JPH0887037A - 光識別再生器 - Google Patents

光識別再生器

Info

Publication number
JPH0887037A
JPH0887037A JP22502594A JP22502594A JPH0887037A JP H0887037 A JPH0887037 A JP H0887037A JP 22502594 A JP22502594 A JP 22502594A JP 22502594 A JP22502594 A JP 22502594A JP H0887037 A JPH0887037 A JP H0887037A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
light
saturable absorber
regenerator
locked laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22502594A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Tsuda
裕之 津田
Akira Hirano
章 平野
Akira Takahashi
亮 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP22502594A priority Critical patent/JPH0887037A/ja
Publication of JPH0887037A publication Critical patent/JPH0887037A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 信号光に対するダイナミックレンジが広く、
動作波長範囲が広く、処理遅延時間が短く、外界の温度
変化に対して安定した動作が可能な光識別再生器を実現
する。 【構成】 信号光に同期した繰り返し周波数を有するモ
ードロックレーザ光を発振する半導体モードロックレー
ザと、入射光強度が小さいときは透過率が低く、入射光
強度が閾値を越えると吸収飽和を起こして透過率が高く
なる可飽和吸収体光スイッチとを同一基板上に集積化
し、可飽和吸収体光スイッチに入射されるモードロック
レーザ光の強度を吸収飽和を起こす閾値以下とし、可飽
和吸収体光スイッチに外部から信号光を入射し、この信
号光に対応するモードロックレーザ光を再生光として外
部に出射する構成である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、消光比および信号雑音
比が劣化し、またタイミングジッタを有する信号光を電
気信号に変換することなく識別再生する光識別再生器に
関する。
【0002】長距離伝送された信号光は、パルス振幅の
減少および揺らぎ、パルス幅の縮小または増大、タイミ
ングジッタ(時間軸上のパルス間隔のばらつき)の増加
により信号品質が劣化している。光識別再生器は、この
ような信号光のパルス振幅およびパルス幅を適正化し、
タイミングジッタを除去する機能をもつ。なお、識別再
生する際に波長変換が行われる場合もある。
【0003】
【従来の技術】図15は、従来の光識別再生器の構成を
示す(1992年電子情報通信学会秋季大会B-737)。
【0004】図において、従来の光識別再生器には、非
線形サニヤックミラー51が用いられている。非線形サ
ニヤックミラー51のポートAにクロック光(波長λ2)
を入射し、ポートCに光増幅器52を介して信号光(波
長λ1)を入射し、ポートBから再生光(波長λ2)を出射
する構成である。波長フィルタ53は、ポートCからポ
ートBに漏れる信号光を阻止し、再生光のみを通過させ
る。
【0005】非線形サニヤックミラー51は、ポートC
に光が入射されないときはポートAの入射光を反射して
ポートAに出射し、ポートCに光が入射されたときにポ
ートAの入射光を透過してポートBに出射する。非線形
サニヤックミラー51の入出力特性を図16に示す。ポ
ートCへの入射パワーに応じて、ポートAからポートB
への透過率が変化する。この入出力特性は閾値特性を有
し、透過率の極小値および極大値近傍で入射パワーに対
する透過率の変化が少ない。また、ポートAおよびポー
トCへの入射パルスの時間位置が、例えば10ピコ秒程度
ずれていてもスイッチング動作が可能である。ただし、
この特性はポートAおよびポートCへの入射光の波長差
にほぼ比例する。
【0006】クロック光(λ2) は、図17に示すよう
に、信号光(λ1) に同期しかつ振幅揺らぎやタイミング
ジッタが少なく適正なパルス幅を有する光である。この
