JPH088462Y2 - 液晶回路基板用検査装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この考案に係る液晶回路基板用検査装置は、各種表示
装置や小型テレビ画面に使用される液晶への通電用の回
路基板の導通検査を行なう場合に利用する。

（従来の技術） 各種表示装置は小型テレビ画面に使用される液晶は、
多数の液晶への通電を適当に断接する事で、表示変更等
を行なうが、この様な表示等の変更が確実に行なわれる
為には、上記多数の液晶に通電する為の回路基板が正し
く導通している（断線していない）事と、隣接するパタ
ーン同士が短絡していない事とが必要である。

この為従来から、組み上がった液晶回路基板を検査装
置に送り込んで検査する事により、不良品（断線してい
るものや短絡しているもの）を見付け出す様にしてい
た。

検査装置による検査は、１対のプローブを液晶回路基
板の端子と液晶とに接触させ、両プローブの間に電圧を
加える事で行ない、導通検査を行なう場合には、両プロ
ーブの間に規定以上の電流が流れた場合には合格（断線
や接触不良がない）とし、反対に規定以上の電流が流れ
ない場合には不合格（断線或は接触不良がある）とす
る。又、短絡検査を行なう場合には、上記両プローブ同
士の間に電流が流れない場合には合格とし、電流が流れ
た場合には不合格とする。

（考案が解決しようとする課題） ところが、実際の液晶回路基板は、第３図に示す様
に、コネクタ等に接続する為の引き出しパターン７、７
のピッチＰと、回路パターン８、８のピッチｐとが異な
る為、検査作業を能率良く行なう事が出来なかった。

即ち、従来の検査装置の場合、前記１対のプローブ同
士の相対的位置を固定したまま、両プローブと被検査物
である液晶回路基板との相対的位置を変えるのみであっ
た為、一方のプローブを何れかの引き出しパターン７に
当接させても、他方のプローブを何れの回路パターン
８、８にも当接させられない場合が生じる。

この為従来は、各パターン７、８を形成する為の原版
を変更する事により、検査の際に引き出しパターン７、
７のピッチＰと回路パターン８、８のピッチｐとを一致
させていたが、実装の際にコネクタ部を変更する等によ
りコストが嵩む原因となる為、好ましくない。

本考案の液晶回路基板用検査装置は、上述の様な不都
合を解消するものである。

（課題を解決する為の手段） 本考案の液晶回路基板用検査装置は、被検査物である
液晶回路基板を載置して水平方向に移動する移動テーブ
ルと、この移動テーブルの上方に、移動テーブルの移動
方向と直角方向に亙る移動自在に設けられた第一の取付
台と、この第一の取付台に支持され、上記液晶回路基板
の上面に当接自在とされた固定側プローブと、上記移動
テーブルの上方に、上記第一の取付台と同方向の移動自
在に設けられた第二の取付台の上面に、上記移動テーブ
ルの移動方向と同方向に亙る移動自在に支持され、上記
液晶回路基板の上面に当接自在とされた差動側プローブ
とから構成されている。

（作用） 上述の様に構成される、本考案の液晶回路基板用検査
装置の場合、第二の取付台に対して差動プローブを移動
させる事により、固定側プローブと差動側プローブとの
相対位置を、移動テーブルの移動方向に亙って調節自在
である為、液晶回路基板の引き出しパターンのピッチと
回路パターンのピッチとを異ならせたまま、この液晶回
路基板の検査を行なう事が出来る。

（実施例） 次に、図示の実施例を説明しつつ、本考案を更に詳し
く説明する。

第１〜２図は本考案の液晶回路基板用検査装置の実施
例を示しており、第１図は部分切断斜視図、第２図は全
体構成を示す正面図である。

基台１の上面には互いに平行な１対のＸ方向案内レー
ル２、２が設けられており、このＸ方向案内レール２、
２に沿って、水平方向に移動自在な移動テーブル３の上
面に、被検査物である液晶回路基板４を載置自在として
いる。

この移動テーブル３の上方には、上記Ｘ方向案内レー
ル２、２と直角方向に亙って、１対のＹ方向案内レール
５、５が設けられており、このＹ方向案内レール５、５
に沿って、水平方向に移動自在な第一、第二の取付台6
a、6bを設けている。

各取付台6a、6bの側縁部には切欠き９を形成し、この
切欠き９と、上記移動テーブル３の上面に載置された液
晶回路基板４の上面とを整合自在としている。

そして、上記第一、第二の取付台6a、6bの内、中央の
第一の取付台6a（第２図）の上面に支持した固定側プロ
ーブ10、10を、上記切欠き９を通じて取付台6aの下面か
ら垂下し、上記液晶回路基板４の上面に当接自在として
いる。

