JPH09101313A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】同時分注する複数のプローブの全てを有効に使
用し、完全に分注時間の短縮を図る。 【解決手段】２本のサンプルプローブの位置を制御する
位置制御部及び位置調節機構と、２本のサンプルプロー
ブをそれぞれ独立して制御する第１及び第２の制御部及
び機構とを設け、当該サンプルに対する残りの項目数が
１となったときには、この当該サンプルと次のサンプル
の分注を２本のサンプルプローブにより同時に行うも
の。さらに試薬庫を外側ディスクと内側ディスクとから
構成し、２本の試薬プローブをそれぞれ独立して制御す
る外側及び内側の機構及び制御部と、２個の試薬用ディ
スクをそれぞれ独立して制御する外側及び内側の機構及
び制御部とを設けたものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、被検試料を収納
した複数の被検試料容器、被検試料と試薬とを反応させ
るための反応セル、被検試料容器から反応セルへ被検試
料を分注するサンプルプローブ、試薬を収納した試薬ビ
ン、この試薬ビンから反応セルへ試薬を分注する試薬プ
ローブ、反応セルにおける被検試料と試薬との反応を検
出する光学式検出部、この光学式検出部による検出結果
に基づいて被検試料の成分分析を行う分析部を備えた自
動分析装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】自動分析装置においては、被検試料と試
薬とを反応セルに分注して、被検試料と試薬との反応変
化( 吸光率の変化 )を測定することにより、試薬に対応
する成分の成分量の測定を行う。例えば、図１０は、従
来の自動分析装置の概略の要部構成を示す斜視図であ
る。被検試料は検体から採取された後、被検試料容器に
収納され、サンプルディスク１０１に配置される。試薬
は試薬ビンに収納され、試薬庫１０２，１０３に配置さ
れる。一方、反応セルは反応ディスク１０４に配置され
る。

【０００３】そこで、サンプルディスク１０１に配置さ
れた被検試料容器から反応ディスク１０４に配置された
反応セルに分注するサンプルプローブ１０５が設けら
れ、試薬庫１０２，１０３に配置された試薬ビンから反
応ディスク１０４に配置された反応セルに分注する試薬
プローブ１０６，１０７が設けられている。

【０００４】サンプルプローブ１０５は、サンプルアー
ム１０８により固定支持されており、このサンプルアー
ム１０８の回動により、サンプルディスク１０１と反応
ディスク１０４と間を往復するようになっている。ま
た、試薬プローブ１０６，１０７は、試薬アーム１０
９，１１０により固定支持されており、この試薬アーム
１０９，１１０の回動により、試薬庫１０２，１０３と
反応ディスク１０４との間と往復するようになってい
る。各プローブ１０５〜１０７は、それぞれ各アーム１
０８〜１１０に設けられた昇降機構により上下方向に移
動する。

【０００５】これらのプローブ１０５( 〜１０７ )によ
る分注は、まず、サンプルディスク１０１の被検試料容
器( 又は試薬庫１０２，１０３の試薬ビン )への移動、
被検試料容器( 又は試薬ビン )での吸引動作、サンプル
ディスク１０１の被検試料容器( 又は試薬庫１０２，１
０３の試薬ビン )から反応ディスク１０４の反応セルへ
の移動、反応セルでの吐出動作、反応ディスク１０４の
反応セルから洗浄位置への移動、プローブ１０５( 〜１
０７ )の内側及び外側の洗浄、サンプルディスク１０１
の被検試料容器( 又は試薬庫の試薬ビン )への移動、…
というように多くの工程( 動作 )を通過しなければなら
ず、分注に時間がかかるという問題があった。

【０００６】そこで、これらの分注にかかる時間を短縮
するため、従来の自動分析装置ではプローブを複数にし
て同時に複数の項目分の分注を行うものがある。すなわ
ち、複数のプローブを束状に固定して、１つの被検試料
容器( 又は試薬ビン )の内部に挿入し、同時に吸引動作
を行う。

【０００７】例えば図１１に示すように、４本のサンプ
ルプローブ１２１〜１２４を使用する。この４本のサン
プルプローブ１２１〜１２４を、サンプルディスク上の
１個の被検試料容器１２５に挿入し( 降下により挿入し
)、同時に吸引動作を行って、その後反応ディスク１０
４上に移動して、４個の反応セル１２６〜１２９に被検
試料を分注する。

【０００８】しかし、被検試料に対して測定する項目の
数が４の倍数とは限らないので、図１２に示すように、
被検試料に対する残りの測定項目数が２個の場合には、
４本のサンプルプローブ１２１〜１２４を、１個の被検
試料容器１２５に挿入するが、２本のサンプルプローブ
１２１，１２３のみが同時に吸引動作を行い、他の２本
のサンプルプローブは吸引動作を停止する。その後反応
ディスク１０４上に移動して、２本のサンプルプローブ
１２１，１２３が被検試料を２個の反応セル１２６，１
２８に分注する。

