JPH09103840A - 鋳型の基準位置の測定方法およびその装置 - Google Patents
鋳型の基準位置の測定方法およびその装置Info
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- JPH09103840A JPH09103840A JP28685495A JP28685495A JPH09103840A JP H09103840 A JPH09103840 A JP H09103840A JP 28685495 A JP28685495 A JP 28685495A JP 28685495 A JP28685495 A JP 28685495A JP H09103840 A JPH09103840 A JP H09103840A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 鋳枠あるいは鋳型の表面に設けた目印の基準
位置を正確に測定する方法が従来なかった。 【解決手段】 目印における１個のＶ字型溝の上方位置
を非接触反射型光学変位センサを横断させて非接触反射
型光学変位センサとＶ字型溝の表面との距離を測定し、
得られた測定値のうちＶ字型溝の一方の斜面における任
意の２つの測定値間に係る関係式を、最小２乗法等の回
帰式により１本の回帰線として導き、同様にして他方の
斜面の２つの測定値間に係る関係式を最小２乗法等の回
帰式により１本の回帰線として導き、２本の回帰線の交
点から、Ｖ字型溝最深部の１点の座標を割り出し、同様
にして、残り３個のＶ字型溝の最深部の３点の座標をそ
れぞれ割り出し、割り出されたＶ字型溝最深部の４点の
うち相互に対向する２点を結ぶ２本の線分の交点Ｏを求
め、交点Ｏを基準位置とする。
位置を正確に測定する方法が従来なかった。 【解決手段】 目印における１個のＶ字型溝の上方位置
を非接触反射型光学変位センサを横断させて非接触反射
型光学変位センサとＶ字型溝の表面との距離を測定し、
得られた測定値のうちＶ字型溝の一方の斜面における任
意の２つの測定値間に係る関係式を、最小２乗法等の回
帰式により１本の回帰線として導き、同様にして他方の
斜面の２つの測定値間に係る関係式を最小２乗法等の回
帰式により１本の回帰線として導き、２本の回帰線の交
点から、Ｖ字型溝最深部の１点の座標を割り出し、同様
にして、残り３個のＶ字型溝の最深部の３点の座標をそ
れぞれ割り出し、割り出されたＶ字型溝最深部の４点の
うち相互に対向する２点を結ぶ２本の線分の交点Ｏを求
め、交点Ｏを基準位置とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、鋳型の基準位置の測定
方法およびその装置に係り、より詳しくは鋳枠あるいは
鋳型の表面の所定位置に刻設された目印であって横断面
がＶ字型状を成すとともに中心線が相互に直角を成して
突合わさって全体として平面図で見て十字状を成す４個
の溝が形成するものの中心部である基準位置を測定する
方法およびその装置に関する。
方法およびその装置に係り、より詳しくは鋳枠あるいは
鋳型の表面の所定位置に刻設された目印であって横断面
がＶ字型状を成すとともに中心線が相互に直角を成して
突合わさって全体として平面図で見て十字状を成す４個
の溝が形成するものの中心部である基準位置を測定する
方法およびその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】鋳物を鋳造する手段の一つとして、砂型
鋳型を内蔵した上・下鋳枠を型合わせして所定の製品キ
ャビティを形成し、そのキャビィ内に注湯するようにし
たものがある。これら上・下鋳枠の相互の位置決めは、
上・下鋳枠のいずれか一方に取り付けられたブッシュ
と、他方の鋳枠に取り付けられた合わせピンとの嵌合に
より行われている。そして、砂型鋳型の造型における鋳
枠の模型板に対する位置決めは、模型板あるいは鋳型造
型機に突設された基準ピンを前記ブッシュに嵌入させる
方法によって行われている。
鋳型を内蔵した上・下鋳枠を型合わせして所定の製品キ
