JPH09115432A - 電子放出素子、電子源、表示素子及び画像形成装置の製造方法 - Google Patents
電子放出素子、電子源、表示素子及び画像形成装置の製造方法Info
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- JPH09115432A JPH09115432A JP29601695A JP29601695A JPH09115432A JP H09115432 A JPH09115432 A JP H09115432A JP 29601695 A JP29601695 A JP 29601695A JP 29601695 A JP29601695 A JP 29601695A JP H09115432 A JPH09115432 A JP H09115432A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子放出部形成用薄膜の製造工程を簡略化し
て形成される電子放出部形成用薄膜の膜厚を均一化し、
低コストで安定な電子放出特性を有する電子放出素子の
製造方法、及びそれを用いた電子源、表示素子および画
像形成装置の製造方法を提供する。 【解決手段】 対向する電極間に導電性薄膜形成用材料
溶液を液滴の状態で付与した後加熱焼成する工程を経て
電子放出部を形成する電子放出素子の製造方法におい
て、前記導電性薄膜形成用材料溶液が有機金属化合物と
エーテルを含む水溶液であることを特徴とする電子放出
素子の製造方法並びに該電子放出素子を用いた電子源、
表示素子及び画像形成装置の製造方法。
て形成される電子放出部形成用薄膜の膜厚を均一化し、
低コストで安定な電子放出特性を有する電子放出素子の
製造方法、及びそれを用いた電子源、表示素子および画
像形成装置の製造方法を提供する。 【解決手段】 対向する電極間に導電性薄膜形成用材料
溶液を液滴の状態で付与した後加熱焼成する工程を経て
電子放出部を形成する電子放出素子の製造方法におい
て、前記導電性薄膜形成用材料溶液が有機金属化合物と
エーテルを含む水溶液であることを特徴とする電子放出
素子の製造方法並びに該電子放出素子を用いた電子源、
表示素子及び画像形成装置の製造方法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子放出素子の製造方法
に関し、更に詳しくはインクジェット方式を利用して形
成した電子放出素子およびそれを用いた表示素子、画像
形成装置の製造方法に関する。
に関し、更に詳しくはインクジェット方式を利用して形
成した電子放出素子およびそれを用いた表示素子、画像
形成装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、電子放出素子としては大別し
て熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知ら
れている。冷陰極電子放出素子には電界放出型(FE
型)、金属/絶縁層/金属型(MIM型)や、表面伝導
型電子放出素子等がある。
て熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知ら
れている。冷陰極電子放出素子には電界放出型(FE
型)、金属/絶縁層/金属型(MIM型)や、表面伝導
型電子放出素子等がある。
【0003】FE型の例としてはW.P.Dyke&
W.W.Dolan、“Fieldemissio
n”、Advance in Electron Ph
ysics、8、89(1956)あるいはC.A.S
pindt、“PHYSICALProperties
of thin−film field emiss
ion cathodes with molybde
nium cones”、J.Appl.Phys.,
47,5248(1976)等に開示されたものが知ら
れている。
W.W.Dolan、“Fieldemissio
n”、Advance in Electron Ph
ysics、8、89(1956)あるいはC.A.S
pindt、“PHYSICALProperties
of thin−film field emiss
ion cathodes with molybde
nium cones”、J.Appl.Phys.,
47,5248(1976)等に開示されたものが知ら
れている。
【0004】MIM型の例としてはC.A.Mead、
“Operation of Tunnel−Emis
sion Devices”、J.Apply.Phy
s.、32、646(1961)等に開示されたものが
知られている。
“Operation of Tunnel−Emis
sion Devices”、J.Apply.Phy
s.、32、646(1961)等に開示されたものが
知られている。
【0005】表面伝導型電子放出素子の例としては、
M.I.Elinson、RadioEng.Elec
tron Phys.、10、1290(1965)等
に開示されたものがある。
M.I.Elinson、RadioEng.Elec
tron Phys.、10、1290(1965)等
に開示されたものがある。
【0006】表面伝導型電子放出素子は、基板上に形成
された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことに
より、電子放出が生ずる現象を利用するものである。
された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことに
より、電子放出が生ずる現象を利用するものである。
【0007】この表面伝導型電子放出素子としては、前
記エリンソン等によるSnO2 薄膜を用いたもの、Au
薄膜によるもの[G.Dittmer:“Thin S
olid Films”、9、317(1972)]、
In2 O3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartw
ell and C.G.Fonstad:“IEEE
Trans.ED Conf.”、519(197
5)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、
第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告され
ている。
記エリンソン等によるSnO2 薄膜を用いたもの、Au
薄膜によるもの[G.Dittmer:“Thin S
olid Films”、9、317(1972)]、
In2 O3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartw
ell and C.G.Fonstad:“IEEE
Trans.ED Conf.”、519(197
5)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、
第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告され
ている。
【0008】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な例として前述のM.ハートウェルの素子構成を図13
に模式的に示す。同図において1は基板である。4は電
子放出部を含む薄膜で、H型形状のパターンに、スパッ
タで形成された金属酸化物薄膜等からなり、後述の通電
フォーミングと呼ばれる通電処理により電子放出部5が
形成される。尚、図中の素子電極間隔L1は、0.5m
m〜1mm、W1は、0.1mmで設定されている。
な例として前述のM.ハートウェルの素子構成を図13
に模式的に示す。同図において1は基板である。4は電
子放出部を含む薄膜で、H型形状のパターンに、スパッ
タで形成された金属酸化物薄膜等からなり、後述の通電
フォーミングと呼ばれる通電処理により電子放出部5が
形成される。尚、図中の素子電極間隔L1は、0.5m
m〜1mm、W1は、0.1mmで設定されている。
【0009】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に電子放出部形成用薄膜4
を予め通電フォーミングと呼ばれる通電処理によって電
子放出部5を形成するのが一般的である。即ち、通電フ
ォーミングとは前記電子放出部形成用薄膜の両端に直流
電圧あるいは非常にゆっくりとした昇電圧例えば1V/
分程度を印加通電し、導電性薄膜を局所的に破壊、変形
もしくは変質せしめ、電気的に高抵抗な状態にした電子
放出部5を形成することである。尚、電子放出部5は電
子放出部形成用薄膜の一部に亀裂が発生しその亀裂付近
から電子放出が行われる。前記通電フォーミング処理を
した表面伝導型電子放出素子は、上述電子放出部を含む
薄膜4に電圧を印加し、素子に電流を流すことにより、
上述の電子放出部5より電子を放出せしめるものであ
る。
おいては、電子放出を行う前に電子放出部形成用薄膜4
を予め通電フォーミングと呼ばれる通電処理によって電
子放出部5を形成するのが一般的である。即ち、通電フ
ォーミングとは前記電子放出部形成用薄膜の両端に直流
電圧あるいは非常にゆっくりとした昇電圧例えば1V/
分程度を印加通電し、導電性薄膜を局所的に破壊、変形
もしくは変質せしめ、電気的に高抵抗な状態にした電子
放出部5を形成することである。尚、電子放出部5は電
子放出部形成用薄膜の一部に亀裂が発生しその亀裂付近
から電子放出が行われる。前記通電フォーミング処理を
した表面伝導型電子放出素子は、上述電子放出部を含む
薄膜4に電圧を印加し、素子に電流を流すことにより、
上述の電子放出部5より電子を放出せしめるものであ
る。
【0010】また最近では、表面伝導型電子放出素子の
構成部位のうち、特に導電性薄膜の形成に関する新規な
方法として、有機金属化合物からなる薄膜を加熱焼成し
て微粒子膜を形成した後、フォトリソグラフィ技術を利
用したパターニングによって薄膜を形成するという方法
も提案されている。
構成部位のうち、特に導電性薄膜の形成に関する新規な
方法として、有機金属化合物からなる薄膜を加熱焼成し
て微粒子膜を形成した後、フォトリソグラフィ技術を利
用したパターニングによって薄膜を形成するという方法
も提案されている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
電子放出素子は、主に半導体プロセスに準じたフォトリ
ソグラフィ技術を利用して製造されていたため、大面積
の基板に素子を形成することが困難であるとともに、製
造コストが高いという問題があった。また、液滴を付与
して薄膜を形成する際、一般的には形成される膜が半円
状、すなわち膜厚が液滴中央では厚く、端に近付くほど
薄くなって、膜厚が非常に不均一となり、安定な電子放
出特性を有する電子放出素子が得られなかった。
電子放出素子は、主に半導体プロセスに準じたフォトリ
ソグラフィ技術を利用して製造されていたため、大面積
の基板に素子を形成することが困難であるとともに、製
造コストが高いという問題があった。また、液滴を付与
して薄膜を形成する際、一般的には形成される膜が半円
状、すなわち膜厚が液滴中央では厚く、端に近付くほど
薄くなって、膜厚が非常に不均一となり、安定な電子放
出特性を有する電子放出素子が得られなかった。
【0012】本発明は、かかる従来の課題を解決するこ
とを目的とする。すなわち、電子放出部形成用薄膜の製
造工程を簡略化して形成される電子放出部形成用薄膜の
膜厚を均一化し、低コストで安定な電子放出特性を有す
る電子放出素子の製造方法、及びそれを用いた電子源、
表示素子および画像形成装置の製造方法を提供する。
とを目的とする。すなわち、電子放出部形成用薄膜の製
造工程を簡略化して形成される電子放出部形成用薄膜の
膜厚を均一化し、低コストで安定な電子放出特性を有す
る電子放出素子の製造方法、及びそれを用いた電子源、
表示素子および画像形成装置の製造方法を提供する。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記課題を
達成するために鋭意検討した結果、特定の有機金属化合
物とエーテルとを含む導電性薄膜形成材料を用いること
によって、上記の問題を解決することができる本発明を
完成するに至った。
達成するために鋭意検討した結果、特定の有機金属化合
物とエーテルとを含む導電性薄膜形成材料を用いること
によって、上記の問題を解決することができる本発明を
完成するに至った。
【0014】すなわち本発明の電子放出素子の製造方法
は、対向する電極間に導電性薄膜形成用材料溶液を液滴
の状態で付与した後加熱焼成する工程を経て電子放出部
を形成する電子放出素子の製造方法において、前記導電
性薄膜形成用材料溶液に有機金属化合物とエーテルを含
む水溶液であることを特徴とするものである。
は、対向する電極間に導電性薄膜形成用材料溶液を液滴
の状態で付与した後加熱焼成する工程を経て電子放出部
を形成する電子放出素子の製造方法において、前記導電
性薄膜形成用材料溶液に有機金属化合物とエーテルを含
む水溶液であることを特徴とするものである。
【0015】本発明の電子放出素子の製造方法では、特
に電子放出素子が表面伝導型であるあることが好まし
い。
に電子放出素子が表面伝導型であるあることが好まし
い。
【0016】本発明は、該電子放出素子を用いた電子
源、表示素子及び画像形成装置の製造方法をも包含す
る。
源、表示素子及び画像形成装置の製造方法をも包含す
る。
【0017】本発明の電子源の製造方法は、電子放出素
子と該素子への電圧印加手段を具備する電子源の製造方
法であって、該電子放出素子を本発明の前記電子放出素
子の製造方法で製造したことを特徴とするものである。
子と該素子への電圧印加手段を具備する電子源の製造方
法であって、該電子放出素子を本発明の前記電子放出素
子の製造方法で製造したことを特徴とするものである。
【0018】本発明の表示素子の製造方法は、電子放出
素子と該素子への電圧印加手段を具備する電子源と、該
素子から放出される電子を受けて発光する発光体とを具
備する表示素子の製造方法であって、該電子放出素子を
本発明の前記電子放出素子の製造方法で製造したことを
特徴とするものである。
素子と該素子への電圧印加手段を具備する電子源と、該
素子から放出される電子を受けて発光する発光体とを具
備する表示素子の製造方法であって、該電子放出素子を
本発明の前記電子放出素子の製造方法で製造したことを
特徴とするものである。
【0019】本発明の画像形成装置の製造方法は、電子
放出素子と該素子への電圧印加手段を具備する電子源
と、該素子から放出される電子を受けて発光する発光体
と、外部信号に基づいてを該素子へ印加する電圧を制御
する駆動回路とを具備する画像形成装置の製造方法であ
って、該電子放出素子を本発明の前記電子放出素子の製
造方法で製造したことを特徴とするものである。
放出素子と該素子への電圧印加手段を具備する電子源
と、該素子から放出される電子を受けて発光する発光体
と、外部信号に基づいてを該素子へ印加する電圧を制御
する駆動回路とを具備する画像形成装置の製造方法であ
って、該電子放出素子を本発明の前記電子放出素子の製
造方法で製造したことを特徴とするものである。
【0020】以下、本発明の電子放出素子の製造方法を
さらに詳細に説明する。
さらに詳細に説明する。
【0021】本発明で用いられる、電子放出部を含む導
電性薄膜の形成のために基板に付与される液体は、有機
金属化合物とエーテルを含む水溶液である。本発明者
は、付与する液体中に特定のエーテルを含有させること
により、液滴を付与して薄膜を形成する場合でも膜厚の
均一な電子放出部導電膜が作製できることを見いだした
ものである。これは、界面活性剤であるエーテルの含有
により、付与する液体の表面張力が低下する作用による
ものと考えられる。
電性薄膜の形成のために基板に付与される液体は、有機
金属化合物とエーテルを含む水溶液である。本発明者
は、付与する液体中に特定のエーテルを含有させること
により、液滴を付与して薄膜を形成する場合でも膜厚の
均一な電子放出部導電膜が作製できることを見いだした
ものである。これは、界面活性剤であるエーテルの含有
により、付与する液体の表面張力が低下する作用による
ものと考えられる。
【0022】このような液体の表面張力の低下は、他の
界面活性剤でもみられる現象であるが、界面活性剤の種
類によっては有機金属化合物と凝集体を形成したり、付
与した液滴の形状が不安定化したり、多数の小泡を形成
したりと不都合が生じてしまい好ましくない。本発明に
使用されるエーテルは、このような不都合のないもので
ある。
界面活性剤でもみられる現象であるが、界面活性剤の種
類によっては有機金属化合物と凝集体を形成したり、付
与した液滴の形状が不安定化したり、多数の小泡を形成
したりと不都合が生じてしまい好ましくない。本発明に
使用されるエーテルは、このような不都合のないもので
ある。
【0023】以下、この導電性薄膜形成用材料溶液につ
いて詳しく説明する。
いて詳しく説明する。
【0024】まず有機金属化合物としては、金属の有機
酸塩、または金属、有機酸基およびヒドロキシアルキル
