JPH09145647A - ハニカム成形体の内部欠陥検出方法および装置ならびにハニカム成形体製造用乾燥または焼成装置 - Google Patents
ハニカム成形体の内部欠陥検出方法および装置ならびにハニカム成形体製造用乾燥または焼成装置Info
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- JPH09145647A JPH09145647A JP7301643A JP30164395A JPH09145647A JP H09145647 A JPH09145647 A JP H09145647A JP 7301643 A JP7301643 A JP 7301643A JP 30164395 A JP30164395 A JP 30164395A JP H09145647 A JPH09145647 A JP H09145647A
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Landscapes
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- Catalysts (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡便かつ確実な方法でハニカム成形体のセル
流路内のき裂の有無を検出する方法および装置を提供す
る。 【解決手段】 隣接通路内を隔壁によって仕切られた互
いに平行な多数のセル通路の集合体からなるハニカム成
形体の内部欠陥検出装置において、ハニカム形成体１を
支持する手段５と、ハニカム成形体１の型側端面に対し
て局所的に、ハニカム成形体１と異なる温度の気体を供
給する手段２と、ハニカム成形体１の側面における温度
分布の経時変化から内部欠陥の状態を検出する赤外放射
温度画像解析装置４を備えること。
流路内のき裂の有無を検出する方法および装置を提供す
る。 【解決手段】 隣接通路内を隔壁によって仕切られた互
いに平行な多数のセル通路の集合体からなるハニカム成
形体の内部欠陥検出装置において、ハニカム形成体１を
支持する手段５と、ハニカム成形体１の型側端面に対し
て局所的に、ハニカム成形体１と異なる温度の気体を供
給する手段２と、ハニカム成形体１の側面における温度
分布の経時変化から内部欠陥の状態を検出する赤外放射
温度画像解析装置４を備えること。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ハニカム成形体の
内部欠陥検出方法および装置ならびにハニカム成形体製
造用乾燥または焼成装置に係り、特に、内部欠陥の有無
を簡便、迅速、正確に検出することのできるハニカム成
形体の内部欠陥検出方法および装置ならびにハニカム成
形体製造用乾燥または焼成装置に関するものである。
内部欠陥検出方法および装置ならびにハニカム成形体製
造用乾燥または焼成装置に係り、特に、内部欠陥の有無
を簡便、迅速、正確に検出することのできるハニカム成
形体の内部欠陥検出方法および装置ならびにハニカム成
形体製造用乾燥または焼成装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ハニカム形状は、単位体積当たりの接触
面積が大きくとれることから触媒の形状として採用され
ている。ハニカム触媒は原料ペーストを所定形状の格子
状スリットを有する口金から押出成形することによって
成形され、乾燥、焼成を経て製造されている。押出成形
の過程では、原料ペーストの不均質や可塑性不足、成形
時の温度むら、口金流路における加工精度むら等により
成形残留応力が発生し、乾燥や焼成時に割れが（き裂が
入った状態で、切れともいう）発生することがある。ま
た、成形時に均質に成形されたものでも乾燥時の水分む
らによる割れや、焼成時の温度むらに起因する応力割れ
が生じることもある。
面積が大きくとれることから触媒の形状として採用され
ている。ハニカム触媒は原料ペーストを所定形状の格子
