JPH0894430A - Abnormal sound inspection device - Google Patents

Abnormal sound inspection device

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Publication number
JPH0894430A
JPH0894430A JP6232881A JP23288194A JPH0894430A JP H0894430 A JPH0894430 A JP H0894430A JP 6232881 A JP6232881 A JP 6232881A JP 23288194 A JP23288194 A JP 23288194A JP H0894430 A JPH0894430 A JP H0894430A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sound
abnormal sound
output
bandpass filter
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP6232881A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideo Momose
英穂 百瀬
Tomohiro Yamazaki
智博 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP6232881A priority Critical patent/JPH0894430A/en
Publication of JPH0894430A publication Critical patent/JPH0894430A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 検査者が聴覚または触覚で行っていた、検査
物の発生する音または振動による合否判定を、周波数帯
域分析により自動的に行う。 【構成】 検査物1の発生する音または振動をマイクロ
フォンなどのセンサー2によって電気信号に変換し、増
幅部3で増幅を行った後、バンドパスフィルタ列部4に
よって周波数成分に分離し、各フィルタ列に接続された
整流部5で直流化し、AD変換部6によりサンプリング
を行う。サンプリングしたデータ値はRAM7に記憶す
るとともに、RAMに記憶させたしきい値とCPU8に
より比較演算して、合否判定をディスプレイ9に表示す
るとともに、出力端子10に出力する。
(57) [Summary] [Purpose] Pass / fail judgment based on the sound or vibration generated by the inspection object, which was performed by the inspector by hearing or touch, is automatically performed by frequency band analysis. [Structure] The sound or vibration generated by the inspection object 1 is converted into an electric signal by a sensor 2 such as a microphone, amplified by an amplification unit 3, and then separated into frequency components by a bandpass filter array unit 4, and each filter is separated. The rectification unit 5 connected to the column converts it into a direct current, and the AD conversion unit 6 performs sampling. The sampled data value is stored in the RAM 7, and the threshold value stored in the RAM is compared and calculated by the CPU 8 to display the pass / fail judgment on the display 9 and output to the output terminal 10.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、製品または部品の発生
する音または振動の検査を行う製造工程を自動化するの
に使用される異常音検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an abnormal sound inspection apparatus used for automating a manufacturing process for inspecting a sound or vibration generated by a product or a part.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、音または振動の検査を自動的に行
う装置としては、センサーによって電気信号に変換した
信号を、直接または特定のバンドパスフィルタを通して
サンプリングを行い、FFTアナライザを使用するかコ
ンピュータを使用してFFT演算を行うことで周波数特
性を得て、不良品の判定を行うものが多かった。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a device for automatically inspecting sound or vibration, a signal converted into an electric signal by a sensor is sampled directly or through a specific bandpass filter, and an FFT analyzer is used or a computer is used. In many cases, the frequency characteristic is obtained by performing the FFT operation using, and the defective product is determined.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】FFT演算処理を用い
た周波数分析では、データの取り込みと、演算処理が順
番に行われるため、低い周波数成分の解析を行うような
場合、処理結果が得られるまでに時間がかかる、長時間
のデータの連続処理ができないため、間隔を置いて瞬時
的に発生する異常音や異常振動の成分を明確に検出でき
ないという問題があった。
In the frequency analysis using the FFT arithmetic processing, since the data acquisition and the arithmetic processing are performed in order, when the low frequency component is analyzed, the processing result is obtained. However, since it is impossible to continuously process data for a long time, it is impossible to clearly detect a component of abnormal sound or vibration that occurs instantaneously at intervals.

