JPH09101334A - 高周波デバイスをテストするための方法および装置 - Google Patents
高周波デバイスをテストするための方法および装置Info
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- JPH09101334A JPH09101334A JP8106564A JP10656496A JPH09101334A JP H09101334 A JPH09101334 A JP H09101334A JP 8106564 A JP8106564 A JP 8106564A JP 10656496 A JP10656496 A JP 10656496A JP H09101334 A JPH09101334 A JP H09101334A
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- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 通常の動作状態での高周波デバイスの特性を
測定するのが困難であった。 【解決手段】 増幅器などの高周波デバイス（１２）が
既知の振幅および位相角を持っているディジタルに変調
された高周波の刺激信号を、刺激信号発生器（１３）か
らそのデバイスに印加し、そのデバイスが応答信号を発
生することによってテストされる。デバイスの応答信号
はミキサ（２０）および局部発信器（２１）を含んでい
る受信機によってダウンコンバートされてディジタイズ
されてから、その応答信号の振幅および位相角を確定す
る。ディジタイズされてダウンコンバートされた応答信
号の振幅および位相角が、ディジタルに変調された刺激
信号の振幅および位相角とそれぞれ比較されて、そのデ
バイスの動作を示す伝達関数が求められる。
測定するのが困難であった。 【解決手段】 増幅器などの高周波デバイス（１２）が
既知の振幅および位相角を持っているディジタルに変調
された高周波の刺激信号を、刺激信号発生器（１３）か
らそのデバイスに印加し、そのデバイスが応答信号を発
生することによってテストされる。デバイスの応答信号
はミキサ（２０）および局部発信器（２１）を含んでい
る受信機によってダウンコンバートされてディジタイズ
されてから、その応答信号の振幅および位相角を確定す
る。ディジタイズされてダウンコンバートされた応答信
号の振幅および位相角が、ディジタルに変調された刺激
信号の振幅および位相角とそれぞれ比較されて、そのデ
バイスの動作を示す伝達関数が求められる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は高周波増幅器などの
高周波デバイスをテストし、その動作特性を評価するた
めの技法に関する。
高周波デバイスをテストし、その動作特性を評価するた
めの技法に関する。
【０００２】
【従来の技術】配線またはケーブルに束縛されずに情報
通信をするための個人およびビジネスのニーズが高まり
つつあるのに応えるために、無線通信システムの開発が
非常な勢いで行なわれている。無線通信システムの開発
は、そのようなシステムの中で使われる広範囲の各種の
高周波デバイスの開発を促進した。高周波デバイスのテ
ストおよび特性評価が、その開発における主要なファク
タであった。過去において、そのようなテストは変調さ
れていない高周波の搬送波をそのデバイスに印加してか
ら、搬送波の受信時にそのデバイスによって発生される
応答を受信することによって行なわれていた。デバイス
の動作特性は、入力搬送波の位相および振幅と応答信号
の位相および振幅とを比較することによって評価され
る。
通信をするための個人およびビジネスのニーズが高まり
つつあるのに応えるために、無線通信システムの開発が
非常な勢いで行なわれている。無線通信システムの開発
は、そのようなシステムの中で使われる広範囲の各種の
高周波デバイスの開発を促進した。高周波デバイスのテ
ストおよび特性評価が、その開発における主要なファク
タであった。過去において、そのようなテストは変調さ
れていない高周波の搬送波をそのデバイスに印加してか
ら、搬送波の受信時にそのデバイスによって発生される
応答を受信することによって行なわれていた。デバイス
の動作特性は、入力搬送波の位相および振幅と応答信号
の位相および振幅とを比較することによって評価され
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記の方法による高周
波のテストは、テストの刺激信号としてデバイスに印加
される搬送波が通常の動作状態でのデバイスに対して供
給される信号と同じ特性を持っていないという欠点があ
る。現代の無線システムはディジタル変調を採用するの
が普通である。したがって、アナログの高周波の搬送波
をテストの刺激信号として使うことによって得られるテ