クロック光を非線形サニヤックミラー51のポートAに
入射し、消光比が劣化しタイミングジッタを有する信号
光をポートCに入射すると、信号光をクロック光で置き
換えて識別再生した再生光(λ2) がポートBから出射さ
れる。図17は、RZ信号の“1101”が識別再生さ
れる様子を示す。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】非線形サニヤックミラ
ーを用いた従来の光識別再生器は、以下に示す4つの問
題点がある。
【0008】 ポートCへの入射光の大きさに制限が
あるので、識別再生されるための信号光に対するダイナ
ミックレンジが制限される。これは、図16の入出力特
性に示すように、入射パワーが大きいときに透過率が逆
に減衰するためである。
【0009】 入出力特性は入射波長に応じて大きく
変化するので、動作波長に制限がある。また、吸収でき
るタイミングジッタは信号光とクロック光の波長差にほ
ぼ比例するので、大きなタイミングジッタを吸収するた
めには両者の波長差を大きくする必要がある。
【0010】 非線形サニヤックミラーは、長さ数k
mに及ぶ光ファイバで構成されるので、光識別再生器に
おける時間遅れが数μsにも達する。 非線形サニヤックミラーを構成する長い光ファイバ
を一定の温度に保つことが難しく、周辺の温度変化に対
して安定に動作させることが困難である。
【0011】本発明は、以上の問題点を解決するもので
あり、信号光に対するダイナミックレンジが広く、動作
波長範囲が広く、処理遅延時間が短く、外界の温度変化
に対して安定した動作が可能な光識別再生器を提供する
ことを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の光識別再生器
は、信号光に同期した繰り返し周波数を有するモードロ
ックレーザ光を発振する半導体モードロックレーザと、
入射光強度が小さいときは透過率が低く、入射光強度が
閾値を越えると吸収飽和を起こして透過率が高くなる可
飽和吸収体光スイッチとを同一基板上に集積化し、可飽
和吸収体光スイッチに入射されるモードロックレーザ光
の強度を吸収飽和を起こす閾値以下とし、可飽和吸収体
光スイッチに外部から信号光を入射し、この信号光に対
応するモードロックレーザ光を再生光として外部に出射
する構成である(請求項1)。
【0013】可飽和吸収体光スイッチは、可飽和吸収体
として 150℃から 400℃で低温成長した多重量子井戸層
を有し、ドーパントとしてp型元素またはベリリウムを
1017以上添加した構成である(請求項2)。
【0014】可飽和吸収体光スイッチは、可飽和吸収体
として半導体モードロックレーザの利得部と同じ組成の
歪量子井戸層を有し、ドーパントとして水素、炭素、酸
素、窒素、ベリリウム、またはp型元素をイオン注入し
た構成である(請求項3)。
【0015】可飽和吸収体光スイッチに逆バイアス電圧
を印加する電極を備える(請求項4)。可飽和吸収体光
スイッチは、可飽和吸収体として半導体モードロックレ
ーザの端面に多重量子井戸層を成長させた構成である
(請求項5)。
【0016】半導体モードロックレーザと可飽和吸収体
光スイッチとを集積化した同一基板上に、さらに半導体
光増幅器を集積化した構成である(請求項6)。また、
請求項1〜6の光識別再生器に、信号光のパルス幅を広
げる波形整形器を備える(請求項7)。
【0017】また、本発明の光識別再生器は、前記の半
導体モードロックレーザに代えて、連続光を発振する連
続光発振半導体レーザと可飽和吸収体光スイッチとを同
一基板上に集積化し、可飽和吸収体光スイッチに入射さ
れる連続光の強度を吸収飽和を起こす閾値以下とし、可
飽和吸収体光スイッチに外部から信号光を入射し、この
信号光に対応する連続光の一部を再生光として外部に出
射する構成である(請求項8)。
【0018】
【作用】請求項1の光識別再生器は、モードロックレー
ザ光の光強度では、可飽和吸収体光スイッチで十分に吸
収飽和が起こらないのでほとんど出射されない。ここ
で、外部から可飽和吸収体光スイッチに信号光が入射さ
れ、その和が吸収飽和を起こす閾値レベルを越えると、
モードロックレーザ光が可飽和吸収体光スイッチを透過
して出射される。すなわち、信号光に同期したモードロ
ックレーザ光を生成し、可飽和吸収体光スイッチに信号
光とモードロックレーザ光を入射させることにより、信
号光に対応するモードロックレーザ光を再生光として出
射することができる。
【0019】請求項2の可飽和吸収体光スイッチの構成
は、入射光に対する吸収回復が高速である。請求項3の
可飽和吸収体光スイッチの構成は、入射光に対する吸収
