JPH09102163A

JPH09102163A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH09102163A
Application number: JP7258455A
Authority: JP
Inventors: Masayuki Shibano; 正行芝野; Yasuto Soma; 康人相馬
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1995-10-05
Filing date: 1995-10-05
Publication date: 1997-04-15

Abstract

(57)【要約】【課題】制御系が光ディスク上の異物、傷、汚れで乱
れにくくし、信頼性の高い記録再生ができる光ディスク
装置を提供する。【解決手段】記録再生光スポットの反射光に２つの比
較レベルを設け第１の比較レベルで異物検出処理を開始
し、第２の比較レベルより小さくなり、傷、異物を通過
し、再度大きくなったとき異物検出処理を停止する。ま
た、第１の比較レベルを検出し、第２の比較レベルに所
定時間で達しないとき異物検出処理を停止する。このと
き所定時間第１の比較レベルの検出を停止する。また、
アクチュエータ駆動電圧を記憶し、第２の比較レベルよ
り小さくなったとき、逆方向に移動したのち、異物検出
処理を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、収束した光スポッ
トを用いて記録担体面に信号を記録または再生する装置
の光ピックアップ移動制御に特徴を有する光ディスク装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ディスクの傷、異物、汚れを検
出し、フォーカスやトラッキングの制御の乱れを防止す
る装置に関する技術としては特開昭６０−１０７７４９
号公報に記載されているものがある。

【０００３】光ディスク装置は光ディスクの記録担体に
設けられた１．６μｍピッチの情報トラックに約１μｍ
φの光スポットを記録担体面に垂直方向に約±０．５μ
ｍ精度で追従する高精度なフォーカス制御を行う。ま
た、情報トラックと光スポットのトラックずれは約±
０．１μｍ精度で追従する高精度なトラッキング制御を
行う。このような光ディスクに傷、異物、汚れがあると
制御が乱されてしまい、別の情報トラックへ飛んだり、
制御がかからなくなったりする。

【０００４】従来は光ディスクに傷、異物、汚れにより
反射光量が減少することを比較回路で所定値と比較し、
傷、異物などを検出していた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
構成では光ディスクの傷、異物、汚れを信頼性高く検出
するためには比較回路の比較値を、通常の反射光量に対
して充分に小さく設定する必要があり、この場合、傷な
どの検出遅れが発生し、制御系が乱れてしまう。

【０００６】また、逆に検出遅れを防止するには、通常
の反射光量に対してわずかに小さい値に比較レベルを設
定する。しかし、このようにすると制御系に影響を与え
ない光ディスクの小さい傷、異物までも検出してしま
い、連続的にある場合には制御系が乱れ別の情報トラッ
クへ飛んだり、制御がかからなくなったりして記録また
は再生ができなくなる。

【０００７】本発明は上記問題を解決するもので、光デ
ィスクに少しの傷、異物、汚れがあっても確実に記録面
あるいは情報トラックを追従し、記録および再生を安定
にできる光ディスク装置を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の光ディスク装置は、記録担体からの反射光量
に対し第１の比較レベルで比較する第１の比較手段と、
反射光量を第２の比較レベルで比較する第２の比較手段
と、反射光量が異常時に光スポット移動手段を制御する
異常時制御手段と、第１の比較手段の出力で光スポット
移動手段への出力を光スポット位置制御手段から異常時
制御手段に切り換え、反射光量が第２の比較レベルより
小さくなった後、第２の比較レベルより大きくなったこ
とを第２の比較手段の出力より検出し、異常時制御手段
を光スポット位置制御手段に切り換える制御信号切り換
え手段とを備える。

【０００９】また、第１の比較手段の検出から第２の比
較手段により第２の比較レベルより反射光量が減少する
までの時間を測定する光量異常時間測定手段と、光量異
常時間測定手段による測定時間が所定時間より長くなる
場合、異常時制御手段を光スポット位置制御手段に切り
換える制御信号切り換え手段を備える。

【００１０】また、異常時制御手段を動作させ、異常時
制御手段と光スポット位置制御手段とを切り換えたとき
所定時間、光スポット位置制御手段の出力を異常時制御
手段の出力に切り換える動作をしない制御信号切り換え
手段を備える。