スト結果は、通常の動作状態でのデバイス、特に非線形
デバイスの実際の性能との相関が小さいのが普通であ
る。したがって、通常の動作状態でのデバイスの特性を
もっと正確に評価する高周波デバイスのテストのための
技法が必要である。
波のテストは、テストの刺激信号としてデバイスに印加
される搬送波が通常の動作状態でのデバイスに対して供
給される信号と同じ特性を持っていないという欠点があ
る。現代の無線システムはディジタル変調を採用するの
が普通である。したがって、アナログの高周波の搬送波
をテストの刺激信号として使うことによって得られるテ
スト結果は、通常の動作状態でのデバイス、特に非線形
デバイスの実際の性能との相関が小さいのが普通であ
る。したがって、通常の動作状態でのデバイスの特性を
もっと正確に評価する高周波デバイスのテストのための
技法が必要である。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の１つの好ましい
実施例にしたがって要約すると、高周波増幅器などの高
周波デバイスをテストするための、そして特に、その直
線性をテストするための技法が提供される。高周波デバ
イスをテストするために、既知の、時間依存の位相角お
よび振幅を持つディジタルに変調された高周波の刺激信
号がデバイスに印加されて、そのデバイスが変調された
高周波の応答信号を発生するようにする。そのディジタ
ルに変調された高周波の刺激信号を受信することによっ
て、そのデバイスから発生された高周波の応答信号は周
波数のダウンコンバートが行われてからディジタイズさ
れる。ディジタイスされてダウンコンバートされた応答
信号の位相角および振幅が求められ、高周波の刺激信号
の位相角および振幅とそれぞれ比較されて、そのデバイ
スの動作特性が求められる。
実施例にしたがって要約すると、高周波増幅器などの高
周波デバイスをテストするための、そして特に、その直
線性をテストするための技法が提供される。高周波デバ
イスをテストするために、既知の、時間依存の位相角お
よび振幅を持つディジタルに変調された高周波の刺激信
号がデバイスに印加されて、そのデバイスが変調された
高周波の応答信号を発生するようにする。そのディジタ
ルに変調された高周波の刺激信号を受信することによっ
て、そのデバイスから発生された高周波の応答信号は周
波数のダウンコンバートが行われてからディジタイズさ
れる。ディジタイスされてダウンコンバートされた応答
信号の位相角および振幅が求められ、高周波の刺激信号
の位相角および振幅とそれぞれ比較されて、そのデバイ
スの動作特性が求められる。
【０００５】本発明のテスト技法は、そのディジタルに
変調された刺激信号が通常の動作状態でそのデバイスが
受信するような信号とよく似ているという利点を提供す
る。したがって、ディジタイズされてダウンコンバート
された応答信号の位相角および振幅を、ディジタルに変
調された刺激信号の位相角および振幅とそれぞれ比較す
ることによって得られるデバイスの動作特性は、そのデ
バイスの真の動作をより正確に反映する。
変調された刺激信号が通常の動作状態でそのデバイスが
受信するような信号とよく似ているという利点を提供す
る。したがって、ディジタイズされてダウンコンバート
された応答信号の位相角および振幅を、ディジタルに変
調された刺激信号の位相角および振幅とそれぞれ比較す
ることによって得られるデバイスの動作特性は、そのデ
バイスの真の動作をより正確に反映する。
【０００６】
【発明の実施の形態】図１は本発明にしたがって、高周
波デバイス１２をテストするための装置１０の回路ブロ
ック図を示している。好ましい実施例において、高周波
デバイス１２はミニサーキット社（Ｍｉｎｉ−Ｃｉｒｃ
ｕｉｔｓ，Ｉｎｃ．，）によって製造されたモデルＺＨ
Ｌ−１０４２Ｊ増幅器を含んでいる。ただし、多くの他
の高周波デバイスをテスト装置１０によってテストする
ことができる。テスト装置１０は信号発生器１７が発生
する変調信号でトリガされる変調器１６によってディジ
タルに変調される、高周波信号を作り出す高周波信号源
１４を含んでいる、高周波の刺激信号発生器１３を含ん
でいる。好ましい実施例において、高周波信号源１４
と、変調器１６は集合的にロード・アンド・シュワルツ
（Ｒｈｏｄｅｓ ＆Ｓｈｗａｒｚ）のモデルＳＭＨ Ｕ
５８マイクロ波シンセサイザを含み、一方、信号発生器
はロード・アンド・シュワルツのモデルＡＤＳデュアル
任意信号発生器の組合せを含んでおり、ロード・アンド
・シュワルツのＩＱＳＩＭソフトウエアによってプログ
ラムされているパーソナル・コンピュータ（図には示さ
れていない）の制御下で動作する。
波デバイス１２をテストするための装置１０の回路ブロ
ック図を示している。好ましい実施例において、高周波
デバイス１２はミニサーキット社（Ｍｉｎｉ−Ｃｉｒｃ
ｕｉｔｓ，Ｉｎｃ．，）によって製造されたモデルＺＨ