回復がやや遅いものの、半導体モードロックレーザの利
得部と同じ組成であるので作製が容易である。
【0020】請求項4の可飽和吸収体光スイッチの構成
は、可飽和吸収体に逆バイアス電圧を印加して吸収され
たキャリアを電流として引き抜くことができるので、逆
バイアス電圧に応じて緩和時間を制御することができ
る。
【0021】請求項5の可飽和吸収体光スイッチの構成
は、信号光を面で受光することができる。したがって、
レンズ等を用いて信号光と再生光を容易に分離すること
ができる。
【0022】請求項6の可飽和吸収体光スイッチの構成
は、半導体光増幅器で信号光を増幅して可飽和吸収体光
スイッチに入射させることができ、また再生光を増幅し
て出射することができる。
【0023】請求項7の光識別再生器は、信号光のパル
ス幅が拡大して入射されることにより、そのパルス幅の
範囲内で信号光のタイミングジッタを吸収することがで
きる。
【0024】請求項8の光識別再生器は、連続光の光強
度では可飽和吸収体光スイッチで十分に吸収飽和が起こ
らないのでほとんど出射されない。ここで、外部から可
飽和吸収体光スイッチに信号光が入射され、その和が吸
収飽和を起こす閾値レベルを越えると、信号光に対応す
る連続光の一部が可飽和吸収体光スイッチを透過して出
射される。すなわち、可飽和吸収体光スイッチに信号光
と連続光を入射させることにより、信号光に対応する再
生光を出射することができる。
【0025】
【実施例】
(第1実施例)図1は、本発明の光識別再生器の第1実
施例の構成を示す(請求項1,2)。なお、図面は導波
路に沿った断面を示す。
【0026】図において、11はn-InP基板、12は I
nGaAsP下面ガイド層、13はInGaAsP(1.55μm組成、0.
8%圧縮歪、層厚9nm)の井戸層とInGaAsP (1.1μm組
成、層厚5nm)のバリア層からなる歪量子井戸層(井
戸層数8)、14はInGaAsP上面ガイド層、15はp-In
Pクラッド層、16はp-InGaAsPキャップ層、17はAu/
Zi/Ni上面電極層、18はAu/Ge/Ni下面電極層、19はI
nGaAsP(1.55μm組成、0.8%圧縮歪、層厚7nm)の井
戸層とInGaAsP (1.3μm組成、層厚14nm)のバリア層
からなる歪量子井戸層(井戸層数3)、20はInGaAsP
(1.3μm組成)層、21は回折格子、22は 200℃で低
温成長したInGaAs/InAlAs 多重量子井戸層でドーパント
としてベリリウム(Be)が2×1017添加してある。23は
歪量子井戸層13と歪量子井戸層19の境に対応する位
置、歪量子井戸層19とInGaAsP層20の境に対応する
位置に形成される電極分離溝である。なお、 InGaAs/In
AlAs多重量子井戸層22に対応する部分にはAu/Zi/Ni上
面電極層17は形成されない。24は誘電体高反射ミラ
ー、25は低反射誘電体コーティング層である。
【0027】歪量子井戸層13に対応する部分が変調部
1であり、高周波電界(信号クロック)RFが印加され
る。歪量子井戸層19に対応する部分が利得部2であ
り、定常電流Ib が注入される。InGaAsP 層20および
回折格子21に対応する部分がDBR(分布ブラッグ反
射)部であり、発振波長を調整する制御電流IM が注入
される。変調部1,利得部2,DBR部3により半導体
モードロックレーザ4が構成される。また、InGaAs/InA
lAs 多重量子井戸層22に対応する部分が可飽和吸収体
光スイッチ5である。本実施例の光識別再生器は、半導
体モードロックレーザ4と可飽和吸収体光スイッチ5を
集積化した構成である。
【0028】なお、本実施例の材料組成および多重量子
井戸構造は、波長1.55μm近傍で良好に動作するように
定めたものであり、動作波長および結晶成長法に応じて
層構成は適宜選択される。たとえば、InGaAs/InGaAlAs
系、AlAs系、AlGaAs/GaAs 系、InGaAs/GaAs 歪系、InGa
As/InGaAsP歪系、その他の多重および単一量子井戸構造
を用いて同様に構成することができる。また、導波路
は、リッジ導波路、pn埋め込み型導波路、高抵抗埋め
込み型(InP 系の場合はFeドープInP による埋め込み)
導波路、その他の構成が可能であり、本発明の動作は特
定の導波路構成法に限定されない。
【0029】図2は、本発明の光識別再生器のモジュー
ル構成の一例を示す。図において、40は半導体モード
ロックレーザ4と可飽和吸収体光スイッチ5を集積化し
た光識別再生器である。信号光は、光アイソレータ4
1,WDM(波長多重分離)カプラ42,レンズ43を
介して、可飽和吸収体光スイッチ5に入射される。ま
