JPH0896395A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置

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JPH0896395A
JPH0896395A JP6226728A JP22672894A JPH0896395A JP H0896395 A JPH0896395 A JP H0896395A JP 6226728 A JP6226728 A JP 6226728A JP 22672894 A JP22672894 A JP 22672894A JP H0896395 A JPH0896395 A JP H0896395A
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JP
Japan
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current
semiconductor laser
operational amplifier
drive circuit
photodetector
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JP6226728A
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English (en)
Inventor
Koichi Sho
宏一 庄
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 広帯域にわたって高精度の光強度変調を可能
とすると共に、レーザパワーの異常をリアルタイムで簡
便に検知する半導体レーザ装置を提供する。 【構成】 本発明による半導体レーザ装置は、半導体レ
ーザと、この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆
動回路と、半導体レーザの出力光を検出する光検出素子
と、この光検出素子の出力電流が電流の形のまま負帰還
されて基準信号電流との誤差信号電流を出力して電流駆
動回路を制御する駆動電流制御手段と、前記誤差信号電
流が所定のスレショルドレベルを越えるときにレーザパ
ワーの異常を検知して前記電流駆動回路を介して前記半
導体レーザの発光を停止させるレーザパワー異常検知手
段とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体レーザ装置に係
り、特に広帯域に渡って高精度の光強度変調を可能とし
た半導体レーザ装置を用いてレーザパワーの異常をリア
ルタイムで検知し得るようにした半導体レーザ装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】周知のように、半導体レーザは、直接光
強度変調が可能であり、小型で低消費電力、かつ高効率
であるといった利点を有するため光学式情報記録再生装
置としての光ディスク装置やレーザ・プリンタ、光デー
タ通信システム等に広く利用されている。
【0003】しかしながら、現状の半導体レーザは、次
のような理由により出射光量の変動が生じるという問題
がある。 (1)温度変化や経年変化による微分量子効率の変化。
【0004】(2)温度変化や反射光(戻り光)による
しきい値電流の変化。 (3)戻り光によるモード・ホッピング雑音の発生。 したがって、半導体レーザを駆動する半導体レーザ装置
としては、その出射光量をモニターして安定化する制御
回路が不可欠である。
【0005】特に光ディスク装置では、大容量化とデー
タの高速処理のために、広帯域に渡って精度の高い光強
度変調と再生時の低雑音化が強く要求されている。この
ため、従来の半導体レーザ装置では、半導体レーザから
射出されたレーザ出力光をモニタする光検出器が設けら
れ、その検出信号は抵抗器等を用いてモニタ電圧信号に
変換される。
【0006】このモニタ電圧信号は、演算増幅器の入力
端子に負帰環される。すなわち、演算増幅器は、望まし
い出射光量を示す基準電圧信号と、モニタ電圧信号とを
比較し、その差分に対応した誤差信号を生成する。
【0007】この誤差信号は、半導体レーザの電流駆動
回路に制御信号として与えられ、これにより半導体レー
ザの出力光量は常に基準レベルに近づくように制御され
る。しかしながら、このような従来の半導体レーザ装置
の制御帯域は低く留まっており、レーザ光強度変調の精
度も未だ満足すべきものとはなっていない。
【0008】その第1の理由は、モニタ用光検出器の接
合容量の存在が制御帯域を制限するからである。また、
第2の理由は、モニタ用光検出器のローパスフィルタ
(LPF)特性もまた、制御帯域の拡張を阻む要因とな
るからである。
【0009】さらに、第3の理由は、半導体レーザの制
御ループ内で必然的に発生する電圧帰還信号の伝送時間
の遅延が、制御系の位相マージンを減少させるからであ
る。なお、従来技術として1988年発行の三菱電気情
報公報、第62巻、第7号、26〜29頁には、“書換
え型高性能光記録技術”を用い、光ディスクシステムに
適用され、二つの異なったレーザ発振安定化動作をおこ
なう半導体レーザの制御回路が開示されている。
【0010】この制御回路は、半導体レーザのしきい値
変動補償には狭制御帯域のフィードバック(閉ループ)
制御方式を採用し、かつ微分量子効率の変動に対しては
開ループ制御方式を採用している。
【0011】しかし、このような二種類のレーザ発振安
定化制御システムによれば、各制御系には独立した回路
構成が要求されるから、装置全体の構成は複雑化する。
そして、さらに重要なことには、光データ記録モードに
おいては、温度変化に原因した半導体レーザの微分量子
効率が変動することに起因して、半導体レーザを内蔵し
ている光学ヘッド部のハウジングの温度が上昇してしま
い、この結果、光強度変調の精度が劣化してしまうこと
である。このような精度劣化は、レーザ安定化制御の性
能を深刻に劣化させてしまう。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】このように従来の半導
体レーザ装置では、広帯域が困難であると共に、半導体
レーザの微分量子効率およびしきい値電流の変動により
光強度変調を高精度に行うことが難しく、また制御回路