Ｌ−１０４２Ｊ増幅器を含んでいる。ただし、多くの他
の高周波デバイスをテスト装置１０によってテストする
ことができる。テスト装置１０は信号発生器１７が発生
する変調信号でトリガされる変調器１６によってディジ
タルに変調される、高周波信号を作り出す高周波信号源
１４を含んでいる、高周波の刺激信号発生器１３を含ん
でいる。好ましい実施例において、高周波信号源１４
と、変調器１６は集合的にロード・アンド・シュワルツ
（Ｒｈｏｄｅｓ ＆Ｓｈｗａｒｚ）のモデルＳＭＨ Ｕ
５８マイクロ波シンセサイザを含み、一方、信号発生器
はロード・アンド・シュワルツのモデルＡＤＳデュアル
任意信号発生器の組合せを含んでおり、ロード・アンド
・シュワルツのＩＱＳＩＭソフトウエアによってプログ
ラムされているパーソナル・コンピュータ（図には示さ
れていない）の制御下で動作する。
【０００７】高周波信号源１４は被テスト高周波デバイ
ス１２に対する入力であるディジタルに変調された信号
を作り出す。その高周波の刺激信号に応答して、高周波
デバイス１２はテスト用受信機１８によって受信される
応答を発生する。受信機１８は高周波デバイス１２から
の高周波の応答信号出力を、局部発信器２１からの基準
信号にしたがって低い周波数へダウンコンバートするた
めのミキサ２０を含んでいる。さらに、受信機２０はダ
ウンコンバータ２０の出力信号をディジタイズするため
のアナログ・ツー・ディジタル・コンバータを含んでお
り、ダウンコンバートされてディジタイズされた高周波
の応答信号の位相角および振幅を最終的に作り出す。さ
らに、受信機１８はディスプレイ画面の形式での出力デ
バイスを含み、そして／あるいは受信機によって発生さ
れる情報を表示／または維持するためのフロッピー・デ
ィスク・ドライブなどの記憶装置を含んでいる。好まし
い実施例において、受信機はヒューレット・パッカード
（Ｈｅｗｌｅｔｔ−Ｐａｃｋａｒｄ）のモデルＨＰ ８
９４４０Ａベクタ信号分析装置を含んでいる。この特定
のモデルのベクタ信号分析装置はディジタルに変調され
たテスト刺激信号を発生するための機構を備えている。
しかし、精度を良くする目的で、前に説明されている高
周波の刺激信号発生器１３を採用する方がより望ましい
ことが分かっている。
ス１２に対する入力であるディジタルに変調された信号
を作り出す。その高周波の刺激信号に応答して、高周波
デバイス１２はテスト用受信機１８によって受信される
応答を発生する。受信機１８は高周波デバイス１２から
の高周波の応答信号出力を、局部発信器２１からの基準
信号にしたがって低い周波数へダウンコンバートするた
めのミキサ２０を含んでいる。さらに、受信機２０はダ
ウンコンバータ２０の出力信号をディジタイズするため
のアナログ・ツー・ディジタル・コンバータを含んでお
り、ダウンコンバートされてディジタイズされた高周波
の応答信号の位相角および振幅を最終的に作り出す。さ
らに、受信機１８はディスプレイ画面の形式での出力デ
バイスを含み、そして／あるいは受信機によって発生さ
れる情報を表示／または維持するためのフロッピー・デ
ィスク・ドライブなどの記憶装置を含んでいる。好まし
い実施例において、受信機はヒューレット・パッカード
（Ｈｅｗｌｅｔｔ−Ｐａｃｋａｒｄ）のモデルＨＰ ８
９４４０Ａベクタ信号分析装置を含んでいる。この特定
のモデルのベクタ信号分析装置はディジタルに変調され
たテスト刺激信号を発生するための機構を備えている。
しかし、精度を良くする目的で、前に説明されている高
周波の刺激信号発生器１３を採用する方がより望ましい
ことが分かっている。
【０００８】高周波の刺激信号発生器１３、および受信
機１８の他に、テスト装置１０は信号発生器１７に付随
しているパーソナル・コンピュータ、または１つまたは
それ以上の別のスタンドアローンのコンピュータ（図に
は示されていない）の形のいずれかで、少なくとも１台
のプロセッサを含むこともできる。テスト装置１０に付
随しているプロセッサは受信機１８によって確定されて
いる高周波デバイス１２のディジタイズされてダウンコ
ンバートされた応答信号の位相角および振幅を、高周波
信号源１４によって作り出されるディジタル刺激信号の
位相角および振幅に対してそれぞれ比較する。高周波デ
バイス１２のディジタイズされてダウンコンバートされ
た信号の位相角および振幅を、高周波信号源１４によっ
て作り出される高周波の刺激信号の位相角および振幅と
それぞれ比較することによって、テスト装置１０に付随
しているプロセッサは高周波デバイス１２の動作を示し
ている一組の伝達関数を確定する。
機１８の他に、テスト装置１０は信号発生器１７に付随
しているパーソナル・コンピュータ、または１つまたは
それ以上の別のスタンドアローンのコンピュータ（図に
は示されていない）の形のいずれかで、少なくとも１台
のプロセッサを含むこともできる。テスト装置１０に付
