JPH088375B2 - 面発光型可変波長発光素子 - Google Patents
面発光型可変波長発光素子Info
- Publication number
- JPH088375B2 JPH088375B2 JP5112489A JP5112489A JPH088375B2 JP H088375 B2 JPH088375 B2 JP H088375B2 JP 5112489 A JP5112489 A JP 5112489A JP 5112489 A JP5112489 A JP 5112489A JP H088375 B2 JPH088375 B2 JP H088375B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- laminated structure
- wavelength
- semiconductor
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 14
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 4
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 6
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 4
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 2
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Led Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光通信や光情報処理に用いられ、面方向に光
の入出力が成され、発光時に発光波長のチューニングが
できる面発光型可変波長発光素子に関する。
の入出力が成され、発光時に発光波長のチューニングが
できる面発光型可変波長発光素子に関する。
面発光型発光素子とは、例えば面発光LED(発光ダイ
オード)の様なものである。この様な素子に於いて、発
光波長のコントロールができると、波長多重を利用した
光並列伝送や、光プロセッシングが実現される。
オード)の様なものである。この様な素子に於いて、発
光波長のコントロールができると、波長多重を利用した
光並列伝送や、光プロセッシングが実現される。
発光波長をチューニングできる面発光型発光素子とし
ては、第2図のものが知られている。アイトゥルプルイ
ー・ジャーナル・オブ・クォンタムエレクトロニクス
(IEEE Journal of Quantum Electronics)の第QE−22
巻,9号,1984年の1682頁〜1695頁に報告されているもの
で、通常n−i−p−i構造とよばれている。この構造
では、n型,i型,p型の半導体層が順番に繰り返し積層さ
れている。この例では、光ポンピングで伝導帯,価電子
帯に電子と正孔が励起される。励起されたキャリアは発
光再結合過程を通じて光を発生し、再結合するのだが、
バンドの曲がり状態によって、ピークの発光波長が変化
する。
ては、第2図のものが知られている。アイトゥルプルイ
ー・ジャーナル・オブ・クォンタムエレクトロニクス
(IEEE Journal of Quantum Electronics)の第QE−22
巻,9号,1984年の1682頁〜1695頁に報告されているもの
で、通常n−i−p−i構造とよばれている。この構造
では、n型,i型,p型の半導体層が順番に繰り返し積層さ
れている。この例では、光ポンピングで伝導帯,価電子
帯に電子と正孔が励起される。励起されたキャリアは発
光再結合過程を通じて光を発生し、再結合するのだが、
バンドの曲がり状態によって、ピークの発光波長が変化
する。
この素子の問題点は2つある。1つは励起キャリア数
が或るレベル以上になると、ピーク波長は殆んど動かな
くなってしまうこと、もう1つは発光強度が弱いことで
ある。実際の応用を考えると、電流注入によるキャリア
