JPH09102270A - 電子放出素子の製造方法、表示素子および画像形成装置 - Google Patents
電子放出素子の製造方法、表示素子および画像形成装置Info
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- JPH09102270A JPH09102270A JP28437695A JP28437695A JPH09102270A JP H09102270 A JPH09102270 A JP H09102270A JP 28437695 A JP28437695 A JP 28437695A JP 28437695 A JP28437695 A JP 28437695A JP H09102270 A JPH09102270 A JP H09102270A
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- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 凹部を有する基板を用いることにより、特性
を改善した電子放出素子、表示素子、画像形成装置を提
供する。 【構成】 基板上に設けられた対向する電極間に電子放
出材料を含む金属組成物溶液の液滴を部分的に付与する
工程と、加熱焼成工程と、通電処理する過程を経て電子
放出部を形成する工程とを有する電子放出素子の製造方
法において、該電極間に凹部を有する基板を用いること
を特徴とする電子放出素子の製造方法。
を改善した電子放出素子、表示素子、画像形成装置を提
供する。 【構成】 基板上に設けられた対向する電極間に電子放
出材料を含む金属組成物溶液の液滴を部分的に付与する
工程と、加熱焼成工程と、通電処理する過程を経て電子
放出部を形成する工程とを有する電子放出素子の製造方
法において、該電極間に凹部を有する基板を用いること
を特徴とする電子放出素子の製造方法。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子放出素子の製造
方法に関し、更に詳しくはインクジェット方式を利用し
て形成した電子放出素子およびそれを用いた表示素子、
画像形成装置の製造方法に関する。
方法に関し、更に詳しくはインクジェット方式を利用し
て形成した電子放出素子およびそれを用いた表示素子、
画像形成装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子放出素子として熱電子源と冷
陰極電子源の2種類が知られている。冷陰極電子源には
電界放出型素子(以下FE型素子と略す)、金属/絶縁
層/金属型素子(以下MIM素子と略す)、表面伝導型
電子放出素子等がある。
陰極電子源の2種類が知られている。冷陰極電子源には
電界放出型素子(以下FE型素子と略す)、金属/絶縁
層/金属型素子(以下MIM素子と略す)、表面伝導型
電子放出素子等がある。
【0003】FE型素子の報告例としてはW.P. Dyke &
W.W. Dolan, “Field emission”,Advance in Electro
n Physics, 8, 89(1956)やC.A.Spindet,“Physical pro
per-ties of thin-film field emission cathodes with
molybdenum cones ”,J. Appl.Phys., 47,5248(1976)
等が知られている。
W.W. Dolan, “Field emission”,Advance in Electro
n Physics, 8, 89(1956)やC.A.Spindet,“Physical pro
per-ties of thin-film field emission cathodes with
molybdenum cones ”,J. Appl.Phys., 47,5248(1976)
等が知られている。
【0004】MIM素子の報告例としてはC.A. Mead,
“The tunnel-emission amplifier ”A.Appl. Phys., 3
2, 646(1961)等が知られている。
“The tunnel-emission amplifier ”A.Appl. Phys., 3
2, 646(1961)等が知られている。
【0005】表面伝導型電子放出素子の報告例としては
M.I. Elinson, Radio Eng. Electron Phys., 10,(1965)
等がある。
M.I. Elinson, Radio Eng. Electron Phys., 10,(1965)
等がある。
【0006】表面伝導型電子放出素子は基板上に形成さ
れた小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことによ
り、電子放出が起こる現象を利用するものである。この
表面伝導型電子放出素子としては前記エリンソン等によ
るSnO2 薄膜を用いたもののほか、Au薄膜を用いた
もの[G.Dittmer:“Thin Solid Films”, 9, 317(197
2)] 、In2 O3 /SnO2 薄膜を用いたもの[M. Har
twell and C.G. Fonstad: ”IEEE Trans. ED Conf.”,
519(1975)]、カーボン薄膜を用いたもの[荒木久他:真
空、第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告されてい
る。
れた小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことによ
り、電子放出が起こる現象を利用するものである。この
表面伝導型電子放出素子としては前記エリンソン等によ
るSnO2 薄膜を用いたもののほか、Au薄膜を用いた
もの[G.Dittmer:“Thin Solid Films”, 9, 317(197
2)] 、In2 O3 /SnO2 薄膜を用いたもの[M. Har
twell and C.G. Fonstad: ”IEEE Trans. ED Conf.”,
519(1975)]、カーボン薄膜を用いたもの[荒木久他:真
空、第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告されてい
る。
【0007】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な素子構成として前述のM.ハートウェルの素子構成を
図15により説明する。同図において1は絶縁性基板、
2および3は素子に電圧を印加するための一対の素子電
極、4は電子放出部を含む薄膜で、スパッタで形成され
た金属酸化物薄膜等からなり、後述の通電フォーミング
と呼ばれる通電処理により電子放出部5が形成される。
尚、図中の素子電極間隔Lは、0.5mm〜1mm、素
子の幅W’は約0.1mmで設定されている。Wは素子
電極の幅、dは素子電極の厚さを表している。また、電
子放出部5の位置及び形状については不明であるので模
式図とした。
な素子構成として前述のM.ハートウェルの素子構成を
図15により説明する。同図において1は絶縁性基板、
2および3は素子に電圧を印加するための一対の素子電
極、4は電子放出部を含む薄膜で、スパッタで形成され
た金属酸化物薄膜等からなり、後述の通電フォーミング
と呼ばれる通電処理により電子放出部5が形成される。
尚、図中の素子電極間隔Lは、0.5mm〜1mm、素
子の幅W’は約0.1mmで設定されている。Wは素子
電極の幅、dは素子電極の厚さを表している。また、電
子放出部5の位置及び形状については不明であるので模
式図とした。
【0008】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に電子放出部形成用薄膜を
予めフォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出
部5を形成するのが一般的であった。即ち、フォーミン
グとは前記電子放出部形成用薄膜の両端に電極2、3を
用いて電圧を印加通電し、電子放出部形成用薄膜を局所
的に破壊、変形もしくは変質させることにより、電気的
に高抵抗な状態の電子放出部5を形成することである。
なお、フォーミングにより電子放出部形成用薄膜の一部
に亀裂が発生しその亀裂付近から電子放出が行われ電子
放出部5となる場合もある。
おいては、電子放出を行う前に電子放出部形成用薄膜を
予めフォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出
部5を形成するのが一般的であった。即ち、フォーミン
グとは前記電子放出部形成用薄膜の両端に電極2、3を
用いて電圧を印加通電し、電子放出部形成用薄膜を局所
的に破壊、変形もしくは変質させることにより、電気的
に高抵抗な状態の電子放出部5を形成することである。
なお、フォーミングにより電子放出部形成用薄膜の一部
に亀裂が発生しその亀裂付近から電子放出が行われ電子
放出部5となる場合もある。
【0009】前記のフォーミング処理をした表面伝導型
電子放出素子は、上述の電子放出部を含む薄膜4に電圧
を印加して素子表面に電流を流すことにより、上述の電
子放出部5より電子を放出するものである。
電子放出素子は、上述の電子放出部を含む薄膜4に電圧
を印加して素子表面に電流を流すことにより、上述の電
子放出部5より電子を放出するものである。
【0010】上述したような従来の電子放出素子は主に
半導体プロセスに準じたフォトリソグラフ技術を利用し
て製造されてきたが、大面積基板に素子を形成すること
が困難であるとともに、製造コストが高いという問題が
あった。
半導体プロセスに準じたフォトリソグラフ技術を利用し
て製造されてきたが、大面積基板に素子を形成すること
が困難であるとともに、製造コストが高いという問題が
あった。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】最近インクジェット方
式によって金属組成物を含む溶液の液滴を基板に付与し
た後、この基板を加熱焼成することにより液滴を付与し
た位置に導電性膜を形成して電子放出部とする提案がな
されている。
式によって金属組成物を含む溶液の液滴を基板に付与し
た後、この基板を加熱焼成することにより液滴を付与し
た位置に導電性膜を形成して電子放出部とする提案がな
されている。
【0012】しかしながら斯かる従来の電子放出素子で
は、液滴および基板表面の状態に依存して基板に付与し
た液滴が拡がってしまう場合があり、例えば液滴が所望
の位置以外に拡がってしまって焼成後に電極間のリーク
を引き起こしたり、液滴が広がりすぎたために焼成後に
所望の膜厚よりも薄くなってしまって所望の素子特性が
得られなくなるなどの不都合が生じる場合がある。
は、液滴および基板表面の状態に依存して基板に付与し
た液滴が拡がってしまう場合があり、例えば液滴が所望
の位置以外に拡がってしまって焼成後に電極間のリーク
を引き起こしたり、液滴が広がりすぎたために焼成後に
所望の膜厚よりも薄くなってしまって所望の素子特性が
得られなくなるなどの不都合が生じる場合がある。
【0013】
【発明の目的】本発明は斯かる従来技術における電子放
出素子の不都合である、大面積基板に素子を形成するこ
とが困難である点とともに、製造コストが高いという点
を解決し、なおかつ特性のばらつきの小さい良好な電子
放出素子、表示素子、画像形成装置を提供することにあ
る。更には、本発明は、インクジェット方式等の液滴を
用いての電子放出部形成用薄膜の製造時の液滴の拡が
り、ひいては焼成後の薄膜の拡がりを抑制し、良好な電
子放出素子、表示素子、画像形成装置を提供することに
ある。
出素子の不都合である、大面積基板に素子を形成するこ
とが困難である点とともに、製造コストが高いという点
を解決し、なおかつ特性のばらつきの小さい良好な電子
放出素子、表示素子、画像形成装置を提供することにあ
る。更には、本発明は、インクジェット方式等の液滴を
用いての電子放出部形成用薄膜の製造時の液滴の拡が
り、ひいては焼成後の薄膜の拡がりを抑制し、良好な電
子放出素子、表示素子、画像形成装置を提供することに
ある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の電子放出素子の
製造方法は、基板上に設けられた対向する電極間に電子
放出材料を含む金属組成物溶液の液滴を部分的に付与す
る工程と、加熱焼成工程と、通電処理する過程を経て電
子放出部を形成する工程とを有する表面伝導型電子放出
素子の製造方法において、該電極間に凹部を有する基板
を用いることを特徴とするものである。
製造方法は、基板上に設けられた対向する電極間に電子
放出材料を含む金属組成物溶液の液滴を部分的に付与す
る工程と、加熱焼成工程と、通電処理する過程を経て電
子放出部を形成する工程とを有する表面伝導型電子放出
素子の製造方法において、該電極間に凹部を有する基板
を用いることを特徴とするものである。
【0015】さらに本発明の別の態様は、このような電
子放出素子の製造方法により形成された表面伝導型電子
放出素子およびそれを用いたことを特徴とする表示素
子、画像形成装置の製造方法に関するものである。
子放出素子の製造方法により形成された表面伝導型電子
放出素子およびそれを用いたことを特徴とする表示素
子、画像形成装置の製造方法に関するものである。
【0016】本発明の製造方法により形成される表面伝
導型電子放出素子の基本的な構成としては、平面型及び
垂直型の2つの構成が上げられる。
導型電子放出素子の基本的な構成としては、平面型及び
垂直型の2つの構成が上げられる。
【0017】まず、表面伝導型電子放出素子の構成につ
いて説明する。
いて説明する。
【0018】図1はそれぞれ本発明に好適な基本的な表
面伝導型電子放出素子の基本的な構成を示す模式的平面
図である。図1を用いて本発明に好適な基本的な表面伝
導型電子放出素子の基本的な構成を説明する。
面伝導型電子放出素子の基本的な構成を示す模式的平面
図である。図1を用いて本発明に好適な基本的な表面伝
導型電子放出素子の基本的な構成を説明する。
【0019】図1において、1は絶縁性基板、2、3は