随しているプロセッサは受信機１８によって確定されて
いる高周波デバイス１２のディジタイズされてダウンコ
ンバートされた応答信号の位相角および振幅を、高周波
信号源１４によって作り出されるディジタル刺激信号の
位相角および振幅に対してそれぞれ比較する。高周波デ
バイス１２のディジタイズされてダウンコンバートされ
た信号の位相角および振幅を、高周波信号源１４によっ
て作り出される高周波の刺激信号の位相角および振幅と
それぞれ比較することによって、テスト装置１０に付随
しているプロセッサは高周波デバイス１２の動作を示し
ている一組の伝達関数を確定する。
【０００９】高周波デバイス１２をテストする際、１．
６ＧＨｚの搬送波に重畳された１キロビット／秒または
１００キロビット／秒のバイナリ信号のいずれかから構
成されるバイナリ位相シフト・キー（ＢＰＳＫ）信号
が、高周波デバイス１２をテストするための有効なディ
ジタルに変調された刺激信号を提供することが分かって
いる。各場合において、受信機１８は、その信号をサン
プルして６４サンプル／バイナリ位相シフト・キー・ビ
ットを作り出す。ＢＰＳＫ信号の振幅が時間と共に変化
するので、装置１０によって行なわれる測定から高周波
デバイス１２の飽和特性を抽出することができる。
６ＧＨｚの搬送波に重畳された１キロビット／秒または
１００キロビット／秒のバイナリ信号のいずれかから構
成されるバイナリ位相シフト・キー（ＢＰＳＫ）信号
が、高周波デバイス１２をテストするための有効なディ
ジタルに変調された刺激信号を提供することが分かって
いる。各場合において、受信機１８は、その信号をサン
プルして６４サンプル／バイナリ位相シフト・キー・ビ
ットを作り出す。ＢＰＳＫ信号の振幅が時間と共に変化
するので、装置１０によって行なわれる測定から高周波
デバイス１２の飽和特性を抽出することができる。
【００１０】高周波デバイス１２の直線性の特性を測定
するために、入力刺激信号の振幅｜Ｖin（ｔ）｜および
位相角∠Ｖin（ｔ）が先ず得られる。普通、これらの値
は高周波信号源１４の出力を受信機１８に直接供給する
ことによって得られる（高周波デバイス１２の両端の点
線で示したシャントによって示されているように）。そ
れ以降、高周波デバイス１２によって発生される応答の
振幅｜Ｖout（ｔ）｜および位相角∠Ｖout（ｔ）が確定
される。振幅｜Ｖin（ｔ）｜および｜Ｖout（ｔ）｜お
よび位相角∠Ｖin（ｔ）および∠Ｖout（ｔ）が確定さ
れると、高周波デバイス１２の利得ｇ（ｔ）を次の関係
から確定することができる。
するために、入力刺激信号の振幅｜Ｖin（ｔ）｜および
位相角∠Ｖin（ｔ）が先ず得られる。普通、これらの値
は高周波信号源１４の出力を受信機１８に直接供給する
ことによって得られる（高周波デバイス１２の両端の点
線で示したシャントによって示されているように）。そ
れ以降、高周波デバイス１２によって発生される応答の
振幅｜Ｖout（ｔ）｜および位相角∠Ｖout（ｔ）が確定
される。振幅｜Ｖin（ｔ）｜および｜Ｖout（ｔ）｜お
よび位相角∠Ｖin（ｔ）および∠Ｖout（ｔ）が確定さ
れると、高周波デバイス１２の利得ｇ（ｔ）を次の関係
から確定することができる。
【数１】
【００１１】位相角φ（ｔ）は、次の関係から確定する
ことができる。
ことができる。
【数２】
【００１２】式（１）および（２）によってそれぞれ与
えられる利得ｇ（ｔ）および位相シフトφ（ｔ）をディ
ジタル変調された入力刺激信号の振幅｜Ｖin（ｔ）｜に
対してプロットし、高周波デバイス１２に対して利得圧
縮および位相歪みがそれぞれ得られる。図２Ａおよび２
Ｂは、１キロビット／秒のＢＰＳＫテスト刺激信号を使
って図１のシステムによってテストされた、モデルＺＨ
Ｌ−１０４２Ｊの高周波増幅器に対する利得圧縮および
位相歪みのそれぞれのプロットを示している。
えられる利得ｇ（ｔ）および位相シフトφ（ｔ）をディ
ジタル変調された入力刺激信号の振幅｜Ｖin（ｔ）｜に
対してプロットし、高周波デバイス１２に対して利得圧
縮および位相歪みがそれぞれ得られる。図２Ａおよび２
Ｂは、１キロビット／秒のＢＰＳＫテスト刺激信号を使
って図１のシステムによってテストされた、モデルＺＨ
Ｌ−１０４２Ｊの高周波増幅器に対する利得圧縮および
位相歪みのそれぞれのプロットを示している。
【００１３】図３Ａおよび３Ｂは１００キロビット／秒
のＢＰＳＫテスト刺激信号を使って同じ増幅器に対して
それぞれ利得圧縮および位相歪みのプロットを示してい
る。実際には、低いビット・レート（たとえば、１キロ
ビット／秒）での図１の高周波デバイスに対する利得圧
縮および位相角の測定値が、アナログの搬送波を使って
従来の高周波テストによってこれらのパラメタに対して
得られる値と適切に比較され、上記のディジタル・テス
ト技法がそのデバイスの動作の正確な評価を提供するこ