た、再生光は、半導体モードロックレーザ4から可飽和
吸収体光スイッチ5を介して出射され、レンズ43を介
してWDMカプラ42に入射され、信号光と分離され
る。また、同期制御回路44には信号光の一部が入射さ
れ、信号光のパルス列に同期した信号クロックを抽出し
て半導体モードロックレーザ4の変調部に印加する。
【0030】なお、光識別再生器に波長変換機能をもた
せる場合には、信号光の波長と半導体モードロックレー
ザ4の発振波長(再生光の波長)を相違させればよく、
WDMカプラ42または光サーキュレータを用いて信号
光と再生光とを分離する。また、信号光と再生光の波長
が同じ場合には光サーキュレータを用いる。光サーキュ
レータを用いる場合には光アイソレータ41は不要であ
る。また、WDMカプラ42または光サーキュレータの
代わりに通常の光カプラを用いてもよいが、3dB以上の
損失が生じる。
【0031】次に、本実施例の光識別再生器を構成する
半導体モードロックレーザ4および可飽和吸収体光スイ
ッチ5の動作について説明する。半導体モードロックレ
ーザ4は、変調部1に印加する高周波電界RFの周期
と、半導体モードロックレーザ4を構成する光共振器の
ラウンドトリップ時間(光周回時間)が一致する場合
に、レーザの発振縦モード間に変調の側波帯を通して結
合が起こり、縦モード周波数間隔が変調周波数にロック
される。このとき出射される光は、繰り返し周波数が変
調周波数に等しい短パルス列となる。したがって、高周
波電界RFとして、信号光のパルス列に同期した信号ク
ロックを印加することにより、信号光に同期したモード
ロックレーザ光を生成することができる。
【0032】また、半導体モードロックレーザ4はDB
R部3を有するので、DBR部3へ制御電流IM を注入
することにより出射波長を調整することができる。ま
た、同時に実効的共振器長も変化するので、モードロッ
クがかかる周波数も調整可能である。なお、出射波長と
周波数を両方制御する場合には、半導体モードロックレ
ーザ4内に位相調整領域を設ければよい。
【0033】可飽和吸収体光スイッチ5は、入射光強度
が小さいときは透過率が低く、入射光強度が大きくなる
につれて透過率が高くなり、入射光強度が所定値を越え
ると透過率が飽和する。入射光ピーク強度PMAX(パルス
幅2psで一定)に対する最大透過率TMAX を図3に示
す。入射波長λinが数十nmの範囲(図では1535nm〜
1565nm)で同様の特性を示す。また、可飽和吸収体光
スイッチ5では、吸収された光によるキャリアがバンド
内でフェムト秒オーダーで緩和するので、入射波長の前
後20nm程度の波長範囲にわたって、光パルス入射直後
に吸収飽和を起こして透過率が高くなり、入射光がなく
なるとバンド間緩和時間(BeドープInGaAs/InAlAs 多重
量子井戸ではサブピコ秒から数十ピコ秒)で速やかに全
波長領域で吸収が回復して透過率が低下する。可飽和吸
収体光スイッチ5の応答特性を図4に示す。上の波形が
入射光の時間波形であり、下の波形が透過率の時間変化
を示す。
【0034】本実施例の光識別再生動作について図5を
参照して説明する。“1101”に対応する信号光
1) は、パルス幅およびタイミングジッタが増加し、
パルス振幅が揺らいでいる。一方、半導体モードロック
レーザ4は、信号光に同期しかつ振幅揺らぎやタイミン
グジッタが少なく適正なパルス幅を有するモードロック
レーザ光(λ2) を発振している。可飽和吸収体光スイッ
チ5は、図3に示すように光強度に対して閾値特性があ
り、透過率は入射光強度が閾値レベルに達すると飽和す
るが、モードロックレーザ光のみの光強度では閾値レベ
ルに達せず、外部に出射されることはない。ここで、可
飽和吸収体光スイッチ5の吸収回復は極めて高速である
ので、信号光とモードロックレーザ光が可飽和吸収体光
スイッチ5に入射されると光強度が閾値レベルを上回
り、モードロックレーザ光が可飽和吸収体光スイッチ5
を透過して再生光(λ2) として出射される。すなわち、
再生光は、モードロックレーザ光を信号光の論理でオン
オフさせたものとなり、信号光に比べてタイミングジッ
タが低減されかつ十分な消光比を得ることができる。
【0035】(第2実施例)図6は、本発明の光識別再
生器の第2実施例の構成を示す(請求項1,3)。本実
施例の特徴は、可飽和吸収体光スイッチ5の構成にあ
る。本実施例では、第1実施例のInGaAs/InAlAs 多重量
子井戸層22に代えて、利得部2の歪量子井戸層19と
同じ組成の歪量子井戸層26を形成し、ドーパントして
水素、炭素、酸素、窒素、ベリリウム(Be),またはp
型元素をイオン注入法によってイオン注入領域27に注