【００１１】また、光スポット位置制御手段の出力デー
タを所定時間記憶する記憶手段と、異常時制御手段が動
作するとき、記憶した所定時間の光スポット移動手段の
移動方向と逆方向に記憶手段のデータを光スポット移動
手段へ出力する制御信号切り換え手段とを備える。

【００１２】また、第１の比較手段の検出により記憶手
段を動作させ、第２の比較手段により第２の比較レベル
より反射光量が減少するとき記憶手段に記憶した時とは
逆方向に移動するように記憶手段のデータを移動手段に
出力し、光スポット移動手段への出力を光スポット位置
制御手段から異常時制御手段に切り換え、反射光量が第
２の比較レベルより大きくなったことを第２の比較手段
の出力より検出して異常時制御手段を光スポット位置制
御手段に切り換える制御信号切り換え手段とを備える。

【００１３】これにより、光ディスクに少しの傷、異
物、汚れがあっても確実に記録面あるいは情報トラック
を追従し、記録および再生を安定にできる光ディスク装
置が得られる。

【００１４】

【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、記録担体に形成された記録面に光スポットを照射す
る光スポット照射手段と、前記記録面または前記記録面
に形成された情報トラックとのずれを検出する位置ずれ
検出手段と、前記光スポットを前記記録面に略垂直方向
または前記情報トラックに略直交方向に移動させる光ス
ポット移動手段と、前記位置ずれ検出手段の信号に応じ
て前記光スポット移動手段を制御する光スポット位置制
御手段と、前記光スポットの記録担体からの反射光量を
第１の比較レベルで比較する第１の比較手段と、前記反
射光量を第２の比較レベルで比較する第２の比較手段
と、前記反射光量が異常時に光スポット移動手段を制御
する異常時制御手段と、前記第１の比較手段の出力で前
記光スポット移動手段への出力を前記光スポット位置制
御手段から前記異常時制御手段に切り換え、前記反射光
量が第２の比較レベルより小さくなった後、前記第２の
比較レベルより大きくなったことを第２の比較手段の出
力より検出し、前記異常時制御手段を光スポット位置制
御手段に切り換える制御信号切り換え手段とを備えた光
ディスク装置としたものであり、第１の比較手段で反射
光量の減少を検出し、前記光スポット移動手段への出力
を前記光スポット位置制御手段から前記異常時制御手段
に切り換えることにより早期に検出して異常処理の検出
遅れを少なくし、前記反射光量が第２の比較レベルより
小さくなった後、前記第２の比較レベルより大きくなっ
たことを第２の比較手段の出力より検出し、前記異常時
制御手段を光スポット位置制御手段に制御信号切り換え
手段で切り換えることにより、光ディスクの傷または異
物による制御系の影響を少なくし、光スポットの光ディ
スクの情報トラックへの追従を確実にするという作用を
有する。

【００１５】請求項２に記載の発明は、記録担体に形成
された記録面に光スポットを照射する光スポット照射手
段と、前記記録面または前記記録面に形成された情報ト
ラックとのずれを検出する位置ずれ検出手段と、前記光
スポットを前記記録面に略垂直方向または前記情報トラ
ックに略直交方向に移動させる光スポット移動手段と、
前記位置ずれ検出手段の信号に応じて前記光スポット移
動手段を制御する光スポット位置制御手段と、前記光ス
ポットの記録担体からの反射光量を第１の比較レベルで
比較する第１の比較手段と、前記反射光量を第２の比較
レベルで比較する第２の比較手段と、前記反射光量が異
常時に光スポット移動手段を制御する異常時制御手段
と、前記第１の比較手段の検出から前記第２の比較手段
により第２の比較レベルより前記反射光量が減少するま
での時間を測定する光量異常時間測定手段と、前記第１
の比較手段の出力で前記光スポット移動手段への出力を
前記光スポット位置制御手段から前記異常時制御手段に
切り換え、前記光量異常時間測定手段による測定時間が
所定時間より長くなる場合、前記異常時制御手段を光ス
ポット位置制御手段に切り換える制御信号切り換え手段
とを備えた光ディスク装置としたものであり、光量異常
時間測定手段による測定時間が所定時間より長くなる場
合、前記異常時制御手段を光スポット位置制御手段に切
り換える制御信号切り換え手段とを備えることにより小
さくて制御系に影響を殆ど与えない傷、異物、汚れの検
出で動作することを防止するという作用を有する。