とを示す。図２Ａおよび３Ａおよび２Ｂおよび３Ｂのプ
ロットの比較から、この特定のモデルの増幅器は１キロ
ビット／秒の場合より１００キロビット／秒の場合の方
が、より線形である。変調されていない搬送波による従
来の高周波テストでは、高周波デバイス１２は高いビッ
ト・レートで、より線形であるということを示すことは
できない。
のＢＰＳＫテスト刺激信号を使って同じ増幅器に対して
それぞれ利得圧縮および位相歪みのプロットを示してい
る。実際には、低いビット・レート（たとえば、１キロ
ビット／秒）での図１の高周波デバイスに対する利得圧
縮および位相角の測定値が、アナログの搬送波を使って
従来の高周波テストによってこれらのパラメタに対して
得られる値と適切に比較され、上記のディジタル・テス
ト技法がそのデバイスの動作の正確な評価を提供するこ
とを示す。図２Ａおよび３Ａおよび２Ｂおよび３Ｂのプ
ロットの比較から、この特定のモデルの増幅器は１キロ
ビット／秒の場合より１００キロビット／秒の場合の方
が、より線形である。変調されていない搬送波による従
来の高周波テストでは、高周波デバイス１２は高いビッ
ト・レートで、より線形であるということを示すことは
できない。
【００１４】本発明のテスト技法がＢＰＳＫ信号を利用
することによって記述されてきたが、他の変調方式も採
用できる。実際に、刺激信号の振幅が時間と共に変化す
る任意の変調方式で同様な結果が得られる。たとえば、
クアドラチャ位相シフト・キーイング（ＱＰＳＫ）変調
およびπ／４差動クアドラチャ位相シフト・キーイング
（π／４ＤＱＰＳＫ）も採用することができる。
することによって記述されてきたが、他の変調方式も採
用できる。実際に、刺激信号の振幅が時間と共に変化す
る任意の変調方式で同様な結果が得られる。たとえば、
クアドラチャ位相シフト・キーイング（ＱＰＳＫ）変調
およびπ／４差動クアドラチャ位相シフト・キーイング
（π／４ＤＱＰＳＫ）も採用することができる。
【００１５】従来の技法によっては得られないテスト情
報を提供することの他に、本発明の技法は別の特異な利
点を提供する。変調されない高周波の搬送波を利用する
従来のテスト技法と比較して、本発明のテスト技法はず
っと速いテストが可能である。上記の説明は高周波デバ
イス１２をテストするための技法を公開している。
報を提供することの他に、本発明の技法は別の特異な利
点を提供する。変調されない高周波の搬送波を利用する
従来のテスト技法と比較して、本発明のテスト技法はず
っと速いテストが可能である。上記の説明は高周波デバ
イス１２をテストするための技法を公開している。
【図１】本発明にしたがって、高周波増幅器などの高周
波デバイスをテストするためのシステムの回路ブロック
図を示している。
波デバイスをテストするためのシステムの回路ブロック
図を示している。
【図２Ａ】１キロビット／秒のバイナリ位相シフトキー
（ＢＰＳＫ）のテスト刺激信号を使って図１のシステム
によってテストされる高周波デバイスに対する利得圧縮
および位相歪みのプロットをそれぞれ示している。
（ＢＰＳＫ）のテスト刺激信号を使って図１のシステム
によってテストされる高周波デバイスに対する利得圧縮
および位相歪みのプロットをそれぞれ示している。
【図２Ｂ】１キロビット／秒のバイナリ位相シフトキー
（ＢＰＳＫ）のテスト刺激信号を使って図１のシステム
によってテストされる高周波デバイスに対する利得圧縮
および位相歪みのプロットをそれぞれ示している。
（ＢＰＳＫ）のテスト刺激信号を使って図１のシステム
によってテストされる高周波デバイスに対する利得圧縮
および位相歪みのプロットをそれぞれ示している。
【図３Ａ】１００キロビット／秒のＢＰＳＫテスト刺激
信号を使って図１のシステムによってテストされた、高
周波デバイスに対する利得圧縮および位相歪みのそれぞ
れのプロットを示している。
信号を使って図１のシステムによってテストされた、高
周波デバイスに対する利得圧縮および位相歪みのそれぞ
れのプロットを示している。
【図３Ｂ】１００キロビット／秒のＢＰＳＫテスト刺激
信号を使って図１のシステムによってテストされた、高
周波デバイスに対する利得圧縮および位相歪みのそれぞ
れのプロットを示している。
信号を使って図１のシステムによってテストされた、高
周波デバイスに対する利得圧縮および位相歪みのそれぞ
れのプロットを示している。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マイケル エス．ヘウトメイカー アメリカ合衆国 08628 ニュージャーシ ィ，トレントン，ロワー フェリー ロー ド 732 (72)発明者 エリーノア ウー アメリカ合衆国 08540 ニュージャーシ ィ，プリンストン，カーター ロード 75
Claims (9)
- 【請求項１】 増幅器などの高周波電子デバイスをテス
トするための方法であって、 既知の時間依存の位相角値および振幅値を持つディジタ