アミンからなる化合物を用いることができる。
酸塩、または金属、有機酸基およびヒドロキシアルキル
アミンからなる化合物を用いることができる。
【0025】上記金属化合物の有機酸としては蟻酸、酢
酸、プロピオン酸、酪酸、イソ酪酸、シュウ酸、マロン
酸、コハク酸等の炭素数1ないし4を有するいずれかの
カルボン酸であることが好ましい。中でも酢酸、プロピ
オン酸が好適に用いられる。なお、炭素数5以上の酸の
金属塩では、水への溶解度が低くなり、電子放出素子の
製造において基板に付与する溶液中の金属含有量が低く
なるため、使用し難くなる。
酸、プロピオン酸、酪酸、イソ酪酸、シュウ酸、マロン
酸、コハク酸等の炭素数1ないし4を有するいずれかの
カルボン酸であることが好ましい。中でも酢酸、プロピ
オン酸が好適に用いられる。なお、炭素数5以上の酸の
金属塩では、水への溶解度が低くなり、電子放出素子の
製造において基板に付与する溶液中の金属含有量が低く
なるため、使用し難くなる。
【0026】前記水溶液の金属濃度範囲としては、用い
る金属元素の種類や金属塩の種類によって最適な範囲が
多少異なるが、本発明では重量で0.01%以上、5%
以下の範囲が適当である。もし金属濃度が低すぎる場合
には、基板に所望の量の金属を付与するために多量の前
記水溶液の液滴の付与が必要となる。その結果液滴付与
に要する時間が長くなるのみならず、基板上に必要以上
に大きな液溜りを生じてしまい、所望の位置のみに金属
を付与する目的が達成できなくなる。逆に、前記水溶液
の金属濃度が高すぎると、液滴付与後の乾燥あるいは焼
成工程によって形成される薄膜の膜厚分布が著しく不均
一化し、その結果として電子放出部の導電膜が不均一に
なり電子放出素子の特性を悪化させる。
る金属元素の種類や金属塩の種類によって最適な範囲が
多少異なるが、本発明では重量で0.01%以上、5%
以下の範囲が適当である。もし金属濃度が低すぎる場合
には、基板に所望の量の金属を付与するために多量の前
記水溶液の液滴の付与が必要となる。その結果液滴付与
に要する時間が長くなるのみならず、基板上に必要以上
に大きな液溜りを生じてしまい、所望の位置のみに金属
を付与する目的が達成できなくなる。逆に、前記水溶液
の金属濃度が高すぎると、液滴付与後の乾燥あるいは焼
成工程によって形成される薄膜の膜厚分布が著しく不均
一化し、その結果として電子放出部の導電膜が不均一に
なり電子放出素子の特性を悪化させる。
【0027】また前記有機金属化合物中の金属元素とし
ては、白金、パラジウム、ルテニウム等の白金族元素、
または金、銀、銅、クロム、タンタル、鉄、タングステ
ン、鉛、亜鉛、すず等を用いることができる。
ては、白金、パラジウム、ルテニウム等の白金族元素、
または金、銀、銅、クロム、タンタル、鉄、タングステ
ン、鉛、亜鉛、すず等を用いることができる。
【0028】なお、金属、有機酸基およびヒドロキシア
ルキルアミンからなる化合物としては、特に水に対する
溶解性が良好で溶液が長期にわたり保存可能な安定性を
有し、基板に液滴を付与し乾燥した場合に薄膜内に結晶
生成等の不均一化の起こり難く、焼成の容易な、金属の
エタノールアミン・カルボン酸錯体を挙げることができ
る。具体的には、エタノールアミンと酢酸基とパラジウ
ムとからなる有機金属化合物が良好に用いられる。
ルキルアミンからなる化合物としては、特に水に対する
溶解性が良好で溶液が長期にわたり保存可能な安定性を
有し、基板に液滴を付与し乾燥した場合に薄膜内に結晶
生成等の不均一化の起こり難く、焼成の容易な、金属の
エタノールアミン・カルボン酸錯体を挙げることができ
る。具体的には、エタノールアミンと酢酸基とパラジウ
ムとからなる有機金属化合物が良好に用いられる。
【0029】前記エーテルとしては、下記一般式(1)
で表わされる化合物が好ましい。
で表わされる化合物が好ましい。
【0030】
【化1】 式中、Rは炭素数10〜20のアルキル基またはアルケ
ニル基を表し、nは4〜50の整数を表すが、アルケニ
ル基としては特にCH3(CH2)7CH=CH(CH2)
7CH2− の構造の官能基が好ましい。
ニル基を表し、nは4〜50の整数を表すが、アルケニ
ル基としては特にCH3(CH2)7CH=CH(CH2)
7CH2− の構造の官能基が好ましい。
【0031】以下に、一般式(1)で表される化合物の
具体例を示す。
具体例を示す。
【0032】
【化2】 これらの化合物の含有量は、0.0001〜3重量%の
範囲が好適であり、より好適には0.001〜1重量%
の範囲である。0.0001重量%未満では膜厚を均一
化する効果が不十分であり、逆に3重量%より上では液
体の表面張力が小さくなりすぎて、液滴を付与する際に
インクジェットノズルから液滴がダラダラ垂れ落ちる等
の不都合が生じる。
範囲が好適であり、より好適には0.001〜1重量%
の範囲である。0.0001重量%未満では膜厚を均一
化する効果が不十分であり、逆に3重量%より上では液
体の表面張力が小さくなりすぎて、液滴を付与する際に
インクジェットノズルから液滴がダラダラ垂れ落ちる等
の不都合が生じる。
【0033】本発明で用いられる、電子放出部を含む導
電性薄膜の形成のために基板に付与される水溶液は、部
分エステル化ポリビニルアルコールを含有することが好
ましい。
電性薄膜の形成のために基板に付与される水溶液は、部
分エステル化ポリビニルアルコールを含有することが好
ましい。
【0034】この部分エステル化ポリビニルアルコール
とは、ビニルアルコール単位とビニルエステル単位とを
含んでなる高分子である。例えば、通常入手可能な「完
全」加水分解ポリビニルアルコールを各種のアシル化
剤、すなわち無水酢酸等のカルボン酸無水物や塩化アセ
チル等のカルボン酸無水物により部分的にエステル化し
て得られる高分子は部分エステル化ポリビニルアルコー
ルである。また通常のポリビニルアルコールの製造工
程、すなわちポリ酢酸ビニルの加水分解によるポリビニ
ルアルコールの製造において、ポリ酢酸ビニルの加水分
解を反応途中で停止し完全に加水分解せずに得られる、
いわゆる部分加水分解ポリビニルアルコールもまた部分
エステル化ポリビニルアルコールにあたる。しかし、入
手の容易性とコストの面からは、この部分加水分解ポリ
ビニルアルコールが本発明に用いられる部分エステル化
ポリビニルアルコールとして最も有用である。
とは、ビニルアルコール単位とビニルエステル単位とを
含んでなる高分子である。例えば、通常入手可能な「完
全」加水分解ポリビニルアルコールを各種のアシル化
剤、すなわち無水酢酸等のカルボン酸無水物や塩化アセ
チル等のカルボン酸無水物により部分的にエステル化し
て得られる高分子は部分エステル化ポリビニルアルコー
ルである。また通常のポリビニルアルコールの製造工
程、すなわちポリ酢酸ビニルの加水分解によるポリビニ
ルアルコールの製造において、ポリ酢酸ビニルの加水分
解を反応途中で停止し完全に加水分解せずに得られる、
いわゆる部分加水分解ポリビニルアルコールもまた部分
エステル化ポリビニルアルコールにあたる。しかし、入
手の容易性とコストの面からは、この部分加水分解ポリ
ビニルアルコールが本発明に用いられる部分エステル化
ポリビニルアルコールとして最も有用である。
【0035】本発明で用いられる部分エステル化ポリビ
ニルアルコールのエステル化の程度は重要であり、好ま
しいエステル化率は5モル%以上25モル%以下の範囲
であり、より好ましくは8モル%以上22モル%以下の
範囲である。エステル化率が上記の範囲外の場合は、水
への溶解性や液滴の付与性が好ましくない。なおここで
言うエステル化率とは、高分子の全ビニルアルコール繰
り返し単位数に対する結合したアシル基の数の割合のこ
とで、これは元素分析や赤外吸収分析などの手段で定量
することができる。
ニルアルコールのエステル化の程度は重要であり、好ま
しいエステル化率は5モル%以上25モル%以下の範囲
であり、より好ましくは8モル%以上22モル%以下の
範囲である。エステル化率が上記の範囲外の場合は、水
への溶解性や液滴の付与性が好ましくない。なおここで
言うエステル化率とは、高分子の全ビニルアルコール繰
り返し単位数に対する結合したアシル基の数の割合のこ
とで、これは元素分析や赤外吸収分析などの手段で定量
することができる。
【0036】この部分エステル化ポリビニルアルコール
の重合度は400以上2000以下が好ましい。400
未満では金属化合物の薄膜が安定に形成され難い。ま
た、2000超では金属化合物の溶液粘度が高くなり、
液滴付与工程において使用上問題を生じたり形成される
膜が厚くなる傾向がある。適当な厚さの電子放出部導電
膜の形成には、重合度450以上1200以下の部分エ
ステル化ポリビニルアルコールの使用が最も良好であ
る。
の重合度は400以上2000以下が好ましい。400
未満では金属化合物の薄膜が安定に形成され難い。ま
た、2000超では金属化合物の溶液粘度が高くなり、
液滴付与工程において使用上問題を生じたり形成される
膜が厚くなる傾向がある。適当な厚さの電子放出部導電
膜の形成には、重合度450以上1200以下の部分エ
ステル化ポリビニルアルコールの使用が最も良好であ
る。
【0037】この部分エステル化ポリビニルアルコール
の水溶液中の濃度は、0.01重量%以上0.5重量%
以下が適当である。0.01重量%未満ではこの高分子
の添加の効果が充分認められない。また0.5重量%超
では金属化合物の粘度の上昇により液滴付与工程に問題
が生じたり、加熱焼成の際に高分子成分の分解消失が完
全に進まず電子放出部に有機成分が残留する場合があ
る。
の水溶液中の濃度は、0.01重量%以上0.5重量%
以下が適当である。0.01重量%未満ではこの高分子
の添加の効果が充分認められない。また0.5重量%超
では金属化合物の粘度の上昇により液滴付与工程に問題
が生じたり、加熱焼成の際に高分子成分の分解消失が完
全に進まず電子放出部に有機成分が残留する場合があ
る。
【0038】また、本発明で用いられる、電子放出部を
含む導電性薄膜の形成のために基板に付与される水溶液
は、水溶性多価アルコールを含むことが望ましい。ここ
で言う多価アルコールとは、分子内に複数のアルコール
性水酸基を有する化合物のことである。特に常温におい
て液体である炭素数2ないし4の多価アルコール、具体
的にはエチレングリコール、プロピレングリコール、
1,3−プロパンジオール、3−メトキシ−1,2−プ
ロパンジオール、2−ヒドロキシメチル−1,3−プロ
パンジオール、ジエチレングリコール、グリセリン、
1,2,4−ブタントリオール等が本発明の金属化合物
への添加に有用である。なお、この多価アルコールの水
溶液中の含有量は、1重量%ないし20重量%の範囲、
好ましくは2重量%ないし15重量%の範囲が望まし
い。
含む導電性薄膜の形成のために基板に付与される水溶液
は、水溶性多価アルコールを含むことが望ましい。ここ
で言う多価アルコールとは、分子内に複数のアルコール
性水酸基を有する化合物のことである。特に常温におい
て液体である炭素数2ないし4の多価アルコール、具体
的にはエチレングリコール、プロピレングリコール、
1,3−プロパンジオール、3−メトキシ−1,2−プ
ロパンジオール、2−ヒドロキシメチル−1,3−プロ
パンジオール、ジエチレングリコール、グリセリン、
1,2,4−ブタントリオール等が本発明の金属化合物
への添加に有用である。なお、この多価アルコールの水
溶液中の含有量は、1重量%ないし20重量%の範囲、
好ましくは2重量%ないし15重量%の範囲が望まし
い。
【0039】
【作用】上記のような本発明の方法に従って、無機微粒
子膜を形成して電子放出用導電性薄膜とするならば、液
滴付与工程において基板上の所望の部位にのみ液滴を選
択的に付与できる。したがって、薄膜形成材料を基板全
面に塗布し焼成してから不要部分の薄膜をフォトリソグ
ラフ技術を適用して除去するといった従来工程を、簡略
で低コストな工程に置き換えることができる。更には、
形成された電子放出部形成用薄膜の膜厚を均一化し、安
定した電子放出特性を備えた電子放出素子の製造が可能
となる。
子膜を形成して電子放出用導電性薄膜とするならば、液
滴付与工程において基板上の所望の部位にのみ液滴を選
択的に付与できる。したがって、薄膜形成材料を基板全
面に塗布し焼成してから不要部分の薄膜をフォトリソグ
ラフ技術を適用して除去するといった従来工程を、簡略
で低コストな工程に置き換えることができる。更には、
形成された電子放出部形成用薄膜の膜厚を均一化し、安
定した電子放出特性を備えた電子放出素子の製造が可能
となる。
【0040】以下、図面を参照しながら本発明を詳細に
説明する。
説明する。
【0041】本発明を適用し得る表面伝導型電子放出素
子の基本的構成には大別して、平面型及び垂直型の2つ
がある。
子の基本的構成には大別して、平面型及び垂直型の2つ
がある。
【0042】まず、平面型の表面伝導型電子放出素子に
ついて説明する。
ついて説明する。
【0043】図1に、本発明を適用可能な平面型表面伝
導型電子放出素子の構成を表す平面図(a)と断面図
(b)を示す。
導型電子放出素子の構成を表す平面図(a)と断面図
(b)を示す。
【0044】同図において、1は絶縁性基板、2と3は
素子に電圧を印加するための対向する素子電極、4は電
子放出部を含む薄膜、5は電子放出部である。また、同
図中のL1は素子電極間隔、W1は素子電極長さ、dは
素子電極の厚さ、W2は電子放出部を含む薄膜4の幅を
表している。
素子に電圧を印加するための対向する素子電極、4は電
子放出部を含む薄膜、5は電子放出部である。また、同
図中のL1は素子電極間隔、W1は素子電極長さ、dは
素子電極の厚さ、W2は電子放出部を含む薄膜4の幅を
表している。
【0045】基板1としては、石英ガラス、Na等の不
純物含有量を減少したガラス、青板ガラス、青板ガラス
にスパッタ法等により形成したSiO2 を積層したガラ
ス基板及びアルミナ等のセラミックス及びSi基板等を
用いることができる。
純物含有量を減少したガラス、青板ガラス、青板ガラス
にスパッタ法等により形成したSiO2 を積層したガラ
ス基板及びアルミナ等のセラミックス及びSi基板等を
用いることができる。
【0046】対向する素子電極2、3の材料としては、
一般的な導体材料を用いることができる。これは例えば
Ni,Cr,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al,C
u,Pd等の金属或は合金およびPd,Ag,Au,R
uO2 ,Pd−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等
から構成される印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透
明導電体およびポリシリコン等の半導体材料等より適宜
選択することができる。素子電極間隔L1、素子電極長
さW1、薄膜4の形状等は、応用される形態等を考慮し
て設計される。素子電極間隔L1は、好ましくは、数千
オングストロームから数百マイクロメートルの範囲とす
ることができ、より好ましくは、素子電極間に印加する
電圧等を考慮して数マイクロメートルから数十マイクロ
メートルの範囲とすることができる。
一般的な導体材料を用いることができる。これは例えば
Ni,Cr,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al,C
u,Pd等の金属或は合金およびPd,Ag,Au,R
uO2 ,Pd−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等
から構成される印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透
明導電体およびポリシリコン等の半導体材料等より適宜
選択することができる。素子電極間隔L1、素子電極長
さW1、薄膜4の形状等は、応用される形態等を考慮し
て設計される。素子電極間隔L1は、好ましくは、数千
オングストロームから数百マイクロメートルの範囲とす
ることができ、より好ましくは、素子電極間に印加する
電圧等を考慮して数マイクロメートルから数十マイクロ
メートルの範囲とすることができる。
【0047】素子電極長さW1は、電極の抵抗値、電子
放出特性を考慮して、数マイクロメートルから数百マイ
クロメートルの範囲とすることができる。素子電極2、
3の厚さdは、数百オングストロームから数マイクロメ
ートルの範囲とすることができる。
放出特性を考慮して、数マイクロメートルから数百マイ
クロメートルの範囲とすることができる。素子電極2、
3の厚さdは、数百オングストロームから数マイクロメ
ートルの範囲とすることができる。
【0048】尚、図1に示した構成だけでなく、基板1
上に、薄膜4、対向する素子電極2、3の順に積層した
構成とすることもできる。
上に、薄膜4、対向する素子電極2、3の順に積層した
構成とすることもできる。
【0049】電子放出部を含む薄膜4には、良好な電子
放出特性を得るために微粒子で構成された微粒子膜を用
いるのが好ましい。その膜厚は、素子電極2、3へのス
テップカバレージ、素子電極2、3間の抵抗値及び後述
