JPH0862661A - カメラの測光装置 - Google Patents
カメラの測光装置Info
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- JPH0862661A JPH0862661A JP6196724A JP19672494A JPH0862661A JP H0862661 A JPH0862661 A JP H0862661A JP 6196724 A JP6196724 A JP 6196724A JP 19672494 A JP19672494 A JP 19672494A JP H0862661 A JPH0862661 A JP H0862661A
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- half mirror
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/099—Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
- G03B7/0993—Arrangement of photoelectric elements in or on the camera in the camera
- G03B7/0997—Through the lens [TTL] measuring
- G03B7/09971—Through the lens [TTL] measuring in mirror-reflex cameras
- G03B7/09972—Through the lens [TTL] measuring in mirror-reflex cameras using the mirror as sensor light reflecting or transmitting member
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、カメラの撮影レンズから入射した
光を測光する測光装置に関し、入射光の偏光方向によら
ず、正確な測光を行うことのできるカメラの測光装置を
提供することを目的とする。 【構成】 カメラの撮影レンズ31aと撮像面49との
間に配置され、撮影レンズからの入射光を反射光と透過
光とに分離する第1のハーフミラー32と、その第1の
ハーフミラーによる反射光が入射する位置に配置され、
入射光を反射光と透過光とに分離する第2のハーフミラ
ー37と、第2のハーフミラーによる透過光を受光する
位置に配置され、測光を行う測光手段40とを備えて構
成される。
光を測光する測光装置に関し、入射光の偏光方向によら
ず、正確な測光を行うことのできるカメラの測光装置を
提供することを目的とする。 【構成】 カメラの撮影レンズ31aと撮像面49との
間に配置され、撮影レンズからの入射光を反射光と透過
光とに分離する第1のハーフミラー32と、その第1の
ハーフミラーによる反射光が入射する位置に配置され、
入射光を反射光と透過光とに分離する第2のハーフミラ
ー37と、第2のハーフミラーによる透過光を受光する
位置に配置され、測光を行う測光手段40とを備えて構
成される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カメラの撮影レンズを
透過した光を測光する測光装置に関する。
透過した光を測光する測光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、カメラの測光装置として、撮影レ
ンズを透過した光を測光するTTL(Through The Len
s)方式の測光装置が知られている。
ンズを透過した光を測光するTTL(Through The Len
s)方式の測光装置が知られている。
【0003】図3は、この種の測光装置を適用した電子
スチルカメラを示す図である。図において、カメラ本体
1には撮影レンズ1aが取り付けられ、撮影レンズ1a
の光軸上には、ガラス基材の表面に誘電体膜を形成した
ハーフミラー2が配置される。このハーフミラー2の背
面にはサブミラー3が配置され、サブミラー3の反射光
を受光する位置には、被写体までの合焦距離を測定する
測距部4が配置される。
スチルカメラを示す図である。図において、カメラ本体
1には撮影レンズ1aが取り付けられ、撮影レンズ1a
の光軸上には、ガラス基材の表面に誘電体膜を形成した
ハーフミラー2が配置される。このハーフミラー2の背
面にはサブミラー3が配置され、サブミラー3の反射光
を受光する位置には、被写体までの合焦距離を測定する
測距部4が配置される。
【0004】また、ハーフミラー2の反射光が結像する
位置には焦点板5が配置され、焦点板5の背面側には、
光軸に沿ってフィールドレンズ6,ペンタプリズム7が
配置される。このペンタプリズム7による反射光の光軸
に沿って、リレーレンズ8,接眼レンズ9が配置され
る。
位置には焦点板5が配置され、焦点板5の背面側には、
光軸に沿ってフィールドレンズ6,ペンタプリズム7が
配置される。このペンタプリズム7による反射光の光軸
に沿って、リレーレンズ8,接眼レンズ9が配置され
る。
【0005】さらに、ペンタプリズム7の反射光の一部
を受光する位置には、集光レンズ10を介して測光素子
11が配置される。一方、ハーフミラー2の背面側に
は、撮影レンズ1aの結像面15の近傍にシャッター1
4が配置され、さらに結像面15の光学像を縮小するフ
ィールドレンズ16,リレーレンズ17が配置される。
このリレーレンズ17による結像面には、モワレを防ぐ
オプティカルローパスフィルタ18を介して、撮像素子
19が配置される。
を受光する位置には、集光レンズ10を介して測光素子
11が配置される。一方、ハーフミラー2の背面側に
は、撮影レンズ1aの結像面15の近傍にシャッター1
4が配置され、さらに結像面15の光学像を縮小するフ
ィールドレンズ16,リレーレンズ17が配置される。
このリレーレンズ17による結像面には、モワレを防ぐ
オプティカルローパスフィルタ18を介して、撮像素子
19が配置される。