【０００９】また、図１３に示すように、２本の試薬プ
ローブ１３１，１３２及び２個１組として２列に配列さ
れた試薬ビン１３３-1，１３３-2、１３４-1，１３４-
2、１３５-1，１３５-2、１３６-1，１３６-2、…を使
用する。この２本の試薬プローブ１３１，１３２は、列
で向かい合った１つの組、ここでは、第１の組の試薬ビ
ン１３３-1，１３３-2へ挿入し( 降下により挿入し )、
同時に吸引動作を行い、その後反応ディスク１０４上に
移動して、２個の反応セル１４１，１４２にそれぞれの
試薬を分注する。すなわち、試薬プローブ１３１は、試
薬ビン１３３-1の試薬を反応セル１４１に分注し、試薬
プローブ１３２は、試薬ビン１３３-2の試薬を反応セル
１４２に分注する。

【００１０】しかし、必ずしも常に組になった試薬ビン
の試薬を使用するとは限らないので、被検試料の測定項
目の関係で場合によっては、前述したサンプルプローブ
の例のように、２本の試薬プローブ１３１，１３２のう
ち一方の試薬プローブのみが吸引動作・分注を行って、
他方の試薬プローブは吸引動作停止して分注は行わない
ことがある。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の自動分析装置では、複数のプローブを使用しても、被
検試料の測定項目の数及び内容により、複数のプローブ
の全てを有効に使用できない場合があるという問題があ
った。複数のプローブの全てを有効に使用できないと、
分注時間の短縮を図るという初期の目的が達成できない
という問題があった。

【００１２】そこでこの発明は、同時分注する複数のプ
ローブの全てを有効に使用でき、完全に分注時間の短縮
を図ることができる自動分析装置を提供することを目的
とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】請求項１対応の発明は、
被検試料を収納した被検試料収納部と、被検試料と試薬
とを反応させるための反応容器と、被検試料収納部から
反応容器へ被検試料を分注する被検試料分注手段と、試
薬を収納した試薬収納部と、この試薬収納部から反応容
器へ試薬を分注する試薬分注手段と、反応容器における
被検試料と試薬との反応を検出する反応検出手段と、こ
の反応検出手段による検出結果に基づいて被検試料の成
分分析を行う分析部とを備えた自動分析装置において、
被検試料収納部は、それぞれ被検試料を収納した複数の
被検試料容器から構成され、被検試料分注手段は、各被
検試料の測定項目の情報に基づいて指定された同一の被
検試料容器に対してもまた異なる被検試料容器に対して
も同時に複数の吸引動作を行うものである。

【００１４】請求項２対応の発明は、被検試料を収納し
た被検試料収納部と、被検試料と試薬とを反応させるた
めの反応容器と、被検試料収納部から反応容器へ被検試
料を分注する被検試料分注手段と、試薬を収納した試薬
収納部と、この試薬収納部から反応容器へ試薬を分注す
る試薬分注手段と、反応容器における被検試料と試薬と
の反応を検出する反応検出手段と、この反応検出手段に
よる検出結果に基づいて被検試料の成分分析を行う分析
部とを備えた自動分析装置において、被検試料収納部
は、それぞれ被検試料を収納した複数の被検試料容器か
ら構成され、被検試料分注手段は、被検試料を吸引する
複数本の被検試料プローブと、これらの被検試料プロー
ブを支持する１つ乃至複数の支持部材と、各被検試料プ
ローブをそれぞれ独立して同時的に吸引動作させる被検
試料吸引動作機構と、被検試料の測定項目の数に基づい
て各被検試料プローブにより吸引される被検試料容器を
指定する被検試料指定手段とを設けたものである。

【００１５】請求項３対応の発明は、被検試料を収納し
た被検試料収納部と、被検試料と試薬とを反応させるた
めの反応容器と、被検試料収納部から反応容器へ被検試
料を分注する被検試料分注手段と、試薬を収納した試薬
収納部と、この試薬収納部から反応容器へ試薬を分注す
る試薬分注手段と、反応容器における被検試料と試薬と
の反応を検出する反応検出手段と、この反応検出手段に
よる検出結果に基づいて被検試料の成分分析を行う分析
部とを備えた自動分析装置において、被検試料収納部
は、それぞれ被検試料を収納した複数の被検試料容器か
ら構成され、被検試料分注手段は、各被検試料の測定項
目の情報に基づいて指定された同一の被検試料容器に対
してもまた複数の被検試料容器に対しても同時に複数の
吸引動作を行い、試薬収納部は、それぞれ試薬を収納し
た複数の試薬容器から構成され、試薬分注手段は、各被
検試料の測定項目の情報に基づいて指定された複数の試
薬容器から同時に複数の分注動作を行うものである。

