JPH09145573A - 多ピン測定用引張り試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 試料に多数突出配置されるピン部材を対象と
し、任意の多数のピン部材を選択して、引張り強度と伸
び量の情報を迅速に測定する装置を得る。 【解決手段】 引張り試験装置１０の装置本体１１に
は、試料１を保持する試料固定治具１２を配置してお
り、本体に対して昇降用駆動装置１６を介して上下動可
能に設けた移動部材２０には、測定部２１を介して多数
のホルダー部材２９……を配置している。前記ホルダー
部材２９は、ピン部材２……の各々に対応するパターン
で配置されており、駆動部材２３を作動させてホルダー
部材によるピン部材の把持を行い、ピン部材に加えられ
る荷重をセンサ２２により検知する手段を設けている。
そして、前記センサにより得られる情報と、移動部材の
上昇の情報とをコンピュータ３０に入力して、引張り強
度と伸び量の情報を処理する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、多数のピンを突出
させて設けた電子回路基板に対して、ピン部材の引張り
強度の試験を行う装置に関し、特に、引張り試験装置本
体に多数のピン部材を設けた電子回路基板を固定保持し
た状態で、移動部材に設けたホルダー部材によりピン部
材のうちの任意のものを同時に把持して、引張り試験を
行う多ピン測定用引張り試験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】コンタクトピン等を多数突出させて構成
する電子回路基板（以下試料と呼ぶ）等においては、図
１４に示されるように、非常に多数のコンタクトピンを
設けた試料１に対して、測定用のピン部材２と非測定用
ピン部材３とを指定しておき、前記ピン部材の各々に対
する引張り強度の試験を行うことが行われている。前記
試料に配置するピン部材は、試料１の特定の角の部分を
座標軸の原点５として指定し、前記原点５に対してそれ
ぞれがアドレスを有するものとされ、前記ピン部材２に
対して、図１５に示すような引張り試験装置４０を用い
て引張り試験を行うもので、前記引張り試験装置４０に
おいては、試料１を固定保持するための試料固定治具４
２を、装置本体４１に対して昇降式支持部材４３を介し
て配置している。また、前記装置本体４１の上部に固定
板部材４５を固定配置し、前記固定板部材４５には荷重
センサ４７を介してクリップ状のホルダー部材４６を設
けている。さらに、前記引張り試験装置４０の装置本体
には、電源スイッチ４４、動作のオン・オフ・スイッチ
４４ａ、引張り速度制御用の調整つまみ４４ｂを設け、
荷重センサ４７から得られる情報を処理する制御装置４
８と、プリンタおよび、デジタル表示装置４９等を接続
して配置している。

【０００３】前記引張り試験装置４０においては、図１
６に示すように、試料１のピン部材２を把持するホルダ
ー部材４６を１個だけ荷重センサ４７を介して固定板部
材４５に設けており、前記ホルダー部材４６によりピン
部材２をつかんだ状態で、昇降式支持部材４３を下降さ
せる動作を行って、ピン部材の引張り強度の試験を行
う。また、前記昇降式支持部材４３は、速度制御用の調
整つまみ４４ｂに設定する速度で下降させる動作を行
い、ピン部材の引張り強度を測定するものであり、前記
ピン部材を設けた試料１は、試料固定治具４２に対して
固定ネジ４２ａ等の固定部材により、座標軸の原点を正
確に位置決めする状態で固定保持される。そして、前述
したようにしてピン部材の引張りの試験を行い、荷重セ
ンサ４７から出力される情報を制御装置４８に入力し、
表示装置４９にデジタル表示を行うことや、プリンタを
用いて試験結果を記録すること等が行われる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところが、前記図１５
に示されるような引張り試験装置においては、ピン部材
を把持するホルダー部材が、１個だけ配置されているも
のであり、そのホルダー部材を手で操作することによ
り、ピン部材を把持する動作を行うように構成している
ために、指定されたピン部材を正確に把持するために、
オペレータに多くの負担を強いるという問題がある。ま
た、多数本のピン部材に対して、１本ずつ試験を行うこ
とは、１個の試料に対する試験時間が非常に長くなると
いうことにもつながり、指定されたもの以外のピン部材
に対する把持を行ったりする誤動作の問題と、試験の作
業能率が良くないという問題もあった。さらに、従来の
引張り試験装置では、ピン部材の破断強度の測定は行い
得るが、ピン部材の伸びの情報を得ることができない等
の欠点があり、測定結果の解析に際して、情報が不足す
るという問題もあった。