【0006】このような構成の電子スチルカメラでは、
撮影レンズ1aからの入射光束が、ハーフミラー2によ
って透過光束と反射光束とに分離される。透過光束はサ
ブミラー3に反射され、測距部4に入射する。一方の反
射光束は、焦点板5およびフィールドレンズ6を介し
て、ペンタプリズム7に入射する。このペンタプリズム
7の内部で光束は反射され、リレーレンズ8および接眼
レンズ9を介して、撮影者に観察される。
撮影レンズ1aからの入射光束が、ハーフミラー2によ
って透過光束と反射光束とに分離される。透過光束はサ
ブミラー3に反射され、測距部4に入射する。一方の反
射光束は、焦点板5およびフィールドレンズ6を介し
て、ペンタプリズム7に入射する。このペンタプリズム
7の内部で光束は反射され、リレーレンズ8および接眼
レンズ9を介して、撮影者に観察される。
【0007】また、ペンタプリズム7で反射された光束
の一部は、集光レンズ10によって集光され、測光素子
11に受光される。この状態で、図示しないレリーズ釦
が半押しになると、測光素子11は、ペンタプリズム7
からの反射光束の一部を測光し、被写体の輝度値を求め
る。
の一部は、集光レンズ10によって集光され、測光素子
11に受光される。この状態で、図示しないレリーズ釦
が半押しになると、測光素子11は、ペンタプリズム7
からの反射光束の一部を測光し、被写体の輝度値を求め
る。
【0008】このように求めた被写体の輝度値に基づい
て、撮影者の手動操作あるいは図示しないマイクロコン
ピュータなどによって、絞り値およびシャッタ開口時間
が設定される。
て、撮影者の手動操作あるいは図示しないマイクロコン
ピュータなどによって、絞り値およびシャッタ開口時間
が設定される。
【0009】ここで、レリーズ釦が全押しになると、ハ
ーフミラー2およびサブミラー3が撥ね上げられ、シャ
ッタ14が開口する。撮影レンズ1aからの入射光束
は、シャッタ14の開口部を透過して、結像面15に空
中像を結像する。この空中像は、フィールドレンズ16
およびリレーレンズ17を介して縮小され、撮像素子1
9の受光面に再び結像する。
ーフミラー2およびサブミラー3が撥ね上げられ、シャ
ッタ14が開口する。撮影レンズ1aからの入射光束
は、シャッタ14の開口部を透過して、結像面15に空
中像を結像する。この空中像は、フィールドレンズ16
およびリレーレンズ17を介して縮小され、撮像素子1
9の受光面に再び結像する。
【0010】この光学像は、オプティカルローパスフィ
ルタ18によって空間周波数の高域成分が取り除かれた
後に、撮像素子19によって画像信号に光電変換され、
図示しないメモリカードその他の記録媒体に記録され
る。
ルタ18によって空間周波数の高域成分が取り除かれた
後に、撮像素子19によって画像信号に光電変換され、
図示しないメモリカードその他の記録媒体に記録され
る。
【0011】このように、TTL方式の測光装置では、
撮影レンズ1aからの入射光束を直接測光するので、外
光式の測光装置に比べて、撮影レンズ1aの交換や光学
フィルタの装着などに伴う撮像面の明かるさの変化を正
確に測定することができる。
撮影レンズ1aからの入射光束を直接測光するので、外
光式の測光装置に比べて、撮影レンズ1aの交換や光学
フィルタの装着などに伴う撮像面の明かるさの変化を正
確に測定することができる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
測光装置では、入射光に偏光成分を多く含む場合、以下
に述べるような問題点があった。
測光装置では、入射光に偏光成分を多く含む場合、以下
に述べるような問題点があった。
【0013】すなわち一般に、図4に示すように、入射
光は、入射面(光の入射方向および反射方向に平行な
面)に対して垂直に振動する直線偏光(以下、「S偏
光」という)と、入射面に対して平行に振動する直線偏
光(以下、「P偏光」という)とに分解される。
光は、入射面(光の入射方向および反射方向に平行な
面)に対して垂直に振動する直線偏光(以下、「S偏
光」という)と、入射面に対して平行に振動する直線偏
光(以下、「P偏光」という)とに分解される。
【0014】そして、ハーフミラー2などの反射面で
は、図5に示すようにS偏光の反射率が高く、P偏光の
反射率が低くなる。一方、窓ガラスや壁面その他の垂直
面による反射光は、垂直な振動面を有する偏光を多く含
み、このような偏光の大部分は、P偏光としてハーフミ
ラー2を透過するので、測光素子11に受光されない。
は、図5に示すようにS偏光の反射率が高く、P偏光の
反射率が低くなる。一方、窓ガラスや壁面その他の垂直
面による反射光は、垂直な振動面を有する偏光を多く含
み、このような偏光の大部分は、P偏光としてハーフミ
ラー2を透過するので、測光素子11に受光されない。
【0015】したがって、測光素子11による測光値
は、撮影レンズ1aから入射する光量に比べて低くな
り、カメラ側はこの測光値に応じて露出量を増加させる
ために、露出過多の画像を撮影してしまうという問題点
があった。
は、撮影レンズ1aから入射する光量に比べて低くな
り、カメラ側はこの測光値に応じて露出量を増加させる
ために、露出過多の画像を撮影してしまうという問題点
があった。
【0016】また、水面などの水平面による反射光は、
水平な振動面を有する偏光を多く含み、このような偏光
の大部分は、S偏光としてハーフミラー2に反射されて
測光素子11に受光される。
水平な振動面を有する偏光を多く含み、このような偏光
の大部分は、S偏光としてハーフミラー2に反射されて
測光素子11に受光される。
【0017】そのため、測光素子11による測光値は、
自然光を受光する場合に比べて高くなり、カメラ側はこ
の測光値に応じて露出量を減らすために、露出不足の画
像を撮影してしまうという問題点があった。
自然光を受光する場合に比べて高くなり、カメラ側はこ
の測光値に応じて露出量を減らすために、露出不足の画
像を撮影してしまうという問題点があった。
【0018】また、カメラを縦位置で使用する場合と、
横位置で使用する場合とでは、カメラ内部のハーフミラ