【0004】本発明は上記従来の問題を解決するもので
あり、短時間に、異常音や異常振動を確実に検出できる
優れた異常音検査装置を提供することを目的とするもの
である。
The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide an excellent abnormal sound inspection apparatus capable of reliably detecting abnormal sound and abnormal vibration in a short time.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、周波数分析に演算処理を使用せず、バンド
パスフィルタ列によって周波数成分に分離して整流し、
アナログディジタル変換器によって数値化して、周波数
成分レベルを判定することで検査を行う装置である。マ
イクロフォンまたは加速度ピックアップなどのセンサ
ー、信号の増幅を行う増幅部、周波数帯域の分離を行う
バンドパスフィルタ列、該フィルタ列の出力を直流に変
換する整流部、周波数帯域ごとの直流に変換された信号
をディジタル値に変換するアナログディジタル変換部、
そのディジタル値を記憶するRAM、設定された限度値
と比較演算を行い結果を表示し端子に出力する処理を実
施するCPU、結果を表示するディスプレイ、判定結果
を出力する出力端子によって構成される。ここでRA
M、CPU、ディスプレイ装置、出力端子は、パーソナ
ルコンピュータなどの一般的なコンピュータ装置であっ
ても良い。
In order to achieve the above object, the present invention does not use arithmetic processing for frequency analysis, but separates and rectifies frequency components by a bandpass filter array,
It is a device that performs inspection by digitizing by an analog-digital converter and determining the frequency component level. A sensor such as a microphone or an accelerometer, an amplification unit that amplifies a signal, a bandpass filter array that separates frequency bands, a rectification unit that converts the output of the filter array into DC, and a signal converted into DC for each frequency band , An analog-to-digital converter that converts
A RAM for storing the digital value, a CPU for performing a comparison operation with a set limit value and displaying the result and outputting the result to a terminal, a display for displaying the result, and an output terminal for outputting the determination result. RA here
The M, the CPU, the display device, and the output terminal may be general computer devices such as a personal computer.

【0006】[0006]

【作用】本発明の異常音検査装置においては、検査物が
発生する音または振動を、マイクロフォンまたは加速度
ピックアップなどのセンサーを使用して電気信号に変換
し、その電気信号を増幅部により以降の信号処理を行う
各部で十分なS/N比が得られるまで増幅する。この増
幅された音または振動に相当する電気信号を、バンドパ
スフィルタ列に入れ複数の周波数帯域に分離し、各バン
ドパスフィルタの出力ごとに整流部で直流に変換して信
号の振幅に相当する直流電流を得る。この周波数ごとの
直流電圧を逐次アナログディジタル変換器により、数値
化を行ってRAMに記憶する。この記憶された周波数帯
域ごとの音または振動の成分を、あらかじめ設定して記
憶しておいた限度値とCPUによって比較演算を行うこ
とで、検査物の良/不良を判定することができる。
In the abnormal sound inspection apparatus of the present invention, the sound or vibration generated by the inspection object is converted into an electric signal by using a sensor such as a microphone or an acceleration pickup, and the electric signal is converted to a subsequent signal by the amplification section. Amplification is performed until a sufficient S / N ratio is obtained in each part where the treatment is performed. An electric signal corresponding to this amplified sound or vibration is put into a bandpass filter string to be separated into a plurality of frequency bands, and each output of each bandpass filter is converted into a direct current by a rectifying unit and corresponds to the amplitude of the signal. Get DC current. The DC voltage for each frequency is sequentially digitized by the analog-digital converter and stored in the RAM. By comparing the stored sound or vibration component for each frequency band with a limit value set and stored in advance by the CPU, it is possible to determine whether the inspection object is good or defective.

【0007】[0007]

【実施例】ここで添付図を参照して、本発明の実施例に
ついて説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the accompanying drawings.

【0008】図1は、本発明の構成を示すブロック図で
ある。本装置は、検査物が発生する音または振動のどち
らかで良/不良判定を行うことができるが、一般的に音
の場合は、センサーとしてマイクロフォンを、振動の場
合は加速度ピックアップなどの振動センサーを使用し
て、電気信号に変換して処理をおこなう。音の検査と振
動の検査の違いは、用いるセンサーが異なるだけである
ため、以下の説明では音の検査を行うものと仮定して記
述する。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the present invention. This device can judge good or bad by either sound or vibration generated by the inspection object. Generally, in the case of sound, a microphone is used as a sensor, and in the case of vibration, a vibration sensor such as an acceleration pickup. Is used to convert into an electrical signal for processing. Since the difference between the sound inspection and the vibration inspection is only in the sensor used, the following description will be made assuming that the sound inspection is performed.