【０００５】本発明は、前述したような従来の装置の問
題を解消し、試料に配置する多数本のピン部材に対し
て、それぞれのピン部材に対応するホルダー部材により
把持し、多数本のピン部材に対して引張り強度と伸び率
の情報を測定でき、操作の簡単な引張り試験装置を提供
することを目的としている。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１に記載
する発明において、多数のピン部材を配置する試料を固
定保持する部材を設けた装置本体と、前記装置本体に対
して離接する方向に移動可能な移動部材とを組み合わせ
て引張り試験装置を構成している。前記引張り試験装置
に配置する移動部材には、試料に設けた多数本のピン部
材を把持する多数のホルダー部材と、前記各ホルダー部
材に配置し、ピン部材の把持と開放を行うためのホルダ
ー駆動部材と、前記ホルダー部材の各々に対応させて配
置する測定部材とを設けている。また、本発明の請求項
２に記載する発明では、前記試料のピン部材の伸びを検
知する手段と、ピン部材の切断を検知する手段とを、各
々のホルダー部材に対応させて配置する移動部材の測定
部と、前記多数のホルダー部材の各々に対して、選択的
にピン部材の把持の動作を行わせる手段とを設けてい
る。

【０００７】前述したような装置を構成することによ
り、本発明の引張り試験装置においては、移動部材に配
置する多数のホルダー部材に対して、ピン部材の把持の
動作を行うホルダー駆動部材をそれぞれ配置し、ホルダ
ー部材による把持の動作を自動的に行うので、試料のピ
ン部材のそれぞれを把持する動作を個別にオペレータが
行う必要がなく、測定の動作に間違いが発生することを
防止できる。そして、試料に配置する非常に多数のピン
部材に対して、各々のピン部材の強度を同時に測定する
ことにより、測定の能率を向上させることが可能にな
る。さらに、本発明においては、前記ホルダー部材に対
してそれぞれセンサを配置して、前記センサからの情報
を制御装置に入力することと、移動部材の上昇距離の情
報とを合わせて、引張り強度と伸び率の情報とを容易に
得ることが可能になる。

【０００８】

【発明の実施の形態】図示される例にしたがって、本発
明の多ピン測定用引張り試験装置の構成を説明する。図
１に示す例は、本発明の引張り試験装置の概略の構成を
示しているもので、引張り試験装置１０の装置本体１１
には試料固定治具１２を固定位置に配置して、試料１を
試料固定治具１２に固定保持する。また、前記引張り試
験装置本体１１の上部には、昇降部材を介して移動部材
２０を配置しており、前記移動部材２０の下部に設けた
測定部２１には、多数のホルダー部材２９……をカバー
部材２４を介して配置している。そして、前記ホルダー
部材２９……により試料１のピン部材２……をそれぞれ
把持して、移動部材２０を上昇させることにより、多数
本のピン部材に対する引張り強度の試験を行う装置を構
成している。前記引張り試験装置本体１１には、電源ス
イッチ１７の他に、前記図１５に示したような調整つま
み等を配置して、装置の動作の制御を行うとともに、試
験により得られる情報を伝達して処理するコンピュータ
３０を接続している。そして、前記コンピュータ３０で
処理した情報は、モニタ３１で目視できるとともに、プ
リンタ３２を用いて記録できるようにして、多数のピン
部材に対して一度に試験した結果の情報を、コンピュー
タにより容易に処理できるようにする。

【０００９】図２に示す例は、前記引張り試験装置１０
の試料保持部材と、ピン部材の把持部材の関係を示して
いるもので、試料１を保持する試料固定治具１２は、固
定ネジ１４を用いて、試料１を正確に位置決めして保持
する手段を設けており、前記試料固定治具１２は図１に
示すようにして、引張り試験装置本体の所定の位置に固
定配置されている。また、装置本体１１の上部に配置す
る移動部材２０では、センサを配置する測定部２１に対
して、カバー部材２４を介して各々のホルダー部材２９
を配置しており、前記ホルダー部材２９のそれぞれは、
測定の対象とされるピン部材２に対応させて、所定のパ
ターンにしたがって設けている。前述したような引張り
試験装置による測定の対象とされる試料は、図３に示さ
れるように試料固定治具１２に対して固定保持されるも
ので、試料１の座標軸の原点５を、試料固定治具１２の
基準マーク１３に対して正確に位置決めした状態で、固
定ネジ１４を用いて固定保持する。そして、前記図１４
に示される例と同様に、非常に多数本のコンタクトピン
を設けた試料に対して、指定するピン部材２……のそれ
ぞれを、移動部材に設けたホルダー部材により把持さ
せ、移動部材を上昇させる動作を行うことにより、ピン
部材の引張り強度と、伸び率の情報を得ることができる
ようにする。