が複雑になる、という問題があった。
【0013】また、光ディスク装置で情報の記録(ライ
ト)、再生(リード)及び消去(イレーズ)の各モード
に応じたレーザパワーにコントロールされる必要がある
と共に、これらの各モードにおけるレーザパワーの異常
に応じて直ちに半導体レーザを適切な状態にコントロー
ルしてやる必要があるにもかかわらず、レーザパワーの
異常をリアルタイムで簡便に検知し得るような従来技術
が存在していなかった。
【0014】そこで本発明は、以上のような点に鑑みて
なされたもので、制御回路を複雑にすることなく、広帯
域にわたって高精度の光強度変調を可能とすると共にレ
ーザパワーの異常をリアルタイムで簡便に検知し得るよ
うにした半導体レーザ装置を提供することを目的とす
る。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明によると、上述し
た課題を解決するために、半導体レーザと、この半導体
レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路と、前記半導
体レーザの出力光を検出する光検出素子と、入力端子に
前記光検出素子の出力電流が負帰還される演算増幅器を
有し、この演算増幅器の出力端子に得られる誤差信号を
前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号として供給する
駆動電流制御手段と、前記演算増幅器の出力端子に得ら
れる誤差信号が所定のスレショルドレベルを越えるとき
にレーザパワーの異常を検知して前記電流駆動回路を介
して前記半導体レーザの発光を停止させるレーザパワー
異常検知手段と、を備えたことを特徴とする半導体レー
ザ装置が提供される。
【0016】また、本発明によると、半導体レーザと、
この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路
と、前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子
と、入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還され
る演算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得ら
れる誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号
として供給する駆動電流制御手段と、この駆動電流制御
手段の出力端子と前記入力端子間に設けられて位相遅れ
を補償するための補償電流を前記入力端子に負帰還する
位相補償手段と、前記演算増幅器の出力端子に得られる
誤差信号が所定のスレショルドレベルを越えるときにレ
ーザパワーの異常を検知して前記電流駆動回路を介して
前記半導体レーザの発光を停止させるレーザパワー異常
検知手段と、を備えたことを特徴とする半導体レーザ装
置が提供される。
【0017】また、本発明によると、半導体レーザと、
この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路
と、前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子
と、入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還され
る演算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得ら
れる誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号
として供給する駆動電流制御手段と、この駆動電流制御
手段の出力端子と前記入力端子間に設けられて位相遅れ
を補償するための補償電流を前記入力端子に負帰還する
位相補償手段と、前記演算増幅器の出力端子に得られる
誤差信号が所定のスレショルドレベルを越えるときにレ
ーザパワーの異常を検知して前記電流駆動回路を介して
前記半導体レーザの発光を停止させるレーザパワー異常
検知手段と、を備え、前記位相補助手段は、キャパシタ
またはキャパシタと抵抗の直列回路により構成されてい
ることを特徴とする半導体レーザ装置が提供される。
【0018】また、本発明によると、半導体レーザと、
この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路
と、前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子
と、入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還され
る演算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得ら
れる誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号
として供給する駆動電流制御手段と、前記演算増幅器の
出力端子に得られる誤差信号が所定のスレショルドレベ
ルを越えるときにレーザパワーの異常を検知して前記電
流駆動回路を介して前記半導体レーザの発光を停止させ
るレーザパワー異常検知手段と、を備え、前記駆動電流
制御手段は、その伝達関係が、低周波領域の利得を大き
く保つ一つの極と、高周波領域の位相遅れを補償する零
点とを有することを特徴とする半導体レーザ装置が提供
される。
【0019】また、本発明によると、半導体レーザと、
この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路
と、前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子
と、入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還され
る演算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得ら
れる誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号
として供給する駆動電流制御手段と、この駆動電流制御
手段の出力端子と前記入力端子間に設けられて位相遅れ
を補償するための補償電流を前記入力端子に負帰還する