ルに変調された高周波の刺激信号を高周波デバイスに対
して印加し、その高周波デバイスが変調された高周波の
応答信号を発生させるステップを含み、 高周波の応答信号をダウンコンバートするステップと、
ダウンコンバートされた高周波の応答信号をディジタイ
ズするステップと、 ディジタイズされてダウンコンバートされた高周波の応
答信号の位相角および振幅の値を確定するステップと、 変調された高周波の刺激信号の位相角および振幅の値を
高周波の応答信号の位相角および振幅の値とそれぞれ比
較して、高周波デバイスに対してその動作を示す伝達関
数を確定するステップとを含んでいることを特徴とする
方法。 - 【請求項２】 ディジタルに変調された高周波の刺激信
号がバイナリ位相シフト・キー信号を含んでいることを
特徴とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】 バイナリ位相シフト・キー刺激信号が
１．６ＧＨｚの搬送波信号の上に重畳された１キロビッ
ト／秒のバイナリ信号を含んでいることを特徴とする、
請求項２に記載の方法。 - 【請求項４】 バイナリ位相シフト・キー刺激信号が
１．６ＧＨｚの搬送波信号に重畳された１００キロビッ
ト／秒のバイナリ信号を含んでいることを特徴とする、
請求項２に記載の方法。 - 【請求項５】 最初の伝達関数（利得圧縮）が、ディジ
タルに変調された高周波の刺激信号の振幅に対する、デ
ィジタイズされてダウンコンバートされた応答信号の振
幅の比にしたがって確定されることを特徴とする、請求
項１に記載の方法。 - 【請求項６】 第２の伝達関数（位相歪み）が、ディジ
タルに変調された高周波の刺激信号の位相角値に対す
る、ディジタイズされてダウンコンバートされた応答信
号の位相角値との間の差にしたがって確定されることを
特徴とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項７】 高周波デバイスをテストするための装置
であって、 既知の位相角および振幅を持つディジタルに変調された
高周波の刺激信号を発生して高周波デバイスの入力に印
加し、その高周波デバイスが高周波の応答信号を発生す
るようにするための手段（１３）を含み、 高周波の応答信号を受信するため、および高周波の応答
信号をダウンコンバートして、そのダウンコンバートさ
れた応答信号をディジタイズするための手段（１８）
と、 ディジタイズされてダウンコンバートされた応答信号の
振幅および位相角を確定するため、そしてディジタイズ
されてダウンコンバートされた応答信号の振幅および位
相角を、ディジタイズされて変調された高周波の刺激信
号の振幅および位相角とそれぞれ比較して、その高周波
デバイスの動作を示す伝達関数を確定するための手段
（１７）とを備えていることを特徴とする装置。 - 【請求項８】 ディジタルに変調された高周波の刺激信
号を発生するための手段が、 高周波信号源（１４）および、 高周波信号源からの信号を変調するための変調器（１
６）を含んでいることを特徴とする、請求項７に記載の
装置。 - 【請求項９】 受信機がダウンコンバータ（２０、およ
び２１）および、 アナログ・ディジタル・ツー・コンバータ（２２）を含
んでいることを特徴とする、請求項７に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/434,875 US5581190A (en) | 1995-04-29 | 1995-04-29 | Method and apparatus for testing RF devices |
| US08/434875 | 1995-04-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09101334A true JPH09101334A (ja) | 1997-04-15 |
Family
ID=23726061
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8106564A Pending JPH09101334A (ja) | 1995-04-29 | 1996-04-26 | 高周波デバイスをテストするための方法および装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5581190A (ja) |
| EP (1) | EP0741301A3 (ja) |
| JP (1) | JPH09101334A (ja) |
| CA (1) | CA2172321C (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2314735B (en) * | 1996-06-28 | 2000-10-11 | Int Mobile Satellite Org | Storage and reproduction method and apparatus |