する通電フォーミング条件等を考慮して適宜設定される
が、通常は数オングストロームから数千オングストロー
ムの範囲とすることが好ましく、より好ましくは10Å
より500Åの範囲とするのが良い。その抵抗値は、R
S が102 から107 オーム/□の値である。なおRS
は、厚さがt、幅がwで長さがlの薄膜の抵抗Rを、R
=RS (l/w)とおいたときに現れる。本願明細書に
おいて,フォーミング処理については、通電処理を例に
挙げて説明するが、フォーミング処理はこれに限られる
ものではなく、膜に亀裂を生じさせて高抵抗状態を形成
する処理を包含するものである。ここで述べる微粒子膜
とは、複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造
は、微粒子が個々に分散配置した状態あるいは微粒子が
互いに隣接、あるいは重なり合った状態(いくつかの微
粒子が集合し、全体として島状構造を形成している場合
も含む)をとっている。微粒子の粒径は、数オングスト
ロームから数千オングストロームの範囲、好ましくは1
0Åから200Åの範囲である。
放出特性を得るために微粒子で構成された微粒子膜を用
いるのが好ましい。その膜厚は、素子電極2、3へのス
テップカバレージ、素子電極2、3間の抵抗値及び後述
する通電フォーミング条件等を考慮して適宜設定される
が、通常は数オングストロームから数千オングストロー
ムの範囲とすることが好ましく、より好ましくは10Å
より500Åの範囲とするのが良い。その抵抗値は、R
S が102 から107 オーム/□の値である。なおRS
は、厚さがt、幅がwで長さがlの薄膜の抵抗Rを、R
=RS (l/w)とおいたときに現れる。本願明細書に
おいて,フォーミング処理については、通電処理を例に
挙げて説明するが、フォーミング処理はこれに限られる
ものではなく、膜に亀裂を生じさせて高抵抗状態を形成
する処理を包含するものである。ここで述べる微粒子膜
とは、複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造
は、微粒子が個々に分散配置した状態あるいは微粒子が
互いに隣接、あるいは重なり合った状態(いくつかの微
粒子が集合し、全体として島状構造を形成している場合
も含む)をとっている。微粒子の粒径は、数オングスト
ロームから数千オングストロームの範囲、好ましくは1
0Åから200Åの範囲である。
【0050】なお、本明細書では頻繁に「微粒子」とい
う言葉を用いるので、その意味について説明する。
う言葉を用いるので、その意味について説明する。
【0051】小さな粒子を「微粒子」と呼び、これより
も小さなものを「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」より
もさらに小さく原子の数が数百個程度以下のものを「ク
ラスター」と呼ぶことは広く行われている。
も小さなものを「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」より
もさらに小さく原子の数が数百個程度以下のものを「ク
ラスター」と呼ぶことは広く行われている。
【0052】しかしながら、それぞれの境は厳密なもの
ではなく、どの様な性質に注目して分類するかにより変
化する。また「微粒子」と「超微粒子」を一括して「微
粒子」と呼ぶ場合もあり、本明細書中での記述はこれに
沿ったものである。
ではなく、どの様な性質に注目して分類するかにより変
化する。また「微粒子」と「超微粒子」を一括して「微
粒子」と呼ぶ場合もあり、本明細書中での記述はこれに
沿ったものである。
【0053】「実験物理学講座14 表面・微粒子」
(木下是雄 編、共立出版 1986年9月1日発行)
では次のように記述されている。
(木下是雄 編、共立出版 1986年9月1日発行)
では次のように記述されている。
【0054】「本稿で微粒子と言うときにはその直径が
だいたい2〜3μm程度から10nm程度までとし、特
に超微粒子と言うときは粒径が10nm程度から2〜3
nm程度までを意味することにする。両者を一括して単
に微粒子と書くこともあってけっして厳密なものではな
く、だいたいの目安である。粒子を構成する原子の数が
2個から数十〜数百個程度の場合はクラスターと呼ぶ」
(195ページ 22〜26行目)付言すると、新技術
開発事業団の“林・超微粒子プロジェクト”での「超微
粒子」の定義は、粒径の下限はさらに小さく、次のよう
なものであった。
だいたい2〜3μm程度から10nm程度までとし、特
に超微粒子と言うときは粒径が10nm程度から2〜3
nm程度までを意味することにする。両者を一括して単
に微粒子と書くこともあってけっして厳密なものではな
く、だいたいの目安である。粒子を構成する原子の数が
2個から数十〜数百個程度の場合はクラスターと呼ぶ」
(195ページ 22〜26行目)付言すると、新技術
開発事業団の“林・超微粒子プロジェクト”での「超微
粒子」の定義は、粒径の下限はさらに小さく、次のよう
なものであった。
【0055】「創造科学技術推進制度の”超微粒子プロ
ジェクト”(1981〜1986)では、粒子の大きさ
(径)がおよそ1〜100nmの範囲のものを”超微粒
子”(ultra fine particle)と呼
ぶことにした。すると1個の超微粒子はおよそ100〜
108 個くらいの原子の集合体ということになる。原子
の尺度でみれば超微粒子は大〜巨大粒子である。」
(「超微粒子−創造科学技術−」林主税、上田良二、田
崎明 編;三田出版 1988年 2ページ1〜4行
目)「超微粒子よりさらに小さいもの、すなわち原子が
数個〜数百個で構成される1個の粒子は、ふつうクラス
ターと呼ばれる」(同書2ページ12〜13行目)。
ジェクト”(1981〜1986)では、粒子の大きさ
(径)がおよそ1〜100nmの範囲のものを”超微粒
子”(ultra fine particle)と呼
ぶことにした。すると1個の超微粒子はおよそ100〜
108 個くらいの原子の集合体ということになる。原子
の尺度でみれば超微粒子は大〜巨大粒子である。」
(「超微粒子−創造科学技術−」林主税、上田良二、田
崎明 編;三田出版 1988年 2ページ1〜4行
目)「超微粒子よりさらに小さいもの、すなわち原子が
数個〜数百個で構成される1個の粒子は、ふつうクラス
ターと呼ばれる」(同書2ページ12〜13行目)。
【0056】上記のような一般的な呼び方をふまえて、
本明細書において「微粒子」とは多数の原子・分子の集
合体で、粒径の下限は数Å〜10Å程度、上限は数μm
程度のものを指すこととする。
本明細書において「微粒子」とは多数の原子・分子の集
合体で、粒径の下限は数Å〜10Å程度、上限は数μm
程度のものを指すこととする。
【0057】次に、電子放出部5は、導電性薄膜の一部
に形成された高抵抗の亀裂により構成され、導電性薄膜
の膜厚、膜質、材料及び後述する通電フォーミング等の
手法等に依存したものとなる。電子放出部5の内部に
は、数オングストロームから数百オングストロームの範
囲の粒径の導電性微粒子が存在する場合もある。この導
電性微粒子は、導電性薄膜を構成する材料の元素の一
部、あるいは全ての元素を含有するものとなる。電子放
出部5及びその近傍の導電性薄膜には、炭素及び炭素化
合物を有することもできる。
に形成された高抵抗の亀裂により構成され、導電性薄膜
の膜厚、膜質、材料及び後述する通電フォーミング等の
手法等に依存したものとなる。電子放出部5の内部に
は、数オングストロームから数百オングストロームの範
囲の粒径の導電性微粒子が存在する場合もある。この導
電性微粒子は、導電性薄膜を構成する材料の元素の一
部、あるいは全ての元素を含有するものとなる。電子放
出部5及びその近傍の導電性薄膜には、炭素及び炭素化
合物を有することもできる。
【0058】次に、垂直型表面伝導型電子放出素子につ
いて説明する。
いて説明する。
【0059】図2は、本発明の表面伝導型電子放出素子
を適用できる垂直型表面伝導型電子放出素子の一例を示
す模式図である。
を適用できる垂直型表面伝導型電子放出素子の一例を示
す模式図である。
【0060】図2においては、図1に示した部位と同じ
部位には図1に付した符号と同一の符号を付している。
なお21は、段差形成部である。基板1、素子電極2及
び3、電子放出部を含む薄膜4、電子放出部5は、前述
した平面型表面伝導型電子放出素子の場合と同様の材料
で構成することができる。段差形成部21は、真空蒸着
法、印刷法、スパッタ法等で形成されたSiO2 等の絶
縁性材料で構成することができる。段差形成部21の膜
厚は、先に述べた平面型表面伝導型電子放出素子の素子
電極間隔Lに対応し、数千オングストロームから数十マ
イクロメートルの範囲とすることができる。この膜厚
は、段差形成部の製法、及び、素子電極間に印加する電
圧を考慮して設定されるが、数百オングストロームから
数マイクロメートルの範囲が好ましい。
部位には図1に付した符号と同一の符号を付している。
なお21は、段差形成部である。基板1、素子電極2及
び3、電子放出部を含む薄膜4、電子放出部5は、前述
した平面型表面伝導型電子放出素子の場合と同様の材料
で構成することができる。段差形成部21は、真空蒸着
法、印刷法、スパッタ法等で形成されたSiO2 等の絶
縁性材料で構成することができる。段差形成部21の膜
厚は、先に述べた平面型表面伝導型電子放出素子の素子
電極間隔Lに対応し、数千オングストロームから数十マ
イクロメートルの範囲とすることができる。この膜厚
は、段差形成部の製法、及び、素子電極間に印加する電
圧を考慮して設定されるが、数百オングストロームから
数マイクロメートルの範囲が好ましい。
【0061】電子放出部を含む薄膜4は、素子電極2及
び3と段差形成部21作成後に、該素子電極2、3の上
に積層される。電子放出部5は、図2においては、段差
形成部21に形成されているが、作成条件、フォーミン
グ条件等に依存し、形状、位置ともこれに限られるもの
でない。
び3と段差形成部21作成後に、該素子電極2、3の上
に積層される。電子放出部5は、図2においては、段差
形成部21に形成されているが、作成条件、フォーミン
グ条件等に依存し、形状、位置ともこれに限られるもの
でない。
【0062】上述の表面伝導型電子放出素子の製造方法
としては様々な方法があるが、その一例を図3に模式的
に示す。
としては様々な方法があるが、その一例を図3に模式的
に示す。
【0063】以下、図1及び図3を参照しながら製造方
法の一例について説明する。図3においても、図1に示
した部位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号
を付している。なお、6は電子放出部形成用薄膜、31
は液滴付与装置、32は液滴、33は液溜りを示す。
法の一例について説明する。図3においても、図1に示
した部位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号
を付している。なお、6は電子放出部形成用薄膜、31
は液滴付与装置、32は液滴、33は液溜りを示す。
【0064】1)絶縁性基板1を洗剤、純水および有機
溶剤により十分に洗浄後、電極材料の堆積とフォトリソ
グラフィ技術等による同材料の部分的除去工程によっ
て、あるいは印刷技術によって、前記基板1の面上に素
子電極2、3を形成する(図3(a))。
溶剤により十分に洗浄後、電極材料の堆積とフォトリソ
グラフィ技術等による同材料の部分的除去工程によっ
て、あるいは印刷技術によって、前記基板1の面上に素
子電極2、3を形成する(図3(a))。
【0065】2)基板の素子電極2と3のギャップ部分
に、両電極にまたがるように、エーテルと有機金属化合
物とを含む水溶液の液滴22を、液滴付与装置21を用
いて付与する(図3(b))。
に、両電極にまたがるように、エーテルと有機金属化合
物とを含む水溶液の液滴22を、液滴付与装置21を用
いて付与する(図3(b))。
【0066】上記の水溶液を基板に付与する手段として
は、液滴を形成し付与することが可能ならば任意の方法
でよいが、特に微小な液滴を効率良く適度な精度で発生
付与でき、制御性も良好なインクジェット方式が便利で
ある。インクジェット方式にはピエゾ素子等のメカニカ
ルな衝撃により液滴を発生付与するものや、微小ヒータ
等で液を加熱し突沸により液滴を発生付与するバブルジ
ェット方式があるが、いずれの方式でも十ng程度から
数十μg程度までの微小液滴を再現性良く発生し、基板
に付与することができる。
は、液滴を形成し付与することが可能ならば任意の方法
でよいが、特に微小な液滴を効率良く適度な精度で発生
付与でき、制御性も良好なインクジェット方式が便利で
ある。インクジェット方式にはピエゾ素子等のメカニカ
ルな衝撃により液滴を発生付与するものや、微小ヒータ
等で液を加熱し突沸により液滴を発生付与するバブルジ
ェット方式があるが、いずれの方式でも十ng程度から
数十μg程度までの微小液滴を再現性良く発生し、基板
に付与することができる。
【0067】3)上記基板を乾燥、焼成して、電子放出
部形成用薄膜6を形成する(図3(c))。
部形成用薄膜6を形成する(図3(c))。
【0068】乾燥工程は通常用いられる自然乾燥、送風
乾燥、熱乾燥等を用いればよい。焼成工程は通常用いら
れる加熱手段を用いれば良い。乾燥工程と焼成工程とは
必ずしも区別された別工程として行なう必要はなく、連
続して同時に行なってもかまわない。
乾燥、熱乾燥等を用いればよい。焼成工程は通常用いら
れる加熱手段を用いれば良い。乾燥工程と焼成工程とは
必ずしも区別された別工程として行なう必要はなく、連
続して同時に行なってもかまわない。
【0069】このように、付与された有機金属化合物溶
液を、乾燥、焼成工程を経て得られた薄膜6は、基板上
に電子放出のための無機微粒子膜を形成する。
液を、乾燥、焼成工程を経て得られた薄膜6は、基板上
に電子放出のための無機微粒子膜を形成する。
【0070】4)つづいて、真空容器中においてフォー
ミング工程を施す。このフォーミング工程の一例とし
て、通電処理による方法を説明する。素子電極2,3間
に、不図示の電源により通電を行うと、電子放出部を含
む薄膜4の部位に、構造の変化した電子放出部5が形成
される(図4(d))。通電フォーミングによれば、電
子放出部を含む薄膜4に局所的に破壊、変形もしくは変
質等の構造の変化した部位が形成される。この部位が電
子放出部5を構成する。次に、通電フォーミングの電圧
波形の例を図4に示す。
ミング工程を施す。このフォーミング工程の一例とし
て、通電処理による方法を説明する。素子電極2,3間
に、不図示の電源により通電を行うと、電子放出部を含
む薄膜4の部位に、構造の変化した電子放出部5が形成
される(図4(d))。通電フォーミングによれば、電
子放出部を含む薄膜4に局所的に破壊、変形もしくは変
質等の構造の変化した部位が形成される。この部位が電
子放出部5を構成する。次に、通電フォーミングの電圧
波形の例を図4に示す。
【0071】電圧波形は、パルス波形が好ましい。これ
には、パルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印
加する図4(a)に示した手法と、パルス波高値を増加
させながら電圧パルスを印加する図4(b)に示した手
法がある。
には、パルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印
加する図4(a)に示した手法と、パルス波高値を増加
させながら電圧パルスを印加する図4(b)に示した手
法がある。
【0072】図4aにおけるT1及びT2は、電圧波形
のパルス幅とパルス間隔である。通常T1は1マイクロ
秒〜10ミリ秒、T2は10マイクロ秒〜100ミリ秒
の範囲で設定される。三角波の波高値(通電フォーミン
グ時のピーク電圧)は、表面伝導型電子放出素子の形態
に応じて適宜選択される。このような条件のもと、例え
ば、数秒から数十分間電圧を印加する。パルス波形は三
角波に限定されるものではなく、矩形波など所望の波形
を採用することができる。
のパルス幅とパルス間隔である。通常T1は1マイクロ
秒〜10ミリ秒、T2は10マイクロ秒〜100ミリ秒
の範囲で設定される。三角波の波高値(通電フォーミン
グ時のピーク電圧)は、表面伝導型電子放出素子の形態
に応じて適宜選択される。このような条件のもと、例え
ば、数秒から数十分間電圧を印加する。パルス波形は三
角波に限定されるものではなく、矩形波など所望の波形
を採用することができる。
【0073】図4bにおけるT1及びT2は、図4aに
示したのと同様とすることができる。三角波の波高値
(通電フォーミング時のピーク電圧)は、例えば0.1
Vステップ程度ずつ、増加させることができる。
示したのと同様とすることができる。三角波の波高値
(通電フォーミング時のピーク電圧)は、例えば0.1
Vステップ程度ずつ、増加させることができる。
【0074】通電フォーミング処理の終了時期は、パル
ス間隔T2中に、電子放出部形成用薄膜6を局所的に破
壊、変形しない程度の電圧を印加し、電流を測定して検
知することができる。例えば0.1V程度の電圧印加に
より流れる素子電流を測定し、抵抗値を求めて、1MΩ