【００１６】請求項３に記載の発明は、光スポット移動
手段への入力を異常時制御手段から光スポット位置制御
手段へ切り換えたとき、前記光スポット位置制御手段の
出力を前記異常時制御手段の出力に所定時間切り換えな
い制御信号切り換え手段を備えたことを特徴とする請求
項１または２記載の光ディスク装置としたものであり、
前記異常時制御手段を動作させ、前記異常時制御手段と
光スポット位置制御手段とを切り換えたとき所定時間、
第１の比較手段または前記光量異常時間測定手段または
前記光スポット位置制御手段から前記異常時制御手段へ
の切り換えを動作させないようにするため、連続した小
さい傷、異物、汚れに対して制御系への影響を少なくす
る。

【００１７】請求項４に記載の発明は、光スポット位置
制御手段の出力データを所定時間記憶する記憶手段と、
異常時制御手段が動作するとき、記憶した所定時間の光
スポット移動手段の移動方向と逆方向に前記記憶手段の
データを前記光スポット移動手段へ出力する制御信号切
り換え手段とを備えたことを特徴とする請求項１、２ま
たは３記載の光ディスク装置としたものであり、前記光
スポット位置制御手段の出力データを所定の時間記憶手
段に記憶し、前記異常時制御手段が動作する前に、前記
光スポット移動手段が移動した方向とは逆方向に前記記
憶手段のデータをもとに前記光スポット移動手段を移動
させ、傷または異物による制御系への影響を少なくし追
従を確実にする。

【００１８】請求項５に記載の発明は、記録担体に形成
された記録面に光スポットを照射する光スポット照射手
段と、前記記録面または前記記録面に形成された情報ト
ラックとのずれを検出する位置ずれ検出手段と、前記光
スポットを前記記録面に略垂直方向または前記情報トラ
ックに略垂直方向に移動させる光スポット移動手段と、
前記位置ずれ検出手段の信号に応じて前記光スポット移
動手段を制御する光スポット位置制御手段と、前記光ス
ポット位置制御手段の出力データを所定時間記憶する記
憶手段と、前記光スポットの反射光量を第１の比較レベ
ルで比較する第１の比較手段と、前記反射光量を第２の
比較レベルで比較する第２の比較手段と、前記反射光量
が異常時に光スポット移動手段を制御する異常時制御手
段と、前記第１の比較手段の検出により前記記憶手段を
動作させ、前記第２の比較手段により第２の比較レベル
より前記反射光量が減少するとき前記記憶手段に記憶し
た時とは逆方向に移動するように前記記憶手段のデータ
を前記移動手段に出力し、前記光スポット移動手段への
出力を前記光スポット位置制御手段から前記異常時制御
手段に切り換え、前記反射光量が第２の比較レベルより
大きくなったことを第２の比較手段の出力より検出して
前記異常時制御手段を光スポット位置制御手段に切り換
える制御信号切り換え手段とを備えたことを特徴とする
光ディスク装置としたものであり、前記第１の比較手段
の検出により前記記憶手段を動作させ、前記第２の比較
手段により第２の比較レベルより前記反射光量が減少す
るとき前記記憶手段に記憶した時とは逆方向に前記移動
手段が移動するように前記記憶手段のデータを出力した
のち、前記光スポット移動手段への出力を前記光スポッ
ト位置制御手段から前記異常時制御手段に切り換え、前
記反射光量が、前記第２の比較レベルより大きくなった
ことを第２の比較手段で検出し前記異常時制御手段を光
スポット位置制御手段に切り換え、傷または異物による
制御系への影響を少なくし追従を確実にする。

【００１９】以下、本発明の実施の形態による光ディス
ク装置について、図面を参照しながら説明する。

【００２０】（実施の形態１）図１は本発明の実施の形
態１における光ディスク装置の構成図を示すものであ
る。以下、図１を用いて実施の形態１としての光ディス
ク装置を説明する。