素子電極、4は導電性薄膜、5は電子放出部、6は凹部
である。絶縁性基板1としては、石英ガラス、Naなど
の不純物含有量を減少したガラス、青板ガラス、青板ガ
ラスにスパッタ法等により形成したSiO2 を積層した
ガラス基板等及びアルミナ等のセラミックス等が用いら
れる。本発明による電子放出素子を形成するための基板
では、素子電極2、3間に凹部6が形成される。
素子電極、4は導電性薄膜、5は電子放出部、6は凹部
である。絶縁性基板1としては、石英ガラス、Naなど
の不純物含有量を減少したガラス、青板ガラス、青板ガ
ラスにスパッタ法等により形成したSiO2 を積層した
ガラス基板等及びアルミナ等のセラミックス等が用いら
れる。本発明による電子放出素子を形成するための基板
では、素子電極2、3間に凹部6が形成される。
【0020】対向する素子電極2、3の材料としては、
一般的導体材料が用いられ、例えばNi,Cr,Au,
Mo,W,Pt,Ti,Al,Cu,Pd等の金属或は
合金およびPd,Ag,Au,RuO2 ,Pd−Ag等
の金属或は金属酸化物とガラス等から構成される印刷導
体、In2 O3 −SnO2 等の透明導体およびポリシリ
コン等の半導体材料等より適宜選択される。
一般的導体材料が用いられ、例えばNi,Cr,Au,
Mo,W,Pt,Ti,Al,Cu,Pd等の金属或は
合金およびPd,Ag,Au,RuO2 ,Pd−Ag等
の金属或は金属酸化物とガラス等から構成される印刷導
体、In2 O3 −SnO2 等の透明導体およびポリシリ
コン等の半導体材料等より適宜選択される。
【0021】素子電極間隔(L)及び素子電極長さ
(W)の形状等は、応用される形態等によって適宜設計
される。
(W)の形状等は、応用される形態等によって適宜設計
される。
【0022】素子電極間隔(L)は、好ましくは、数百
オングストロームより数百マイクロメートルであり、よ
り好ましくは、素子電極間に印加する電圧と電子放出し
得る電界強度等により、数マイクロメートルより数十マ
イクロメートルである。
オングストロームより数百マイクロメートルであり、よ
り好ましくは、素子電極間に印加する電圧と電子放出し
得る電界強度等により、数マイクロメートルより数十マ
イクロメートルである。
【0023】素子電極長さ(W)は、好ましくは、電極
の抵抗値、電子放出特性により、数マイクロメートルよ
り数百マイクロメートルであり、また素子電極2、3の
膜厚dは、数百オングストロームより数マイクロメート
ルである。
の抵抗値、電子放出特性により、数マイクロメートルよ
り数百マイクロメートルであり、また素子電極2、3の
膜厚dは、数百オングストロームより数マイクロメート
ルである。
【0024】尚、図1の構成だけでなく、絶縁性基板1
の上に、導電性薄膜4、対向する素子電極2、3の順に
積層構成としてもよい。
の上に、導電性薄膜4、対向する素子電極2、3の順に
積層構成としてもよい。
【0025】導電性薄膜4は、良好な電子放出特性を得
るためには微粒子で構成された微粒子膜が特に好まし
く、その膜厚は素子電極2、3へのステップカバレー
ジ、素子電極2、3間の抵抗値及び後述する通電フォー
ミング条件等によって、適宜設定され、好ましくは数オ
ングストロームより数千オングストロームで、特に好ま
しくは10オングストロームより500オングストロー
ムであり、その抵抗値は、10の3乗から10の7乗オ
ーム/□のシート抵抗値である。
るためには微粒子で構成された微粒子膜が特に好まし
く、その膜厚は素子電極2、3へのステップカバレー
ジ、素子電極2、3間の抵抗値及び後述する通電フォー
ミング条件等によって、適宜設定され、好ましくは数オ
ングストロームより数千オングストロームで、特に好ま
しくは10オングストロームより500オングストロー
ムであり、その抵抗値は、10の3乗から10の7乗オ
ーム/□のシート抵抗値である。
【0026】なお、ここで述べる微粒子膜とは、複数の
微粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒
子が個々の分散配置した状態のみならず、微粒子が互い
に隣接、あるいは重なりあった状態(島状も含む)の膜
をさしており、微粒子の粒径は、数オングストロームよ
り数千オングストローム、好ましくは10オングストロ
ームより200オングストロームである。
微粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒
子が個々の分散配置した状態のみならず、微粒子が互い
に隣接、あるいは重なりあった状態(島状も含む)の膜
をさしており、微粒子の粒径は、数オングストロームよ
り数千オングストローム、好ましくは10オングストロ
ームより200オングストロームである。
【0027】また、前記導電性薄膜4を構成する材料
は、Pd,Pt,Ru,Ag,Au,Ti,In,C
u,Cr,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pb等の金
属、PdO、SnO2 、In2 O3 、PbO、Sb2 O
3 等の金属酸化物、HfB2 、ZrB2 、LaB6 、C
eB6 、YB4 、GdB4 等の金属硼素化物、TiC、
ZrC、HfC、TaC、SiC、WC等の金属炭化
物、TiN、ZrN、HfN等の金属窒化物、Si、G
e等の半導体、カーボン等があげられる。
は、Pd,Pt,Ru,Ag,Au,Ti,In,C
u,Cr,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pb等の金
属、PdO、SnO2 、In2 O3 、PbO、Sb2 O
3 等の金属酸化物、HfB2 、ZrB2 、LaB6 、C
eB6 、YB4 、GdB4 等の金属硼素化物、TiC、
ZrC、HfC、TaC、SiC、WC等の金属炭化
物、TiN、ZrN、HfN等の金属窒化物、Si、G
e等の半導体、カーボン等があげられる。
【0028】前記電子放出部5は、導電性薄膜4の一部
に形成される高抵抗の亀裂であり、導電性薄膜4の膜
厚、膜質、材料及び後述する通電フォーミングなどの製
法に依存して形成される。また、数オングストロームよ
り数百オングストロームの粒径の導電性微粒子を有する
こともある。この導電性微粒子は、導電性薄膜4を形成
する材料の元素の一部、あるいは全てと同様のものであ
る。また、電子放出部5及びその近傍の導電性薄膜4に
は、炭素及び炭素化合物を有することもある。
に形成される高抵抗の亀裂であり、導電性薄膜4の膜
厚、膜質、材料及び後述する通電フォーミングなどの製
法に依存して形成される。また、数オングストロームよ
り数百オングストロームの粒径の導電性微粒子を有する
こともある。この導電性微粒子は、導電性薄膜4を形成
する材料の元素の一部、あるいは全てと同様のものであ
る。また、電子放出部5及びその近傍の導電性薄膜4に
は、炭素及び炭素化合物を有することもある。
【0029】次に本発明に好適な別な構成の表面伝導型
電子放出素子である垂直型表面伝導型電子放出素子につ
いて説明する。
電子放出素子である垂直型表面伝導型電子放出素子につ
いて説明する。
【0030】図2は、本発明に好適な基本的な垂直型表
面伝導型電子放出素子の構成を示す模式的図面である。
図2において、図1と同一の符号のものは同一である。
21は段差形成部であ。基板1、素子電極2、3、導電
性薄膜4、電子放出部5は前述した平面型表面伝導型電
子放出素子と同様の材料で構成されたものであり、段差
形成部21は、真空蒸着法、印刷法、スパッタ法等で形
成されたSiO2 等の絶縁性材料で構成され、段差形成
部21の膜厚が先に述べた平面型表面伝導型電子放出素
子の素子電極間隔Lに対応し、数百オングストロームよ
り数十マイクロメートルであり、段差形成部の製法及び
素子電極間に印加する電圧等により設定されるが、好ま
しくは数百オングストロームより数十マイクロメートル
である。
面伝導型電子放出素子の構成を示す模式的図面である。
図2において、図1と同一の符号のものは同一である。
21は段差形成部であ。基板1、素子電極2、3、導電
性薄膜4、電子放出部5は前述した平面型表面伝導型電
子放出素子と同様の材料で構成されたものであり、段差
形成部21は、真空蒸着法、印刷法、スパッタ法等で形
成されたSiO2 等の絶縁性材料で構成され、段差形成
部21の膜厚が先に述べた平面型表面伝導型電子放出素
子の素子電極間隔Lに対応し、数百オングストロームよ
り数十マイクロメートルであり、段差形成部の製法及び
素子電極間に印加する電圧等により設定されるが、好ま
しくは数百オングストロームより数十マイクロメートル
である。
【0031】導電性薄膜4は、素子電極2、3と段差形
成部21を作成後に形成するため、素子電極2、3の上
に積層される。なお、電子放出部5は、図2において、
段差形成部21に直線状に示されているが、作成条件、
通電フォーミング条件などに依存し、形状、位置ともこ
れに限るものではない。
成部21を作成後に形成するため、素子電極2、3の上
に積層される。なお、電子放出部5は、図2において、
段差形成部21に直線状に示されているが、作成条件、
通電フォーミング条件などに依存し、形状、位置ともこ
れに限るものではない。
【0032】次に、本発明では表面伝導型電子放出素子
の製造方法において、凹部を有する基板を用いることを
特徴とするものであるが、以下に順を追って電子放出素
子の製造方法の概略を図1及び図3に基づいて説明す
る。
の製造方法において、凹部を有する基板を用いることを
特徴とするものであるが、以下に順を追って電子放出素
子の製造方法の概略を図1及び図3に基づいて説明す
る。
【0033】1)図1及び図3において、絶縁性基板1
は特に限定されるものではないが、高絶縁性を有すれば
良く、まず、絶縁性基板1を洗剤、純水および有機溶剤
により十分に洗浄後、フォトリソグラフィー技術等によ
って、絶縁性基板1の中央部には凹部6が形成される。
凹部6の長さ及び幅形状等は、応用される形態等によっ
て適宜設計される。
は特に限定されるものではないが、高絶縁性を有すれば
良く、まず、絶縁性基板1を洗剤、純水および有機溶剤
により十分に洗浄後、フォトリソグラフィー技術等によ
って、絶縁性基板1の中央部には凹部6が形成される。
凹部6の長さ及び幅形状等は、応用される形態等によっ
て適宜設計される。
【0034】このように凹部6が形成された絶縁性基板
1を有機溶剤により充分に洗浄する。次に、洗浄された
基板面上の凹部6に印刷技術によって、電子放出素子に
電圧を印加するための一対の素子電極2、3を所定間隔
(L)及び幅(W)で形成する(図1(a))。尚、図
1の構成だけでなく、基板1の上に、導電性薄膜4、対
抗する素子電極2、3の順に積層構成してもよい。
1を有機溶剤により充分に洗浄する。次に、洗浄された
基板面上の凹部6に印刷技術によって、電子放出素子に
電圧を印加するための一対の素子電極2、3を所定間隔
(L)及び幅(W)で形成する(図1(a))。尚、図
1の構成だけでなく、基板1の上に、導電性薄膜4、対
抗する素子電極2、3の順に積層構成してもよい。
【0035】2)液滴付与手段21を用いて、電子放出
材料を含む金属組成物水溶液の液滴22を、絶縁性基板
の素子電極2と3の凹部6部分に、両電極にまたがるよ
うに付与して液溜り23を形成する(図3(b))。こ
の基板を乾燥、焼成して電子放出部形成用薄膜(導電性
薄膜)4を形成する(図3(c))。
材料を含む金属組成物水溶液の液滴22を、絶縁性基板
の素子電極2と3の凹部6部分に、両電極にまたがるよ
うに付与して液溜り23を形成する(図3(b))。こ
の基板を乾燥、焼成して電子放出部形成用薄膜(導電性
薄膜)4を形成する(図3(c))。
【0036】この電子放出部5を形成するための電子放
出材料を含む金属組成物は、加熱焼成する過程を経て熱
分解される材料であれば良く、無機金属錯塩や有機金属
錯塩などを含む溶液が好ましく用いられる。
出材料を含む金属組成物は、加熱焼成する過程を経て熱
分解される材料であれば良く、無機金属錯塩や有機金属
錯塩などを含む溶液が好ましく用いられる。
【0037】前記溶液中の金属の濃度範囲は、用いる金
属元素の種類や金属塩の種類によって最適な範囲が多少
異なるが、一般には重量で0.01%以上、5%以下の
範囲が適当である。このような金属組成物には、必要に
応じて膜厚を均一化するために、ジメチルスルホキシド
水溶液、グリセリンなどの水溶性高沸点溶媒や水溶液の
粘度を増すためにメチルセルロースなどの水性樹脂を添
加して用いてもよい。なお、ここで述べる微粒子膜と
は、複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造と
して、微粒子が個々の分散配置した状態のみならず、微
粒子が互いに隣接、あるいは重なりあった状態(島状も
含む)の膜をさしており、微粒子の粒径は、数オングス
トロームより数千オングストローム、好ましくは10オ
ングストロームより200オングストロームである。
属元素の種類や金属塩の種類によって最適な範囲が多少
異なるが、一般には重量で0.01%以上、5%以下の
範囲が適当である。このような金属組成物には、必要に
応じて膜厚を均一化するために、ジメチルスルホキシド
水溶液、グリセリンなどの水溶性高沸点溶媒や水溶液の
粘度を増すためにメチルセルロースなどの水性樹脂を添
加して用いてもよい。なお、ここで述べる微粒子膜と
は、複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造と
して、微粒子が個々の分散配置した状態のみならず、微
粒子が互いに隣接、あるいは重なりあった状態(島状も
含む)の膜をさしており、微粒子の粒径は、数オングス
トロームより数千オングストローム、好ましくは10オ
ングストロームより200オングストロームである。
【0038】上記の金属組成物水溶液を基板に付与する
手段は、液滴を形成し付与することが可能ならば任意の
方法でよいが、特に微小な液滴を効率よく適度な精度で
発生付与でき制御性も良好なインクジェット方式が便利
である。インクジェット方式にはピエゾ素子等のメカニ
カルな衝撃により液滴を発生付与するものや、微小ヒー
タ等で液を加熱し突沸により液滴を発生付与するバブル
ジェット方式があるが、いずれの方式でも十ナノグラム
