JPH0881841A - 糸、ロービング、スライバ中の糸欠陥の原因を求めるための方法と装置 - Google Patents
糸、ロービング、スライバ中の糸欠陥の原因を求めるための方法と装置Info
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- JPH0881841A JPH0881841A JP7130935A JP13093595A JPH0881841A JP H0881841 A JPH0881841 A JP H0881841A JP 7130935 A JP7130935 A JP 7130935A JP 13093595 A JP13093595 A JP 13093595A JP H0881841 A JPH0881841 A JP H0881841A
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- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/36—Textiles
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- D—TEXTILES; PAPER
- D01—NATURAL OR MAN-MADE THREADS OR FIBRES; SPINNING
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- D01H13/00—Other common constructional features, details or accessories
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- D01H13/22—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop motions ; Monitoring the entanglement of slivers in drafting arrangements responsive to presence of irregularities in running material
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- D01—NATURAL OR MAN-MADE THREADS OR FIBRES; SPINNING
- D01H—SPINNING OR TWISTING
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- D01H13/32—Counting, measuring, recording or registering devices
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H2557/00—Means for control not provided for in groups B65H2551/00 - B65H2555/00
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- Filamentary Materials, Packages, And Safety Devices Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 製品中の糸欠陥から極めて簡単な方法で、原
因が生産工程にある限りそれら欠陥の原因を求めること
を可能にする。 【構成】 全ての糸欠陥を少なくとも1つのパラメータ
によつて記録し、糸欠陥をクラス11〜26に割り当て
るためのパラメータを使用し、記録されてクラスに割り
当てられた欠陥から生産に関連した糸欠陥の原因に対す
る参照値となる糸欠陥パターン32を導出する。
因が生産工程にある限りそれら欠陥の原因を求めること
を可能にする。 【構成】 全ての糸欠陥を少なくとも1つのパラメータ
によつて記録し、糸欠陥をクラス11〜26に割り当て
るためのパラメータを使用し、記録されてクラスに割り
当てられた欠陥から生産に関連した糸欠陥の原因に対す
る参照値となる糸欠陥パターン32を導出する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は糸、ロービング、スライ
バ中の糸欠陥の原因を求めるための方法と装置に関す
る。
バ中の糸欠陥の原因を求めるための方法と装置に関す
る。
【0002】糸、ロービング、スライバのような製品中
の糸欠陥は、基本的には2つの原因を持つている。これ
らの原因は、原料の性質か又は製品が製造される方法、
言い換えれば生産過程中にある。何れの原因も似たよう
な外観を示す糸欠陥を生じる。かかる糸欠陥とは、糸中
の太いところ又は細いところで、長さは色々であつた
り、また周期的に起こる糸欠陥であつたり、いわゆるモ
レア効果を生じるものであつたりする。以後説明する本
発明では、生産機械又は生産工程に原因があると思われ
る特異性、即ち欠陥のみに関する。
の糸欠陥は、基本的には2つの原因を持つている。これ
らの原因は、原料の性質か又は製品が製造される方法、
言い換えれば生産過程中にある。何れの原因も似たよう
な外観を示す糸欠陥を生じる。かかる糸欠陥とは、糸中
の太いところ又は細いところで、長さは色々であつた
り、また周期的に起こる糸欠陥であつたり、いわゆるモ
レア効果を生じるものであつたりする。以後説明する本
発明では、生産機械又は生産工程に原因があると思われ
る特異性、即ち欠陥のみに関する。
【0003】
【従来の技術】糸中の糸欠陥を検出できる優秀な装置は
公知である。製品中の邪魔になる糸欠陥を切断して除去
するのが通例である。また糸中に存在する糸欠陥からそ
の糸の以後の使用,処理、使用した原料の品質などに関
して結論を引き出すのが慣例である。
公知である。製品中の邪魔になる糸欠陥を切断して除去
するのが通例である。また糸中に存在する糸欠陥からそ
の糸の以後の使用,処理、使用した原料の品質などに関
して結論を引き出すのが慣例である。
【0004】例えば国際特許出願公開第W093/05
477号明細書には、生産機械の障害の診断を行う1つ
のシステムと、このシステムを繊維機械に使用すること
が述べられている。このシステムにおいては、障害診断
は生産される製品の品質を示す信号を、知識ベースを元
にして評価することによつて行なわれている。この目的
のために使われている、いわゆる知識ベースにおいて
は、生産機械の機械部分はこれらから論理的な推論を引
き出す目的をもつて既述されている。同時にこれらの機
械部分は、特別にデザインされ階層化された法則で形成
されている。かかる機械部分とは、例えば歯車(その歯
数で記述される)、レバー(その長さで記述される)な
どである。特徴的な偏りは信号によつて求められ、これ
は公知のスペクトログラムに表され、また生産される繊
維製品の品質について叙述するものであり、これらの偏
りから起こり得る欠陥原因が導き出される。
