JPH087369A - 光磁気ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 最適記録パワーを決定する試し書きに要する
時間を短縮して、光磁気ディスク装置の使用効率を高め
る。 【構成】 最適記録パワー決定手段であるＣＰＵ１は、
光磁気ディスク１２からメーカ名等を示すＩＤデータを
読取り、予め不揮発性メモリ４に対をなして複数組登録
されているＩＤデータ，標準データのうち一致するＩＤ
データをサーチする。次に一致したＩＤデータと対をな
す標準データのなかの標準記録パワーを基準に試し書き
を行い、余裕を備えた確実に書込エラーが発生しない最
適記録パワーを決定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光磁気ディスクを用
いて情報の記録（又は記録及び再生）を行う光磁気ディ
スク装置に関し、特に書込み（記録）時の記録パワー等
のデータを記憶又は登録させておく電気的に書換え可能
な不揮発性メモリを備えた光磁気ディスク装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】レーザ光を用いて情報の記録／再生を行
う光ディスク，光磁気ディスクは、従来の磁気ディスク
に比べて記録密度が遙かに高いため、小型で大容量のデ
ィスクとして広く使われるようになっている。特に光磁
気ディスクは、安価ではあるが一度記録した所には再び
記録出来ない追記型の光ディスクとは異なり、磁気ディ
スクと同様に何回でも書換え可能であるため、今後とも
有望な発展性をもっている。

【０００３】しかしながら、情報の再生（読出し）は弱
いパワーのレーザ光で行うため問題はないが、記録（書
込み）時には再生時に比べて強いパワーのレーザ光が必
要になる。もし、記録パワーが不足すれば書込みが不安
定になってエラーが続出し、極端な場合は書込み不能に
なる恐れがある。

【０００４】反対に記録パワーが強過ぎれば書込みは確
実に行われるが、光磁気ディスクの記録面に結像したレ
ーザ光のスポットの有効径が拡大するから、記録密度を
高めるために互いに近接して配置された周囲のビットに
影響を及ぼしてエラーの原因になる。したがって、書込
むための記録パワーは、多少の許容幅はあるが、最適な
パワーに設定しなければならない。

【０００５】そのため、光磁気ディスクのメーカはその
光磁気ディスクに対して記録パワーの推奨値を発表して
いる。しかしながら、実際の最適記録パワーには製造時
の避けられないバラツキや、使用条件特に周囲温度によ
る影響があり、それにも増して挿着される光磁気ディス
ク装置の光学系の効率や光源素子例えばレーザダイオー
ドの発光効率のバラツキや温度変化が大きいから、推奨
値は一応の目安にすぎない。

【０００６】したがって、個々の光磁気ディスク装置毎
に出荷調整を行い、各メーカの光磁気ディスクについて
当該装置における最適記録パワーを決定し、その時の温
度と共に光磁気ディスク装置に備えた不揮発性メモリ例
えばＲＯＭやＥＰＲＯＭ等に登録して出荷する等の方法
がとられていた。

【０００７】あるいは、必要な都度試し書きを行って最
適記録パワーを決定する方法、例えば米国特許５１４０
５８０号明細書に示されたように、記録パワーを光源素
子の最大パワーから或るステップ値で減少させながら試
し書きを繰返し、始めてエラーが発生したパワーレベル
に予め設定したマージンを加算して最適記録パワーを決
定するという提案があった。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】出荷調整時のデータを
用いれば、光磁気ディスクメーカの推奨値よりも精度の
高い最適記録パワーが得られる。しかしながら、光磁気
ディスク装置や光磁気ディスクが新品のうちは問題ない
が、使用中に付着するゴミや汚れ、あるいは光磁気ディ
スク自体の経時的な劣化等によって次第に記録パワーが
不足し、エラーが発生し易くなることは避けられない。

【０００９】また、光磁気ディスク自体の開発が進ん
で、出荷調整時にテストしたメーカ以外の製品が用いら
れたり、同一メーカであっても性能の向上した新しい光
磁気ディスクが発売されたりすれば、不揮発性メモリに
登録した標準データでは対応することが出来ない。その
都度、或いは定期的にユーザの所にある光磁気ディスク
装置の不揮発性メモリを交換することは、実際上不可能
に近い。