【００２１】記録担体としての光ディスク１をモータ２
により回転させる。光ディスク１の記録面および情報ト
ラックへの光スポットの追従は、光ヘッド３のフォーカ
スアクチュエータおよびトラッキングアクチュエータ
（光ヘッド３の一部として図示せず）をディジタル信号
処理回路４がドライブ回路５を介して動作させて行う。

【００２２】光スポット照射手段としての光ヘッド３か
ら照射された光スポットは、光ディスク１で反射して、
光ヘッド３に戻り、光ヘッド３は、その反射光量を光量
信号としてＲＦアンプ６へ出力する。ＲＦアンプ６は、
光量信号（ここでは、サーボエラー信号のみを考える）
を増幅してディジタル信号処理回路４へ出力する。

【００２３】ディジタル信号処理回路４では、ＲＦアン
プ６からのフォーカスエラー信号またはトラッキングエ
ラー信号（以下、サーボエラー信号と称す）をアナログ
−ディジタル変換回路（以下、ＡＤ変換回路と称す）７
でディジタル信号に変換し、位相補償、ゲイン調整等の
処理を行い、ディジタル−アナログ変換回路（以下、Ｄ
Ａ変換回路と称す）８でアナログ信号にしてドライブ回
路５に出力する。

【００２４】ドライブ回路５では、光スポットを記録面
に追従させるフォーカスアクチュエータ、光スポットを
情報トラックに追従させるトラッキングアクチュエー
タ、光ヘッド３を光ディスク１の内周または外周に移動
させるトラバースメカ１７、および光ディスクを回転さ
せるモータ２に各々ドライブ信号を出力する。なお、光
スポット移動手段としてのフォーカスアクチュエータお
よびトラッキングアクチュエータを合わせて、以下、単
にアクチュエータと称す。

【００２５】光ディスク１に傷、異物、汚れがあると、
図２に示すように光ディスク１から反射される光量信号
が減少する。この光量信号が、図２に示す比較レベル２
より小さくなると、サーボエラー信号は正しく検出され
なくなり、制御系も不安定になり異常時の制御が必要と
なる。

【００２６】サーボエラー信号が正しく光スポットと光
ディスク１の情報トラックとのエラーを示さないのでア
クチュエータのドライブ信号としては使えなくなる。

【００２７】よって、異常時制御手段としてのホールド
回路１１は、それまで出力してきた信号の低域成分をホ
ールドして出力する。

【００２８】このようにすることにより傷、異物、汚れ
部を通過する間、アクチュエータに異常な動作をさせな
い。

【００２９】しかし、追従制御をかけていないので、ホ
ールド値を出力する時間が長くなると、光ディスク１の
記録面または情報トラックと光スポットとの位置がずれ
ることになる。

【００３０】本実施の形態では、ディジタル信号処理回
路４において、光量信号と所定レベルとの比較を、第１
の比較手段である比較回路９および第２の比較手段であ
る比較回路１０で行う。

【００３１】図３に示すように光量信号と第１の比較レ
ベルである比較レベル１を比較回路９で比較し、比較レ
ベル１より小さい場合、ドライブ回路５への信号をディ
ジタル信号処理回路４内部で行う異常時制御手段である
ホールド回路１１の出力に制御信号切り換え手段である
切り換え回路１２で切り換える。

【００３２】また、図３に示すように、比較レベル１よ
り小さくなったことを検出してからの時間を光量異常時
間測定手段である傷検出タイマー回路１３により測定
し、比較レベル２より光量信号が小さくなる時間が所定
時間ａより長くなると、ディジタル信号処理回路４のド
ライブ回路５への信号をホールド回路１１から制御演算
回路１４に切り換える。

【００３３】このようにして図４に示すように連続的に
比較レベル１より小さいが制御系への影響が小さい傷、
異物、汚れに対して不要なホールド信号を出力しなくす
る。

【００３４】また、連続的なパルス状の傷、異物、汚れ
であっても光量信号に低域フィルタを通過させることに
より図３のような波形にすることができる。

【００３５】よって、光スポットは光ディスク１の記録
面または情報トラックに追従することができる。

【００３６】また、図５に示すように、光量が第２の比
較レベルである比較レベル２より小さくなったことをデ
ィジタル信号処理回路４で検出すると、比較レベル２よ
り大きくなったときホールド回路１１から制御演算回路
１４への切り換えを行う。