477号明細書には、生産機械の障害の診断を行う1つ
のシステムと、このシステムを繊維機械に使用すること
が述べられている。このシステムにおいては、障害診断
は生産される製品の品質を示す信号を、知識ベースを元
にして評価することによつて行なわれている。この目的
のために使われている、いわゆる知識ベースにおいて
は、生産機械の機械部分はこれらから論理的な推論を引
き出す目的をもつて既述されている。同時にこれらの機
械部分は、特別にデザインされ階層化された法則で形成
されている。かかる機械部分とは、例えば歯車(その歯
数で記述される)、レバー(その長さで記述される)な
どである。特徴的な偏りは信号によつて求められ、これ
は公知のスペクトログラムに表され、また生産される繊
維製品の品質について叙述するものであり、これらの偏
りから起こり得る欠陥原因が導き出される。
【0005】このような方法と装置の欠点は、糸中の周
期欠陥の原因だけしか示されないことである。これに対
しスライバや糸中のいわゆるモアレ効果がある。(検出
できない例としてスライバや糸中のいわゆるモアレ効果
がある。)
期欠陥の原因だけしか示されないことである。これに対
しスライバや糸中のいわゆるモアレ効果がある。(検出
できない例としてスライバや糸中のいわゆるモアレ効果
がある。)
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、請求
項に特徴づけられるように、上記の欠点を除き、前述の
製品中の糸欠陥から極めて簡単な方法で原因が生産工程
にある限り、それら欠陥の原因を求めることを可能とす
る方法と装置を提供することにある。
項に特徴づけられるように、上記の欠点を除き、前述の
製品中の糸欠陥から極めて簡単な方法で原因が生産工程
にある限り、それら欠陥の原因を求めることを可能とす
る方法と装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的は本発明により
達成される。即ち第1段階として製品中の糸欠陥が記録
される、言い換えれば認識される。これらは製品の測定
値が1つ又はいくつかの閾値を超えることで認識され
る。認識のためには、実施例の1つにおいては1対のパ
ラメータ、例えば糸の場合には糸欠陥の断面太さと長さ
が基準となる。これら2つのパラメータの値は、糸欠陥
長さと糸欠陥断面太さをそれぞれ横軸と縦軸に持つ直交
座標系にプロツトすることができる。このようにして形
成される“分類領域“は、長さと断面太さのクラスから
なる格子に分けることができる。認識された糸欠陥につ
いて求められた値は予め定められたクラスに連続して割
り当てられ、これから糸欠陥パターン、即ち糸欠陥特性
が得られる。この糸欠陥パターンは予め定められたモデ
ルの参照パターンと比較され、これにより記録された糸
欠陥の原因についての結輪を引き出すことを可能とす
る。予め定めた参照パターンは予備調査から求めるか、
経験から求めることができる。
達成される。即ち第1段階として製品中の糸欠陥が記録
される、言い換えれば認識される。これらは製品の測定
値が1つ又はいくつかの閾値を超えることで認識され
る。認識のためには、実施例の1つにおいては1対のパ
ラメータ、例えば糸の場合には糸欠陥の断面太さと長さ
が基準となる。これら2つのパラメータの値は、糸欠陥
長さと糸欠陥断面太さをそれぞれ横軸と縦軸に持つ直交
座標系にプロツトすることができる。このようにして形
成される“分類領域“は、長さと断面太さのクラスから
なる格子に分けることができる。認識された糸欠陥につ
いて求められた値は予め定められたクラスに連続して割
り当てられ、これから糸欠陥パターン、即ち糸欠陥特性
が得られる。この糸欠陥パターンは予め定められたモデ
ルの参照パターンと比較され、これにより記録された糸
欠陥の原因についての結輪を引き出すことを可能とす
る。予め定めた参照パターンは予備調査から求めるか、
経験から求めることができる。
【0008】糸欠陥の認識は糸に対しては公知の方法、
例えば好ましくは“オンライン“で働くヤーンクリアリ
ングシステムで行われ、これは例えばロータ紡績機の多
数の紡出錘を監視する。糸欠陥分類システムの例として
はスイス特許第477537号明細書が公知である。糸
欠陥を識別し分類するための参照量、即ち錘値はユーザ
の要求に基づいて経験的に決められている。糸の連続試
験の間、公知の方法で個々のクラスに割り当てられ計数
される。このようにして得られた糸欠陥パターンはグラ
フに表し、欠陥原因に関する結論を引き出すためにグラ
フ的に解釈される。また同様にして糸欠陥パターンはデ
イジタルメモリにストアされ、これからコンピユータで
値を収集し、グラフ表示されたパターンから人間が解釈
するのと全く同様に、これらデータを相互に関連させ
る。
例えば好ましくは“オンライン“で働くヤーンクリアリ
ングシステムで行われ、これは例えばロータ紡績機の多
数の紡出錘を監視する。糸欠陥分類システムの例として
はスイス特許第477537号明細書が公知である。糸
欠陥を識別し分類するための参照量、即ち錘値はユーザ
の要求に基づいて経験的に決められている。糸の連続試
験の間、公知の方法で個々のクラスに割り当てられ計数
される。このようにして得られた糸欠陥パターンはグラ
フに表し、欠陥原因に関する結論を引き出すためにグラ
フ的に解釈される。また同様にして糸欠陥パターンはデ
イジタルメモリにストアされ、これからコンピユータで
値を収集し、グラフ表示されたパターンから人間が解釈
するのと全く同様に、これらデータを相互に関連させ
る。
【0009】ヤーンクリアラで全ての紡出錘が監視され
るようになつているロータ紡績機で特に用いることので
きる特別な実施例においては、全ての紡出錘からの全て
の糸欠陥が上記方法で分類される。この分類から各クラ
スに対して糸欠陥の平均数を示す平均的糸欠陥パターン
が導出される。これと平行して、各紡出錘に対してそれ
ぞれ糸欠陥パターンが準備される。次いで個々の紡出錘
の糸欠陥パターンは、平均的糸欠陥パターンと比較され
る。ある紡出錘が偏つた糸欠陥パターンを示していると
きは、これを既知の欠陥原因に対して既に知られている
糸欠陥パターンと比較することによつて、起こり得る欠
陥原因についての記述に関して調査される。
るようになつているロータ紡績機で特に用いることので
きる特別な実施例においては、全ての紡出錘からの全て
の糸欠陥が上記方法で分類される。この分類から各クラ
スに対して糸欠陥の平均数を示す平均的糸欠陥パターン
が導出される。これと平行して、各紡出錘に対してそれ
ぞれ糸欠陥パターンが準備される。次いで個々の紡出錘
の糸欠陥パターンは、平均的糸欠陥パターンと比較され
る。ある紡出錘が偏つた糸欠陥パターンを示していると
きは、これを既知の欠陥原因に対して既に知られている
糸欠陥パターンと比較することによつて、起こり得る欠
陥原因についての記述に関して調査される。
【0010】本発明による方法と装置は重要な利点を有
する。欠陥原因はランダムサンプルを試験室で調査する
こともできるし、又は生産工程中で生産量全体に対して