ャビティを形成し、そのキャビィ内に注湯するようにし
たものがある。これら上・下鋳枠の相互の位置決めは、
上・下鋳枠のいずれか一方に取り付けられたブッシュ
と、他方の鋳枠に取り付けられた合わせピンとの嵌合に
より行われている。そして、砂型鋳型の造型における鋳
枠の模型板に対する位置決めは、模型板あるいは鋳型造
型機に突設された基準ピンを前記ブッシュに嵌入させる
方法によって行われている。
【０００３】
【本発明が解決しようとする課題】しかし、上記のよう
な従来の上・下鋳枠の合わせ方法においては、前記ブッ
シュが摩耗したり合わせピンが変形した場合には、形成
される製品キャビティにおける上・下砂型鋳型間にずれ
が生じて不良鋳物を誘発するなどの問題があった。その
ため、鋳枠あるいは鋳型に目印を設け、この目印の中心
部を基準位置として測定して上鋳枠または下鋳枠を移動
させ、上・下鋳枠を型合わせする方法も提案されている
が、その目印の基準位置を正確に測定する方法がまだな
かった。本発明は上記の事情に鑑みて為なされたもの
で、その目的は、鋳枠あるいは鋳型の表面の所定位置に
刻設された目印であって横断面がＶ字型状を成すととも
に中心線が相互に直角を成して突合わさって全体として
平面図で見て十字状を成す４個の溝が形成するものの中
心部である基準位置を容易かつ確実に測定することがで
きる方法およびその装置を提供することにある。
な従来の上・下鋳枠の合わせ方法においては、前記ブッ
シュが摩耗したり合わせピンが変形した場合には、形成
される製品キャビティにおける上・下砂型鋳型間にずれ
が生じて不良鋳物を誘発するなどの問題があった。その
ため、鋳枠あるいは鋳型に目印を設け、この目印の中心
部を基準位置として測定して上鋳枠または下鋳枠を移動
させ、上・下鋳枠を型合わせする方法も提案されている
が、その目印の基準位置を正確に測定する方法がまだな
かった。本発明は上記の事情に鑑みて為なされたもの
で、その目的は、鋳枠あるいは鋳型の表面の所定位置に
刻設された目印であって横断面がＶ字型状を成すととも
に中心線が相互に直角を成して突合わさって全体として
平面図で見て十字状を成す４個の溝が形成するものの中
心部である基準位置を容易かつ確実に測定することがで
きる方法およびその装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明における鋳型の基準位置の測定方法は、鋳枠
あるいは鋳型の表面の所定位置に刻設された目印であっ
て横断面がＶ字型状を成すとともに中心線が相互に直角
を成して突合わさって全体として平面図で見て十字状を
成す４個の溝が形成するものの中心部である基準位置を
測定する方法であって、前記目印における１個のＶ字型
溝の上方位置を非接触反射型光学変位センサを横断させ
て非接触反射型光学変位センサと前記Ｖ字型溝の表面と
の距離を測定する工程と、こうして得られた測定値のう
ち前記Ｖ字型溝の一方の斜面における任意の２つの測定
値間に係る関係式を、これら２つの測定値を結ぶ式また
は最小２乗法等の回帰式により１本の回帰線として導
き、同様にして前記Ｖ字型溝の他方の斜面における２つ
の測定値間に係る関係式を最小２乗法等の回帰式により
１本の回帰線として導き、これら２本の回帰線の交点か
ら、前記Ｖ字型溝の最深部に係る１点の座標を割り出す
工程と、同様にして、前記目印における残り３個のＶ字
型溝の最深部に係る３点の座標をそれぞれ割り出す工程
と、これら割り出されたＶ字型溝最深部に係る４点のう
ち相互に対向する２点を結ぶ２本の線分の交点Ｏを求め
る工程と、を有することを特徴とする。
めに本発明における鋳型の基準位置の測定方法は、鋳枠
あるいは鋳型の表面の所定位置に刻設された目印であっ
て横断面がＶ字型状を成すとともに中心線が相互に直角
を成して突合わさって全体として平面図で見て十字状を
成す４個の溝が形成するものの中心部である基準位置を
測定する方法であって、前記目印における１個のＶ字型
溝の上方位置を非接触反射型光学変位センサを横断させ
て非接触反射型光学変位センサと前記Ｖ字型溝の表面と
の距離を測定する工程と、こうして得られた測定値のう