ー2の傾きが異なり、偏光に対する反射率が変化するた
め、直線偏光を多く含む被写体については、カメラの縦
位置,横位置の違いにより、測光値が異なるという問題
点があった。
横位置で使用する場合とでは、カメラ内部のハーフミラ
ー2の傾きが異なり、偏光に対する反射率が変化するた
め、直線偏光を多く含む被写体については、カメラの縦
位置,横位置の違いにより、測光値が異なるという問題
点があった。
【0019】さらに、被写体の色を明瞭に写したり、水
面などの反射光を除去するために直線偏光フィルタをカ
メラに装着する撮影手法があるが、このような場合、偏
光フィルタを透過する光の偏光方向によって、ハーフミ
ラー2の反射率が異なるために正確な測光を行うことが
できず、そのため、直線偏光フィルタをカメラに装着す
ることができないという問題点があった。
面などの反射光を除去するために直線偏光フィルタをカ
メラに装着する撮影手法があるが、このような場合、偏
光フィルタを透過する光の偏光方向によって、ハーフミ
ラー2の反射率が異なるために正確な測光を行うことが
できず、そのため、直線偏光フィルタをカメラに装着す
ることができないという問題点があった。
【0020】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたもので、P偏光およびS偏光の割合によら
ず、正確な測光を行うことのできるカメラの測光装置を
提供することを目的とする。
めになされたもので、P偏光およびS偏光の割合によら
ず、正確な測光を行うことのできるカメラの測光装置を
提供することを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】以下、本発明を図1,図
2の実施例に対応づけて説明する。請求項1に記載の発
明は、カメラの撮影レンズ(31a)と撮像面(49)
との間に配置され、撮影レンズからの入射光を反射光と
透過光とに分離する第1のハーフミラー(32)と、そ
の第1のハーフミラーによる反射光が入射する位置に配
置され、入射光を反射光と透過光とに分離する第2のハ
ーフミラー(37,57)と、第2のハーフミラーによ
る透過光を受光する位置に配置され、測光を行う測光手
段(40,60)とを備えたことを特徴とする。
2の実施例に対応づけて説明する。請求項1に記載の発
明は、カメラの撮影レンズ(31a)と撮像面(49)
との間に配置され、撮影レンズからの入射光を反射光と
透過光とに分離する第1のハーフミラー(32)と、そ
の第1のハーフミラーによる反射光が入射する位置に配
置され、入射光を反射光と透過光とに分離する第2のハ
ーフミラー(37,57)と、第2のハーフミラーによ
る透過光を受光する位置に配置され、測光を行う測光手
段(40,60)とを備えたことを特徴とする。
【0022】請求項2に記載の発明は、請求項1の測光
装置において、第2のハーフミラーの面の一部分に全反
射ミラーを形成することを特徴とする。請求項3に記載
の発明は、カメラの撮影レンズと撮像面との間に配置さ
れ、撮影レンズからの入射光を反射光と透過光とに分離
する第1のハーフミラーと、その第1のハーフミラーに
よる透過光が入射する位置に配置され、入射光を反射光
と透過光とに分離する第2のハーフミラーと、第2のハ
ーフミラーによる反射光を受光する位置に配置され、測
光を行う測光手段とを備えたことを特徴とする。
装置において、第2のハーフミラーの面の一部分に全反
射ミラーを形成することを特徴とする。請求項3に記載
の発明は、カメラの撮影レンズと撮像面との間に配置さ
れ、撮影レンズからの入射光を反射光と透過光とに分離
する第1のハーフミラーと、その第1のハーフミラーに
よる透過光が入射する位置に配置され、入射光を反射光
と透過光とに分離する第2のハーフミラーと、第2のハ
ーフミラーによる反射光を受光する位置に配置され、測
光を行う測光手段とを備えたことを特徴とする。
【0023】請求項4に記載の発明は、請求項1乃至3
のいずれか1項に記載の測光装置において、第1のハー
フミラーにおけるS偏光の分離率とP偏光の分離率との
比と、前記第2のハーフミラーにおけるP偏光の分離率
とS偏光の分離率との比が等しいことを特徴とする。
のいずれか1項に記載の測光装置において、第1のハー
フミラーにおけるS偏光の分離率とP偏光の分離率との
比と、前記第2のハーフミラーにおけるP偏光の分離率
とS偏光の分離率との比が等しいことを特徴とする。
【0024】
【作用】請求項1の測光装置では、第1のハーフミラー
による反射光を、第2のハーフミラーに透過させた後
に、測光する。
による反射光を、第2のハーフミラーに透過させた後
に、測光する。
【0025】一般に、ハーフミラーの反射特性は、S偏
光の反射率が高く、P偏光の反射率が低い。逆に、ハー
フミラーの透過特性は、S偏光の透過率が低く、P偏光
の透過率が高い。
光の反射率が高く、P偏光の反射率が低い。逆に、ハー
フミラーの透過特性は、S偏光の透過率が低く、P偏光
の透過率が高い。
【0026】そこで、撮影レンズからの入射光を、第1
のハーフミラーおよび第2のハーフミラーにより、反射
と透過とを1回ずつ行うことにより、相互のハーフミラ
ーによるS偏光とP偏光とに対する分離率の違いが相殺
され、測光手段におけるS偏光の受光率とP偏光の受光
率との差を小さくすることができる。
のハーフミラーおよび第2のハーフミラーにより、反射
と透過とを1回ずつ行うことにより、相互のハーフミラ
ーによるS偏光とP偏光とに対する分離率の違いが相殺
され、測光手段におけるS偏光の受光率とP偏光の受光
率との差を小さくすることができる。
【0027】このようにして、測光手段の受光量の変化
が小さくなるので、従来より正確な測光を行うことがで
きる。請求項2の測光装置では、第2のハーフミラーの
面の一部を全反射ミラーにすることにより、第2のハー
フミラーの反射光束を利用する装置に対して、受光量を
増加することができる。
が小さくなるので、従来より正確な測光を行うことがで
きる。請求項2の測光装置では、第2のハーフミラーの
面の一部を全反射ミラーにすることにより、第2のハー
フミラーの反射光束を利用する装置に対して、受光量を