直接調査することもできる。欠陥の源は製品の生産を途
絶させるような妨害を与えることなく追跡することがで
きる。ということは、この結果小さくて他では見過ごさ
れてしまうような欠陥原因も認識され、あるいはかかる
欠陥原因が徐々に発生するのも記録でき、初期の段階か
ら追跡することができる。参照量としては比較的僅かの
参照値で充分である。生産から求められた値と参照量と
の比較が人間又はコンピユータで行われ、この目的のた
めには簡単なコンピュータで充分である。また生産機
械、即ち紡績機をいくつかの部分に分割し、これらの部
分の破損に対する参照値と、既に得られた簡単ではある
が有用な診断をストアすることもできる。更に本発明に
よれば、製品中の非周期性の糸欠陥も記録し、その原因
を見つけることができる。
する。欠陥原因はランダムサンプルを試験室で調査する
こともできるし、又は生産工程中で生産量全体に対して
直接調査することもできる。欠陥の源は製品の生産を途
絶させるような妨害を与えることなく追跡することがで
きる。ということは、この結果小さくて他では見過ごさ
れてしまうような欠陥原因も認識され、あるいはかかる
欠陥原因が徐々に発生するのも記録でき、初期の段階か
ら追跡することができる。参照量としては比較的僅かの
参照値で充分である。生産から求められた値と参照量と
の比較が人間又はコンピユータで行われ、この目的のた
めには簡単なコンピュータで充分である。また生産機
械、即ち紡績機をいくつかの部分に分割し、これらの部
分の破損に対する参照値と、既に得られた簡単ではある
が有用な診断をストアすることもできる。更に本発明に
よれば、製品中の非周期性の糸欠陥も記録し、その原因
を見つけることができる。
【0011】
【実施例】図1には糸、ロービング、スライバと言つた
製品の生産機械1を示す。従つて生産機械1は、例えば
精紡機、フライヤ、カード、練条機、コーマ等を示し、
これらにより、例えば綿繊維と言つた公知の中間製品3
から始まつて、スライバから糸が生産される。生産機械
1には公知のセンサ4が取付けられていて、該センサは
ここでは例えば糸中の糸欠陥を記録するための手段とし
て働く。従つて糸2の特性が記録される。センサ4はラ
イン5を介して公知の評価ユニツト6に電気信号を伝達
する。センサ4と評価ユニツト6は、例えば公知のヤー
ンクリアラの一部であり、従つて糸欠陥を記録するため
の手段の一部と、糸欠陥を分類するための手段の一部と
を構成している。ウスタークラシマツト(USTER
CLASSIMAT)は糸中の欠陥を分類する手段とし
て最も良く知られたものである。ここでは特定の糸欠陥
が記録される。どの糸欠陥を確実に記録するかは、その
糸欠陥を特徴付けるパラメータに対して固定された限界
値で決められる。記録された糸欠陥、例えば糸中の太く
なるところは長さ即ち紡出された糸の量に関連付けら
れ、選択して計数される。その際評価ユニツトは同様に
各クラスに分類された糸欠陥を計数し、計数値をストア
する。9はバス10で評価ユニツト6につながれた計算
ユニツトを示し、メモリを持つていて、該メモリは参照
量又は参照量の組み合わせをストアしていて、これらは
例えば一緒になつて1つの特性即ち参照パターンを与え
る。評価ユニツト6と計算ユニツト9は一緒になつて糸
欠陥を計数し分類するための手段を構成し、また糸欠陥
パターン又は参照パターンを導出し準備する手段を構成
する。この目的のため、計算ユニツト9は以下に述べる
課題に従つて準備されるプログラムを備えている。デー
タ出入力ユニツト7はイメージ表示のための手段、例え
ば表示スクリーンをも構成している。また計算ユニツト
9は予め定められた参照パターンをストアできるメモリ
を持つているものと理解されたい。
製品の生産機械1を示す。従つて生産機械1は、例えば
精紡機、フライヤ、カード、練条機、コーマ等を示し、
これらにより、例えば綿繊維と言つた公知の中間製品3
から始まつて、スライバから糸が生産される。生産機械
1には公知のセンサ4が取付けられていて、該センサは
ここでは例えば糸中の糸欠陥を記録するための手段とし
て働く。従つて糸2の特性が記録される。センサ4はラ
イン5を介して公知の評価ユニツト6に電気信号を伝達
する。センサ4と評価ユニツト6は、例えば公知のヤー
ンクリアラの一部であり、従つて糸欠陥を記録するため
の手段の一部と、糸欠陥を分類するための手段の一部と
を構成している。ウスタークラシマツト(USTER
CLASSIMAT)は糸中の欠陥を分類する手段とし
て最も良く知られたものである。ここでは特定の糸欠陥
が記録される。どの糸欠陥を確実に記録するかは、その
糸欠陥を特徴付けるパラメータに対して固定された限界
値で決められる。記録された糸欠陥、例えば糸中の太く
なるところは長さ即ち紡出された糸の量に関連付けら
れ、選択して計数される。その際評価ユニツトは同様に
各クラスに分類された糸欠陥を計数し、計数値をストア
する。9はバス10で評価ユニツト6につながれた計算
ユニツトを示し、メモリを持つていて、該メモリは参照
量又は参照量の組み合わせをストアしていて、これらは
例えば一緒になつて1つの特性即ち参照パターンを与え
る。評価ユニツト6と計算ユニツト9は一緒になつて糸
欠陥を計数し分類するための手段を構成し、また糸欠陥
パターン又は参照パターンを導出し準備する手段を構成
する。この目的のため、計算ユニツト9は以下に述べる
課題に従つて準備されるプログラムを備えている。デー
タ出入力ユニツト7はイメージ表示のための手段、例え
ば表示スクリーンをも構成している。また計算ユニツト
9は予め定められた参照パターンをストアできるメモリ
を持つているものと理解されたい。
【0012】図2は原理的には図1から明らかである
が、センサ4が生産機械1の外に配置され、生産ライン
中にある必要のない1つの装置を示す。従つて同様な部
分要素は図1と同じ記号を用いている。従つて図2によ
る配置は1つの生産過程を実施するのにも適しており、
ここでは製品は行程から抽出され別の試験室で調査され
る。これはランダムサンプルの抽出の結果として特に行
われる。
が、センサ4が生産機械1の外に配置され、生産ライン
中にある必要のない1つの装置を示す。従つて同様な部
分要素は図1と同じ記号を用いている。従つて図2によ
る配置は1つの生産過程を実施するのにも適しており、
ここでは製品は行程から抽出され別の試験室で調査され
る。これはランダムサンプルの抽出の結果として特に行
われる。
【0013】図3は良く知られたいわゆるウスタークラ
シマツトテーブルを簡単に示したものである。更に詳細
は前記スイス特許第477573号明細書(図5)に示
されている。ここで簡略化したというのは記号11から
26で表した16の領域のみを示したことである。これ
ら16の領域の各々は糸に対して1つの糸欠陥タイプを
定義するもので、特定の長さと平均断面太さからの特定
の偏りで特性付けられている。上記領域の各々は起こり
得る糸欠陥の1つのクラスに対応し、全部の領域が一緒
になつて分類フイールドを構成している。17,19,
21,23,24,25の領域の上には17a,19
