JPH09116408A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
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- JPH09116408A JPH09116408A JP7271458A JP27145895A JPH09116408A JP H09116408 A JPH09116408 A JP H09116408A JP 7271458 A JP7271458 A JP 7271458A JP 27145895 A JP27145895 A JP 27145895A JP H09116408 A JPH09116408 A JP H09116408A
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- fet
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ディプレッション型FETのみを用いて単一
電源で動作可能な半導体集積回路を提供する。 【解決手段】 前段の回路から入力される信号をゲート
で受ける駆動FET2をディプレッション型のもので形
成し、その駆動FET2のドレインに抵抗性負荷5を介
して電源Vddを接続し、かつ駆動FET2のソースと接
地点との間に、駆動FET2のしきい電圧Vthの絶対値
よりも大きい電位差を発生する電位差発生手段3を設け
た。それによって、駆動FET2を擬似的にエンハンス
メント型のFETとして動作させ、エンハンスメント型
FETを含まないインバータ等の論理回路やミキサ回路
を単一電源で動作させるようにした。
電源で動作可能な半導体集積回路を提供する。 【解決手段】 前段の回路から入力される信号をゲート
で受ける駆動FET2をディプレッション型のもので形
成し、その駆動FET2のドレインに抵抗性負荷5を介
して電源Vddを接続し、かつ駆動FET2のソースと接
地点との間に、駆動FET2のしきい電圧Vthの絶対値
よりも大きい電位差を発生する電位差発生手段3を設け
た。それによって、駆動FET2を擬似的にエンハンス
メント型のFETとして動作させ、エンハンスメント型
FETを含まないインバータ等の論理回路やミキサ回路
を単一電源で動作させるようにした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路さ
らには論理集積回路に適用して特に有効な技術に関し、
例えばディプレッション型のGaAs MESFET
(ショットキ障壁ゲート形電界効果トランジスタ)で構
成され単一電源で動作可能なインバータ回路に利用して
有用な技術に関する。
らには論理集積回路に適用して特に有効な技術に関し、
例えばディプレッション型のGaAs MESFET
(ショットキ障壁ゲート形電界効果トランジスタ)で構
成され単一電源で動作可能なインバータ回路に利用して
有用な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、GaAs MESFETで構成さ
れたディジタル論理回路では、図10に示すように、駆
動FET(電界効果トランジスタ)W2 がエンハンスメ
ント型のFETで構成されるとともに抵抗性負荷W1 を
ディプレッション型のFETで構成し、かつ一つの正電
源Vddにより動作する論理回路や、図11に示すよう
に、負電源Vssに接続された入力回路もしくは出力回路
を具備し、全てのFETW1 ,W2 ,W3 ,W5 がディ
プレッション型のFETで構成され、かつ正電源Vddに
接続された論理回路などが公知である。そのような、G
aAs ICにおいて、エンハンスメント型FETとデ
ィプレッション型FETが混在し単一電源で動作する論
理回路、あるいはディプレッション型FETのみで構成
され二電源で動作する論理回路については、例えば「超
高速化合物半導体デバイス」(1986年、培風館社発
行)の第251〜253頁に記載されている。
れたディジタル論理回路では、図10に示すように、駆
動FET(電界効果トランジスタ)W2 がエンハンスメ
ント型のFETで構成されるとともに抵抗性負荷W1 を
ディプレッション型のFETで構成し、かつ一つの正電
源Vddにより動作する論理回路や、図11に示すよう
に、負電源Vssに接続された入力回路もしくは出力回路
を具備し、全てのFETW1 ,W2 ,W3 ,W5 がディ
プレッション型のFETで構成され、かつ正電源Vddに
接続された論理回路などが公知である。そのような、G
aAs ICにおいて、エンハンスメント型FETとデ
ィプレッション型FETが混在し単一電源で動作する論