状スリットを有する口金から押出成形することによって
成形され、乾燥、焼成を経て製造されている。押出成形
の過程では、原料ペーストの不均質や可塑性不足、成形
時の温度むら、口金流路における加工精度むら等により
成形残留応力が発生し、乾燥や焼成時に割れが（き裂が
入った状態で、切れともいう）発生することがある。ま
た、成形時に均質に成形されたものでも乾燥時の水分む
らによる割れや、焼成時の温度むらに起因する応力割れ
が生じることもある。
【０００３】これらの中でも、外周に発生する割れの場
合は、目視によっても十分判別することができるが、中
心部に発生した流路の流れ方向の割れや、直角方向の割
れを検出することは極めて困難である。極端な場合、内
部に欠陥が存在した状態で、このハニカム触媒を輸送し
たり使用したりすると、外力による振動や応力の発生に
より、破壊してしまうこともある。このため、ハニカム
成形体の内部欠陥を検査することは製品の品質管理の面
で極めて重要な項目である。
合は、目視によっても十分判別することができるが、中
心部に発生した流路の流れ方向の割れや、直角方向の割
れを検出することは極めて困難である。極端な場合、内
部に欠陥が存在した状態で、このハニカム触媒を輸送し
たり使用したりすると、外力による振動や応力の発生に
より、破壊してしまうこともある。このため、ハニカム
成形体の内部欠陥を検査することは製品の品質管理の面
で極めて重要な項目である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ハニカム成形体の検査
としては、次の方法が考えられているが、いずれも完全
な方法とは言いがたく、改善の余地が残されている。 光散乱法：ハニカムのセル流路内で、き裂が存在すれ
ば光が散乱するという原理を利用したもので、端面から
光を当て、反対側でその強度を測定し、その減衰度によ
ってセル流路内断面のき裂の有無を推定する方式であ
る。この方法によれば、口金流路の流動抵抗むらや、焼
成時の温度むらや触媒成分の微妙な酸化還元の差に起因
する光散乱強度の減衰との区別が困難である。
としては、次の方法が考えられているが、いずれも完全
な方法とは言いがたく、改善の余地が残されている。 光散乱法：ハニカムのセル流路内で、き裂が存在すれ
ば光が散乱するという原理を利用したもので、端面から
光を当て、反対側でその強度を測定し、その減衰度によ
ってセル流路内断面のき裂の有無を推定する方式であ
る。この方法によれば、口金流路の流動抵抗むらや、焼
成時の温度むらや触媒成分の微妙な酸化還元の差に起因
する光散乱強度の減衰との区別が困難である。
【０００５】打音法：振動を利用するものであり、セ
ル内のき裂の有無によってハニカム成形体の固有振動数
が異なる原理を利用した打音方式である。この方法で
は、極端なき裂は検出できても、小さなき裂の検出が困
難である。 Ｘ線法：直接Ｘ線を照射し撮影する方法である。この
場合にはハニカム成形体のセル流路方向のき裂の検出が
困難なことと、長尺ハニカム成形体の場合にはセル流路
に対して直角方向のき裂の検出も困難となる。
ル内のき裂の有無によってハニカム成形体の固有振動数
が異なる原理を利用した打音方式である。この方法で
は、極端なき裂は検出できても、小さなき裂の検出が困
難である。 Ｘ線法：直接Ｘ線を照射し撮影する方法である。この
場合にはハニカム成形体のセル流路方向のき裂の検出が
困難なことと、長尺ハニカム成形体の場合にはセル流路
に対して直角方向のき裂の検出も困難となる。
【０００６】伝熱抵抗法：金属製ハニカム構造体の検
査方法であり、セル接合部の不良部（欠陥）が熱伝導的
に極端な抵抗体となるため、一方向から熱を与えた場合
に欠陥の部分で不連続な温度変化が生じるという原理を
用いたものである。この場合には、形が大きくなった
り、熱伝導率が小さな材料では検出が困難である。 通ガスリーク法：発明者の発明にかかる未公知のハニ
カム成形体の特定セルに気体を流入させ、き裂が存在す