入する。これにより、可飽和吸収体光スイッチ4の層構
成は、半導体モードロックレーザ4の利得部2と同じに
なるので、第1実施例の構成に比べて素子作製が容易に
なる。ただし、素子の吸収回復時間が第1実施例のもの
よりも遅くなる。光識別再生器としての動作は第1実施
例と同様である。
【0036】(第3実施例)図7は、本発明の光識別再
生器の第3実施例の構成を示す(請求項1,4)。本実
施例の特徴は、可飽和吸収体光スイッチ5の構成にあ
る。本実施例では、第1実施例のInGaAs/InAlAs 多重量
子井戸層22に代えて、利得部2の歪量子井戸層19と
同じ組成あるいは歪量子井戸層19よりもバンドギャッ
プの大きい多重量子井戸層28を形成する。さらに、可
飽和吸収体光スイッチ5に対応する部分にもAu/Zi/Ni上
面電極層17を形成し、逆バイアス電圧Va を印加す
る。これにより、可飽和吸収を起こす多重量子井戸層2
8で吸収された光によるキャリアは、逆バイアス電圧V
a を印加することで電流として引き抜かれる。すなわ
ち、本実施例ではキャリアの寿命を逆バイアス電圧Va
によって制御できるので、信号光のパルス幅に合わせて
可飽和吸収体の緩和時間を設定することができる。な
お、可飽和吸収体光スイッチ5は緩和時間がパルス幅と
ほぼ同等のときに最も効率的に動作するので、緩和時間
の制御機能は有用である。光識別再生器としての動作は
第1実施例と同様である。
【0037】(第4実施例)図8は、本発明の光識別再
生器の第4実施例の構成を示す(請求項1,5)。本実
施例の特徴は、可飽和吸収体光スイッチ5の構成にあ
る。本実施例では、半導体モードロックレーザ4の端面
に、第1実施例のInGaAs/InAlAs 多重量子井戸層22と
同じく、低温成長でBeドープされたInGaAs/InAlAs 多重
量子井戸層29を成長させる。これにより、第1実施例
の構成に比べて素子作製が容易になる。また、本実施例
の可飽和吸収体光スイッチ5は信号光を面で受光するこ
とができる。したがって、図9に示すように、レンズ4
3だけで信号光と再生光を空間的に分離することができ
る。すなわち、信号光と再生光を分離する手段としてW
DMカプラ42や光サーキュレータが不要となる。光識
別再生器としての動作は第1実施例と同様である。
【0038】ところで、第1実施例〜第4実施例の構成
では、信号光のパルス振幅が大幅に小さくなるか信号光
のパルス幅が狭くなると、タイミングジッタの吸収が困
難になるばかりでなく識別再生が困難になることがあ
る。
【0039】その場合には、図10に示すように、信号
光の入力段に光増幅器45および波形整形器46を配置
し、光増幅器45で信号光を増幅し、波形整形器46で
信号光のパルス幅を広げる。光増幅器45には、エルビ
ウムドープ光ファイバ増幅器や進行波型半導体光増幅器
を用いることができる。波形整形器46には、石英導波
路による分散制御素子、回折格子、ファブリペローエタ
ロン、適当な分散値を有する光ファイバを用いることが
できる。
【0040】本実施例の光識別再生動作について図11
を参照して説明する。“1101”に対応する信号光
1) は、光強度が減衰しパルス幅が狭くなっている。
この信号光を光増幅器45および波形整形器46を介す
ることにより、光強度を回復させパルス幅を増大させ
る。一方、半導体モードロックレーザ4は、信号光に同
期しかつ振幅揺らぎやタイミングジッタが少なく適正な
パルス幅を有するモードロックレーザ光(λ2) を発振し
ている。したがって、第1実施例と同様にして再生光
2) が出射される。信号光のタイミングジッタは拡大
されたパルス幅の範囲内で吸収することができる。
【0041】(第5実施例)図12は、本発明の光識別
再生器の第5実施例の構成を示す(請求項1,6)。
【0042】本実施例の特徴は、半導体モードロックレ
ーザ4と可飽和吸収体光スイッチ5に、さらに同様の層
構造をもつ半導体光増幅器6を集積化したところにあ
る。30は、利得部2の歪量子井戸層19と同じ組成あ
るいは歪量子井戸層19よりもバンドギャップの小さい
多重量子井戸層である。この半導体光増幅器6に順方向
電流IA を流すことにより、多重量子井戸層30に反転
分布が生じて光増幅器として機能する。なお、半導体光
増幅器6の光パルス入出力端面には低反射誘電体コーテ
ィング層25が形成され、反対側は吸収層であるので、
半導体光増幅器6でのレーザ発振は抑圧される。
【0043】本構成では信号光が微弱であっても、光強
度を増幅して可飽和吸収体光スイッチ5に入射させるこ
とができ、図10に示す光増幅器45と同様の機能が実
現される。さらに、再生光についても半導体光増幅器6