理回路、あるいはディプレッション型FETのみで構成
され二電源で動作する論理回路については、例えば「超
高速化合物半導体デバイス」(1986年、培風館社発
行)の第251〜253頁に記載されている。
【0003】また、電子情報通信学会論文誌ED91−
174(1991年)の第57〜63頁に記載されてい
るように、ディプレッション型FETで構成されそのゲ
ートにその電圧の最小値がしきい電圧Vth以下になる信
号を入力して動作するミキサ回路が知られている。
174(1991年)の第57〜63頁に記載されてい
るように、ディプレッション型FETで構成されそのゲ
ートにその電圧の最小値がしきい電圧Vth以下になる信
号を入力して動作するミキサ回路が知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た技術には、次のような問題のあることが本発明者らに
よってあきらかとされた。
た技術には、次のような問題のあることが本発明者らに
よってあきらかとされた。
【0005】すなわち、例えば移動通信器機のように電
源に電池を用い小型で軽量かつ低消費電力性が要求され
る装置では、単一電源で動作するのが望ましいが、その
ためには、比較的製造容易なディプレッション型FET
のみで回路を構成することができず、ディプレッション
型FETとエンハンスメント型FETとを混在して使用
しなければならない。また、ディプレッション型FET
のみで回路を構成すると、正電源と負電源が必要にな
り、単一電源で動作させることができない。
源に電池を用い小型で軽量かつ低消費電力性が要求され
る装置では、単一電源で動作するのが望ましいが、その
ためには、比較的製造容易なディプレッション型FET
のみで回路を構成することができず、ディプレッション
型FETとエンハンスメント型FETとを混在して使用
しなければならない。また、ディプレッション型FET
のみで回路を構成すると、正電源と負電源が必要にな
り、単一電源で動作させることができない。
【0006】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
で、ディプレッション型FETのみを用いて単一電源で
動作可能な半導体集積回路を提供することを主たる目的
としている。
で、ディプレッション型FETのみを用いて単一電源で
動作可能な半導体集積回路を提供することを主たる目的
としている。
【0007】この発明の前記ならびにそのほかの目的と
新規な特徴については、本明細書の記述及び添附図面か
ら明らかになるであろう。
新規な特徴については、本明細書の記述及び添附図面か
ら明らかになるであろう。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
【0009】すなわち、本発明は、前段の回路から入力
される信号をゲートで受けるFETをディプレッション
型のもので形成し、そのディプレッション型FETのド
レインと電源端子もしくは接地点との間に抵抗性負荷を
接続し、かつソースと接地点もしくは電源端子との間に
電位差発生手段を設け、その電位差発生手段により前記
FETのしきい電圧Vthの絶対値よりも大きい電位差を
発生させるようにした。
される信号をゲートで受けるFETをディプレッション
型のもので形成し、そのディプレッション型FETのド
レインと電源端子もしくは接地点との間に抵抗性負荷を
接続し、かつソースと接地点もしくは電源端子との間に
電位差発生手段を設け、その電位差発生手段により前記
FETのしきい電圧Vthの絶対値よりも大きい電位差を
発生させるようにした。
【0010】また、電位差発生手段を、ダイオード、ソ
ースとドレインとを短絡したディプレッション型のME
SFET、またはゲートとドレインとを短絡したディプ
レッション型のFETで構成した。
ースとドレインとを短絡したディプレッション型のME
SFET、またはゲートとドレインとを短絡したディプ
レッション型のFETで構成した。
【0011】上記した手段によれば、ディプレッション
型FETのソースにダイオード等を接続すると、そのF
ETにほとんど電流が流れない状態でダイオード等の両
端にそのFETのしきい電圧Vthの絶対値より大きい電
圧が発生し、ソース電位が上昇して入力信号の電圧が0
Vの時にFETはオフ状態となる。従って、ディプレッ
ション型FETは擬似的にエンハンスメント型のFET
として動作するので、このFETをオフさせるための信
号が負電圧である必要がなくなり、単一電源で動作させ
ることが可能となる。また、負電圧を発生させるための
レベルシフト回路が不要となる。
型FETのソースにダイオード等を接続すると、そのF