以上の抵抗を示した時、通電フォーミングを終了させ
る。
ス間隔T2中に、電子放出部形成用薄膜6を局所的に破
壊、変形しない程度の電圧を印加し、電流を測定して検
知することができる。例えば0.1V程度の電圧印加に
より流れる素子電流を測定し、抵抗値を求めて、1MΩ
以上の抵抗を示した時、通電フォーミングを終了させ
る。
【0075】5)フォーミングを終えた素子には活性化
工程と呼ばれる処理を施すのが好ましい。活性化工程と
は、この工程により、素子電流If、放出電流Ieが、
著しく変化する工程である。
工程と呼ばれる処理を施すのが好ましい。活性化工程と
は、この工程により、素子電流If、放出電流Ieが、
著しく変化する工程である。
【0076】活性化工程は、例えば、有機物質のガスを
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、パル
スの印加を繰り返すことで行うことができる。この雰囲
気は例えば油拡散ポンプやロータリーポンプなどを用い
て真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留する有機
ガスを利用して形成することができる他、イオンポンプ
などにより一旦十分に排気した真空中に適当な有機物質
のガスを導入することによっても得られる。このときの
好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形態、真空
容器の形状や、有機物質の種類などにより異なるため場
合に応じ適宜設定される。適当な有機物質としては、ア
ルカン、アルケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香
族炭化水素類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン
類、アミン類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の
有機酸類等を挙げることができ、具体的には、メタン、
エタン、プロパンなどCn H2n+2で表される飽和炭化水
素、エチレン、プロピレンなどCn H2n等の組成式で表
される不飽和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノー
ル、エタノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒ
ド、アセトン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エ
チルアミン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等
が使用できる。この処理により、雰囲気中に存在する有
機物質から、炭素あるいは炭素化合物が素子上に堆積
し、素子電流If、放出電流Ieが、著しく変化するよ
うになる。
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、パル
スの印加を繰り返すことで行うことができる。この雰囲
気は例えば油拡散ポンプやロータリーポンプなどを用い
て真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留する有機
ガスを利用して形成することができる他、イオンポンプ
などにより一旦十分に排気した真空中に適当な有機物質
のガスを導入することによっても得られる。このときの
好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形態、真空
容器の形状や、有機物質の種類などにより異なるため場
合に応じ適宜設定される。適当な有機物質としては、ア
ルカン、アルケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香
族炭化水素類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン
類、アミン類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の
有機酸類等を挙げることができ、具体的には、メタン、
エタン、プロパンなどCn H2n+2で表される飽和炭化水
素、エチレン、プロピレンなどCn H2n等の組成式で表
される不飽和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノー
ル、エタノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒ
ド、アセトン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エ
チルアミン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等
が使用できる。この処理により、雰囲気中に存在する有
機物質から、炭素あるいは炭素化合物が素子上に堆積
し、素子電流If、放出電流Ieが、著しく変化するよ
うになる。
【0077】活性化工程の終了判定は素子電流Ifと放
出電流Ieを測定しながら、適宜行う。なお、パルス
幅、パルス間隔、パルス波高値などは適宜設定される。
出電流Ieを測定しながら、適宜行う。なお、パルス
幅、パルス間隔、パルス波高値などは適宜設定される。
【0078】炭素及び炭素化合物とは、グラファイト
(いわゆる高配向性熱分解炭素HOPG、熱分解炭素P
G、無定形炭素GC)を包含する、HOPGはほぼ完全
なグラファイトの結晶構造、PGは結晶粒が200Å程
度で結晶構造がやや乱れたもの、GCは結晶粒が20Å
程度になり結晶構造の乱れがさらに大きくなったものを
指す。)非晶質カーボン(アモルファスカーボン及び、
アモルファスカーボンと前記グラファイトの微結晶の混
合物を指す)であり、その膜厚は500Å以下の範囲と
するのが好ましく、300Å以下の範囲とするのがより
好ましい。
(いわゆる高配向性熱分解炭素HOPG、熱分解炭素P
G、無定形炭素GC)を包含する、HOPGはほぼ完全
なグラファイトの結晶構造、PGは結晶粒が200Å程
度で結晶構造がやや乱れたもの、GCは結晶粒が20Å
程度になり結晶構造の乱れがさらに大きくなったものを
指す。)非晶質カーボン(アモルファスカーボン及び、
アモルファスカーボンと前記グラファイトの微結晶の混
合物を指す)であり、その膜厚は500Å以下の範囲と
するのが好ましく、300Å以下の範囲とするのがより
好ましい。
【0079】6)このような工程を経て得られた電子放
出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程
は、真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空
容器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイ
ルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用
しないものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープ
ションポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げる
ことが出来る。
出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程
は、真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空
容器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイ
ルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用
しないものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープ
ションポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げる
ことが出来る。
【0080】前記活性化の工程で、排気装置として油拡
散ポンプを用い、これから発生するオイル成分に由来す
る有機ガスを用いた場合は、この成分の分圧を極力低く
抑える必要がある。真空容器内の有機成分の分圧は、上
記の炭素及び炭素化合物がほぼ新たに堆積しない分圧で
1×10-8Torr以下が好ましく、さらには1×10
-10 Torr以下が特に好ましい。さらに真空容器内を
排気するときには、真空容器全体を加熱して、真空容器
内壁や、電子放出素子に吸着した有機物質分子を排気し
やすくするのが好ましい。このときの加熱条件は80〜
200℃で5時間以上が望ましいが、特にこの条件に限
るものではなく、真空容器の大きさや形状、電子放出素
子の構成などの諸条件により適宜選ばれる条件により行
う。真空容器内の圧力は極力低くすることが必要で、1
〜3×10-7Torr以下が好ましく、さらに1×10
-8Torr以下が特に好ましい。
散ポンプを用い、これから発生するオイル成分に由来す
る有機ガスを用いた場合は、この成分の分圧を極力低く
抑える必要がある。真空容器内の有機成分の分圧は、上
記の炭素及び炭素化合物がほぼ新たに堆積しない分圧で
1×10-8Torr以下が好ましく、さらには1×10
-10 Torr以下が特に好ましい。さらに真空容器内を
排気するときには、真空容器全体を加熱して、真空容器
内壁や、電子放出素子に吸着した有機物質分子を排気し
やすくするのが好ましい。このときの加熱条件は80〜
200℃で5時間以上が望ましいが、特にこの条件に限
るものではなく、真空容器の大きさや形状、電子放出素
子の構成などの諸条件により適宜選ばれる条件により行
う。真空容器内の圧力は極力低くすることが必要で、1
〜3×10-7Torr以下が好ましく、さらに1×10
-8Torr以下が特に好ましい。
【0081】安定化工程を行った後の駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、真空度自体は多少低下しても十分安定な
特性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を
採用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の
堆積を抑制でき、結果として素子電流If、放出電流I
eが安定する。
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、真空度自体は多少低下しても十分安定な
特性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を
採用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の
堆積を抑制でき、結果として素子電流If、放出電流I
eが安定する。
【0082】上述した工程を経て得られた本発明を適用
可能な電子放出素子の基本特性について図5、図6を参
照しながら説明する。
可能な電子放出素子の基本特性について図5、図6を参
照しながら説明する。
【0083】図5は、真空処理装置の一例を示す模式図
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図5においても、図1に示した部
位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付し
ている。図5において、55は真空容器であり、56は
排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素子が
配されている。即ち、1は電子放出素子を構成する基体
であり、2及び3は素子電極、4は導電性薄膜、5は電
子放出部である。51は、電子放出素子に素子電圧Vf
を印加するための電源、50は素子電極2・3間の導電
性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定するための電流
計、54は素子の電子放出部より放出される放出電流I
eを捕捉するためのアノード電極である。53はアノー
ド電極54に電圧を印加するための高圧電源、52は素
子の電子放出部5より放出される放出電流Ieを測定す
るための電流計である。一例として、アノード電極の電
圧を1kV〜10kVの範囲とし、アノード電極と電子
放出素子との距離Hを2mm〜8mmの範囲として測定
を行うことができる。
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図5においても、図1に示した部
位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付し
ている。図5において、55は真空容器であり、56は
排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素子が
配されている。即ち、1は電子放出素子を構成する基体
であり、2及び3は素子電極、4は導電性薄膜、5は電
子放出部である。51は、電子放出素子に素子電圧Vf
を印加するための電源、50は素子電極2・3間の導電
性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定するための電流
計、54は素子の電子放出部より放出される放出電流I
eを捕捉するためのアノード電極である。53はアノー
ド電極54に電圧を印加するための高圧電源、52は素
子の電子放出部5より放出される放出電流Ieを測定す
るための電流計である。一例として、アノード電極の電
圧を1kV〜10kVの範囲とし、アノード電極と電子
放出素子との距離Hを2mm〜8mmの範囲として測定
を行うことができる。
【0084】真空容器55内には、不図示の真空計等の
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気中での測定評価を行えるようになって
いる。排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータリーポ
ンプからなる通常の高真空装置系と更に、イオンポンプ
等からなる超高真空装置系とにより構成されている。こ
こに示した電子源基板を配した真空処理装置の全体は、
不図示のヒーターにより200度まで加熱できる。従っ
て、この真空処理装置を用いると、前述の通電フォーミ
ング以降の工程も行うことができる。
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気中での測定評価を行えるようになって
いる。排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータリーポ
ンプからなる通常の高真空装置系と更に、イオンポンプ
等からなる超高真空装置系とにより構成されている。こ
こに示した電子源基板を配した真空処理装置の全体は、
不図示のヒーターにより200度まで加熱できる。従っ
て、この真空処理装置を用いると、前述の通電フォーミ
ング以降の工程も行うことができる。
【0085】図6は図5に示した真空処理装置を用いて
測定された放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧Vf
の関係を模式的に示した図である。図6においては、放
出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さいので、
任意単位で示している。尚、縦、横軸ともリニアスケー
ルである。
測定された放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧Vf
の関係を模式的に示した図である。図6においては、放
出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さいので、
任意単位で示している。尚、縦、横軸ともリニアスケー
ルである。
【0086】図6からも明らかなように、本発明を適用
可能な表面伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに関し
て三つの特徴的特性を有する。
可能な表面伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに関し
て三つの特徴的特性を有する。
【0087】即ち、(i)本素子はある電圧(しきい値
電圧と呼ぶ、図6中のVth)以上の素子電圧を印加す
ると急激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値電圧V
th以下では放出電流Ieがほとんど検出されない。つ
まり、放出電流Ieに対する明確なしきい値電圧Vth
を持った非線形素子である。
電圧と呼ぶ、図6中のVth)以上の素子電圧を印加す
ると急激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値電圧V