【００３７】このように比較レベル２で制御演算回路１
４に切り換えることにより、傷、異物、汚れ通過後の制
御が比較レベル１で切り換えるより早く、かつ安定に制
御が行える。

【００３８】また、比較レベル１より光量が減少し、比
較レベル２に達せず、かつ、所定期間ａが経過しない内
に光量が復帰した場合（比較レベル１より大きくなった
場合）は、ホールド回路１１からの出力を制御演算回路
１４に切り換える。このとき、制御演算回路１４に切り
換えた後、所定期間ｂの間は比較レベル１の検出を停止
する。または所定期間ｂは切り換え回路１２を動作しな
い。

【００３９】なお、ホールド回路１１から制御演算回路
１４に切り換えた後、所定期間ｂの間、ホールド回路１
１に切り換えないようにすることは、図４や図５に示し
た場合にも行ってもよい。例えば、図４では、光量が比
較レベル１より小さくなり、ホールド回路１１に切り換
え、所定期間ａが過ぎても比較レベル２に達しないので
制御演算回路１４に切り換え、その後、所定期間ｂの間
は比較レベル１の検出を停止している。

【００４０】このようにして連続的に若干の光量減少が
連続する場合にホールド回路１１の出力が連続し、制御
系を不安定にしないようにする。

【００４１】また、比較レベル１および比較レベル２を
光ディスク１の径方向の領域、位置、情報トラックの形
状で変化させることによって、精度よく傷、異物、汚れ
に対応ができる。

【００４２】なお、本実施の形態では、比較レベルを２
つ設けて処理しているが、光ディスクの種類によって、
この比較レベルの設定を変化させたり、更に比較レベル
の設定数を増加させ、切り換えて用いることでも同様の
効果が得られる。

【００４３】図６に、光ディスク１上の異物等を検出し
処理するフローを示す。ステップ１で、光量信号と比較
レベル１と比較する。大きい場合、終了（ＥＮＤ）処理
へ行く。小さい場合、ステップ２へ行く。ステップ２
で、ドライブ信号をホールドする。つまり、ホールド回
路１１へ切り換える。ステップ３で、光量信号と比較レ
ベル１と比較する。大きい場合、ステップ７へ行く。小
さい場合、ステップ４へ行く。ステップ４で、光量信号
が比較レベル２以下ならばステップ６へ行き、比較レベ
ル２より大きいならばステップ５へ行く。ステップ５
で、所定時間経過したならばステップ７へ行き、まだ経
過していないならステップ３へ行く。

【００４４】ステップ６で、光量信号が比較レベル２以
下ならば再度ステップ６へ行き、比較レベル２より大き
いならばステップ７へ行く。ステップ７で、ドライブ信
号のホールドを解除する。ステップ７の後、ＥＮＤ処理
として、次の処理へ行く。

【００４５】なお、図６に示したフローにおいて、ＥＮ
Ｄ処理の後、所定時間このフローを開始しなければ、光
量信号の大きさに関わらずドライブ信号をホールドする
こと（あるいは、光量信号と比較レベル１とを比較する
こと）はない。

【００４６】（実施の形態２）図７は、本発明の実施の
形態２による光ディスク装置の構成を示すブロック図で
ある。以下、図７において、実施の形態１との相違点を
中心に説明する。

【００４７】図７に示すように光スポット位置制御手段
の出力データを所定時間記憶する記憶手段であるメモリ
回路１５に制御演算回路１４の出力を所定時間分を常に
記憶し続け、比較レベル２より光量が減少したことを比
較回路１０で検出し、傷検出タイマー回路１３を介して
メモリ切り換え回路１６でメモリ回路１５の出力に切り
換え、記憶したデータを出力し、ＤＡ変換回路８、ドラ
イブ回路５を介して光ヘッド３のフォーカスアクチュエ
ータ、またはトラッキングアクチュエータを駆動し、比
較レベル２を検出する直前に光ディスク１の傷、異物、
汚れ等で移動した量を補正するようにアクチュエータを
移動させる。所定時間の記憶分を出力すると傷検出タイ
マー回路１３により切り換え回路１２でホールド回路１
１の出力に切り換える。