位相補償手段と、前記演算増幅器の出力端子に得られる
誤差信号が所定のスレショルドレベルを越えるときにレ
ーザパワーの異常を検知して前記電流駆動回路を介して
前記半導体レーザの発光を停止させるレーザパワー異常
検知手段と、を備え、前記駆動電流制御手段は、その伝
達関係が、低周波領域の利得を大きく保つ一つの極と、
高周波領域の位相遅れを補償する零点とを有することを
特徴とする半導体レーザ装置が提供される。
【0020】さらに、本発明によれば、半導体レーザ
と、この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回
路と、前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子
と、入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還され
る演算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得ら
れる誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号
として供給する駆動電流制御手段と、この駆動電流制御
手段の出力端子と前記入力端子間に設けられて位相遅れ
を補償するための補償電流を前記入力端子に負帰還する
位相補償手段と、前記演算増幅器の出力端子に得られる
誤差信号が所定のスレショルドレベルを越えるときにレ
ーザパワーの異常を検知して前記電流駆動回路を介して
前記半導体レーザの発光を停止させるレーザパワー異常
検知手段と、を備え、前記駆動電流制御手段は、その伝
達関係が、低周波領域の利得を大きく保つ一つの極と、
高周波領域の位相遅れを補償する零点とを有し、前記位
相補助手段は、キャパシタまたはキャパシタと抵抗の直
列回路により構成されていることを特徴とする半導体レ
ーザ装置が提供される。
【0021】
【作用】上述した解決手段によると、本発明では演算増
幅器の入力端子に半導体レーザの光出力をモニタする光
検出素子の出力を電流の形で負帰還することによって、
制御回路全体は等価的に、光検出素子の接合容量等が帰
還ループの外に出た、簡単な反転増幅器として見做すこ
とができるようになる結果、従来のように光検出素子の
接合容量に影響されることなく、帰還パラメータの調整
ができ、広帯域に渡って高精度のレーザ光強度変調の制
御が可能になると共に、レーザパワー異常検知手段によ
って前記演算増幅器の出力端子に得られる誤差信号が所
定のスレショルドレベルを越えるときレーザパワーの異
常をリアルタイムで簡便に検知して前記電流駆動回路を
介して前記半導体レーザの発光を停止させる。
【0022】
【実施例】先ず、本発明が適用される基本例を図面を参
照して説明する。図1は、本発明が適用される第1の基
本例の半導体レーザ装置の構成を示すブロック図であ
る。
【0023】図示のようにこの装置は、半導体レーザ1
2、この半導体レーザ12に駆動電流を供給する電流駆
動回路16、半導体レーザ12の出力光を検出する光検
出素子22、外部からの制御電圧Vc によって電流駆動
回路16を制御するための演算増幅器14等により構成
される。
【0024】外部からの制御電圧Vc は例えば、ライト
信号としてディジタル情報を表わすように強度変調され
た変調信号電圧であり、これが端子18から抵抗素子R
i を介して制御電流Ii として演算増幅器14の反転入
力端子29に入力されている。
【0025】この演算増幅器14の非反転入力端子20
には基準電圧Vr が入力されている。光検出素子22は
例えば、pinフォトダイオードであり、図のブロック
24で示されるレーザピックアップ部内に半導体レーザ
12と併置されている。
【0026】光検出素子22は端子26に直流逆バイア
ス電圧Vbiasが印加されて、半導体レーザ12からの出
力光の一部、例えば全出射光量の3%程度の光を検出す
るようになっている。
【0027】この光検出素子22の出力電流Im は、そ
のまま帰還路28を介して演算増幅器14の非反転入力
端子29に帰還されている。前記演算増幅器14の出力
端子と帰還路の間には、光検出素子22の応答特性を改
善するための位相補償回路30として、この例ではキャ
パシタCc が設けられている。
【0028】したがって、この位相補償回路30からの
補償電流と光検出素子22からの出力電流Im とが帰還
路上で加算されて、全帰還電流If として演算増幅器1
4の非反転入力端子29に帰還されることになる。
【0029】このような構成において、半導体レーザ1
2の出力光量が変動すると、その変動量は帰還電流If
として演算増幅器14に負帰還される。このとき、制御
電圧Vc によって抵抗素子Ri に流れる制御電流Ii と
帰還電流If との間の差電流に応じて、演算増幅器14
の出力には誤差電圧Ve が発生する。
【0030】この誤差電圧Ve が電流駆動回路16に制
御信号として与えられ、誤差電圧Ve が零となるよう
に、すなわち半導体レーザ12の出力光量の変動が補償
されるように電流駆動回路16が制御されることにな
る。
【0031】このような半導体レーザ装置によれば、電
流モードでのフィードバック制御を行うことによって、
広帯域に渡って簡単な制御回路構成で高精度の半導体レ
ーザの光強度変調が可能になっている。その理由を次に
詳しく説明する。
【0032】図2は、演算増幅器14の帰還路の構成
を、等価的にブロック回路38で表したものである。ブ
ロック32は、図1の電流駆動回路16の変換利得係数
Ki (A/V)を表わす伝達要素である。
【0033】ブロック34は、半導体レーザ12の微分
量子効率Ks (W/V)を表わす伝達要素である。ブロ
ック36は、光検出素子22のモニタ効率Km (A/
W)を表わす伝達要素である。
【0034】これらの各伝達要素32,34,36の直
列回路が等価的に、演算増幅器14のための帰還抵抗素
子Rf として機能する。なぜなら、伝達要素Ki ,Ks
,Km の直列回路の入力端子に、演算増幅器14の出
力電圧(誤差電圧)Ve を印加したときは、結果として
得られる電流Ifは、以下の式により与えられるからで
ある。
【0035】 If =Ve ・Ki ・Ks ・Km …(1) したがって、ブロック回路部38の抵抗Rf は、等価的
に Rf =1/Ki ・Ks ・Km …(2) により定義される。