th以下では放出電流Ieがほとんど検出されない。つ
まり、放出電流Ieに対する明確なしきい値電圧Vth
を持った非線形素子である。
【0088】(ii)放出電流Ieが素子電圧Vfに単
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
【0089】(iii)アノード電極54に捕捉される
放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。
すなわち、アノード電極54に捕捉される電荷量は、素
子電圧Vfを印加する時間により制御できる。
放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。
すなわち、アノード電極54に捕捉される電荷量は、素
子電圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0090】以上の説明により理解されるように、本発
明を適用可能な表面伝導型電子放出素子は、入力信号に
応じて、電子放出特性を容易に制御できることになる。
この性質を利用すると複数の電子放出素子を配して構成
した電子源、画像形成装置等、多方面への応用が可能と
なる。
明を適用可能な表面伝導型電子放出素子は、入力信号に
応じて、電子放出特性を容易に制御できることになる。
この性質を利用すると複数の電子放出素子を配して構成
した電子源、画像形成装置等、多方面への応用が可能と
なる。
【0091】図6においては、素子電流Ifが素子電圧
Vfに対して単調増加する(以下、「MI特性」とい
う。)例を実線に示した。素子電流Ifが素子電圧Vf
に対して電圧制御型負性抵抗特性(以下、「VCNR特
性」という。)を示す場合もある(不図示)。また、こ
れら特性は、前述の工程を制御することで制御できる。
Vfに対して単調増加する(以下、「MI特性」とい
う。)例を実線に示した。素子電流Ifが素子電圧Vf
に対して電圧制御型負性抵抗特性(以下、「VCNR特
性」という。)を示す場合もある(不図示)。また、こ
れら特性は、前述の工程を制御することで制御できる。
【0092】本発明を適用可能な電子放出素子の応用例
について以下に述べる。本発明を適用可能な表面伝導型
電子放出素子の複数個を基板上に配列すると、例えば電
子源あるいは、画像形成装置が構成できる。
について以下に述べる。本発明を適用可能な表面伝導型
電子放出素子の複数個を基板上に配列すると、例えば電
子源あるいは、画像形成装置が構成できる。
【0093】電子放出素子の配列については、種々のも
のが採用できる。
のが採用できる。
【0094】一例として、並列に配置した多数の電子放
出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を多数
個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直行する方向(列
方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制御電
極(グリッド電極とも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動するはしご状配置のものがある。これ
とは別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に
複数配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
いわゆる単純マトリクス配置である。まず単純マトリク
ス配置について以下に詳述する。
出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を多数
個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直行する方向(列
方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制御電
極(グリッド電極とも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動するはしご状配置のものがある。これ
とは別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に
複数配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
いわゆる単純マトリクス配置である。まず単純マトリク
ス配置について以下に詳述する。
【0095】本発明を適用可能な表面伝導型電子放出素
子については、前述したとおり(i)ないし(iii)
の特性がある。即ち、表面伝導型電子放出素子からの放
出電子は、しきい値電圧以上では、対向する素子電極間
に印加するパルス状電圧の波高値と巾で制御できる。一
方、しきい値電圧以下では、殆ど放出されない。この特
性によれば、多数の電子放出素子を配置した場合におい
ても、個々の素子に、パルス状電圧を適宜印加すれば、
入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子を選択して
電子放出量を制御できる。
子については、前述したとおり(i)ないし(iii)
の特性がある。即ち、表面伝導型電子放出素子からの放
出電子は、しきい値電圧以上では、対向する素子電極間
に印加するパルス状電圧の波高値と巾で制御できる。一
方、しきい値電圧以下では、殆ど放出されない。この特
性によれば、多数の電子放出素子を配置した場合におい
ても、個々の素子に、パルス状電圧を適宜印加すれば、
入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子を選択して
電子放出量を制御できる。
【0096】以下この原理に基づき、本発明を適用可能
な電子放出素子を複数配して得られる電子源について、
図7を用いて説明する。図7において、71は電子源基
板、72はX方向配線、73はY方向配線である。74
は表面伝導型電子放出素子、75は結線である。尚、表
面伝導型電子放出素子74は、前述した平面型あるいは
垂直型のどちらであってもよい。
な電子放出素子を複数配して得られる電子源について、
図7を用いて説明する。図7において、71は電子源基
板、72はX方向配線、73はY方向配線である。74
は表面伝導型電子放出素子、75は結線である。尚、表
面伝導型電子放出素子74は、前述した平面型あるいは
垂直型のどちらであってもよい。
【0097】m本のX方向配線72はDX1,DX2,
・・・DXmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパッタ
法等を用いて形成された導電性金属等で構成することが
できる。配線の材料、膜厚、巾は、適宜設定される。Y
方向配線73はDY1,DY2,・・・DYnのn本の
配線よりなり、X方向配線72と同様に形成される。こ
れらm本のX方向配線72とn本のY方向配線73との
間には、不図示の層間絶縁層が設けられており、両者を
電気的に分離している(m,nは、共に正の整数)。
・・・DXmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパッタ
法等を用いて形成された導電性金属等で構成することが
できる。配線の材料、膜厚、巾は、適宜設定される。Y
方向配線73はDY1,DY2,・・・DYnのn本の
配線よりなり、X方向配線72と同様に形成される。こ
れらm本のX方向配線72とn本のY方向配線73との
間には、不図示の層間絶縁層が設けられており、両者を
電気的に分離している(m,nは、共に正の整数)。
【0098】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配
線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るよ
うに、膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配
線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るよ
うに、膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
【0099】表面伝導型放出素子74を構成する一対の
素子電極(不図示)は、m本のX方向配線72とn本の
Y方向配線73と、導電性金属等からなる結線75によ
って電気的に接続されている。
素子電極(不図示)は、m本のX方向配線72とn本の
Y方向配線73と、導電性金属等からなる結線75によ
って電気的に接続されている。
【0100】配線72と配線73を構成する材料、結線
75を構成する材料、結線75を構成する材料、及び一
対の素子電極を構成する材料はその構成元素の一部ある
いは全部が同一であっても、またそれぞれ異なってもよ
い。これら材料は、例えば前述の素子電極の材料より適
宜選択される。素子電極を構成する材料と配線材料が同
一である場合には、素子電極に接続した配線は素子電極
ということもできる。
75を構成する材料、結線75を構成する材料、及び一
対の素子電極を構成する材料はその構成元素の一部ある
いは全部が同一であっても、またそれぞれ異なってもよ
い。これら材料は、例えば前述の素子電極の材料より適
宜選択される。素子電極を構成する材料と配線材料が同
一である場合には、素子電極に接続した配線は素子電極
ということもできる。
【0101】X方向配線72には、X方向に配列した表
面伝導型放出素子74の行を選択するための走査信号を
印加する、不図示の走査信号印加手段が接続される。一
方、Y方向配線73には、Y方向に配列した表面伝導型
放出素子74の各列を入力信号に応じて変調するため
の、不図示の変調信号発生手段が接続される。各電子放
出素子に印加される駆動電圧は、当該素子に印加される
走査信号と変調信号の差電圧として供給される。 上記
構成においては、単純なマトリクス配線を用いて、個別
の素子を選択し、独立に駆動可能とすることができる。
面伝導型放出素子74の行を選択するための走査信号を
印加する、不図示の走査信号印加手段が接続される。一
方、Y方向配線73には、Y方向に配列した表面伝導型
放出素子74の各列を入力信号に応じて変調するため
の、不図示の変調信号発生手段が接続される。各電子放
出素子に印加される駆動電圧は、当該素子に印加される
走査信号と変調信号の差電圧として供給される。 上記
構成においては、単純なマトリクス配線を用いて、個別
の素子を選択し、独立に駆動可能とすることができる。
【0102】このような単純マトリクス配置の電子源を
用いて構成した画像形成装置について、図8と図9及び
図10を用いて説明する。図8は、画像形成装置の表示
パネルの一例を示す模式図であり、図9は、図8の画像
形成装置に使用される蛍光膜の模式図である。図10は
NTSC方式のテレビ信号に応じて表示を行うための駆
動回路の一例を示すブロック図である。
用いて構成した画像形成装置について、図8と図9及び
図10を用いて説明する。図8は、画像形成装置の表示
パネルの一例を示す模式図であり、図9は、図8の画像
形成装置に使用される蛍光膜の模式図である。図10は
NTSC方式のテレビ信号に応じて表示を行うための駆
動回路の一例を示すブロック図である。
【0103】図8において、71は電子放出素子を複数
配した電子源基板、81は電子源基板71を固定したリ
アプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85等が形成されたフェースプレートで
ある。82は支持枠であり、該支持枠82には、リアプ
レート81、フェースプレート86がフリットガラス等
を用いて接続されている。88は外囲器であり、例えば
大気中あるいは、窒素中で、400〜500度の温度範
囲で10分以上焼成することで、封着して構成される。
配した電子源基板、81は電子源基板71を固定したリ
アプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85等が形成されたフェースプレートで
ある。82は支持枠であり、該支持枠82には、リアプ
レート81、フェースプレート86がフリットガラス等
を用いて接続されている。88は外囲器であり、例えば
大気中あるいは、窒素中で、400〜500度の温度範
囲で10分以上焼成することで、封着して構成される。
【0104】74は電子放出素子に相当する。72、7
3は、表面伝導型電子放出素子の一対の素子電極と接続
されたX方向配線及びY方向配線である。
3は、表面伝導型電子放出素子の一対の素子電極と接続
されたX方向配線及びY方向配線である。
【0105】外囲器88は上述の如く、フェースプレー
ト86、支持枠82、リアプレート81で構成される。
リアプレート81は主に基板71の強度を補強する目的
で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持つ場
合は別体のリアプレート81は不要とすることができ
る。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェー
スプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器88
を構成しても良い。一方、フェースプレート86、リア
プレート81間に、スペーサーとよばれる不図示の支持
体を設置することにより、大気圧に対して十分な強度を
もつ外囲器88を構成することもできる。
ト86、支持枠82、リアプレート81で構成される。
リアプレート81は主に基板71の強度を補強する目的
で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持つ場
合は別体のリアプレート81は不要とすることができ
る。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェー
スプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器88
を構成しても良い。一方、フェースプレート86、リア
プレート81間に、スペーサーとよばれる不図示の支持
体を設置することにより、大気圧に対して十分な強度を
もつ外囲器88を構成することもできる。
【0106】図9は、蛍光膜を示す模式図である。蛍光
膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみから構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列によりブラックストライプあるいはブラックマトリク
スなどと呼ばれる黒色導電材91と蛍光体92とから構
成することができる。ブラックストライプ、ブラックマ
トリクスを設ける目的は、カラー表示の場合、必要とな
る三原色蛍光体の各蛍光体92間の塗り分け部を黒くす
ることで混色等を目立たなくすることと、蛍光膜84に
おける外光反射によるコントラストの低下を抑制するこ
とにある。ブラックストライプの材料としては、通常用
いられている黒鉛を主成分とする材料の他、導電性があ
り、光の透過及び反射が少ない材料を用いることができ
る。
膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみから構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列によりブラックストライプあるいはブラックマトリク
スなどと呼ばれる黒色導電材91と蛍光体92とから構
成することができる。ブラックストライプ、ブラックマ
トリクスを設ける目的は、カラー表示の場合、必要とな
る三原色蛍光体の各蛍光体92間の塗り分け部を黒くす
ることで混色等を目立たなくすることと、蛍光膜84に
おける外光反射によるコントラストの低下を抑制するこ
とにある。ブラックストライプの材料としては、通常用
いられている黒鉛を主成分とする材料の他、導電性があ
り、光の透過及び反射が少ない材料を用いることができ
る。
【0107】ガラス基板93に蛍光体を塗布する方法は
モノクローム、カラーによらず、沈殿法、印刷法等が採
用できる。蛍光膜84の内面側には通常メタルバック8
5が設けられる。メタルバックを設ける目的は、蛍光体
の発光のうち内面側への光をフェースプレート86側へ
鏡面反射することにより輝度を向上させること、電子ビ
ーム加速電圧を印加するための電極として作用させるこ
と、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダメージ
から蛍光体を保護すること等である。メタルバックは、
蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理(通
常、「フィルミング」と呼ばれる)を行い、その後A1
を真空蒸着等で堆積することで作製できる。
モノクローム、カラーによらず、沈殿法、印刷法等が採
用できる。蛍光膜84の内面側には通常メタルバック8
5が設けられる。メタルバックを設ける目的は、蛍光体
の発光のうち内面側への光をフェースプレート86側へ