a,21a,23a,24a,25aで示したバーがつ
いていて、これらの高さ又は長さは何れもそのクラスに
測定された糸欠陥の数に対応している。図に示された1
7aから25aのバーと、ここでは何等強調されていな
い、例えば領域11から16の高さゼロのバーとの全体
で1つの特性、即ち特定の糸欠陥に対する計数値よりな
る1つの糸欠陥パターンが与えられている。3つのパラ
メータを表す目的でこの形式の三次元イメージ表示を行
つた。3つのパラメータとは、ここでは糸に対し糸欠陥
の長さ、糸欠陥の断面太さ、クラス毎の糸欠陥数であ
る。
シマツトテーブルを簡単に示したものである。更に詳細
は前記スイス特許第477573号明細書(図5)に示
されている。ここで簡略化したというのは記号11から
26で表した16の領域のみを示したことである。これ
ら16の領域の各々は糸に対して1つの糸欠陥タイプを
定義するもので、特定の長さと平均断面太さからの特定
の偏りで特性付けられている。上記領域の各々は起こり
得る糸欠陥の1つのクラスに対応し、全部の領域が一緒
になつて分類フイールドを構成している。17,19,
21,23,24,25の領域の上には17a,19
a,21a,23a,24a,25aで示したバーがつ
いていて、これらの高さ又は長さは何れもそのクラスに
測定された糸欠陥の数に対応している。図に示された1
7aから25aのバーと、ここでは何等強調されていな
い、例えば領域11から16の高さゼロのバーとの全体
で1つの特性、即ち特定の糸欠陥に対する計数値よりな
る1つの糸欠陥パターンが与えられている。3つのパラ
メータを表す目的でこの形式の三次元イメージ表示を行
つた。3つのパラメータとは、ここでは糸に対し糸欠陥
の長さ、糸欠陥の断面太さ、クラス毎の糸欠陥数であ
る。
【0014】図4aは、図3で既に判つているクラス分
けを、計数値をバーで表示する代りに、パターン又は色
の違いで表したものである。図4bはどのパターン又は
色にどの計数値を割り付けるかを示した図4aの関連図
を示す。これは既に図3で示した糸欠陥パターンと同じ
ものである。
けを、計数値をバーで表示する代りに、パターン又は色
の違いで表したものである。図4bはどのパターン又は
色にどの計数値を割り付けるかを示した図4aの関連図
を示す。これは既に図3で示した糸欠陥パターンと同じ
ものである。
【0015】図5は図3で既に知られた表現に対応する
ものであるが、異なつた糸欠陥又は計数値のものを示
す。ここでは23と24の領域に対する計数値だけが2
つのバーで示されている。これら2つの計数値は、例え
ば欠陥の無い糸の特性を示す。もつと正確に言うと設定
された限界値では認識される糸欠陥を持つてはいるが、
重要な欠陥ではないと判定される糸の特性を示す。この
特性は正常と考えられるものである。上記図3と図4で
示された特性は、この図5の特性から著しく偏つてお
り、従つて受け入れ難い欠陥を指摘している。
ものであるが、異なつた糸欠陥又は計数値のものを示
す。ここでは23と24の領域に対する計数値だけが2
つのバーで示されている。これら2つの計数値は、例え
ば欠陥の無い糸の特性を示す。もつと正確に言うと設定
された限界値では認識される糸欠陥を持つてはいるが、
重要な欠陥ではないと判定される糸の特性を示す。この
特性は正常と考えられるものである。上記図3と図4で
示された特性は、この図5の特性から著しく偏つてお
り、従つて受け入れ難い欠陥を指摘している。
【0016】図6は領域、即ちクラス19,23,26
に計数値のあるものを上記の表現で示したものである。
これらも異なつた欠陥原因を指摘するものである。
に計数値のあるものを上記の表現で示したものである。
これらも異なつた欠陥原因を指摘するものである。
【0017】図7は図3に対応する表現であるが、特別
な糸欠陥原因を示す27,28,29,30,31の領
域が与えられていて、この特定の予想される原因に関し
て1つの結論を引き出すにはこれら個々のクラスの計数
値はこれらの領域内になければならない。
な糸欠陥原因を示す27,28,29,30,31の領
域が与えられていて、この特定の予想される原因に関し
て1つの結論を引き出すにはこれら個々のクラスの計数
値はこれらの領域内になければならない。
【0018】図3,図5,図6を相互に比較すると、突
起や凹みを持つ3つの異なつた特性又は糸欠陥パターン
を示している。図4においては図3の三次元糸欠陥パタ
ーンは二次元の糸欠陥パターン又はイメージに変換され
ている。生産機械1上での実際の試験では、生産装置の
個々の部材又は組立部の特定の変化の結果として、どの
糸欠陥特性、即ち上述のタイプのどの糸欠陥パターンが
得られるかを求めることができる。例えばロータ紡績機
での実際の試験でロータが不良であると、図3,4,7
に示した糸欠陥パターンが得られる。これに対して図6
は、ドローオフローラが不良であるとき得られる典型的
な糸欠陥パターンを示す。これに対して図5は、糸欠陥
のない糸あるいは生産工程では如何なる不良をも指摘す
ることのできないような糸欠陥だけしか含まれていない
糸から得られる糸欠陥パターンを示す。この特性は、各
領域に割り当てられた計数値よりなり、図3,6,7に
示したような特性に対して1つの参照量を構成する。紡
績機械においては多数の紡出錘が互いに平行して同時に
作動しているので、他の紡出錘も希望する参照量を与え
得るし、あるいは全ての紡出錘の値から糸欠陥のない糸
の参照量を導出するために平均値を求めることもでき
る。これは例えば図9から明らかである。
起や凹みを持つ3つの異なつた特性又は糸欠陥パターン
を示している。図4においては図3の三次元糸欠陥パタ
ーンは二次元の糸欠陥パターン又はイメージに変換され
ている。生産機械1上での実際の試験では、生産装置の
個々の部材又は組立部の特定の変化の結果として、どの
糸欠陥特性、即ち上述のタイプのどの糸欠陥パターンが
得られるかを求めることができる。例えばロータ紡績機
での実際の試験でロータが不良であると、図3,4,7
に示した糸欠陥パターンが得られる。これに対して図6
は、ドローオフローラが不良であるとき得られる典型的
な糸欠陥パターンを示す。これに対して図5は、糸欠陥
のない糸あるいは生産工程では如何なる不良をも指摘す
ることのできないような糸欠陥だけしか含まれていない
糸から得られる糸欠陥パターンを示す。この特性は、各
領域に割り当てられた計数値よりなり、図3,6,7に
示したような特性に対して1つの参照量を構成する。紡
績機械においては多数の紡出錘が互いに平行して同時に
作動しているので、他の紡出錘も希望する参照量を与え
得るし、あるいは全ての紡出錘の値から糸欠陥のない糸
の参照量を導出するために平均値を求めることもでき
る。これは例えば図9から明らかである。
【0019】図9は生産機械40を図式に示したもの
で、これは例えば精紡機であつて、互いに全く等価で、
平行して作動する多数の要素、ここでは紡出錘40aか
ら40gを持ち、各錘には同じタイプの原料が供給され
ている。各紡出錘は公知の方法によつてできるだけ同等
な性質を持つ、例えば平均的な紡出錘41で紡出される
ような糸を紡出する。この平均的紡出錘41はここでは
実際の紡出錘40aなどの和として表されている。平均
的紡出錘41は糸欠陥試験において42で示したような
糸欠陥パターンを生ずる。糸欠陥パターン42は各クラ
スの許容できる糸欠陥を示し、これは図5のものに大よ
そ対応するものである。糸欠陥パターン43で示される
ような、もつと多い糸欠陥を持つ糸を劫出する紡出錘4
0bも、この平均的糸欠陥パターンに寄与している。2
つの糸欠陥パターン43と42の間の区別、即ち差から
更に糸欠陥パターン44が得られる。紡出錘40bにお
ける欠陥原因を同定するために直接糸欠陥パターン43
から始めることもできるし、あるいは糸欠陥パターン4
4から始めることもでき、糸欠陥パターン43,44の
1つを予め定めた参照パターンと比較する。これらの参
照パターンは、これらの糸欠陥パターンと極めて似たも
ので、理想的には同じものになると言える。従つて同じ
糸欠陥クラスでは、糸欠陥パターン43,44の糸欠陥
数は参照パターンの糸欠陥数に匹敵するか、これより大
きい。
で、これは例えば精紡機であつて、互いに全く等価で、
平行して作動する多数の要素、ここでは紡出錘40aか
ら40gを持ち、各錘には同じタイプの原料が供給され
ている。各紡出錘は公知の方法によつてできるだけ同等
な性質を持つ、例えば平均的な紡出錘41で紡出される
ような糸を紡出する。この平均的紡出錘41はここでは
実際の紡出錘40aなどの和として表されている。平均
的紡出錘41は糸欠陥試験において42で示したような
糸欠陥パターンを生ずる。糸欠陥パターン42は各クラ
スの許容できる糸欠陥を示し、これは図5のものに大よ
そ対応するものである。糸欠陥パターン43で示される
ような、もつと多い糸欠陥を持つ糸を劫出する紡出錘4
0bも、この平均的糸欠陥パターンに寄与している。2
つの糸欠陥パターン43と42の間の区別、即ち差から
更に糸欠陥パターン44が得られる。紡出錘40bにお
ける欠陥原因を同定するために直接糸欠陥パターン43
から始めることもできるし、あるいは糸欠陥パターン4
4から始めることもでき、糸欠陥パターン43,44の
1つを予め定めた参照パターンと比較する。これらの参
照パターンは、これらの糸欠陥パターンと極めて似たも
ので、理想的には同じものになると言える。従つて同じ
糸欠陥クラスでは、糸欠陥パターン43,44の糸欠陥
数は参照パターンの糸欠陥数に匹敵するか、これより大
きい。
【0020】図10は、糸欠陥の計数値で起こり得るよ
うな頻度分布を表したものである。計数値がプロツトさ
れる軸はZで示してある。これに対して垂直にその計数
値がどんな頻度で数えられたかの回数が示される。分布
45は計数値46の回りにプロツトされていて、従つて
計数値46は最も頻繁に計数されたことを示している
が、更にこれより大きい値も小さい値も計数されている
ことが示されている。分布45は参照パターンの1つの
分類フイールドに属するもので、一方分布47は糸欠陥
パラメータの同じ分類フイールドに属するものである。
計数値から値の増大する方向に距離48で示された線
は、特定の選択できる基準で求められた限界で、以後こ
れを上部信頼限界と呼ぶ。同様に糸欠陥パターンの分布
47の計数値51に関して下部信頼限界50が示されて
いる。ここで重要なことは、上記2つの信頼限界が正方
向の距離52で互いに離れていることを確認することに
注意しなければならないことである。あるクラスについ
て関連する糸欠陥の数が普通かそうでないかどうかを決
める目的のときは、これらの信頼限界は重要となる。
うな頻度分布を表したものである。計数値がプロツトさ
れる軸はZで示してある。これに対して垂直にその計数
値がどんな頻度で数えられたかの回数が示される。分布
45は計数値46の回りにプロツトされていて、従つて
計数値46は最も頻繁に計数されたことを示している
が、更にこれより大きい値も小さい値も計数されている
ことが示されている。分布45は参照パターンの1つの
分類フイールドに属するもので、一方分布47は糸欠陥
パラメータの同じ分類フイールドに属するものである。
計数値から値の増大する方向に距離48で示された線
は、特定の選択できる基準で求められた限界で、以後こ
れを上部信頼限界と呼ぶ。同様に糸欠陥パターンの分布
47の計数値51に関して下部信頼限界50が示されて
いる。ここで重要なことは、上記2つの信頼限界が正方
向の距離52で互いに離れていることを確認することに
注意しなければならないことである。あるクラスについ
て関連する糸欠陥の数が普通かそうでないかどうかを決
める目的のときは、これらの信頼限界は重要となる。
【0021】従つて本発明の方法においては、最初に生
産機械を機械的欠陥、摩耗のサイン、汚れ、その他、製
品2の品質のロスを招く効果が追跡できるような機械部
分1a,1b,1cなどに分割する。続いて一連の試験
によつて機械部分1a,1b,1cなどの1つに好まし
くない変動があつたとき、どんな特性的な糸欠陥像、即
ち糸欠陥パターンが得られるかを求める。この目的のた
め、製品2中の糸欠陥をセンサ4で記録し、評価ユニツ
ト6中で各分類に対応する限界値又は値の範囲と比較す
る。分類の各クラス、即ち図3,4,5,6,7の11
から26の各フイールドに対して生産された製品中に存
在し、分類に従つて欠陥と思われる糸欠陥を計数する。
これらの計数値は統計的に求められた値である。統計法
則がこれらに適用され、従つてこれらは分散していて、
その分散は例えばポアツソン分布曲線、簡単化した形で
ガウス分布曲線と言つた1つの分布曲線の形で表され
る。もし生産機械上で多数の試験が行われ、多量の製品
に関連した多数の値が得られれば、分散の少ない計数値
が得られ、分布曲線は狭くなる。特定のそして例えば人
為的に導入した機械的欠陥原因に適用されるこれら計数
値から、計数値の組み合わせを分類領域中のフイールド
に適用した参照パターン又は特性32(図7)を導出す
ることができる。かかる参照パターンは図3,4,6,
7,8に示されている。図9の糸欠陥パターン44もこ
れに属する。
産機械を機械的欠陥、摩耗のサイン、汚れ、その他、製
品2の品質のロスを招く効果が追跡できるような機械部
分1a,1b,1cなどに分割する。続いて一連の試験
によつて機械部分1a,1b,1cなどの1つに好まし
くない変動があつたとき、どんな特性的な糸欠陥像、即
ち糸欠陥パターンが得られるかを求める。この目的のた
め、製品2中の糸欠陥をセンサ4で記録し、評価ユニツ
ト6中で各分類に対応する限界値又は値の範囲と比較す
る。分類の各クラス、即ち図3,4,5,6,7の11
から26の各フイールドに対して生産された製品中に存
在し、分類に従つて欠陥と思われる糸欠陥を計数する。
これらの計数値は統計的に求められた値である。統計法
則がこれらに適用され、従つてこれらは分散していて、
その分散は例えばポアツソン分布曲線、簡単化した形で
ガウス分布曲線と言つた1つの分布曲線の形で表され
る。もし生産機械上で多数の試験が行われ、多量の製品
に関連した多数の値が得られれば、分散の少ない計数値