【0009】図3は検査物の発生する音の原波形の例で
あり、仮に図3(A)が正常品、図3(B)が異常音を
含む不良品との音波形であるとする。図1において、検
査物1の発生する音はマイクロフォンなどのセンサー2
によって、電気信号に変換される。この信号は、まず増
幅器3において、以降の信号処理を行い易い振幅まで増
幅を行う。増幅された音に相当する電気信号は、バンド
パスフィルタ列4に同時に与えられる。この説明では、
5組のバンドパスフィルタがあるものとする。図4と図
5は、バンドパスフィルタ列の出力信号波形を示す。図
4は良品の場合で図3(A)の波形の場合の出力、図5
は不良品の場合で図3(B)の波形の場合の出力であ
り、図4と図5の(A)から(E)がそれぞれのバンド
パスフィルタの出力を示す。図4と図5を比較すると
(E)の出力に差があり、不良品の信号のみ異常音に相
当する波形が現れている。これらのバンドパスフィルタ
の出力波形は、次に図1に示す整流部5で直流信号に変
換される。図6および図7は整流部の出力波形であり、
図6が図4の良品のバンドパスフィルタ出力を、図7が
図5の不良品のバンドパスフィルタ出力を整流部に与え
た場合の出力波形を示す。それぞれの整流部出力波形
は、判定処理を行うために図1に示すAD変換部(アナ
ログディジタル変換器)6により、サンプリングを行
う。このサンプリングを継続的に行うことで、それぞれ
の周波数帯域ごとの信号のレベルの時間変化を捉えるこ
とができる。サンプリングされた各周波数帯域ごとの波
形データは、RAMに保存するとともに、あらかじめ設
定した制限値との比較判定をCPU8によって行う。図
8は判定の説明図であり、図7(E)に示す不良品に特
有な異常音の振幅波形を示す。図8において、あらかじ
め設定した制限値をtとすると、p、q、rの3箇所で
制限値を越えていることから、この波形の現れる検査品
を不良品と判定することができる。この判定結果は図1
のCPU8により、ディスプレイ9へ表示を行い、出力
端子10に出力する。
FIG. 3 is an example of the original waveform of the sound generated by the inspection object, and it is assumed that FIG. 3 (A) is a normal product and FIG. 3 (B) is a sound waveform of a defective product including an abnormal sound. . In FIG. 1, the sound generated by the inspection object 1 is a sensor 2 such as a microphone.
Is converted into an electric signal. This signal is first amplified by the amplifier 3 to an amplitude that facilitates subsequent signal processing. The electric signal corresponding to the amplified sound is simultaneously given to the bandpass filter array 4. In this description,
Assume that there are 5 sets of bandpass filters. 4 and 5 show output signal waveforms of the bandpass filter array. FIG. 4 shows a non-defective product and an output in the case of the waveform of FIG.
Shows the output in the case of a defective product and the waveform of FIG. 3 (B), and FIGS. 4 and 5 (A) to (E) show the output of each bandpass filter. Comparing FIG. 4 and FIG. 5, there is a difference in the output of (E), and only the signal of the defective product has a waveform corresponding to the abnormal sound. The output waveforms of these bandpass filters are then converted into DC signals by the rectifying unit 5 shown in FIG. 6 and 7 are output waveforms of the rectification unit,
FIG. 6 shows output waveforms of the non-defective bandpass filter output of FIG. 4 and FIG. 7 shows output waveforms of the defective bandpass filter output of FIG. Each rectifier output waveform is sampled by the AD converter (analog-digital converter) 6 shown in FIG. 1 in order to perform determination processing. By performing this sampling continuously, it is possible to capture the temporal change in the signal level for each frequency band. The sampled waveform data for each frequency band is stored in the RAM, and the CPU 8 determines whether the waveform data is compared with a preset limit value. FIG. 8 is an explanatory diagram of the determination and shows an amplitude waveform of an abnormal sound peculiar to the defective product shown in FIG. In FIG. 8, assuming that a preset limit value is t, since the limit values are exceeded at three points of p, q, and r, it is possible to determine an inspection product in which this waveform appears as a defective product. This judgment result is shown in Figure 1.
The CPU 8 displays on the display 9 and outputs to the output terminal 10.

【0010】図2は、本発明の別の実施形態であるが、
A/D変換部、CPU、ディスプレイ、出力端子を既存
のコンピュータ装置に置き換えたものである。
FIG. 2 shows another embodiment of the present invention.
The A / D converter, the CPU, the display, and the output terminal are replaced with an existing computer device.