【0036】このことは、上記ブロック回路部38が、
等価的に、演算増幅器14の帰還制御のための帰還抵抗
素子Rf として働くことを意味している。この場合の演
算増幅器14の帰還回路構成は、図3に等価的に示され
ている。
【0037】この等価回路において、演算増幅器14の
反転入力と非反転入力間に接続されているキャパシタC
sjは、光検出素子22それ自身の接合容量(浮遊容量を
含む)を表わしている。
【0038】図3から明らかなように、図1に示す制御
回路全体の構成は演算増幅器を用いた簡単な反転増幅器
と等価になる。そして、演算増幅器14の帰還パラメー
タは、光検出素子22の接合容量等の影響を受けること
なく、調整することができ、したがって高精度の光強度
変調が可能になる。
【0039】また演算増幅器14のための帰還抵抗素子
を付加的に設ける必要性を排除できる。したがって、半
導体レーザ12用の制御回路構成は簡略になる。
【0040】また、位相補償用キャパシタCc は、制御
ループ内での遅延時間による応答特性の劣化を補償して
おり、これにより広帯域に渡る制御が可能となってい
る。ところで、以上のような第1の基本例において、さ
らに広帯域化を図る上で障害になるのは、制御ループの
位相余有を劣化させる次の二つである。
【0041】(a)第1には、電流駆動回路16から光
検出素子22に至る帰還ループの遅延時間と光検出素子
22が持つ低域通過フィルタ(LPF)特性とによって
生じる位相遅れである。
【0042】(b)第2には、入力部の容量Csjと入力
抵抗Ri によるLPF特性による位相遅れである。具体
的に例えば、(a)の位相遅れについて数値例を挙げる
と、遅延時間が2nsec 、LPFの遮断周波数が100
MHzである場合、周波数50MHzにおいて位相遅れ
は63度にもなる。
【0043】これは、広帯域化を困難にするから、この
ような位相遅れに対する補償が一層の広帯域化のために
は必要である。以下には、このような位相遅れに対する
補償を行った第2,第3の基本例を説明する。
【0044】図4は、第2の基本例の半導体レーザ装置
を示している。図4において、図1と対応する部分には
図1と同一符号を付して詳細な説明は省略する。この第
2の基本例では、位相補償回路30として、キャパシタ
Cc と抵抗Rc の直列回路によって理想抵抗化したもの
を用いている。
【0045】通常、半導体レーザの緩和周波数は1GH
z以上であり、制御信号Vに対する演算増幅器14の出
力Ve の応答特性がそのまま半導体レーザ12の光出力
に反映される。
【0046】したがって、制御ループの広帯域化を考え
る場合、反転増幅器として働く演算増幅器14の応答特
性のみに着目すれば良いことになる。上述した(a)の
位相遅れによる障害は、光検出素子22からの帰還電流
Ifの応答遅延と高周波域での減衰特性として現れる。
【0047】この第2の基本例では、位相補償回路30
をキャパシタCc と抵抗Rc の直列回路として、補償電
流Ic の応答遅れをなくすことによって、これを解決し
ている。
【0048】この第2の基本例によって広帯域化が図ら
れる理由を以下に解析的に説明する。図5は、この第2
の基本例の演算増幅器14の帰還ループの構成を、先の
第1の基本例の図2と同様の方法でブロックで示したも
のである。
【0049】図示のように演算増幅器14の帰還制御ル
ープは、伝達関数Ki ,Ks ,Km(s)を夫々もつ3つの
伝達要素32′,34′,36′の直列回路38′とし
て等価的に表わすことができる。
【0050】この直列回路38′は、帰還抵抗Rf 及び
帰還インダクタンスLf の直列回路と見ることができ
る。図5において、光検出素子22のモニタ効率Km
(A/W)を表わす伝達要素36′が、上述した遅延時
間をもち、かつLPF特性を含む。
【0051】したがって、伝達要素36′の伝達関数K
m(s)は、 Km(s)=Km ・ωd ・ωp /(s+ωd )(s+ωp ) …(3) となる。
【0052】但し、ωd は遅延時間を一次近似して得ら
れる極を表わし、ωp はLPF特性の極を表わしてい
る。(3)式においては、s2 の項は制御系に影響を与
えることがないので無視している。
【0053】式(2)と式(3)とを考慮すれば、帰還
インピーダンスZf(s))は、 Zf(s)=Rf +sLf =Rf +s{Rfs・ωd ・ωp/(ωd +ωp )} …(4) となる。
【0054】この式(4)は、演算増幅器14の帰還路
は、図5に示されているように、抵抗Rf とインダクタ
ンスLf の直列回路と等価であることを示している。し
たがって、この半導体レーザ装置は、図6に示されてい
るように、帰還インピーダンス部Zt(s)をもつ反転増幅
回路として等価的に考えることができる。
【0055】この帰還インピーダンスZt(s)は、 Zt(s)=Rc {s2 +s(Rf /Lf +Rc /Lf )+Rf /Rc Lc } /{s2 +s(Rf /Lf +1/Rc Cc )+Rf /Rc Lc } …(5) で与えられる。
【0056】したがって、(5)式の分母と分子を等し
くすることによって、帰還インピーダンスZt(s)を理想
抵抗化することができる。すなわち、理想抵抗化の条件
は、 Rc =Rf …(6) Cc =Lf /Rf 2 …(7) として求められる。
【0057】このようにして、この第2の基本例によれ
ば、理想抵抗化の条件を満たすように位相補償回路30
を構成することによって、帰還ループの遅延時間と光検
出素子22の持つLPF特性に起因して生じる位相遅れ
を補償することができ、その結果半導体レーザ光強度制
御の広帯域化が可能になる。
【0058】次に、もう一つの広帯域化の障害は、上述
の(b)すなわち、入力部の容量Csjと入力抵抗Ri に
よるLPF特性による位相遅れである。例えば、入力部
の容量Csjは前述のように光検出素子22の接合容量で
ほぼ決まり、その値は数pFとなる。
【0059】入力抵抗Ri を2kΩとした場合、このL
PFの遮断周波数は十数MHzとなり、制御帯域を大幅
に制限することになる。この制御帯域の制限とこれに対
する対策を、図7に参照して説明する。
【0060】図7は、図1の半導体レーザ装置を電流モ
ードに変換して表したものである。等価帰還抵抗Rf に
よる帰還電流If は、加算点50に帰還される。この加
算点50で、制御電圧Vc と抵抗Rc を等価的に示した
電流源52からの制御電流Ii と帰還電流If が加算さ