ETにほとんど電流が流れない状態でダイオード等の両
端にそのFETのしきい電圧Vthの絶対値より大きい電
圧が発生し、ソース電位が上昇して入力信号の電圧が0
Vの時にFETはオフ状態となる。従って、ディプレッ
ション型FETは擬似的にエンハンスメント型のFET
として動作するので、このFETをオフさせるための信
号が負電圧である必要がなくなり、単一電源で動作させ
ることが可能となる。また、負電圧を発生させるための
レベルシフト回路が不要となる。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は、本発明を適用したGaA
s MESFETよりなる論理回路の第1実施形態を示
す図である。この論理回路は、ディプレッション型FE
T(以下、駆動FETと称する。)2と、その駆動FE
T2のしきい電圧Vthの絶対値(|Vth|)より大きい
電位差を発生する回路(以下、電位差発生手段と称す
る。)3と、抵抗性負荷5とで構成されている。駆動F
ET2のゲートは、図示省略した前段の回路から供給さ
れる信号の入力端子1に接続されている。駆動FET2
のソースと接地点との間には前記電位差発生手段3が設
けられている。また、駆動FET2のドレインと正電源
Vdd(例えば5V)の端子6との間には前記抵抗性負荷
5が設けられているとともに、駆動FET2のドレイン
が出力端子4に接続されており、その出力端子4よりこ
の論理回路の出力が得られる。
s MESFETよりなる論理回路の第1実施形態を示
す図である。この論理回路は、ディプレッション型FE
T(以下、駆動FETと称する。)2と、その駆動FE
T2のしきい電圧Vthの絶対値(|Vth|)より大きい
電位差を発生する回路(以下、電位差発生手段と称す
る。)3と、抵抗性負荷5とで構成されている。駆動F
ET2のゲートは、図示省略した前段の回路から供給さ
れる信号の入力端子1に接続されている。駆動FET2
のソースと接地点との間には前記電位差発生手段3が設
けられている。また、駆動FET2のドレインと正電源
Vdd(例えば5V)の端子6との間には前記抵抗性負荷
5が設けられているとともに、駆動FET2のドレイン
が出力端子4に接続されており、その出力端子4よりこ
の論理回路の出力が得られる。
【0013】図2には、図1に示した論理回路の電位差
発生手段3をダイオード30で構成し、かつ抵抗性負荷
5をゲートとソースとを短絡しディプレッション型FE
T50で構成した例が示されている。この第2の実施形
態では、駆動FET2のゲ−ト電圧が0V近くの場合に
は、駆動FET2はサブスレショルド領域で動作する。
そのようにサブスレショルド領域で動作する駆動FET
2の電流電圧特性は、ドレイン・ソ−ス間電圧Vdsを一
定とすると、次式 Ids=Ids0 ・Wg ・exp {q(Vgs−Vth)/Ns kT} ‥‥(1) で表される。ここで、Vgsはゲート・ソース間電圧、V
thは駆動FET2のしきい電圧、Idsは駆動FET2の
サブスレショルド電流、Ids0 はVgsがVthである時の
電流、Wg はゲート幅、qは素電荷量、kはボルツマン
定数、Tは絶対温度、Ns は比例係数である。
発生手段3をダイオード30で構成し、かつ抵抗性負荷
5をゲートとソースとを短絡しディプレッション型FE
T50で構成した例が示されている。この第2の実施形
態では、駆動FET2のゲ−ト電圧が0V近くの場合に
は、駆動FET2はサブスレショルド領域で動作する。
そのようにサブスレショルド領域で動作する駆動FET
2の電流電圧特性は、ドレイン・ソ−ス間電圧Vdsを一
定とすると、次式 Ids=Ids0 ・Wg ・exp {q(Vgs−Vth)/Ns kT} ‥‥(1) で表される。ここで、Vgsはゲート・ソース間電圧、V
thは駆動FET2のしきい電圧、Idsは駆動FET2の
サブスレショルド電流、Ids0 はVgsがVthである時の
電流、Wg はゲート幅、qは素電荷量、kはボルツマン
定数、Tは絶対温度、Ns は比例係数である。
【0014】また、ダイオード30の電流電圧特性は、
その両端の電圧をVd とすると、一般に、次式 Id =Is ・W・exp (qVd /nkT) ‥‥(2) で表される。Id はダイオード30の電流、Is は逆方
向飽和電流、Wは電極幅、nはダイオード30の理想因
子である。
その両端の電圧をVd とすると、一般に、次式 Id =Is ・W・exp (qVd /nkT) ‥‥(2) で表される。Id はダイオード30の電流、Is は逆方
向飽和電流、Wは電極幅、nはダイオード30の理想因
子である。
【0015】ここで、 Ids=Id ‥‥(3) であるので、上記(1),(2),(3)式より、ダイ