ち前記Ｖ字型溝の一方の斜面における任意の２つの測定
値間に係る関係式を、これら２つの測定値を結ぶ式また
は最小２乗法等の回帰式により１本の回帰線として導
き、同様にして前記Ｖ字型溝の他方の斜面における２つ
の測定値間に係る関係式を最小２乗法等の回帰式により
１本の回帰線として導き、これら２本の回帰線の交点か
ら、前記Ｖ字型溝の最深部に係る１点の座標を割り出す
工程と、同様にして、前記目印における残り３個のＶ字
型溝の最深部に係る３点の座標をそれぞれ割り出す工程
と、これら割り出されたＶ字型溝最深部に係る４点のう
ち相互に対向する２点を結ぶ２本の線分の交点Ｏを求め
る工程と、を有することを特徴とする。
【０００５】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例の形態について
図１〜図４に基づき詳細に説明する。図１に示するよう
に、図示しない鋳型造型機から送り出された鋳枠１付き
砂型鋳型２の上方位置には、非接触反射型光学変位セン
サとしてのレーザビーム測長器１４をＸＹＺ座標で表示
可能な三次元に移動させる装置が設けてある。そして、
前記鋳枠１の上面の左右両側部には、図２に示すよう
に、上・下鋳枠の相互の位置決めのためのブッシュ１９
が装着してあり、ブッシュ１９には目印２０が刻設して
ある。この目印２０は、図２に示すように、中心線が相
互に直角を成して突合わさって全体として平面図で見て
十字状を成す４個の溝で形成されており、この溝は図３
および図４に示すように、横断面がＶ字型状を成してい
る。また、図２に示すように、前記ブッシュ１９の中央
部に上下に貫通するピン孔が透設してある。
図１〜図４に基づき詳細に説明する。図１に示するよう
に、図示しない鋳型造型機から送り出された鋳枠１付き
砂型鋳型２の上方位置には、非接触反射型光学変位セン
サとしてのレーザビーム測長器１４をＸＹＺ座標で表示
可能な三次元に移動させる装置が設けてある。そして、
前記鋳枠１の上面の左右両側部には、図２に示すよう
に、上・下鋳枠の相互の位置決めのためのブッシュ１９
が装着してあり、ブッシュ１９には目印２０が刻設して
ある。この目印２０は、図２に示すように、中心線が相
互に直角を成して突合わさって全体として平面図で見て
十字状を成す４個の溝で形成されており、この溝は図３
および図４に示すように、横断面がＶ字型状を成してい
る。また、図２に示すように、前記ブッシュ１９の中央
部に上下に貫通するピン孔が透設してある。
【０００６】また、前記鋳枠１の上方には、門型フレー
ム３の天井部が配設してあり、門型フレーム３の天井部
にはＸ座標用の左右移動手段４が装着してある。左右移
動手段４においては、門型フレーム３上に敷設されたレ
ール５上に走行台６が走行可能に装架して配設してあ
り、走行台６には、門型フレーム３に装着された第１サ
ーボモータ式シリンダ７のピストンロッドの先端が連結
してあって、第１サーボモータ式シリンダ７の伸縮作動
により、走行台６は門型フレーム３の長手方向へ往復移
動するようになっている。
ム３の天井部が配設してあり、門型フレーム３の天井部
にはＸ座標用の左右移動手段４が装着してある。左右移
動手段４においては、門型フレーム３上に敷設されたレ
ール５上に走行台６が走行可能に装架して配設してあ
り、走行台６には、門型フレーム３に装着された第１サ
ーボモータ式シリンダ７のピストンロッドの先端が連結
してあって、第１サーボモータ式シリンダ７の伸縮作動
により、走行台６は門型フレーム３の長手方向へ往復移
動するようになっている。
【０００７】また、前記左右移動手段４の走行台６上に
はＹ座標用の前後移動手段８が装着してあり、前後移動
手段８においては、走行台６の移動方向と直交する方向
へ延ばして走行台６に装着したリニアガイド機構９に、
走行フレーム１０が、走行可能に装着してあり、走行フ
レーム１０には第２サーボモータ式シリンダ１１のピス
トンロッドの先端が連結してあって、第２サーボモータ
式シリンダ１１の伸縮作動により、走行フレーム１０は
前記走行台６の走行方向と直交する方向へ往復移動する
ようになっている。