【００１６】請求項４対応の発明は、被検試料を収納し
た被検試料収納部と、被検試料と試薬とを反応させるた
めの反応容器と、被検試料収納部から反応容器へ被検試
料を分注する被検試料分注手段と、試薬を収納した試薬
収納部と、この試薬収納部から反応容器へ試薬を分注す
る試薬分注手段と、反応容器における被検試料と試薬と
の反応を検出する反応検出手段と、この反応検出手段に
よる検出結果に基づいて被検試料の成分分析を行う分析
部とを備えた自動分析装置において、被検試料収納部
は、それぞれ被検試料を収納した複数の被検試料容器か
ら構成され、被検試料分注手段は、被検試料を吸引する
複数本の被検試料プローブと、これらの被検試料プロー
ブを支持する１つ乃至複数の被検試料支持部材と、各被
検試料プローブをそれぞれ独立して同時的に吸引動作さ
せる被検試料吸引動作機構と、被検試料の測定項目の数
に基づいて各被検試料プローブにより吸引される被検試
料容器を指定する被検試料指定手段とを設け、試薬収納
部は、それぞれ試薬を収納した複数の試薬容器から構成
され、試薬分注手段は、試薬を吸引する複数本の試薬プ
ローブと、これらの各試薬プローブを支持する１つ乃至
複数の試薬支持部材と、各試薬プローブをそれぞれ独立
して同時的に吸引動作させる試薬吸引動作機構と、被検
試料の測定項目の情報に基づいて使用する試薬容器を指
定する試薬指定手段と、この試薬指定手段により指定さ
れた試薬容器を吸引動作位置に移動させる試薬移動制御
手段とを設けたものである。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、この発明の第１の実施の形
態を図１乃至図５を参照して説明する。図１は、この発
明を適用した自動分析装置の概略の要部構成を示す斜視
図である。円周上に複数個の反応セルが配列された円板
状の反応ディスク１は、ある一定のサイクルで所定の角
度だけ回転して停止する間欠的回転動作を行う。被検試
料が収容されたサンプル容器( 被検試料容器( 採血管を
含む )、図示せず )がセットされるサンプルディスク２
は、前記反応ディスク１の近傍に所定間隔をおいて配置
されている。

【００１８】各種成分と反応する試薬が収容された試薬
ビンがセットされる第１試薬庫３は、前記反応ディスク
１の内側に配置され、また、前記第１試薬庫３と同様に
試薬ビンがセットされる第２試薬庫４は、前記反応ディ
スク１の近傍に所定間隔をおいて配置されている。

【００１９】前記サンプルディスク２、前記第１試薬庫
３及び前記第２試薬庫４は、それぞれ所定の指定制御に
より前記サンプルディスク２にセットされた指定のサン
プル容器( 採血管 )又は前記第１試薬庫３及び前記第２
試薬庫４にセットされた指定の試薬容器が所定位置に位
置決めされるように回転動作する。

【００２０】前記反応ディスク１と前記サンプルディス
ク２との間にはサンプルアーム５が配置され、その先端
には２本のサンプルプローブ６，７が取付けられてい
る。前記サンプルアーム５は、前記サンプルプローブ
６，７を前記サンプルディスク２の所定位置にセットさ
れているサンプル容器上に位置させる。ここで、前記サ
ンプルプローブ６，７は、そのサンプル容器内へ降下し
て、その上液面を検知すると、さらに所定量だけ降下し
て被検試料を所定量だけ吸引し、この吸引が終了すると
上昇する。

【００２１】前記サンプルプローブ６，７の上昇が終了
すると、前記サンプルアーム５は回動して、前記サンプ
ルプローブ６，７を前記反応ディスク１のサンプル分注
位置上へ位置させる。ここで、前記サンプルプローブ
６，７はそれぞれ、そのサンプル分注位置にセットされ
ている２本の反応セルに被検試料を予め設定された量だ
け分注する。

【００２２】前記反応ディスク１の外周近傍には第１試
薬アーム８が配置され、その先端には第１試薬プローブ
９が取付けられている。前記第１試薬アーム８は、前記
第１試薬プローブ９を前記第１試薬庫３の所定位置にセ
ットされている試薬ビン上に位置させる。ここで、前記
第１試薬プローブ９は、その試薬ビン内へ降下して、そ
の上液面を検知すると、さらに所定量だけ降下して試薬
を所定量だけ吸引し、この吸引が終了すると上昇する。

【００２３】前記第１試薬プローブ９の上昇が終了する
と、前記第１試薬アーム８は回動して、前記第１試薬プ
ローブ９を前記反応ディスク１の第１試薬分注位置上へ
位置させる。ここで、前記第１試薬プローブ９は、その
第１試薬分注位置にセットされている反応セルに前記試
薬を予め設定された量だけ分注する。

【００２４】前記反応ディスク１と前記第２試薬庫４と
の間には第２試薬アーム１０が配置され、その先端には
第２試薬プローブ１１が取付けられている。前記第２試
薬アーム１０は、前記第２試薬プローブ１１を前記第２
試薬庫４の所定位置にセットされている試薬ビン上に位
置させる。ここで、前記第２試薬プローブ１１は、その
試薬ビン内へ降下して、その上液面を検知すると、さら
に所定量だけ降下して試薬を所定量だけ吸引し、この吸
引が終了すると上昇する。

【００２５】第２試薬プローブ１１の上昇が終了する
と、前記第２試薬アーム１０は回動して、前記第２試薬
プローブ１１を前記反応ディスク１の第２試薬分注位置
上へ位置させる。ここで、前記第２試薬プローブ１１
は、その第２試薬分注位置にセットされている反応セル
に前記試薬を予め設定された量だけ分注する。