【００４８】光ディスク１の傷、異物、汚れを通過し、
反射光量が増加し、比較レベル２を越えると、切り換え
回路１２、メモリ切り換え回路１６を切り換え、制御演
算回路１４の出力をＤＡ変換回路８に加える。メモリ切
り換え回路１６の切り換えは、メモリ回路１５が所定時
間分の出力をおこなったとき切り換えてもよい。

【００４９】図８において、Ａが光量を、Ｂがアクチュ
エータの駆動電圧を示す。また、ｃが比較レベル２より
光量が減少する直前の制御演算回路１４の出力を記憶し
たメモリ回路１５からアクチュエータを逆方向へ移動さ
せるためのデータを出力している期間であり、ｄがホー
ルド回路１１からのデータを出力している期間である。
Ｃがメモリ回路１５からの出力期間を示す。

【００５０】駆動電圧Ｂのｃ、ｄ以外の期間は、制御演
算回路１４の出力データを駆動電圧として出力してい
る。

【００５１】また、図９に示すように反射光量に対して
比較レベル１および比較レベル２を設け、比較レベル１
より減少したときメモリ回路１５への入力を開始し、比
較レベル２より減少したとき、メモリ回路１５からの出
力を開始する。このようにすることにより、メモリ回路
１５の動作期間を短くすることもできる。

【００５２】また、メモリ回路１５への入力は比較レベ
ル１より光量が減少し、比較レベル２より減少するまで
が長い場合、所定時間で停止してもよい。

【００５３】なお、各実施の形態において、比較レベル
１または比較レベル２は光量が減少することを対象に設
定しているが、通常状態に比較し、異常状態において光
量が増加する場合に対して比較レベル１、２を増加レベ
ルに設定しても同様の効果がえられる。

【００５４】また、異常時制御手段として、エラー信号
の低域成分を固定してホールドしているが、エラー信号
の低域成分の微分係数を求め、光量が通常にもどるまで
微分係数をもとに変化させてもよい。

【００５５】また、ディジタル信号処理回路４の内部処
理回路のディジタル信号処理部について、ソフトウェア
で処理する構成としても同様の効果が得られる。

【００５６】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、記録担体
に傷、異物、汚れがある場合の反射光量の変化に対し、
少しの減少で異常を検出する第１の比較レベルで異常時
制御手段を早く実行し、第１の比較レベルより小さく設
定した第２の比較レベルで傷、異物または汚れの通過を
確実に検出して異常時制御手段を解除し通常時の制御で
ある光スポット位置制御手段に戻し、安定な光スポット
位置の制御が行える。

【００５７】また、反射光量が第１の比較レベルより小
さくなったとき光スポット位置制御手段の出力データの
記憶手段への記憶を開始し、第２の比較レベルより小さ
くなったとき記憶手段に記憶したデータを光スポット移
動手段への出力として移動方向が逆方向になるように加
えたのち、異常時制御手段に切り換えて、記録担体の情
報トラックへの追従制御を安定にし、信頼性の高い光デ
ィスク装置が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置
のブロック図