程度から数十マイクログラム程度までの微小液滴を再現
性良く発生し基板に付与することができる。
手段は、液滴を形成し付与することが可能ならば任意の
方法でよいが、特に微小な液滴を効率よく適度な精度で
発生付与でき制御性も良好なインクジェット方式が便利
である。インクジェット方式にはピエゾ素子等のメカニ
カルな衝撃により液滴を発生付与するものや、微小ヒー
タ等で液を加熱し突沸により液滴を発生付与するバブル
ジェット方式があるが、いずれの方式でも十ナノグラム
程度から数十マイクログラム程度までの微小液滴を再現
性良く発生し基板に付与することができる。
【0039】上記手段で基板に付与された金属組成物溶
液は乾燥、焼成工程を経て導電性無機微粒子膜とするこ
とにより、基板上に電子放出のための無機微粒子膜を形
成する。なお、ここで述べる微粒子膜とは複数の微粒子
が集合した膜であり、微視的に微粒子が個々に分散配置
した状態のみならず、微粒子が互いに隣接あるいは重な
り合った状態(島状も含む)の膜をさす。また微粒子膜
の粒径とは、前記状態で粒子形状が認識可能な微粒子に
ついての径を意味する。
液は乾燥、焼成工程を経て導電性無機微粒子膜とするこ
とにより、基板上に電子放出のための無機微粒子膜を形
成する。なお、ここで述べる微粒子膜とは複数の微粒子
が集合した膜であり、微視的に微粒子が個々に分散配置
した状態のみならず、微粒子が互いに隣接あるいは重な
り合った状態(島状も含む)の膜をさす。また微粒子膜
の粒径とは、前記状態で粒子形状が認識可能な微粒子に
ついての径を意味する。
【0040】乾燥工程は、通常用いられる自然乾燥、送
風乾燥、熱乾燥等を用いればよい。焼成工程は通常用い
られる加熱手段を用いれば良い。乾燥工程と焼成工程と
は必ずしも区別された別工程として行う必要はなく、連
続して同時に行ってもかまわない。
風乾燥、熱乾燥等を用いればよい。焼成工程は通常用い
られる加熱手段を用いれば良い。乾燥工程と焼成工程と
は必ずしも区別された別工程として行う必要はなく、連
続して同時に行ってもかまわない。
【0041】このように乾燥された金属組成物からなる
薄膜の焼成工程では、典型的には300〜380℃で1
0〜15分間、空気中で焼成して電子放出部形成用導電
性薄膜4を形成する。ただしこの値は限定的なものでは
なく、金属組成物の種類によってはこの範囲外になる場
合がある。
薄膜の焼成工程では、典型的には300〜380℃で1
0〜15分間、空気中で焼成して電子放出部形成用導電
性薄膜4を形成する。ただしこの値は限定的なものでは
なく、金属組成物の種類によってはこの範囲外になる場
合がある。
【0042】3)つづいて、真空容器中においてフォー
ミングと呼ばれる通電処理を行う。素子電極2、3間に
電圧を不図示の電源によりパルス状あるいは、高速の昇
電圧による通電処理がおこなわれると、電子放出部形成
用薄膜4の部位に構造の変化した電子放出部5が形成さ
れる(図3(d))。この電子放出部5は電子放出部形
成用薄膜4が前記の通電処理により局所的に破壊、変形
もしくは変質し、構造の変化した部位である。先に説明
したように、電子放出部5は導電性微粒子で構成されて
いることが観察されている。
ミングと呼ばれる通電処理を行う。素子電極2、3間に
電圧を不図示の電源によりパルス状あるいは、高速の昇
電圧による通電処理がおこなわれると、電子放出部形成
用薄膜4の部位に構造の変化した電子放出部5が形成さ
れる(図3(d))。この電子放出部5は電子放出部形
成用薄膜4が前記の通電処理により局所的に破壊、変形
もしくは変質し、構造の変化した部位である。先に説明
したように、電子放出部5は導電性微粒子で構成されて
いることが観察されている。
【0043】次に、通電フォーミング処理の電圧波形を
図4に示す。電圧波形は、特にパルス波形が好ましく、
パルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印加する
場合(図4(a))と、パルス波高値を増加させながら
電圧パルスを印加する場合(図4(b))とがある。ま
ず、パルス波高値を定電圧とした場合を図4(a)につ
いて説明する。
図4に示す。電圧波形は、特にパルス波形が好ましく、
パルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印加する
場合(図4(a))と、パルス波高値を増加させながら
電圧パルスを印加する場合(図4(b))とがある。ま
ず、パルス波高値を定電圧とした場合を図4(a)につ
いて説明する。
【0044】図4(a)におけるT1及びT2は電圧波
形のパルス幅とパルス間隔であり、T1を1マイクロ秒
〜10ミリ秒、T2を10マイクロ秒〜100ミリ秒と
し、三角波の波高値(通電フォーミング時のピーク電
圧)は、表面伝導型電子放出素子の前述した形態に応じ
て適宜選択し、例えば、4V〜10V程度である。フォ
ーミング処理は適当な真空度、例えば、10-5torr
程度の真空雰囲気下で、素子の電極間に前記の電圧波形
を数秒から数十分間適宜印加して行う。なお、素子の電
極間に印加する波形は三角波に限定することはなく、矩
形波など所望の波形を用いてもよい。
形のパルス幅とパルス間隔であり、T1を1マイクロ秒
〜10ミリ秒、T2を10マイクロ秒〜100ミリ秒と
し、三角波の波高値(通電フォーミング時のピーク電
圧)は、表面伝導型電子放出素子の前述した形態に応じ
て適宜選択し、例えば、4V〜10V程度である。フォ
ーミング処理は適当な真空度、例えば、10-5torr
程度の真空雰囲気下で、素子の電極間に前記の電圧波形
を数秒から数十分間適宜印加して行う。なお、素子の電
極間に印加する波形は三角波に限定することはなく、矩
形波など所望の波形を用いてもよい。
【0045】図4(b)におけるT1及びT2は、図4
(a)と同様であり、三角波の波高値(通電フォーミン
グ時のピーク電圧)は、例えば、0.1Vステップ程度
ずつ増加させ、適当な真空雰囲気下で印加する。
(a)と同様であり、三角波の波高値(通電フォーミン
グ時のピーク電圧)は、例えば、0.1Vステップ程度
ずつ増加させ、適当な真空雰囲気下で印加する。
【0046】なお、この場合の通電フォーミング処理の
終了は、パルス間隔T2中に、導電性薄膜4を局部的に
破壊、変形しない程度の電圧、例えば、0.1V程度の
電圧で素子電流を測定し、抵抗値を求め、例えば、1M
オーム以上の抵抗を示した時、通電フォーミングを終了
とする。
終了は、パルス間隔T2中に、導電性薄膜4を局部的に
破壊、変形しない程度の電圧、例えば、0.1V程度の
電圧で素子電流を測定し、抵抗値を求め、例えば、1M
オーム以上の抵抗を示した時、通電フォーミングを終了
とする。
【0047】4)次に、通電フォーミングが終了した素
子に、活性化工程と呼ばれる処理を行うことが望まし
い。ここに言う活性化工程は、適当な真空度、例えば1
0-4〜10-5torrの真空度のもとに前記のフォーミ
ングと同様のパルス波高値を定電圧のパルスを素子に繰
り返し印加する処理のことである。活性化処理は希薄に
存在する有機化合物に由来する炭素あるいは炭素化合物
を電子放出部形成用薄膜上に堆積させ、電子放出素子の
素子電流If、放出電流Ieを著しく変化させる。活性
化は、例えば放出電流Ieがほぼ飽和に達した時点で終
了させればよい。また、パルス波高値は、好ましくは動
作駆動電圧である。
子に、活性化工程と呼ばれる処理を行うことが望まし
い。ここに言う活性化工程は、適当な真空度、例えば1
0-4〜10-5torrの真空度のもとに前記のフォーミ
ングと同様のパルス波高値を定電圧のパルスを素子に繰
り返し印加する処理のことである。活性化処理は希薄に
存在する有機化合物に由来する炭素あるいは炭素化合物
を電子放出部形成用薄膜上に堆積させ、電子放出素子の
素子電流If、放出電流Ieを著しく変化させる。活性
化は、例えば放出電流Ieがほぼ飽和に達した時点で終
了させればよい。また、パルス波高値は、好ましくは動
作駆動電圧である。
【0048】なお、ここで炭素及び炭素化合物とは、グ
ラファイト(単結晶、多結晶双方を指す)、非晶質カー
ボン(非晶質カーボン及び多結晶グラファイトとの混合
物を指す)であり、その膜厚は、好ましくは500オン
グストローム以下、より好ましくは300オングストロ
ーム以下である。
ラファイト(単結晶、多結晶双方を指す)、非晶質カー
ボン(非晶質カーボン及び多結晶グラファイトとの混合
物を指す)であり、その膜厚は、好ましくは500オン
グストローム以下、より好ましくは300オングストロ
ーム以下である。
【0049】こうして作成した電子放出素子を、フォー
ミング工程、活性化工程での真空度より高い真空度の真
空雰囲気にし、好ましくは動作駆動する。また、より好
ましくは、このより高い真空度の真空雰囲気下で、80
〜150℃の加熱後、動作駆動する。
ミング工程、活性化工程での真空度より高い真空度の真
空雰囲気にし、好ましくは動作駆動する。また、より好
ましくは、このより高い真空度の真空雰囲気下で、80
〜150℃の加熱後、動作駆動する。
【0050】5)なお、フォーミング工程、活性化工程
での真空度より高い真空度の真空雰囲気とは、例えば、
約10-6以上の真空度を有する真空度であり、より好ま
しくは超高真空系であり、炭素及び炭素化合物が新たに
堆積しない真空度である。
での真空度より高い真空度の真空雰囲気とは、例えば、
約10-6以上の真空度を有する真空度であり、より好ま
しくは超高真空系であり、炭素及び炭素化合物が新たに
堆積しない真空度である。
【0051】従って、これによって、これ以上の炭素及
び炭素化合物の堆積を抑制することが可能となり、素子
電流If、放出電流Ieが安定する。
び炭素化合物の堆積を抑制することが可能となり、素子
電流If、放出電流Ieが安定する。
【0052】上述のような素子構成と製造方法によって
作成された本発明にかかわる電子放出素子の基本特性に
ついて図5、図6を用いて説明する。
作成された本発明にかかわる電子放出素子の基本特性に
ついて図5、図6を用いて説明する。
【0053】図5は、図1で示した構成を有する素子の
電子放出特性を測定するための測定評価装置の概略構成
図である。図5において図1と同様の符号は、同一のも
のを示す。また、51は電子放出素子に素子電圧Vfを
印加するための電源、50は素子電極2、3間の電子放
出部5を含む導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定
するための電流計、54は素子の電子放出部より放出さ
れる放出電流Ieを捕捉するためのアノード電極、53
はアノード電極54に電圧を印加するための高圧電源、
52は素子の電子放出部5より放出される放出電流Ie
を測定するための電流計、55は真空装置、56は排気
ポンプである。
電子放出特性を測定するための測定評価装置の概略構成
図である。図5において図1と同様の符号は、同一のも
のを示す。また、51は電子放出素子に素子電圧Vfを
印加するための電源、50は素子電極2、3間の電子放
出部5を含む導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定
するための電流計、54は素子の電子放出部より放出さ
れる放出電流Ieを捕捉するためのアノード電極、53
はアノード電極54に電圧を印加するための高圧電源、
52は素子の電子放出部5より放出される放出電流Ie
を測定するための電流計、55は真空装置、56は排気
ポンプである。
【0054】また、本電子放出素子およびアノード電極
54は真空装置55内に設置され、その真空装置には不
図示の真空計等の真空装置に必要な機器が具備されてお
り、所望の真空下で本素子の測定評価を行えるようにな
っている。尚、排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロー
タリーポンプからなる通常の高真空装置系と、更にイオ
ンポンプ等からなる超高真空装置系からなる。また真空
装置全体及び電子源基板は、不図示のヒーターにより2
00度まで加熱できる。従って、本測定装置では前述の
通電フォーミング以降の工程も行うことができる。
54は真空装置55内に設置され、その真空装置には不
図示の真空計等の真空装置に必要な機器が具備されてお
り、所望の真空下で本素子の測定評価を行えるようにな
っている。尚、排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロー
タリーポンプからなる通常の高真空装置系と、更にイオ
ンポンプ等からなる超高真空装置系からなる。また真空
装置全体及び電子源基板は、不図示のヒーターにより2
00度まで加熱できる。従って、本測定装置では前述の
通電フォーミング以降の工程も行うことができる。
【0055】なお、アノード電極の電圧は1kV〜10
kV、アノード電極と電子放出素子との距離Hは2mm
〜8mmの範囲で測定した。
kV、アノード電極と電子放出素子との距離Hは2mm
〜8mmの範囲で測定した。
【0056】図5に示した測定評価装置により測定され
た放出電流Ieおよび素子電流Ifと素子電圧Vfの関
係の典型的な例を図6に示す。なお、図6は、放出電流
Ieは素子電流Ifに比べて著しく小さいので、任意単
位で示されている。
た放出電流Ieおよび素子電流Ifと素子電圧Vfの関
係の典型的な例を図6に示す。なお、図6は、放出電流
Ieは素子電流Ifに比べて著しく小さいので、任意単
位で示されている。
【0057】図6からも明らかなように、本発明の表面
伝導型電子放出素子は放出電流Ieに対する三つの特徴
的特性を有する。
伝導型電子放出素子は放出電流Ieに対する三つの特徴
的特性を有する。
【0058】まず第一に、図6からも明らかなように、
本素子はある電圧(しきい値電圧と呼ぶ、図6中のVt
h)以上の素子電圧を印加すると急激に放出電流Ieが
増加し、一方しきい値電圧Vth以下では放出電流Ie
がほとんど検出されない。すなわち、放出電流Ieに対
する明確なしきい値電圧Vthを持った非線形素子であ
る。
本素子はある電圧(しきい値電圧と呼ぶ、図6中のVt
h)以上の素子電圧を印加すると急激に放出電流Ieが
増加し、一方しきい値電圧Vth以下では放出電流Ie
がほとんど検出されない。すなわち、放出電流Ieに対