励起が望ましいが、その場合でも同様な問題が生ずる。
電流注入方式でp型とn型の半導体層に電圧を印加し、
通電してキャリアを注入していくと初めのうちは、印加
電圧に対応してバンドの曲がりも変わり発光波長も変化
するが、発光強度は非常に弱い。この状態での注入キャ
リア量は極めて少ないからである。充分な発光を得るに
は、ビルト・イン電圧に対応する電圧をかけて、キャリ
アを沢山、注入せねばならない。ところがこの状態では
波長は殆んど変化しない。ビルト・イン電圧に達する
と、pn接合間の電圧は、そこにクランプされ、バンド構
造は殆んど変化しなくなるためである。つまり、充分な
発光強度を確保し、その様な状態で波長をチューニング
することはできなかった。
が或るレベル以上になると、ピーク波長は殆んど動かな
くなってしまうこと、もう1つは発光強度が弱いことで
ある。実際の応用を考えると、電流注入によるキャリア
励起が望ましいが、その場合でも同様な問題が生ずる。
電流注入方式でp型とn型の半導体層に電圧を印加し、
通電してキャリアを注入していくと初めのうちは、印加
電圧に対応してバンドの曲がりも変わり発光波長も変化
するが、発光強度は非常に弱い。この状態での注入キャ
リア量は極めて少ないからである。充分な発光を得るに
は、ビルト・イン電圧に対応する電圧をかけて、キャリ
アを沢山、注入せねばならない。ところがこの状態では
波長は殆んど変化しない。ビルト・イン電圧に達する
と、pn接合間の電圧は、そこにクランプされ、バンド構
造は殆んど変化しなくなるためである。つまり、充分な
発光強度を確保し、その様な状態で波長をチューニング
することはできなかった。
本発明の目的は、充分な発光強度を保った状態で波長
チューニングができる面発光型発光素子を提供すること
にある。
チューニングができる面発光型発光素子を提供すること
にある。
本発明になる面発光型可変波長発光素子は、pn接合を
含む第1の半導体積層構造体と、ピエゾ効果を有する材
料で成る層または第2の半導体積層構造体とが半導体基
板の上に積層されており、前記第1の半導体積層構造体
に電流注入用の電極が形成され、前記層または第2の半
導体積層構造体には電圧印加用の電極が形成されてお
り、半導体積層方向に光の出力が成されることを特徴と
する構成になっている。
含む第1の半導体積層構造体と、ピエゾ効果を有する材
料で成る層または第2の半導体積層構造体とが半導体基
板の上に積層されており、前記第1の半導体積層構造体
に電流注入用の電極が形成され、前記層または第2の半
導体積層構造体には電圧印加用の電極が形成されてお
り、半導体積層方向に光の出力が成されることを特徴と
する構成になっている。
2つの積層構造体のうち第1の半導体積層構造体は面
発光型発光ダイオードとして作用する。第2の積層構造
体には電圧を印加し実効的な長さ(層に垂直な方向)を
変化させる。第2の積層構造体の実効長を変えるメカニ
ズムとしてはピエゾ効果等を用いる。二つの積層構造体
全体で1つの可変波長発光素子が形成され、機能する。
発光型発光ダイオードとして作用する。第2の積層構造
体には電圧を印加し実効的な長さ(層に垂直な方向)を
変化させる。第2の積層構造体の実効長を変えるメカニ
ズムとしてはピエゾ効果等を用いる。二つの積層構造体
全体で1つの可変波長発光素子が形成され、機能する。
次に発光波長を変化させる原理を説明する。面発光型
発光ダイオードでは、光の取り出し面と裏面との多重反
射によって光の共振器作用が生じ、レーザ・ダイオード
の発振直前と同様の強弱のパターンが自然発光スペクト
ルに含まれていることが知られている。そして、この現
象は発光ダイオードの厚みが薄い程顕著になる。ピーク
波長λmは、光取り出し面と裏面との距離d、実効屈折
率nr、整数Nを使って 2nrλm=Nd …(1) より求められる。
発光ダイオードでは、光の取り出し面と裏面との多重反
射によって光の共振器作用が生じ、レーザ・ダイオード
の発振直前と同様の強弱のパターンが自然発光スペクト
ルに含まれていることが知られている。そして、この現