増加することができる。
【0028】例えば、第2のハーフミラーの反射光束を
ファインダで利用した場合には、受光量を増加してファ
インダの光学像を明るくすることができる。請求項3の
測光装置では、第1のハーフミラーによる透過光を、第
2のハーフミラーで反射させた後に、その光を測光して
いる。
ファインダで利用した場合には、受光量を増加してファ
インダの光学像を明るくすることができる。請求項3の
測光装置では、第1のハーフミラーによる透過光を、第
2のハーフミラーで反射させた後に、その光を測光して
いる。
【0029】一般に、ハーフミラーの反射特性は、S偏
光の反射率が高く、P偏光の反射率が低い。逆に、ハー
フミラーの透過特性は、S偏光の透過率が低く、P偏光
の透過率が高い。
光の反射率が高く、P偏光の反射率が低い。逆に、ハー
フミラーの透過特性は、S偏光の透過率が低く、P偏光
の透過率が高い。
【0030】そこで、撮影レンズからの入射光を、第1
のハーフミラーおよび第2のハーフミラーにより、反射
と透過とを1回ずつ行うことにより、相互のハーフミラ
ーによるS偏光とP偏光とに対する分離率の違いが相殺
され、測光手段におけるS偏光の受光率とP偏光の受光
率との差を小さくすることができる。
のハーフミラーおよび第2のハーフミラーにより、反射
と透過とを1回ずつ行うことにより、相互のハーフミラ
ーによるS偏光とP偏光とに対する分離率の違いが相殺
され、測光手段におけるS偏光の受光率とP偏光の受光
率との差を小さくすることができる。
【0031】このようにして、測光手段の受光量の変化
が小さくなるので、従来より正確な測光を行うことがで
きる。請求項4の測光装置では、第1のハーフミラーに
おけるS偏光の分離率(測光手段が反射光を利用する場
合は反射率,透過光を利用する場合は透過率に相当す
る)とP偏光の分離率との比と、第2のハーフミラーに
おけるP偏光の分離率とS偏光の分離率との比とを等し
くする。
が小さくなるので、従来より正確な測光を行うことがで
きる。請求項4の測光装置では、第1のハーフミラーに
おけるS偏光の分離率(測光手段が反射光を利用する場
合は反射率,透過光を利用する場合は透過率に相当す
る)とP偏光の分離率との比と、第2のハーフミラーに
おけるP偏光の分離率とS偏光の分離率との比とを等し
くする。
【0032】このような特性の第1のハーフミラーと第
2のハーフミラーとを選択することにより、測光手段に
おけるS偏光の受光率(第1および第2のハーフミラー
におけるS偏光の分離率の積)は、P偏光の受光率に等
しくなる。
2のハーフミラーとを選択することにより、測光手段に
おけるS偏光の受光率(第1および第2のハーフミラー
におけるS偏光の分離率の積)は、P偏光の受光率に等
しくなる。
【0033】したがって、偏光方向による受光量の違い
が、第1のハーフミラーおよび第2のハーフミラーによ
って打ち消されるので、測光手段は、正確な測光を行う
ことができる。
が、第1のハーフミラーおよび第2のハーフミラーによ
って打ち消されるので、測光手段は、正確な測光を行う
ことができる。
【0034】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は、請求項1,2,4に対応する第1の実施
例を示す図である。
する。図1は、請求項1,2,4に対応する第1の実施
例を示す図である。
【0035】図において、カメラ本体31には撮影レン
ズ31aが取り付けられ、撮影レンズ31aの光軸上に
は、ガラス基材の表面に誘電体膜を形成したハーフミラ
ー32が配置される。このハーフミラー32の背面には
サブミラー33が配置され、サブミラー33による反射
光を受光する位置には、被写体までの合焦距離を測定す
る測距部34が配置される。
ズ31aが取り付けられ、撮影レンズ31aの光軸上に
は、ガラス基材の表面に誘電体膜を形成したハーフミラ
ー32が配置される。このハーフミラー32の背面には
サブミラー33が配置され、サブミラー33による反射
光を受光する位置には、被写体までの合焦距離を測定す
る測距部34が配置される。
【0036】また、ハーフミラー32による反射光が結
像する位置には焦点板35が配置され、焦点板35の背
面側には光軸に沿ってフィールドレンズ36,ハーフミ
ラー37が配置される。このハーフミラー37は、ハー
フミラー32と平行に配置される。
像する位置には焦点板35が配置され、焦点板35の背
面側には光軸に沿ってフィールドレンズ36,ハーフミ
ラー37が配置される。このハーフミラー37は、ハー
フミラー32と平行に配置される。
【0037】なお、ハーフミラー37は、ガラスその他
の透明基材の表面に、酸化チタン(TiO2 )その他の
誘電体膜をコーティングして形成される。このハーフミ
ラー37の背面側には、ミラー38,集光レンズ39お
よび測光素子40が配置される。
の透明基材の表面に、酸化チタン(TiO2 )その他の
誘電体膜をコーティングして形成される。このハーフミ
ラー37の背面側には、ミラー38,集光レンズ39お
よび測光素子40が配置される。
【0038】また、ハーフミラー37による反射光の光
軸に沿って、リレーレンズ41,接眼レンズ42および
ファインダ表示部43が配置される。一方、ハーフミラ
ー32の背面側では、撮影レンズ31aの結像面45の
近傍にシャッター44が配置され、さらに結像面45の
光学像を縮小するフィールドレンズ46,リレーレンズ
47が配置される。
軸に沿って、リレーレンズ41,接眼レンズ42および
ファインダ表示部43が配置される。一方、ハーフミラ
ー32の背面側では、撮影レンズ31aの結像面45の
近傍にシャッター44が配置され、さらに結像面45の
光学像を縮小するフィールドレンズ46,リレーレンズ
47が配置される。
【0039】このリレーレンズ47による結像面には、
モワレを防ぐオプティカルローパスフィルタ48を介し
て、撮像素子49が配置される。このような構成の電子
スチルカメラでは、撮影レンズ31aからの入射光束
は、ハーフミラー32によって透過光束と反射光束とに
分離されて、透過光束はサブミラー33に反射されて測