| JPH10139491A (ja) * | 1996-11-14 | 1998-05-26 | Central Glass Co Ltd | 低反射濃色グレ−ガラス |
| US6628923B1 (en) * | 2000-05-03 | 2003-09-30 | Nokia Networks Oy | Adaptive phase and amplitude linearization method and apparatus |
| JP4130365B2 (ja) * | 2001-04-09 | 2008-08-06 | 太陽誘電株式会社 | 電磁界強度の測定方法及びその装置、電磁界強度分布の測定方法及びその装置電流電圧分布の測定方法及びその装置 |
| US7340219B2 (en) * | 2004-02-24 | 2008-03-04 | Texas Instruments Incorporated | Method and system for multisite RF transceiver testing |
| US7477875B2 (en) * | 2005-07-26 | 2009-01-13 | Texas Instruments Incorporated | Built in loop back self test in design or on test board for transceivers |
| US10404422B2 (en) | 2016-05-02 | 2019-09-03 | Keysight Technologies, Inc. | Measuring amplitude and phase response of measurement instrument with binary phase shift keying test signal |
| US11838076B2 (en) | 2021-01-28 | 2023-12-05 | Nucurrent, Inc. | Wireless power transmitter with in-band virtualized wired communications |
| US11476898B2 (en) | 2021-01-28 | 2022-10-18 | Nucurrent, Inc. | Wireless power transfer system with mode switching using selective quality factor alteration |
| US11316378B1 (en) | 2021-01-28 | 2022-04-26 | Nucurrent, Inc. | Wireless power receiver with in-band virtualized wired communications |
| US11271611B1 (en) | 2021-01-28 | 2022-03-08 | Nucurrent, Inc. | Wireless power transfer with in-band virtualized wired communications |
| US12355527B2 (en) | 2021-01-28 | 2025-07-08 | Nucurrent, Inc. | High speed data communications system for industrial use in packaged goods |
| US11483033B2 (en) | 2021-01-28 | 2022-10-25 | Nucurrent, Inc. | Wireless power transfer system with data versus power priority optimization |
| US11418069B1 (en) | 2021-01-28 | 2022-08-16 | Nucurrent, Inc. | Wireless power transfer system with data-priority and power-priority transfer modes |
| US12170549B2 (en) | 2021-10-08 | 2024-12-17 | Nucurrent, Inc. | Heat diffuser in wrist worn wireless power and data system |
| US11754618B2 (en) * | 2021-10-15 | 2023-09-12 | Nucurrent, Inc. | Testing device for electronic devices with in-band virtualized wired communications |