が得られ、分布曲線は狭くなる。特定のそして例えば人
為的に導入した機械的欠陥原因に適用されるこれら計数
値から、計数値の組み合わせを分類領域中のフイールド
に適用した参照パターン又は特性32(図7)を導出す
ることができる。かかる参照パターンは図3,4,6,
7,8に示されている。図9の糸欠陥パターン44もこ
れに属する。
【0022】製品2例えば糸、の生産中にある程度まで
同様な操作が行われる。製品2は連続的にセンサ4で監
視される。糸の欠陥が検出されると、その糸欠陥は予め
定めたクラスに割り当てられ、個々のクラスに計数され
る。このようにして計数された値は11から26のフイ
ールドの各々に連続して決められて行く。色々なクラス
に割り付けされた計数値は1つの欠陥パターンを生じ
る。この糸欠陥パターンは標準化又は補外によつて特定
の糸長、通常は100kmに関連させる。次いで上記の
参照パターンとの類似性を調べて、存在する多数の糸欠
陥パターンから典型的で重要な指示を含んでいる糸欠陥
パターンが求められる。各参照パターンは生産工程中の
機械欠陥に関する特別な指示を含んでいて、従つて欠陥
原因を求めることができる。
同様な操作が行われる。製品2は連続的にセンサ4で監
視される。糸の欠陥が検出されると、その糸欠陥は予め
定めたクラスに割り当てられ、個々のクラスに計数され
る。このようにして計数された値は11から26のフイ
ールドの各々に連続して決められて行く。色々なクラス
に割り付けされた計数値は1つの欠陥パターンを生じ
る。この糸欠陥パターンは標準化又は補外によつて特定
の糸長、通常は100kmに関連させる。次いで上記の
参照パターンとの類似性を調べて、存在する多数の糸欠
陥パターンから典型的で重要な指示を含んでいる糸欠陥
パターンが求められる。各参照パターンは生産工程中の
機械欠陥に関する特別な指示を含んでいて、従つて欠陥
原因を求めることができる。
【0023】しかし製品2を連続的に監視した結果求め
られているが、許容される即ち生産工程において指摘す
るような機械的欠陥を持たないような糸欠陥パターンも
ある。そのような糸欠陥パターンを図5と図9(42)
に示した。このようなパターンは常に発生し、評価を行
うときには考慮に入れなければならない。それには次に
述べる2つの可能性がある。
られているが、許容される即ち生産工程において指摘す
るような機械的欠陥を持たないような糸欠陥パターンも
ある。そのような糸欠陥パターンを図5と図9(42)
に示した。このようなパターンは常に発生し、評価を行
うときには考慮に入れなければならない。それには次に
述べる2つの可能性がある。
【0024】第1の可能性は図9で示したように、この
ような糸欠陥パターンの計数値を他の欠陥パターンの計
数値から引くことである。この手続きは参照パターンを
準備するとき既に有意でない欠陥を有意な欠陥から減じ
ておくことでも正当化される。こうして得られる糸欠陥
パターンは常に有意な欠陥にのみ関連する。
ような糸欠陥パターンの計数値を他の欠陥パターンの計
数値から引くことである。この手続きは参照パターンを
準備するとき既に有意でない欠陥を有意な欠陥から減じ
ておくことでも正当化される。こうして得られる糸欠陥
パターンは常に有意な欠陥にのみ関連する。
【0025】第2の可能性は有意でない糸欠陥しか含ん
でいない糸欠陥パターンは単純にそれ以降は考慮しない
こととし、全ての糸欠陥パターンには有意でない糸欠陥
も常に含まれたままとする。この場合は有意でない欠陥
も含んだ糸欠陥パターンが得られ、有意でない欠陥に対
しては参照パターンが無く、有意な欠陥を含む糸欠陥パ
ターンには参照パターンがあるようにする。そうして後
者の糸欠陥パターンのみを取り上げるようにする。
でいない糸欠陥パターンは単純にそれ以降は考慮しない
こととし、全ての糸欠陥パターンには有意でない糸欠陥
も常に含まれたままとする。この場合は有意でない欠陥
も含んだ糸欠陥パターンが得られ、有意でない欠陥に対
しては参照パターンが無く、有意な欠陥を含む糸欠陥パ
ターンには参照パターンがあるようにする。そうして後
者の糸欠陥パターンのみを取り上げるようにする。
【0026】ここで我々は、統計的に求められた値を同
様に統計的に求められた値と比較するので、誤つた判断
に導く恐れのある不確かさが起こり得る。この不確かさ
は以下に述べるステツプを踏んだ方法によつて避けなけ
ればならない。
様に統計的に求められた値と比較するので、誤つた判断
に導く恐れのある不確かさが起こり得る。この不確かさ
は以下に述べるステツプを踏んだ方法によつて避けなけ
ればならない。
【0027】一連の試験から求められた各クラスの計数
値(図10)に関連して上部信頼限界49が求められ
る。この上部信頼限界49は実際の計数値46の上方に
位置し、このクラスの実際の閾値と考えられる。統計的
に求められた値に基づいた参照プロフイールはこの閾値
49で形作られる。
値(図10)に関連して上部信頼限界49が求められ
る。この上部信頼限界49は実際の計数値46の上方に
位置し、このクラスの実際の閾値と考えられる。統計的
に求められた値に基づいた参照プロフイールはこの閾値
49で形作られる。
【0028】次に製分又は個々の紡出錘から求められた
計数値51に関連して下部信頼限界50が求められる。
この信頼限界50は実際の計数値の下方に大きい又は小
さい間隔(計数値で測つて)で位置している。この目的
のための方法は、例えばヨーロツパ特許出願公開第03
65901号明細書で公知である。
計数値51に関連して下部信頼限界50が求められる。
この信頼限界50は実際の計数値の下方に大きい又は小
さい間隔(計数値で測つて)で位置している。この目的
のための方法は、例えばヨーロツパ特許出願公開第03
65901号明細書で公知である。
【0029】製品についての一連の試験から計数された
値がその下部信頼限界は50であつて、上部信頼限界4
9より上にあるときだけ、その糸欠陥パターンは有意で
あるとされる。あるいは言い換えれば、2つの信頼限界
の間に正の距離52があればそのクラスにアラーム状態
が存在することになる。上記は実際の糸欠陥原因に関し
て結論が引き出せるようにするため、ある糸欠陥パター
ンを示す複数のクラスに適用されねばならない。次いで
糸欠陥パターンは参照パターンと比較されねばならない
が、これは上記の類似性の調査によつて行われる。
値がその下部信頼限界は50であつて、上部信頼限界4
9より上にあるときだけ、その糸欠陥パターンは有意で
あるとされる。あるいは言い換えれば、2つの信頼限界
の間に正の距離52があればそのクラスにアラーム状態
が存在することになる。上記は実際の糸欠陥原因に関し
て結論が引き出せるようにするため、ある糸欠陥パター
ンを示す複数のクラスに適用されねばならない。次いで
糸欠陥パターンは参照パターンと比較されねばならない
が、これは上記の類似性の調査によつて行われる。
【0030】上述の方法において図6に示したような、
例えば線19b,23b,26bで示した限界値は図1
0の意味においては下部信頼限界と解釈できる。これら