距部34に入射する。
モワレを防ぐオプティカルローパスフィルタ48を介し
て、撮像素子49が配置される。このような構成の電子
スチルカメラでは、撮影レンズ31aからの入射光束
は、ハーフミラー32によって透過光束と反射光束とに
分離されて、透過光束はサブミラー33に反射されて測
距部34に入射する。
【0040】一方の反射光束は、焦点板35およびフィ
ールドレンズ36を介して、ハーフミラー37に入射す
る。このハーフミラー37で反射された像は、天地・左
右が逆になっているので、リレーレンズ38によって空
中像を結像させ、撮影者は、この空中像を接眼レンズ3
9を介して観察する。
ールドレンズ36を介して、ハーフミラー37に入射す
る。このハーフミラー37で反射された像は、天地・左
右が逆になっているので、リレーレンズ38によって空
中像を結像させ、撮影者は、この空中像を接眼レンズ3
9を介して観察する。
【0041】また、この空中像の近傍にはファインダ表
示部47が配置され、カメラの情報を表示する。さら
に、ハーフミラー37の透過光束は、ミラー38に反射
された後に、集光レンズ39によって集光され、測光素
子40に受光される。
示部47が配置され、カメラの情報を表示する。さら
に、ハーフミラー37の透過光束は、ミラー38に反射
された後に、集光レンズ39によって集光され、測光素
子40に受光される。
【0042】この状態で、レリーズ釦が半押しになる
と、測光素子40は、被写体の輝度値を測定する。この
ように求めた被写体の輝度値に基づいて、撮影者の手動
操作もしくは図示しないマイクロコンピュータなどによ
って、絞り値およびシャッタ開口時間が設定される。
と、測光素子40は、被写体の輝度値を測定する。この
ように求めた被写体の輝度値に基づいて、撮影者の手動
操作もしくは図示しないマイクロコンピュータなどによ
って、絞り値およびシャッタ開口時間が設定される。
【0043】ここで、レリーズ釦が全押しになると、ハ
ーフミラー32およびサブミラー33が撥ね上げられ、
シャッタ44が開口する。撮影レンズ31aからの入射
光束は、シャッタ44の開口部を透過して、結像面45
に空中像を結像する。この空中像は、フィールドレンズ
46およびリレーレンズ47を介して縮小され、撮像素
子49によって画像信号に変換され、図示しないメモリ
カードその他の記録媒体に記録される。
ーフミラー32およびサブミラー33が撥ね上げられ、
シャッタ44が開口する。撮影レンズ31aからの入射
光束は、シャッタ44の開口部を透過して、結像面45
に空中像を結像する。この空中像は、フィールドレンズ
46およびリレーレンズ47を介して縮小され、撮像素
子49によって画像信号に変換され、図示しないメモリ
カードその他の記録媒体に記録される。
【0044】このようなハーフミラー32,37とし
て、図5に示した反射と透過の比が、5:5のハーフミ
ラーを使用すると、撮影レンズ31aから入射したS偏
光の65%がハーフミラー32によって反射され、その
内の35%がハーフミラー37を透過するので、測光素
子40には、S偏光の23%が受光される。
て、図5に示した反射と透過の比が、5:5のハーフミ
ラーを使用すると、撮影レンズ31aから入射したS偏
光の65%がハーフミラー32によって反射され、その
内の35%がハーフミラー37を透過するので、測光素
子40には、S偏光の23%が受光される。
【0045】また、撮影レンズ31aから入射したP偏
光の35%がハーフミラー32によって反射され、その
内の65%がハーフミラー37を透過するので、測光素
子40には、P偏光の23%が受光される。
光の35%がハーフミラー32によって反射され、その
内の65%がハーフミラー37を透過するので、測光素
子40には、P偏光の23%が受光される。
【0046】このように測光素子40に受光されるS偏
光とP偏光との割合は等しくなるので、被写体からの光
に含まれる偏光方向によらず、撮像面の明るさに対して
一定の割合で測光値を得ることができる。したがって、
正確な測光値が得られ、露出過多や露出不足を防いで、
適正な露出による撮影を行うことができる。
光とP偏光との割合は等しくなるので、被写体からの光
に含まれる偏光方向によらず、撮像面の明るさに対して
一定の割合で測光値を得ることができる。したがって、
正確な測光値が得られ、露出過多や露出不足を防いで、
適正な露出による撮影を行うことができる。
【0047】なお、ハーフミラー37に反射される光量
は、S偏光の42%およびP偏光の12%となる。自然
光のように等量にS偏光とP偏光とを含む光の場合、撮
影レンズ31aからの入射光の27%がハーフミラー3
7に反射され、ファインダに光学像を結像する。
は、S偏光の42%およびP偏光の12%となる。自然
光のように等量にS偏光とP偏光とを含む光の場合、撮
影レンズ31aからの入射光の27%がハーフミラー3
7に反射され、ファインダに光学像を結像する。
【0048】さらに、ファインダを明るくする場合に
は、ハーフミラー32には、図5に示した反射と透過と
の比率が7:3のものを使用し、ハーフミラー37には
6:4のものを使用する。
は、ハーフミラー32には、図5に示した反射と透過と
の比率が7:3のものを使用し、ハーフミラー37には
6:4のものを使用する。
【0049】このような選択により、撮影レンズ31a
から入射したS偏光の85%が、ハーフミラー32に反
射され、その内の31%が、ハーフミラー37を透過す
るので、測光素子40にはS偏光の26%が受光され
る。
から入射したS偏光の85%が、ハーフミラー32に反
射され、その内の31%が、ハーフミラー37を透過す
るので、測光素子40にはS偏光の26%が受光され
る。
【0050】また、撮影レンズ31aから入射したP偏
光の55%が、ハーフミラー32に反射され、その内の
49%が、ハーフミラー37を透過するので、測光素子
40にはP偏光の27%が受光される。
光の55%が、ハーフミラー32に反射され、その内の
49%が、ハーフミラー37を透過するので、測光素子
40にはP偏光の27%が受光される。