鏡面反射することにより輝度を向上させること、電子ビ
ーム加速電圧を印加するための電極として作用させるこ
と、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダメージ
から蛍光体を保護すること等である。メタルバックは、
蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理(通
常、「フィルミング」と呼ばれる)を行い、その後A1
を真空蒸着等で堆積することで作製できる。
【0108】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
【0109】前述の封着を行う際には、カラーの場合は
各色蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、
十分な位置合わせが不可欠となる。
各色蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、
十分な位置合わせが不可欠となる。
【0110】図8に示した画像形成装置は、例えば以下
のようにして製造される。
のようにして製造される。
【0111】外囲器88は、前述の安定化工程と同様
に、適宜加熱しながら、イオンポンプ、ソープションポ
ンプなどのオイルを使用しない排気装置により不図示の
排気管を通じて排気し、10-7Torr程度の真空度の
有機物質の十分少ない雰囲気にした後、封止が成され
る。外囲器88の封止後の真空度を維持するために、ゲ
ッター処理をおこなうこともできる。これは、外囲器8
8の封止を行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱あるい
は高周波加熱等を用いた加熱により、外囲器88内の所
定の位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、蒸
着膜を形成する処理である。ゲッターは通常Ba等が主
成分であり、該蒸着膜の吸着作用により、たとえば1×
10-5ないしは1×10-7Torrの真空度を維持する
ものである。ここで、表面伝導型電子放出素子のフォー
ミング処理以降の工程は、適宜設定できる。
に、適宜加熱しながら、イオンポンプ、ソープションポ
ンプなどのオイルを使用しない排気装置により不図示の
排気管を通じて排気し、10-7Torr程度の真空度の
有機物質の十分少ない雰囲気にした後、封止が成され
る。外囲器88の封止後の真空度を維持するために、ゲ
ッター処理をおこなうこともできる。これは、外囲器8
8の封止を行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱あるい
は高周波加熱等を用いた加熱により、外囲器88内の所
定の位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、蒸
着膜を形成する処理である。ゲッターは通常Ba等が主
成分であり、該蒸着膜の吸着作用により、たとえば1×
10-5ないしは1×10-7Torrの真空度を維持する
ものである。ここで、表面伝導型電子放出素子のフォー
ミング処理以降の工程は、適宜設定できる。
【0112】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図10を用いて説明する。図10において、
101は画像表示パネル、102は走査回路、103は
制御回路、104はシフトレジスタである。105はラ
インメモリ、106は同期信号分離回路、107は変調
信号発生器、VxおよびVaは直流電圧源である。
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図10を用いて説明する。図10において、
101は画像表示パネル、102は走査回路、103は
制御回路、104はシフトレジスタである。105はラ
インメモリ、106は同期信号分離回路、107は変調
信号発生器、VxおよびVaは直流電圧源である。
【0113】表示パネル101は、端子Dox1ないし
Doxm、端子Doy1ないしDoyn、及び高圧端子
Hvを介して外部の電気回路と接続している。端子Do
x1ないしDoxmには、表示パネル内に設けられてい
る電子源、即ち、M行N列の行列状にマトリクス配線さ
れた表面伝導型電子放出素子群を一行(N素子)ずつ順
次駆動する為の走査信号が印加される。
Doxm、端子Doy1ないしDoyn、及び高圧端子
Hvを介して外部の電気回路と接続している。端子Do
x1ないしDoxmには、表示パネル内に設けられてい
る電子源、即ち、M行N列の行列状にマトリクス配線さ
れた表面伝導型電子放出素子群を一行(N素子)ずつ順
次駆動する為の走査信号が印加される。
【0114】端子Dy1ないしDynには、前記走査信
号により選択された一行の表面伝導型電子放出素子の各
素子の出力電子ビームを制御する為の変調信号が印加さ
れる。高圧端子Hvには、直流電圧源Vaより、例えば
10K[V]の直流電圧が供給されるが、これは表面伝
導型電子放出素子から放出される電子ビームに蛍光体を
励起するのに十分なエネルギーを付与する為に加速電圧
である。
号により選択された一行の表面伝導型電子放出素子の各
素子の出力電子ビームを制御する為の変調信号が印加さ
れる。高圧端子Hvには、直流電圧源Vaより、例えば
10K[V]の直流電圧が供給されるが、これは表面伝
導型電子放出素子から放出される電子ビームに蛍光体を
励起するのに十分なエネルギーを付与する為に加速電圧
である。
【0115】走査回路102について説明する。同回路
は、内部にM個のスイッチング素子を備えたもので(図
中、S1ないしSmで模式的に示している)ある。各ス
イッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dx1ないしDxmと電気的に
接続される。S1ないしSmの各スイッチング素子は、
制御回路103が出力する制御信号Tscanに基づい
て動作するものであり、例えばFETのようなスイッチ
ング素子を組み合わせる事により構成する事ができる。
は、内部にM個のスイッチング素子を備えたもので(図
中、S1ないしSmで模式的に示している)ある。各ス
イッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dx1ないしDxmと電気的に
接続される。S1ないしSmの各スイッチング素子は、
制御回路103が出力する制御信号Tscanに基づい
て動作するものであり、例えばFETのようなスイッチ
ング素子を組み合わせる事により構成する事ができる。
【0116】直流電圧源Vxは、本例の場合には表面伝
導型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基
づき、走査されていない素子に印加される駆動電圧が電
子放出しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力す
るよう設定されている。
導型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基
づき、走査されていない素子に印加される駆動電圧が電
子放出しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力す
るよう設定されている。
【0117】制御回路103は、外部より入力する画像
信号に基づいて適切な表示が行われるように各部の動作
を整合させる機能を有する。制御回路103は、同期信
号分離回路106より送られる同期信号Tsyncに基
づいて、各部に対してTscanおよびTsftおよび
Tmryの各制御信号を発生する。
信号に基づいて適切な表示が行われるように各部の動作
を整合させる機能を有する。制御回路103は、同期信
号分離回路106より送られる同期信号Tsyncに基
づいて、各部に対してTscanおよびTsftおよび
Tmryの各制御信号を発生する。
【0118】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離する為の回路で、一般的な周波数
分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期信
号分離回路106により分離された同期信号は、垂直同
期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便宜
上、Tsync信号として図示した。前記テレビ信号か
ら分離された画像の輝度信号成分を便宜上DATA信号
と表した。該DATA信号はシフトレジスタ104に入
力される。
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離する為の回路で、一般的な周波数
分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期信
号分離回路106により分離された同期信号は、垂直同
期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便宜
上、Tsync信号として図示した。前記テレビ信号か
ら分離された画像の輝度信号成分を便宜上DATA信号
と表した。該DATA信号はシフトレジスタ104に入
力される。
【0119】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(すなわち、制御信号Tsftは、シフトレジ
スタ104のシフトクロックであると言うこともでき
る)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
(電子放出素子N素子分の駆動データに相当)のデータ
は、Id1ないしIdnのN個の並列信号として前記シ
フトレジスタ104より出力される。
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(すなわち、制御信号Tsftは、シフトレジ
スタ104のシフトクロックであると言うこともでき
る)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
(電子放出素子N素子分の駆動データに相当)のデータ
は、Id1ないしIdnのN個の並列信号として前記シ
フトレジスタ104より出力される。
【0120】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。記憶さ
れた内容は、I’d1ないしI’dnとして出力され、
変調信号発生器107に入力される。
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。記憶さ
れた内容は、I’d1ないしI’dnとして出力され、
変調信号発生器107に入力される。
【0121】変調信号発生器107は、前記画像データ
I’d1ないしI’dnの各々に応じて、表面電動型電
子放出素子の各々を適切に駆動変調する為の信号源であ
り、その出力信号は、端子Doy1ないしDoynを通
じて表示パネル101内の表面伝導型電子放出素子に印
加される。
I’d1ないしI’dnの各々に応じて、表面電動型電
子放出素子の各々を適切に駆動変調する為の信号源であ
り、その出力信号は、端子Doy1ないしDoynを通
じて表示パネル101内の表面伝導型電子放出素子に印
加される。
【0122】前述したように、本発明を適用可能な電子
放出素子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有し
ている。即ち、電子放出には明確なしきい値電圧Vth
があり、Vth以上の電圧を印加された時のみ電子放出
が生じる。電子放出しきい値以上の電圧に対しては、素
子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化する。こ
のことから、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、
例えば電子放出しきい値以下の電圧を印加しても電子放
出は生じないが、電子放出しきい値の電圧を印加する場
合には電子ビームが出力される。その際、パルスの波高
値Vmを変化させることにより出力電子ビームの強度を
制御する事が可能である。また、パルスの幅Pwを変化
させる事により出力される電子ビームの電荷の総量を制
御する事が可能である。
放出素子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有し
ている。即ち、電子放出には明確なしきい値電圧Vth
があり、Vth以上の電圧を印加された時のみ電子放出
が生じる。電子放出しきい値以上の電圧に対しては、素
子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化する。こ
のことから、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、
例えば電子放出しきい値以下の電圧を印加しても電子放
出は生じないが、電子放出しきい値の電圧を印加する場
合には電子ビームが出力される。その際、パルスの波高
値Vmを変化させることにより出力電子ビームの強度を
制御する事が可能である。また、パルスの幅Pwを変化
させる事により出力される電子ビームの電荷の総量を制
御する事が可能である。
【0123】従って、入力信号に応じて、電子放出素子
を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変調
方式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107として、一定長さの電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜パルスの波
高値を変調するような電圧変調方式の回路を用いること
ができる。
を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変調
方式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107として、一定長さの電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜パルスの波
高値を変調するような電圧変調方式の回路を用いること
ができる。
【0124】パルス幅変調方式を実施するに際しては、
変調信号発生器107として、一定の波高値の電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いる
ことができる。
変調信号発生器107として、一定の波高値の電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いる
ことができる。
【0125】シフトレジスタ104やラインメモリ10
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行われれば良いからである。
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行われれば良いからである。
【0126】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これは106の出力部にA/D変換
器を設ければ良い。これに関連してラインメモリ105
の出力信号がデジタル信号かアナログ信号かにより、変
調信号発生器107に用いられる回路が若干異なったも
のとなる。即ち、デジタル信号を用いた電圧変調方式の
場合、変調信号発生器107には、例えばD/A変換回
路を用い、必要に応じて増幅回路などを付加する。パル
ス幅変調方式の場合、変調信号発生器107には、例え
ば、高速の発振器および発振器の出力する波数を計数す
る計数器(カウンタ)及び計数器の出力値と前記メモリ
の出力値を比較する比較器(コンパレータ)を組み合せ
た回路を用いる。必要に応じて、比較器の出力するパル
ス幅変調された変調信号を表面電動型電子放出素子の駆
動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加すること
もできる。
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これは106の出力部にA/D変換
器を設ければ良い。これに関連してラインメモリ105
の出力信号がデジタル信号かアナログ信号かにより、変
調信号発生器107に用いられる回路が若干異なったも
のとなる。即ち、デジタル信号を用いた電圧変調方式の
場合、変調信号発生器107には、例えばD/A変換回
路を用い、必要に応じて増幅回路などを付加する。パル
ス幅変調方式の場合、変調信号発生器107には、例え
ば、高速の発振器および発振器の出力する波数を計数す
る計数器(カウンタ)及び計数器の出力値と前記メモリ
の出力値を比較する比較器(コンパレータ)を組み合せ
た回路を用いる。必要に応じて、比較器の出力するパル
ス幅変調された変調信号を表面電動型電子放出素子の駆