オード30の両端に発生する電圧Vd は、次式 Vd ={kTnNs /q(n+Ns )}ln(Ids0 Wg /Is W) −nVth/(n+Ns ) ‥‥(4) で表される。
オード30の両端に発生する電圧Vd は、次式 Vd ={kTnNs /q(n+Ns )}ln(Ids0 Wg /Is W) −nVth/(n+Ns ) ‥‥(4) で表される。
【0016】従って、ダイオード30の両端に発生する
電圧Vd が|Vth|よりも大きくなるように駆動FET
2のゲート幅Wg およびダイオード30の電極幅Wを調
整すれば、駆動FET2のゲート電圧が0Vの時にその
駆動FET2はオフしていることになる。
電圧Vd が|Vth|よりも大きくなるように駆動FET
2のゲート幅Wg およびダイオード30の電極幅Wを調
整すれば、駆動FET2のゲート電圧が0Vの時にその
駆動FET2はオフしていることになる。
【0017】上述したような条件でもってゲート電圧0
Vの時に駆動FET2がオフしていることを、図2に示
した構成の回路を用いて実験により検証した。実験で
は、駆動FET2としてしきい電圧Vthが−0.2Vの
GaAs MESFETを用いた。ダイオード30の理
想因子n及び比例係数Ns は1に近い値であった。実験
の結果、上記(4)式の第1項は0.3V程度であり、
第2項は−0.514Vthであった。従って、駆動FE
T2は、そのしきい電圧Vthが−0.2Vであれば、ゲ
ート電圧が0Vの時にオフ状態であることが確かめられ
た。
Vの時に駆動FET2がオフしていることを、図2に示
した構成の回路を用いて実験により検証した。実験で
は、駆動FET2としてしきい電圧Vthが−0.2Vの
GaAs MESFETを用いた。ダイオード30の理
想因子n及び比例係数Ns は1に近い値であった。実験
の結果、上記(4)式の第1項は0.3V程度であり、
第2項は−0.514Vthであった。従って、駆動FE
T2は、そのしきい電圧Vthが−0.2Vであれば、ゲ
ート電圧が0Vの時にオフ状態であることが確かめられ
た。
【0018】図3には、図1に示した論理回路の電位差
発生手段3をソースとドレインとを短絡したディプレッ
ション型のMESFET31で構成し、かつ抵抗性負荷
5を抵抗51で構成した例が示されている。この第3の
実施形態では、ソースとドレインとを短絡したMESF
ET31はダイオードとして作用する。なお、この第3
の実施形態では、駆動FET2のソースと接地点との間
に容量7を設け、回路の高周波利得が低下するのを防ぐ
ようにしている。容量7は、MIM(Metal−In
sulator−Metal)型の容量や逆バイアスの
ダイオードなどで構成される。
発生手段3をソースとドレインとを短絡したディプレッ
ション型のMESFET31で構成し、かつ抵抗性負荷
5を抵抗51で構成した例が示されている。この第3の
実施形態では、ソースとドレインとを短絡したMESF
ET31はダイオードとして作用する。なお、この第3
の実施形態では、駆動FET2のソースと接地点との間
に容量7を設け、回路の高周波利得が低下するのを防ぐ
ようにしている。容量7は、MIM(Metal−In
sulator−Metal)型の容量や逆バイアスの
ダイオードなどで構成される。
【0019】図4には、図1に示した論理回路の電位差
発生手段3をゲートとドレインとを短絡したディプレッ
ション型FET32で構成し、かつ抵抗性負荷5を抵抗
51で構成した例が示されている。この第4の実施形態
では、駆動FET2のゲート電圧が0Vの時にFET3
2で発生する電圧が、上記第2の実施形態のダイオード
30の場合よりも小さく、駆動FET2にやや大きなサ
ブスレショルド電流が流れる。
発生手段3をゲートとドレインとを短絡したディプレッ
ション型FET32で構成し、かつ抵抗性負荷5を抵抗
51で構成した例が示されている。この第4の実施形態
では、駆動FET2のゲート電圧が0Vの時にFET3
2で発生する電圧が、上記第2の実施形態のダイオード
30の場合よりも小さく、駆動FET2にやや大きなサ
ブスレショルド電流が流れる。
【0020】図5には、図1に示した論理回路の電位差
発生手段3を、ゲートとドレインとを短絡したディプレ
ッション型FET32と、そのソースと電源Vddとの間
にゲートとソースとを短絡した2つのディプレッション
型FET33,34を直列に接続した構成とし、かつ抵
抗性負荷5を抵抗51で構成した例が示されている。こ
の第5の実施形態では、電位差発生用のFET32で電
位差を発生させるのに必要な電流をFET33,34か
ら供給することにより、駆動FET2に流れるサブスレ