【００１０】上記のような場合に、米国特許５１４０５
８０号明細書に示された提案は極めて有効である。しか
しながら、該提案は最大パワーから始めてパワーを下げ
ながら試し書きを繰返すために、試し書きに要する時間
が長くなるという問題があった。

【００１１】さらに、記録パワーは温度による影響を受
けるため、当初試し書きによって最適記録パワーを決定
しても使用中の温度変化例えば温度上昇等により、必ず
しも常に最適状態にあるとは保証出来ない。そのため、
加算するすマージンを大きく設定すれば、レーザダイオ
ード等が必要以上のパワーでドライブされることにな
り、劣化を早めるという問題も発生する。

【００１２】この発明は上記の点に鑑みてなされたもの
であり、試し書きに要する時間を短縮して光磁気ディス
ク装置の使用効率を高め、しかも確実な書込みを行うた
めの最適記録パワーが得られることを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するため、使用する光磁気ディスクのメーカ名又は
種別名等のＩＤデータと、書込みのための標準記録パワ
ー及びその時の温度等の標準データとを対にして予め登
録した電気的に書換え可能な不揮発性メモリを備え、挿
着された光磁気ディスクを用いて情報の書込みを行う光
磁気ディスク装置において、電源オン時又は光磁気ディ
スク挿着時等に行われる試し書きを、挿着された光磁気
ディスクから読出されたＩＤデータに一致する不揮発性
メモリに登録されているＩＤデータと対をなす標準デー
タを基準にして行うことにより最適記録パワーを決定す
る最適記録パワー決定手段を設けたものである。

【００１４】さらに、該最適記録パワー決定手段を、基
準にした標準データの標準記録パワーを中心として、そ
れぞれ予め設定された範囲内でステップ値を加算又は減
算した記録パワーについてそれぞれ試し書きを行うこと
により最適記録パワーを決定する手段とするとよい。

【００１５】上記の光磁気ディスク装置において、最適
記録パワー決定手段により決定された最適記録パワー
と、不揮発性メモリに登録されている標準データの標準
記録パワーとの差が予め設定された閾値を超えた時に、
最適記録パワーと試し書き時の温度とによって該登録さ
れている標準データを更新する標準データ更新手段を設
けるとよい。

【００１６】あるいは、最適記録パワー決定手段により
決定された最適記録パワーと、不揮発性メモリに登録さ
れている標準データの標準記録パワーとの差が予め設定
された閾値を超えた時に、オペレータに警告する警告手
段を設けてもよい。

【００１７】また、光磁気ディスクから読出されたＩＤ
データが不揮発性メモリに登録されているＩＤデータの
いずれにも一致しない場合に読出されたＩＤデータを不
揮発性メモリに登録するＩＤ登録手段と、記録パワーを
変えながら試し書きを行って決定された最適記録パワー
を標準記録パワーとして試し書き時の温度と共に標準デ
ータを形成しＩＤ登録手段により登録されたＩＤデータ
と対をなすように不揮発性メモリに登録する標準データ
登録手段とを設けるとよい。

【００１８】また、最適記録パワー決定手段により決定
された最適記録パワー及びその時の温度と不揮発性メモ
リに登録されている標準データの標準記録パワー及びそ
の時の温度とのそれぞれの差から記録パワーの温度補正
係数を計算する補正係数計算手段と、該手段により計算
された温度補正係数を用い情報書込み時にその時の温度
と最適記録パワーが決定された時の温度との差に応じて
最適記録パワーを補正して情報書込みのための記録パワ
ーを得るパワー補正手段とを設けてもよい。

【００１９】

【作用】上記のように構成した光磁気ディスク装置は、
最適記録パワー決定手段が挿着された光磁気ディスクか
ら読出したＩＤデータに一致する不揮発性メモリに登録
されているＩＤデータと対をなす標準データを基準にし
て試し書きを行うから、短時間で容易に最適記録パワー
を決定することが出来る。