れる。
【0061】また位相補償回路30の等価インピーダン
スZ(s) による補償電流Ic は加算点52に帰還され、
ここで加算点50からの出力電流と加算される。以上の
加算電流は、入力抵抗Ri 、入力部の容量Csi、演算増
幅器14の入力抵抗Rg 、および位相補償回路30の容
量Cc を含む並列インピーダンス56に流れて、入力部
の誤差電圧が得られる。
【0062】したがって、制御ループの伝達関数の中
に、並列インピーダンス56で決定される極、すなわち
一次のLPF特性が付加されることになる。このLPF
特性が帯域制限の原因となる。
【0063】そしてこのLPF特性による制御帯域の制
限を補償するには、図から容易に理解されるように、演
算増幅器14の伝達関数F(s) に別の零点を追加すれば
よい。
【0064】図8は、このような観点から広帯域化を図
った第3の基本例の半導体レーザ装置である。図1と対
応する部分にはここでも図1と同一符号を付してある。
【0065】この第3の基本例では、図1の演算増幅器
14の部分を、演算増幅器62と補償増幅器64を組み
合わせた駆動電流制御回路60として構成している。演
算増幅器62は、上述した一次のLPF特性を持つ汎用
の演算増幅器である。
【0066】これに対して補償用増幅器64は、演算増
幅器62の伝達関数に零点を追加して高周波特性を補償
するために、演算増幅器62に並列接続されている。こ
れら増幅器62,64の出力は加算点66で並列加算結
合される。
【0067】但し、演算増幅供給62は反転増幅器であ
るから、加算点66では実際には出力の減算になる。こ
の第3の基本例による制御帯域の広帯域化を、次に解析
的に説明する。
【0068】汎用演算増幅器62の伝達関数をA(s) と
すると、 A(s) =Ka ・ω1 /(s+ω1 ) …(8) として表わされる。ω1 は零点である。
【0069】一方、増幅器62,64が並列接続されて
構成される駆動電流制御回路60の所望の伝達関数F
(s) を、 F(s) =Ka ・ω1 ・(s+ω2 )/(s+ω1 )・ω2 …(9) とすれば、これを満たす補償増幅器64の伝達関数H
(s) は、 H(s) =F(s) −A(s) =(Ka ・ω1 /ω2 ){s/(s+ω1 )} …(10) として求まる。
【0070】ω2 は、補償のために追加されるもう一つ
の零点である。すなわち、補償増幅器64は、式(1
0)に示されるようにゲインKa ・ω1/ω2 を持つ一
次ハイパスフィルタ(HPF)特性を持つようにすれ
ば、駆動電流制御回路60として(9)式で表わされる
特性が得られる。
【0071】第2の零点ω2 は、補償増幅器64のゲイ
ンを調整することにより、伝達関数F(s) 特性の所望の
位置に配置することができる。つまり、第2の零点ω2
を、演算増幅器62の極ω1 で決まる制限帯域外の高周
波領域の所望の位置に設定することによって、駆動電流
制御回路60全体として広帯域化を図ることができる。
【0072】図9は、この第3の基本例による制限帯域
拡大の様子を示す利得−周波数特性である。演算増幅器
62の伝達関数A(s) は曲線70で示され、補償用増幅
器64の伝達関数H(s) は曲線72〜74で示され、全
体としての駆動電流制御回路60の伝達関数F(s) はこ
れらを合成した曲線70〜74で示される。
【0073】補償用増幅器64のゲインKh は、(1
0)式から、Kh =Ka ・ω1 /ω2である。例えば、
演算増幅器62の制御帯域の零点ω1 を20MHzと
し、そのゲイン交差周波数ωh を60MHzとすれば、
追加する零点ω2 をほぼωh に設定して、補償用増幅器
64に必要なゲインは、演算増幅器62のそれの1/3
となる。
【0074】これはトランジスタ一段で実現可能なゲイ
ンであり、したがってこの補償用増幅器64の接続によ
って制御ループの遅延時間は一層短くなる。図10は、
以上に説明した第1乃至第3の基本例を全て考慮に入れ
て具体化した第4の基本例の半導体レーザ装置を示して
いる。
【0075】図10における演算増幅器80が先の実施
例で説明した演算増幅器14或いは62に相当する。n
pnトランジスタ82,84の部分が補償用増幅器64
を構成している。
【0076】トランジスタ82のエミッタ出力とトラン
ジスタ84のベース間に設けられたキャパシタ86がこ
の補償用増幅器の一次のHPF特性を決定している。こ
れら二つの増幅器の出力加算は、npnトランジスタ8
4と88の電流加算により実現している。
【0077】加算比は、抵抗94,96および90によ
り設定され、この加算結果により所望の伝達関数F(s)
が決定される。二つの増幅器の出力加算結果は、バッフ
ァ用トランジスタ92を介して出力される。
【0078】このバッファ出力が抵抗87とキャパシタ
89を介して演算増幅器80の反転入力端子に補償電流
として帰還されている。すなわち、抵抗87とキャパシ
タ89が、前述の位相補償回路30を構成する抵抗Rc
とキャパシタCc に相当する。
【0079】但し、厳密には、抵抗87は、抵抗Rc か
らバッファ用トランジスタ92の出力抵抗を引いた値に
なる。この補償電流の負帰還によって、広帯域化時の制
御特性の安定化が図られることになる。
【0080】バッファ用トランジスタ92の出力は、電
流駆動回路16を構成するトランジスタ100,102
のベースに供給されている。これらのトランジスタ10
0,102のコレクタが半導体レーザ12に接続され
て、半導体レーザ12に駆動電流が供給される。
【0081】トランジスタ102のエミッタは抵抗10
4,106を介して接地されている。抵抗106は駆動
電流検出用であって、その電位降下をトランジスタ10
1が検出する。検出結果はトランジスタ114に与えら
れ、このトランジスタ114が半導体レーザ12の駆動
電流を制限する。
【0082】電流検出用のトランジスタ101のエミッ
タに設けられた抵抗116は、電流制限特性を緩やかに
動作させるためのものである。電流検出用トランジスタ
101に並列に接続されたトランジスタ118は、外部
的にこのレーザ制御回路動作をオン,オフ制御するため
に設けられている。
【0083】異常が発生した場合にこのトランジスタ1
18をオンにすることによって、電流制御用トランジス
タ114をオフにし、もって半導体レーザ12の出力を
完全にオフすることができる。