ショルド電流を上記第4の実施形態の回路よりも小さく
することができる。
発生手段3を、ゲートとドレインとを短絡したディプレ
ッション型FET32と、そのソースと電源Vddとの間
にゲートとソースとを短絡した2つのディプレッション
型FET33,34を直列に接続した構成とし、かつ抵
抗性負荷5を抵抗51で構成した例が示されている。こ
の第5の実施形態では、電位差発生用のFET32で電
位差を発生させるのに必要な電流をFET33,34か
ら供給することにより、駆動FET2に流れるサブスレ
ショルド電流を上記第4の実施形態の回路よりも小さく
することができる。
【0021】FET33,34から流れ込む電流によっ
てFET32のソ−ス・ドレイン間に発生する電圧Vds
は以下のように説明される。すなわち、飽和領域で動作
するFET33,34に流れる電流Ids1 は、次式 Ids1 =K1 Vth2 ‥‥(5) で表される。一方、非飽和領域で動作する電位差発生用
のFET32の電流Ids2 は、次式 Ids2 =K2 (2Vds−Vth)Vds/2 ‥‥(6) で表される。Ids1 とIds2 とは等しいので、次式 Vds=Vth+√(K2 2 Vth+2K1 Vth2 /K2 ) ‥‥(7) が成り立つ。ここでK1 はFET33,34のコンダク
タンス定数であり、K2はFET32のコンダクタンス
定数である。K1 の値をK2 の値の1.5倍(すなわ
ち、K1 =1.5K2 )とすると、 Vds=|Vth| となる。従って、駆動FET2は、ゲート電圧が0Vの
時にオフ状態となり、この第5の実施形態では、駆動F
ET2のしきい電圧Vthの製造ばらつきの影響を受けに
くいことが分かる。
てFET32のソ−ス・ドレイン間に発生する電圧Vds
は以下のように説明される。すなわち、飽和領域で動作
するFET33,34に流れる電流Ids1 は、次式 Ids1 =K1 Vth2 ‥‥(5) で表される。一方、非飽和領域で動作する電位差発生用
のFET32の電流Ids2 は、次式 Ids2 =K2 (2Vds−Vth)Vds/2 ‥‥(6) で表される。Ids1 とIds2 とは等しいので、次式 Vds=Vth+√(K2 2 Vth+2K1 Vth2 /K2 ) ‥‥(7) が成り立つ。ここでK1 はFET33,34のコンダク
タンス定数であり、K2はFET32のコンダクタンス
定数である。K1 の値をK2 の値の1.5倍(すなわ
ち、K1 =1.5K2 )とすると、 Vds=|Vth| となる。従って、駆動FET2は、ゲート電圧が0Vの
時にオフ状態となり、この第5の実施形態では、駆動F
ET2のしきい電圧Vthの製造ばらつきの影響を受けに
くいことが分かる。
【0022】図6には、図1に示した論理回路の電位差
発生手段3をダイオード30とディプレッション型FE
T35とダイオード36とで構成し、かつ抵抗性負荷5
を抵抗51で構成した例が示されている。この第6の実
施形態では、電源Vddにドレインが接続されたFET3
5を流れる電流が、ダイオード36を介して電位差発生
用のダイオード30に流れる。
発生手段3をダイオード30とディプレッション型FE
T35とダイオード36とで構成し、かつ抵抗性負荷5
を抵抗51で構成した例が示されている。この第6の実
施形態では、電源Vddにドレインが接続されたFET3
5を流れる電流が、ダイオード36を介して電位差発生
用のダイオード30に流れる。
【0023】図7は、本発明の第7実施形態を示す図で
ある。この実施形態では、それぞれディプレッション型
FETで構成したインバータINV1 ,INV2 を2段
接続し、前段のインバータINV1 の出力を後段のイン
バータINV2 のディプレッション型FET12のゲー
トで受けるようにしている。そして、前段のインバータ
INV1 の出力がローレベルの時に後段のインバータI
NV2 の駆動FET12がオフとなるようにそのFET
12のソースと電位差発生用のダイオード30との間に
ダイオード37を設けている。
ある。この実施形態では、それぞれディプレッション型
FETで構成したインバータINV1 ,INV2 を2段
接続し、前段のインバータINV1 の出力を後段のイン
バータINV2 のディプレッション型FET12のゲー
トで受けるようにしている。そして、前段のインバータ
INV1 の出力がローレベルの時に後段のインバータI
NV2 の駆動FET12がオフとなるようにそのFET
12のソースと電位差発生用のダイオード30との間に
ダイオード37を設けている。
【0024】図8は、図7に示した回路の出力波形のシ
ミュレーション結果を示す図である。図中、14は出力