【００２０】さらに、最適記録パワー決定手段が、基準
にした標準データの標準記録パワーを中心として、予め
設定された範囲内でステップ値を加算又は減算しながら
最適記録パワーを決定することにより、より短時間で確
実に最適記録パワーを決定することが出来る。いずれの
場合も最適記録パワーが短時間に決定されるから、光磁
気ディスク装置の使用効率が高まり、確実な書込みが行
われる。

【００２１】上記のように決定された最適記録パワーと
標準データの標準記録パワーとの差が予め設定された閾
値を超えると、標準データ更新手段が最適記録パワーと
試し書き時の温度とを新しい標準データとして更新する
から、例えば汚れや光磁気ディスクの劣化等の経時的な
変化があっても、最適記録パワーを決定する試し書きの
回数すなわち決定に要する時間が徒に増加することがな
い。

【００２２】あるいは、その差が閾値を超えると、警告
手段が表示，警報音等によってオペレータに警告する。
この場合、オペレータは直ちに標準データを更新する
か、警告の頻度が低い間は偶発的なエラーとして無視す
るかを判断して処理することが出来る。従って、閾値を
低目に設定することも可能になる。

【００２３】また、新種の光磁気ディスクが挿着され場
合は読出されたＩＤデータが不揮発性メモリに登録され
ているＩＤデータのいずれにも一致しないから、ＩＤ登
録手段が読出されたＩＤデータを不揮発性メモリに登録
すると共に、標準データ登録手段が記録パワーを変えな
がら試し書きを行って決定された最適記録パワーとその
時の温度とを標準データとしてＩＤデータと対をなすよ
うに不揮発性メモリに登録する。従って、最適記録パワ
ーの決定に時間がかかるのは初回だけで、２回目以降は
既に登録されていた光磁気ディスクと同様に短時間で決
定出来る。

【００２４】また、補正係数計算手段は、最適記録パワ
ー決定手段が決定した最適記録パワーと登録されている
標準データの標準記録パワーとの差を、それぞれの温度
の差で割ることにより温度補正係数を計算し、該補正係
数を用いてパワー補正手段は、使用中に温度が変化すれ
ばその変化量に応じて記録パワーを補正するから、温度
変化が生じてもその度に最適記録パワーを決定し直す必
要がなく、光磁気ディスク装置の使用効率を高め、しか
も確実な書込みが行われる。

【００２５】

【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照しなが
ら具体的に説明する。図１はこの発明の一実施例である
光磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。

【００２６】図１に示した光磁気ディスク装置１０は、
バス（ライン）により互いに接続されたＣＰＵ１，ＲＯ
Ｍ２，ＲＡＭ３，不揮発性メモリ４，Ｉ／Ｆ（インタフ
ェース）回路５，Ｒ／Ｗ（リード／ライト）制御部６，
Ｉ／Ｏ回路７、並びにＲ／Ｗ制御部６及びＩ／Ｏ回路７
にそれぞれ接続された光ヘッド８及び温度センサ９とに
よって構成され、光磁気ディスク１２が着脱自在に挿着
されるようになっている。

【００２７】ＣＰＵ１は光磁気ディスク装置１０全体の
シーケンス制御，プロセス制御及びデータ処理を行い、
後述する第１及び第２実施例では最適記録パワー決定手
段として、第３及び第４実施例では標準データ更新手段
及び警告手段として、第５実施例ではＩＤ登録手段及び
標準データ登録手段として、第６実施例では補正係数計
算手段及びパワー補正手段としてそれぞれ作用する。

【００２８】ＲＯＭ２はＣＰＵ１が実行するルーチンの
プログラムや定数データが予め格納されている。ＲＡＭ
３は変数データや光磁気ディスク１２に記録する或いは
再生されたデータ（情報）等を一時的に記憶する。ＣＰ
Ｕ１が入出力するコマンドやＲＡＭ３に記憶されたデー
タは、Ｉ／Ｆ回路５に接続されているパーソナルコンピ
ュータ，ワークステーション，文書作成装置等のホスト
マシン２０に、Ｉ／Ｆ回路５を介して入出力される。