はＹ座標用の前後移動手段８が装着してあり、前後移動
手段８においては、走行台６の移動方向と直交する方向
へ延ばして走行台６に装着したリニアガイド機構９に、
走行フレーム１０が、走行可能に装着してあり、走行フ
レーム１０には第２サーボモータ式シリンダ１１のピス
トンロッドの先端が連結してあって、第２サーボモータ
式シリンダ１１の伸縮作動により、走行フレーム１０は
前記走行台６の走行方向と直交する方向へ往復移動する
ようになっている。
【０００８】また、前記走行フレーム１０にはＺ座標用
の昇降手段１２としての第３サーボモータ式シリンダ１
３が装着してあり、第３サーボモータ式シリンダ１３の
ピストンロッドの下端には前記レーザー測長器１４が装
着してある。レーザー測長器１４にはコントローラ１７
が電気的に接続してあり、コントローラ１７は、前記非
接触反射型光学変位センサ１４の測定結果に基づき、前
記目印２０における４個のＶ字型溝の最深部に係る４点
の座標をそれぞれ割り出し、さらにこれら割り出された
Ｖ字型溝最深部に係る４点のうち相互に対向する２点を
結ぶ２本の線分の交点Ｏを演算する演算手段としての機
能を有している。また、前記第１〜第３サーボモータ式
シリンダ７、１１、１３のサーボモータ７ａ、１１ａ、
１３ａには制御盤１８が電気的に接続してあり、この制
御盤１８は前記コントローラ１７に電気的に接続されて
いる。
の昇降手段１２としての第３サーボモータ式シリンダ１
３が装着してあり、第３サーボモータ式シリンダ１３の
ピストンロッドの下端には前記レーザー測長器１４が装
着してある。レーザー測長器１４にはコントローラ１７
が電気的に接続してあり、コントローラ１７は、前記非
接触反射型光学変位センサ１４の測定結果に基づき、前
記目印２０における４個のＶ字型溝の最深部に係る４点
の座標をそれぞれ割り出し、さらにこれら割り出された
Ｖ字型溝最深部に係る４点のうち相互に対向する２点を
結ぶ２本の線分の交点Ｏを演算する演算手段としての機
能を有している。また、前記第１〜第３サーボモータ式
シリンダ７、１１、１３のサーボモータ７ａ、１１ａ、
１３ａには制御盤１８が電気的に接続してあり、この制
御盤１８は前記コントローラ１７に電気的に接続されて
いる。
【０００９】次に、このように構成した装置を用いて、
ブッシュ１９の目印２０の中心部を測定する手順につい
て説明する。まず、第１・第２・第３サーボモータ式シ
リンダ７、１１、１３を適宜伸縮作動してレーザー測長
器１４を砂型鋳型２の目印２０の真上位置付近に移動さ
せる。次いで、第３サーボモータ式シリンダ１３を適宜
伸縮作動してレーザー測長器１４を所定の高さにし、続
いて、第１サーボモータ式シリンダ７を伸長あるいは収
縮作動して、レーザー測長器１４を図２においてＹ座標
の値をＹａの一定にしてＸ座標の値を変化させ、Ｙａ値
におけるレーザー測長器１４とＶ字型溝の表面との距離
を連続的にして時々刻々と測定する。
ブッシュ１９の目印２０の中心部を測定する手順につい
て説明する。まず、第１・第２・第３サーボモータ式シ
リンダ７、１１、１３を適宜伸縮作動してレーザー測長
器１４を砂型鋳型２の目印２０の真上位置付近に移動さ
せる。次いで、第３サーボモータ式シリンダ１３を適宜
伸縮作動してレーザー測長器１４を所定の高さにし、続
いて、第１サーボモータ式シリンダ７を伸長あるいは収
縮作動して、レーザー測長器１４を図２においてＹ座標
の値をＹａの一定にしてＸ座標の値を変化させ、Ｙａ値
におけるレーザー測長器１４とＶ字型溝の表面との距離
を連続的にして時々刻々と測定する。
【００１０】この測定結果を図示しない記録器により記
録してＸＺ座標で表示する。そして、図３に示すよう
に、こうして得られた測定値のうち図３における任意の
２つの測定値ａ１、ａ２間に係る関係式を、これら２つ
の測定値を結ぶ式または最小２乗法等の回帰式により１
本の回帰線Ｌ１として導き、同様にして、図３における
任意の２つの測定値ａ３、ａ４も、図３に示すように、
ＸＺ座標で表示し、この２つの測定値ａ３、ａ４間に係
る関係式を最小２乗法等の回帰式により１本の回帰線Ｌ