【0084】以上の回路構成では、制御ループのゲイン
交差周波数近傍で動作するのは、トランジスタ82,8
4,88,94の4段のみであり、ここでの遅延時間は
1nsec 以下とすることが容易であり、しかも、制御帯
域の広帯域化が図られる。
【0085】そして、この広帯域化によって、半導体レ
ーザが発生するノイズもより広帯域で抑圧することがで
きる。この場合の実験によれば、帰還制御を全く行わな
い場合と比較して、以上のような帰還制御を施すことに
より10dB以上のノイズ低減が可能であることが確認
されている。
【0086】図11乃至図13は、実験の測定結果であ
り、図11は、駆動電流制御回路のゲイン特性(曲線1
50)と位相特性(曲線152)である。これに対して
図12は、図10に示した第4の基本例の半導体レーザ
制御ループのゲイン特性(曲線160)と位相特性(曲
線162)である。
【0087】制御帯域が175MHzと高周波域まで安
定にレーザ光出力制御が行われていることがわかる。ま
た図13は、以上による帰還制御をオン,オフした場合
のノイズ低減の効果を示すもので、10dB以上のノイ
ズ低減が図られていることが分かる。
【0088】図14は、以上のような基本例による半導
体レーザ装置を光ディスク装置に適用した例を示してい
る。演算増幅器14と電流駆動回路16を含む制御駆動
回路部201は、制御電圧Vc 、基準電圧Vf 等を発生
する記録/再生コントローラ210によって制御され
る。
【0089】半導体レーザ12及びモニタ用光検出素子
2(pinフォトダイオード)22は、固定された光学
ユニット200内に設けられている。データ書込み時、
半導体レーザ12は、情報によりアナログ的にまたはデ
ジタル的に変調された制御電圧Vc に従ってレーザビー
ムを出射する。
【0090】この半導体レーザ12の出力光ビームは、
レンズ、複合プリズム、ミラー等により構成される光学
系202により、読出し/書込み用光学ヘッド204に
導かれる。
【0091】光学ヘッド204はこの光ディスク装置に
セットされて回転する光ディスク206の半径方向に直
線的に移動可能である。半導体レーザ12が光ディスク
206に光学的に記録された情報を読出しまたは再生す
るための弱い光強度のレーザビームを出力する場合に
も、その読出しビームは、同様にして光学系202及び
ヘッド204により、光ディスク206に導かれる。
【0092】半導体レーザ12からの出力光の一部は複
合プリズムによって分離されて、光検出素子22に入力
され、モニターが行われる。ここで、光検出素子22の
前面には集光レンズ208が設けられ、モニタ光ビーム
を収束させて効率よく、光検出素子22に入力するよう
になっている。光ディスク206の表面に近接して、温
度センサ212が配置されている。コントローラ210
は、温度センサ212からの雰囲気温度検出信号St に
応答して、制御電圧Vc の平均値或いは基準電圧Vr の
レベルを適切に更新するようになっている。
【0093】以上説明したように本発明の基本例によれ
ば、外部からの制御電圧を抵抗を介して制御電流の形で
演算増幅器の入力端子に与え、モニタ用光検出素子の出
力電流をやはり電流の形で演算増幅器の入力端子に負帰
還することによって、半導体レーザ制御回路全体を、等
価的に、帰還パラメータが光検出素子の接合容量の影響
を受けずに調整できる簡単な反転増幅器として扱えるよ
うにし、もって半導体レーザの光強度変調を広帯域に渡
って高精度で行うことができる。
【0094】次に、以上のような基本例の構成により広
帯域に渡って高精度で光強度変調を可能とした半導体レ
ーザ装置において、レーザパワーの異常を簡便にリアル
タイムで検知し得るようにした本発明の実施例について
図面を参照して説明する。
【0095】図15は本発明の一実施例が適用される半
導体レーザ装置の要部の構成を概念的に示すブロック図
である。図15において、レーザパワーコントロール回
路200は半導体レーザ12の出力パワーを制御する。
【0096】この半導体レーザ12からのレーザ光はプ
リズム207で光ディスク206に照射されると共に、
その一部が光検出素子22でモニタされる。そして、光
検出素子からの光電変換電流はレーザパワーコントロー
ル回路220に負帰還される。
【0097】図16は、レーザパワーコントロール回路
220はの詳細構成を示すブロックであり、上述した基
本例の半導体レーザ装置における抵抗Ri 、(誤差検出
用)演算増幅器14、(レーザ)電流駆動回路16及び
位相補償回路30を含むと共に、レーザパワーしきい値
設定回路221及びレーザパワー異常検出回路222を
含んでいる。
【0098】すなわち、演算増幅器14、電流駆動回路
16及び位相補償回路30は先に示した各基本例のそれ
と同様に、半導体レーザ装置が広帯域に渡って高精度で
光強度変調を簡単な構成で実現することに寄与してい
る。
【0099】そして、レーザパワー異常検知回路222
は、演算増幅器14からの誤差電流Ierr をレーザパワ
ーしきい値設定回路221からの後述るようなしきい値
でもってモニタすることにより、レーザパワーの異常が
生じたときはそれをリアルタイムで検知して直ちに電流
駆動回路16を介して半導体レーザ12の駆動を停止さ
せる如く機能する。
【0100】具体的には、第4の基本例で述べたように
図10に示すトランジスタ118をオンすることによっ
て、電流制限用トランジスタ114をオフにして半導体
レーザ12の出力を完全にオフにするようにしてやれば
よい。
【0101】次に、以上のようなレーザパワーの異常を
リアルタイムで検知する機能を有する本発明の実施例と
して光ディスク装置に適用した場合について説明する。
なお、図15及び図16において前述した各基本例と対
応する部分には図1乃至図14の該当部と同一符号を付
してそれらの詳細な説明は省略するものとする。
【0102】光ディスク装置のレーザパワー(光量)コ
ントロール部の構成を示す15,図16において、ま
ず、レーザパワーコントロール回路220の内部の基準
信号生成回路223または外部のコントローラ210
で、リードモード、ライトモード、イレーズモードの各
モードでの基準信号を生成し、この信号に応じた光量だ
け発光するように半導体レーザ(以下LDと記す)12
を発光させる。
【0103】次に発光したLD12の光は、プリズム2
07を通して、レーザパワーコントロール専用の光検出