【００２６】また、前記反応ディスク１の外周近傍に
は、第１撹拌アーム１２及び第２撹拌アーム１３が配置
され、それぞれの先端には撹拌子が取付けられている。
この第１撹拌アーム１２及び第２撹拌アーム１３は、そ
れぞれ前記反応ディスク１の第１撹拌位置及び第２撹拌
位置にセットされている反応セル内の溶液( 被検試料及
び試薬 )を、撹拌子により撹拌するようになっている。

【００２７】さらに、前記反応ディスク１の外周近傍に
は洗浄ユニット１４が配置され、この洗浄ユニット１４
には、複数本の洗浄ノズルと、乾燥ノズルとが取付けら
れている。この洗浄ユニット１４は、前記反応ディスク
１の洗浄位置にセットされている各反応セルに対してそ
れぞれ洗浄ノズル又は乾燥ノズルにより洗浄又は乾燥を
行うようになっている。また、前記反応ディスク１の外
周近傍には、オプションとして電解質ユニット１５が配
置可能になっており、電解質の分析を行うことができ
る。

【００２８】前記反応ディスク１の１カ所には、測光部
１６が設けられている。この測光部１６は、発光部を備
え、発光部からの光を前記反応ディスク１の測光位置に
セットされた反応セルに照射し、その透過光の光量を測
定して、反応セル内のサンプルの試薬による変化量を測
定するようになっている。この測定された変化量によ
り、被検試料の成分分析( 定量分析・定性分析 )が行え
る。

【００２９】なお、前記反応ディスク１は、反応セルの
温度を予め設定された温度に保つため恒温槽( 恒温水槽
)構造になっており、前記第１試薬庫３及び前記第２試
薬庫４は、試薬ビン( 試薬 )の温度を予め設定された温
度に保つための冷却構造となっている。

【００３０】図２は、この自動分析装置の要部回路構成
を示すブロック図である。２１は、制御部本体を構成す
るＣＰＵ(central processing unit )である。このＣＰ
Ｕ２１が行う処理のプログラムデータが記憶されたＲＯ
Ｍ(read onlymemory)２２、前記ＣＰＵ２１が処理を行
う時に使用する各種メモリのエリアが形成されたＲＡＭ
(random access memory)２３、データ等を記憶する記憶
装置２４とのデータの伝送制御を行う記憶装置インター
フェイス２５、データから被検試料の成分分析等を行う
データ処理装置２６とのデータの伝送制御を行うデータ
処理装置インターフェイス２７はそれぞれ、システムバ
ス２８を介して前記ＣＰＵ２１と接続されている。

【００３１】また、前記ＣＰＵ２１は前記システムバス
２８を介して、増幅器及びアナログ信号をデジタルデー
タに変換するＡ／Ｄ変換器等を備え、前記測光部１６か
らの検出信号を入力する測光部インターフェイス２９、
後述する各種機構部３０を制御する各種制御部３１と接
続されている。

【００３２】図３は、前記各種機構部３０及び前記各種
制御部３１の要部構成を示すブロック図である。前記各
種機構部３０は、前記サンプルディスク１を駆動するサ
ンプルディスク部４１と、前記サンプルアーム５及び前
記サンプルプローブ６，７を駆動するサンプルプローブ
部４２と、前記反応ディスク１を駆動する反応ディスク
部４３と、前記第１試薬アーム８及び前記第１試薬プロ
ーブ９を駆動する第１試薬プローブ部４４と、前記第１
試薬庫３を駆動する第１試薬庫部４５と、前記第２試薬
アーム１０及び第２試薬プローブ１１を駆動する第２試
薬プローブ部４６と、前記第２試薬庫４を駆動する第２
試薬庫部４７と、前記第１撹拌アーム１２及び第２撹拌
アーム１３及びそれらの撹拌子を駆動する撹拌子部４８
と、前記洗浄ユニット部１４を駆動する洗浄ユニット部
４９と、前記電解質ユニット１５を駆動する電解質ユニ
ット部５０等とから構成されている。

【００３３】前記各種制御部３１は、前記サンプルディ
スク部４１を制御するサンプルディスク制御部５１と、
前記サンプルプローブ部４２を制御するサンプルプロー
ブ制御部５２と、前記反応ディスク部４３を制御する反
応ディスク制御部５３と、前記第１試薬プローブ部４４
を制御する第１試薬プローブ制御部５４と、前記第１試
薬庫部４５を制御する第１試薬庫制御部５５と、前記第
２試薬プローブ部４６を制御する第２試薬プローブ制御
部５６と、前記第２試薬庫部４７を制御する第２試薬庫
制御部５７と、前記撹拌子部４８を制御する撹拌子制御
部５８と、前記洗浄ユニット部４９を制御する洗浄ユニ
ット制御部５９と、前記電解質ユニット部５０を制御す
る電解質ユニット制御部６０等とから構成されている。