動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加すること
もできる。
【0127】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプなど
を用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフ
ト回路などを付加することもできる。パルス幅変調方式
の場合には、例えば、電圧制御型発振回路(VCO)を
採用でき、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動
電圧まで電圧増幅するための増幅器を付加することもで
きる。
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプなど
を用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフ
ト回路などを付加することもできる。パルス幅変調方式
の場合には、例えば、電圧制御型発振回路(VCO)を
採用でき、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動
電圧まで電圧増幅するための増幅器を付加することもで
きる。
【0128】このような構成をとり得る本発明を適用可
能な画像表示装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dox1ないしDoxm、Doy1ないしDoy
nを介して電圧を印加することにより、電子放出が生ず
る。高圧端子Hvを介して、メタルバック85、あるい
は透明電極(不図示)に高圧を印加し、電子ビームを加
速する。加速された電子は、蛍光膜84に衝突し、発光
が生じて画像が形成される。
能な画像表示装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dox1ないしDoxm、Doy1ないしDoy
nを介して電圧を印加することにより、電子放出が生ず
る。高圧端子Hvを介して、メタルバック85、あるい
は透明電極(不図示)に高圧を印加し、電子ビームを加
速する。加速された電子は、蛍光膜84に衝突し、発光
が生じて画像が形成される。
【0129】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついては、NTSC方式をあげたが、入力信号はこれに
限られるものではなく、PAL、SECAM方式などの
他、これよりも、多数の走査線からなるTV信号(例え
ば、MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも
採用できる。
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついては、NTSC方式をあげたが、入力信号はこれに
限られるものではなく、PAL、SECAM方式などの
他、これよりも、多数の走査線からなるTV信号(例え
ば、MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも
採用できる。
【0130】次に、はしご型配置の電子源及び画像形成
装置について図11、図12を用いて説明する。
装置について図11、図12を用いて説明する。
【0131】図11は、はしご型配置の電子源の一例を
示す模式図である。図11において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112、Dx1〜D
x10は、電子放出素子111を接続するための共通配
線である。電子放出素子111は、基板110上に、X
方向に並列に複数個配されている(これを素子行と呼
ぶ)。この素子行が複数個配されて、電子源を構成して
いる。各素子行の共通配線間に駆動電圧を印加すること
で、各素子行を独立に駆動させることができる。即ち、
電子ビームを放出させたい素子行には、電子放出しきい
値以上の電圧を、電子ビームを放出しない素子行には、
電子放出しきい値以下の電圧を印加する。各素子行間の
共通配線Dx2〜Dx9は、例えばDx2、Dx3を同
一配線とすることもできる。
示す模式図である。図11において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112、Dx1〜D
x10は、電子放出素子111を接続するための共通配
線である。電子放出素子111は、基板110上に、X
方向に並列に複数個配されている(これを素子行と呼
ぶ)。この素子行が複数個配されて、電子源を構成して
いる。各素子行の共通配線間に駆動電圧を印加すること
で、各素子行を独立に駆動させることができる。即ち、
電子ビームを放出させたい素子行には、電子放出しきい
値以上の電圧を、電子ビームを放出しない素子行には、
電子放出しきい値以下の電圧を印加する。各素子行間の
共通配線Dx2〜Dx9は、例えばDx2、Dx3を同
一配線とすることもできる。
【0132】図12は、はしご型配置の電子源を備えた
画像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図で
ある。120はグリッド電極、121は電子が通過する
ための空孔、122はDox1,Dox2・・・Dox
mよりなる容器外端子である。123はグリッド電極1
20と接続されたG1、G2・・・Gnからなる容器外
端子、124は各素子行間の共通配線を同一配線とした
電子源である。図12においては、図8、11に示した
部位と同じ部位には、これらの図に付したのと同一の符
号を付している。ここに示した画像形成装置と図8に示
した単純マトリクス配置の画像形成装置との大きな違い
は、電子源基板110とフェースプレート86の間にグ
リッド電極120を備えているか否かである。
画像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図で
ある。120はグリッド電極、121は電子が通過する
ための空孔、122はDox1,Dox2・・・Dox
mよりなる容器外端子である。123はグリッド電極1
20と接続されたG1、G2・・・Gnからなる容器外
端子、124は各素子行間の共通配線を同一配線とした
電子源である。図12においては、図8、11に示した
部位と同じ部位には、これらの図に付したのと同一の符
号を付している。ここに示した画像形成装置と図8に示
した単純マトリクス配置の画像形成装置との大きな違い
は、電子源基板110とフェースプレート86の間にグ
リッド電極120を備えているか否かである。
【0133】図12においては、基板110とフェース
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、表面伝導型放出素子か
ら放出された電子ビームを変調するためのものであり、
はしご型配置の素子行と直交して設けられたストライプ
状の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応
して1個ずつ円形の空孔121が設けられている。グリ
ッドの形状や設置位置は図12に示したものに限定され
るものではない。例えば、空孔としてメッシュ状に多数
の通過口を設けることもでき、グリッドを表面伝導型放
出素子の周囲や近傍に設けることもできる。
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、表面伝導型放出素子か
ら放出された電子ビームを変調するためのものであり、
はしご型配置の素子行と直交して設けられたストライプ
状の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応
して1個ずつ円形の空孔121が設けられている。グリ
ッドの形状や設置位置は図12に示したものに限定され
るものではない。例えば、空孔としてメッシュ状に多数
の通過口を設けることもでき、グリッドを表面伝導型放
出素子の周囲や近傍に設けることもできる。
【0134】容器外端子122およびグリッド容器外端
子123は、不図示の制御回路と電気的に接続されてい
る。
子123は、不図示の制御回路と電気的に接続されてい
る。
【0135】本例の画像形成装置では、素子行を1列ず
つ順次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
つ順次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
【0136】発明の画像形成装置は、テレビジョン放送
の表示装置、テレビ会議システムやコンピューター等の
表示装置の他、感光性ドラム等を用いて構成された光プ
リンターとしての画像形成装置等としても用いることも
できる。
の表示装置、テレビ会議システムやコンピューター等の
表示装置の他、感光性ドラム等を用いて構成された光プ
リンターとしての画像形成装置等としても用いることも
できる。
【0137】
【実施例】以下に具体的な実施例を挙げて本発明を説明
する。
する。
【0138】実施例1 電子放出素子として図1に示すタイプの素子を、図3に
示す方法で作成した。図1(a)は本素子の平面図を、
図1(b)は断面図を示している。また、図1(a)、
(b)中、1は絶縁性基板、2、3は素子電極、4は電
子放出部を含む薄膜、5は電子放出部を表す。なお、同
図中のL1は素子電極間隔、W1は素子電極長さ、dは
素子電極の厚さ、W2は電子放出部を含む薄膜4の幅を
表している。また図3においても、図1と同じ符号を付
したものは同じものを表す。また図3中、6は電子放出
部形成用薄膜、31は液滴付与装置、32は液滴、33
は液溜りを表す。
示す方法で作成した。図1(a)は本素子の平面図を、
図1(b)は断面図を示している。また、図1(a)、
(b)中、1は絶縁性基板、2、3は素子電極、4は電
子放出部を含む薄膜、5は電子放出部を表す。なお、同
図中のL1は素子電極間隔、W1は素子電極長さ、dは
素子電極の厚さ、W2は電子放出部を含む薄膜4の幅を
表している。また図3においても、図1と同じ符号を付
したものは同じものを表す。また図3中、6は電子放出
部形成用薄膜、31は液滴付与装置、32は液滴、33
は液溜りを表す。
【0139】以下に図3に従って、本実施例の電子放出
素子の作成方法を述べる。 1)絶縁性基板1として石英ガラス基板を用い、これを
有機溶剤により充分に洗浄後、基板面上にNiからなる
素子電極2、3を形成した(図3(a))。このとき、
素子電極間隔L1は3μmとし、素子電極の幅W1を5
00μm、その厚さdを1000Åとした。 2)次に、電子放出部を含む薄膜4の形成材料溶液を調
製した。
素子の作成方法を述べる。 1)絶縁性基板1として石英ガラス基板を用い、これを
有機溶剤により充分に洗浄後、基板面上にNiからなる
素子電極2、3を形成した(図3(a))。このとき、
素子電極間隔L1は3μmとし、素子電極の幅W1を5
00μm、その厚さdを1000Åとした。 2)次に、電子放出部を含む薄膜4の形成材料溶液を調
製した。
【0140】まずエーテルとして、具体例No.19の
ポリオキシエチレンアルキルエーテルを0.01重量%
含有する水溶液を調製し、これに酢酸パラジウムをパラ
ジウム濃度が0.4重量%となるように溶解して暗赤色
の溶液を得た。 3)上記の暗赤色溶液の液滴を、バブルジェット方式の
インクジェット装置によって、電極2、3を形成した石
英基板の上に、電極2、3にまたがるように付与し(図
3(b))、80℃で2分間乾燥させた。次に350℃
で12分間焼成して、無機微粒子膜を形成した(図3
(c))。4)次に、真空容器中で素子電極2、3の間
に電圧を印加し、電子放出部形成用薄膜6を通電処理
(フォーミング処理)することにより、電子放出部5を
形成した(図3(d))。フォーミング処理の電圧波形
を図4に示す。
ポリオキシエチレンアルキルエーテルを0.01重量%
含有する水溶液を調製し、これに酢酸パラジウムをパラ
ジウム濃度が0.4重量%となるように溶解して暗赤色
の溶液を得た。 3)上記の暗赤色溶液の液滴を、バブルジェット方式の
インクジェット装置によって、電極2、3を形成した石
英基板の上に、電極2、3にまたがるように付与し(図
3(b))、80℃で2分間乾燥させた。次に350℃
で12分間焼成して、無機微粒子膜を形成した(図3
(c))。4)次に、真空容器中で素子電極2、3の間
に電圧を印加し、電子放出部形成用薄膜6を通電処理
(フォーミング処理)することにより、電子放出部5を
形成した(図3(d))。フォーミング処理の電圧波形
を図4に示す。
【0141】本実施例では電圧波形のパルス幅T1を1
ミリ秒、パルス間隔T2を10ミリ秒とし、三角波の波
高値(フォーミング時のピーク電圧)は5Vとし、フォ
ーミング処理約を1×10-6torrの真空雰囲気下で
60秒間行った。このように形成された電子放出部5
は、パラジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置さ
れた状態となり、その微粒子の平均粒径は50Åであっ
た。
ミリ秒、パルス間隔T2を10ミリ秒とし、三角波の波
高値(フォーミング時のピーク電圧)は5Vとし、フォ
ーミング処理約を1×10-6torrの真空雰囲気下で
60秒間行った。このように形成された電子放出部5
は、パラジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置さ
れた状態となり、その微粒子の平均粒径は50Åであっ
た。
【0142】以上のようにして作成された素子につい
て、その電子放出特性を図5の構成の測定評価装置によ
り測定した。本電子放出素子およびアノード電極54は
真空装置55内に設置されており、その真空装置55に
は排気ポンプ56および真空計等の真空装置に必要な機
器が具備されており、所望の真空下で本素子の測定評価
を行えるようになっている。なお本実施例では、アノー
ド電極と電子放出素子間の距離Hを4mm、アノード電
極の電位を1kV、電子放出特性測定時の真空装置内の
真空度を1×10-7torrとした。
て、その電子放出特性を図5の構成の測定評価装置によ
り測定した。本電子放出素子およびアノード電極54は
真空装置55内に設置されており、その真空装置55に
は排気ポンプ56および真空計等の真空装置に必要な機
器が具備されており、所望の真空下で本素子の測定評価
を行えるようになっている。なお本実施例では、アノー
ド電極と電子放出素子間の距離Hを4mm、アノード電
極の電位を1kV、電子放出特性測定時の真空装置内の
真空度を1×10-7torrとした。
【0143】以上のような測定評価装置を用いて、本電
子放出素子の電極2、3の間に素子電圧を印加し、その
時に流れる素子電流Ifおよび放出電流Ieを測定した
ところ、図6示したような電流−電圧特性が得られた。
本素子では、素子電圧7V程度から急激に放出電流Ie
が増加し、素子電圧12Vでは素子電流Ifが0.8m
A、放出電流Ieが0.62μAとなり、電子放出効率
η=Ie/If(%)は0.08%であった。
子放出素子の電極2、3の間に素子電圧を印加し、その
時に流れる素子電流Ifおよび放出電流Ieを測定した
ところ、図6示したような電流−電圧特性が得られた。
本素子では、素子電圧7V程度から急激に放出電流Ie
が増加し、素子電圧12Vでは素子電流Ifが0.8m
A、放出電流Ieが0.62μAとなり、電子放出効率
η=Ie/If(%)は0.08%であった。
【0144】比較例1 実施例1と同様にして石英基板の上に電極を形成した。
そして具体例No.19のポリオキシエチレンアルキル
エーテルは添加せず、その他は実施例1と同様にして、
電子放出部を含む薄膜を形成するための材料溶液を調製
した。
そして具体例No.19のポリオキシエチレンアルキル
エーテルは添加せず、その他は実施例1と同様にして、
電子放出部を含む薄膜を形成するための材料溶液を調製
した。
【0145】この溶液をバブルジェット方式のインクジ
ェット装置により実施例1と同様にして基板に付与した
ところ、薄膜が形成されない箇所が多数見られ、電子放
出素子の作成には不適当な膜であった。
ェット装置により実施例1と同様にして基板に付与した
ところ、薄膜が形成されない箇所が多数見られ、電子放
出素子の作成には不適当な膜であった。
【0146】実施例2 エーテルとして、具体例No.14のポリオキシエチレ
ンアルケニルエーテル(但し、アルケニル基がCH
3(CH2)7CH=CH(CH2)7CH2−)を0.05
重量%含有した水溶液を調製し、これにプロピレングリ
コールを3重量%、プロピオン酸パラジウムをパラジウ
ム濃度が0.25重量%となるように溶解して赤色の溶
液を得た。
ンアルケニルエーテル(但し、アルケニル基がCH
3(CH2)7CH=CH(CH2)7CH2−)を0.05
重量%含有した水溶液を調製し、これにプロピレングリ
コールを3重量%、プロピオン酸パラジウムをパラジウ
ム濃度が0.25重量%となるように溶解して赤色の溶
液を得た。
【0147】この溶液をバブルジェット方式のインクジ
ェット装置により基板に付与することにより、実施例1