【0051】このように、測光素子40が受光するS偏
光の割合とP偏光の割合とを、許容範囲内で等しくする
ことができるので、撮影レンズ31aから入射する光の
偏光方向によらず、撮像面の明るさに対して一定の割合
を示す測光値を測定することができる。
光の割合とP偏光の割合とを、許容範囲内で等しくする
ことができるので、撮影レンズ31aから入射する光の
偏光方向によらず、撮像面の明るさに対して一定の割合
を示す測光値を測定することができる。
【0052】また、このようなハーフミラーの組合せで
は、撮影レンズ31aから入射したS偏光の59%,お
よびP偏光の28%をファインダ側で利用することがで
きるので、S偏光とP偏光の成分を等量含む自然光の場
合、ファインダ側では、合わせて43.5%の光量によ
る光学像を結像し、明るいファインダ像を撮影者に提供
することができる。
は、撮影レンズ31aから入射したS偏光の59%,お
よびP偏光の28%をファインダ側で利用することがで
きるので、S偏光とP偏光の成分を等量含む自然光の場
合、ファインダ側では、合わせて43.5%の光量によ
る光学像を結像し、明るいファインダ像を撮影者に提供
することができる。
【0053】さらに、測光素子40は、ハーフミラー3
7の透過光の一部を受光すればよいので、ハーフミラー
37の面の一部分に全反射ミラーを形成しても良く、こ
のような構成により、ファインダ側に反射される光量が
増加して、より明るいファインダ像を得ることができ
る。
7の透過光の一部を受光すればよいので、ハーフミラー
37の面の一部分に全反射ミラーを形成しても良く、こ
のような構成により、ファインダ側に反射される光量が
増加して、より明るいファインダ像を得ることができ
る。
【0054】次に、本発明の第2の実施例を説明する。
図2は、請求項1,2,4に対応する第2の実施例を示
す図である。この実施例では、ハーフミラー32による
反射方向に、ハーフミラー32に対して垂直なハーフミ
ラー57が配置され、ハーフミラー57の背面側には、
ミラー58,集光レンズ59および測光素子60が配置
される。
図2は、請求項1,2,4に対応する第2の実施例を示
す図である。この実施例では、ハーフミラー32による
反射方向に、ハーフミラー32に対して垂直なハーフミ
ラー57が配置され、ハーフミラー57の背面側には、
ミラー58,集光レンズ59および測光素子60が配置
される。
【0055】また、ハーフミラー57による反射光の光
軸に沿って、リレーレンズ61およびミラー61aが配
置される。ミラー61aの反射面は、ハーフミラー57
に対して平行に配置される。
軸に沿って、リレーレンズ61およびミラー61aが配
置される。ミラー61aの反射面は、ハーフミラー57
に対して平行に配置される。
【0056】そして、ミラー61aの反射光の光軸上に
は接眼レンズ62およびファインダ表示部63が配置さ
れる。なお、図2に示す構成要素において、図1の構成
要素と同じものには、同一の番号を付与して詳細な説明
を省略する。
は接眼レンズ62およびファインダ表示部63が配置さ
れる。なお、図2に示す構成要素において、図1の構成
要素と同じものには、同一の番号を付与して詳細な説明
を省略する。
【0057】このような構成の電子スチルカメラでは、
撮影レンズ31aからの入射光がハーフミラー32に反
射した後に、ハーフミラー57を透過して測光素子60
に受光される。
撮影レンズ31aからの入射光がハーフミラー32に反
射した後に、ハーフミラー57を透過して測光素子60
に受光される。
【0058】したがって、第2の実施例においても、第
1の実施例と同じ特性のハーフミラーの組合せを選択す
ることにより、第1の実施例と同一の効果を得ることが
できる。
1の実施例と同じ特性のハーフミラーの組合せを選択す
ることにより、第1の実施例と同一の効果を得ることが
できる。
【0059】なお、上述した実施例では、ハーフミラー
32で反射した後に、ハーフミラー37,57を透過し
た光を、測光素子40,60が受光しているが、それに
限定されず、請求項3に記載したように、第1のハーフ
ミラーによる透過光を、第2のハーフミラーによって反
射した後に、測光を行うこともできる。
32で反射した後に、ハーフミラー37,57を透過し
た光を、測光素子40,60が受光しているが、それに
限定されず、請求項3に記載したように、第1のハーフ
ミラーによる透過光を、第2のハーフミラーによって反
射した後に、測光を行うこともできる。
【0060】例えば、図1または図2のサブミラー33
の位置にハーフミラーを配置して、測距部34の位置に
集光レンズおよび測光素子を配置しても良い。このよう
な構成により、撮影レンズ31aからの入射光は、ハー
フミラー32を透過した後に、背面のハーフミラーに反
射して、測光素子に受光されるので、光の偏光方向によ
る受光率の違いを減少して、第1の実施例と同様の効果
を得ることができる。
の位置にハーフミラーを配置して、測距部34の位置に
集光レンズおよび測光素子を配置しても良い。このよう
な構成により、撮影レンズ31aからの入射光は、ハー
フミラー32を透過した後に、背面のハーフミラーに反
射して、測光素子に受光されるので、光の偏光方向によ
る受光率の違いを減少して、第1の実施例と同様の効果
を得ることができる。
【0061】さらに、このような構成では、測光素子と
測距部34とを併設することもできるので、構造を単純
化することができ、カメラの小型化および低コスト化を
図ることができる。
測距部34とを併設することもできるので、構造を単純
化することができ、カメラの小型化および低コスト化を
図ることができる。
【0062】また、上述した実施例では、本発明の測光
装置を電子スチルカメラに適用した例について述べた
が、TTL方式の測光を行うカメラであれば良く、例え
ば、一眼レフカメラやビデオカメラなどに本発明の測光
装置を適用することもできる。
装置を電子スチルカメラに適用した例について述べた
が、TTL方式の測光を行うカメラであれば良く、例え
ば、一眼レフカメラやビデオカメラなどに本発明の測光
装置を適用することもできる。