象は発光ダイオードの厚みが薄い程顕著になる。ピーク
波長λmは、光取り出し面と裏面との距離d、実効屈折
率nr、整数Nを使って 2nrλm=Nd …(1) より求められる。
本発明では、ピーク波長間隔を広げるため、可変波長
発光素子全体の厚さdを半導体基板を含めて、通常に比
べてかなり薄くしておく。通常面発光型ダイオードで
は、素子厚は殆んど半導体基板の厚さとなっていて、約
100μm位ある。本発明は、これに比べて基板の厚さを
1桁近く薄くしておく。又は、第1の半導体積層構造
体、電気的絶縁層、第2の半導体積層構造体をこの順に
半導体基板上に形成し、基板と第1の積層構造体との間
に高反射率の半導体多層膜を作り込む。この構造では半
導体基板を薄くする必要はなくなる。いずれにせよ、こ
の様にして素子厚を薄くしておくと、(1)式で決まる
ピーク波長の間隔を広げることができ、通常の発光スペ
クトルの中に発光強度の強い発光スペクトルを1本だけ
発生させることができる。可変波長発光素子全体の両端
面のフィネスが或る程度あると、このフィネスで決まる
狭いスペクトル幅の自然放出光が得られる。ここで、第
2の積層構造体の実効長を変化させると、素子全体の実
効長も変わり、発光波長をチューニングさせることがで
きる。第2の積層構造体の実効長を変化させるのにピエ
ゾ効果を使っている。この場合、AlGaAs/GaAs系,InGaAs
P/InP系の格子歪は120kv/cmの電界で約1%となる。但
し、ピエゾ効果を電界方向に出現させるには適当な面方
位を選ぶ必要がある。可変波長発光素子の厚さをd,第2
の積層構造体の厚さをd2,そのピエゾ効果による変化分
をδd2,発光ピーク波長をλm,その変化をδλmとす
ると となる。
発光素子全体の厚さdを半導体基板を含めて、通常に比
べてかなり薄くしておく。通常面発光型ダイオードで
は、素子厚は殆んど半導体基板の厚さとなっていて、約
100μm位ある。本発明は、これに比べて基板の厚さを
1桁近く薄くしておく。又は、第1の半導体積層構造
体、電気的絶縁層、第2の半導体積層構造体をこの順に
半導体基板上に形成し、基板と第1の積層構造体との間
に高反射率の半導体多層膜を作り込む。この構造では半
導体基板を薄くする必要はなくなる。いずれにせよ、こ
の様にして素子厚を薄くしておくと、(1)式で決まる
ピーク波長の間隔を広げることができ、通常の発光スペ
クトルの中に発光強度の強い発光スペクトルを1本だけ
発生させることができる。可変波長発光素子全体の両端
面のフィネスが或る程度あると、このフィネスで決まる
狭いスペクトル幅の自然放出光が得られる。ここで、第
2の積層構造体の実効長を変化させると、素子全体の実
効長も変わり、発光波長をチューニングさせることがで
きる。第2の積層構造体の実効長を変化させるのにピエ
ゾ効果を使っている。この場合、AlGaAs/GaAs系,InGaAs
P/InP系の格子歪は120kv/cmの電界で約1%となる。但
し、ピエゾ効果を電界方向に出現させるには適当な面方
位を選ぶ必要がある。可変波長発光素子の厚さをd,第2
の積層構造体の厚さをd2,そのピエゾ効果による変化分
をδd2,発光ピーク波長をλm,その変化をδλmとす
ると となる。
とする。120kv/cmの電界はd2=1μmで、電圧に換算す
ると12vとなる。この時、波長変化は(2)式より となる。材料系もInGaAsP/InP系に選び、発光波長を1.5
μmとすると、その0.3%、即ち、45Åシフトさせるこ
とができる。
ると12vとなる。この時、波長変化は(2)式より となる。材料系もInGaAsP/InP系に選び、発光波長を1.5
μmとすると、その0.3%、即ち、45Åシフトさせるこ
とができる。
第1図は本発明に係わる一実施例である。この実施例
では面方位(111)の基板のp−InP11の上にストップ・
エッチ層兼p−クラッド層となるp−InGaAsP層12(λ
g=1.15μm,厚さd=0.3μm,キャリア濃度N=2×10
18cm-3)、発光層となるIn0.47Ga0.53As層13(λg=1.