【００２９】例えばフラッシュメモリ等からなる電気的
に書換え可能な不揮発性メモリ４には、挿着可能な光磁
気ディスク１２の各メーカ名又は同一メーカでも性能が
異なる場合はその種類別を示すコード等からなるＩＤデ
ータと、光ヘッド８の図示しないレーザ光源であるレー
ザダイオードの書込み時の標準記録パワー及び標準記録
パワーを決定した時の温度である標準温度等からなる標
準データとが対をなして複数組格納されている。

【００３０】Ｒ／Ｗ制御部６は光ヘッド７を制御して光
磁気ディスク１２へのデータの記録／再生を行う。デー
タ記録の場合は、バスを介して入力するデータに応じて
レーザ光をオン／オフさせ、オン時のレーザ光のパワー
が指示された記録パワーを保つようにフィードバック制
御する。

【００３１】データ消去の場合は、記録パワーと同程度
のパワーでレーザ光を連続出力させる。データ再生の場
合は、記録パワーより遙かに少ないパワーで偏光された
レーザ光を連続出力させ、光磁気ディスク１２による反
射光を受光してその偏光面の旋回方向に応じて「０」又
は「１」を識別し、再生データとして出力する。

【００３２】また、Ｉ／Ｏ回路７にはすべては図示しな
い各種の駆動制御部やセンサ群が接続されているが、セ
ンサ群を構成するセンサのうちの一種である温度センサ
９は、光磁気ディスク１２又はその近傍の温度を刻々に
検出し、Ｉ／Ｏ回路７を介してバスに出力する。

【００３３】図２は、最適記録パワー決定手段であるＣ
ＰＵ１が実行するルーチンの第１実施例を示すフロー図
である。図２に示した最適記録パワーを決定するルーチ
ンであるパワー決定Ａは、光磁気ディスク装置１０に光
磁気ディスク１２が挿着された時、又は光磁気ディスク
１２が挿着されている光磁気ディスク装置１０の電源が
オンになった時のそれぞれ初期設定ルーチンのなかで実
行される。

【００３４】このルーチンがスタートすると、先ずステ
ップ１で挿着されている光磁気ディスク１２からＩＤデ
ータを読出して読出ＩＤデータとし、次にステップ２で
不揮発性メモリ４に登録されている登録ＩＤデータのう
ち読出ＩＤデータと一致する登録ＩＤデータをサーチす
る。

【００３５】一致する登録ＩＤデータが見付けられたら
ステップ３に進んで、一致したＩＤデータと対をなして
登録されている標準データの標準記録パワーと標準温度
とを読出して、ＲＡＭ３の所定領域に記憶させる。さら
にステップ４で、ＲＡＭ３上の記録パワーを基準値とし
て試し書きを行い、最適記録パワーを決定してエンドに
なる。以降はデータ記録の都度に、Ｒ／Ｗ制御部６は決
定されたＲＡＭ３上の最適記録パワーによって光ヘッド
８のレーザ光のパワーを制御する。

【００３６】図３は、図２に示した第１実施例の一部を
さらに詳細にしたルーチンの一例である第２実施例を示
すフロー図であり、ステップ１乃至ステップ３は第１実
施例と同一であるから説明を省略する。

【００３７】なお、次のように各値をそれぞれ定義す
る。即ち、標準記録パワーをＰstd 、試し書きを行う記
録パワーをＰ、記録パワーを変える時に加算又は減算す
るステップ値をＰs 、試し書き時にエラーが発生しない
最小記録パワーに加算して最適記録パワーとするマージ
ン値をＭ、得られた最適記録パワーをＰmsw 、レーザダ
イオードの許容最大パワーからマージン値を引いた値す
なわちその値にマージン値を加えても許容最大パワーを
超えないパワー上限値をＰmax とする。

【００３８】上記の各値のうちステップ値Ｐs とマージ
ン値Ｍとを予め設定しておけば、許容最大パワーは使用
したレーザダイオードによって決まっているからパワー
上限値Ｐmax が設定される。試し書きの記録パワーＰの
範囲の下限はゼロでもよいがエラーの発生によって自ら
限定され、その上限はパワー上限値Ｐmax により限定さ
れることになる。