【００１０】前記図１に示される引張り試験装置は、具
体的には、図４に示すように構成されるもので、引張り
試験装置本体１１の両側部分には、直立部を介して昇降
用駆動装置１６、１６ａを配置して、移動部材２０を上
下方向に移動させる動作を行う。また、前記移動部材２
０の本体側には測定部２１を介してホルダー部材２９…
…を配置し、前記ホルダー部材２９に対応させてカバー
部材２４をそれぞれ設けており、ホルダー部材２９の支
持ロッド２６の上部には、ホルダー駆動部材２３とセン
サ２２とをそれぞれのホルダー部材に対応させて配置
し、前記センサでの検知情報は、信号線３３を介してコ
ンピュータ３０に伝達する。さらに、電子回路基板等の
試料１にはピン部材に接続される内部配線４が配線され
ており、前記内部配線４に対応させて試料固定治具１２
との間に導電性の部材で構成するパッド１５を配置し、
前記パッド１５とホルダー部材２９を支持する支持ロッ
ド２６との間を導通させ、ピン部材２の破断の検知を行
う手段を構成している。なお、前記図４に示される引張
り試験装置１０の例においては、装置本体１１に制御用
のスイッチ部材等を配置することの他に、コンピュータ
３０に設けた入力キーを用いて各動作の制御を行うこと
ができ、前記図１５に示されたように、各種のボタンを
用いた装置の動作の制御を、装置本体に配置するボタン
や、コンピュータの入力手段を介して行うことが可能で
ある。

【００１１】次に、図５、６にしたがって、本発明にお
ける試料とホルダー部材との関係を説明する。図５に示
すように、移動部材２０の下部に配置する測定部２１に
は、各々のホルダー部材２９に対応させて、ホルダー部
材を支持する支持ロッド２６を配置し、前記支持ロッド
２６を上下動させるために、ホルダー駆動部材２３を配
置するとともに、ホルダー部材が支持する荷重の検知を
行うためのセンサ２２を配置している。前記ホルダー駆
動部材２３は、ホルダー部材を上下動させるための部材
であるから、非常に小型のシリンダ装置、またはソレノ
イド等の部材を用いることができるもので、ホルダー駆
動部材２３によりホルダー部材を上下動させる動作によ
り、ホルダー部材によりピン部材２を把持する動作と、
開放の動作とを行うようにする。また、センサ２２は、
ストレスゲージ等の部材を用いることができるもので、
ピン部材を引張る動作を行う際に、センサに付与された
歪み等により、電気抵抗値が変化する情報等を用いて、
ピン部材に加えられた引張り強度の検知を行うことがで
きるようにする。なお、前記センサ２２とホルダー駆動
部材２３とは、前述したような部材の他に、任意の構成
の部材を使用することが可能である。そして、ピン部材
に対して引張り作用を加えている間に、ホルダー部材に
加えられる引張り力は、センサに付加されるので、その
センサの歪み等に対応する電気的な抵抗の変化の情報
を、コンピュータに伝達することにより、コンピュータ
に設定した計算式にもとづいて測定することができる。

【００１２】前記引張り試験装置においては、測定部２
１の下部に配置するホルダー部材２９と支持ロッド２６
を保護するように、円筒形状のカバー部材２４を配置し
ており、前記カバー部材２４の中央部に支持ロッド２６
が配置される。また、前記カバー部材２４の下部には、
内部突起部材２５を円筒の内部に向けて突出させて設け
ており、前記内部突起部材２５は支持ロッド２６の端部
でホルダー部材２９を取り付けるホルダー基部材２７に
対応させて設けている。前述したように構成したことに
より、ホルダー基部材２７を内部突起部材２５に当接さ
せる状態でホルダー部材２９を開き（後で詳細に説明す
る）、ホルダー基部材２７が内部突起部材２５から離れ
た状態では、ホルダー部材を閉じてピン部材を把持する
動作を行う。前記ホルダー部材２９は、２つの交差する
フィンガー部材により構成される例を示しており、前記
フィンガー部材は、図６に示されるように、支軸２８を
介してカバー部材２４の下部に配置される。

【００１３】なお、前記ホルダー部材２９のフィンガー
部材を開閉する動作を行うホルダー基部材２７は、任意
の構成を有する部材として構成することができるもの
で、例えば、ホルダー基部材２７が内部突起部材２５に
載る状態で、支持ロッド２６により押圧されることによ
り、ホルダー部材のフィンガー部材を自動的に開く動作
を行い、支持ロッドによりホルダー基部材が吊り上げら
れる状態で、ホルダー部材による把持の動作を行うよう
な機構を設けることや、その他に、任意の開閉のための
機構を設けることが可能である。そして、ピン部材を前
記ホルダー部材が把持した状態では、ピン部材に付与さ
れる引張り力の反力の大部分を、カバー部材２４を介し
て移動部材２０に負担させるが、前記引張り力の一部を
支持ロッド２６を介してセンサ２２に伝達し、ピン部材
の引張り強度の測定データとして用いることができるよ
うにする。前記図５、６に示す例では、ピン部材２の引
張り強度の試験を行う場合に対応させて説明しているも
のであるから、試料固定治具１２に設けた固定ネジ１４
により試料１を装置本体に固定保持させるようにしてい
る。

【００１４】次に、本発明の引張り試験装置を用いて、
ピン部材の引張り試験を行う際の動作について、図７な
いし図１２にしたがって説明する。図７に示す例におい
ては、ホルダー部材２９が試料１のピン部材２を把持し
ている状態を示しており、測定部２１に配置するセンサ
２２とコンピュータ等の情報処理装置との間に信号線３
３を接続して、引張り力の情報の伝達を行うようにす
る。また、支持ロッド２６に対しては、ホルダー駆動部
材２３を介して電線３４を接続し、試料１の内部配線４
と支持ロッド２６の間に、前記電線３４をパッド１５を
介して接続して、ピン部材２の切断の検知を行う手段を
構成している。本発明の引張り試験装置において、試料
１を試料固定治具１２に固定保持させるが、ホルダー部
材２９によりピン部材の把持を行う前の状態では、図８
に示されているように、支持ロッド２６とホルダー部材
２９の間に配置するホルダー基部材２７は、カバー部材
２４の内部突起部材２５に載った状態にあり、その状態
では、ホルダー部材２９の２つのフィンガー部材が開い
たままであり、その状態で、ホルダー部材２９を対応す
るピン部材２に位置決めする。

【００１５】前記図８に示すようにしてホルダー部材を
ピン部材に対して位置決めしてから、図９に示すよう
に、ホルダー部材２９がピン部材２の上部分を把持する
動作を行う。その際には、ホルダー駆動部材を駆動して
支持ロッド２６を上昇させることにより、ホルダー基部
材２７が上昇して内部突起部材２５から離間し、ホルダ
ー部材のフィンガー部材を閉じる動作を行わせるので、
ピン部材に対する引張り作用は、装置本体と移動部材の
間での引張り作用として行われる。前述したようにし
て、ピン部材に対して引張り作用が行われると、図１０
に示すように、最初にピン部材２の弱い部分が伸ばされ
て、符号２Ａで示すような変形部が発生する。次いで、
図１１に見られるように、符号２Ｂで示すように、ピン
部材の一部が大きく変形する部分が形成され、最後に
は、図１２に示すように、ピン部材２が切断される状態
となる。

【００１６】そこで、本発明の引張り試験装置において
は、ピン部材の上下に接続する電線３４の間で、電流が
流れなくなる状態を検知することにより、ピン部材の切
断の情報を得て、そのピン部材の切断に至るまでのセン
サから出力される張力の情報を用いて、ピン部材の引張
り強度の情報を得ることができる。また、図９に示すよ
うに、ホルダー部材がピン部材を把持した高さの位置Ｘ
と、図１１に示すように、ピン部材が切断される直前の
高さの位置Ｘ１との差を、ピン部材の伸び量の情報とし
て得ることが可能である。なお、前記ピン部材の伸び率
の情報を得る場合には、ピン部材をホルダー部材が掴ん
でから、移動部材を昇降用駆動装置により上昇させた距
離の情報を用いることが可能である。さらに、ピン部材
が切断されるまでの移動部材の上昇距離、つまり、ピン
部材の伸び量が非常に小さい場合には、昇降用駆動装置
に配置するステッピングモータに対して、印加する駆動
パルスの数の情報を用いて微小な移動距離を測定するこ
と、または、モータの回転数の情報を用いて、移動部材
の上昇距離として換算する等の手段を用いることも可能
である。

【００１７】前記引張り試験装置においては、試料に設
けた多数のピン部材の各々に対してホルダー部材を同時
に把持させて、測定の対象とするピン部材の全てについ
て、同時に引張り強度の試験を行うのであるから、各々
のホルダー部材に対応するセンサからの情報と、電線を
介してのピン部材の切断の情報をコンピュータにそれぞ
れ入力して、得られるデータを自動的に処理する。した
がって、移動部材に対して非常に多数のホルダー部材と
測定部材を配置して引張り試験装置を構成した場合で
も、多数のピン部材に対応する測定データの処理は、ピ
ン部材に対応するそれぞれの測定部材からコンピュータ
に向けて個別に入力されるので、そのデータの処理の動
作には支障は生じることがなく、信頼性の高い情報を得
ることが可能である。

【００１８】本発明の実施例において、前記図４に示し
た例では、ピン部材の引張り強度を測定するために、測
定部に配置したセンサの情報をコンピュータ３０に入力
して、情報の処理を行う場合で示したが、本発明におい
ては、図１３に示すように、伸び量の情報を処理する装
置として構成することも可能である。前記図１３に示す
引張り試験装置においては、試料１を保持する試料固定
治具１２に対してパッド１５を配置し、試料１の内部配
線４と装置本体の電気回路の間を導通させる、装置本体
１１とコンピュータ３０との間を電線３４を用いて接続
する。また、前記図７に示したように、測定部２１のホ
ルダー駆動部材２３と、コンピュータ３０の間にも電線
３４を接続して、前記コンピュータを介してピン部材２
に対して電流を流す経路を構成する。そして、前記ピン
部材２に対して引張り力を付与した際に、ピン部材の切
断に至るまでの移動部材の上昇量の情報と、各々のピン
部材の切断の情報とを用いて、ピン部材の伸び量のデー
タを得ることができるようにする。なお、前記伸び量の
データを得る場合には、各々のピン部材に対応させて配
置する電線からの情報と、移動部材の上昇距離の情報と
を組み合わせることができる。

【００１９】前記図４または図１３に示した引張り試験
装置においては、各ピン部材に対応させて、引張り強度
と伸び量との２つのデータを同時に得る装置を構成する
ことも可能であり、その場合には、前記図７に示したよ
うな回路をコンピュータとの間に接続して構成する。前
述したように、引張り試験装置１０を用いて試料のピン
部材に対する測定装置を構成する場合に、移動部材２０
には、測定するピン部材の全てに対応させたホルダー部
材を配置することができるもので、それぞれの測定用の
ピン部材に対してホルダー部材を正確に位置決めするた
めに、移動部材の位置を微調整する機構を設けることが
可能である。そして、ピン部材に対する測定を行う際に
は、試料固定治具１２に対して図３に示したように、試
料１の原点５を基準マーク１３に合わせて固定し、その
試料の原点の位置に対して、測定の対象とするピン部材
のそれぞれのアドレスにしたがって、ホルダー部材によ
る把持の動作を行わせるようにする。したがって、移動
部材に配置するホルダー部材の全てがピン部材のそれぞ
れを把持する動作を同時に行うことはなく、任意に設定
したアドレスのピン部材に対してのみ、引張り試験を行
うことができる。

【００２０】前記ホルダー部材によるピン部材の把持の
動作は、コンピュータに設けている入力キー等を用いて
行うこと、または、コンピュータにあらかじめセットし
ているパターンを用いて、オペレータが任意の試験のパ
ターンを選択することにより、多数のピン部材に対する
測定の動作を同時に行うことも可能である。そして、指
定されたピン部材に対応するホルダー部材では、それぞ
れのホルダー部材に対応して配置されるホルダー駆動部
材を作動させて、ホルダー部材がピン部材を把持する作
用を行い、移動部材を上昇させる動作によりピン部材を
引張る作用を行う。前述したようにしてピン部材に対す
る試験を行った場合に、全てのピン部材が切断された状
態では、各ホルダー部材にはピン部材の切断片が把持さ
れて残るので、試験の終了後に、図８に示したように、
ホルダー駆動部材を作動させてホルダー基部材２７を内
部突起部材２５の位置まで下降させ、ホルダー部材２９
のフィンガー部材を開かせる動作を行い、ピン部材の切
断片を落下させるようにして処理する。