波形、15は入力波形である。振幅1.5Vppで立上り
/立下り時間が200psec の入力に対して、振幅が3
Vppで立上り/立下り時間が約40psec の出力が得ら
れた。なお、このシミュレーションにおいては、駆動F
ET2はゲート長0.7μmで幅150μm、駆動FE
T12はゲート長1μmで幅50μm、ダイオード3
0,37のショットキー電極は長さ1μmで幅50μ
m、抵抗51,52は500Ωであった。
ミュレーション結果を示す図である。図中、14は出力
波形、15は入力波形である。振幅1.5Vppで立上り
/立下り時間が200psec の入力に対して、振幅が3
Vppで立上り/立下り時間が約40psec の出力が得ら
れた。なお、このシミュレーションにおいては、駆動F
ET2はゲート長0.7μmで幅150μm、駆動FE
T12はゲート長1μmで幅50μm、ダイオード3
0,37のショットキー電極は長さ1μmで幅50μ
m、抵抗51,52は500Ωであった。
【0025】図9は、本発明の第8実施形態を示す図で
ある。この実施形態では、混合する二つの信号が供給さ
れる端子21,22がゲートに接続されたディプレッシ
ョン型のデュアルゲートFET23を用いてミキサ回路
を構成しており、FET23のソースと接地点との間に
電位差発生用のダイオード24,25と抵抗26を直列
に接続している。
ある。この実施形態では、混合する二つの信号が供給さ
れる端子21,22がゲートに接続されたディプレッシ
ョン型のデュアルゲートFET23を用いてミキサ回路
を構成しており、FET23のソースと接地点との間に
電位差発生用のダイオード24,25と抵抗26を直列
に接続している。
【0026】上記各実施形態によれば、前段の回路から
入力される信号をゲートで受ける駆動FET2をディプ
レッション型のもので形成し、その駆動FET2のドレ
インに抵抗性負荷5を介して電源Vddを接続し、かつ接
地点と駆動FET2のソースとの間に電位差発生手段3
を設け、その電位差発生手段3により駆動FET2のし
きい電圧Vthの絶対値よりも大きい電位差を発生させる
ようにしたので、駆動FET2が擬似的にエンハンスメ
ント型のFETとして動作するようになり、このFET
2をオフさせるための信号が負電圧である必要がなくな
る。従って、エンハンスメント型FETを含まないイン
バータ等の論理回路やミキサ回路を単一電源で動作させ
ることが可能となる。また、負電源を発生させるための
レベルシフト回路が不要となる。
入力される信号をゲートで受ける駆動FET2をディプ
レッション型のもので形成し、その駆動FET2のドレ
インに抵抗性負荷5を介して電源Vddを接続し、かつ接
地点と駆動FET2のソースとの間に電位差発生手段3
を設け、その電位差発生手段3により駆動FET2のし
きい電圧Vthの絶対値よりも大きい電位差を発生させる
ようにしたので、駆動FET2が擬似的にエンハンスメ
ント型のFETとして動作するようになり、このFET
2をオフさせるための信号が負電圧である必要がなくな
る。従って、エンハンスメント型FETを含まないイン
バータ等の論理回路やミキサ回路を単一電源で動作させ
ることが可能となる。また、負電源を発生させるための
レベルシフト回路が不要となる。
【0027】以上本発明者によってなされた発明を実施
形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施形
態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施形
態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0028】例えば、図1〜図7及び図9の回路の電源
電圧として負電源を用い、図1〜図7及び図9の回路の
端子6を接地電位とするとともに、図1〜図7及び図9
の回路の接地電位の代わりに例えば−5.2Vのような
負の電圧を供給するようにしてもよい。
電圧として負電源を用い、図1〜図7及び図9の回路の
端子6を接地電位とするとともに、図1〜図7及び図9
の回路の接地電位の代わりに例えば−5.2Vのような
負の電圧を供給するようにしてもよい。
【0029】また、使用するFETは、特に限定するも
のではなく、Si MOSFETなどでもよい。
のではなく、Si MOSFETなどでもよい。
【0030】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である論理回
路及びミキサ回路に適用した場合について説明したが、
この発明はそれに限定されるものではなく、FETを使
用した集積回路に利用することができる。
なされた発明をその背景となった利用分野である論理回