【００３４】さらに図４は、前記サンプルプローブ部４
２及び前記サンプルプローブ制御部５２の要部構成を示
すブロック図である。前記サンプルプローブ部４２は、
前記サンプルアーム５を駆動するサンプルアーム機構７
１と、前記サンプルアーム５内部に設けられ前記サンプ
ルプローブ６，７の各位置( それらの間の間隔 )を調節
するサンプルプローブ位置調節機構７２と、前記第１の
サンプルプローブ６の吸引・分注動作を駆動する第１の
サンプルプローブ機構７３と、前記第２のサンプルプロ
ーブ７の吸引・分注動作を駆動する第２のサンプルプロ
ーブ機構７４とから構成されている。

【００３５】前記サンプルプローブ制御部５２は、前記
サンプルアーム機構７１を制御するサンプルアーム制御
部７５と、前記サンプルプローブ位置調節機構７２を制
御するサンプルプローブ位置制御部７６と、前記第１の
サンプルプローブ機構７３を制御する第１のサンプルプ
ローブ制御部７７と、前記第２のサンプルプローブ機構
７４を制御する第２のサンプルプローブ制御部７８とか
ら構成されている。

【００３６】このような構成のこの第１の実施の形態に
おいては、図５に示すように、前記ＣＰＵ２１によりサ
ンプリング処理が行われる。まず、ステップ１( ＳＴ１
)の処理として、当該サンプル( これから分析( 測定 )
しようとする被検試料 )のすでに設定されている測定項
目数をＲＡＭ２３に形成された格納エリアＴに設定す
る。

【００３７】次に、ステップ２( ＳＴ２ )の処理とし
て、格納エリアＴに設定されている数値Ｔが２以上か否
かを判断する。ここでその数値Ｔが２未満と判断する
と、ステップ３( ＳＴ３ )の処理として、その数値は１
か否かを判断する。

【００３８】前述のステップ２の処理で、格納エリアＴ
に設定されている数値Ｔが２以上と判断すると、ステッ
プ４( ＳＴ４ )の処理として、両方のサンプルプローブ
６，７を、サンプルディスク２の当該サンプルのサンプ
ル容器に挿入して、両方のサンプルプローブ６，７で同
時に被検試料の吸引を行い、この両方のサンプルプロー
ブ６，７により、反応ディスク１の異なる反応セルに同
時に被検試料の分注を行う。

【００３９】次に、ステップ５( ＳＴ５ )の処理とし
て、格納エリアＴに設定されている数値Ｔに対して−２
の減算更新処理を行い、再び前述のステップ２の処理へ
戻るようになっている。前述のステップ３の処理で、格
納エリアＴに設定されている数値Ｔが１と判断すると、
ステップ６( ＳＴ６ )の処理として、次に分析するサン
プル( 被検試料)があるか否かを判断する。

【００４０】ここで、次に分析するサンプルがあると判
断すると、ステップ７( ＳＴ７ )の処理として、当該サ
ンプルのサンプル容器と次のサンプルのサンプル容器と
の位置関係に応じてサンプルプローブ位置制御部７６及
びサンプルプローブ位置調節機構７２により各サンプル
プローブ６，７のそれぞれ位置を調節して( 当該サンプ
ルのサンプル容器と次のサンプルのサンプル容器との間
の間隔だけ開いて )、第１のサンプルプローブ６又は第
２のサンプルプローブ７のいずれか一方をサンプルディ
スク２の当該サンプルのサンプル容器に挿入し、他方を
次のサンプルのサンプル容器に挿入し、同時に被検試料
の吸引を行い、反応ディスク１の異なる反応セルに同時
に被検試料の分注を行う。

【００４１】この時、図６に示すように、異なるサンプ
ル容器において、被検試料の上液面の高さが異なって
も、第１のサンプルプローブ制御部７７及び第１のサン
プルプローブ機構７３と第２のサンプルプローブ制御部
７８及び第２のサンプルプローブ機構７４とにより第１
のサンプルプローブ６と第２のサンプルプローブ７とを
それぞれ独立に駆動制御して、適切に被検試料に対して
水面に対する適切な深さ位置にサンプルプローブを挿入
して吸引動作を行うことができる。

【００４２】次に、ステップ８( ＳＴ８ )の処理とし
て、次のサンプルを当該サンプルとする移行処理を行
い、ステップ( ＳＴ９ )の処理として、当該サンプルの
すでに設定されている測定項目数をＲＡＭ２３の格納エ
リアＴに設定する。次に、ステップ１０( ＳＴ１０ )の
処理として、格納エリアＴに設定されている数値Ｔに対
して−１の減算更新処理を行い、再び前述のステップ２
の処理へ戻るようになっている。

【００４３】前述のステップ６の処理で、次に分析する
サンプルがないと判断すると、ステップ１１( ＳＴ１１
)の処理として、第１のサンプルプローブ６又は第２の
サンプルプローブ７の両方をサンプルディスク２の当該
サンプルのサンプル容器に挿入するが、そのうちのいず
れか一方( 当該サンプルのサンプル容器の位置に応じて
選択された方 )のサンプルプローブのみ吸引動作を行
い、他方は吸引動作を中止する。そして、その一方のサ
ンプルプローブのみにより、反応ディスク１の１つの反
応セルに被検試料の分注を行い、このサンプリング処理
を終了するようになっている。

