JPH0877134A - マイクロコンピュータ - Google Patents
マイクロコンピュータInfo
- Publication number
- JPH0877134A JPH0877134A JP6209832A JP20983294A JPH0877134A JP H0877134 A JPH0877134 A JP H0877134A JP 6209832 A JP6209832 A JP 6209832A JP 20983294 A JP20983294 A JP 20983294A JP H0877134 A JPH0877134 A JP H0877134A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mode
- user
- microcomputer
- prohibition
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Microcomputers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ユーザモードで使用している間に、例えば外
部入力がテストモード／ＥＰＲＯＭモード状態となって
も、テストモード／ＥＰＲＯＭモードに移行せずにユー
ザモードで動作し続けるマイコンを提供することであ
る。 【構成】 ユーザ用の動作モードであるユーザモード
と、テスト用の動作モードであるテストモードとを有
し、前記ユーザモード及び前記テストモードに対応した
動作を行うマイクロコンピュータにおいて、前記ユーザ
モードで動作中にテストモードへ移行するのを禁止する
禁止回路を備えた。また、電気的に書き込み可能な不揮
発性メモリを有し、該不揮発性メモリに対して少なくと
もプログラムの書き込み／ベリファイを行うためのＥＰ
ＲＯＭモードと、ユーザモードとに対応した動作を行う
マイクロコンピュータにおいて、前記ユーザモードで動
作中にＥＰＲＯＭモードへ移行するのを禁止する禁止回
路を備えた。
部入力がテストモード／ＥＰＲＯＭモード状態となって
も、テストモード／ＥＰＲＯＭモードに移行せずにユー
ザモードで動作し続けるマイコンを提供することであ
る。 【構成】 ユーザ用の動作モードであるユーザモード
と、テスト用の動作モードであるテストモードとを有
し、前記ユーザモード及び前記テストモードに対応した
動作を行うマイクロコンピュータにおいて、前記ユーザ
モードで動作中にテストモードへ移行するのを禁止する
禁止回路を備えた。また、電気的に書き込み可能な不揮
発性メモリを有し、該不揮発性メモリに対して少なくと
もプログラムの書き込み／ベリファイを行うためのＥＰ
ＲＯＭモードと、ユーザモードとに対応した動作を行う
マイクロコンピュータにおいて、前記ユーザモードで動
作中にＥＰＲＯＭモードへ移行するのを禁止する禁止回
路を備えた。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、シングルチップマイク
ロコンピュータ等のテストモードを備えたマイクロコン
ピュータや、不揮発性メモリ（ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯ
Ｍ等）を内蔵したマイクロコンピュータに関する。
ロコンピュータ等のテストモードを備えたマイクロコン
ピュータや、不揮発性メモリ（ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯ
Ｍ等）を内蔵したマイクロコンピュータに関する。
【０００２】
【従来の技術】ユーザが使用するための通常の動作状態
であるユーザモードと、半導体メーカの出荷試験用の特
別な動作状態であるテストモードとを備えたマイクロコ
ンピュータ（以下、マイコンという）は、従来より知ら
れている。
であるユーザモードと、半導体メーカの出荷試験用の特
別な動作状態であるテストモードとを備えたマイクロコ
ンピュータ（以下、マイコンという）は、従来より知ら
れている。
【０００３】例えばプログラムを格納するためのＲＯＭ
を内蔵したシングルチップマイコンにおいては、このＲ
ＯＭに格納されるプログラムが通常ユーザによって作成
される。また、半導体メーカが出荷試験を行うために
は、出荷試験用のプログラムをマイコンに実行させる等
の必要があるため、内蔵ＲＯＭに代わって外部からプロ
グラムを入力させる機能を持たなければならない。その
ための動作状態、即ちテストモードを備えることがシン
グチップマイコンには必要となる。
を内蔵したシングルチップマイコンにおいては、このＲ
ＯＭに格納されるプログラムが通常ユーザによって作成
される。また、半導体メーカが出荷試験を行うために
は、出荷試験用のプログラムをマイコンに実行させる等
の必要があるため、内蔵ＲＯＭに代わって外部からプロ
グラムを入力させる機能を持たなければならない。その
ための動作状態、即ちテストモードを備えることがシン
グチップマイコンには必要となる。
【０００４】これに対して、ＲＯＭを内蔵していないマ
ルチチップマイコン（マイクロプロセッサ）において
は、ユーザが使用する際も外部からプログラムを入力す
るため、特別な動作状態は必要ではない。
ルチチップマイコン（マイクロプロセッサ）において
は、ユーザが使用する際も外部からプログラムを入力す
るため、特別な動作状態は必要ではない。
【０００５】上記のテストモードを備えたシングルチッ
プマイコンとしては、例えば図９及び図１０に示すよう
なものがあった。
プマイコンとしては、例えば図９及び図１０に示すよう
なものがあった。
【０００６】図９に示すものは、テストモード設定専用
の端子を備えたマイコンの例であり、同図（ａ）に示す
ようにマイコン１０１本体から外部へテストモード設定
用端子１０２が引き出されている。
の端子を備えたマイコンの例であり、同図（ａ）に示す
ようにマイコン１０１本体から外部へテストモード設定
用端子１０２が引き出されている。
【０００７】このマイコンでは、同図（ｂ）に示すよう
にテストモード設定用端子１０２の電圧レベルを例えば
“Ｈ”レベルに固定することでテストモードになり、逆
に“Ｌ”レベルに固定することでユーザモードに設定さ
れるようになっている。
にテストモード設定用端子１０２の電圧レベルを例えば
“Ｈ”レベルに固定することでテストモードになり、逆
に“Ｌ”レベルに固定することでユーザモードに設定さ
れるようになっている。
【０００８】また、図１０に示すものは、テストモード
設定用の端子が他の機能と兼用されているマイコンの例
であり、同図（ａ）に示すようにマイコン本体１１１か
ら外部へ、リセット端子１１２と、テストモード設定用
端子であるポート１１３，１１４とが引き出されてい
る。
設定用の端子が他の機能と兼用されているマイコンの例
であり、同図（ａ）に示すようにマイコン本体１１１か
ら外部へ、リセット端子１１２と、テストモード設定用
端子であるポート１１３，１１４とが引き出されてい
る。
【０００９】このマイコンのモード設定部は、同図
（ｂ）に示すように、入力側が前記ポート１１３，１１
４に接続されたＡＮＤゲート１１５と、該ＡＮＤゲート
１１５の出力側に接続されたラッチ回路１１６とを備
え、該ラッチ回路１１６にはインバータ１１７によって
反転されたリセット信号が供給され、ラッチ回路１１６
からモード設定信号ＭＤが出力されるようになってい
る。ここで、例えば“Ｈ”レベルのモード設定信号ＭＤ
でテストモードが設定され、“Ｌ”レベルのモード設定
信号ＭＤでユーザモードが設定される。
（ｂ）に示すように、入力側が前記ポート１１３，１１
４に接続されたＡＮＤゲート１１５と、該ＡＮＤゲート
１１５の出力側に接続されたラッチ回路１１６とを備
え、該ラッチ回路１１６にはインバータ１１７によって
反転されたリセット信号が供給され、ラッチ回路１１６
からモード設定信号ＭＤが出力されるようになってい
る。ここで、例えば“Ｈ”レベルのモード設定信号ＭＤ
でテストモードが設定され、“Ｌ”レベルのモード設定
信号ＭＤでユーザモードが設定される。
【００１０】このマイコンの例では、リセット端子１１
２へのリセット信号入力後のリセット解除時に、ポート
１１３とポート１１４の電圧レベルを例えば共に“Ｈ”
レベルに固定することによりテストモードに設定され、
逆にポート１１３とポート１１４の電圧レベルの少なく