素子(以下PDと記す)22に入射する。PD22に入
った光は、電気信号に変換され、レーザパワーコントロ
ール回路220に伝えられる。
【0104】次にレーザパワーコントロール回路220
に伝えられたPD22からの電気信号は、各モードでの
基準信号と比較し、誤差がなくなるようにLD12を発
光させる。
【0105】これにより、プリズム207により偏向さ
れて光ディスク206に照射されるレーザパワーを一定
に保つことができる。ここで、各モード時の基準信号
と、PD22からの電気信号との比較は、図16に示す
レーザパワーコントロール回路210内の誤差検出用演
算増幅器14で行われるようになっている。
【0106】PD22からの電気信号をIpd、各モード
時の基準信号をIref 、比較した誤差信号をIerr とす
ると、 Ierr =Iref +Ipd …(11) であり、基準信号Iref に応じた光量でLD12が発光
している場合、Ierr は0となっている(図17に示す
a領域参照)。
【0107】しかし、通常レーザパワーは、温度などの
影響により、わずかに変動するためIpdもわずかに変化
し、誤差信号Ierr に表れる(図17のb領域参照)。
次に、レーザパワーが大きく変化、もしくは基準信号I
ref に応じた光量と大きく異なる光量の場合、誤差信号
Ierr も大きな値を示す(図17のc領域参照)。
【0108】このことより、誤差信号Ierr はレーザパ
ワーが、各モード時の基準信号Iref に応じたレーザパ
ワーとの光量比較として用いることができる。よって、
各モード時において誤差信号Ierr に図17に示すよう
なスレショルドレベルTH1 ,TH2 を設け、その値を
誤差信号Ierr が越えたとき、レーザパワーが異常であ
るとの判断が行えるので、これにより、レーザパワーを
リアルタイムに異常検知することができる。
【0109】すなわち、演算増幅器14からの誤差信号
Ierr は、前述したように(レーザ)電流駆動回路16
に供給されると共に、レーザパワー異常検知回路222
にも供給される。
【0110】ここで、レーザパワー異常検知回路222
は、上記誤差信号Ierr が内部のレーザパワーしきい値
設定回路221または外部のコントローラ210から設
定される上述したようなスレショルドレベルTH1 ,T
H2 (Vt )を越えたとき即レーザパワーの異常をリア
ルタイムで検知して、上述したように電流駆動回路16
を介してLD12の発光を停止せしめると共に、コント
ローラ210にレーザパワーが異常であることを通知す
る。これにより、コントローラ210は以後の必要な措
置をとることをオペレータ等に報知することができるよ
うになる。
【0111】
【発明の効果】従って、以上詳述したように、本発明に
よれば、制御回路を複雑にすることなく、広帯域にわた
って高精度の光強度変調を可能とすると共にレーザパワ
ーの異常をリアルタイムで簡便に検知し得るようにした
半導体レーザ装置及びそれを用いる光学式情報記録再生
装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の基本例の半導体レーザ装置の構成を示す
図。
【図2】同基本例の帰還路の等価構成を示す図。
【図3】同基本例の装置の全体構成を等価的に反転増幅
器として示す図。
【図4】第2の基本例の半導体レーザ装置の構成を示す
図。
【図5】同基本例の帰還路の等価構成を示す図。
【図6】同基本例の装置の全体構成を等価的に反転増幅
器として示す図。
【図7】図1の装置構成を電流モードで表わした等価回
路図。
【図8】第3の基本例の半導体レーザ装置の構成を示す
図。
【図9】同基本例による制御回路部の周波数特性を示す
図。
【図10】より具体化した第4の基本例の半導体レーザ
装置構成を示す図。
【図11】同基本例の制御回路部の周波数特性を示す
図。
【図12】同基本例の制御ループの周波数特性を示す
図。
【図13】同基本例の制御によるノイズ低減の効果を示
す図。
【図14】本発明の基本例による装置を応用した光ディ
スク装置の構成を示す図。
【図15】本発明の一実施例が適用される光ディスク装
置の要部の概略構成を示すブロック図。
【図16】同実施例のレーザパワーコントロール回路の
具体例を示すブロック図。
【図17】同実施例の動作を説明するための図。
【符号の説明】
12…半導体レーザ(LD)、14…演算増幅器(駆動
電流制御回路)、16…電流駆動回路、22…光検出素
子(PD)、30…位相補償回路、18…制御電圧入力
端子、20…基準電圧入力端子(非反転入力端子)、2
9…反転入力端子、Ri …抵抗素子、62…汎用演算増
幅器、64…補償増幅器、60…駆動電流制御回路、2
20…レーザパワーコントロール回路、203…光ディ
スク、207…プリズム、221…レーザパワーしきい
値設定回路、222…レーザパワー異常検出回路、22
3…基準信号生成回路、210…光学データ記録/再生
コントローラ。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザと、 この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路
    と、 前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子と、 入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還される演
    算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得られる
    誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号とし
    て供給する駆動電流制御手段と、 前記演算増幅器の出力端子に得られる誤差信号が所定の
    スレショルドレベルを越えるときにレーザパワーの異常
    を検知して前記電流駆動回路を介して前記半導体レーザ
    の発光を停止させるレーザパワー異常検知手段と、 を備えたことを特徴とする半導体レーザ装置。
  2. 【請求項2】 半導体レーザと、 この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路