【００３９】図３に示したルーチンのパワー決定Ｂがス
タートし、第１実施例（図２）と同様にステップ１乃至
ステップ３が実行されると、ステップ６で記録パワーＰ
を標準記録パワーＰstd にセットし、ステップ７で試し
書きを実行する。ステップ８でデータにエラーが発生し
たか否かを判定して、否ならステップ１４にジャンプ
し、エラー発生ならばステップ９に進む。

【００４０】ステップ９では記録パワーＰにステップ値
Ｐs を加算、即ち記録パワーを１ステップアップし、ス
テップ１０で新しい記録パワーＰがパワー上限値Ｐmax
を超えたか否かを判定する。超えていれば主な原因はレ
ーザダイオード又は光磁気ディスク１２の劣化、あるい
は過度の汚れであるから、ステップ１１の事故処理ルー
チンにジャンプする。

【００４１】否すなわちＰ≦Ｐmax であればステップ１
２に進んで試し書きを行い、ステップ１３でエラー発生
か否かを判定して、エラー発生ならばステップ９に戻っ
て記録パワーＰのインクリメントを繰返し、否すなわち
エラーが発生しなくなればステップ１８にジャンプす
る。

【００４２】ステップ８からステップ１４にジャンプす
ると、記録パワーＰからステップ値Ｐs を減算、即ち記
録パワーを１ステップダウンして、ステップ１５に進ん
で試し書きを行い、ステップ１６でエラー発生か否かを
判定して、エラーが発生していなければステップ１４に
戻って記録パワーＰのデクリメントを繰返し、エラー発
生ならばステップ１７で記録パワーＰを１ステップアッ
プしてステップ１８に進む。

【００４３】ステップ１３からジャンプして来てもステ
ップ１７から進んで来ても、ステップ１８に入る前には
記録パワーＰはエラーが発生しない最小記録パワーにな
っているから、ステップ１８でマージン値Ｍを加算する
ことにより最適記録パワーＰmsw が得られ、エンドにな
る。

【００４４】マージン値Ｍは、初期設定時に決定した最
適記録パワーＰmsw が使用中に周囲条件特に温度が変化
しても差支えないように予め設定しておくものであるか
ら、余り小さければ使用中にエラーが発生する恐れがあ
り、余り大きく設定すればパワー上限値Ｐmax が小さく
なって試し書きの範囲が狹くなる。

【００４５】以上説明したように第１又は第２実施例に
よれば、不揮発性メモリ４に登録されている標準データ
の標準記録パワーを基準にして試し書きを行うから、許
容最大パワーからスタートしてステップダウンしながら
試し書きを行う従来の光磁気ディスク装置に比べて、試
し書きの回数が遙かに少なくて済み、それだけ最適記録
パワーの決定に要する時間が短縮される。

【００４６】あるいは、従来例に比べてステップ値Ｐs
を小さく設定しても最適記録パワー決定に要する時間が
長くなることはなく、ステップ値Ｐs が小さいことによ
ってより精密に最適記録パワーＰmsw を決定することが
可能になる。

【００４７】図４は、標準データ更新手段であり警告手
段でもあるＣＰＵ１が実行するルーチンの第３実施例を
示すフロー図であり、図２又は図３に示した最適記録パ
ワー決定のルーチン終了後に実行されるものである。

【００４８】図４に示したルーチンである標準データ更
新／警告Ａがスタートすると、先ずステップ２０で温度
センサ９が検出した最適記録パワー決定直後の温度Ｔを
Ｉ／Ｏ回路７を介して読取って、ＲＡＭ３上の最適記録
パワーＰmsw に隣接して記憶させる。次にステップ２１
で最適記録パワーＰmsw と不揮発性メモリ４に登録され
ている標準記録パワーＰstd との差（の絶対値）ΔＰを
計算し、ステップ２２でその差ΔＰが予め設定した閾値
を超えているか否かを判定して、否ならばエンドにジャ
ンプし、閾値を超えていればステップ２３に進む。

【００４９】ステップ２３ではＲＡＭ３上の最適記録パ
ワーＰmsw と温度Ｔとを新しい標準データとして、不揮
発性メモリ４上の旧標準データの領域に登録して更新
し、ステップ２４で挿着されている光磁気ディスク１２
の標準データが更新されたことを、例えば表示又は警報
音あるいはその両者によってオペレータに警告した後、
エンドになる。