で増幅器して出射することができる。
【0044】(第6実施例)図13は、本発明の光識別
再生器の第6実施例の構成を示す(請求項1,8)。
【0045】本実施例の構成は、タイミングジッタが少
ない信号光を識別再生する場合に適し、半導体モードロ
ックレーザ4に代えて連続光発振半導体レーザ7を用い
ることを特徴とする。すなわち、連続光発振半導体レー
ザ7と可飽和吸収体光スイッチ5を集積化した構成とな
る。
【0046】連続光発振半導体レーザ7は、半導体モー
ドロックレーザ4から変調部1を取り除き、利得部2お
よびDBR部3により構成される。可飽和吸収体光スイ
ッチ5の構成は、上述した第1実施例〜第4実施例のい
ずれでもよい。また、第5実施例に示す半導体光増幅器
6を集積化してもよい。
【0047】本実施例の光識別再生動作について図14
を参照して説明する。“1101”に対応する信号光
1) は、パルス振幅が揺らいでいるが、タイミングジ
ッタは小さい。一方、連続光発振半導体レーザ7は、連
続光(λ2) を発振している。したがって、信号光の入射
タイミングで、連続光の強度で安定した再生光(λ2) が
出射される。このため、信号光のタイミングジッタを減
らす機能はないが、十分な消光比を得ることはできる。
また、信号光と異なる波長の再生光を生成する波長変換
機能を持たせることもできる。
【0048】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光識別再
生器に用いる可飽和吸収体光スイッチは、入射光強度に
応じて透過率が高速に飽和し、また広い波長範囲で同様
の透過率特性を示す。したがって、識別再生動作のダイ
ナミックレンジが広く、動作波長範囲が広い。
【0049】また、本発明の光識別再生器は、半導体モ
ードロックレーザまたは連続光発振半導体レーザと可飽
和吸収体光スイッチを集積化した構成であるので、極め
て小型にすることができる。したがって、識別再生動作
の処理遅延時間が短い。また、全体を恒温に保つことが
容易であるので、外界の温度変化に対して安定に動作さ
せることができる。
【0050】さらに、信号光と再生光の分離手段を含め
てモジュール化できるので、取扱が容易であるとともに
他の装置への組み込みが可能となり、高速の光信号処理
装置や光伝送装置に使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光識別再生器の第1実施例の構成を示
す断面図。
【図2】本発明の光識別再生器のモジュール構成を示す
図。
【図3】可飽和吸収体光スイッチ5の入射光ピーク強度
に対する最大透過率を示す図。
【図4】可飽和吸収体光スイッチ5の応答特性を示す
図。
【図5】第1実施例における光識別再生動作を説明する
図。
【図6】本発明の光識別再生器の第2実施例の構成を示
す断面図。
【図7】本発明の光識別再生器の第3実施例の構成を示
す断面図。
【図8】本発明の光識別再生器の第4実施例の構成を示
す断面図。
【図9】第4実施例における信号光と再生光の分離手段
の構成を示す図。
【図10】本発明の光識別再生器のモジュール構成を示
す図。
【図11】図10の構成における識別再生動作を説明す
る図。
【図12】本発明の光識別再生器の第5実施例の構成を
示す断面図。
【図13】本発明の光識別再生器の第6実施例の構成を
示す断面図。
【図14】第6実施例における光識別再生動作を説明す
る図。
【図15】従来の光識別再生器の構成を示すブロック
図。
【図16】非線形サニヤックミラー51の入出力特性を
示す図。
【図17】従来の光識別再生動作を説明する図。
【符号の説明】
1 変調部 2 利得部 3 DBR部 4 半導体モードロックレーザ 5 可飽和吸収体光スイッチ 6 半導体光増幅器 7 連続光発振半導体レーザ 11 n-InP基板 12 InGaAsP 下面ガイド層 13 歪量子井戸層 14 InGaAsP 上面ガイド層 15 p-InPクラッド層 16 p-InGaAsPキャップ層 17 Au/Zi/Ni上面電極層 18 Au/Ge/Ni下面電極層 19 歪量子井戸層 20 InGaAsP 層、 21 回折格子 22 InGaAs/InAlAs 多重量子井戸層 23 電極分離溝 24 誘電体高反射ミラー 25 低反射誘電体コーティング層 26 歪量子井戸層 27 イオン注入領域 28 多重量子井戸層 29 InGaAs/InAlAs 多重量子井戸層 30 多重量子井戸層 40 光識別再生器 41 光アイソレータ 42 WDMカプラ 43 レンズ 44 同期制御回路 45 光増幅器 46 波形整形器 51 非線形サニヤックミラー 52 光増幅器 53 波長フィルタ