    と、 前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子と、 入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還される演
    算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得られる
    誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号とし
    て供給する駆動電流制御手段と、 この駆動電流制御手段の出力端子と前記入力端子間に設
    けられて位相遅れを補償するための補償電流を前記入力
    端子に負帰還する位相補償手段と、 前記演算増幅器の出力端子に得られる誤差信号が所定の
    スレショルドレベルを越えるときにレーザパワーの異常
    を検知して前記電流駆動回路を介して前記半導体レーザ
    の発光を停止させるレーザパワー異常検知手段と、 を備えたことを特徴とする半導体レーザ装置。
  3. 【請求項3】 半導体レーザと、 この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路
    と、 前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子と、 入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還される演
    算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得られる
    誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号とし
    て供給する駆動電流制御手段と、 この駆動電流制御手段の出力端子と前記入力端子間に設
    けられて位相遅れを補償するための補償電流を前記入力
    端子に負帰還する位相補償手段と、 前記演算増幅器の出力端子に得られる誤差信号が所定の
    スレショルドレベルを越えるときにレーザパワーの異常
    を検知して前記電流駆動回路を介して前記半導体レーザ
    の発光を停止させるレーザパワー異常検知手段と、 を備え、 前記位相補助手段は、キャパシタまたはキャパシタと抵
    抗の直列回路により構成されていることを特徴とする半
    導体レーザ装置。
  4. 【請求項4】 半導体レーザと、 この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路
    と、 前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子と、 入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還される演
    算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得られる
    誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号とし
    て供給する駆動電流制御手段と、 前記演算増幅器の出力端子に得られる誤差信号が所定の
    スレショルドレベルを越えるときにレーザパワーの異常
    を検知して前記電流駆動回路を介して前記半導体レーザ
    の発光を停止させるレーザパワー異常検知手段と、 を備え、 前記駆動電流制御手段は、その伝達関係が、低周波領域
    の利得を大きく保つ一つの極と、高周波領域の位相遅れ
    を補償する零点とを有することを特徴とする半導体レー
    ザ装置。
  5. 【請求項5】 半導体レーザと、 この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路
    と、 前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子と、 入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還される演
    算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得られる
    誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号とし
    て供給する駆動電流制御手段と、 この駆動電流制御手段の出力端子と前記入力端子間に設
    けられて位相遅れを補償するための補償電流を前記入力
    端子に負帰還する位相補償手段と、 前記演算増幅器の出力端子に得られる誤差信号が所定の
    スレショルドレベルを越えるときにレーザパワーの異常
    を検知して前記電流駆動回路を介して前記半導体レーザ
    の発光を停止させるレーザパワー異常検知手段と、 を備え、 前記駆動電流制御手段は、その伝達関係が、低周波領域
    の利得を大きく保つ一つの極と、高周波領域の位相遅れ
    を補償する零点とを有することを特徴とする半導体レー
    ザ装置。
  6. 【請求項6】 半導体レーザと、 この半導体レーザに駆動電流を供給する電流駆動回路
    と、 前記半導体レーザの出力光を検出する光検出素子と、 入力端子に前記光検出素子の出力電流が負帰還される演
    算増幅器を有し、この演算増幅器の出力端子に得られる
    誤差信号を前記電流駆動回路に駆動電流の制御信号とし
    て供給する駆動電流制御手段と、 この駆動電流制御手段の出力端子と前記入力端子間に設
    けられて位相遅れを補償するための補償電流を前記入力
    端子に負帰還する位相補償手段と、 前記演算増幅器の出力端子に得られる誤差信号が所定の
    スレショルドレベルを越えるときにレーザパワーの異常
    を検知して前記電流駆動回路を介して前記半導体レーザ
    の発光を停止させるレーザパワー異常検知手段と、 を備え、 前記駆動電流制御手段は、その伝達関係が、低周波領域
    の利得を大きく保つ一つの極と、高周波領域の位相遅れ
    を補償する零点とを有し、 前記位相補助手段は、キャパシタまたはキャパシタと抵
    抗の直列回路により構成されていることを特徴とする半
    導体レーザ装置。
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