67μm,d=1μm,アンドープ)、n−クラッド層兼コン
タクト層となるn−InGaAsP層14(λg=1.15μm,d=1
μm,N=2×1018cm-3)、アンドープのIn0.52Al0.48As
層15(d=1μm)、コンタクト層となるn−InGaAsP
層16(λg=1.15μm,d=0.2μm,N=2×1018cm-3)、S
i(d=890Å)とSiO2(d=2155Å)を交互に繰り返し
て積層した多層膜17を順次積層し、半導体層12,13,14で
第1の半導体積層構造体を、半導体14,15,16で第2の半
導体積層構造体を形成している。多層膜17は、Si/SiO2
2周期でλ=1〜1.6μmの波長領域で反射率R=90
%、4周期でR=95%とできる。基板は、第1図の如
く、一部領域を除去し、基板が除去された領域の第1,第
2半導体積層構造体部分を活性領域として、発光層13で
発光した光を多層膜とp−クラッド層12間で反射・干渉
させる素子構造としている。18及び19は電極でAuGe−Ni
より成る。20はAuZnより成る電極である。発光波長は約
1.5μmである。この場合フィネスFは となり、R=0.95とするとF=122となる。ピーク波長
は(1)式より求まるが、この場合、nr3.5、d=3.5
μmとなるので、 となり、N=2でλm=1μm、N=3でλm=1.5μ
m、N=4でλm=2μmとなるのでIn0.47Ga0.53As13
の発光波長付近にピーク波長を設定することができる。
発光スペクトルの幅Δν1/2はピーク波長間隔Δνとフ
ィネスFより となるので約41Åとなる。もっとも狭いスペクトル幅で
チューニングさせるには吸収損失を減らすなりして面方
向にレーザ発振させれば良い。基本的な構造は第1図の
実施例と同じで良い。
では面方位(111)の基板のp−InP11の上にストップ・
エッチ層兼p−クラッド層となるp−InGaAsP層12(λ
g=1.15μm,厚さd=0.3μm,キャリア濃度N=2×10
18cm-3)、発光層となるIn0.47Ga0.53As層13(λg=1.
67μm,d=1μm,アンドープ)、n−クラッド層兼コン
タクト層となるn−InGaAsP層14(λg=1.15μm,d=1
μm,N=2×1018cm-3)、アンドープのIn0.52Al0.48As
層15(d=1μm)、コンタクト層となるn−InGaAsP
層16(λg=1.15μm,d=0.2μm,N=2×1018cm-3)、S
i(d=890Å)とSiO2(d=2155Å)を交互に繰り返し
て積層した多層膜17を順次積層し、半導体層12,13,14で
第1の半導体積層構造体を、半導体14,15,16で第2の半
導体積層構造体を形成している。多層膜17は、Si/SiO2
2周期でλ=1〜1.6μmの波長領域で反射率R=90
%、4周期でR=95%とできる。基板は、第1図の如
く、一部領域を除去し、基板が除去された領域の第1,第
2半導体積層構造体部分を活性領域として、発光層13で
発光した光を多層膜とp−クラッド層12間で反射・干渉
させる素子構造としている。18及び19は電極でAuGe−Ni
より成る。20はAuZnより成る電極である。発光波長は約
1.5μmである。この場合フィネスFは となり、R=0.95とするとF=122となる。ピーク波長
は(1)式より求まるが、この場合、nr3.5、d=3.5
μmとなるので、 となり、N=2でλm=1μm、N=3でλm=1.5μ
m、N=4でλm=2μmとなるのでIn0.47Ga0.53As13
の発光波長付近にピーク波長を設定することができる。
発光スペクトルの幅Δν1/2はピーク波長間隔Δνとフ
ィネスFより となるので約41Åとなる。もっとも狭いスペクトル幅で
チューニングさせるには吸収損失を減らすなりして面方
向にレーザ発振させれば良い。基本的な構造は第1図の
実施例と同じで良い。
波長のチューニングは、第1図に示したように、電極
20には正電源、電極18には負電源をつなぎ電極19はグラ
ンドに接続し、In0.47Ga0.53As13にキャリア注入して発
光させ、In0.52Al0.48As15に電界をかけてピエゾ変調さ
せて行う。In0.52Al0.48As15はアンドープの状態で高抵
抗層となり、電界をかけることができる。
20には正電源、電極18には負電源をつなぎ電極19はグラ
ンドに接続し、In0.47Ga0.53As13にキャリア注入して発
光させ、In0.52Al0.48As15に電界をかけてピエゾ変調さ
せて行う。In0.52Al0.48As15はアンドープの状態で高抵
抗層となり、電界をかけることができる。
第1図の実施例ではエッチングして基板のp−InP11
を取っている。p−InGaAsP12と基板の間に半導体の多
層膜を形成し、これを反射鏡として作用させれば、この
様な基板のエッチングは不要となる。
を取っている。p−InGaAsP12と基板の間に半導体の多
層膜を形成し、これを反射鏡として作用させれば、この
様な基板のエッチングは不要となる。
本発明によって発光波長のチューニングが可能な面発
光型発光素子が得られる。本実施例で用いた材料系以外
の別の材料、例えばGaAs系を用いても良いことは言うま
でもない。
光型発光素子が得られる。本実施例で用いた材料系以外
の別の材料、例えばGaAs系を用いても良いことは言うま
でもない。
第1図は本発明に係わる一実施例の図、第2図は従来例
を示す図である。 11はp−InP、14と16はn−InGaAsP、13はIn0.47Ga0.53
As、12はp−InGaAsP、15はIn0.52Al0.48As、17は多層
膜、18と19と20は電極である。
を示す図である。 11はp−InP、14と16はn−InGaAsP、13はIn0.47Ga0.53
As、12はp−InGaAsP、15はIn0.52Al0.48As、17は多層
膜、18と19と20は電極である。
Claims (1)
- 【請求項1】pn接合を含む第1の半導体積層構造体と、
ピエゾ効果を有する材料で成る層または第2の半導体積
層構造体とが半導体基板の上に積層されており、前記第
1の半導体積層構造体に電流注入用の電極が形成され、