【0063】さらに、上述した実施例では、図5に示し
た特性のハーフミラーを使用しているが、それに限定さ
れるものではなく、ハーフミラーの特性は、表面をコー
ティングする誘電体膜の膜厚によって変更できるので、
図5に示した特性以外のハーフミラーを作成して、使用
しても良い。
た特性のハーフミラーを使用しているが、それに限定さ
れるものではなく、ハーフミラーの特性は、表面をコー
ティングする誘電体膜の膜厚によって変更できるので、
図5に示した特性以外のハーフミラーを作成して、使用
しても良い。
【0064】また、上述した実施例では、ハーフミラー
の偏光特性を打ち消す2通りの組み合わせを示したが、
この組み合わせに限定されるものではない。このように
ハーフミラーの偏光特性を打ち消すには、一方のハーフ
ミラーにおけるS偏光の分離率とP偏光の分離率との比
が、他方のハーフミラーにおけるP偏光の分離率とS偏
光の分離率との比とが許容範囲内で等しくなるように、
ハーフミラーの特性を組み合わせれば良い。
の偏光特性を打ち消す2通りの組み合わせを示したが、
この組み合わせに限定されるものではない。このように
ハーフミラーの偏光特性を打ち消すには、一方のハーフ
ミラーにおけるS偏光の分離率とP偏光の分離率との比
が、他方のハーフミラーにおけるP偏光の分離率とS偏
光の分離率との比とが許容範囲内で等しくなるように、
ハーフミラーの特性を組み合わせれば良い。
【0065】
【発明の効果】請求項1の測光装置では、ハーフミラー
による反射と透過とを交互に行うことにより、測光手段
に対するS偏光の受光率とP偏光の受光率との差を小さ
くすることができる。
による反射と透過とを交互に行うことにより、測光手段
に対するS偏光の受光率とP偏光の受光率との差を小さ
くすることができる。
【0066】したがって、撮影レンズに入射する光の偏
光方向による測光値の変化が小さくなり、従来より正確
な測光を行うことができる。請求項2の測光装置では、
第2のハーフミラーの面の一部を全反射ミラーとするこ
とにより、第2のハーフミラーの反射光束を増加させる
ことができる。したがって、この反射光束をファインダ
に利用すると、ファインダの光学像を明るくすることが
できる。
光方向による測光値の変化が小さくなり、従来より正確
な測光を行うことができる。請求項2の測光装置では、
第2のハーフミラーの面の一部を全反射ミラーとするこ
とにより、第2のハーフミラーの反射光束を増加させる
ことができる。したがって、この反射光束をファインダ
に利用すると、ファインダの光学像を明るくすることが
できる。
【0067】請求項3の測光装置では、ハーフミラーに
よる透過と反射とを交互に行うことにより、測光手段に
対するS偏光の受光率とP偏光の受光率との差を小さく
することができる。
よる透過と反射とを交互に行うことにより、測光手段に
対するS偏光の受光率とP偏光の受光率との差を小さく
することができる。
【0068】したがって、撮影レンズに入射する光の偏
光方向による測光値の変化が小さくなり、従来より正確
な測光を行うことができる。請求項4の測光装置では、
第1のハーフミラーによる偏光特性を、第2のハーフミ
ラーによって打ち消すことができるので、撮影レンズに
入射する光の偏光方向によらず、正確な測光を行うこと
ができる。
光方向による測光値の変化が小さくなり、従来より正確
な測光を行うことができる。請求項4の測光装置では、
第1のハーフミラーによる偏光特性を、第2のハーフミ
ラーによって打ち消すことができるので、撮影レンズに
入射する光の偏光方向によらず、正確な測光を行うこと
ができる。
【0069】以上のように、本発明を適用したカメラで
は、撮影レンズからの入射光の偏光方向によらず、従来
より正確な測光値を測定することができるので、露出過
多や露出不足を防止して、適正な露出による撮影を行う
ことができる。
は、撮影レンズからの入射光の偏光方向によらず、従来
より正確な測光値を測定することができるので、露出過
多や露出不足を防止して、適正な露出による撮影を行う
ことができる。
【0070】また、カメラの構え方による露出量の変化
が抑えられ、適正な露出量によって撮影を行うことがで
きる。さらに、直線偏光フィルタを透過した入射光に対
しても、正確な測光を行うことができるので、カメラに
直線偏光フィルタを装着することができる。
が抑えられ、適正な露出量によって撮影を行うことがで
きる。さらに、直線偏光フィルタを透過した入射光に対
しても、正確な測光を行うことができるので、カメラに
直線偏光フィルタを装着することができる。
【図1】第1の実施例を示す図である。
【図2】第2の実施例を示す図である。
【図3】従来例を示す図である。
【図4】ハーフミラーの光学的性質を説明する図であ
る。
る。
【図5】誘電体膜ハーフミラーの特性表である。
31 カメラ本体 31a 撮影レンズ 32,37 ハーフミラー 35 焦点板 36 フィールドレンズ 38 ミラー 39 集光レンズ 40 測光素子
Claims (4)
- 【請求項1】 カメラの撮影レンズと撮像面との間に配
置され、前記撮影レンズからの入射光を反射光と透過光
とに分離する第1のハーフミラーと、 前記第1のハーフミラーによる反射光が入射する位置に
配置され、入射光を反射光と透過光とに分離する第2の
ハーフミラーと、 前記第2のハーフミラーからの透過光を受光する位置に
配置され、測光を行う測光手段と、 を備えたことを特徴とするカメラの測光装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の測光装置において、 前記第2のハーフミラーの面の一部分に全反射ミラーを
形成したことを特徴とするカメラの測光装置。 - 【請求項3】 カメラの撮影レンズと撮像面との間に配
置され、前記撮影レンズからの入射光を反射光と透過光
とに分離する第1のハーフミラーと、 前記第1のハーフミラーによる透過光が入射する位置に
配置され、入射光を反射光と透過光とに分離する第2の
ハーフミラーと、 前記第2のハーフミラーからの反射光を受光する位置に