する明確なしきい値電圧Vthを持った非線形素子であ
る。
【0059】第二に、放出電流Ieが素子電圧Vfに依
存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御でき
る。
存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御でき
る。
【0060】第三に、アノード電極54に捕捉される放
出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。す
なわち、アノード電極54に捕捉される電荷量は、素子
電圧Vfを印加する時間により制御できる。
出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。す
なわち、アノード電極54に捕捉される電荷量は、素子
電圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0061】以上のような、本発明の表面伝導型電子放
出素子の特徴的特性により、入力信号に応じて、電子放
出特性が複数の電子放出素子を配置した電子源、画像形
成装置等でも容易に制御できることとなり、多方面への
応用ができる。
出素子の特徴的特性により、入力信号に応じて、電子放
出特性が複数の電子放出素子を配置した電子源、画像形
成装置等でも容易に制御できることとなり、多方面への
応用ができる。
【0062】また、素子電流Ifが素子電圧Vfに対し
て単調増加する特性(MI特性と呼ぶ)の例を図6に示
したが、この他にも素子電流Ifが素子電圧Vfに対し
て電圧制御型負性抵抗特性(VCNR特性と呼ぶ)を示
す場合もある(不図示)。また、これらの素子電流の特
性は、その製法及び測定時の測定条件等に依存する。な
おこの場合も、本電子放出素子は上述した三つの特性上
の特徴を有する。なお、以上表面伝導型電子放出素子の
基本的な構成、製法について述べたが、本発明の思想に
よれば、表面伝導型電子放出素子の特性で前記の3つの
特徴を有すれば、上述の構成等に限定されず、後述の電
子源、表示装置等の画像形成装置に於いても利用でき
る。
て単調増加する特性(MI特性と呼ぶ)の例を図6に示
したが、この他にも素子電流Ifが素子電圧Vfに対し
て電圧制御型負性抵抗特性(VCNR特性と呼ぶ)を示
す場合もある(不図示)。また、これらの素子電流の特
性は、その製法及び測定時の測定条件等に依存する。な
おこの場合も、本電子放出素子は上述した三つの特性上
の特徴を有する。なお、以上表面伝導型電子放出素子の
基本的な構成、製法について述べたが、本発明の思想に
よれば、表面伝導型電子放出素子の特性で前記の3つの
特徴を有すれば、上述の構成等に限定されず、後述の電
子源、表示装置等の画像形成装置に於いても利用でき
る。
【0063】次に、本発明に好適な電子源及び画像形成
装置について述べる。本発明に好適な表面伝導型電子放
出素子を複数個、基板上に配列し、電子源あるいは画像
形成装置が構成できる。
装置について述べる。本発明に好適な表面伝導型電子放
出素子を複数個、基板上に配列し、電子源あるいは画像
形成装置が構成できる。
【0064】基板上の配列の方式には、例えば、従来例
で述べた多数の表面伝導型電子放出素子を並列に配置
し、個々の素子の両端を配線で接続し、電子放出素子の
行を多数配列し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する
方向に(列方向と呼ぶ)、該電子源の上方の空間に設置
された制御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出
素子からの電子を制御駆動するはしご状配置や、次に述
べるm本のX方向配線の上にn本のY方向配線を層間絶
縁を介して設置し、表面伝導型電子放出素子の一対の電
子電極にそれぞれX方向配線、Y方向配線を接続した配
置法が上げられる。これを単純マトリクス配置と以降呼
ぶ。まず、単純マトリクス配置について詳述する。
で述べた多数の表面伝導型電子放出素子を並列に配置
し、個々の素子の両端を配線で接続し、電子放出素子の
行を多数配列し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する
方向に(列方向と呼ぶ)、該電子源の上方の空間に設置
された制御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出
素子からの電子を制御駆動するはしご状配置や、次に述
べるm本のX方向配線の上にn本のY方向配線を層間絶
縁を介して設置し、表面伝導型電子放出素子の一対の電
子電極にそれぞれX方向配線、Y方向配線を接続した配
置法が上げられる。これを単純マトリクス配置と以降呼
ぶ。まず、単純マトリクス配置について詳述する。
【0065】前述した本発明にかかわる表面伝導型電子
放出素子の基本的特性の3つの特徴によれば、単純マト
リクス配置された表面伝導型電子放出素子においても、
表面伝導型電子放出素子からの放出電子は、しきい値電
圧以上では対向する素子電極間に印加するパルス状電圧
の波高値と巾に制御される。一方、しきい値電圧以下に
おいては電子は殆ど放出されない。この特性によれば、
多数の電子放出素子を配置した場合においても、個々の
素子に上記パルス状電圧を適宜印加すれば、任意の表面
伝導型電子放出素子を選択することができ、その電子放
出量を制御できることとなる。
放出素子の基本的特性の3つの特徴によれば、単純マト
リクス配置された表面伝導型電子放出素子においても、
表面伝導型電子放出素子からの放出電子は、しきい値電
圧以上では対向する素子電極間に印加するパルス状電圧
の波高値と巾に制御される。一方、しきい値電圧以下に
おいては電子は殆ど放出されない。この特性によれば、
多数の電子放出素子を配置した場合においても、個々の
素子に上記パルス状電圧を適宜印加すれば、任意の表面
伝導型電子放出素子を選択することができ、その電子放
出量を制御できることとなる。
【0066】以下この原理に基づき構成した電子源基板
の構成について図7を用いて説明する。図7において7
1は電子源基板、72はX方向配線、73はY方向配
線、74は表面伝導型電子放出素子、75は結線であ
る。なお表面伝導型電子放出素子74は前述した平面型
あるいは垂直型どちらであってもよい。
の構成について図7を用いて説明する。図7において7
1は電子源基板、72はX方向配線、73はY方向配
線、74は表面伝導型電子放出素子、75は結線であ
る。なお表面伝導型電子放出素子74は前述した平面型
あるいは垂直型どちらであってもよい。
【0067】同図において、電子源基板71は前述した
ガラス基板等であり、その大きさおよびその厚みは電子
源基板71に設置される表面伝導型素子の個数および個
々の素子の設計上の形状、および電子源の使用時容器の
一部を構成する場合には、その容器を真空に保持するた
めの条件等に依存して適宜設定される。
ガラス基板等であり、その大きさおよびその厚みは電子
源基板71に設置される表面伝導型素子の個数および個
々の素子の設計上の形状、および電子源の使用時容器の
一部を構成する場合には、その容器を真空に保持するた
めの条件等に依存して適宜設定される。
【0068】m本のX方向配線72はDX1,DX2,
・・・DXmからなり、電子源基板71上に真空蒸着
法、印刷法、スパッタ法等で形成した導電性金属等であ
る。また、多数の表面伝導型素子にほぼ均等な電圧が供
給されるように材料、膜厚、配線巾等が適宜設定され
る。Y方向配線73はDY1,DY2,・・・DYnの
n本の配線よりなり、X方向配線72と同様に作成され
る。これらm本のx方向配線72とn本のY方向配線7
3間には、不図示の層間絶縁層が設置され、電気的に分
離されて、マトリックス配線を構成する。このm,n
は、共に正の整数である。
・・・DXmからなり、電子源基板71上に真空蒸着
法、印刷法、スパッタ法等で形成した導電性金属等であ
る。また、多数の表面伝導型素子にほぼ均等な電圧が供
給されるように材料、膜厚、配線巾等が適宜設定され
る。Y方向配線73はDY1,DY2,・・・DYnの
n本の配線よりなり、X方向配線72と同様に作成され
る。これらm本のx方向配線72とn本のY方向配線7
3間には、不図示の層間絶縁層が設置され、電気的に分
離されて、マトリックス配線を構成する。このm,n
は、共に正の整数である。
【0069】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等で形成されたSiO2 等でありX方向
配線72を形成した絶縁性基板71の全面或は一部に所
望の形状で形成され、特に、X方向配線72とY方向配
線73の交差部の電位差に耐え得るように、膜厚、材
料、製法が適宜設定される。また、X方向配線72とY
方向配線73は、それぞれ外部端子として引き出されて
いる。
法、スパッタ法等で形成されたSiO2 等でありX方向
配線72を形成した絶縁性基板71の全面或は一部に所
望の形状で形成され、特に、X方向配線72とY方向配
線73の交差部の電位差に耐え得るように、膜厚、材
料、製法が適宜設定される。また、X方向配線72とY
方向配線73は、それぞれ外部端子として引き出されて
いる。
【0070】更に前述と同様にして、表面伝導型放出素
子74の対向する電極(不図示)が、m本のX方向配線
72とn本のY方向配線73と、真空蒸着法、印刷法、
スパッタ法等で形成された導電性金属等からなる結線7
5によって電気的に接続されているものである。
子74の対向する電極(不図示)が、m本のX方向配線
72とn本のY方向配線73と、真空蒸着法、印刷法、
スパッタ法等で形成された導電性金属等からなる結線7
5によって電気的に接続されているものである。
【0071】ここで、m本のX方向配線72とn本のY
方向配線73と結線75と対向する素子電極の導電性金
属は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、またそれぞれ異なってもよく、前述の素子電極の材
料等より適宜選択される。尚、これら素子電極への配線
は、素子電極と配線材料が同一である場合は、素子電極
と総称する場合もある。また表面伝導型電子放出素子
は、基板71あるいは不図示の層間絶縁層上のどちらに
形成してもよい。
方向配線73と結線75と対向する素子電極の導電性金
属は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、またそれぞれ異なってもよく、前述の素子電極の材
料等より適宜選択される。尚、これら素子電極への配線
は、素子電極と配線材料が同一である場合は、素子電極
と総称する場合もある。また表面伝導型電子放出素子
は、基板71あるいは不図示の層間絶縁層上のどちらに
形成してもよい。
【0072】また、詳しくは後述するが、前記X方向配
線72には、X方向に配列する表面伝導型放出素子74
の行を入力信号に応じて、走査するための走査信号を印
加するための不図示の走査信号発生手段と電気的に接続
されている。
線72には、X方向に配列する表面伝導型放出素子74
の行を入力信号に応じて、走査するための走査信号を印
加するための不図示の走査信号発生手段と電気的に接続
されている。
【0073】一方、Y方向配線73には、Y方向に配列
する表面伝導型放出素子74の列の各列を入力信号に応
じて、変調するための変調信号を印加するための不図示
の変調信号発生手段と電気的に接続されている。
する表面伝導型放出素子74の列の各列を入力信号に応
じて、変調するための変調信号を印加するための不図示
の変調信号発生手段と電気的に接続されている。
【0074】更に、表面伝導型電子放出素子の各素子に
印加される駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号
と変調信号の差電圧として供給されるものである。
印加される駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号
と変調信号の差電圧として供給されるものである。
【0075】上記構成において、単純なマトリクス配線
だけで個別の素子を選択して独立に駆動可能になる。
だけで個別の素子を選択して独立に駆動可能になる。
【0076】つぎに、以上のようにして作成した単純マ
トリクス配置の電子源による表示等に用いる画像形成装
置について、図8と図9及び図10を用いて説明する。
図8は、画像形成装置の表示パネルの基本構成図であ
り、図9は蛍光膜、図10は画像形成装置をNTSC方
式のテレビ信号に応じて表示を行なう例の駆動回路のブ
ロック図である。
トリクス配置の電子源による表示等に用いる画像形成装
置について、図8と図9及び図10を用いて説明する。
図8は、画像形成装置の表示パネルの基本構成図であ
り、図9は蛍光膜、図10は画像形成装置をNTSC方
式のテレビ信号に応じて表示を行なう例の駆動回路のブ
ロック図である。
【0077】図8において71は、上述のようにして電
子放出素子を作製した電子源基板、81は電子源基板7
1を固定したリアプレート、86はガラス基板83の内
面に蛍光膜84とメタルバック85等が形成されたフェ
ースプレート、82は支持枠であり、リアプレート8
1、支持枠82及びフェースプレート86をフリットガ
ラス等を塗布し、大気中あるいは窒素中で、400〜5
00度で10分以上焼成することで封着して、外囲器8
8を構成する。
子放出素子を作製した電子源基板、81は電子源基板7
1を固定したリアプレート、86はガラス基板83の内
面に蛍光膜84とメタルバック85等が形成されたフェ
ースプレート、82は支持枠であり、リアプレート8
1、支持枠82及びフェースプレート86をフリットガ
ラス等を塗布し、大気中あるいは窒素中で、400〜5
00度で10分以上焼成することで封着して、外囲器8
8を構成する。
【0078】図8において、74は図1における電子放
出部に相当する。72、73は表面伝導型電子放出素子
の一対の素子電極と接続されたX方向配線及びY方向配
線である。
出部に相当する。72、73は表面伝導型電子放出素子
の一対の素子電極と接続されたX方向配線及びY方向配
線である。
【0079】外囲器88は上述の如く、フェースプレー