る場合に隣接するセルにこのき裂を介して気体が漏洩す
る流れの原理を用いたものである。この方法は、装置が
簡便でかつかなり細かなき裂でも検出できるため高精度
であり、抜き取り式の検査法としては十分満足いくもの
である。しかしながら、量産品を全数検査しようとする
と、製造工程で独立した検査工程を新たに設ける必要が
ある。
査方法であり、セル接合部の不良部（欠陥）が熱伝導的
に極端な抵抗体となるため、一方向から熱を与えた場合
に欠陥の部分で不連続な温度変化が生じるという原理を
用いたものである。この場合には、形が大きくなった
り、熱伝導率が小さな材料では検出が困難である。 通ガスリーク法：発明者の発明にかかる未公知のハニ
カム成形体の特定セルに気体を流入させ、き裂が存在す
る場合に隣接するセルにこのき裂を介して気体が漏洩す
る流れの原理を用いたものである。この方法は、装置が
簡便でかつかなり細かなき裂でも検出できるため高精度
であり、抜き取り式の検査法としては十分満足いくもの
である。しかしながら、量産品を全数検査しようとする
と、製造工程で独立した検査工程を新たに設ける必要が
ある。
【０００７】本発明の目的は、上記課題を解決するた
め、簡便かつ確実な方法でハニカム成形体のセル流路内
部のき裂の有無を検出する方法と装置を提供することに
ある。
め、簡便かつ確実な方法でハニカム成形体のセル流路内
部のき裂の有無を検出する方法と装置を提供することに
ある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本願で特許請求する発明は以下のとおりである。 （１）隣接通路間を隔壁によって仕切られた互いに平行
な多数のセル通路の集合体からなるハニカム成形体の内
部欠陥検出方法において、前記ハニカム成形体の片側端
面から一個または複数個のセル通路内に、該ハニカム成
形体と異なる温度の気体を供給し、該ハニカム成形体外
側面における温度分布の状態から内部欠陥の状態を検出
することを特徴とするハニカム成形体の内部欠陥検出方
法。
本願で特許請求する発明は以下のとおりである。 （１）隣接通路間を隔壁によって仕切られた互いに平行
な多数のセル通路の集合体からなるハニカム成形体の内
部欠陥検出方法において、前記ハニカム成形体の片側端
面から一個または複数個のセル通路内に、該ハニカム成
形体と異なる温度の気体を供給し、該ハニカム成形体外
側面における温度分布の状態から内部欠陥の状態を検出
することを特徴とするハニカム成形体の内部欠陥検出方
法。
【０００９】（２）隣接通路間を隔壁によって仕切られ
た互いに平行な多数のセル通路の集合体からなるハニカ
ム成形体の内部欠陥検出装置において、前記ハニカム成
形体を支持する手段と、該ハニカム成形体の片側端面に
対して局所的に該ハニカム成形体と異なる温度の気体を
供給する手段と、該ハニカム成形体側面における温度分
布の経時変化から内部欠陥の状態を検出する赤外放射温
度画像解析装置とを備えたことを特徴とするハニカム成
形体の内部欠陥検出装置。
た互いに平行な多数のセル通路の集合体からなるハニカ
ム成形体の内部欠陥検出装置において、前記ハニカム成
形体を支持する手段と、該ハニカム成形体の片側端面に
対して局所的に該ハニカム成形体と異なる温度の気体を
供給する手段と、該ハニカム成形体側面における温度分
布の経時変化から内部欠陥の状態を検出する赤外放射温
度画像解析装置とを備えたことを特徴とするハニカム成
形体の内部欠陥検出装置。
【００１０】（３）隣接通路間を隔壁によって仕切られ
た互いに平行な多数のセル通路の集合体からなるハニカ
ム成形体製造用乾燥または焼成装置において、乾燥また
は焼成炉と、該炉による熱処理直後の蓄熱された状態の
ハニカム成形体を受けて支持する台と、この成形体の片
側端面から流路方向に対して冷却気体を供給する装置
と、冷却中に該成形体の側面の温度分布の経時変化を測
定して欠陥の有無を判別する装置とを装備したことを特
徴とするハニカム成形体製造用乾燥または焼成装置。
た互いに平行な多数のセル通路の集合体からなるハニカ