【００５０】この第３実施例によれば、経時的な劣化又
は汚れによって最適記録パワーが閾値を超える程変化し
た場合に、オペレータを煩わすことなく標準データが更
新されるから、最適記録パワーの経時的変化によって増
加していた試し書きの回数が減少し、決定に要する時間
が再び短縮される。また、警告によってオペレータは標
準データが更新されたことが分る。

【００５１】図５は、標準データ更新並びに警告ルーチ
ンの他の例を示すフロー図であり、図４に示した第３実
施例と同一部分には同一のステップ番号を付している。
すなわち、図５に示した第４実施例である標準データ更
新／警告Ｂのステップ２０乃至ステップ２２は、第３実
施例と同一であるから説明を省略する。

【００５２】ステップ２２でΔＰ＞閾値であればステッ
プ２５に進んで、差ΔＰが閾値を超えたことをオペレー
タに警告し、ステップ２６でオペレータからの指示入力
を待機する。オペレータが標準データを更新するか、そ
の必要なしとして警告を無視するかを判断して指示する
とステップ２７に進んで、オペレータの指示が標準デー
タ更新であるか否かを判定し、否であればエンドにジャ
ンプし、更新であればステップ２８に進んで、図３に示
したルーチンのステップ２３と同様に標準データを更新
してエンドに行く。

【００５３】この第４実施例によれば、第３実施例の効
果の他に、オペレータの判断によって警告が度重なれば
標準データを更新し、警告が初回又はまれであれば偶発
的なエラーと考えて無視することが出来る。この場合は
オペレータの判断が入るから、第３実施例（図４）に比
べて差ΔＰの閾値を小さく設定することも可能である。

【００５４】図６は、ＩＤ登録手段であり標準データ登
録手段でもあるＣＰＵ１が実行するルーチンの第５実施
例を示すフロー図であり、図２又は図３に示した最適記
録パワー決定のルーチンの前に実行されるものである。

【００５５】図６に示した新種の光磁気ディスクのＩＤ
データ並びに標準データ登録ルーチンであるＩＤ／標準
データ登録がスタートすると、ステップ３０及びステッ
プ３１では第１又は第２実施例（パワー決定Ａ，Ｂ）の
ステップ１及びステップ２と同様に、挿着されている光
磁気ディスク１２からＩＤデータを読出して読出ＩＤデ
ータとし、不揮発性メモリ４上の登録ＩＤデータのうち
読出ＩＤデータと一致する登録ＩＤデータをサーチす
る。

【００５６】次にステップ３２に進んで、一致する登録
ＩＤデータが有ったか否かを判定し、有ればパワー決定
Ａ又はＢ（図２又は図３）のステップ３にジャンプし、
否ならば新種の光磁気ディスクが挿着されていることに
なるから、ステップ３３に進んで読出ＩＤデータを新し
いＩＤデータとして不揮発性メモリ４に登録し、ステッ
プ３４に進む。

【００５７】ステップ３４では、基準とする標準記録パ
ワーがないから、多少時間がかかっても、例えば記録パ
ワーを光源素子の最大パワーから或るステップ値で減少
させながら試し書きを繰返し、始めてエラーが発生した
パワーレベル又はエラーが発生しない最小パワーレベル
にマージン値を加算する等の方法によって最適記録パワ
ーＰmsw を決定する。

【００５８】決定された最適記録パワーＰmsw は、その
時の温度Ｔと共にＲＡＭ３上に新しい標準データを形成
する。次にステップ３５に進み、形成された標準データ
を、先に登録されたＩＤデータと対をなすように、不揮
発性メモリ４に登録してエンドに行く。

【００５９】この第５実施例によれば、不揮発性メモリ
４に登録されていない新しい光磁気ディスク１２が挿着
された場合は、該光磁気ディスク１２に対応するＩＤデ
ータと標準データとが対をなして不揮発性メモリ４に登
録される。従って、初回だけは最適記録パワーの決定に
時間がかかっても、２回目以降は既に登録されていた光
磁気ディスクと同様に短時間で決定出来るようになる。