ト86、支持枠82、リアプレート81で外囲器88を
構成したが、リアプレート81は主に基板71の強度を
補強する目的で設けられるため、基板71自体で十分な
強度を持つ場合は別体のリアプレート81は不要であ
り、基板71に直接支持枠82を封着し、フェースプレ
ート86、支持枠82、基板71にて外囲器88を構成
しても良い。またさらには、フェースプレート86、リ
アプレート81間に、スペーサーとよばれる不図示の支
持体を設置することで、大気圧に対して十分な強度をも
つ外囲器88の構成にすることもできる。
ト86、支持枠82、リアプレート81で外囲器88を
構成したが、リアプレート81は主に基板71の強度を
補強する目的で設けられるため、基板71自体で十分な
強度を持つ場合は別体のリアプレート81は不要であ
り、基板71に直接支持枠82を封着し、フェースプレ
ート86、支持枠82、基板71にて外囲器88を構成
しても良い。またさらには、フェースプレート86、リ
アプレート81間に、スペーサーとよばれる不図示の支
持体を設置することで、大気圧に対して十分な強度をも
つ外囲器88の構成にすることもできる。
【0080】図9は蛍光膜である。蛍光膜84は、モノ
クロームの場合は蛍光体のみから成るが、カラーの蛍光
膜の場合は、蛍光体の配列によりブラックストライプあ
るいはブラックマトリクスなどと呼ばれる黒色導電材9
1と蛍光体92とで構成される。ブラックストライプ、
ブラックマトリクスが設けられる目的は、カラー表示の
場合必要となる三原色蛍光体の、各蛍光体92間の塗り
分け部を黒くすることで混色等を目立たなくすること
と、蛍光膜84における外光反射によるコントラストの
低下を抑制することである。ブラックストライプの材料
としては、通常よく用いられている黒鉛を主成分とする
材料だけでなく、導電性があり、光の透過及び反射が少
ない材料であればこれに限るものではない。
クロームの場合は蛍光体のみから成るが、カラーの蛍光
膜の場合は、蛍光体の配列によりブラックストライプあ
るいはブラックマトリクスなどと呼ばれる黒色導電材9
1と蛍光体92とで構成される。ブラックストライプ、
ブラックマトリクスが設けられる目的は、カラー表示の
場合必要となる三原色蛍光体の、各蛍光体92間の塗り
分け部を黒くすることで混色等を目立たなくすること
と、蛍光膜84における外光反射によるコントラストの
低下を抑制することである。ブラックストライプの材料
としては、通常よく用いられている黒鉛を主成分とする
材料だけでなく、導電性があり、光の透過及び反射が少
ない材料であればこれに限るものではない。
【0081】ガラス基板93に蛍光体を塗布する方法は
モノクローム、カラーによらず、沈殿法や印刷法が用い
られる。
モノクローム、カラーによらず、沈殿法や印刷法が用い
られる。
【0082】また、蛍光膜84の内面側には通常メタル
バック85が設けられる。メタルバックの目的は、蛍光
体の発光のうち内面側への光をフェースプレート86側
へ鏡面反射することにより輝度を向上すること、電子ビ
ーム加速電圧を印加するための電極として作用するこ
と、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダメージ
からの蛍光体の保護等である。メタルバックは、蛍光膜
作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理(通常フィル
ミングと呼ばれる)を行い、その後A1を真空蒸着等で
堆積することで作製できる。
バック85が設けられる。メタルバックの目的は、蛍光
体の発光のうち内面側への光をフェースプレート86側
へ鏡面反射することにより輝度を向上すること、電子ビ
ーム加速電圧を印加するための電極として作用するこ
と、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダメージ
からの蛍光体の保護等である。メタルバックは、蛍光膜
作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理(通常フィル
ミングと呼ばれる)を行い、その後A1を真空蒸着等で
堆積することで作製できる。
【0083】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
【0084】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけないた
め、十分な位置合わせを行なう必要がある。
蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけないた
め、十分な位置合わせを行なう必要がある。
【0085】外囲器88は不図示の排気管を通じ、10
のマイナス7乗トール程度の真空度にされ、封止を行な
われる。また、外囲器88の封止後の真空度を維持する
ために、ゲッター処理を行なう場合もある。これは、外
囲器88の封止を行なう直前あるいは封止後に、抵抗加
熱あるいは高周波加熱等の加熱法により、外囲器88内
の所定の位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱
し、蒸着膜を形成する処理である。ゲッターは通常Ba
等が主成分であり、該蒸着膜の吸着作用により、たとえ
ば1X10マイナス5乗ないしは1X10マイナス7乗
[Torr]の真空度を維持するものである。尚、表面
伝導型電子放出素子のフォーミング以降の工程は、適宜
設定される。
のマイナス7乗トール程度の真空度にされ、封止を行な
われる。また、外囲器88の封止後の真空度を維持する
ために、ゲッター処理を行なう場合もある。これは、外
囲器88の封止を行なう直前あるいは封止後に、抵抗加
熱あるいは高周波加熱等の加熱法により、外囲器88内
の所定の位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱
し、蒸着膜を形成する処理である。ゲッターは通常Ba
等が主成分であり、該蒸着膜の吸着作用により、たとえ
ば1X10マイナス5乗ないしは1X10マイナス7乗
[Torr]の真空度を維持するものである。尚、表面
伝導型電子放出素子のフォーミング以降の工程は、適宜
設定される。
【0086】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルを、NTSC方式のテレビ信号に
もとづきテレビジョン表示を行なう為の駆動回路の概略
構成を、図10のブロック図を用いて説明する。101
は前記表示パネルであり、また、102は走査回路、1
03は制御回路、104はシフトレジスタ、105はラ
インメモリ、106は同期信号分離回路、107は変調
信号発生器、VxおよびVaは直流電圧源である。
て構成した表示パネルを、NTSC方式のテレビ信号に
もとづきテレビジョン表示を行なう為の駆動回路の概略
構成を、図10のブロック図を用いて説明する。101
は前記表示パネルであり、また、102は走査回路、1
03は制御回路、104はシフトレジスタ、105はラ
インメモリ、106は同期信号分離回路、107は変調
信号発生器、VxおよびVaは直流電圧源である。
【0087】以下、各部の機能を説明していくが、まず
表示パネル101は、端子Dox1ないしDoxm、お
よび端子Doy1ないしDoyn、および高圧端子Hv
を介して外部の電気回路と接続している。このうち、端
子Dox1ないしDoxmには、前記表示パネル内に設
けられている電子源、すなわちM行N列の行列状にマト
リクス配線された表面伝導型電子放出素子群を一行(N
素子)ずつ順次駆動していく為の走査信号が印加され
る。
表示パネル101は、端子Dox1ないしDoxm、お
よび端子Doy1ないしDoyn、および高圧端子Hv
を介して外部の電気回路と接続している。このうち、端
子Dox1ないしDoxmには、前記表示パネル内に設
けられている電子源、すなわちM行N列の行列状にマト
リクス配線された表面伝導型電子放出素子群を一行(N
素子)ずつ順次駆動していく為の走査信号が印加され
る。
【0088】一方、端子Dy1ないしDynには、前記
走査信号により選択された一行の表面伝導型電子放出素
子の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信号が
印加される。また、高圧端子Hvには、直流電圧源Va
より、たとえば10K[V]の直流電圧が供給される
が、これは表面伝導型電子放出素子より出力されるでん
しビームに蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付
与する為に加速電圧である。
走査信号により選択された一行の表面伝導型電子放出素
子の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信号が
印加される。また、高圧端子Hvには、直流電圧源Va
より、たとえば10K[V]の直流電圧が供給される
が、これは表面伝導型電子放出素子より出力されるでん
しビームに蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付
与する為に加速電圧である。
【0089】次に、走査回路102について説明する。
同回路は、内部にM個の各スイッチング素子を備えるも
ので(図中、S1ないしSmで模式的に示している)、
スイッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もしく
は0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択
し、表示パネル101の端子Dx1ないしDxmと電気
的に接続するものである。S1ないしSmの各スイッチ
ング素子は、制御回路103が出力する制御信号Tsc
anに基づいて動作するものだが、実際にはたとえばF
ETのようなスイッチング素子を組み合わせる事により
容易に構成する事が可能である。
同回路は、内部にM個の各スイッチング素子を備えるも
ので(図中、S1ないしSmで模式的に示している)、
スイッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もしく
は0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択
し、表示パネル101の端子Dx1ないしDxmと電気
的に接続するものである。S1ないしSmの各スイッチ
ング素子は、制御回路103が出力する制御信号Tsc
anに基づいて動作するものだが、実際にはたとえばF
ETのようなスイッチング素子を組み合わせる事により
容易に構成する事が可能である。
【0090】尚、前記直流電圧源Vxは、本実施態様の
場合には前記表面伝導型電子放出素子の特性(電子放出
しきい値電圧)に基づき、走査されていない素子に印加
される駆動電圧が電子放出しきい値電圧以下となるよう
な一定電圧を出力するよう設定されている。
場合には前記表面伝導型電子放出素子の特性(電子放出
しきい値電圧)に基づき、走査されていない素子に印加
される駆動電圧が電子放出しきい値電圧以下となるよう
な一定電圧を出力するよう設定されている。
【0091】また、制御回路103は、外部より入力す
る画像信号に基づいて適切な表示が行なわれるように各
部の動作を整合させる働きをもつものである。次に説明
する同期信号分離回路106より送られる同期信号Ts
yncに基づいて、各部に対してTscanおよびTs
ftおよびTmryの各制御信号を発生する。
る画像信号に基づいて適切な表示が行なわれるように各
部の動作を整合させる働きをもつものである。次に説明
する同期信号分離回路106より送られる同期信号Ts
yncに基づいて、各部に対してTscanおよびTs
ftおよびTmryの各制御信号を発生する。
【0092】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離する為の回路で、よく知られてい
るように周波数分離(フィルター)回路を用いれば、容
易に構成できるものである。同期信号分離回路106に
より分離された同期信号は、よく知られるように垂直同
期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便宜
上、Tsync信号として図示した。一方、前記テレビ
信号から分離された画像の輝度信号成分を便宜上DAT
A信号と表すが、同信号はシフトレジスタ104に入力
される。
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離する為の回路で、よく知られてい
るように周波数分離(フィルター)回路を用いれば、容
易に構成できるものである。同期信号分離回路106に
より分離された同期信号は、よく知られるように垂直同
期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便宜
上、Tsync信号として図示した。一方、前記テレビ
信号から分離された画像の輝度信号成分を便宜上DAT
A信号と表すが、同信号はシフトレジスタ104に入力
される。
【0093】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftにもとづい
て動作する。(すなわち、制御信号Tsftは、シフト
レジスタ104のシフトクロックであると言い換えても
良い。)シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
(電子放出素子N素子分の駆動データに相当する)のデ
ータは、Id1ないしIdnのN個の並列信号として前
記シフトレジスタ104より出力される。
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftにもとづい
て動作する。(すなわち、制御信号Tsftは、シフト
レジスタ104のシフトクロックであると言い換えても
良い。)シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
(電子放出素子N素子分の駆動データに相当する)のデ
ータは、Id1ないしIdnのN個の並列信号として前
記シフトレジスタ104より出力される。