【図２】光量信号の変化を示す概念図

【図３】光量信号の変化と比較レベル１を示す概念図

【図４】光量信号の変化と比較レベル２を示す概念図

【図５】光量信号の変化とホールド期間を示す概念図

【図６】異物検出を説明するための概略フロー図

【図７】本発明の実施の形態２における光ディスク装置
のブロック図

【図８】光量信号の変化と駆動電圧を示す概念図

【図９】光量信号の変化とメモリ回路動作を示す概念図

【符号の説明】

１光ディスク２モータ３光ヘッド４ディジタル信号処理回路５ドライブ回路６ＲＦアンプ７ＡＤ変換回路８ＤＡ変換回路９、１０比較回路１１ホールド回路１２切り換え回路１３傷検出タイマー回路１４制御演算回路１７トラバースメカ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】記録担体に形成された記録面に光スポッ
トを照射する光スポット照射手段と、前記記録面または
前記記録面に形成された情報トラックとのずれを検出す
る位置ずれ検出手段と、前記光スポットを前記記録面に
略垂直方向または前記情報トラックに略直交方向に移動
させる光スポット移動手段と、前記位置ずれ検出手段の
信号に応じて前記光スポット移動手段を制御する光スポ
ット位置制御手段と、前記光スポットの記録担体からの
反射光量を第１の比較レベルで比較する第１の比較手段
と、前記反射光量を第２の比較レベルで比較する第２の
比較手段と、前記反射光量が異常時に光スポット移動手
段を制御する異常時制御手段と、前記第１の比較手段の
出力で前記光スポット移動手段への出力を前記光スポッ
ト位置制御手段から前記異常時制御手段に切り換え、前
記反射光量が第２の比較レベルより小さくなった後、前
記第２の比較レベルより大きくなったことを第２の比較
手段の出力より検出し、前記異常時制御手段を光スポッ
ト位置制御手段に切り換える制御信号切り換え手段とを
備えた光ディスク装置。
【請求項２】記録担体に形成された記録面に光スポッ
トを照射する光スポット照射手段と、前記記録面または
前記記録面に形成された情報トラックとのずれを検出す
る位置ずれ検出手段と、前記光スポットを前記記録面に
略垂直方向または前記情報トラックに略直交方向に移動
させる光スポット移動手段と、前記位置ずれ検出手段の
信号に応じて前記光スポット移動手段を制御する光スポ
ット位置制御手段と、前記光スポットの記録担体からの
反射光量を第１の比較レベルで比較する第１の比較手段
と、前記反射光量を第２の比較レベルで比較する第２の
比較手段と、前記反射光量が異常時に光スポット移動手
段を制御する異常時制御手段と、前記第１の比較手段の
検出から前記第２の比較手段により第２の比較レベルよ
り前記反射光量が減少するまでの時間を測定する光量異
常時間測定手段と、前記第１の比較手段の出力で前記光
スポット移動手段への出力を前記光スポット位置制御手
段から前記異常時制御手段に切り換え、前記光量異常時
間測定手段による測定時間が所定時間より長くなる場
合、前記異常時制御手段を光スポット位置制御手段に切
り換える制御信号切り換え手段とを備えた光ディスク装
置。
【請求項３】光スポット移動手段への入力を異常時制
御手段から光スポット位置制御手段へ切り換えたとき、
前記光スポット位置制御手段の出力を前記異常時制御手
段の出力に所定時間切り換えない制御信号切り換え手段
を備えたことを特徴とする請求項１または２記載の光デ
ィスク装置。
【請求項４】光スポット位置制御手段の出力データを
所定時間記憶する記憶手段と、異常時制御手段が動作す
るとき、記憶した所定時間の光スポット移動手段の移動
方向と逆方向に前記記憶手段のデータを前記光スポット
移動手段へ出力する制御信号切り換え手段とを備えたこ
とを特徴とする請求項１、２または３記載の光ディスク
装置。
【請求項５】記録担体に形成された記録面に光スポッ
トを照射する光スポット照射手段と、前記記録面または
前記記録面に形成された情報トラックとのずれを検出す
る位置ずれ検出手段と、前記光スポットを前記記録面に
略垂直方向または前記情報トラックに略直交方向に移動
させる光スポット移動手段と、前記位置ずれ検出手段の
信号に応じて前記光スポット移動手段を制御する光スポ
ット位置制御手段と、前記光スポット位置制御手段の出
力データを所定時間記憶する記憶手段と、前記光スポッ
トの記録担体からの反射光量を第１の比較レベルで比較
する第１の比較手段と、前記反射光量を第２の比較レベ
ルで比較する第２の比較手段と、前記反射光量が異常時
に光スポット移動手段を制御する異常時制御手段と、前
記第１の比較手段の検出により前記記憶手段を動作さ
せ、前記第２の比較手段により第２の比較レベルより前
記反射光量が減少するとき前記記憶手段に記憶した時と
は逆方向に移動するように前記記憶手段のデータを前記
移動手段に出力し、前記光スポット移動手段への出力を
前記光スポット位置制御手段から前記異常時制御手段に
切り換え、前記反射光量が第２の比較レベルより大きく
なったことを第２の比較手段の出力より検出して前記異
常時制御手段を光スポット位置制御手段に切り換える制
御信号切り換え手段とを備えた光ディスク装置。