【００４４】前述のステップ３の処理で、格納エリアＴ
に設定されている数値Ｔが１でない( ０である )と判断
すると、ステップ１２( ＳＴ１２ )の処理として、次に
分析するサンプルがあるか否かを判断する。ここで、次
に分析するサンプルがあると判断すると、ステップ１３
( ＳＴ１３ )の処理として、次のサンプルを当該サンプ
ルとする移行処理を行い、再び前述のステップ１の処理
へ戻るようになっている。また、次に分析するサンプル
がないと判断すると、このサンプリング処理を終了する
ようになっている。

【００４５】例えば、Ａという検体( 被検試料 )につい
て測定項目数が５であり、さらにＢという次の検体があ
る時、まず１番目のサンプリングでは、第１と第２の項
目に対する分注がサンプルプローブ６，７により同時に
行われる。２番目のサンプリングでは、第３と第４の項
目に対する分注がサンプルプローブ６，７により同時に
行われる。３番目のサンプリングでは、第５の項目とＢ
という検体の第１の項目に対する分注がサンプルプロー
ブ６，７により行われる。

【００４６】そして、サンプルプローブ６，７のうちい
ずれか一方が吸引・分注動作を中止するときは、最後の
検体( 次の検体がない )について、未測定の項目が１個
残った場合だけである。

【００４７】このようにこの第１の実施の形態によれ
ば、２本のサンプルプローブ６，７の位置を制御するサ
ンプルプローブ位置制御部７６及びサンプルプローブ位
置調節機構７２と、２本のサンプルプローブ６，７をそ
れぞれ独立して制御する第１のサンプルプローブ制御部
７７及び第１のサンプルプローブ機構７３と第２のサン
プルプローブ制御部７８及び第２のサンプルプローブ機
構７４とを設け、当該サンプルに対する残りの項目数が
１となったときには、この当該サンプルと次のサンプル
の分注を２本のサンプルプローブ６，７により同時に行
うことにより、同時分注する２本のサンプルプローブ
６，７の全てを有効に使用することができ、完全に分注
時間の短縮を図ることができる。なお、この第１の実施
の形態では、同時分注するサンプルプローブの数を２本
としたが、この発明はこれに限定されるものではなく、
３本以上でも良いものである。

【００４８】この発明の第２の実施の形態を図７乃至図
９を参照して説明する。なお、この第２の実施の形態
は、前述の第１の実施の形態に加えて、第２試薬庫４(
第１試薬庫３乃至第２試薬庫４及び第１試薬庫３の両方
でも良い )を第２試薬庫外側ディスク４-1及び第２試薬
庫内側ディスク４-2から構成したもので、２項目分の試
薬の分注を同時に１度で行うものである。なお、サンプ
ルプローブ等の他の構成については、前述した第１の実
施の形態と同じであるので、ここではその説明は省略す
る。

【００４９】図７は、第２試薬庫４の概略の構成を示す
上面図である。第２試薬プローブ１１が第２試薬用外側
プローブ及び第２試薬用内側プローブ( 図示せず )の２
本のプローブから構成され、第２試薬庫４は、第２試薬
庫外側ディスク４-1と第２試薬庫内側ディスク４-2とか
ら構成されており、前記第２試薬庫外側ディスク４-1及
び第２試薬庫内側ディスク４-2はそれぞれ独立して回転
するようになっており、所定の吸引位置へそれぞれ所望
の試薬ビンを移動させることができるようになってい
る。

【００５０】なお、前記第２試薬庫外側ディスク４-1及
び前記第２試薬庫内側ディスク４-2には、最も効率を高
めるためには、両方のディスク４-1，４-2に、使用する
全ての試薬を収納した方がよいが、必ずしもそうする必
要はなく、例えば、使用頻度の高い試薬は両方のディス
ク４-1，４-2に収納しておき、使用頻度の低い試薬はそ
れぞれ分担して収納しても良いものである。

【００５１】図８は、第２試薬プローブ部４６及び第２
試薬プローブ制御部５６の要部構成を示すブロック図で
ある。前記第２試薬プローブ部４６は、第２試薬用外側
プローブを駆動する第２試薬用外側プローブ機構８１
と、第２試薬用内側プローブを駆動する第２試薬用内側
プローブ機構８２とから構成されている。前記第２試薬
プローブ制御部５６は、前記第２試薬用外側プローブ機
構８１を制御する第２試薬用外側プローブ制御部８３
と、前記第２試薬用内側プローブ機構８２を制御する第
２試薬用内側プローブ制御部８４とから構成されてい
る。