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 信号光に同期した繰り返し周波数を有す
    るモードロックレーザ光を発振する半導体モードロック
    レーザと、入射光強度が小さいときは透過率が低く、入
    射光強度が閾値を越えると吸収飽和を起こして透過率が
    高くなる可飽和吸収体光スイッチとを同一基板上に集積
    化し、 前記可飽和吸収体光スイッチに入射される前記モードロ
    ックレーザ光の強度を吸収飽和を起こす閾値以下とし、 前記可飽和吸収体光スイッチに外部から前記信号光を入
    射し、この信号光に対応するモードロックレーザ光を再
    生光として外部に出射する構成であることを特徴とする
    光識別再生器。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の光識別再生器におい
    て、 可飽和吸収体光スイッチは、可飽和吸収体として 150℃
    から 400℃で低温成長した多重量子井戸層を有し、ドー
    パントとしてp型元素またはベリリウムを1017以上添加
    した構成であることを特徴とする光識別再生器。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の光識別再生器におい
    て、 可飽和吸収体光スイッチは、可飽和吸収体として半導体
    モードロックレーザの利得部と同じ組成の歪量子井戸層
    を有し、ドーパントとして水素、炭素、酸素、窒素、ベ
    リリウム、またはp型元素をイオン注入した構成である
    ことを特徴とする光識別再生器。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の光識別再生器におい
    て、 可飽和吸収体光スイッチに逆バイアス電圧を印加する電
    極を備えたことを特徴とする光識別再生器。
  5. 【請求項5】 請求項1に記載の光識別再生器におい
    て、 可飽和吸収体光スイッチは、可飽和吸収体として半導体
    モードロックレーザの端面に多重量子井戸層を成長させ
    た構成であることを特徴とする光識別再生器。
  6. 【請求項6】 請求項1に記載の光識別再生器におい
    て、 半導体モードロックレーザと可飽和吸収体光スイッチと
    を集積化した同一基板上に、さらに半導体光増幅器を集
    積化した構成であることを特徴とする光識別再生器。
  7. 【請求項7】 請求項1ないし請求項6のいずれかに記
    載の光識別再生器において、 前記光識別再生器に入射する信号光のパルス幅を広げる
    波形整形器を備えたことを特徴とする光識別再生器。
  8. 【請求項8】 請求項1ないし請求項6のいずれかに記
    載の光識別再生器において、 半導体モードロックレーザに代えて、連続光を発振する
    連続光発振半導体レーザと可飽和吸収体光スイッチとを
    同一基板上に集積化し、 前記可飽和吸収体光スイッチに入射される前記連続光の
    強度を吸収飽和を起こす閾値以下とし、 前記可飽和吸収体光スイッチに外部から前記信号光を入
    射し、この信号光に対応する連続光の一部を再生光とし
    て外部に出射する構成であることを特徴とする光識別再
    生器。
JP22502594A 1994-09-20 1994-09-20 光識別再生器 Pending JPH0887037A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22502594A JPH0887037A (ja) 1994-09-20 1994-09-20 光識別再生器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22502594A JPH0887037A (ja) 1994-09-20 1994-09-20 光識別再生器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0887037A true JPH0887037A (ja) 1996-04-02

Family

ID=16822891

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22502594A Pending JPH0887037A (ja) 1994-09-20 1994-09-20 光識別再生器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0887037A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006065133A (ja) * 2004-08-30 2006-03-09 Chiba Univ 半導体素子