と同様にして電子放出素子を作成し、電子放出が見られ
ることを確認した。
ェット装置により基板に付与することにより、実施例1
と同様にして電子放出素子を作成し、電子放出が見られ
ることを確認した。
【0148】実施例3 エーテルとして、具体例No.3のポリオキシエチレン
アルキルエーテルを0.05g、テトラモノエタノール
アミンパラジウム酢酸(Pd(H2N−C2H4OH)
4(CH3COO)2)を3.2g、86%鹸化ポリビ
ニルアルコール(平均重合度500)を0.05g、エ
チレングリコールを15gに、水を加えて全量を100
gとし、黄色の溶液を得た。
アルキルエーテルを0.05g、テトラモノエタノール
アミンパラジウム酢酸(Pd(H2N−C2H4OH)
4(CH3COO)2)を3.2g、86%鹸化ポリビ
ニルアルコール(平均重合度500)を0.05g、エ
チレングリコールを15gに、水を加えて全量を100
gとし、黄色の溶液を得た。
【0149】この溶液をバフルジェット方式のインクジ
ェット装置により基板に付与することにより、実施例1
と同様にして電子放出素子を作成し、電子放出が見られ
ることを確認した。
ェット装置により基板に付与することにより、実施例1
と同様にして電子放出素子を作成し、電子放出が見られ
ることを確認した。
【0150】実施例4 エーテルとして、具体例No.18のポリオキシエチレ
ンアルキルエーテルを0.07g、テトラモノエタノー
ルアミンパラジウム酢酸(Pd(H2N−C2H4O
H)4(CH3COO)2)を1.3g、86%鹸化ポ
リビニルアルコール(平均重合度1000)を0.02
gに、水を加えて全量を100gとし、黄色の溶液を得
た。
ンアルキルエーテルを0.07g、テトラモノエタノー
ルアミンパラジウム酢酸(Pd(H2N−C2H4O
H)4(CH3COO)2)を1.3g、86%鹸化ポ
リビニルアルコール(平均重合度1000)を0.02
gに、水を加えて全量を100gとし、黄色の溶液を得
た。
【0151】この溶液をバブルジェット方式のインクジ
ェット装置により基板に付与することにより、実施例1
と同様にして電子放出素子を作成し、電子放出が見られ
ることを確認した。
ェット装置により基板に付与することにより、実施例1
と同様にして電子放出素子を作成し、電子放出が見られ
ることを確認した。
【0152】実施例5 複数の素子電極とマトリクス状配線とを形成した基板
(図7)の各対向電極に対して、それぞれ実施例1と同
様にして有機金属化合物溶液をバブルジェット方式のイ
ンクジェット装置により液滴付与し、焼成したのち、フ
ォーミング処理を行い図7のようなマトリクス配線の電
子源を作製した。
(図7)の各対向電極に対して、それぞれ実施例1と同
様にして有機金属化合物溶液をバブルジェット方式のイ
ンクジェット装置により液滴付与し、焼成したのち、フ
ォーミング処理を行い図7のようなマトリクス配線の電
子源を作製した。
【0153】この電子源に、リアプレート81、支持枠
82、およびフェースプレート86を接続し、真空封止
して、図8の概念図に従う画像形成装置の表示パネルを
作成した。
82、およびフェースプレート86を接続し、真空封止
して、図8の概念図に従う画像形成装置の表示パネルを
作成した。
【0154】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明の方法に
従い電子放出素子を製造するならば、所定の位置に必要
なだけの有機金属化合物溶液を付与することができ、ま
た前記溶液付与工程が電子放出用薄膜のパターニング工
程をも兼ねるため、材料コストと作業コストを低減する
ことができる。
従い電子放出素子を製造するならば、所定の位置に必要
なだけの有機金属化合物溶液を付与することができ、ま
た前記溶液付与工程が電子放出用薄膜のパターニング工
程をも兼ねるため、材料コストと作業コストを低減する
ことができる。
【0155】さらに、二次元パターンの変更が必要とな
った場合には、液滴付与手段の制御系を変更するだけで
済み、一般には前記制御系のソフトウエアのみの変更で
対応可能であるため、フォトマスク等の変更を必要とす
るフォトリソグラフ技術を用いる製造方法に比べて変更
が容易である。したがって少量多品種生産に容易に適用
できる。
った場合には、液滴付与手段の制御系を変更するだけで
済み、一般には前記制御系のソフトウエアのみの変更で
対応可能であるため、フォトマスク等の変更を必要とす
るフォトリソグラフ技術を用いる製造方法に比べて変更
が容易である。したがって少量多品種生産に容易に適用
できる。
【0156】更に本発明によれば、形成された電子放出
部形成用薄膜の膜厚分布を低減し、均一性に優れた電子
放出素子の製造方法を提供することが可能となる。
部形成用薄膜の膜厚分布を低減し、均一性に優れた電子
放出素子の製造方法を提供することが可能となる。
【図1】 本発明の適用可能な表面伝導型電子放出素子
の構成を示す模式的平面図及び断面図である。
の構成を示す模式的平面図及び断面図である。
【図2】 本発明の適用可能な垂直型表面伝導型電子放
出素子の構成を示す模式図である。
出素子の構成を示す模式図である。
【図3】 本発明の適用可能な表面伝導型電子放出素子
の製造方法の1例を示す模式図である。
の製造方法の1例を示す模式図である。
【図4】 本発明の適用可能な表面伝導型電子放出素子
の製造に際して採用できる通電フォーミングの処理にお
ける電圧波形の一例を示す模式図である。
の製造に際して採用できる通電フォーミングの処理にお
ける電圧波形の一例を示す模式図である。
【図5】 測定評価機能を備えた真空処理装置の一例を
示す模式図である。
示す模式図である。
【図6】 本発明の適用可能な表面伝導型電子放出素子
についての放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧Vf
の関係の一例を示すグラフである。
についての放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧Vf
の関係の一例を示すグラフである。
【図7】 本発明の適用可能な単純マトリクス配置した
電子源の一例を示す模式図である。
電子源の一例を示す模式図である。
【図8】 本発明の適用可能な画像形成装置の表示パネ
ルの一例を示す模式図である。
ルの一例を示す模式図である。
【図9】 蛍光膜一例を示す模式図である。
【図10】 画像形成装置にNTSC方式のテレビ信号
に応じて表示を行うための駆動回路の一例を示すブロッ
ク図である。
に応じて表示を行うための駆動回路の一例を示すブロッ
ク図である。
【図11】 本発明の適用可能な梯子配置の電子源の一
例を示す模式図である。
例を示す模式図である。
【図12】 本発明の適用可能な画像形成装置の表示パ
ネルの一例を示す模式図である。
ネルの一例を示す模式図である。
【図13】 従来の表面伝導型電子放出素子の一例を示
す模式図である。
す模式図である。
1:絶縁性基板、2、3:素子電極、4:電子放出部を
含む薄膜、5:電子放出部、6:電子放出部形成用薄
膜、21:段さ形成部、31:液滴付与装置、32:液
滴、33:液溜り、50:素子電極2、3間の電子放出
部を含む薄膜4を流れる素子電流Ifを測定するための
電流計、51:電子放出素子に素子電圧Vfを印加する
ための電源、52:素子の電子放出部5より放出される
放出電流Ieを測定するための電流計、53:アノード
電極54に電圧を印加するための高圧電源、54:素子
の電子放出部5より放出される放出電流Ieを捕捉する
ためのアノード電極、55:真空装置、56:排気ポン
プ、71:電子源基板、72:X方向配線、73:Y方
向配線、74:表面伝導型電子放出素子、75:結線、
81:リアプレート、82:支持枠、83:ガラス基
板、84:蛍光膜、85:メタルバック、86:フェー
スプレート、87:高圧端子、88:外囲器、91:黒
色導電材、92:蛍光体、93:ガラス基板、101:
表示パネル、102:走査回路、103:制御回路、1
04:シフトレジスタ、105:ラインメモリ、10
6:同期信号分離回路、107:変調信号発生器、Vx
およびVa:直流電圧源、110:電子源基板、11
1:電子放出素子、112:Dx1〜Dx10は、前記
電子放出素子を配線するための共通配線、120:グリ
ッド電極、121:電子が通過するための空孔、12
2:Dox1,Dox2・・・Doxmよりなる容器外
端子、123:グリッド電極120と接続されたG1、
G2、124:電子源。
含む薄膜、5:電子放出部、6:電子放出部形成用薄
膜、21:段さ形成部、31:液滴付与装置、32:液
滴、33:液溜り、50:素子電極2、3間の電子放出
部を含む薄膜4を流れる素子電流Ifを測定するための
電流計、51:電子放出素子に素子電圧Vfを印加する
ための電源、52:素子の電子放出部5より放出される
放出電流Ieを測定するための電流計、53:アノード
電極54に電圧を印加するための高圧電源、54:素子
の電子放出部5より放出される放出電流Ieを捕捉する
ためのアノード電極、55:真空装置、56:排気ポン
プ、71:電子源基板、72:X方向配線、73:Y方
向配線、74:表面伝導型電子放出素子、75:結線、
81:リアプレート、82:支持枠、83:ガラス基
板、84:蛍光膜、85:メタルバック、86:フェー
スプレート、87:高圧端子、88:外囲器、91:黒
色導電材、92:蛍光体、93:ガラス基板、101:
表示パネル、102:走査回路、103:制御回路、1
04:シフトレジスタ、105:ラインメモリ、10
6:同期信号分離回路、107:変調信号発生器、Vx
およびVa:直流電圧源、110:電子源基板、11
1:電子放出素子、112:Dx1〜Dx10は、前記
電子放出素子を配線するための共通配線、120:グリ
ッド電極、121:電子が通過するための空孔、12
2:Dox1,Dox2・・・Doxmよりなる容器外
端子、123:グリッド電極120と接続されたG1、
G2、124:電子源。
Claims (19)
- 【請求項1】 対向する電極間に導電性薄膜形成用材料
溶液を液滴の状態で付与した後加熱焼成する工程を経て
電子放出部を形成する電子放出素子の製造方法におい
て、前記導電性薄膜形成用材料溶液が有機金属化合物と
エーテルを含む水溶液であることを特徴とする電子放出
素子の製造方法。 - 【請求項2】 前記エーテルが、下記一般式(1)で表
される化合物であることを特徴とする請求項1に記載の
電子放出素子の製造方法。 【化1】 (式中、Rは炭素数10から20のアルキル基またはア
ルケニル基を表し、nは4から50の整数を表す。) - 【請求項3】 前記水溶液中の前記エーテル含有量が、
0.0001〜3重量%の範囲であることを特徴とする
請求項1または2に記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項4】 前記有機金属化合物が、金属の有機酸塩
であることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに
記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項5】 前記有機金属化合物が、金属、有機酸基
およびヒドロキシアルキルアミンからなる化合物である
ことを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の
電子放出素子の製造方法。 - 【請求項6】 前記有機酸が、炭素数1ないし4のいず
れかのカルボン酸であることを特徴とする請求項4また
は5に記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項7】 前記カルボン酸が、蟻酸、酢酸、プロピ
オン酸、酪酸、イソ酪酸、シュウ酸、マロン酸、コハク
酸のいずれかであることを特徴とする請求項6に記載の
電子放出素子の製造方法。 - 【請求項8】 前記水溶液の前記金属含有量が、0.0
1〜5重量%の範囲であることを特徴とする請求項1な
いし7のいずれかに記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項9】 前記金属が、白金族元素のいずれかであ
ることを特徴とする請求項1ないし8のいずれかに記載
の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項10】 前記金属が、白金、パラジウム、ルテ
ニウム、金、銀、銅、クロム、タンタル、鉄、タングス
テン、鉛、亜鉛、スズのいずれかであることを特徴とす
る請求項1ないし8のいずれかに記載の電子放出素子の
製造方法。 - 【請求項11】 前記金属が、白金またはパラジウムで
あることを特徴とする請求項10に記載の電子放出素子
の製造方法。 - 【請求項12】 前記水溶液中に部分エステル化ポリビ
ニルアルコールを含有することを特徴とする請求項1な
いし11のいずれかに記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項13】 前記水溶液中に水溶性多価アルコール
を含有することを特徴とする請求項1ないし12のいず
れかに記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項14】 前記液滴の付与手段が、インクジェッ
ト方式であることを特徴とする請求項1ないし13のい
ずれかに記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項15】 前記インクジェット方式が、バブルジ
ェット方式であることを特徴とする請求項14に記載の
電子放出素子の製造方法。 - 【請求項16】 前記電子放出素子が表面伝導型である
ことを特徴とする請求項1ないし15のいずれかに記載
の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項17】 電子放出素子と該素子への電圧印加手
段を具備する電子源の製造方法であって、該電子放出素
子を請求項1ないし16のいずれかに記載の方法で製造
したことを特徴とする電子源の製造方法。 - 【請求項18】 電子放出素子と該素子への電圧印加手
段を具備する電子源と、該素子から放出される電子を受
けて発光する発光体とを具備する表示素子の製造方法で
あって、該電子放出素子を請求項1ないし16のいずれ
かに記載の方法で製造したことを特徴とする表示素子の
製造方法。 - 【請求項19】 電子放出素子と該素子への電圧印加手
段を具備する電子源と、該素子から放出される電子を受
けて発光する発光体と、外部信号に基づいてを該素子へ
印加する電圧を制御する駆動回路とを具備する画像形成
装置の製造方法であって、該電子放出素子を請求項1な
いし16のいずれかに記載の方法で製造したことを特徴
とする画像形成装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29601695A JPH09115432A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | 電子放出素子、電子源、表示素子及び画像形成装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29601695A JPH09115432A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | 電子放出素子、電子源、表示素子及び画像形成装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09115432A true JPH09115432A (ja) | 1997-05-02 |
Family
ID=17828032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29601695A Pending JPH09115432A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | 電子放出素子、電子源、表示素子及び画像形成装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09115432A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006341251A (ja) * | 2006-07-14 | 2006-12-21 | Dainippon Printing Co Ltd | 機能性素子の製造方法およびその製造装置 |
-
1995
- 1995-10-20 JP JP29601695A patent/JPH09115432A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006341251A (ja) * | 2006-07-14 | 2006-12-21 | Dainippon Printing Co Ltd | 機能性素子の製造方法およびその製造装置 |
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