とし、該組合せ間のみの伝送係数を
    測定し、測定ポートの全ての組合せ間の伝送係数の誤差
    補正を論理演算制御の演算で得ることを特徴とする校正
    方法。
  2. 【請求項2】前記2つの測定ポート間の伝送係数測定を
    行う組合せにおいて、全ての測定ポートが少なくとも1
    つの組合せの構成要素となり、1つの組合せを構成する
    2つの測定ポートの少なくとも1つの測定ポートが該組
    合せの相手以外の少なくとも1つの測定ポートとも組合
    せを構成するようにして全ての組合せを連結し、かつ該
    連結内に1つの三角形状の連結を構成するようにして、
    組合せ総数を測定ポート数にし、各組合せにおいて伝送
    係数を測定し、測定ポートの全ての組合せ間の伝送係数
    の誤差補正を論理演算制御の演算で得ることを特徴とす
    る校正方法。
  3. 【請求項3】前記2つの測定ポート間の伝送係数測定を
    行う組合せにおいて、前記三角形状の連結を構成する組
    合せの内の1つの組合せでは1方向のみの伝送係数を測
    定し、他の組合せでは双方向の伝達係数を測定すること
    を特徴とする請求項2記載の校正方法。
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DE19527730A DE19527730C2 (de) 1994-08-24 1995-07-28 Verfahren zum Einsetzen einer Durchkalibrierung
GB9516724A GB2292616B (en) 1994-08-24 1995-08-15 Method for calibrating circuit network measurement devices

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005111635A1 (ja) * 2004-05-14 2005-11-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 電気回路パラメータの測定方法および装置
JP2006201172A (ja) * 2005-01-18 2006-08-03 Agilent Technol Inc 最少接続のマルチポートスルー−リフレクト−ライン(Through−Reflect−Line)較正および測定を行うための方法および装置

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5793213A (en) * 1996-08-01 1998-08-11 Motorola, Inc. Method and apparatus for calibrating a network analyzer
US6147501A (en) * 1997-08-26 2000-11-14 Hewlett-Packard Company Automatic calibration of a network analyzer
DE19757675C2 (de) * 1997-12-23 2003-04-30 Rohde & Schwarz Verfahren zur Kalibrierung eines vektoriellen Netzwerkkanalysators
US6060888A (en) * 1998-04-24 2000-05-09 Hewlett-Packard Company Error correction method for reflection measurements of reciprocal devices in vector network analyzers
US6300775B1 (en) * 1999-02-02 2001-10-09 Com Dev Limited Scattering parameter calibration system and method
US6230106B1 (en) * 1999-10-13 2001-05-08 Modulation Instruments Method of characterizing a device under test
US6396285B1 (en) * 2000-08-14 2002-05-28 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for efficient measurement of reciprocal multiport devices in vector network analysis
DE10235221B4 (de) * 2002-08-01 2010-09-09 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Kalibrieren von Netzwerkanalysatoren
DE10251551A1 (de) * 2002-11-05 2004-05-19 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Messen der Streuparameter eines Mehrtor-Meßobjektes mittels eines Mehrtor-Netzwerkanalysators mit nichtsinusförmigen Meßsignalen
DE10253168A1 (de) * 2002-11-14 2004-06-03 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Erhöhung der Meßgeschwindigkeit bei der Bestimmung der Streuparameter eines Mehrtor-Meßobjektes mittels eines Mehrtor-Netzwerkanalysators
DE102007027142B4 (de) 2006-06-21 2020-03-19 Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung eines Netzwerkanalysators für Messungen an differentiellen Anschlüssen
JP2008014781A (ja) * 2006-07-05 2008-01-24 Agilent Technol Inc ネットワーク・アナライザの校正方法、および、ネットワーク・アナライザ
WO2015133265A1 (ja) * 2014-03-04 2015-09-11 株式会社 村田製作所 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置
CN103926549B (zh) * 2014-04-25 2017-07-18 中国计量科学研究院 相位校准方法及装置
KR101852484B1 (ko) 2016-10-17 2018-04-26 한국표준과학연구원 전자파 임피던스 측정 장치 및 전자파 임피던스 교정 방법
CN109239640B (zh) * 2018-07-04 2021-12-10 国网浙江宁波市奉化区供电有限公司 基于平均差值的电表时钟校正方法
DE102020102774B4 (de) 2019-02-05 2025-03-27 Tektronix, Inc. Mehrratige daten für s-parameter-extrahierung

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4816767A (en) * 1984-01-09 1989-03-28 Hewlett-Packard Company Vector network analyzer with integral processor
DE3684139D1 (de) * 1986-01-17 1992-04-09 Marconi Instruments Ltd Sechstorreflektometer-pruefanordnung.
JP3016252B2 (ja) * 1990-07-26 2000-03-06 アジレント・テクノロジー株式会社 ネットワーク・アナライザ
DE4332273C2 (de) * 1992-12-12 1997-09-25 Rohde & Schwarz Verfahren zum Kalibrieren eines Netzwerkanalysators

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005111635A1 (ja) * 2004-05-14 2005-11-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 電気回路パラメータの測定方法および装置
JPWO2005111635A1 (ja) * 2004-05-14 2008-03-27 松下電器産業株式会社 電気回路パラメータの測定方法および装置
JP2006201172A (ja) * 2005-01-18 2006-08-03 Agilent Technol Inc 最少接続のマルチポートスルー−リフレクト−ライン(Through−Reflect−Line)較正および測定を行うための方法および装置

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