路及びミキサ回路に適用した場合について説明したが、
この発明はそれに限定されるものではなく、FETを使
用した集積回路に利用することができる。
【0031】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
【0032】すなわち、ディプレション型FETのみで
構成され単一電源で動作するディジタル論理回路やミキ
サ回路などの半導体集積回路を得ることができる。しか
も、この集積回路はしきい電圧の製造ばらつきの影響を
受け難く、定常的に流れる電流が小さいので、低消費電
力化及び低コスト化が可能となる。
構成され単一電源で動作するディジタル論理回路やミキ
サ回路などの半導体集積回路を得ることができる。しか
も、この集積回路はしきい電圧の製造ばらつきの影響を
受け難く、定常的に流れる電流が小さいので、低消費電
力化及び低コスト化が可能となる。
【図1】本発明を適用した論理回路の第1実施形態の回
路図である。
路図である。
【図2】本発明を適用した論理回路の第2実施形態の回
路図である。
路図である。
【図3】本発明を適用した論理回路の第3実施形態の回
路図である。
路図である。
【図4】本発明を適用した論理回路の第4実施形態の回
路図である。
路図である。
【図5】本発明を適用した論理回路の第5実施形態の回
路図である。
路図である。
【図6】本発明を適用した論理回路の第6実施形態の回
路図である。
路図である。
【図7】本発明を適用した論理回路の第7実施形態の回
路図である。
路図である。
【図8】図7の論理回路の入出力波形のシミュレーショ
ン結果を表す波形図である。
ン結果を表す波形図である。
【図9】本発明を適用したミキサ回路の一例の回路図で
ある。
ある。
【図10】従来の論理回路の回路図である。
【図11】従来の論理回路の回路図である。
Vdd 正電源 2 駆動FET(第1の電界効果トランジスタ) 3 電位差発生手段(第1の電界効果トランジスタの
しきい電圧Vthの絶対値よりも大きい電位差を発生する
手段) 5 抵抗性負荷 7 容量 30 ダイオード 31 第2の電界効果トランジスタ 32 第3の電界効果トランジスタ 33,34 第4の電界効果トランジスタ 50 第5の電界効果トランジスタ
しきい電圧Vthの絶対値よりも大きい電位差を発生する
手段) 5 抵抗性負荷 7 容量 30 ダイオード 31 第2の電界効果トランジスタ 32 第3の電界効果トランジスタ 33,34 第4の電界効果トランジスタ 50 第5の電界効果トランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 八田 康 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内
Claims (7)
- 【請求項1】 ディプレッション型の電界効果トランジ
スタのゲートが入力端子に接続されるとともに、該トラ
ンジスタのドレインと電源端子もしくは接地点との間に
抵抗性負荷が接続され、かつソースと接地点もしくは電
源端子との間に、同トランジスタのしきい電圧Vthの絶
対値よりも大きい電位差を発生する手段が設けられてい
ることを特徴とする半導体集積回路。 - 【請求項2】 前記第1の電界効果トランジスタのソー
スに接続された前記電位差発生手段は、ダイオード、ま
たはソースとドレインとを短絡したショットキ障壁ゲー
ト形でディプレッション型の第2の電界効果トランジス
タで構成されていることを特徴とする請求項1記載の半
導体集積回路。 - 【請求項3】 前記第1の電界効果トランジスタのソー
スに接続された前記電位差発生手段は、ゲートとドレイ
ンとを短絡したディプレッション型の第3の電界効果ト
ランジスタで構成されていることを特徴とする請求項1
記載の半導体集積回路。 - 【請求項4】 前記第3の電界効果トランジスタのドレ
インと接地点もしくは電源端子との間に、ゲートとソー
スとを短絡したディプレッション型の第4の電界効果ト
ランジスタが設けられていることを特徴とする請求項3
記載の半導体集積回路。 - 【請求項5】 前記第1の電界効果トランジスタのソー
スと接地点もしくは電源端子との間に容量が設けられて
いることを特徴とする請求項1、2、3または4記載の
半導体集積回路。 - 【請求項6】 前記第1の電界効果トランジスタのドレ
インに接続された抵抗性負荷は、ゲートとソースとを短
絡したディプレッション型の第5の電界効果トランジス
タで構成されていることを特徴とする請求項1、2、
3、4または5記載の半導体集積回路。 - 【請求項7】 ディプレッション型の電界効果トランジ
スタのゲートが入力端子に接続されるとともに、該トラ