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006065133A (ja) * 2004-08-30 2006-03-09 Chiba Univ 半導体素子

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Horer et al. Large-signal analysis of all-optical wavelength conversion using two-mode injection-locking in semiconductor lasers
US20100284430A1 (en) Systems and methods for generating high repetition rate ultra-short optical pulses
EP0723676B1 (en) Optical switching device
EP0901245B1 (en) Optical decision circuit and use thereof
JP3328881B2 (ja) 半導体光パルス圧縮導波路素子及び半導体光パルス発生レーザ
JP2751903B2 (ja) 光クロック再生器
JP4618118B2 (ja) 受動モード同期半導体レーザ及び光クロック信号抽出装置
US6438148B1 (en) Method and device for encoding data into high speed optical train
JPH06103778B2 (ja) 半導体分布帰還形レーザを含む光学装置およびその駆動方法
Sato et al. Actively mode-locked strained-InGaAsP multiquantum-well lasers integrated with electroabsorption modulators and distributed Bragg reflectors
JP3510247B2 (ja) 光学クロック再生
Duan et al. Modeling and measurement of bistable semiconductor lasers
CA1292040C (en) Semiconductor optical amplifier with shortened gain recovery time
Yasaka et al. Finely tunable wavelength conversion of high bit-rate signals by using a superstructure-grating distributed Bragg reflector laser
JPH0887037A (ja) 光識別再生器
Bakonyi et al. 10 Gbit/s RZ transmission over 5000 km with gain-clamped semiconductor optical amplifiers and saturable absorbers
Huang et al. Characterization of Three-Section Mode Locked Laser for Optical Frequency Comb Generation and Control for Space Applications
Leem et al. The characterization of all-optical 3R regeneration based on InP-related semiconductor optical devices
JP3246703B2 (ja) 偏波変調可能な半導体レーザおよびこれを用いた光通信方式
JP2004158590A (ja) 半導体パルス光源
Gnauck et al. 8 Gbit/s transmission over 76 km of optical fibre using a directly modulated 1.3 μm DFB laser
JP4653940B2 (ja) 通信用光制御装置
CA2253485C (en) Optical clock division
JPH0661586A (ja) 光制御パルスレーザ
JP3287443B2 (ja) 偏波変調可能な半導体レーザおよびこれを用いた光通信方式