【００５２】図９は、前記第２試薬庫部４７及び前記第
２試薬庫制御部５７の要部構成を示すブロック図であ
る。前記第２試薬庫部４７は、前記第２試薬庫外側ディ
スク４-1を駆動する第２試薬庫外側ディスク機構８５
と、前記第２試薬庫内側ディスク４-2を駆動する第２試
薬庫内側ディスク機構８６とから構成されている。前記
第２試薬庫制御部５７は、前記第２試薬庫外側ディスク
機構８５を制御する第２試薬庫外側ディスク制御部８７
と、前記第２試薬庫内側ディスク機構８６を制御する第
２試薬庫内側ディスク制御部８８とから構成されてい
る。

【００５３】このような構成の第２の実施の形態におい
ては、前述した第１の実施の形態で説明したように、検
体( 被検試料 )がある間は、サンプリングにおいて、サ
ンプルプローブ６，７は、最後の測定項目が１項目残っ
た場合の最後のサンプリングを除いて、常に両方が被検
試料の同時分注を行う。

【００５４】一方、試薬の分注においても、サンプルプ
ローブで分注した２つの反応セルに対して、その測定項
目に対応する試薬ビンを、第２試薬庫外側ディスク４-1
及び第２試薬庫内側ディスク４-2がそれぞれ独立して回
転して吸引位置へ移動させる。この吸引位置に移動した
試薬ビンは、２本の第２試薬用外側プローブ及び第２試
薬用内側プローブにより同時に吸引し、２つの上記反応
セルに同時に分注する。

【００５５】このようにこの第２の実施の形態によれ
ば、前述の第１の実施の形態と同様な効果を得ることが
できると共に、さらに、第２試薬庫４を第２試薬庫外側
ディスク４-1と第２試薬庫内側ディスク４-2とから構成
し、２本の第２試薬用プローブをそれぞれ独立して制御
する第２試薬用外側プローブ機構８１及び第２試薬用外
側プローブ制御部８３と第２試薬用内側プローブ機構８
２及び第２試薬用内側プローブ制御部８４と、第２試薬
庫外側ディスク４-1及び第２試薬庫内側ディスク４-2の
２個の試薬用ディスクをそれぞれ独立して制御する第２
試薬庫外側ディスク機構８５及び第２試薬庫外側ディス
ク制御部８７と第２試薬庫内側ディスク機構８６及び第
２試薬庫内側ディスク制御部８８とを設けたことによ
り、分注すべき試薬ビンを所定の吸引位置へ移動させる
ことができ、従って、分注すべき試薬を同時に２項目
分、分注することができる。その結果、同時分注する２
本の第２試薬用プローブを全て有効に使用することがで
き、完全に分注時間の短縮を図ることができる。

【００５６】

【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
同時分注する複数のプローブの全てを有効に使用でき、
完全に分注時間の短縮を図ることができる自動分析装置
を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１の実施の形態の自動分析装置の
概略の要部構成を示す斜視図。

【図２】同実施の形態の自動分析装置の要部回路構成を
示すブロック図。

【図３】同実施の形態の自動分析装置の各種機構部及び
各種制御部の要部構成を示すブロック図。

【図４】同実施の形態の自動分析装置のサンプルプロー
ブ部及びサンプルプローブ制御部の要部構成を示すブロ
ック図。

【図５】同実施の形態の自動分析装置で行なうサンプリ
ング処理の流れを示す図。

【図６】同実施の形態の自動分析装置のサンプルプロー
ブによる異なるサンプル容器における吸引動作を説明す
るための図。

【図７】この発明の第２の実施の形態の自動分析装置の
第２試薬庫の概略の構成を示す上面図。

【図８】同実施の形態の自動分析装置の第２試薬プロー
ブ部及び第２試薬プローブ制御部の要部構成を示すブロ
ック図。

【図９】同実施の形態の自動分析装置の第２試薬庫部及
び第２試薬庫制御部の要部構成を示すブロック図。

【図１０】従来例の自動分析装置の概略の要部構成を示
す斜視図。

【図１１】同従来例の自動分析装置での４本のサンプル
プローブによる分注動作の一例を示す図。

【図１２】同従来例の自動分析装置での４本のサンプル
プローブによる分注動作の他の一例を示す図。

【図１３】同従来例の自動分析装置での２本の試薬プロ
ーブによる分注動作を示す図。

【符号の説明】

１…反応ディスク、 ２…サンプルディスク、 ３，４…試薬庫、 ４-1…第２試薬庫外側ディスク、 ４-2…第２試薬庫内側ディスク、 ５…サンプルアーム、 ６，７…サンプルプローブ、 ８，１０…試薬アーム、 ９，１１…試薬プローブ、 ２１…ＣＰＵ、 ７２…サンプルプローブ位置調節機構、 ７３…第１のサンプルプローブ機構、 ７４…第２のサンプルプローブ機構、 ７６…サンプルプローブ位置制御部、 ７７…第１のサンプルプローブ制御部、 ７８…第２のサンプルプローブ制御部、 ８１…第２試薬用外側プローブ機構、 ８２…第２試薬用内側プローブ機構、 ８３…第２試薬用外側プローブ制御部、 ８４…第２試薬用内側プローブ制御部、 ８５…第２試薬庫外側ディスク機構、 ８６…第２試薬庫内側ディスク機構、 ８７…第２試薬庫外側ディスク制御部、 ８８…第２試薬庫内側ディスク制御部。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検試料を収納した被検試料収納部と、
   被検試料と試薬とを反応させるための反応容器と、前記
   被検試料収納部から前記反応容器へ被検試料を分注する
   被検試料分注手段と、試薬を収納した試薬収納部と、こ
   の試薬収納部から前記反応容器へ試薬を分注する試薬分
   注手段と、前記反応容器における被検試料と試薬との反
   応を検出する反応検出手段と、この反応検出手段による
   検出結果に基づいて前記被検試料の成分分析を行う分析
   部とを備えた自動分析装置において、 前記被検試料収納部は、それぞれ被検試料を収納した複
   数の被検試料容器から構成され、前記被検試料分注手段
   は、各被検試料の測定項目の情報に基づいて指定された
   同一の被検試料容器に対してもまた異なる被検試料容器
   に対しても同時に複数の吸引動作を行うことを特徴とす
   る自動分析装置。
2. 【請求項２】 被検試料を収納した被検試料収納部と、
   被検試料と試薬とを反応させるための反応容器と、前記
   被検試料収納部から前記反応容器へ被検試料を分注する
   被検試料分注手段と、試薬を収納した試薬収納部と、こ
   の試薬収納部から前記反応容器へ試薬を分注する試薬分
   注手段と、前記反応容器における被検試料と試薬との反
   応を検出する反応検出手段と、この反応検出手段による
   検出結果に基づいて前記被検試料の成分分析を行う分析
   部とを備えた自動分析装置において、 前記被検試料収納部は、それぞれ被検試料を収納した複
   数の被検試料容器から構成され、 前記被検試料分注手段は、被検試料を吸引する複数本の
   被検試料プローブと、これらの被検試料プローブを支持
   する１つ乃至複数の支持部材と、前記各被検試料プロー
   ブをそれぞれ独立して同時的に吸引動作させる被検試料
   吸引動作機構と、被検試料の測定項目の数に基づいて前
   記各被検試料プローブにより吸引される被検試料容器を
   指定する被検試料指定手段とを設けたことを特徴とする
   自動分析装置。
3. 【請求項３】 被検試料を収納した被検試料収納部と、
   被検試料と試薬とを反応させるための反応容器と、前記
   被検試料収納部から前記反応容器へ被検試料を分注する
   被検試料分注手段と、試薬を収納した試薬収納部と、こ
   の試薬収納部から前記反応容器へ試薬を分注する試薬分
   注手段と、前記反応容器における被検試料と試薬との反
   応を検出する反応検出手段と、この反応検出手段による
   検出結果に基づいて前記被検試料の成分分析を行う分析
   部とを備えた自動分析装置において、 前記被検試料収納部は、それぞれ被検試料を収納した複
   数の被検試料容器から構成され、前記被検試料分注手段
   は、各被検試料の測定項目の情報に基づいて指定された
   同一の被検試料容器に対してもまた複数の被検試料容器
   に対しても同時に複数の吸引動作を行い、前記試薬収納
   部は、それぞれ試薬を収納した複数の試薬容器から構成
   され、前記試薬分注手段は、各被検試料の測定項目の情
   報に基づいて指定された複数の試薬容器から同時に複数
   の分注動作を行うことを特徴とする自動分析装置。
4. 【請求項４】 被検試料を収納した被検試料収納部と、
   被検試料と試薬とを反応させるための反応容器と、前記
   被検試料収納部から前記反応容器へ被検試料を分注する
   被検試料分注手段と、試薬を収納した試薬収納部と、こ
   の試薬収納部から前記反応容器へ試薬を分注する試薬分
   注手段と、前記反応容器における被検試料と試薬との反
   応を検出する反応検出手段と、この反応検出手段による
   検出結果に基づいて前記被検試料の成分分析を行う分析
   部とを備えた自動分析装置において、 前記被検試料収納部は、それぞれ被検試料を収納した複
   数の被検試料容器から構成され、 前記被検試料分注手段は、被検試料を吸引する複数本の
   被検試料プローブと、これらの被検試料プローブを支持
   する１つ乃至複数の被検試料支持部材と、前記各被検試
   料プローブをそれぞれ独立して同時的に吸引動作させる
   被検試料吸引動作機構と、被検試料の測定項目の数に基
   づいて前記各被検試料プローブにより吸引される被検試
   料容器を指定する被検試料指定手段とを設け、 前記試薬収納部は、それぞれ試薬を収納した複数の試薬
   容器から構成され、 前記試薬分注手段は、試薬を吸引する複数本の試薬プロ
   ーブと、これらの各試薬プローブを支持する１つ乃至複
   数の試薬支持部材と、前記各試薬プローブをそれぞれ独
   立して同時的に吸引動作させる試薬吸引動作機構と、被
   検試料の測定項目の情報に基づいて使用する試薬容器を
   指定する試薬指定手段と、この試薬指定手段により指定
   された試薬容器を吸引動作位置に移動させる試薬移動制
   御手段とを設けたことを特徴とする自動分析装置。