| US11626756B1 (en) | 2021-10-15 | 2023-04-11 | Nucurrent, Inc. | Wireless power and data transfer system with out of band communications hand off |
| US12231187B2 (en) | 2021-10-15 | 2025-02-18 | Nucurrent, Inc. | High speed data communications system for industrial use in packaged goods with out of band communications hand off |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3938150A (en) * | 1974-06-25 | 1976-02-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Microwave amplifier tube coherency test set |
| US4556841A (en) * | 1983-11-25 | 1985-12-03 | At&T Bell Laboratories | Measurement system for characterizing power amplifier and other device performance |
| US5089782A (en) * | 1989-03-22 | 1992-02-18 | Hewlett-Packard Company | Vector network analyzer for swept frequency harmonic and mixer conversion loss measurements using either an internal or external signal source |
| TW327488U (en) * | 1991-05-29 | 1998-02-21 | Video Tech Eng | Digital cordless telephone apparatus |
| US5337014A (en) * | 1991-06-21 | 1994-08-09 | Harris Corporation | Phase noise measurements utilizing a frequency down conversion/multiplier, direct spectrum measurement technique |
| US5179344A (en) * | 1991-06-21 | 1993-01-12 | Harris Corporation | Phase noise measurements utilizing a frequency down conversion/multiplier, direct spectrum measurement technique |
| JPH07147529A (ja) * | 1993-06-28 | 1995-06-06 | Hitachi Ltd | 分割帯域信号強度測定法を用いた自動周波数制御装置及び制御方法 |
-
1995
- 1995-04-29 US US08/434,875 patent/US5581190A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-03-21 CA CA002172321A patent/CA2172321C/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-04-17 EP EP96302685A patent/EP0741301A3/en not_active Withdrawn
- 1996-04-26 JP JP8106564A patent/JPH09101334A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5581190A (en) | 1996-12-03 |
| EP0741301A3 (en) | 1996-11-20 |
| CA2172321C (en) | 1999-09-28 |
| CA2172321A1 (en) | 1996-10-30 |
| EP0741301A2 (en) | 1996-11-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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