【００６０】図７及び図８は、それぞれ補正係数計算手
段及びパワー補正手段であるＣＰＵ１が実行する２つの
ルーチン即ち補正係数計算及びパワー補正を示すフロー
図であり、補正係数計算は図２又は図３に示した最適記
録パワー決定のルーチン終了後に実行され、パワー補正
は補正係数計算実行後暫らく時間が経過してから随時実
行されるが、機能的には１組になって第６実施例を形成
している。

【００６１】図７に示したルーチン補正係数計算が最適
記録パワーＰmsw 決定後にスタートすると、先ずステッ
プ４０で温度センサ９が検出した最適記録パワー決定直
後の温度Ｔを読取り、基準温度ＴｋとしてＲＡＭ３に記
憶する。次にステップ４１で、不揮発性メモリ４に登録
されている標準データを構成する標準記録パワーＰstd
とその時の標準温度Ｔstd とを読出して同じくＲＡＭ３
に記憶する。

【００６２】さらにステップ４２で、それぞれＲＡＭ３
に記憶されている最適記録パワーＰmsw と標準記録パワ
ーＰstd との差を、基準温度Ｔｋと標準温度Ｔstd との
差で割ることにより、記録パワーの温度補正係数Ｋを計
算してＲＡＭ３に記憶させ、エンドになる。

【００６３】なお、予め温度補正係数Ｋを標準データの
一部として不揮発性メモリ４に登録させるようにすれ
ば、補正係数計算は、新種の光磁気ディスクのデータを
登録するルーチン（図６）が実行された後、温度Ｔと登
録された標準温度Ｔstd との間に差が生じた時に、１回
だけ実行してその結果を登録すれば済む。

【００６４】図８に示したルーチンパワー補正は予め設
定された時間毎に実行されるが、このルーチンが実行さ
れる前には、既に説明したようにＲＡＭ３には決定され
た最適記録パワーＰmsw ，基準温度Ｔk ，温度補正係数
Ｋが記憶されている。

【００６５】図８に示したパワー補正がスタートする
と、ステップ４５で現在の温度Ｔを読取り、ステップ４
６で基準温度Ｔk に対する読取った温度Ｔの差に温度補
正係数Ｋを乗じてパワー補正値Ｐc を計算する。次にス
テップ４７で、計算されたパワー補正値Ｐc を最適記録
パワーＰmsw に加算することにより、温度補正された記
録パワーＰを決定してエンドになる。

【００６６】この第６実施例によれば、補正係数計算の
ルーチンを実行して温度補正係数Ｋを求め、その係数Ｋ
を用い一定時間毎にパワー補正のルーチンを実行して記
録パワーＰを補正しているから、光磁気ディスク装置１
０の電源がオンである間に温度が変化しても、常に最も
良好な記録パワーＰでデータの書込みが行われる。従っ
て、最適記録パワーを決定するマージン値Ｍを比較的小
さく設定しても書込みのエラーが発生する恐れがない。

【００６７】また、マージン値Ｍを比較的小さく設定す
ることにより、光ヘッド８のレーザダイオードが必要以
上のパワーを出力しなくても確実な書込みが行われ、無
理なくドライブしてその寿命を延ばすことが出来る。さ
らに、試し書きを行う記録パワーの範囲が広くなる。

【００６８】

【発明の効果】以上説明したようにこの発明による光磁
気ディスク装置は、最適記録パワーを決定するための試
し書きに要する時間が短縮されるからその使用効率が高
まり、しかも確実な書込みを行う記録パワーが得られ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例である光磁気ディスク装置
の構成を示すブロック図である。