【0011】[0011]

【発明の効果】本発明は、上記実施例より明らかなよう
に、複数のバンドパスフィルタに同時に信号を与えて周
波数帯域ごとの出力を取り出すことができるため、短時
間の判定が可能であり、サンプリングを継続すること
で、長時間の連続した異常音判定も可能であり、継続し
た異常音も捉えて判定することができる。また、周波数
帯域に分離することにより、ピーク判定だけでは判断が
不可能な異常音成分を検出することができる。
As is apparent from the above-described embodiment, the present invention can give a signal to a plurality of bandpass filters at the same time and take out an output for each frequency band, so that it is possible to make a determination in a short time. By continuing the sampling, it is possible to determine a continuous abnormal sound for a long time, and it is also possible to make a determination by capturing the continuous abnormal sound. Further, by separating the frequency band, it is possible to detect an abnormal sound component that cannot be determined only by peak determination.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例における異常音検査装置
のブロック図
FIG. 1 is a block diagram of an abnormal sound inspection device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施例における異常音検査装置
のブロック図
FIG. 2 is a block diagram of an abnormal sound inspection device according to a second embodiment of the present invention.

【図3】第1及び第2の実施例における音信号波形図FIG. 3 is a sound signal waveform diagram in the first and second embodiments.

【図4】同実施例における音信号の周波数帯域に分離し
た信号波形図
FIG. 4 is a signal waveform diagram separated into frequency bands of a sound signal in the example.

【図5】同実施例における音信号の周波数帯域に分離し
た信号波形図
FIG. 5 is a signal waveform diagram in which the sound signal is separated into frequency bands in the same example.

【図6】同実施例における音信号の周波数帯域に分離し
た信号の整流波形図
FIG. 6 is a rectified waveform diagram of a signal separated into frequency bands of a sound signal in the example.

【図7】同実施例における音信号の周波数帯域に分離し
た信号の整流波形図
FIG. 7 is a rectified waveform diagram of signals separated into frequency bands of sound signals in the example.

【図8】同実施例における異常音を示す特性図FIG. 8 is a characteristic diagram showing an abnormal sound in the example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検査物 2 センサ 3 増幅部 4 バンドパスフィルタ 5 整流部 6 アナログディジタル変換部 7 RAM 8 CPU 9 ディスプレイ 10 出力端子 11 コンピュータ装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection object 2 Sensor 3 Amplification section 4 Band pass filter 5 Rectification section 6 Analog-digital conversion section 7 RAM 8 CPU 9 Display 10 Output terminal 11 Computer device

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 音または振動の電気信号を周波数成分に
分解するバンドパス・フィルタ列と、周波数成分の時系
列サンプリングを行うアナログ・ディジタル変換装置
と、周波数成分レベルのしきい値判定を行う処理部を備
えた異常音検査装置。
1. A bandpass filter train for decomposing an electric signal of sound or vibration into frequency components, an analog / digital conversion device for performing time-series sampling of frequency components, and a process for performing threshold determination of frequency component levels. Abnormal sound inspection device with parts.
【請求項2】 音または振動の電気信号を周波数成分に
分解するバンドパス・フィルタ列ユニットと、周波数成
分の時系列サンプリングを行うアナログ・ディジタル変
換装置ユニットを内蔵または接続したコンピュータ装置
により、周波数成分レベルのしきい値判定を行う異常音
検査装置。
2. A frequency component is provided by a computer device having a bandpass filter array unit for decomposing an electric signal of sound or vibration into frequency components and an analog / digital converter unit for performing time-series sampling of frequency components by a computer device. Abnormal sound inspection device that performs level threshold judgment.
JP6232881A 1994-09-28 1994-09-28 Abnormal sound inspection device Pending JPH0894430A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6232881A JPH0894430A (en) 1994-09-28 1994-09-28 Abnormal sound inspection device

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JP6232881A JPH0894430A (en) 1994-09-28 1994-09-28 Abnormal sound inspection device

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Publication Number Publication Date
JPH0894430A true JPH0894430A (en) 1996-04-12

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ID=16946307

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JP6232881A Pending JPH0894430A (en) 1994-09-28 1994-09-28 Abnormal sound inspection device

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JP (1) JPH0894430A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007199017A (en) * 2006-01-30 2007-08-09 Omron Corp Allophone clarification method, allophone clarification device, and allophone inspection device

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007199017A (en) * 2006-01-30 2007-08-09 Omron Corp Allophone clarification method, allophone clarification device, and allophone inspection device

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