前記層または第2の半導体積層構造体には電圧印加用の
電極が形成されており、半導体積層方向に光の出力が成
されることを特徴とする面発光型可変波長発光素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5112489A JPH088375B2 (ja) | 1989-03-02 | 1989-03-02 | 面発光型可変波長発光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5112489A JPH088375B2 (ja) | 1989-03-02 | 1989-03-02 | 面発光型可変波長発光素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02230777A JPH02230777A (ja) | 1990-09-13 |
| JPH088375B2 true JPH088375B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=12878059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5112489A Expired - Fee Related JPH088375B2 (ja) | 1989-03-02 | 1989-03-02 | 面発光型可変波長発光素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH088375B2 (ja) |
-
1989
- 1989-03-02 JP JP5112489A patent/JPH088375B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02230777A (ja) | 1990-09-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Kuznetsov et al. | Design and characteristics of high-power (> 0.5-W CW) diode-pumped vertical-external-cavity surface-emitting semiconductor lasers with circular TEM/sub 00/beams | |
| US6040590A (en) | Semiconductor device with electrostatic control | |
| JP5646326B2 (ja) | オプトエレクトロニクスコンポーネント | |
| US7813402B2 (en) | Surface emitting laser and method of manufacturing the same | |
| US5345462A (en) | Semiconductor surface emitting laser having enhanced polarization control and transverse mode selectivity | |
| US4951292A (en) | Coating for DFB/DBR laser diodes | |
| US5289018A (en) | Light emitting device utilizing cavity quantum electrodynamics | |
| EP0200306A2 (en) | Superluminescent light-emitting diode and related method | |
| JP2004088049A (ja) | 光半導体装置 | |
| US5497389A (en) | Semiconductor laser device having an active layer and a resonator having a single reflector or pair of reflectors | |
| JPS63186488A (ja) | 半導体集積発光素子 | |
| WO2003092132A1 (en) | Gasb-clad mid-infrared semiconductor laser | |
| EP0473983B1 (en) | Light emitting device utilizing cavity quantum electrodynamics | |
| US8693894B2 (en) | Gain clamped optical device for emitting LED mode light | |
| JP3863454B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
| KR100404043B1 (ko) | 수직으로 집적화된 고출력 면발광 반도체 레이저 장치 및그 제조 방법 | |
| JP3785683B2 (ja) | 面発光素子 | |
| KR100644967B1 (ko) | 다양한 크기의 양자점으로 이루어진 활성층을 이용하는고휘도 발광소자 및 그 제조 방법 | |
| JP2001267639A (ja) | 光素子搭載基板及び多波長光源 | |
| JPH0951142A (ja) | 半導体発光素子 | |
| JP2018098419A (ja) | 半導体レーザ、光源ユニット、通信システム及び波長多重光通信システム | |
| JPH088375B2 (ja) | 面発光型可変波長発光素子 | |
| Paoli et al. | High‐power multiple‐emitter AlGaAs superluminescent diodes | |
| JP2006203100A (ja) | 半導体レーザおよび光送信器モジュール | |
| JP3971600B2 (ja) | レーザダイオード |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |