JPH09119866A - マイクロ構造化された赤外線吸光光度計、赤外線吸光光度計を使用した液体の吸光度の測定方法および赤外線吸光光度計の用途 - Google Patents

マイクロ構造化された赤外線吸光光度計、赤外線吸光光度計を使用した液体の吸光度の測定方法および赤外線吸光光度計の用途

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JPH09119866A
JPH09119866A JP8208476A JP20847696A JPH09119866A JP H09119866 A JPH09119866 A JP H09119866A JP 8208476 A JP8208476 A JP 8208476A JP 20847696 A JP20847696 A JP 20847696A JP H09119866 A JPH09119866 A JP H09119866A
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infrared
microstructured
absorptiometer
flash lamp
light source
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Nezih Uenal
ユーナル ネツィー
Helge Pannhoff
パンホフ ヘルゲ
Dierk Landwehr
ラントヴェール ディールク
Lothar E Duerselen
エー デュルゼレン ロタール
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Boehringer Ingelheim Microparts GmbH
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03Cuvette constructions
    • G01N21/031Multipass arrangements

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光度計を僅かしか加熱しない、マイクロ構造
化された赤外線光度計用赤外線光源を提供することであ
る。 【解決手段】 基板、ミラー格子、多周波数の赤外線入
力結合接続部、単一周波数の赤外線出力結合接続部、ミ
ラー格子と接続部との間の自由空間、該自由空間上のカ
バープレートから成る、マイクロ構造である一体の成形
部品と、赤外線光源としての閃光ランプと、赤外線受光
器とを備え、赤外線受光器の応答時間は閃光ランプのパ
ルス持続時間より短い、赤外線光度計。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、混合物、例えば液
体中の吸光性の物質または成分を検査するための赤外線
分光領域に対するマイクロ構造化された光度計に関す
る。更に、本発明は、この光度計を用いた吸光(消光)
の測定するための方法に関する。
【0002】
【従来の技術】吸収度測光のために、多周波数の赤外線
が格子によって分割される公知の分光光度計がある。こ
の種の装置によって非常に種々のかつ比較的複雑な問題
設定が処理されかつ正確な結果が得られる。しかしこれ
ら装置は著しい嵩を有し、一般に定置状態でしか使用さ
れずかつ比較的高価である。比較的大きな分光領域を掃
引するために通例長い測定時間が必要である。これら装
置は細心の取り扱いおよび操作を要求しかつ普通は熟練
者しか扱えない。
【0003】分光光度計の他に、吸光度の測定のために
考察される分光領域が光フィルタ、例えば干渉フィルタ
によって確定されるフィルタ光度計が公知である。
【0004】所定の物質の吸光度の測定のために、一般
に、狭い分光領域で十分である。複数の物質を分析すべ
きであれば、吸光度は複数の分光領域において測定され
るべきである。外部の影響を取り除くためにしばしば、
参照波長が利用される。
【0005】ドイツ連邦共和国特許出願第444381
4号明細書に、ガスに対する赤外線分光測光センサが記
載されている。このセンサは、マイクロ構造化された成
形部品から成りかつミラー格子と、多周波数の赤外線を
入力結合するための接続部と、単一周波数の赤外線ビー
ムを出力結合するための接続部とを含んでいる。
【0006】これら公知の光度計は、光源と、検査すべ
き物質によって減衰される光線が到来する受光器とを含
んでいる。受光器には、順次、分光分解された、種々異
なった波長の光線が到来することができる。このことは
有利には、モノクロメータの回転によって実現される。
光源は光度計の作動状態において連続的に投入されてい
る。受光器は連続的に、分解された光線にさらされてい
るか、または光路は、チョッパによって中断される。チ
ョッパは例えば、機械的に動作することができる。
【0007】光源として、赤外線領域において熱源また
は半導体ダイオードが使用される。赤外線領域に十分な
光出力を有する熱放射器は非常に多くの熱を周囲に放出
し、これにより隣接した部品は時間とともに加熱されか
つ拡散された赤外線が放射され、それは測定信号に障害
作用を及ぼしかつ測定信号を隠蔽するおそれがある。こ
の妨害はコンパクトに組み立てられたマイクロ構造化さ
れた赤外線光度計において特別顕著に現れる。相当加熱
された後には、赤外線の入力結合のためのスリットはも
はや定義されない状態になり、これにより光度計の分解
能が低減されるかまたは消失する。更に、十分な出力を
有する公知の熱放射器は慣性がありかつ断続的な作動に
不適当である。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従って本発明の課題
は、光度計をできるだけ僅かしか加熱しない、マイクロ
構造化された赤外線光度計用赤外線光源を提供すること
である。
【0009】
【課題を解決するための手段】この課題は本発明によれ
ば、マイクロ構造として形成されている一体の成形部品
と、赤外線光源および少なくとも1つの赤外線受光器と
を備えたマイクロ構造化された赤外線吸光光度計であっ
て、前記成形部品は、基板と、赤外線を分割するための
ミラー格子と、多周波数の赤外線を入力結合するための
接続部と、単一周波数の赤外線ビームを出力結合するた
めの接続部と、前記ミラー格子と前記赤外線に対する接
続部との間の自由空間と、該自由空間上のカバープレー
トとから成る形式のものにおいて、赤外線光源として閃
光ランプが設けられておりかつ赤外線受光器の応答時間
は前記閃光ランプのパルス持続時間より短いことを特徴
とするマイクロ構造化された赤外線吸光光度計によって
解決される。
【0010】閃光ランプとして市販のガス放電ランプ、
例えばキセノンが充填されているランプが適している。
最も小さな実施例は、数センチメータ長であって、数ミ
リメータの直径を有する管状のランプである。小型化さ
れた形態において、ランプを一層小さくすることができ
る。放電閃光は数マイクロ秒持続し、その際著しい強度
の赤外線が放射される。
【0011】受光器として例えば、応答時間が0.5・
10−6secないし1secであるような赤外線受光
器、例えばセレン化鉛ビーム受光器が適している。
【0012】マイクロ構造化された一体の成形部品は、
合成樹脂(例えばポリメタクリル酸メチル、ポリスルホ
ン、ポリカーボネート)または金属(例えばニッケル、
ニッケル・コバルト、金、銅)から形成することができ
る。
【0013】本発明のマイクロ構造化された赤外線吸光
光度計によって物質の吸光度が測定され、その際10
−6secないし1secのパルス持続時間において
0.01Hzないし10Hzのパルス繰り返し周波数が
選択される。パルス間隔は有利には、パルス持続時間の
千倍より上に調整設定される。
【0014】赤外線吸光光度計は、1つより多くの出力
結合スリットを含むことができ、その際それぞれの出力
結合スリットの後ろに、赤外線受光器が配設されてい
る。これにより、検査すべき液体の吸光度を複数の隣接
する波長において測定することができる。吸光が生じな
い別の1つの波長は、参照波長として使用することがで
きる。
【0015】本発明のマイクロ構造化された赤外線吸光
光度計は、ガスまたは混合ガス、例えばガス状の炭化水
素(例えばメタン、エタン、プロパン、ブタンおよびそ
の他)または二酸化炭素、一酸化炭素、酸化窒素、水蒸
気、アンモニアおよびその他の定量分析のために使用さ
れる。
【0016】検査すべき材料は、閃光ランプと入射スリ
ットとの間の有利には開かれた空間に存在している。こ
の空間を通って検査すべきガスが対流によって妨げられ
ずに流れることができるか、またはガス状の成分は拡散
によってこの空間に達することができる。
【0017】
【発明の効果】本発明の赤外線光度計は次の利点を有し
ている: ‥短いパルス持続時間および低いパルス繰り返し周波数
のために、放出される熱量は小さく抑えられる。 赤外
線光度計の、周囲に対する温度は、ほんの僅かに高めら
れるかまたは全く高められない。
【0018】‥検査すべき液体の組成が大きな時間区分
(分または時)にわたって緩慢にしか変化しないないし
僅かしか変化しない場合、この形式の変化を確実に検出
するために、低いパルス繰り返し周波数で十分である。
低いパルス繰り返し周波数に対して赤外線光度計は特別
適している。
【0019】‥赤外線領域における閃光の大きな強度に
より、単一周波数の赤外線に対して、中程度の大きさの
感度を有する安価な検出器を使用することが可能にな
る。
【0020】‥閃光ランプは、螺旋フィラメントを備え
た熱ビーム源より機械的に敏感でない。
【0021】‥マイクロ構造化された赤外線光度計は全
体として、震動に対して不感であり、ひいては移動する
使用に申し分なく適している。
【0022】‥低いパルス繰り返し周波数で作動する閃
光ランプの寿命は数年でありかつこれにより、熱ビーム
源の寿命より著しく大きい。それ故に、光度計は非常に
僅かな保守コストしか必要としない。
【0023】‥パルス繰り返し周波数が低い場合でも、
検査すべき液体は、液体の組成が徐々にしか変化しなく
ても、準連続的に監視することができる。
【0024】
【発明の実施の形態】次に本発明を図示の実施例につき
図面を用いて詳細に説明する。
【0025】図1には、マイクロ構造化された赤外線光
度計が自由空間の開いた側からの平面図にて示されてい
る。基板1上に、扁平なミラー格子2並びに多周波数の
赤外線を入力結合するためのスリット3および多周波数
の赤外線を出力結合するためのスリット4が取り付けら
れている。2つの凹面鏡5および6がミラー格子に相対
向している。ミラー格子2と凹面鏡5および6との間に
自由空間が存在している。この自由空間の長手側は閉じ
られていてもよいしまたは開放されていてもよい。入力
結合スリット3の外側に、赤外線光源としての閃光ラン
プ7が配設されており、出力結合スリット4の外側に、
赤外線受光器8が配設されている。閃光ランプは凹面境
9を介して入力結合スリット9に結像される。図1で斜
線が施されている部分は、基板の上方に位置しているも
のである。その上にエレメント2ないし6が固定配設さ
れている基板1は、マイクロ構造として製造されている
一体の成形部品である。
【0026】2つの凹面境5および6を用いて、赤外線
の光路を延長するために、赤外線は自由空間内で反射さ
れる。
【0027】検査すべき物質は、閃光ランプ7と、凹面
鏡9と、入射スリット3との間の空間内に存在する。こ
の空間は開いている。気体は例えばこの空間を通って自
由に流れることができる。
【0028】図2には、赤外線光度計の縦断面図が示さ
れている。自由空間はプレート10で被覆されている。
赤外線光源から到来するビームは自由空間の壁において
多重反射される。
【0029】
【実施例】
例:燃焼可能なガスに対するマイクロ構造化された赤外
線光度計 メタン、エタン、プロパンおよびブタンのような燃焼可
能な炭化水素は、3.38μm(2960cm-1)近傍
の領域における赤外線を吸光する。空気中のプロパンを
検査するために、本発明によるマイクロ構造化された赤
外線光度計が利用される。
【0030】図1に示されているマイクロ構造化された
赤外線光度計は約25mmの長さでかつ約20mm幅で
ある。自由空間は約500μmの高さである。LIGA
技術において製造された、ポリメタクリル酸メチルから
成る成形部品の内面およびポリメタクリル酸メチルから
成るカバープレートの内面並びにミラー格子は金メッキ
されている。ミラー格子は、mm当たり200本の線を
有している。ブレーズ角は、第1の回折装置における領
域3.4μm(2940cm-1)におけるこのミラー格
子の最大反射に整合されている。
【0031】約0.4mm幅の、赤外線光度計の入力結
合スリットは、閃光ランプによって照明される。閃光ラ
ンプとして、市販のランプ、例えばキセノン閃光管02
0TAR3(製造者:Heinmann)が利用される。この閃
光管は34mm長でありかつ3.15mmの直径を有し
ている。この管は硬ガラスから成っている。バイアス電
圧は320Voltでありかつ点弧電圧は11kVであ
る。平均エネルギーはパルス当たり約2Wattsec
であり、かつパルス持続時間は約10μsecである。
この閃光ランプは3.4μm(2940cm-1)周辺に
おける赤外線領域において大きなビーム強度を有してい
る。閃光ランプは、入力結合スリットの手前役2cmの
ところにある凹面境を用いて入力結合スリットに結像さ
れる。
【0032】ミラー格子によって反射されたビームは、
約0.4mm幅の出力結合スリットに指向される。この
スリットは、波長3.4μm(2940cm-1)が生じ
る個所に存在する。出力結合スリットの後方に、セレン
化鉛から成る受光器が取り付けられている。受光器の応
答時間は約1.5μsであり、それは閃光ランプのパル
ス持続時間より小さい。
【0033】凹面鏡9と入射スリット3との間の空間
は、側壁なしのガスキュベットとして用いられる。ガス
は毎分約100cm3の流量を有する対流によってこの
空間を流れる。ガスは実質的に空気から成りかつ一時的
にプロパンを含んでいることができる。
【0034】プロパンが存在する場合、3.38μm
(2960cm-1)において受光器によって受光される
強度は消光法則に従ってプロパンの濃度が高まるにつれ
て一層小さくなる。
【0035】本発明のマイクロ構造化された赤外線光度
計によって、プロパンを含有している点火性の混合ガス
の濃度の約10%になる、空気中のプロパン成分、即ち
空気中の約0.2%のプロパンが検出される。これによ
り例えばガス運転される装置における漏れを検査するこ
とができる。プロパン空気混合ガスの下側の爆発限界値
は、プロパン含有量が1.8%のところにある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のマイクロ構造化された赤外線光度計の
平面図である。
【図2】図1のマイクロ構造化された赤外線光度計の縦
断面図である。
【符号の説明】
1 基板、 2 ミラー格子、 3,4 スリット、
5,6,9 凹面鏡、7 閃光ランプ、 10 プレー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ディールク ラントヴェール ドイツ連邦共和国 デュルメン ハーファ ーラントヴェーク 150 (72)発明者 ロタール エー デュルゼレン ドイツ連邦共和国 ヒルデン ホーフシュ トラーセ 103

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マイクロ構造として製造されている一体
    の成形部品と、赤外線光源および少なくとも1つの赤外
    線受光器とを備えたマイクロ構造化された赤外線吸光光
    度計であって、前記成形部品は、基板と、赤外線を分割
    するためのミラー格子と、多周波数の赤外線を入力結合
    するための接続部と、単一周波数の赤外線を出力結合す
    るための、少なくとも1つの接続部と、前記ミラー格子
    と前記赤外線に対する接続部との間の自由空間と、該自
    由空間上のカバープレートとから成る形式のものにおい
    て、赤外線光源として閃光ランプが設けられておりかつ
    赤外線受光器の応答時間は前記閃光ランプのパルス持続
    時間より短いことを特徴とするマイクロ構造化された赤
    外線吸光光度計。
  2. 【請求項2】 赤外線光源としてキセノン閃光ランプ
    が設けられておりかつセレン化鉛から成る受光器が設け
    られている請求項1記載のマイクロ構造化された赤外線
    吸光光度計。
  3. 【請求項3】 マイクロ構造化された一体の成形部品
    は、合成樹脂または金属から成る請求項1または2記載
    のマイクロ構造化された赤外線吸光光度計。
  4. 【請求項4】 閃光ランプのパルス繰り返し周波数を
    0.01Hzないし10Hz、閃光のパルス持続時間を
    10-6secないし1sec、かつ赤外線受光器の応答
    時間を0.5・10-6secないし1secに選択する
    請求項1記載のマイクロ構造化された赤外線吸光光度計
    を使用して液体の吸光度を測定する方法。
  5. 【請求項5】 パルス間隔を、有利には、前記パルス持
    続時間の千倍より大きく選択する請求項4記載の方法。
  6. 【請求項6】 ガスまたは混合ガス、有利にはガス状の
    炭化水素または二酸化炭素、一酸化炭素、酸化窒素、水
    蒸気、アンモニアの定量分析のために使用する、請求項
    1から3までのいずれか1項記載のマイクロ構造化され
    た赤外線吸光光度計の用途。
JP8208476A 1995-08-07 1996-08-07 マイクロ構造化された赤外線吸光光度計、赤外線吸光光度計を使用した液体の吸光度の測定方法および赤外線吸光光度計の用途 Pending JPH09119866A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007333567A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Riken Keiki Co Ltd 多重反射型セルおよび赤外線式ガス検知器
US10393586B2 (en) 2016-07-12 2019-08-27 Oto Photonics Inc. Spectrometer and manufacturing method thereof

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10239235A (ja) * 1997-02-26 1998-09-11 Fuji Electric Co Ltd 赤外線ガス分析計
US6303934B1 (en) * 1997-04-10 2001-10-16 James T. Daly Monolithic infrared spectrometer apparatus and methods
DE19717014A1 (de) * 1997-04-23 1998-10-29 Inst Mikrotechnik Mainz Gmbh Verfahren und Form zur Herstellung miniaturisierter Formenkörper
DE19717145C2 (de) * 1997-04-23 1999-06-02 Siemens Ag Verfahren zur selektiven Detektion von Gasen und Gassensor zu dessen Durchführung
DE19742053C1 (de) * 1997-09-24 1999-01-28 Draeger Sicherheitstech Gmbh Infrarotmeßanordnung mit erweitertem Meßbereich
DE10010514B4 (de) * 1999-03-08 2004-09-30 Steag Microparts Gmbh Optoelektronisches Mikrospektrometer
DK1163503T3 (da) * 1999-03-08 2003-12-22 Gasbeetle Gmbh Gassensor og fremgangsmåde til drift af en gassensor
JP2000337962A (ja) * 1999-05-27 2000-12-08 Ando Electric Co Ltd 分光器及び光スペクトル測定装置
JP3818051B2 (ja) * 1999-12-10 2006-09-06 昭和電工株式会社 アンモニア中の水分濃度の測定方法、測定装置、水分が低減されたアンモニアの製造方法およびその用途
TW492054B (en) * 2000-03-09 2002-06-21 Semix Inc Wafer processing apparatus and method
TW459133B (en) * 2001-03-30 2001-10-11 Oriental System Technology Inc Multi-component gas analyzer having cassette-type light path system
AU2002365127B2 (en) * 2001-10-02 2008-09-18 Trustees Of Tufts College Self-assembling polymers, and materials fabricated therefrom
GB0213326D0 (en) * 2002-06-11 2002-07-24 Edinburgh Instr Gas sensors
DE10255022A1 (de) * 2002-11-25 2004-06-17 Fiedler, Sven E. Resonatorverstärktes Absorptions-Spektrometer
US7301148B2 (en) 2003-04-23 2007-11-27 Battelle Memorial Institute Methods and systems for remote detection of gases
US7095930B2 (en) * 2003-07-17 2006-08-22 Draka Comteq B.V. Groove cable
NL1024364C2 (nl) * 2003-09-24 2005-03-29 Berli B V Gassensor.
US7499159B2 (en) * 2004-04-16 2009-03-03 Ahura Corporation Method and apparatus for conducting Raman spectroscopy using a remote optical probe
US7636157B2 (en) 2004-04-30 2009-12-22 Ahura Corporation Method and apparatus for conducting Raman spectroscopy
US7548311B2 (en) 2005-04-29 2009-06-16 Ahura Corporation Method and apparatus for conducting Raman spectroscopy
DE102004030855A1 (de) * 2004-06-25 2006-01-12 Tyco Electronics Raychem Gmbh Verfahren zur Reduzierung von Kondenswasser bei Gassensoranordnungen
US7477377B2 (en) * 2004-07-21 2009-01-13 Southwest Sciences Incorporated Dense pattern optical multipass cell
US20060088069A1 (en) * 2004-08-30 2006-04-27 Daryoosh Vakhshoori Uncooled, low profile, external cavity wavelength stabilized laser, and portable Raman analyzer utilizing the same
WO2006036434A2 (en) * 2004-08-30 2006-04-06 Ahura Corporation Free-space coupling between laser, optical probe head, and spectrometer assemblies and other optical elements
US20060045151A1 (en) * 2004-08-30 2006-03-02 Daryoosh Vakhshoori External cavity wavelength stabilized Raman lasers insensitive to temperature and/or external mechanical stresses, and Raman analyzer utilizing the same
WO2006065267A1 (en) * 2004-08-30 2006-06-22 Ahura Corporation Low profile spectrometer and raman analyzer utilizing the same
DE102004044145B3 (de) * 2004-09-13 2006-04-13 Robert Bosch Gmbh Reflektormodul für einen photometrischen Gassensor
CN1299103C (zh) * 2005-03-04 2007-02-07 云南大学 呼气末二氧化碳监测测量的采样装置
US7773645B2 (en) * 2005-11-08 2010-08-10 Ahura Scientific Inc. Uncooled external cavity laser operating over an extended temperature range
US7800751B1 (en) 2006-02-27 2010-09-21 Southwest Sciences Incorporated Dense pattern multiple pass cells
US7701571B2 (en) * 2006-08-22 2010-04-20 Ahura Scientific Inc. Raman spectrometry assembly
TWI345050B (en) * 2007-08-03 2011-07-11 Oto Photonics Inc Optical system and method of manufacturing the same
US9146155B2 (en) * 2007-03-15 2015-09-29 Oto Photonics, Inc. Optical system and manufacturing method thereof
TWI325492B (en) * 2007-03-16 2010-06-01 Cheng Hao Ko Optical system
US8508731B2 (en) * 2010-01-11 2013-08-13 Oto Photonics, Inc. Spectrometer capable of eliminating side-tail effects
GB201009327D0 (en) 2010-06-03 2010-07-21 Duvas Technologies Ltd Optical absorption spectroscopy
DE102010030549B4 (de) 2010-06-25 2016-04-28 Siemens Aktiengesellschaft Nichtdispersiver Gasanalysator
RU2451285C1 (ru) * 2010-11-12 2012-05-20 Общество С Ограниченной Ответственностью "Оптосенс" Газоанализатор и оптический блок, используемый в нем
US9228989B2 (en) * 2011-01-25 2016-01-05 Koninklijke Philips N.V. System and method for performing heater-less lead selenide-based capnometry and/or capnography
US8785857B2 (en) * 2011-09-23 2014-07-22 Msa Technology, Llc Infrared sensor with multiple sources for gas measurement
US9157798B2 (en) * 2011-11-08 2015-10-13 Photon Chip, Inc. Optical wavelength dispersion device and method of manufacturing the same
US9322705B2 (en) 2012-08-28 2016-04-26 Seagate Technology Llc Sensing a selected ambient environment
CN103837489A (zh) * 2012-11-26 2014-06-04 江苏远望仪器有限公司 高灵敏度多次反射光学吸收装置
ITMI20130478A1 (it) * 2013-03-29 2014-09-30 N E T Srl Rilevatore ottico di gas a geometria variabile
CN103592738B (zh) * 2013-10-28 2015-12-30 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 反射光学系统多块反射镜共用一块镜体式结构
US9500585B2 (en) 2014-10-16 2016-11-22 Spectro Scientific, Inc. Photometer and method for compensating for ambient temperature changes in a photometer
TWI715599B (zh) 2016-07-12 2021-01-11 台灣超微光學股份有限公司 光譜儀模組及其製作方法
CN109212733B (zh) * 2017-07-04 2021-02-05 徐州旭海光电科技有限公司 一种光程折叠器件
US10620445B2 (en) * 2017-11-30 2020-04-14 Cheng-Hao KO Optical wavelength dispersion device and manufacturing method therefor
CN108303376B (zh) * 2017-12-15 2020-12-22 复旦大学 内置反射镜的多腔室串联气体样品池
US10571334B2 (en) 2017-12-15 2020-02-25 Horiba Instruments Incorporated System and method for selective resolution for concave grating spectrometer
US10323934B1 (en) * 2018-04-02 2019-06-18 Northrop Grumman Systems Corporation Optical protractor to measure roll angle on a static surface and rotating surface
WO2025193138A1 (en) * 2024-03-13 2025-09-18 Senseair Ab Spectroscopic gas sensor

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4245155A (en) * 1978-12-22 1981-01-13 General Electric Company Pulsed cesium discharge light source
US4681443A (en) * 1985-05-08 1987-07-21 E. I. Du Pont De Nemours And Company Optical detector cell
EP0201824A3 (en) * 1985-05-08 1987-12-23 E.I. Du Pont De Nemours And Company Absorbance, turbidimetric, fluoresence and nephelometric photometer
DE3611246A1 (de) * 1986-04-04 1987-10-15 Kernforschungsz Karlsruhe Verfahren zum herstellen eines passiven optischen bauelements mit einem oder mehreren echelette-gittern und nach diesem verfahren hergestelltes bauelement
US5041723A (en) * 1989-09-30 1991-08-20 Horiba, Ltd. Infrared ray detector with multiple optical filters
US5026160A (en) * 1989-10-04 1991-06-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Monolithic optical programmable spectrograph (MOPS)
US5303026A (en) * 1991-02-26 1994-04-12 The Regents Of The University Of California Los Alamos National Laboratory Apparatus and method for spectroscopic analysis of scattering media
IL98729A (en) * 1991-07-04 1996-08-04 Spectronix Ltd Method and apparatus for detecting hydrocarbon vapours in a monitored area
US5281825A (en) * 1991-09-05 1994-01-25 The University Of Maryland School Of Medicine Phase fluorometry using a modulated electroluminescent lamp as a light source
DE4434814A1 (de) * 1994-09-29 1996-04-04 Microparts Gmbh Infrarotspektrometrischer Sensor für Gase

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007333567A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Riken Keiki Co Ltd 多重反射型セルおよび赤外線式ガス検知器
US10393586B2 (en) 2016-07-12 2019-08-27 Oto Photonics Inc. Spectrometer and manufacturing method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
EP0758079A3 (de) 1997-03-19
US5734165A (en) 1998-03-31
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DE19528919A1 (de) 1997-02-20

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