配置され、測光を行う測光手段と、 を備えたことを特徴とするカメラの測光装置。 - 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の
測光装置において、 前記第1のハーフミラーにおけるS偏光の分離率とP偏
光の分離率との比と、前記第2のハーフミラーにおける
P偏光の分離率とS偏光の分離率との比が等しいことを
特徴とするカメラの測光装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6196724A JPH0862661A (ja) | 1994-08-22 | 1994-08-22 | カメラの測光装置 |
| US08/494,350 US5737648A (en) | 1994-08-22 | 1995-06-26 | Photometric device for a camera |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6196724A JPH0862661A (ja) | 1994-08-22 | 1994-08-22 | カメラの測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0862661A true JPH0862661A (ja) | 1996-03-08 |
Family
ID=16362548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6196724A Pending JPH0862661A (ja) | 1994-08-22 | 1994-08-22 | カメラの測光装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5737648A (ja) |
| JP (1) | JPH0862661A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016125920A (ja) * | 2015-01-05 | 2016-07-11 | シナジーオプトシステムズ株式会社 | 光学素子、照射光学系、集光光学系および光導波路検査装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3697256B2 (ja) * | 2003-02-12 | 2005-09-21 | キヤノン株式会社 | 撮像装置およびレンズ装置 |
| JP2006071839A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Olympus Corp | カメラ |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4879627A (ja) * | 1972-01-26 | 1973-10-25 | ||
| US4178084A (en) * | 1975-06-06 | 1979-12-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Device for measuring light incident on an image forming optical system |
| US4557580A (en) * | 1981-08-18 | 1985-12-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Beam splitter for a single lens reflex camera |
| US6014524A (en) * | 1988-03-23 | 2000-01-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Camera with visual axis detecting device |
| US5218442A (en) * | 1989-12-21 | 1993-06-08 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Camera with camera-shake detection apparatus |
| US5214466A (en) * | 1990-04-11 | 1993-05-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Camera having visual axis detecting apparatus |
| JP3210027B2 (ja) * | 1991-04-05 | 2001-09-17 | キヤノン株式会社 | カメラ |
| JP2941120B2 (ja) * | 1992-05-22 | 1999-08-25 | キヤノン株式会社 | カメラ |
| JPH06102574A (ja) * | 1992-09-18 | 1994-04-15 | Minolta Camera Co Ltd | ファインダー内表示装置 |
| JP3301799B2 (ja) * | 1992-12-03 | 2002-07-15 | キヤノン株式会社 | カメラシステム |
-
1994
- 1994-08-22 JP JP6196724A patent/JPH0862661A/ja active Pending
-
1995
- 1995-06-26 US US08/494,350 patent/US5737648A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016125920A (ja) * | 2015-01-05 | 2016-07-11 | シナジーオプトシステムズ株式会社 | 光学素子、照射光学系、集光光学系および光導波路検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5737648A (en) | 1998-04-07 |
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