【0094】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryにし
たがって適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。記
憶された内容は、I’d1ないしI’dnとして出力さ
れ、変調信号発生器107に入力される。
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryにし
たがって適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。記
憶された内容は、I’d1ないしI’dnとして出力さ
れ、変調信号発生器107に入力される。
【0095】変調信号発生器107は、前記画像データ
I’d1ないしI’dnの各々に応じて、表面伝導型電
子放出素子の各々を適切に駆動変調する為の信号源で、
その出力信号は、端子Doy1ないしDoynを通じて
表示パネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加さ
れる。
I’d1ないしI’dnの各々に応じて、表面伝導型電
子放出素子の各々を適切に駆動変調する為の信号源で、
その出力信号は、端子Doy1ないしDoynを通じて
表示パネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加さ
れる。
【0096】前述したように本発明に関わる電子放出素
子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有してい
る。すなわち、前述したように、電子放出には明確なし
きい値電圧Vthがあり、Vth以上の電圧を印加され
た時のみ電子放出が生じる。
子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有してい
る。すなわち、前述したように、電子放出には明確なし
きい値電圧Vthがあり、Vth以上の電圧を印加され
た時のみ電子放出が生じる。
【0097】また、電子放出しきい値以上の電圧に対し
ては、素子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化
していく。尚、電子放出素子の材料や構成、製造方法を
変える事により、電子放出しきい値電圧Vthの値や、
印加電圧に対する放出電流の変化の度合いが変わる場合
もあるが、いずれにしても以下のような事がいえる。す
なわち、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、例え
ば電子放出閾値以下の電圧を印加しても電子放出は生じ
ないが、電子放出閾値以上の電圧を印加する場合には電
子ビームが出力される。その際、第一には、パルスの波
高値Vmを変化させる事により出力電子ビームの強度を
制御する事が可能である。第二には、パルスの幅Pwを
変化させる事により出力される電子ビームの電荷の総量
を制御する事が可能である。
ては、素子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化
していく。尚、電子放出素子の材料や構成、製造方法を
変える事により、電子放出しきい値電圧Vthの値や、
印加電圧に対する放出電流の変化の度合いが変わる場合
もあるが、いずれにしても以下のような事がいえる。す
なわち、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、例え
ば電子放出閾値以下の電圧を印加しても電子放出は生じ
ないが、電子放出閾値以上の電圧を印加する場合には電
子ビームが出力される。その際、第一には、パルスの波
高値Vmを変化させる事により出力電子ビームの強度を
制御する事が可能である。第二には、パルスの幅Pwを
変化させる事により出力される電子ビームの電荷の総量
を制御する事が可能である。
【0098】従って、入力信号に応じて、電子放出素子
を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変調
方式等があげられ、電圧変調方式を実施するには、変調
信号発生器107としては、一定の長さの電圧パルスを
発生するが入力されるデータに応じて適宜パルスの波高
値を変調するような電圧変調方式の回路を用いる。
を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変調
方式等があげられ、電圧変調方式を実施するには、変調
信号発生器107としては、一定の長さの電圧パルスを
発生するが入力されるデータに応じて適宜パルスの波高
値を変調するような電圧変調方式の回路を用いる。
【0099】また、パルス幅変調方式を実施するには、
変調信号発生器107としては、一定の波高値の電圧パ
ルスを発生するが入力されるデータに応じて適宜電圧パ
ルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用
いるものである。
変調信号発生器107としては、一定の波高値の電圧パ
ルスを発生するが入力されるデータに応じて適宜電圧パ
ルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用
いるものである。
【0100】以上に説明した一連の動作により、表示パ
ネル101を用いてテレビジョンの表示を行なえる。
尚、上記説明中、特に記載しなかったが、シフトレジス
タ104やラインメモリ105は、デジタル信号式のも
のでもアナログ信号式のものでも差し支えなく、要は画
像信号のシリアル/パラレル変換や記憶が所定の速度で
行なわれればよい。
ネル101を用いてテレビジョンの表示を行なえる。
尚、上記説明中、特に記載しなかったが、シフトレジス
タ104やラインメモリ105は、デジタル信号式のも
のでもアナログ信号式のものでも差し支えなく、要は画
像信号のシリアル/パラレル変換や記憶が所定の速度で
行なわれればよい。
【0101】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これは106の出力部にA/D変換
器を備えれば容易に可能であることは言うまでもない。
また、これと関連してラインメモリ105の出力信号が
デジタル信号かアナログ信号かにより、変調信号発生器
107に用いられる回路が若干異なったものとなるのは
言うまでもない。すなわち、デジタル信号の場合には、
電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、たと
えばよく知られるD/A変換回路を用い、必要に応じて
増幅回路などを付け加えればよい。またパルス幅変調方
式の場合、変調信号発生器107は、たとえば、高速の
発振器および発振器の出力する波数を計数する計数器
(カウンタ)および計数器の出力値と前記メモリの出力
値を比較する比較器(コンパレータ)を組み合せた回路
を用いれば当業者であれば容易に構成できる。必要に応
じて、比較器の出力するパルス幅変調された変調信号を
表面伝導型電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅する
ための増幅器を付け加えてもよい。
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これは106の出力部にA/D変換
器を備えれば容易に可能であることは言うまでもない。
また、これと関連してラインメモリ105の出力信号が
デジタル信号かアナログ信号かにより、変調信号発生器
107に用いられる回路が若干異なったものとなるのは
言うまでもない。すなわち、デジタル信号の場合には、
電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、たと
えばよく知られるD/A変換回路を用い、必要に応じて
増幅回路などを付け加えればよい。またパルス幅変調方
式の場合、変調信号発生器107は、たとえば、高速の
発振器および発振器の出力する波数を計数する計数器
(カウンタ)および計数器の出力値と前記メモリの出力
値を比較する比較器(コンパレータ)を組み合せた回路
を用いれば当業者であれば容易に構成できる。必要に応
じて、比較器の出力するパルス幅変調された変調信号を
表面伝導型電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅する
ための増幅器を付け加えてもよい。
【0102】一方、アナログ信号の場合には、電圧変調
方式の場合、変調信号発生器107には、たとえばよく
知られるオペアンプなどを用いた増幅回路を用いればよ
く、必要に応じてレベルシフト回路などを付け加えても
よい。また、パルス幅変調方式の場合には、たとえばよ
く知られた電圧制御型発振回路(VCO)を用いればよ
く、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧に
まで電圧増幅するための増幅器を付け加えてもよい。
方式の場合、変調信号発生器107には、たとえばよく
知られるオペアンプなどを用いた増幅回路を用いればよ
く、必要に応じてレベルシフト回路などを付け加えても
よい。また、パルス幅変調方式の場合には、たとえばよ
く知られた電圧制御型発振回路(VCO)を用いればよ
く、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧に
まで電圧増幅するための増幅器を付け加えてもよい。
【0103】以上のように完成した本発明に好適な画像
表示装置において、こうして各電子放出素子には、容器
外端子Dox1ないしDoxm、Doy1ないしDoy
nを通じ、電圧を印加することにより電子放出させ、高
圧端子Hvを通じ、メタルバック85、あるいは透明電
極(不図示)に高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍
光膜84に衝突させ、励起・発光させることで画像を表
示することができる。以上述べた構成は、表示等に用い
られる好適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構
成であり、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述内
容に限られるものではなく、画像形成装置の用途に適す
るよう適宜選択する。また、入力信号例として、NTS
C方式をあげたが、これに限るものでなく、PAL、S
ECAM方式などの諸方式でもよく、また、これより
も、多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE
方式をはじめとする高品位TV)方式でもよい。
表示装置において、こうして各電子放出素子には、容器
外端子Dox1ないしDoxm、Doy1ないしDoy
nを通じ、電圧を印加することにより電子放出させ、高
圧端子Hvを通じ、メタルバック85、あるいは透明電
極(不図示)に高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍
光膜84に衝突させ、励起・発光させることで画像を表
示することができる。以上述べた構成は、表示等に用い
られる好適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構
成であり、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述内
容に限られるものではなく、画像形成装置の用途に適す
るよう適宜選択する。また、入力信号例として、NTS
C方式をあげたが、これに限るものでなく、PAL、S
ECAM方式などの諸方式でもよく、また、これより
も、多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE
方式をはじめとする高品位TV)方式でもよい。
【0104】次に、前述のはしご型配置の電子源及び画
像形成装置について図11、図12を用いて説明する。
像形成装置について図11、図12を用いて説明する。
【0105】図11において、110は電子源基板、1
11は電子放出素子、112はDx1〜Dx10は、前
記電子放出素子を配線するための共通配線である。電子
放出素子111は、基板110上に、X方向に並列に複
数個配置される。(これを素子行と呼ぶ)。この素子行
が複数個配置され、電子源となる。各素子行の共通配線
間に適宜駆動電圧を印加することで、各素子行を独立に
駆動することが、可能である。すなわち、電子ビームを
放出したい素子行には、電子放出しきい値以上の電圧
を、電子ビームを放出しない素子行には、電子放出しき
い値以下の電圧を印加すればよい。また、各素子行間の
共通配線Dx2〜Dx9を、例えばDx2、Dx3を同
一配線とする様にしても良い。
11は電子放出素子、112はDx1〜Dx10は、前
記電子放出素子を配線するための共通配線である。電子
放出素子111は、基板110上に、X方向に並列に複
数個配置される。(これを素子行と呼ぶ)。この素子行
が複数個配置され、電子源となる。各素子行の共通配線
間に適宜駆動電圧を印加することで、各素子行を独立に
駆動することが、可能である。すなわち、電子ビームを
放出したい素子行には、電子放出しきい値以上の電圧
を、電子ビームを放出しない素子行には、電子放出しき
い値以下の電圧を印加すればよい。また、各素子行間の
共通配線Dx2〜Dx9を、例えばDx2、Dx3を同
一配線とする様にしても良い。
【0106】図12は、はしご型配置の電子源を備えた
画像形成装置の表示パネル構造を示すための図である。
120はグリッド電極、121は電子が通過するための
空孔、122はDox1,Dox2...Doxmより
なる容器外端子、123はグリッド電極120と接続さ
れたG1、G2...Gnからなる容器外端子、124
は前述の様に、各素子行間の共通配線を同一配線とした
電子源基板である。尚、図8、11と同一の符号は、同
一のものを示す。前述の単純マトリクス配置の画像形成
装置(図8に示した)との大きな違いは、電子源基板1
10とフェースプレート86の間にグリッド電極120
を備えている事である。
画像形成装置の表示パネル構造を示すための図である。