【００２１】なお、本発明の実施例においては、非常に
多数本のピン部材を突出させて設けている電子回路基板
等を対象として、ピン部材の強度等を試験する例で説明
しているが、本発明の引張り試験装置は、電子回路基板
に限定されるものではない。その他に、任意のピン部材
を設けた試験片に対して、ピン部材の強度を調べる場合
や、ピン部材を取り付ける基部部材との間の接続強度、
その他の任意の情報を得るためにも適用することが可能
である。さらに、測定の動作により得られる情報の処理
に際しても、制御装置やコンピュータに対して、任意の
制御プログラムを設定して処理することが可能である。

【００２２】

【発明の効果】本発明の装置は、前述したように構成し
ているものであるから、試料から突出させて設けている
非常に多数のピン部材に対して、複数のピン部材を任意
に選択して引張り試験を行うことができ、ピン部材の引
張り試験を能率良く行うことが可能である。また、本発
明の引張り試験装置においては、移動部材に配置する多
数のホルダー部材に対して、ピン部材の把持の動作を行
うホルダー駆動部材をそれぞれ配置し、ホルダー部材に
よる把持の動作を自動的に行うので、試料のピン部材の
それぞれを把持する動作を個別にオペレータが行う必要
がなく、測定の動作に間違いが発生することを防止でき
る。そして、試料に配置する非常に多数のピン部材に対
して、各々のピン部材の強度を同時に測定することによ
り、測定の能率を向上させることが可能になる。さら
に、本発明においては、前記ホルダー部材に対してそれ
ぞれセンサを配置しているので、前記センサからの情報
を制御装置に入力することと、移動部材の上昇距離の情
報とを合わせて、引張り強度と伸び率の情報とを容易に
得ることが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の引張り試験装置の概略の構成を示す説
明図である。

【図２】図１の装置における要部の拡大説明図である。

【図３】試料を試料固定治具に固定する状態の説明図で
ある。

【図４】本発明の引張り試験装置の詳細な構成を示す説
明図である。

【図５】１つのホルダー部材とその周辺の測定部材の関
係を示す説明図である。

【図６】図５の外観の説明図である。

【図７】ピン部材の伸び量と切断の検知機構の構成を示
す説明図である。

【図８】ホルダー部材をピン部材に対して位置決めした
状態の説明図である。

【図９】ホルダー部材によりピン部材を把持した状態の
説明図である。

【図１０】ピン部材が引張り作用により少し伸びた状態
の説明図である。

【図１１】ピン部材が大きく伸びて切断される直前の状
態を示す説明図である。

【図１２】ピン部材が切断された状態の説明図である。

【図１３】引張り試験装置によりピン部材の切断のみを
検知する場合の説明図である。

【図１４】一般的な試料の平面図である。

【図１５】従来の引張り試験装置の構成を示す側面図で
ある。

【図１６】図１５の装置におけるホルダー部材とピン部
材の関係を示す説明図である。

【符号の説明】

１ 試料 ２ ピン部材 ３ 非測定用ピン部材 ４ 内部配線 １０ 引張り試験装置 １１ 装置本体 １２ 試料固定治具 １４ 固定ネジ １６ 昇降用駆動装置 ２０ 移動部材 ２１ 測定部 ２２ センサ ２３ ホルダー駆動部材 ２４ カバー部材 ２６ 支持ロッド ２７ ホルダー基部材 ２９ ホルダー部材 ３０ コンピュータ ３１ モニタ ３２ プリンタ ４０ 引張り試験装置 ４２ 試料固定治具 ４３ 昇降式支持部材 ４５ 固定板部材 ４６ ホルダー部材 ４７ 荷重センサ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 多数のピン部材を配置する試料を固定保
   持する部材を設けた装置本体と、 前記装置本体に対して離接する方向に移動可能な移動部
   材とを組み合わせて引張り試験装置を構成し、 前記引張り試験装置に配置する移動部材には、 試料に設けた多数本のピン部材を把持する多数のホルダ
   ー部材と、 前記各ホルダー部材に配置し、ピン部材の把持と開放を
   行うためのホルダー駆動部材と、 前記ホルダー部材の各々に対応させて配置する測定部材
   と、 を、設けた多ピン測定用引張り試験装置。
2. 【請求項２】 前記試料のピン部材の伸び量を検知する
   手段と、ピン部材の切断を検知する手段とを、各々のホ
   ルダー部材に対応させて配置する移動部材の測定部と、 前記多数のホルダー部材の各々に対して、選択的にピン
   部材の把持の動作を行わせる手段とを設けたことを特徴
   とする請求項１に記載の多ピン測定用引張り試験装置。