とも一方が“Ｌ”レベルのときはユーザモードに設定さ
れる。すなわち、リセット解除時のポート１１３，１１
４への入力電圧レベルにより、リセット解除後の動作モ
ードがテストモードまたはユーザモードに決定されるこ
とになる。このタイプのマイコンは、一度リセット解除
されてモードが設定されると次のリセット状態になるま
でモードは変らない。
２へのリセット信号入力後のリセット解除時に、ポート
１１３とポート１１４の電圧レベルを例えば共に“Ｈ”
レベルに固定することによりテストモードに設定され、
逆にポート１１３とポート１１４の電圧レベルの少なく
とも一方が“Ｌ”レベルのときはユーザモードに設定さ
れる。すなわち、リセット解除時のポート１１３，１１
４への入力電圧レベルにより、リセット解除後の動作モ
ードがテストモードまたはユーザモードに決定されるこ
とになる。このタイプのマイコンは、一度リセット解除
されてモードが設定されると次のリセット状態になるま
でモードは変らない。
【００１１】また、上述したシングルチップマイコンと
しては、電気的に書き込み可能な不揮発性メモリを内蔵
したものも知られている。
しては、電気的に書き込み可能な不揮発性メモリを内蔵
したものも知られている。
【００１２】この種のマイコンは、上記のユーザモード
及びテストモード以外に、不揮発性メモリに対するプロ
グラムの書き込み／ベリファイを行うためのＥＰＲＯＭ
モードを持っている。
及びテストモード以外に、不揮発性メモリに対するプロ
グラムの書き込み／ベリファイを行うためのＥＰＲＯＭ
モードを持っている。
【００１３】図１１に示すものは、汎用ＥＰＲＯＭプロ
グラマでプログラム可能な不揮発性メモリを内蔵したマ
イコンの例であり、同図（ａ）に示すようにマイコン本
体１２１には不揮発性メモリ１２２が内蔵され、該マイ
コン本体１２１からは、リセット端子１２３と、ＥＰＲ
ＯＭモード設定用端子であるポート１２４，１２５とが
引き出されている。
グラマでプログラム可能な不揮発性メモリを内蔵したマ
イコンの例であり、同図（ａ）に示すようにマイコン本
体１２１には不揮発性メモリ１２２が内蔵され、該マイ
コン本体１２１からは、リセット端子１２３と、ＥＰＲ
ＯＭモード設定用端子であるポート１２４，１２５とが
引き出されている。
【００１４】このマイコンのモード設定部は、同図
（ｂ）に示すように、入力側が前記リセット端子１２３
及び前記ポート１２４，１２５に接続された論理ゲート
１２６で構成されている。
（ｂ）に示すように、入力側が前記リセット端子１２３
及び前記ポート１２４，１２５に接続された論理ゲート
１２６で構成されている。
【００１５】このマイコンでは、同図（ｃ）に示すよう
に例えばポート１２４の電圧レベルを“Ｈ”レベル、ポ
ート１２５の電圧レベルを“Ｌ”レベル、及びリセット
端子１２３の電圧レベルを“Ｌ”レベルに固定すること
により、論理ゲート１２６から“Ｈ”レベルのモード設
定信号ＥＭＤが出力され、ＥＰＲＯＭモードに設定され
るものである。このタイプのマイコンでは、一度ＥＰＲ
ＯＭモードに設定されると、ＥＰＲＯＭモード設定用端
子の状態が変化しない限りモードは変らない。
に例えばポート１２４の電圧レベルを“Ｈ”レベル、ポ
ート１２５の電圧レベルを“Ｌ”レベル、及びリセット
端子１２３の電圧レベルを“Ｌ”レベルに固定すること
により、論理ゲート１２６から“Ｈ”レベルのモード設
定信号ＥＭＤが出力され、ＥＰＲＯＭモードに設定され
るものである。このタイプのマイコンでは、一度ＥＰＲ
ＯＭモードに設定されると、ＥＰＲＯＭモード設定用端
子の状態が変化しない限りモードは変らない。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、例えば
図９及び図１０に示すような上記従来の一般的なマイコ
ンでは、ユーザモードで使用している間にショート、基
板破壊、部品の故障、ノイズの印加、あるいは電源異常
等、何らかの原因で誤ってテストモードに入ってしまっ
た場合、外部から信号を与えなければテストモードを中
止して正常なユーザモードで再起動することができない
という問題があった。
図９及び図１０に示すような上記従来の一般的なマイコ
ンでは、ユーザモードで使用している間にショート、基
板破壊、部品の故障、ノイズの印加、あるいは電源異常
等、何らかの原因で誤ってテストモードに入ってしまっ
た場合、外部から信号を与えなければテストモードを中
止して正常なユーザモードで再起動することができない
という問題があった。
【００１７】図９に示すマイコンの場合、ユーザモード
で使用している間は、テストモード設定用端子１０２を
“Ｌ”レベルに固定している。この時に、マイコン１０
１の外部の回路が誤動作するなどその影響でテストモー
ド設定用端子１０２が“Ｈ”レベルになった場合、マイ
コン１０１の動作モードはテストモードに変化して暴走
が起きる。テストモードの暴走から抜け出すためには、
テストモード設定用端子１０２を再び“Ｌ”レベルにす
ればよいが、しかし、ここでユーザモードに戻ってもテ
ストモードに入る前の状態が保持されている確証はない
ので、誤動作が引き続き発生する可能性がある。従って
正常なユーザモードで再起動させるためには、テストモ
ード設定用端子１０２を“Ｌ”レベルの状態で再びリセ
ット信号を与えなければならない。
で使用している間は、テストモード設定用端子１０２を
“Ｌ”レベルに固定している。この時に、マイコン１０
１の外部の回路が誤動作するなどその影響でテストモー
ド設定用端子１０２が“Ｈ”レベルになった場合、マイ
コン１０１の動作モードはテストモードに変化して暴走
が起きる。テストモードの暴走から抜け出すためには、
テストモード設定用端子１０２を再び“Ｌ”レベルにす
ればよいが、しかし、ここでユーザモードに戻ってもテ
ストモードに入る前の状態が保持されている確証はない
ので、誤動作が引き続き発生する可能性がある。従って
正常なユーザモードで再起動させるためには、テストモ
ード設定用端子１０２を“Ｌ”レベルの状態で再びリセ
ット信号を与えなければならない。
【００１８】図１０に示すマイコンの場合、ユーザモー
ドで使用している間に、リセット端子１１２にリセット
入力“Ｌ”レベルがかかったり、内部リセットが発生す
るとリセット状態になるが、この時もテストモード設定
用端子であるポート１１３，１１４は他の機能と兼用の
ため、電圧レベルの状態がテストモードの設定時の電圧
レベル、即ちポート１１３，１１４が共に“Ｈ”レベル
に固定されてしまう危険性がある。
ドで使用している間に、リセット端子１１２にリセット
入力“Ｌ”レベルがかかったり、内部リセットが発生す
るとリセット状態になるが、この時もテストモード設定
用端子であるポート１１３，１１４は他の機能と兼用の
ため、電圧レベルの状態がテストモードの設定時の電圧
レベル、即ちポート１１３，１１４が共に“Ｈ”レベル
に固定されてしまう危険性がある。
【００１９】このような時に、リセット端子１１２にリ
セット解除入力“Ｈ”レベルがかかったり、内部リセッ
トの自動リセット解除が行われると、マイコンの動作は
テストモードになり暴走状態になる。ユーザモードで再
起動させるためには、ポート１１３，１１４の状態をユ
ーザモードに設定してから、外部よりリセット端子１１
２に“Ｌ”レベルを入力してリセット状態にし、“Ｈ”
レベルを入力してリセット解除を行わなければならな
い。
セット解除入力“Ｈ”レベルがかかったり、内部リセッ
トの自動リセット解除が行われると、マイコンの動作は
テストモードになり暴走状態になる。ユーザモードで再
起動させるためには、ポート１１３，１１４の状態をユ
ーザモードに設定してから、外部よりリセット端子１１
２に“Ｌ”レベルを入力してリセット状態にし、“Ｈ”
レベルを入力してリセット解除を行わなければならな
い。
【００２０】通常、ユーザモードで使用する場合には、
外部回路の使用でテストモード状態にならないように調
整しているが、外部回路の誤動作によりテストモードと
なってしまう可能性は残っている。一度このようにテス
トモードに変化してしまうと従来のマイコンでは、外部
から暴走状態を抜けるための信号を入力する必要があ
る。
外部回路の使用でテストモード状態にならないように調
整しているが、外部回路の誤動作によりテストモードと
なってしまう可能性は残っている。一度このようにテス
トモードに変化してしまうと従来のマイコンでは、外部