ンジスタのドレインと電源端子もしくは接地点との間に
抵抗性負荷が接続され、かつソースと接地点もしくは電
源端子との間に、同トランジスタのしきい電圧Vthの絶
対値よりも大きい電位差を発生する手段を有する複数の
論理回路が、一つのチップ上に形成されてなることを特
徴とする論理集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7271458A JPH09116408A (ja) | 1995-10-19 | 1995-10-19 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7271458A JPH09116408A (ja) | 1995-10-19 | 1995-10-19 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09116408A true JPH09116408A (ja) | 1997-05-02 |
Family
ID=17500319
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7271458A Pending JPH09116408A (ja) | 1995-10-19 | 1995-10-19 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09116408A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007018037A1 (ja) * | 2005-08-09 | 2007-02-15 | Hitachi Metals, Ltd. | 高周波スイッチ回路 |
| JP2011086363A (ja) * | 2009-09-16 | 2011-04-28 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 駆動回路、当該駆動回路を具備する表示装置、当該表示装置を具備する電子機器 |
| JP2017098664A (ja) * | 2015-11-19 | 2017-06-01 | 三菱電機株式会社 | 周波数逓倍器 |
-
1995
- 1995-10-19 JP JP7271458A patent/JPH09116408A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007018037A1 (ja) * | 2005-08-09 | 2007-02-15 | Hitachi Metals, Ltd. | 高周波スイッチ回路 |
| JP4760832B2 (ja) * | 2005-08-09 | 2011-08-31 | 日立金属株式会社 | 高周波スイッチ回路 |
| US8159283B2 (en) | 2005-08-09 | 2012-04-17 | Hitachi Metals, Ltd. | High frequency switch circuit comprising a transistor on the high frequency path |
| JP2011086363A (ja) * | 2009-09-16 | 2011-04-28 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 駆動回路、当該駆動回路を具備する表示装置、当該表示装置を具備する電子機器 |
| KR20120083309A (ko) * | 2009-09-16 | 2012-07-25 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 구동 회로, 구동 회로를 포함하는 표시 장치 및 표시 장치를 포함하는 전자 기기 |
| JP2014060726A (ja) * | 2009-09-16 | 2014-04-03 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 駆動回路 |
| JP2015027089A (ja) * | 2009-09-16 | 2015-02-05 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 駆動回路 |
| JP2017098664A (ja) * | 2015-11-19 | 2017-06-01 | 三菱電機株式会社 | 周波数逓倍器 |
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