２として導き、これら２本の回帰線Ｌ１、Ｌ２の交点か
ら、Ｖ字型溝の最深部に係るＡ点の座標（Ｘａ，Ｙａ）
を割り出す。
録してＸＺ座標で表示する。そして、図３に示すよう
に、こうして得られた測定値のうち図３における任意の
２つの測定値ａ１、ａ２間に係る関係式を、これら２つ
の測定値を結ぶ式または最小２乗法等の回帰式により１
本の回帰線Ｌ１として導き、同様にして、図３における
任意の２つの測定値ａ３、ａ４も、図３に示すように、
ＸＺ座標で表示し、この２つの測定値ａ３、ａ４間に係
る関係式を最小２乗法等の回帰式により１本の回帰線Ｌ
２として導き、これら２本の回帰線Ｌ１、Ｌ２の交点か
ら、Ｖ字型溝の最深部に係るＡ点の座標（Ｘａ，Ｙａ）
を割り出す。
【００１１】上述したと同様にして、図２におけるＶ字
型溝の最深部に係るＣ点の座標（Ｘｃ，Ｙｃ）を割り出
す。また、前記回帰線Ｌ１、Ｌ２と同様にして、図４に
おけるＬ３、Ｌ４を導き、これら２本の回帰線Ｌ３、Ｌ
４の交点から、Ｖ字型溝の最深部のＢ、Ｄの座標（Ｘ
ｂ，Ｙｂ）、（Ｘｄ，Ｙｄ）を割り出す。次いで、図２
に示すように、線分ＡＣと線分ＢＤとの交点Ｏを演算す
ると、この交点Ｏが求める基準位置となる。
型溝の最深部に係るＣ点の座標（Ｘｃ，Ｙｃ）を割り出
す。また、前記回帰線Ｌ１、Ｌ２と同様にして、図４に
おけるＬ３、Ｌ４を導き、これら２本の回帰線Ｌ３、Ｌ
４の交点から、Ｖ字型溝の最深部のＢ、Ｄの座標（Ｘ
ｂ，Ｙｂ）、（Ｘｄ，Ｙｄ）を割り出す。次いで、図２
に示すように、線分ＡＣと線分ＢＤとの交点Ｏを演算す
ると、この交点Ｏが求める基準位置となる。
【００１２】上記の実施例では目印２０はブッシュ１９
に設けてあるが、前記鋳枠１あるいは前記砂型鋳型２の
表面の適宜の位置に設けるようにしてもよい。
に設けてあるが、前記鋳枠１あるいは前記砂型鋳型２の
表面の適宜の位置に設けるようにしてもよい。
【００１３】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明
は、目印における１個のＶ字型溝の上方位置を非接触反
射型光学変位センサを横断させて非接触反射型光学変位
センサと前記Ｖ字型溝の表面との距離を測定する工程
と、こうして得られた測定値のうち前記Ｖ字型溝の一方
の斜面における任意の２つの測定値間に係る関係式を、
これら２つの測定値を結ぶ式または最小２乗法等の回帰
式により１本の回帰線として導き、同様にして前記Ｖ字
型溝の他方の斜面における２つの測定値間に係る関係式
を最小２乗法等の回帰式により１本の回帰線として導
き、これら２本の回帰線の交点から、前記Ｖ字型溝の最
深部に係る１点の座標を割り出す工程と、同様にして、
前記目印における残り３個のＶ字型溝の最深部に係る３
点の座標をそれぞれ割り出す工程と、これら割り出され
たＶ字型溝最深部に係る４点のうち相互に対向する２点
を結ぶ２本の線分の交点Ｏを求める工程と、を有するか
ら、鋳枠あるいは鋳型の表面の所定位置に刻設され横断
面がＶ字型状を成すとともに中心線が相互に直角を成し
て突合わさって全体として平面図で見て十字状を成す４
個の溝が形成する目印の中心部である基準位置を容易か
つ確実に測定することができるなどの優れた効果を奏す
る。
は、目印における１個のＶ字型溝の上方位置を非接触反
射型光学変位センサを横断させて非接触反射型光学変位
センサと前記Ｖ字型溝の表面との距離を測定する工程
と、こうして得られた測定値のうち前記Ｖ字型溝の一方
の斜面における任意の２つの測定値間に係る関係式を、
これら２つの測定値を結ぶ式または最小２乗法等の回帰
式により１本の回帰線として導き、同様にして前記Ｖ字
型溝の他方の斜面における２つの測定値間に係る関係式
を最小２乗法等の回帰式により１本の回帰線として導
き、これら２本の回帰線の交点から、前記Ｖ字型溝の最
深部に係る１点の座標を割り出す工程と、同様にして、
前記目印における残り３個のＶ字型溝の最深部に係る３
点の座標をそれぞれ割り出す工程と、これら割り出され
たＶ字型溝最深部に係る４点のうち相互に対向する２点
を結ぶ２本の線分の交点Ｏを求める工程と、を有するか