120はグリッド電極、121は電子が通過するための
空孔、122はDox1,Dox2...Doxmより
なる容器外端子、123はグリッド電極120と接続さ
れたG1、G2...Gnからなる容器外端子、124
は前述の様に、各素子行間の共通配線を同一配線とした
電子源基板である。尚、図8、11と同一の符号は、同
一のものを示す。前述の単純マトリクス配置の画像形成
装置(図8に示した)との大きな違いは、電子源基板1
10とフェースプレート86の間にグリッド電極120
を備えている事である。
【0107】基板110とフェースプレート86の中間
には、グリッド電極120が設けられている。グリッド
電極120は、表面伝導型放出素子から放出された電子
ビームを変調することができるもので、はしご型配置の
素子行と直交して設けられたストライプ状の電極に電子
ビームを通過させるため、各素子に対応して1個ずつ円
形の開口121が設けられている。グリッドの形状や設
置位置は必ずしも図12のようなものでなくてもよく、
開口としてメッシュ状に多数の通過口を設けることもあ
り、またたとえば表面伝導型放出素子の周囲や近傍に設
けてもよい。
には、グリッド電極120が設けられている。グリッド
電極120は、表面伝導型放出素子から放出された電子
ビームを変調することができるもので、はしご型配置の
素子行と直交して設けられたストライプ状の電極に電子
ビームを通過させるため、各素子に対応して1個ずつ円
形の開口121が設けられている。グリッドの形状や設
置位置は必ずしも図12のようなものでなくてもよく、
開口としてメッシュ状に多数の通過口を設けることもあ
り、またたとえば表面伝導型放出素子の周囲や近傍に設
けてもよい。
【0108】容器外端子122およびグリッド容器外端
子123は、不図示の制御回路と電気的に接続されてい
る。
子123は、不図示の制御回路と電気的に接続されてい
る。
【0109】本画像形成装置では、素子行を1列ずつ順
次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極列に
画像1ライン分の変調信号を同時に印加することによ
り、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像を1
ラインずつ表示することができる。
次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極列に
画像1ライン分の変調信号を同時に印加することによ
り、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像を1
ラインずつ表示することができる。
【0110】また、本発明の思想によれば、テレビジョ
ン放送の表示装置のみならず、テレビ会議システム、コ
ンピューター等の表示装置として、好適な画像形成装置
が提供される。さらには、感光性ドラム等とで構成され
た光プリンターとしての画像形成装置としても用いるこ
ともできる。
ン放送の表示装置のみならず、テレビ会議システム、コ
ンピューター等の表示装置として、好適な画像形成装置
が提供される。さらには、感光性ドラム等とで構成され
た光プリンターとしての画像形成装置としても用いるこ
ともできる。
【0111】
【作用】本発明の電子放出素子の製造方法においては、
フォトリソグラフ技術を用いないので、フォトリソグラ
フ用装置のサイズの制限を全く受けることなく、大面積
基板に素子を用に形成することが可能である。
フォトリソグラフ技術を用いないので、フォトリソグラ
フ用装置のサイズの制限を全く受けることなく、大面積
基板に素子を用に形成することが可能である。
【0112】また本発明の電子放出素子の製造方法にお
いては、液滴を基板に付与する工程と液滴を乾燥焼成す
る工程のみで素子を形成することが可能であるので、フ
ォトリソグラフ技術のような複雑な設備、工程を用いず
に比較的簡単な工程で済むので、製造コストを低くする
ことが可能である。
いては、液滴を基板に付与する工程と液滴を乾燥焼成す
る工程のみで素子を形成することが可能であるので、フ
ォトリソグラフ技術のような複雑な設備、工程を用いず
に比較的簡単な工程で済むので、製造コストを低くする
ことが可能である。
【0113】さらに、本発明の電子放出素子の製造方法
においては、凹部を有する基板を用いているので、金属
組成物を含む溶液の液滴を基板に部分的に付与する工程
において、基板に付与した液滴を基板の凹部以外に拡が
ることを抑制できるので、例えば液滴が所望の位置以外
に拡がってしまって焼成後に電極間の絶縁不良を引き起
こしたり、液滴が拡がりすぎたために焼成後に所望の膜
厚よりも薄くなってしまって所望の素子特性が得られな
くなるなどの不都合を防止することができる。 実施態様例 本発明による電子放出素子を形成する基板の凹部6の形
状としては、例えば、図13に示すようなものを挙げる
ことができるが、本発明はこれらのみに限定されるもの
ではない。
においては、凹部を有する基板を用いているので、金属
組成物を含む溶液の液滴を基板に部分的に付与する工程
において、基板に付与した液滴を基板の凹部以外に拡が
ることを抑制できるので、例えば液滴が所望の位置以外
に拡がってしまって焼成後に電極間の絶縁不良を引き起
こしたり、液滴が拡がりすぎたために焼成後に所望の膜
厚よりも薄くなってしまって所望の素子特性が得られな
くなるなどの不都合を防止することができる。 実施態様例 本発明による電子放出素子を形成する基板の凹部6の形
状としては、例えば、図13に示すようなものを挙げる
ことができるが、本発明はこれらのみに限定されるもの
ではない。
【0114】(a)は矩形状の凹部、(b)は微小な凸
部を持つ凹部、(c)は円形状の凹部、(d)は凸部で
囲まれた凹部、(e)は基板と素子電極を組み合わせた
凹部であるが、所望の位置以外に液滴が拡がらないもの
であればどんな形状の凹部でもかまわない。
部を持つ凹部、(c)は円形状の凹部、(d)は凸部で
囲まれた凹部、(e)は基板と素子電極を組み合わせた
凹部であるが、所望の位置以外に液滴が拡がらないもの
であればどんな形状の凹部でもかまわない。
【0115】
【実施例】以下に本発明の実施例について説明するが、
本発明は以下の実施例に限定されるものではない。実施例1 電子放出素子として図1に示すタイプの電子放出素子を
作成した。図1(a)は本素子の平面図を、図1(b)
は断面図を示している。また、図1(a)、(b)中の
記号1は絶縁性基板、6は凹部、2および3は素子に電
圧を印加するための一対の素子電極、4は電子放出部を
含む薄膜、5は電子放出部を示す。なお、図中のLは素
子電極2と素子電極3の素子電極間隔、Wは素子電極の
幅、W’は素子の幅を表している。
本発明は以下の実施例に限定されるものではない。実施例1 電子放出素子として図1に示すタイプの電子放出素子を
作成した。図1(a)は本素子の平面図を、図1(b)
は断面図を示している。また、図1(a)、(b)中の
記号1は絶縁性基板、6は凹部、2および3は素子に電
圧を印加するための一対の素子電極、4は電子放出部を
含む薄膜、5は電子放出部を示す。なお、図中のLは素
子電極2と素子電極3の素子電極間隔、Wは素子電極の
幅、W’は素子の幅を表している。
【0116】図3を用いて、本実施例の電子放出素子の
作成方法を述べる。まず絶縁性基板1として石英ガラス
基板を用意し、これに半導体プロセスに準じたフォトリ
ソグラフ技術を応用して凹部6を形成し、これを有機溶
剤により充分に洗浄後、基板面上にNiからなる素子電
極2、3を形成した(図3の(a))。素子電極間隔L
は3ミクロンとし、素子電極の幅Wを500ミクロン、
その厚さを1000オングストロームとした。
作成方法を述べる。まず絶縁性基板1として石英ガラス
基板を用意し、これに半導体プロセスに準じたフォトリ
ソグラフ技術を応用して凹部6を形成し、これを有機溶
剤により充分に洗浄後、基板面上にNiからなる素子電
極2、3を形成した(図3の(a))。素子電極間隔L
は3ミクロンとし、素子電極の幅Wを500ミクロン、
その厚さを1000オングストロームとした。
【0117】ジメチルスルホキシド40重量%の水溶液
を調製し、これに酢酸パラジウムをパラジウム重量濃度
0.4%となるように溶解して暗赤色の溶液を得た。こ
の液の一部を別容器にとり減圧して赤褐色のペーストと
なるまで溶媒を蒸発させた。このペーストの示差走査熱
分析の結果を図14に示す。
を調製し、これに酢酸パラジウムをパラジウム重量濃度
0.4%となるように溶解して暗赤色の溶液を得た。こ
の液の一部を別容器にとり減圧して赤褐色のペーストと
なるまで溶媒を蒸発させた。このペーストの示差走査熱
分析の結果を図14に示す。
【0118】上記の暗赤色溶液の液滴をバブルジェット
方式のインクジェット装置によって電極2、3を形成し
た石英基板の上に電極2、3にまたがるように付与し、
80℃で2分乾燥させた。次に350℃で12分焼成し
て無機微粒子膜21を形成した(図3の(c))。
方式のインクジェット装置によって電極2、3を形成し
た石英基板の上に電極2、3にまたがるように付与し、
80℃で2分乾燥させた。次に350℃で12分焼成し
て無機微粒子膜21を形成した(図3の(c))。
【0119】ここで光学顕微鏡を用いて観察したとこ
ろ、凹部以外の位置には無機微粒子膜が形成されていな
かった。
ろ、凹部以外の位置には無機微粒子膜が形成されていな
かった。
【0120】次に、真空容器中で素子電極2および3の
間に電圧を印加し、電子放出部形成用薄膜4を通電処理
(フォーミング処理)することにより、電子放出部5を
作成した(図3(d))。フォーミング処理の電圧波形
を図4(a)に示す。
間に電圧を印加し、電子放出部形成用薄膜4を通電処理
(フォーミング処理)することにより、電子放出部5を
作成した(図3(d))。フォーミング処理の電圧波形
を図4(a)に示す。
【0121】本実施例では電圧波形のパルス幅T1を1
ミリ秒、パルス間隔T2を10ミリ秒とし、三角波の波
高値(フォーミング時のピーク電圧)は5Vとし、フォ
ーミング処理は約1×10-6torrの真空雰囲気下で
60秒間行った。このように作成された電子放出部5
は、パラジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置さ
れた状態となり、その微粒子の平均粒径は50オングス
トロームであった。
ミリ秒、パルス間隔T2を10ミリ秒とし、三角波の波
高値(フォーミング時のピーク電圧)は5Vとし、フォ
ーミング処理は約1×10-6torrの真空雰囲気下で
60秒間行った。このように作成された電子放出部5
は、パラジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置さ
れた状態となり、その微粒子の平均粒径は50オングス
トロームであった。
【0122】以上のようにして作成された素子につい
て、その電子放出特性を図5の構成の測定評価装置によ
り測定した。本電子放出素子およびアノード電極54は
真空装置内に設置されており、その真空装置には不図示
の排気ポンプおよび真空計等の真空装置に必要な機器が
具備されており、所望の真空下で本素子の測定評価を行
えるようになっている。なお本実施例では、アノード電
極と電子放出素子間の距離を4mm、アノード電極の電
位を1kV、電子放出特性測定時の真空装置内の真空度
を1×10-6torrとした。
て、その電子放出特性を図5の構成の測定評価装置によ
り測定した。本電子放出素子およびアノード電極54は
真空装置内に設置されており、その真空装置には不図示
の排気ポンプおよび真空計等の真空装置に必要な機器が
具備されており、所望の真空下で本素子の測定評価を行
えるようになっている。なお本実施例では、アノード電
極と電子放出素子間の距離を4mm、アノード電極の電
位を1kV、電子放出特性測定時の真空装置内の真空度
を1×10-6torrとした。
【0123】以上のような測定評価装置を用いて、本電
子放出素子の電極2および3の間に素子電圧を印加し、
その時に流れる素子電流Ifおよび放出電流Ieを測定
したところ、図6に示したような電流−電圧特性が得ら
れた。本素子では、素子電圧7V程度から急激に放出電
流Ieが増加し、素子電圧12Vでは素子電流Ifが
0.8mA、放出電流Ieが0.62μAとなり、電子
放出効率η=Ie/If(%)は0.08%であった。
子放出素子の電極2および3の間に素子電圧を印加し、
その時に流れる素子電流Ifおよび放出電流Ieを測定
したところ、図6に示したような電流−電圧特性が得ら
れた。本素子では、素子電圧7V程度から急激に放出電
流Ieが増加し、素子電圧12Vでは素子電流Ifが
0.8mA、放出電流Ieが0.62μAとなり、電子
放出効率η=Ie/If(%)は0.08%であった。
【0124】同様に作製した10個の素子につき測定を
行ったところ、Ieのバラツキは5%の範囲であった。
行ったところ、Ieのバラツキは5%の範囲であった。
【0125】以上説明した実施例中、電子放出部を形成
する際に、素子の電極間に三角波パルスを印加してフォ
ーミング処理を行っているが、素子の電極間に印加する
波形は三角波に限定することはなく、矩形波など所望の
波形を用いても良く、その波高値およびパルス幅・パル
ス間隔等についても上述の値に限ることなく、電子放出
部が良好に形成されれば所望の値を選択することができ
る。実施例2 ジメチルスルホキシド30重量%の水溶液を調製し、こ
れにプロピオン酸パラジウムをパラジウム重量濃度0.
25%となるように溶解して赤色の溶液を得た。この溶
液をバブルジェット方式のインクジェット装置により基
板に付与することにより、実施例1と同様にして電子放
出素子を作成し、電子放出が見られることを確認した。
する際に、素子の電極間に三角波パルスを印加してフォ
ーミング処理を行っているが、素子の電極間に印加する
波形は三角波に限定することはなく、矩形波など所望の
波形を用いても良く、その波高値およびパルス幅・パル
ス間隔等についても上述の値に限ることなく、電子放出
部が良好に形成されれば所望の値を選択することができ
る。実施例2 ジメチルスルホキシド30重量%の水溶液を調製し、こ
れにプロピオン酸パラジウムをパラジウム重量濃度0.