【図２】この発明の第１実施例である最適記録パワー決
定のルーチンを示すフロー図である。

【図３】図１に示したルーチンの一部をさらに詳細に表
した第２実施例を示すフロー図である。

【図４】この発明の第３実施例である標準データ更新並
びに警告のルーチンを示すフロー図である。

【図５】この発明の第４実施例である標準データ更新並
びに警告のルーチンの他の例を示すフロー図である。

【図６】この発明の第５実施例であるＩＤデータ及び標
準データ登録のルーチンを示すフロー図である。

【図７】この発明の第６実施例の一部である補正係数計
算のルーチンの一例を示すフロー図である。

【図８】この発明の第６実施例の他の一部である記録パ
ワー補正のルーチンの一例を示すフロー図である。

【符号の説明】

１：ＣＰＵ ４：不揮発性メモリ １０：光磁気ディスク装置 １２：光磁気ディスク ２０：ホストマシン Ｐ：記録パワー Ｐmsw：最適記録パワー Ｐs：ステップ値 Ｐstd：標準記録パワー Ｔ：温度 Ｔk：基準温度 Ｔstd：標準温度 Ｋ：温度補正係数

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 使用する光磁気ディスクのメーカ名又は
   種別名等のＩＤデータと、書込みのための標準記録パワ
   ー及びその時の温度等の標準データとを対にして予め登
   録した電気的に書換え可能な不揮発性メモリを備え、挿
   着された光磁気ディスクを用いて情報の書込みを行う光
   磁気ディスク装置において、 電源オン時又は光磁気ディスク挿着時等に行われる試し
   書きを、挿着された前記光磁気ディスクから読出された
   ＩＤデータに一致する前記不揮発性メモリに登録されて
   いるＩＤデータと対をなす前記標準データを基準にして
   行うことにより最適記録パワーを決定する最適記録パワ
   ー決定手段を設けたことを特徴とする光磁気ディスク装
   置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の光磁気ディスク装置にお
   いて、 前記最適記録パワー決定手段が、前記基準にした標準デ
   ータの標準記録パワーを中心として、それぞれ予め設定
   された範囲内でステップ値を加算又は減算した記録パワ
   ーについてそれぞれ前記試し書きを行うことにより最適
   記録パワーを決定する手段であることを特徴とする光磁
   気ディスク装置。
3. 【請求項３】 請求項１又は２記載の光磁気ディスク装
   置において、 前記最適記録パワー決定手段により決定された最適記録
   パワーと、前記不揮発性メモリに登録されている標準デ
   ータの標準記録パワーとの差が予め設定された閾値を超
   えた時に、前記最適記録パワーと試し書き時の温度とに
   よって該登録されている標準データを更新する標準デー
   タ更新手段を設けたことを特徴とする光磁気ディスク装
   置。
4. 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれか一項記載の光
   磁気ディスク装置において、 前記最適記録パワー決定手段により決定された最適記録
   パワーと、前記不揮発性メモリに登録されている標準デ
   ータの標準記録パワーとの差が予め設定された閾値を超
   えた時に、オペレータに警告する警告手段を設けたこと
   を特徴とする光磁気ディスク装置。
5. 【請求項５】 請求項１又は２記載の光磁気ディスク装
   置において、 前記光磁気ディスクから読出されたＩＤデータが前記不
   揮発性メモリに登録されているＩＤデータのいずれにも
   一致しない場合に、前記読出されたＩＤデータを前記不
   揮発性メモリに登録するＩＤ登録手段と、 記録パワーを変えながら前記試し書きを行って決定され
   た最適記録パワーを標準記録パワーとして試し書き時の
   温度と共に標準データを形成し、前記ＩＤ登録手段によ
   り登録されたＩＤデータと対をなすように前記不揮発性
   メモリに登録する標準データ登録手段とを設けたことを
   特徴とする光磁気ディスク装置。
6. 【請求項６】 請求項１又は２記載の光磁気ディスク装
   置において、 前記最適記録パワー決定手段により決定された最適記録
   パワー及びその時の温度と、前記不揮発性メモリに登録
   されている標準データの標準記録パワー及びその時の温
   度とのそれぞれの差から記録パワーの温度補正係数を計
   算する補正係数計算手段と、 該手段により計算された温度補正係数を用い、情報書込
   み時にその時の温度と前記最適記録パワーが決定された
   時の温度との差に応じて前記最適記録パワーを補正して
   情報書込みのための記録パワーを得るパワー補正手段と
   を設けたことを特徴とする光磁気ディスク装置。