ら、鋳枠あるいは鋳型の表面の所定位置に刻設され横断
面がＶ字型状を成すとともに中心線が相互に直角を成し
て突合わさって全体として平面図で見て十字状を成す４
個の溝が形成する目印の中心部である基準位置を容易か
つ確実に測定することができるなどの優れた効果を奏す
る。
【図１】本発明の一実施例の概略を示す斜視図である。
【図２】目印の平面図をＸＹ座標を用いてい表した図で
ある。
ある。
【図３】図２におけるＸ−Ｘ断面と、この断面の表面と
レーザー測長器との間の距離をＺＸ座標を用いて表した
図である。
レーザー測長器との間の距離をＺＸ座標を用いて表した
図である。
【図４】図２におけるＹ−Ｙ断面と、この断面の表面と
レーザー測長器との間の距離をＺＹ座標を用いて表した
図である。
レーザー測長器との間の距離をＺＹ座標を用いて表した
図である。
４ 左右移動手段 ８ 前後移動手段 １２ 昇降手段 １４ レーザー測長器 １７ コントローラ
Claims (2)
- 【請求項１】 鋳枠あるいは鋳型の表面の所定位置に刻
設された目印であって横断面がＶ字型状を成すとともに
中心線が相互に直角を成して突合わさって全体として平
面図で見て十字状を成す４個の溝が形成するものの中心
部である基準位置を測定する方法であって、前記目印に
おける１個のＶ字型溝の上方位置を非接触反射型光学変
位センサを横断させて非接触反射型光学変位センサと前
記Ｖ字型溝の表面との距離を測定する工程と、こうして
得られた測定値のうち前記Ｖ字型溝の一方の斜面におけ
る任意の２つの測定値間に係る関係式を、これら２つの
測定値を結ぶ式または最小２乗法等の回帰式により１本
の回帰線として導き、同様にして前記Ｖ字型溝の他方の
斜面における２つの測定値間に係る関係式を最小２乗法
等の回帰式により１本の回帰線として導き、これら２本
の回帰線の交点から、前記Ｖ字型溝の最深部に係る１点
の座標を割り出す工程と、同様にして、前記目印におけ
る残り３個のＶ字型溝の最深部に係る３点の座標をそれ
ぞれ割り出す工程と、これら割り出されたＶ字型溝最深
部に係る４点のうち相互に対向する２点を結ぶ２本の線
分の交点Ｏを求める工程と、を有することを特徴とする
鋳型の基準位置の測定方法。 - 【請求項２】 鋳枠あるいは鋳型の表面の所定位置に刻
設された目印であって横断面がＶ字型状を成すとともに
中心線が相互に直角を成して突合わさって全体として平
面図で見て十字状を成す４個の溝が形成するものの中心
部である基準位置を測定する装置であって、鋳枠あるい
は鋳型の目印の表面までの距離を測定する非接触反射型
光学変位センサ１４と、この非接触反射型光学変位セン
サを昇降させる昇降手段１２と、この昇降手段１２およ
び前記非接触反射型光学変位センサ１４を前後方向へ移
動させる前後移動手段８と、この前後移動手段８、前記
昇降手段１２および前記非接触反射型光学変位センサ１
４を左右方向へ移動させる左右移動手段４と、前記非接
触反射型光学変位センサ１４の測定結果に基づき、前記
目印における４個のＶ字型溝の最深部に係る４点の座標
をそれぞれ割り出し、さらに割り出されたＶ字型溝最深
部に係る４点のうち相互に対向する２点を結ぶ２本の線
分の交点Ｏを演算する演算手段１７と、を備えたことを
特徴とする鋳型の基準位置の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7286854A JP3011876B2 (ja) | 1995-10-06 | 1995-10-06 | 鋳型の基準位置の測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7286854A JP3011876B2 (ja) | 1995-10-06 | 1995-10-06 | 鋳型の基準位置の測定方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09103840A true JPH09103840A (ja) | 1997-04-22 |
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