25%となるように溶解して赤色の溶液を得た。この溶
液をバブルジェット方式のインクジェット装置により基
板に付与することにより、実施例1と同様にして電子放
出素子を作成し、電子放出が見られることを確認した。
【0126】また実施例1と同様のIeの均一性が得ら
れた。実施例3 複数の素子電極とマトリクス状配線とを形成した基板
(図7)の各対向電極に対してそれぞれ実施例1と同様
にして有機金属化合物溶液液滴をバブルジェット方式の
インクジェット装置により付与し、焼成したのち、フォ
ーミング処理を行い電子源基板とした。
れた。実施例3 複数の素子電極とマトリクス状配線とを形成した基板
(図7)の各対向電極に対してそれぞれ実施例1と同様
にして有機金属化合物溶液液滴をバブルジェット方式の
インクジェット装置により付与し、焼成したのち、フォ
ーミング処理を行い電子源基板とした。
【0127】この電子源基板にリアプレート81、支持
枠82、フェースプレート86を接続し真空封止して図
8の概念図に従う画像形成装置を作成した。比較例1 電子放出素子として図15に示すタイプの電子放出素子
を作成した。図15(a)は本素子の平面図を、図15
(b)は断面図を示している。また、図15(a)、
(b)中の記号1は絶縁性基板、2および3は素子に電
圧を印加するための一対の素子電極、4は電子放出部を
含む薄膜、5は電子放出部を示す。なお、図中のLは素
子電極2と素子電極3の素子電極間隔、Wは素子電極の
幅、dは素子電極の厚さ、W’は素子の幅を表してい
る。
枠82、フェースプレート86を接続し真空封止して図
8の概念図に従う画像形成装置を作成した。比較例1 電子放出素子として図15に示すタイプの電子放出素子
を作成した。図15(a)は本素子の平面図を、図15
(b)は断面図を示している。また、図15(a)、
(b)中の記号1は絶縁性基板、2および3は素子に電
圧を印加するための一対の素子電極、4は電子放出部を
含む薄膜、5は電子放出部を示す。なお、図中のLは素
子電極2と素子電極3の素子電極間隔、Wは素子電極の
幅、dは素子電極の厚さ、W’は素子の幅を表してい
る。
【0128】図16を用いて、本比較例の電子放出素子
の作成方法を述べる。まず絶縁性基板1として石英ガラ
ス基板を用意し、これを有機溶剤により充分に洗浄後、
基板面上にNiからなる素子電極2、3を形成した(図
16の(a))。素子電極間隔Lは3ミクロンとし、素
子電極の幅Wを500ミクロン、その厚さdを1000
オングストロームとした。
の作成方法を述べる。まず絶縁性基板1として石英ガラ
ス基板を用意し、これを有機溶剤により充分に洗浄後、
基板面上にNiからなる素子電極2、3を形成した(図
16の(a))。素子電極間隔Lは3ミクロンとし、素
子電極の幅Wを500ミクロン、その厚さdを1000
オングストロームとした。
【0129】ジメチルスルホキシド40重量%の水溶液
を調製し、これに酢酸パラジウムをパラジウム重量濃度
0.4%となるように溶解して暗赤色の溶液を得た。こ
の液の一部を別容器にとり減圧して赤褐色のペーストと
なるまで溶媒を蒸発させた。このペーストの示差走査熱
分析の結果を図14に示す。
を調製し、これに酢酸パラジウムをパラジウム重量濃度
0.4%となるように溶解して暗赤色の溶液を得た。こ
の液の一部を別容器にとり減圧して赤褐色のペーストと
なるまで溶媒を蒸発させた。このペーストの示差走査熱
分析の結果を図14に示す。
【0130】上記の暗赤色溶液の液滴をバブルジェット
方式のインクジェット装置によって電極2、3を形成し
た石英基板の上に電極2、3にまたがるように付与し、
80℃で2分乾燥させた。次に350℃で12分焼成し
て無機微粒子膜4を形成した(図16(c))。
方式のインクジェット装置によって電極2、3を形成し
た石英基板の上に電極2、3にまたがるように付与し、
80℃で2分乾燥させた。次に350℃で12分焼成し
て無機微粒子膜4を形成した(図16(c))。
【0131】次に、真空容器中で素子電極2および3の
間に電圧を印加し、電子放出部形成用薄膜4を通電処理
(フォーミング処理)することにより、電子放出部5を
作成した(図16(d))。フォーミング処理の電圧波
形を図4(a)に示す。
間に電圧を印加し、電子放出部形成用薄膜4を通電処理
(フォーミング処理)することにより、電子放出部5を
作成した(図16(d))。フォーミング処理の電圧波
形を図4(a)に示す。
【0132】本実施例では電圧波形のパルス幅T1を1
ミリ秒、パルス間隔T2を10ミリ秒とし、三角波の波
高値(フォーミング時のピーク電圧)は5Vとし、フォ
ーミング処理は約1×10-6torrの真空雰囲気下で
60秒間行った。このように作成された電子放出部3
は、パラジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置さ
れた状態となり、その微粒子の平均粒径は50オングス
トロームであった。
ミリ秒、パルス間隔T2を10ミリ秒とし、三角波の波
高値(フォーミング時のピーク電圧)は5Vとし、フォ
ーミング処理は約1×10-6torrの真空雰囲気下で
60秒間行った。このように作成された電子放出部3
は、パラジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置さ
れた状態となり、その微粒子の平均粒径は50オングス
トロームであった。
【0133】以上のようにして作成された素子につい
て、その電子放出特性を図5の構成の測定評価装置によ
り測定した。本電子放出素子およびアノード電極54は
真空装置内に設置されており、その真空装置には不図示
の排気ポンプおよび真空計等の真空装置に必要な機器が
具備されており、所望の真空下で本素子の測定評価を行
えるようになっている。なお本実施例では、アノード電
極と電子放出素子間の距離を4mm、アノード電極の電
位を1kV、電子放出特性測定時の真空装置内の真空度
を1×10-6torrとした。
て、その電子放出特性を図5の構成の測定評価装置によ
り測定した。本電子放出素子およびアノード電極54は
真空装置内に設置されており、その真空装置には不図示
の排気ポンプおよび真空計等の真空装置に必要な機器が
具備されており、所望の真空下で本素子の測定評価を行
えるようになっている。なお本実施例では、アノード電
極と電子放出素子間の距離を4mm、アノード電極の電
位を1kV、電子放出特性測定時の真空装置内の真空度
を1×10-6torrとした。
【0134】以上のような測定評価装置を用いて、本電
子放出素子の電極2および3の間に素子電圧を印加し、
その時に流れる素子電流Ifおよび放出電流Ieを測定
したところ、図6に示したような電流−電圧特性が得ら
れた。本素子では、素子電圧7V程度から急激に放出電
流Ieが増加し、素子電圧12Vでは素子電流Ifが
0.8mA、放出電流Ieが0.62μAとなり、電子
放出効率η=Ie/If(%)は0.08%であった。
子放出素子の電極2および3の間に素子電圧を印加し、
その時に流れる素子電流Ifおよび放出電流Ieを測定
したところ、図6に示したような電流−電圧特性が得ら
れた。本素子では、素子電圧7V程度から急激に放出電
流Ieが増加し、素子電圧12Vでは素子電流Ifが
0.8mA、放出電流Ieが0.62μAとなり、電子
放出効率η=Ie/If(%)は0.08%であった。
【0135】同様の素子を10個作製し、測定したとこ
ろ、素子間でのIeのバラツキは8%の範囲であった。
ろ、素子間でのIeのバラツキは8%の範囲であった。
【0136】
【発明の効果】以上に説明したように本発明の方法に従
い電子放出素子を形成するならば、フォトリソグラフ技
術を用いないので、フォトリソグラフ用装置のサイズの
制限を全く受けることなく、大面積基板に素子を容易に
形成することができる。
い電子放出素子を形成するならば、フォトリソグラフ技
術を用いないので、フォトリソグラフ用装置のサイズの
制限を全く受けることなく、大面積基板に素子を容易に
形成することができる。
【0137】また本発明の方法に従い電子放出素子を形
成するならば、液滴を基板に付与する工程と液滴を乾燥
焼成する工程のみで素子を形成することができるので、
フォトリソグラフ技術のような複雑な工程を用いずに比
較的簡単な工程で済むので、製造コストを低くすること
ができる。
成するならば、液滴を基板に付与する工程と液滴を乾燥
焼成する工程のみで素子を形成することができるので、
フォトリソグラフ技術のような複雑な工程を用いずに比
較的簡単な工程で済むので、製造コストを低くすること
ができる。
【0138】さらに本発明の方法に従い電子放出素子を
製造するならば、金属組成物を含む溶液の液滴を基板に
部分的に付与する工程において、基板に付与した液滴が
基板の凹部以外に拡がることを抑制できるので、例えば
液滴が所望の位置以外に拡がってしまって焼成後に電極
間の絶縁不良を引き起こしたり、液滴が拡がりすぎたた
めに焼成後に所望の膜厚よりも薄くなってしまって所望
の素子特性が得られなくなるなどの不都合を防止するこ
とができるので、良好な電子放出素子、表示素子、画像
形成装置を提供することができる。
製造するならば、金属組成物を含む溶液の液滴を基板に
部分的に付与する工程において、基板に付与した液滴が
基板の凹部以外に拡がることを抑制できるので、例えば
液滴が所望の位置以外に拡がってしまって焼成後に電極
間の絶縁不良を引き起こしたり、液滴が拡がりすぎたた
めに焼成後に所望の膜厚よりも薄くなってしまって所望
の素子特性が得られなくなるなどの不都合を防止するこ
とができるので、良好な電子放出素子、表示素子、画像
形成装置を提供することができる。
【図1】 本発明に好適な基本的な表面伝導型電子放出
素子の構成を示す模式的平面図及び断面図
素子の構成を示す模式的平面図及び断面図
【図2】 本発明に好適な基本的な垂直型表面伝導型電
子放出素子の構成を示す模式的図
子放出素子の構成を示す模式的図
【図3】 本発明に好適な表面伝導型電子放出素子の製
造方法の1例
造方法の1例
【図4】 本発明に好適な通電フォーミングの電圧波形
の例
の例
【図5】 電子放出特性を測定するための測定評価装置
の概略構成図
の概略構成図
【図6】 本発明に好適な表面伝導型電子放出素子の放
出電流Ieおよび素子電流Ifと素子電圧Vfの関係の
典型的な例
出電流Ieおよび素子電流Ifと素子電圧Vfの関係の
典型的な例
【図7】 単純マトリクス配置の電子源
【図8】 画像形成装置の表示パネルの概略構成図
【図9】 蛍光膜
【図10】 画像形成装置をNTSC方式のテレビ信号
に応じて表示を行う例の駆動回路のブロック図
に応じて表示を行う例の駆動回路のブロック図
【図11】 梯子配置の電子源
【図12】 画像形成装置の表示パネルの概略構成図
【図13】 本発明の基板の凹部の例
【図14】 本発明の電子放出素子作成のための有機金
属化合物溶液乾燥物の熱分解を示す示差走査熱分析曲線
属化合物溶液乾燥物の熱分解を示す示差走査熱分析曲線
【図15】 従来の電子放出素子の模式図
【図16】 従来の電子放出素子の作製方法の模式図
1:基板、2、3:素子電極、4:導電性薄膜、5:電
子放出部、6:凹部、21:段さ形成部、50:素子電
極2、3間の導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定
するための電流計、51:電子放出素子に素子電圧Vf
を印加するための電源、53:アノード電極54に電圧
を印加するための高圧電源、54:素子の電子放出部よ
り放出される放出電流Ieを捕捉するためのアノード電
極、55:素子の電子放出部5より放出される放出電流
Ieを測定するための電流計、56:真空装置、57:
排気ポンプ、71:電子源基板、72:X方向配線、7
3:Y方向配線、74:表面伝導型電子放出素子、7
5:結線、81:リアプレート、82:支持枠、83:
ガラス基板、84:蛍光膜、85:メタルバック、8
6:フェースプレート、87:高圧端子、88:外囲
器、91:黒色導電材、92:蛍光体、93:ガラス基
板、101:表示パネル、102:走査回路、103:
制御回路、104:シフトレジスタ、105:ラインメ
モリ、106:同期信号分離回路、107:変調信号発
生器、VxおよびVa:直流電圧源、110:電子源基
板、111:電子放出素子、112:Dx1〜Dx10
は、前記電子放出素子を配線するための共通配線、12
0:グリッド電極、121:電子が通過するための空
孔、122:Dox1,Dox2……Doxmよりなる
容器外端子、123:グリッド電極120と接続された
G1、G2……Gnからなる容器外端子、124:電子
源基板。
子放出部、6:凹部、21:段さ形成部、50:素子電
極2、3間の導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定
するための電流計、51:電子放出素子に素子電圧Vf
を印加するための電源、53:アノード電極54に電圧
を印加するための高圧電源、54:素子の電子放出部よ
り放出される放出電流Ieを捕捉するためのアノード電
極、55:素子の電子放出部5より放出される放出電流
Ieを測定するための電流計、56:真空装置、57:
排気ポンプ、71:電子源基板、72:X方向配線、7
3:Y方向配線、74:表面伝導型電子放出素子、7
5:結線、81:リアプレート、82:支持枠、83:
ガラス基板、84:蛍光膜、85:メタルバック、8
6:フェースプレート、87:高圧端子、88:外囲
器、91:黒色導電材、92:蛍光体、93:ガラス基
板、101:表示パネル、102:走査回路、103:
制御回路、104:シフトレジスタ、105:ラインメ
モリ、106:同期信号分離回路、107:変調信号発
生器、VxおよびVa:直流電圧源、110:電子源基
板、111:電子放出素子、112:Dx1〜Dx10
は、前記電子放出素子を配線するための共通配線、12
0:グリッド電極、121:電子が通過するための空
孔、122:Dox1,Dox2……Doxmよりなる
容器外端子、123:グリッド電極120と接続された
G1、G2……Gnからなる容器外端子、124:電子
源基板。
Claims (5)
- 【請求項1】 基板上に設けられた対向する電極間に電
子放出材料を含む金属組成物溶液の液滴を部分的に付与
する工程と、加熱焼成工程と、通電処理する過程を経て
電子放出部を形成する工程とを有する電子放出素子の製
造方法において、該電極間に凹部を有する基板を用いる
ことを特徴とする電子放出素子の製造方法。 - 【請求項2】 前記の液滴を付与する手段がインクジェ
ット方式であることを特徴とする請求項1に記載の電子
放出素子の製造方法。 - 【請求項3】 前記のインクジェット方式がバブルジェ
ット方式であることを特徴とする請求項1ないし2に記
載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項4】 電子放出素子と該電子放出素子から放出
される電子線の照射により発光する発光体とからなる表
示素子において、請求項4に記載の電子放出素子を用い
たことを特徴とする表示素子。 - 【請求項5】 対向する電極間に設けた電子放出材料に
電圧を印加して電子放出させる電子放出素子および蛍光
板との間に高電圧を印加して加速した電子を蛍光板に衝
突させて画像を表示する画像形成装置において、請求項
4に記載の電子放出素子を用いたことを特徴とする画像
形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28437695A JPH09102270A (ja) | 1995-10-06 | 1995-10-06 | 電子放出素子の製造方法、表示素子および画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28437695A JPH09102270A (ja) | 1995-10-06 | 1995-10-06 | 電子放出素子の製造方法、表示素子および画像形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09102270A true JPH09102270A (ja) | 1997-04-15 |
Family
ID=17677792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28437695A Pending JPH09102270A (ja) | 1995-10-06 | 1995-10-06 | 電子放出素子の製造方法、表示素子および画像形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09102270A (ja) |
-
1995
- 1995-10-06 JP JP28437695A patent/JPH09102270A/ja active Pending
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