の下部信頼限界に関連して、取り上げられる計数値には
ある許容幅で補うことができる。かくて図7に示された
ように、領域27から31が得られ、特徴的糸欠陥パタ
ーンがユニツト7中に得られ、コンピユータ9にストア
される。
例えば線19b,23b,26bで示した限界値は図1
0の意味においては下部信頼限界と解釈できる。これら
の下部信頼限界に関連して、取り上げられる計数値には
ある許容幅で補うことができる。かくて図7に示された
ように、領域27から31が得られ、特徴的糸欠陥パタ
ーンがユニツト7中に得られ、コンピユータ9にストア
される。
【0031】上記方法に関連する全ての評価は計算ユニ
ツト9中で行われ、この計算ユニツトはプログラムメモ
リ中に評価に対応するプログラムを含み、評価ユニツト
6、即ちそのデータメモリから測定値を取り出す。
ツト9中で行われ、この計算ユニツトはプログラムメモ
リ中に評価に対応するプログラムを含み、評価ユニツト
6、即ちそのデータメモリから測定値を取り出す。
【0032】図8は、更に例として限りなく細かい分解
能を持つ、言い換えれば1つのクラスを構成する個々の
領域を限りなく小さくした1つの分類を示す。他の原葉
で表せば、無限の数のクラスがある例を示す。糸欠陥の
長さの値は、例えば軸33にプロツトされる。一方欠陥
を形作る糸の断面太さにおける増大は、軸34上にプロ
ツトされる。個々の点35はそれぞれ長さと断面太さを
持つた1つの糸欠陥が測定されたのとを示している。個
々の点35はそれらのパラメータを持つ糸欠陥が1つあ
るいはいくつも認識されたかを表すものではないので、
糸欠陥は計数されない。にもかかわらず、このようにし
て1つの欠陥像、あるいは特性が得られ、その特徴は場
所36に事象、即ち認識された糸欠陥の集積が見られる
ことであり、このような集積は紡績機械の欠陥の原因に
関してある指示を与えることになる。ここに示されたよ
うに、2つの軸33と34で区切られた分類フイールド
37を領域38と39に分割し、例えば集積36の相対
的位置をもつとはつきり認識することもできる。このよ
うな領域は個々の事象に区分的評価又は重み付け評価に
用いることもできる。糸欠陥の原因に関して1つの指示
を得るために、この例でもまた、集積36で与えられる
ような糸欠陥パターンを与えられた参照パターンとの類
似性について調査しなければならない。
能を持つ、言い換えれば1つのクラスを構成する個々の
領域を限りなく小さくした1つの分類を示す。他の原葉
で表せば、無限の数のクラスがある例を示す。糸欠陥の
長さの値は、例えば軸33にプロツトされる。一方欠陥
を形作る糸の断面太さにおける増大は、軸34上にプロ
ツトされる。個々の点35はそれぞれ長さと断面太さを
持つた1つの糸欠陥が測定されたのとを示している。個
々の点35はそれらのパラメータを持つ糸欠陥が1つあ
るいはいくつも認識されたかを表すものではないので、
糸欠陥は計数されない。にもかかわらず、このようにし
て1つの欠陥像、あるいは特性が得られ、その特徴は場
所36に事象、即ち認識された糸欠陥の集積が見られる
ことであり、このような集積は紡績機械の欠陥の原因に
関してある指示を与えることになる。ここに示されたよ
うに、2つの軸33と34で区切られた分類フイールド
37を領域38と39に分割し、例えば集積36の相対
的位置をもつとはつきり認識することもできる。このよ
うな領域は個々の事象に区分的評価又は重み付け評価に
用いることもできる。糸欠陥の原因に関して1つの指示
を得るために、この例でもまた、集積36で与えられる
ような糸欠陥パターンを与えられた参照パターンとの類
似性について調査しなければならない。
【0033】糸欠陥パターンと参照パターンの間の類似
性の調査は2元値のみでも、また離散値ででも行うこと
ができる。全ての事象の所で、上記の方法のステツプに
よつて繊維工学的性質の問題はいわゆる記号認識の問題
に帰結される。従つて個々の糸欠陥パターンと参照パタ
ーンは1つの記号として解釈される。そうして糸欠陥パ
ターンは公知の記号認識の手段で参照パターンと比較さ
れる。即ち類似性についてチエツクされる。この目的に
は多くの方法が存在する。
性の調査は2元値のみでも、また離散値ででも行うこと
ができる。全ての事象の所で、上記の方法のステツプに
よつて繊維工学的性質の問題はいわゆる記号認識の問題
に帰結される。従つて個々の糸欠陥パターンと参照パタ
ーンは1つの記号として解釈される。そうして糸欠陥パ
ターンは公知の記号認識の手段で参照パターンと比較さ
れる。即ち類似性についてチエツクされる。この目的に
は多くの方法が存在する。
【0034】例えば図8におけるように2元値で表され
た欠陥と参照パターンに対しては、例えばR.Lipp
mannがIEEEの雑誌Acoustic,Spee
chand Signal Processing M
agazine(音響、スピーチと信号処理)、198
7年4月号の4〜22頁の表題“An Introdu
ction to Computing with N
eural Nets“(神経回路網による計算入門)
に記述しているような方法が適している。このような方
法は例えば文字認識を行う装置に実装されている。
た欠陥と参照パターンに対しては、例えばR.Lipp
mannがIEEEの雑誌Acoustic,Spee
chand Signal Processing M
agazine(音響、スピーチと信号処理)、198
7年4月号の4〜22頁の表題“An Introdu
ction to Computing with N
eural Nets“(神経回路網による計算入門)
に記述しているような方法が適している。このような方
法は例えば文字認識を行う装置に実装されている。
【0035】計数値が離散値の形で表された糸欠陥と参
照パターンに対しては、多くのパターン認識方が用いら
れる。その中の1つはFranzis Verlag
(フランシス出版社)1993年発行のT.Tilli
の著書“Musterkennung mit Fuz
zy Logic“(フアジー理論によるパターン認
識)に示されている。もちろん糸欠陥パターンと参照パ
ターンの間の許容される偏りと、許容できない偏りに関
係して設定された課題を実行し、正確な法則を規定する
特別なアルゴリズムを開発することも可能である。
照パターンに対しては、多くのパターン認識方が用いら
れる。その中の1つはFranzis Verlag
(フランシス出版社)1993年発行のT.Tilli
の著書“Musterkennung mit Fuz
zy Logic“(フアジー理論によるパターン認
識)に示されている。もちろん糸欠陥パターンと参照パ
ターンの間の許容される偏りと、許容できない偏りに関
係して設定された課題を実行し、正確な法則を規定する
特別なアルゴリズムを開発することも可能である。
【0036】更に糸中の欠陥は太い所のみで構成される
ものではないことに注意すべきである。細い所もまた糸
の欠陥と考えるべきで、これにも紡績機械上の機械欠陥
に帰結する説明が行える。2つ又は3つのパラメータに
対して示される分類フイールドに加えて、3つ以上のパ