から暴走状態を抜けるための信号を入力する必要があ
る。
【００２１】また、従来の不揮発性メモリ内蔵マイコン
の場合、アプリケーション上でユーザモードで使用して
いる間にショート、基板破壊、部品の故障、ノイズの印
加、あるいは電源異常等の何らかの原因で誤ってＥＰＲ
ＯＭモードに入ってしまった場合、外部から信号を与え
なければＥＰＲＯＭモードを中止して正常なユーザモー
ドで再起動することができないという問題があった。
の場合、アプリケーション上でユーザモードで使用して
いる間にショート、基板破壊、部品の故障、ノイズの印
加、あるいは電源異常等の何らかの原因で誤ってＥＰＲ
ＯＭモードに入ってしまった場合、外部から信号を与え
なければＥＰＲＯＭモードを中止して正常なユーザモー
ドで再起動することができないという問題があった。
【００２２】例えば図１１に示すマイコンの場合、ユー
ザモードで使用している間にリセット端子１２３にリセ
ット入力“Ｌ”レベルがかかったり、内部リセットが発
生してリセット状態になったときは、ＥＰＲＯＭモード
設定用端子の電圧レベルの状態がＥＰＲＯＭモード設定
時と同様の状態、即ちポート１２４が“Ｈ”レベル、ポ
ート１２５が“Ｌ”レベルになる可能性がある。
ザモードで使用している間にリセット端子１２３にリセ
ット入力“Ｌ”レベルがかかったり、内部リセットが発
生してリセット状態になったときは、ＥＰＲＯＭモード
設定用端子の電圧レベルの状態がＥＰＲＯＭモード設定
時と同様の状態、即ちポート１２４が“Ｈ”レベル、ポ
ート１２５が“Ｌ”レベルになる可能性がある。
【００２３】このような場合、マイコンの動作モードは
自動的にＥＰＲＯＭモードに変化し、暴走状態となる。
ＥＰＲＯＭモードを強制的に中止させて正常なユーザモ
ードで再起動させるためには、ＥＰＲＯＭモード設定用
端子の状態をユーザモード設定用の状態にして、外部か
らリセット端子１２３にリセット解除入力、即ち“Ｈ”
レベルを印加することによりリセット解除を行わなけれ
ばならない。
自動的にＥＰＲＯＭモードに変化し、暴走状態となる。
ＥＰＲＯＭモードを強制的に中止させて正常なユーザモ
ードで再起動させるためには、ＥＰＲＯＭモード設定用
端子の状態をユーザモード設定用の状態にして、外部か
らリセット端子１２３にリセット解除入力、即ち“Ｈ”
レベルを印加することによりリセット解除を行わなけれ
ばならない。
【００２４】通常、アプリケーション上でユーザモード
を使用する時には、上述した一般のマイコンと同様に、
外部回路の仕様で調節してＥＰＲＯＭモードにならない
ようにしているが、外部回路の誤動作によりＥＰＲＯＭ
モードとなる可能性は除去できない。一度このようにＥ
ＰＲＯＭモードに変化してしまった場合に従来のマイコ
ンでは、ＥＰＲＯＭモードを中止してユーザモードで起
動させるには、外部からの信号入力が不可欠である。
を使用する時には、上述した一般のマイコンと同様に、
外部回路の仕様で調節してＥＰＲＯＭモードにならない
ようにしているが、外部回路の誤動作によりＥＰＲＯＭ
モードとなる可能性は除去できない。一度このようにＥ
ＰＲＯＭモードに変化してしまった場合に従来のマイコ
ンでは、ＥＰＲＯＭモードを中止してユーザモードで起
動させるには、外部からの信号入力が不可欠である。
【００２５】本発明は、上述の如き従来の問題点を解決
するためになされたもので、その目的は、ユーザモード
で使用している間に、例えば外部入力がテストモード状
態となっても、テストモードに移行せずにユーザモード
で動作し続けるマイコンを提供することである。またそ
の他の目的は、ユーザモードで使用している間に、例え
ば外部入力がＥＰＲＯＭモード状態となっても、ＥＰＲ
ＯＭモードに移行せずにユーザモードで動作し続けるマ
イコンを提供することである。
するためになされたもので、その目的は、ユーザモード
で使用している間に、例えば外部入力がテストモード状
態となっても、テストモードに移行せずにユーザモード
で動作し続けるマイコンを提供することである。またそ
の他の目的は、ユーザモードで使用している間に、例え
ば外部入力がＥＰＲＯＭモード状態となっても、ＥＰＲ
ＯＭモードに移行せずにユーザモードで動作し続けるマ
イコンを提供することである。
【００２６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第１の発明の特徴は、ユーザ用の動作モードである
ユーザモードと、該ユーザモードとは異なるテスト用の
動作モードであるテストモードとを有し、前記ユーザモ
ード及び前記テストモードに対応した動作を行うマイク
ロコンピュータにおいて、前記ユーザモードで動作中に
テストモードへ移行するのを禁止する禁止回路を備えた
ことにある。
に、第１の発明の特徴は、ユーザ用の動作モードである
ユーザモードと、該ユーザモードとは異なるテスト用の
動作モードであるテストモードとを有し、前記ユーザモ
ード及び前記テストモードに対応した動作を行うマイク
ロコンピュータにおいて、前記ユーザモードで動作中に
テストモードへ移行するのを禁止する禁止回路を備えた
ことにある。
【００２７】上述の第１の発明において、前記禁止回路
は、禁止データ保持用のレジスタを備え、前記ユーザモ
ードで動作中に命令により前記レジスタに禁止データを
書き込み、この禁止データにより前記テストモードへの
移行を禁止するようにしてもよい。
は、禁止データ保持用のレジスタを備え、前記ユーザモ
ードで動作中に命令により前記レジスタに禁止データを
書き込み、この禁止データにより前記テストモードへの
移行を禁止するようにしてもよい。
【００２８】上述の第１の発明において、前記禁止回路
は、禁止データ保持用の記憶回路を備え、電源投入後一
度前記ユーザモードで動作を開始したときに、前記記憶
回路に自動的に禁止データが保持される構成にし、この
禁止データにより前記テストモードへの移行を禁止する
ようにしてもよい。
は、禁止データ保持用の記憶回路を備え、電源投入後一
度前記ユーザモードで動作を開始したときに、前記記憶
回路に自動的に禁止データが保持される構成にし、この
禁止データにより前記テストモードへの移行を禁止する
ようにしてもよい。
【００２９】上記目的を達成するために、第２の発明の
特徴は、電気的に書き込み可能な不揮発性メモリを有
し、該不揮発性メモリに対して少なくともプログラムの
書き込み／ベリファイを行うためのＥＰＲＯＭモード
と、ユーザ用の動作モードであるユーザモードとに対応
した動作を行うマイクロコンピュータにおいて、前記ユ
ーザモードで動作中にＥＰＲＯＭモードへ移行するのを
禁止する禁止回路を備えたことにある。
特徴は、電気的に書き込み可能な不揮発性メモリを有
し、該不揮発性メモリに対して少なくともプログラムの
書き込み／ベリファイを行うためのＥＰＲＯＭモード
と、ユーザ用の動作モードであるユーザモードとに対応
した動作を行うマイクロコンピュータにおいて、前記ユ
ーザモードで動作中にＥＰＲＯＭモードへ移行するのを
禁止する禁止回路を備えたことにある。
【００３０】上述の第２の発明において、前記禁止回路
は、禁止データ保持用のレジスタを備え、前記ユーザモ
ードで動作中に命令により前記レジスタに禁止データを
書き込み、この禁止データにより前記ＥＰＲＯＭモード
への移行を禁止するようにしてもよい。
は、禁止データ保持用のレジスタを備え、前記ユーザモ
ードで動作中に命令により前記レジスタに禁止データを
書き込み、この禁止データにより前記ＥＰＲＯＭモード
への移行を禁止するようにしてもよい。
【００３１】上述の第２の発明において、前記禁止回路
は、禁止データ保持用の記憶回路を備え、電源投入後一
度前記ユーザモードで動作を開始したときに、前記記憶
回路に自動的に禁止データが保持される構成にし、この
禁止データにより前記ＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止
するようにしてもよい。
は、禁止データ保持用の記憶回路を備え、電源投入後一
度前記ユーザモードで動作を開始したときに、前記記憶
回路に自動的に禁止データが保持される構成にし、この
禁止データにより前記ＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止
するようにしてもよい。
【００３２】
【作用】上述の如き構成の第１の発明によれば、禁止回
路はユーザモードで動作中にテストモードへ移行するの
を禁止するので、ユーザモードで使用している間に、例
えば外部入力がテストモード状態となっても、テストモ
ードに移行せずにユーザモードで動作し続ける。
路はユーザモードで動作中にテストモードへ移行するの
を禁止するので、ユーザモードで使用している間に、例
えば外部入力がテストモード状態となっても、テストモ
ードに移行せずにユーザモードで動作し続ける。
【００３３】上記の第１の発明において、例えばユーザ
モードで動作中に命令により禁止回路のレジスタに禁止
データを書き込む。つまり、ユーザはユーザモードで動
作を開始させ、プログラムの最初の部分で前記レジスタ
に前記禁止データを書き込む命令を実行させる。この禁
止データによりテストモードへの移行を禁止する。
モードで動作中に命令により禁止回路のレジスタに禁止
データを書き込む。つまり、ユーザはユーザモードで動
作を開始させ、プログラムの最初の部分で前記レジスタ
に前記禁止データを書き込む命令を実行させる。この禁
止データによりテストモードへの移行を禁止する。
【００３４】また、上記の第１の発明において、例えば
電源投入後一度ユーザモードで動作を開始したときに、
禁止回路の記憶回路に自動的に禁止データが保持され、
この禁止データにより前記テストモードへの移行を禁止
する。
電源投入後一度ユーザモードで動作を開始したときに、
禁止回路の記憶回路に自動的に禁止データが保持され、
この禁止データにより前記テストモードへの移行を禁止
する。
【００３５】第２の発明によれば、禁止回路はユーザモ
ードで動作中にテストモードへ移行するのを禁止するの
で、ユーザモードで使用している間に、例えば外部入力
がＥＰＲＯＭモード状態となっても、ＥＰＲＯＭモード
に移行せずにユーザモードで動作し続ける。
ードで動作中にテストモードへ移行するのを禁止するの
で、ユーザモードで使用している間に、例えば外部入力
がＥＰＲＯＭモード状態となっても、ＥＰＲＯＭモード
に移行せずにユーザモードで動作し続ける。
【００３６】上記の第２の発明において、例えば、ユー
ザモードで動作中に命令により禁止回路のレジスタに禁
止データを書き込む。つまり、ユーザはユーザモードで
動作を開始させ、プログラムの最初の部分で前記レジス
タに前記禁止データを書き込む命令を実行させる。この
禁止データによりＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止す
る。
ザモードで動作中に命令により禁止回路のレジスタに禁
止データを書き込む。つまり、ユーザはユーザモードで
動作を開始させ、プログラムの最初の部分で前記レジス
タに前記禁止データを書き込む命令を実行させる。この
禁止データによりＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止す
る。
【００３７】また、上記の第２の発明において、電源投
入後一度ユーザモードで動作を開始したときに、禁止回
路の記憶回路に自動的に禁止データが保持され、この禁
止データにより前記ＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止す
る。
入後一度ユーザモードで動作を開始したときに、禁止回
路の記憶回路に自動的に禁止データが保持され、この禁
止データにより前記ＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止す
る。
【００３８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１は、本発明の第１実施例に係るマイコンのテ
ストモード禁止回路を示す回路図である。
する。図１は、本発明の第１実施例に係るマイコンのテ
ストモード禁止回路を示す回路図である。
【００３９】図１において、本実施例のマイコンのテス
トモード禁止回路は、禁止データ保持用のレジスタ１
と、そのレジスタ１の出力側に接続された論理ゲート２
とで構成されている。
トモード禁止回路は、禁止データ保持用のレジスタ１
と、そのレジスタ１の出力側に接続された論理ゲート２
とで構成されている。
【００４０】レジスタ１は、電源投入後の図示しないパ
ワーオン検出回路の出力によりリセットあるいはセット
され（本実施例ではリセットとする）、後述するように
ユーザが作成したプログラムで、テストモードへの移行
を禁止する禁止データを書き込むことができる。
ワーオン検出回路の出力によりリセットあるいはセット
され（本実施例ではリセットとする）、後述するように
ユーザが作成したプログラムで、テストモードへの移行
を禁止する禁止データを書き込むことができる。
【００４１】さらに、論理ゲート２の一方入力側は前記
レジスタ１の出力データが印加され、他方入力側はテス
トモード／ユーザモードを示すモード設定信号ＭＤが印
加される。そして、論理ゲート２の出力側からモード信
号Ｍｏｕｔが出力されるようになっている。また、モー
ド設定信号ＭＤは、前述したように、マイコン外部へ導
出されたテストモード設定用端子へ印加される外部入力
によりユーザモード／テストモード用に電圧レベルが設
定される。
レジスタ１の出力データが印加され、他方入力側はテス
トモード／ユーザモードを示すモード設定信号ＭＤが印
加される。そして、論理ゲート２の出力側からモード信
号Ｍｏｕｔが出力されるようになっている。また、モー
ド設定信号ＭＤは、前述したように、マイコン外部へ導
出されたテストモード設定用端子へ印加される外部入力
によりユーザモード／テストモード用に電圧レベルが設
定される。
【００４２】図２は、前述の図９に示すタイプ（テスト
モード設定専用の端子を備えた）のマイコンに図１のテ
ストモード禁止回路を適用して構成した本実施例のマイ
コンの要部回路図である。なお、図９と共通の要素には
同一の符号が付されている。
モード設定専用の端子を備えた）のマイコンに図１のテ
ストモード禁止回路を適用して構成した本実施例のマイ
コンの要部回路図である。なお、図９と共通の要素には
同一の符号が付されている。
【００４３】このマイコンは、上記テストモード禁止回
路の論理ゲート２の２つの入力のうち、モード設定信号
ＭＤが入力される方に前記図９に示すテストモード設定
用端子１０２が接続されている。また、本実施例のマイ
コンにおけるプログラムの最初の部分には、テストモー
ドへの移行を禁止する値（禁止データ：本実施例では
“１”とする）をレジスタ１に書き込む命令が予め挿入
されている。
路の論理ゲート２の２つの入力のうち、モード設定信号
ＭＤが入力される方に前記図９に示すテストモード設定
用端子１０２が接続されている。また、本実施例のマイ
コンにおけるプログラムの最初の部分には、テストモー
ドへの移行を禁止する値（禁止データ：本実施例では
“１”とする）をレジスタ１に書き込む命令が予め挿入
されている。
【００４４】次に、図２に示すマイコンの動作について
説明する。
説明する。
【００４５】半導体メーカが出荷時に試験を行うテスト
モード時では、テストモード設定端子１０２に“Ｈ”レ
ベルのモード設定信号ＭＤが印加される。その時、レジ
スタ１はリセットされているので、その出力が“Ｌ”レ
ベルであり、従って論理ゲート２の出力であるモード信
号Ｍｏｕｔは“Ｈ”レベルとなって、本マイコンはテス
トモードで動作を行う。
モード時では、テストモード設定端子１０２に“Ｈ”レ
ベルのモード設定信号ＭＤが印加される。その時、レジ
スタ１はリセットされているので、その出力が“Ｌ”レ
ベルであり、従って論理ゲート２の出力であるモード信
号Ｍｏｕｔは“Ｈ”レベルとなって、本マイコンはテス
トモードで動作を行う。
【００４６】ユーザモード時では、ユーザはユーザモー
ドで動作を開始させ、プログラムの最初の部分でレジス
タ１に前記禁止データ（“１”）を書き込む命令を実行
させる。すなわち、リセット解除後、内蔵メモリあるい
は外部メモリからのプログラムで動作するが、前記命令
を実行させることにより、レジスタ１には“１”がセッ
トされる。
ドで動作を開始させ、プログラムの最初の部分でレジス
タ１に前記禁止データ（“１”）を書き込む命令を実行
させる。すなわち、リセット解除後、内蔵メモリあるい
は外部メモリからのプログラムで動作するが、前記命令
を実行させることにより、レジスタ１には“１”がセッ
トされる。
【００４７】このとき、テストモード設定端子１０２に
は“Ｌ”レベルのモード設定信号ＭＤが印加されている
ので、モード信号Ｍｏｕｔは“Ｌ”レベルとなってい
る。
は“Ｌ”レベルのモード設定信号ＭＤが印加されている
ので、モード信号Ｍｏｕｔは“Ｌ”レベルとなってい
る。
【００４８】その後、このユーザモードで動作中に何ら
かの原因で誤ってテストモード設定用端子１０２からの
モード設定信号ＭＤが“Ｈ”レベルになっても、このレ
ジスタ１からの“Ｈ”レベルデータにより、モード信号
Ｍｏｕｔは“Ｌ”レベルを維持するためにテストモード
へ移行することなく、ユーザモードで動作を続けること
ができる。
かの原因で誤ってテストモード設定用端子１０２からの
モード設定信号ＭＤが“Ｈ”レベルになっても、このレ
ジスタ１からの“Ｈ”レベルデータにより、モード信号
Ｍｏｕｔは“Ｌ”レベルを維持するためにテストモード
へ移行することなく、ユーザモードで動作を続けること
ができる。
【００４９】次に本発明の第２実施例を説明する。
【００５０】図３は、本発明の第２実施例に係るマイコ
ンのテストモード禁止回路を示す回路図である。
ンのテストモード禁止回路を示す回路図である。
【００５１】図３において、このテストモード禁止回路
は、ラッチ回路１１、パワーオン検出回路１２、及びイ
ンバータ１３で構成されている。
は、ラッチ回路１１、パワーオン検出回路１２、及びイ
ンバータ１３で構成されている。
【００５２】パワーオン検出回路１２は、電源投入を検
出して“Ｈ”レベルの出力信号を出力し、ラッチ回路１
１は、電源投入後のパワーオン検出回路１２からの出力
信号によりセットされ、モード設定信号ＭＤをインバー
タ１３によって反転した“Ｈ”レベル信号によりリセッ
トされ、そして、ラッチ回路１１の出力側Ｑからモード
信号Ｍｏｕｔが出力される。なお、ラッチ回路１１は、
リセットを優先する構成となっている。
出して“Ｈ”レベルの出力信号を出力し、ラッチ回路１
１は、電源投入後のパワーオン検出回路１２からの出力
信号によりセットされ、モード設定信号ＭＤをインバー
タ１３によって反転した“Ｈ”レベル信号によりリセッ
トされ、そして、ラッチ回路１１の出力側Ｑからモード
信号Ｍｏｕｔが出力される。なお、ラッチ回路１１は、
リセットを優先する構成となっている。
【００５３】図４は、前述の図１０に示すタイプ（テス
トモード設定用の端子が他の機能と兼用）のマイコンに
図３のテストモード禁止回路を適用して構成した本実施
例のマイコンの要部回路図である。なお、図１０と共通
の要素には同一の符号が付されている。
トモード設定用の端子が他の機能と兼用）のマイコンに
図３のテストモード禁止回路を適用して構成した本実施
例のマイコンの要部回路図である。なお、図１０と共通
の要素には同一の符号が付されている。
【００５４】このマイコンは、上記図３に示すテストモ
ード禁止回路のインバータ１３の入力側を前述の図１０
（ｂ）に示すラッチ回路１１６の出力側に接続して構成
したものである。
ード禁止回路のインバータ１３の入力側を前述の図１０
（ｂ）に示すラッチ回路１１６の出力側に接続して構成
したものである。
【００５５】このマイコンのテストモード設定時は、リ
セット解除時のポート１１３とポート１１４の電圧レベ
ルを共に“Ｈ”レベルにする。これによって、ラッチ回
路１１６から“Ｈ”レベルのモード設定信号ＭＤが出力
され、インバータ１３で反転されて“Ｌ”レベル信号が
ラッチ回路１１のリセット端子Ｒに供給される。その結
果、ラッチ回路１１は、電源オン時のセット状態を維持
してモード信号Ｍｏｕｔは“Ｈ”レベルのままとなり、
マイコンはテストモードで動作する。
セット解除時のポート１１３とポート１１４の電圧レベ
ルを共に“Ｈ”レベルにする。これによって、ラッチ回
路１１６から“Ｈ”レベルのモード設定信号ＭＤが出力
され、インバータ１３で反転されて“Ｌ”レベル信号が
ラッチ回路１１のリセット端子Ｒに供給される。その結
果、ラッチ回路１１は、電源オン時のセット状態を維持
してモード信号Ｍｏｕｔは“Ｈ”レベルのままとなり、
マイコンはテストモードで動作する。
【００５６】ユーザモード設定時は、リセット解除時の
ポート１１３とポート１１４の電圧レベルの少なくとも
一方が“Ｌ”レベルとなる。これによって、ラッチ回路
１１から“Ｌ”レベルのモード設定信号ＭＤが出力さ
れ、インバータ１３で反転されて“Ｈ”レベル信号がラ
ッチ回路１１のリセット端子Ｒに供給される。その結
果、ラッチ回路１１は、リセットされてモード信号Ｍｏ
ｕｔが“Ｌ”レベルとなり、マイコンはユーザモードで
動作する。
ポート１１３とポート１１４の電圧レベルの少なくとも
一方が“Ｌ”レベルとなる。これによって、ラッチ回路
１１から“Ｌ”レベルのモード設定信号ＭＤが出力さ
れ、インバータ１３で反転されて“Ｈ”レベル信号がラ
ッチ回路１１のリセット端子Ｒに供給される。その結
果、ラッチ回路１１は、リセットされてモード信号Ｍｏ
ｕｔが“Ｌ”レベルとなり、マイコンはユーザモードで
動作する。
【００５７】その後、このユーザモードで動作中に、リ
セット端子１１２にリセット入力“Ｌ”レベルが印加さ
れたり、内部リセットが発生するとリセット状態になる
が、このとき、ポート１１３とポート１１４の電圧レベ
ルが共にテストモード設定時の“Ｈ”レベルになって、
“Ｌ”レベル信号がラッチ回路１１のリセット端子Ｒに
供給されても、ラッチ回路１１には前記リセット時の
“Ｌ”レベルが保持されているので、モード信号Ｍｏｕ
ｔは“Ｌ”レベルのままである。従って、マイコンはテ
ストモードに移行せずにユーザモードで動作を続ける。
セット端子１１２にリセット入力“Ｌ”レベルが印加さ
れたり、内部リセットが発生するとリセット状態になる
が、このとき、ポート１１３とポート１１４の電圧レベ
ルが共にテストモード設定時の“Ｈ”レベルになって、
“Ｌ”レベル信号がラッチ回路１１のリセット端子Ｒに
供給されても、ラッチ回路１１には前記リセット時の
“Ｌ”レベルが保持されているので、モード信号Ｍｏｕ
ｔは“Ｌ”レベルのままである。従って、マイコンはテ
ストモードに移行せずにユーザモードで動作を続ける。
【００５８】前述したように、一般のマイコンにおい
て、ユーザモードで使用している間に誤ってテストモー
ドになった場合、従来のマイコンではテストモードのま
ま暴走状態になってしまう。また、ユーザモードで再起
動させるために外部から信号を入力する必要があった。
て、ユーザモードで使用している間に誤ってテストモー
ドになった場合、従来のマイコンではテストモードのま
ま暴走状態になってしまう。また、ユーザモードで再起
動させるために外部から信号を入力する必要があった。
【００５９】これに対して、上記第１実施例では、ユー
ザモードで使用中にユーザが命令でレジスタ１に禁止デ
ータを書き込むことにより、また、上記第２実施例で
は、ユーザモードで一度動作を開始すると自動的に記憶
回路に禁止データが保持されることにより、テストモー
ドへの移行を防ぐ機能を持たせるようにした。これによ
り、ユーザはユーザモード使用中にテストモードに入る
心配がないため従来のマイコンよりも操作しやすくな
る。
ザモードで使用中にユーザが命令でレジスタ１に禁止デ
ータを書き込むことにより、また、上記第２実施例で
は、ユーザモードで一度動作を開始すると自動的に記憶
回路に禁止データが保持されることにより、テストモー
ドへの移行を防ぐ機能を持たせるようにした。これによ
り、ユーザはユーザモード使用中にテストモードに入る
心配がないため従来のマイコンよりも操作しやすくな
る。
【００６０】次に本発明の第３実施例を説明する。
【００６１】図５は、本発明の第３実施例に係るマイコ
ンのＥＰＲＯＭモード禁止回路を示す回路図である。
ンのＥＰＲＯＭモード禁止回路を示す回路図である。
【００６２】図５において、このＥＰＲＯＭモード禁止
回路は、禁止データ保持用のレジスタ２１と、そのレジ
スタ２１の出力側に接続された論理ゲート２２とで構成
されている。
回路は、禁止データ保持用のレジスタ２１と、そのレジ
スタ２１の出力側に接続された論理ゲート２２とで構成
されている。
【００６３】レジスタ２１は、電源投入後の図示しない
パワーオン検出回路の出力によりリセットあるいはセッ
トされ（本実施例ではリセットとする）、後述するよう
にユーザが作成したプログラムで、テストモードへの移
行を禁止する禁止データを書き込むことができる。
パワーオン検出回路の出力によりリセットあるいはセッ
トされ（本実施例ではリセットとする）、後述するよう
にユーザが作成したプログラムで、テストモードへの移
行を禁止する禁止データを書き込むことができる。
【００６４】さらに、論理ゲート１２の一方入力側は前
記レジスタ１の出力データが印加され、他方入力側は
“Ｈ”レベルでＥＰＲＯＭモードを示すモード設定信号
ＥＭＤが印加される。そして、論理ゲート２２の出力側
からＥＰＲＯＭモード信号ＥＭｏｕｔが出力されるよう
になっている。また、モード設定信号ＥＭＤは、前述し
たように、マイコン外部へ導出されたＥＰＲＯＭモード
設定用部端子へ印加される外部入力によりレベル設定さ
れる。
記レジスタ１の出力データが印加され、他方入力側は
“Ｈ”レベルでＥＰＲＯＭモードを示すモード設定信号
ＥＭＤが印加される。そして、論理ゲート２２の出力側
からＥＰＲＯＭモード信号ＥＭｏｕｔが出力されるよう
になっている。また、モード設定信号ＥＭＤは、前述し
たように、マイコン外部へ導出されたＥＰＲＯＭモード
設定用部端子へ印加される外部入力によりレベル設定さ
れる。
【００６５】図６は、前述の図１１に示すタイプ（不揮
発性メモリ内蔵）のマイコンに図５のＥＰＲＯＭモード
禁止回路を適用して構成した本実施例のマイコンの要部
回路図である。なお、図１１と共通の要素には同一の符
号が付されている。
発性メモリ内蔵）のマイコンに図５のＥＰＲＯＭモード
禁止回路を適用して構成した本実施例のマイコンの要部
回路図である。なお、図１１と共通の要素には同一の符
号が付されている。
【００６６】このマイコンは、上記ＥＰＲＯＭモード禁
止回路の論理ゲート２２の２つの入力のうち、モード設
定信号ＥＭＤが入力される方に前記図１１（ｂ）に示す
論理ゲート１２６の出力側が接続されている。また、本
実施例のマイコンにおけるプログラムの最初の部分に
は、ＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止する値（禁止デー
タ：本実施例では“１”とする）をレジスタ２１に書き
込む命令が予め挿入されている。
止回路の論理ゲート２２の２つの入力のうち、モード設
定信号ＥＭＤが入力される方に前記図１１（ｂ）に示す
論理ゲート１２６の出力側が接続されている。また、本
実施例のマイコンにおけるプログラムの最初の部分に
は、ＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止する値（禁止デー
タ：本実施例では“１”とする）をレジスタ２１に書き
込む命令が予め挿入されている。
【００６７】次に、図６に示すマイコンの動作について
説明する。
説明する。
【００６８】ユーザはユーザモードで動作を開始させ、
プログラムの最初の部分でレジスタ２１に前記禁止デー
タ（“１”）を書き込む命令を実行させる。すなわち、
リセット解除後、内蔵メモリあるいは外部メモリからの
プログラムで動作するが、前記命令を実行させることに
より、レジスタ２１には“１”がセットされる。
プログラムの最初の部分でレジスタ２１に前記禁止デー
タ（“１”）を書き込む命令を実行させる。すなわち、
リセット解除後、内蔵メモリあるいは外部メモリからの
プログラムで動作するが、前記命令を実行させることに
より、レジスタ２１には“１”がセットされる。
【００６９】このとき、モード設定信号ＥＭＤは“Ｌ”
レベルとなっているので、ＥＰＲＯＭモード信号ＥＭｏ
ｕｔも“Ｌ”レベルとなっている。そして、前記命令後
に、リセット端子１２３にリセット入力“Ｌ”レベルが
印加されたり、内部リセットが発生してリセット状態に
なって、ポート１２４，１２５がＥＰＲＯＭモード設定
時の電圧レベルのＨ”レベルになっても、このレジスタ
２１からの“Ｈ”レベルデータにより、ＥＰＲＯＭモー
ド信号ＥＭｏｕｔは“Ｌ”レベルを維持するためにＥＰ
ＲＯＭモードへ移行することなく、ユーザモードで動作
を続けることができる。
レベルとなっているので、ＥＰＲＯＭモード信号ＥＭｏ
ｕｔも“Ｌ”レベルとなっている。そして、前記命令後
に、リセット端子１２３にリセット入力“Ｌ”レベルが
印加されたり、内部リセットが発生してリセット状態に
なって、ポート１２４，１２５がＥＰＲＯＭモード設定
時の電圧レベルのＨ”レベルになっても、このレジスタ
２１からの“Ｈ”レベルデータにより、ＥＰＲＯＭモー
ド信号ＥＭｏｕｔは“Ｌ”レベルを維持するためにＥＰ
ＲＯＭモードへ移行することなく、ユーザモードで動作
を続けることができる。
【００７０】次に本発明の第４実施例を説明する。
【００７１】図７は、本発明の第４実施例に係るマイコ
ンのＥＰＲＯＭモード禁止回路を示す回路図である。
ンのＥＰＲＯＭモード禁止回路を示す回路図である。
【００７２】図７において、このＥＰＲＯＭモード禁止
回路は、ラッチ回路３１、パワーオン検出回路３２、及
びインバータ３３で構成されている。これらは、図３の
ラッチ回路１１、パワーオン検出回路１２、及びインバ
ータ１３にそれぞれ相当するものである。但し、インバ
ータ３３の入力側にはモード設定信号ＥＭＤが入力さ
れ、ラッチ回路３１の出力側ＱからはＥＰＲＯＭモード
信号ＥＭｏｕｔが出力される。
回路は、ラッチ回路３１、パワーオン検出回路３２、及
びインバータ３３で構成されている。これらは、図３の
ラッチ回路１１、パワーオン検出回路１２、及びインバ
ータ１３にそれぞれ相当するものである。但し、インバ
ータ３３の入力側にはモード設定信号ＥＭＤが入力さ
れ、ラッチ回路３１の出力側ＱからはＥＰＲＯＭモード
信号ＥＭｏｕｔが出力される。
【００７３】図８は、前述の図１１に示すタイプ（不揮
発性メモリ内蔵）のマイコンに図７のＥＰＲＯＭモード
禁止回路を適用して構成した本実施例のマイコンの要部
回路図である。なお、図１１と共通の要素には同一の符
号が付されている。
発性メモリ内蔵）のマイコンに図７のＥＰＲＯＭモード
禁止回路を適用して構成した本実施例のマイコンの要部
回路図である。なお、図１１と共通の要素には同一の符
号が付されている。
【００７４】このマイコンは、上記図７に示すテストモ
ード禁止回路のインバータ３３を省略し、図１１（ｂ）
の論理ゲート１２６を論理ゲート１２６ａに置き換え、
その出力側を前述の図８に示すラッチ回路３１のリセッ
ト端子Ｒに接続して構成したものである。
ード禁止回路のインバータ３３を省略し、図１１（ｂ）
の論理ゲート１２６を論理ゲート１２６ａに置き換え、
その出力側を前述の図８に示すラッチ回路３１のリセッ
ト端子Ｒに接続して構成したものである。
【００７５】ラッチ回路３１は、電源投入後のパワーオ
ン検出回路３２からの出力信号によりセットされ、ユー
ザモードに設定されると自動的にリセットされる。
ン検出回路３２からの出力信号によりセットされ、ユー
ザモードに設定されると自動的にリセットされる。
【００７６】その後、このユーザモードで動作中に、リ
セット端子１２３にリセット入力“Ｌ”レベルが印加さ
れたり、内部リセットが発生するとリセット状態になる
が、このとき、ポート１２４とポート１２５の電圧レベ
ルがＥＰＲＯＭモード設定時の電圧レベルになっても、
ラッチ回路３１には前記リセット時の“Ｌ”レベルが保
持されているので、ＥＰＲＯＭモード信号ＥＭｏｕｔは
“Ｌ”レベルのままである。従って、マイコンはＥＰＲ
ＯＭモードに移行せずにユーザモードで動作を続ける。
セット端子１２３にリセット入力“Ｌ”レベルが印加さ
れたり、内部リセットが発生するとリセット状態になる
が、このとき、ポート１２４とポート１２５の電圧レベ
ルがＥＰＲＯＭモード設定時の電圧レベルになっても、
ラッチ回路３１には前記リセット時の“Ｌ”レベルが保
持されているので、ＥＰＲＯＭモード信号ＥＭｏｕｔは
“Ｌ”レベルのままである。従って、マイコンはＥＰＲ
ＯＭモードに移行せずにユーザモードで動作を続ける。
【００７７】前述したように、不揮発性メモリ内蔵マイ
コンにおいて、アプリケーション上でユーザモードで使
用している間に誤ってＥＰＲＯＭモードとなった場合、
従来のマイコンではモードが変わらず暴走状態となっ
た。また、ユーザモードで再起動回路起動させるために
は外部から信号を入力する必要があった。
コンにおいて、アプリケーション上でユーザモードで使
用している間に誤ってＥＰＲＯＭモードとなった場合、
従来のマイコンではモードが変わらず暴走状態となっ
た。また、ユーザモードで再起動回路起動させるために
は外部から信号を入力する必要があった。
【００７８】これに対して、上記第３実施例では、ユー
ザモードで使用中にユーザが命令でレジスタ２１に禁止
データを書き込むことにより、また、上記第４実施例で
は、ユーザモードで一度動作を開始すると自動的に記憶
回路に禁止データを保持させることにより、ＥＰＲＯＭ
モードへの移行を防ぐ機能を持たせた。これにより、ユ
ーザモードは、アプリケーション上でＥＰＲＯＭモード
に移行する心配がないため操作しやすくなる。
ザモードで使用中にユーザが命令でレジスタ２１に禁止
データを書き込むことにより、また、上記第４実施例で
は、ユーザモードで一度動作を開始すると自動的に記憶
回路に禁止データを保持させることにより、ＥＰＲＯＭ
モードへの移行を防ぐ機能を持たせた。これにより、ユ
ーザモードは、アプリケーション上でＥＰＲＯＭモード
に移行する心配がないため操作しやすくなる。
【００７９】
【発明の効果】以上詳細に説明したように第１の発明に
よれば、ユーザモードで動作中にテストモードへ移行す
るのを禁止する禁止回路を備えたので、ユーザモードで
使用している間に、例えば外部入力がテストモード状態
となっても、テストモードに移行せずにユーザモードで
動作し続けることができる。これにより、ユーザはユー
ザモード中にテストモードに移行する心配がないため安
心して操作でき、操作性が向上する。
よれば、ユーザモードで動作中にテストモードへ移行す
るのを禁止する禁止回路を備えたので、ユーザモードで
使用している間に、例えば外部入力がテストモード状態
となっても、テストモードに移行せずにユーザモードで
動作し続けることができる。これにより、ユーザはユー
ザモード中にテストモードに移行する心配がないため安
心して操作でき、操作性が向上する。
【００８０】上記第１の発明において、前記禁止回路
は、禁止データ保持用のレジスタを備え、前記ユーザモ
ードで動作中に命令により前記レジスタに禁止データを
書き込み、この禁止データにより前記テストモードへの
移行を禁止することにより、簡単かつ的確にテストモー
ドへの移行を防ぐことが可能となる。
は、禁止データ保持用のレジスタを備え、前記ユーザモ
ードで動作中に命令により前記レジスタに禁止データを
書き込み、この禁止データにより前記テストモードへの
移行を禁止することにより、簡単かつ的確にテストモー
ドへの移行を防ぐことが可能となる。
【００８１】上記第１の発明において、前記禁止回路
は、禁止データ保持用の記憶回路を備え、電源投入後一
度前記ユーザモードで動作を開始したときに、前記記憶
回路に自動的に禁止データが保持される構成にし、この
禁止データにより前記テストモードへの移行を禁止する
ことにより、禁止データの保持のためにプログラムを操
作する必要がなく、より簡単かつ的確にテストモードへ
の移行を防ぐことが可能となる。
は、禁止データ保持用の記憶回路を備え、電源投入後一
度前記ユーザモードで動作を開始したときに、前記記憶
回路に自動的に禁止データが保持される構成にし、この
禁止データにより前記テストモードへの移行を禁止する
ことにより、禁止データの保持のためにプログラムを操
作する必要がなく、より簡単かつ的確にテストモードへ
の移行を防ぐことが可能となる。
【００８２】第２の発明によれば、ユーザモードで動作
中にＥＰＲＯＭモードへ移行するのを禁止する禁止回路
を備えたので、ユーザモードで使用している間に、例え
ば外部入力がＥＰＲＯＭモード状態となっても、ＥＰＲ
ＯＭモードに移行せずにユーザモードで動作し続けるこ
とが可能となる。これにより、ユーザは、例えばアプリ
ケーション上でユーザモードを使用している間にＥＰＲ
ＯＭモードへ移行してしまう心配がないため安心して操
作でき、操作性が向上する。
中にＥＰＲＯＭモードへ移行するのを禁止する禁止回路
を備えたので、ユーザモードで使用している間に、例え
ば外部入力がＥＰＲＯＭモード状態となっても、ＥＰＲ
ＯＭモードに移行せずにユーザモードで動作し続けるこ
とが可能となる。これにより、ユーザは、例えばアプリ
ケーション上でユーザモードを使用している間にＥＰＲ
ＯＭモードへ移行してしまう心配がないため安心して操
作でき、操作性が向上する。
【００８３】第２の発明において、前記禁止回路は、禁
止データ保持用のレジスタを備え、前記ユーザモードで
動作中に命令により前記レジスタに禁止データを書き込
み、この禁止データにより前記ＥＰＲＯＭモードへの移
行を禁止することにより、簡単かつ的確にＥＰＲＯＭモ
ードへの移行を防ぐことが可能となる。
止データ保持用のレジスタを備え、前記ユーザモードで
動作中に命令により前記レジスタに禁止データを書き込
み、この禁止データにより前記ＥＰＲＯＭモードへの移
行を禁止することにより、簡単かつ的確にＥＰＲＯＭモ
ードへの移行を防ぐことが可能となる。
【００８４】第２の発明において、前記禁止回路は、禁
止データ保持用の記憶回路を備え、電源投入後一度前記
ユーザモードで動作を開始したときに、前記記憶回路に
自動的に禁止データが保持される構成にし、この禁止デ
ータにより前記ＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止するこ
とにより、禁止データの保持のためにプログラムを操作
する必要がなく、より簡単かつ的確にＥＰＲＯＭモード
への移行を防ぐことが可能となる。
止データ保持用の記憶回路を備え、電源投入後一度前記
ユーザモードで動作を開始したときに、前記記憶回路に
自動的に禁止データが保持される構成にし、この禁止デ
ータにより前記ＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止するこ
とにより、禁止データの保持のためにプログラムを操作
する必要がなく、より簡単かつ的確にＥＰＲＯＭモード
への移行を防ぐことが可能となる。
【図１】本発明の第１実施例に係るマイコンのテストモ
ード禁止回路を示す回路図である。
ード禁止回路を示す回路図である。
【図２】図１のテストモード禁止回路を適用して構成し
た第１実施例のマイコンの要部回路図である。
た第１実施例のマイコンの要部回路図である。
【図３】本発明の第２実施例に係るマイコンのテストモ
ード禁止回路を示す回路図である。
ード禁止回路を示す回路図である。
【図４】図３のテストモード禁止回路を適用して構成し
た第２実施例のマイコンの要部回路図である。
た第２実施例のマイコンの要部回路図である。
【図５】本発明の第３実施例に係るマイコンのＥＰＲＯ
Ｍモード禁止回路を示す回路図である。
Ｍモード禁止回路を示す回路図である。
【図６】図５のＥＰＲＯＭモード禁止回路を適用して構
成した第３実施例のマイコンの要部回路図である。
成した第３実施例のマイコンの要部回路図である。
【図７】本発明の第４実施例に係るマイコンのＥＰＲＯ
Ｍモード禁止回路を示す回路図である。
Ｍモード禁止回路を示す回路図である。
【図８】図７のＥＰＲＯＭモード禁止回路を適用して構
成した第４実施例のマイコンの要部回路図である。
成した第４実施例のマイコンの要部回路図である。
【図９】テストモード設定専用の端子を備えた従来のマ
イコンを示す図である。
イコンを示す図である。
【図１０】テストモード設定用の端子が他の機能と兼用
されている従来のマイコンを示す図である。
されている従来のマイコンを示す図である。
【図１１】不揮発性メモリを内蔵した従来のマイコンを
示す図である。
示す図である。
１ レジスタ ２ 論理ゲート １１，３１ ラッチ回路 １２，３２ パワーオン検出回路 ２１ レジスタ ２２ 論理ゲート １０２ テストモード設定用端子、 １１３，１１４，１２４，１２５ ポート ＥＭｏｕｔ ＥＰＲＯＭモード信号 Ｍｏｕｔ モード信号 ＭＤ，ＥＭＤ モード設定信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 荒木 貴司 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地１ 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社内
Claims (6)
- 【請求項１】 ユーザ用の動作モードであるユーザモー
ドと、該ユーザモードとは異なるテスト用の動作モード
であるテストモードとを有し、前記ユーザモード及び前
記テストモードに対応した動作を行うマイクロコンピュ
ータにおいて、 前記ユーザモードで動作中にテストモードへ移行するの
を禁止する禁止回路を備えたことを特徴とするマイクロ
コンピュータ。 - 【請求項２】 前記禁止回路は、禁止データ保持用のレ
ジスタを備え、前記ユーザモードで動作中に命令により
前記レジスタに禁止データを書き込み、この禁止データ
により前記テストモードへの移行を禁止するようにした
請求項１記載のマイクロコンピュータ。 - 【請求項３】 前記禁止回路は、禁止データ保持用の記
憶回路を備え、電源投入後一度前記ユーザモードで動作
を開始したときに、前記記憶回路に自動的に禁止データ
が保持される構成にし、この禁止データにより前記テス
トモードへの移行を禁止するようにした請求項１記載の
マイクロコンピュータ。 - 【請求項４】 電気的に書き込み可能な不揮発性メモリ
を有し、該不揮発性メモリに対して少なくともプログラ
ムの書き込み／ベリファイを行うためのＥＰＲＯＭモー
ドと、ユーザ用の動作モードであるユーザモードとに対
応した動作を行うマイクロコンピュータにおいて、 前記ユーザモードで動作中にＥＰＲＯＭモードへ移行す
るのを禁止する禁止回路を備えたことを特徴とするマイ
クロコンピュータ。 - 【請求項５】 前記禁止回路は、禁止データ保持用のレ
ジスタを備え、前記ユーザモードで動作中に命令により
前記レジスタに禁止データを書き込み、この禁止データ
により前記ＥＰＲＯＭモードへの移行を禁止するように
した請求項４記載のマイクロコンピュータ。 - 【請求項６】 前記禁止回路は、禁止データ保持用の記
憶回路を備え、電源投入後一度前記ユーザモードで動作
を開始したときに、前記記憶回路に自動的に禁止データ
が保持される構成にし、この禁止データにより前記ＥＰ
ＲＯＭモードへの移行を禁止するようにした請求項４記
載のマイクロコンピュータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6209832A JPH0877134A (ja) | 1994-09-02 | 1994-09-02 | マイクロコンピュータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6209832A JPH0877134A (ja) | 1994-09-02 | 1994-09-02 | マイクロコンピュータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0877134A true JPH0877134A (ja) | 1996-03-22 |
Family
ID=16579362
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6209832A Pending JPH0877134A (ja) | 1994-09-02 | 1994-09-02 | マイクロコンピュータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0877134A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6651196B1 (en) | 1999-02-16 | 2003-11-18 | Fujitsu Limited | Semiconductor device having test mode entry circuit |
| JP2005316734A (ja) * | 2004-04-28 | 2005-11-10 | Sony Corp | 集積回路のモード設定方法及び装置 |
-
1994
- 1994-09-02 JP JP6209832A patent/JPH0877134A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6651196B1 (en) | 1999-02-16 | 2003-11-18 | Fujitsu Limited | Semiconductor device having test mode entry circuit |
| US6762617B2 (en) | 1999-02-16 | 2004-07-13 | Fujitsu Limited | Semiconductor device having test mode entry circuit |
| JP2005316734A (ja) * | 2004-04-28 | 2005-11-10 | Sony Corp | 集積回路のモード設定方法及び装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5327531A (en) | Data processing system including corrupt flash ROM recovery | |
| US5991849A (en) | Rewriting protection of a size varying first region of a reprogrammable non-volatile memory | |
| JP2597153B2 (ja) | 書込み保護装置 | |
| US8065512B2 (en) | Embedded memory protection | |
| KR100377608B1 (ko) | 데이터 처리장치 및 데이터 처리방법 | |
| US8176281B2 (en) | Controlling access to an embedded memory of a microcontroller | |
| JPH04215194A (ja) | Ｉｃカード | |
| KR100249329B1 (ko) | 불휘발성 메모리로의 오기입을 방지할 수 있는 마이크로컴퓨터 | |
| JPH0877134A (ja) | マイクロコンピュータ | |
| JP3214469B2 (ja) | マイクロコンピュータによるフラッシュｅｅｐｒｏｍの書き込み制御方法及び装置 | |
| JP2000059981A (ja) | ディジタル形保護継電装置 | |
| US6949409B2 (en) | Register setting method and semiconductor device | |
| US20040078664A1 (en) | Information processing unit selecting one of reset vector addresses | |
| JP3114645B2 (ja) | メモリセル装置のリセット制御回路 | |
| JP4755123B2 (ja) | 情報処理装置の動作モード制御回路及び情報処理装置 | |
| JP2504502B2 (ja) | 集積回路カ―ド | |
| JPH0358393A (ja) | Ｅｅｐｒｏｍ装置 | |
| JPH0877135A (ja) | マイクロコンピュータ | |
| JP2002099468A (ja) | 書き込み制御回路 | |
| JP2928216B1 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JP2870083B2 (ja) | ウオッチドッグタイマ内蔵マイクロコンピュータ | |
| JPH11272642A (ja) | １チップマイクロコンピュータ及び起動アドレス設定方法 | |
| JPH0535890A (ja) | マイクロコンピユータ | |
| JP2903601B2 (ja) | Ｒｏｍ内蔵マイクロコンピュータ | |
| JPS63143617A (ja) | 制御装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040106 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040304 |
|
| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20040317 |
|
| A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20040709 |