一方、上記第一の取付台6aを挟んで設けた、１対の第
二の取付台6b、6bの上面に固定した支持板11の側面に
は、前記Ｘ方向案内レール２、２と平行な差動案内レー
ル12を固定しており、この差動案内レール12に差動移動
台13を、移動自在に支持している。そして、この差動移
動台13に固定したプローブホルダ14の下面に、差動側プ
ローブ15を支持している。この差動側プローブ15も、上
記固定側プローブ10と同様に、第二の取付台6bに形成し
た切欠き９を通じて第二の取付台6bの下面から垂下し、
上記液晶回路基板４の上面に当接自在としている。

上記差動移動台13と前記移動テーブル３及び第一、第
二の取付台6a、6bとは、ボール螺子機構等、公知の送り
機構によって、Ｘ方向案内レール２、２、Ｙ方向案内レ
ール５、５、或いは差動案内レール12に沿って移動自在
としている。又、第一の取付台6aに設けた固定側プロー
ブ10、10も必要に応じて、第二の取付台6bに対して、手
動によって第２図の表裏方向に移動自在とする。

尚、第一、第二の取付台6a、6bの送り機構は、互いに
独立したものとし、隣り合う第一、第二の取付台6a、6b
の間隔を調節自在とする事で、幅寸法（第２図の左右方
向寸法）の異なる液晶回路基板の検査を行なえる様にし
ている。但し、幅寸法の異なる液晶回路基板を検査する
必要のない場合は、第一、第二の取付台6a、6bを、同期
して移動自在としたり、更には第一、第二の移動台6a、
6bを一体として、移動テーブル３の上方に固定しても良
い。

上述の様に構成される、本考案の液晶回路基板用検査
装置の場合、第二の取付台6bに対して各差動側プローブ
15、15を移動させる事により、固定側プローブ10、10と
差動側プローブ15、15との相対位置を、移動テーブル３
の移動方向（第２図の表裏方向）に亙って調節自在であ
る為、液晶回路基板４の引き出しパターン７、７のピッ
チＰと回路パターン８、８のピッチｐとを異ならせたま
ま、この液晶回路基板４の検査を行なう事が出来る。

即ち、Ｘ方向案内レール２、２に沿って移動テーブル
３を、回路パターン８、８のピッチｐずつ間欠的に移動
させる事により、固定側プローブ10、10を、液晶回路基
板４の回路パターン８、８に、順番に当接させる。

これと同時に、第二の取付台6bに対して差動移動台13
を、移動テーブル３の移動方向と同じ方向に、少しずつ
（Ｐ−ｐ分ずつ）移動させ、差動側プローブ15、15を、
液晶回路基板４の引き出しパターン７、７に当接させ
る。

図示の実施例の場合、固定側プローブ10、10と差動側
プローブ15、15とを、２対ずつ設けている為、液晶回路
基板４の中央に設けた回路パターン８、８と、両側に設
けた引出パターン７、７との導通検査を一挙に行なう事
が出来る。

（考案の効果） 本考案の液晶回路基板用検査装置は、以上に述べた通
り構成され作用する為、引き出しパターンのピッチと回
路パターンのピッチとを異ならせたままの状態で、液晶
回路基板の検査を能率良く行なう事が出来る為、液晶回
路基板のコスト低減を図れる。

【図面の簡単な説明】

第１〜２図は本考案の液晶回路基板用検査装置の実施例
を示しており、第１図は部分切断斜視図、第２図は全体
構成を示す正面図、第３図は液晶回路基板の１例を示す
拡大平面図である。 1:基台、2:X方向案内レール、3:移動テーブル、4:液晶
回路基板、5:Y方向案内レール、6a:第一の取付台、6b:
第二の取付台、7:引き出しパターン、8:回路パターン、
9:切欠き、10:固定側プローブ、11:支持板、12:差動案
内レール、13:差動移動台、14:プローブホルダ、15:差
動側プローブ。

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】被検査物である液晶回路基板を載置して水
   平方向に移動する移動テーブルと、この移動テーブルの
   上方に、移動テーブルの移動方向と直角方向に亙る移動
   自在に設けられた第一の取付台と、この第一の取付台に
   支持され、上記液晶回路基板の上面に当接自在とされた
   固定側プローブと、上記移動テーブルの上方に、上記第
   一の取付台と同方向の移動自在に設けられた第二の取付
   台の上面に、上記移動テーブルの移動方向と同方向に亙
   る移動自在に支持され、上記液晶回路基板の上面に当接
   自在とされた差動側プローブとから成る、液晶回路基板
   用検査装置。
2. 【請求項２】第一の取付台と第二の取付台とを一体とし
   た、請求項１に記載の液晶回路基板用検査装置。
3. 【請求項３】一体とされた第一、第二の取付台を、移動
   テーブルの上方に固定した、請求項２に記載の液晶回路
   基板用検査装置。