ラメータで表される分類フイールドも考えられる。この
分野では、個々の糸欠陥の間の欠陥のない糸長さ、即ち
個々の糸欠陥の間の距離も重要なパラメータである。同
時に糸欠陥のないと言うことに関しては、同じタイプの
糸欠陥の間の距離と、異なつたタイプの糸欠陥の間の距
離とを区別することもできる。このようなパラメータが
多くなるほど、糸欠陥の原因に関する記述の区別は多く
なる。しかしその結果分析の費用も増大する。このこと
は図3による表現では、例えばフイールドは欄又は列だ
けに分割され、欄に従つて分割するときはバー17a,
21a,25aの計数値は欄全体に分布されるようにな
ることを意味する。
ものではないことに注意すべきである。細い所もまた糸
の欠陥と考えるべきで、これにも紡績機械上の機械欠陥
に帰結する説明が行える。2つ又は3つのパラメータに
対して示される分類フイールドに加えて、3つ以上のパ
ラメータで表される分類フイールドも考えられる。この
分野では、個々の糸欠陥の間の欠陥のない糸長さ、即ち
個々の糸欠陥の間の距離も重要なパラメータである。同
時に糸欠陥のないと言うことに関しては、同じタイプの
糸欠陥の間の距離と、異なつたタイプの糸欠陥の間の距
離とを区別することもできる。このようなパラメータが
多くなるほど、糸欠陥の原因に関する記述の区別は多く
なる。しかしその結果分析の費用も増大する。このこと
は図3による表現では、例えばフイールドは欄又は列だ
けに分割され、欄に従つて分割するときはバー17a,
21a,25aの計数値は欄全体に分布されるようにな
ることを意味する。
【0037】また本発明による方法は、先行する生産工
程段の欠陥を分離するため、引き続く生産工程段におい
ても実施することができる。例えば糸の場合は、先行す
るリング精紡工程の中の欠陥原因を見出すために巻糸行
程でも実施される。
程段の欠陥を分離するため、引き続く生産工程段におい
ても実施することができる。例えば糸の場合は、先行す
るリング精紡工程の中の欠陥原因を見出すために巻糸行
程でも実施される。
【0038】実際には使用した原料で生ずる糸欠陥も、
生産過程で生ずる糸欠陥も共に起こり得る。これらは本
発明によれば分けて取り扱われる。機械欠陥の場合は常
に特徴的な糸欠陥パターンが発生する。これらは原料欠
陥により歪むけれども、それでも機械欠陥は常に認識可
能な糸欠陥パターンを生ずる。従つて平行して運転され
る生産工程の場合は、最初の選択ステツプで許容できな
い糸欠陥を示す糸欠陥パターンを、全生産工程について
平均した許容できる糸欠陥を示す所の平均的糸欠陥パタ
ーンと比較して分離することが有利である。平均的糸欠
陥パターンから偏る糸欠陥パターンだけを予め求めた参
照パターンと比較する。
生産過程で生ずる糸欠陥も共に起こり得る。これらは本
発明によれば分けて取り扱われる。機械欠陥の場合は常
に特徴的な糸欠陥パターンが発生する。これらは原料欠
陥により歪むけれども、それでも機械欠陥は常に認識可
能な糸欠陥パターンを生ずる。従つて平行して運転され
る生産工程の場合は、最初の選択ステツプで許容できな
い糸欠陥を示す糸欠陥パターンを、全生産工程について
平均した許容できる糸欠陥を示す所の平均的糸欠陥パタ
ーンと比較して分離することが有利である。平均的糸欠
陥パターンから偏る糸欠陥パターンだけを予め求めた参
照パターンと比較する。
【図1】オンラインで製品を調べる本発明による装置を
示す図である。
示す図である。
【図2】オフラインで製品のサンプルを調べる本発明に
よる装置を示す図である。
よる装置を示す図である。
【図3】糸欠陥の特性を示す図である。
【図4】糸欠陥の特性を異なつた表示法で示す図であ
る。
る。
【図5】糸欠陥の特性を異なつた表示法で示す図であ
る。
る。
【図6】糸欠陥の特性を異なつた表示法で示す図であ
る。
る。
【図7】糸欠陥の特性を異なつた表示法で示す図である
【図8】欠陥の特性を更に異なつた別の表示法で示す図
である。
である。
【図9】本発明の基本図である。
【図10】計数値と参照値の頻度分布を示す図である。
11〜26 クラス 32 糸欠陥パターン
Claims (10)
- 【請求項1】 全ての糸欠陥を少なくとも1つのパラメ
ータによつて記録し、糸欠陥をクラス(11〜26)に
割り当てるためのパラメータを使用し、記録されてクラ
スに割り当てられた欠陥から、生産に関連した糸欠陥の
原因に対する参照値となる糸欠陥パターン(32)を導
出する如くしたことを特徴とする、糸、ロービング、ス
ライバ中の生産に関連した欠陥原因を求めるための方
法。 - 【請求項2】 欠陥パターンは、複数のクラス(23,
24)にわたつて割り付けられた、計数された欠陥のあ
る量よりなる如くしたことを特徴とする、請求項1に記
載の方法。 - 【請求項3】 互いに平行して作動する同じタイプの生
産装置(紡出ユニツト)(40a,40b,40c)よ
りなる場合であつて、同じタイプの原料を供給されるも
のにあつては、各生産装置(紡出ユニツト)の欠陥パタ
ーン(32,43)はそれぞれについて導出され、各欠
陥パターンは共通の参照パターンと比較され、この比較
から欠陥の原因を求める如くしたことを特徴とする、請
求項1に記載の方法。 - 【請求項4】 平均的糸欠陥パターン(42)を各生産
装置(紡出ユニツト)の欠陥パターンから準備し、個々
の各欠陥パターンを上記平均的糸欠陥パターンと比較
し、各欠陥パターンから有為な偏りを導出し、有為な偏
りを含む欠陥パターン(44)から欠陥の原因を求める
如くしたことを特徴とする、請求項3に記載の方法。 - 【請求項5】 原因に対する参照は、パターン認識の方
法によつて作り出される如くしたことを特徴とする、請
求項1ないし3のうち1つに記載の方法。 - 【請求項6】 調査された糸の量に関連させて計数値を
入れる予備設定(19b,23b,26b)を各クラス
に対して行うことを特徴とする、請求項3に記載の方
法。 - 【請求項7】 個々の欠陥の程度を記録するための手段
(4)、記録された欠陥を分類するための手段(7,
8)、計数され分類された欠陥から欠陥パターンを導出
し準備するための手段(8,9)よりなることを特徴と
する、糸、ロービング、スライバ中の生産に関連した欠
陥原因を求めるための装置。 - 【請求項8】 欠陥を計数し記録する手段を特徴とす
る、請求項7に記載の装置。 - 【請求項9】 更に、予め定められた欠陥パターンをス
トアするための手段(9)及び現在求められた欠陥パタ
ーンを上記予め定められた欠陥パターンと比較するため
の手段(6)を特徴とする、請求項7に記載の装置。 - 【請求項10】 計数され分類された欠陥から欠陥パタ
−ンを導出し準備するための手段(6,7,8,9,1
0)としてパターン認識の手段を設けたことを特徴とす
る、請求項7に記載の装置。
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| CH172794 | 1994-06-02 | ||
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