ム成形体製造用乾燥または焼成装置において、乾燥また
は焼成炉と、該炉による熱処理直後の蓄熱された状態の
ハニカム成形体を受けて支持する台と、この成形体の片
側端面から流路方向に対して冷却気体を供給する装置
と、冷却中に該成形体の側面の温度分布の経時変化を測
定して欠陥の有無を判別する装置とを装備したことを特
徴とするハニカム成形体製造用乾燥または焼成装置。
【００１１】ハニカム成形体の個々のセルは壁によって
区切られ、独立した流路になっている。このような健全
な流路を有するハニカム成形体の片側端面の中央部だけ
に該成形体と異なる温度の流体を流すと、成形体の側面
では連続した温度分布をとりながら上流から徐々に流入
気体の温度に近づいていく。ところが、セル流路内の中
央部において、流路方向に対して直角方向や平行方向に
き裂が存在する場合には、き裂を介して気体流路がつな
がることになる。そのため、ハニカム成形体の片側端面
の中央部だけに局所的にハニカム成形体と異なる温度の
流体を流入させると、成形体の側面では不連続な温度分
布が発生し、健全なハニカムの場合と比べると短時間に
流入気体の温度に近づいていくことになる。
区切られ、独立した流路になっている。このような健全
な流路を有するハニカム成形体の片側端面の中央部だけ
に該成形体と異なる温度の流体を流すと、成形体の側面
では連続した温度分布をとりながら上流から徐々に流入
気体の温度に近づいていく。ところが、セル流路内の中
央部において、流路方向に対して直角方向や平行方向に
き裂が存在する場合には、き裂を介して気体流路がつな
がることになる。そのため、ハニカム成形体の片側端面
の中央部だけに局所的にハニカム成形体と異なる温度の
流体を流入させると、成形体の側面では不連続な温度分
布が発生し、健全なハニカムの場合と比べると短時間に
流入気体の温度に近づいていくことになる。
【００１２】
【発明の実施の形態】この現象を図２によって説明す
る。たとえば成形体の片側端面の中央部のみに、ハニカ
ム成形体よりも温度の高い空気を流す。すると、最上流
側の横割れに到達するまでは流れにのった熱の大半は高
温空気を供給したセルの下流側だけに運ばれ、側面近傍
セルには高温空気が流れない状態となる（一部の熱は流
路の断面方向に伝導によって移動するが量的には少な
い）。このため、この領域の側面温度分布は連続的とな
る。しかし、最上流側のき裂に到達すると、き裂の先端
に位置するセルのところまで流路が拡大され、高温空気
が側面近傍のセルまで流れることになり、当然それにの
って熱が運ばれるため、き裂より下流側の側面温度は上
流部側面温度分布よりも局所的に高くなる。したがっ
て、き裂の位置で温度分布が不連続になる。この温度分
布の不連続現象は、空気温度がハニカム成形体より高く
ても低くてもよく、温度差が大きいほど検出精度が向上
する。図２は成形体より温度の低い冷却空気を片側端面
の中央部に流した場合のき裂部での側面温度分布の不連
続状況を示している。
る。たとえば成形体の片側端面の中央部のみに、ハニカ
ム成形体よりも温度の高い空気を流す。すると、最上流
側の横割れに到達するまでは流れにのった熱の大半は高
温空気を供給したセルの下流側だけに運ばれ、側面近傍
セルには高温空気が流れない状態となる（一部の熱は流
路の断面方向に伝導によって移動するが量的には少な
い）。このため、この領域の側面温度分布は連続的とな
る。しかし、最上流側のき裂に到達すると、き裂の先端
に位置するセルのところまで流路が拡大され、高温空気
が側面近傍のセルまで流れることになり、当然それにの
って熱が運ばれるため、き裂より下流側の側面温度は上
流部側面温度分布よりも局所的に高くなる。したがっ
て、き裂の位置で温度分布が不連続になる。この温度分
布の不連続現象は、空気温度がハニカム成形体より高く
ても低くてもよく、温度差が大きいほど検出精度が向上
する。図２は成形体より温度の低い冷却空気を片側端面
の中央部に流した場合のき裂部での側面温度分布の不連
続状況を示している。
【００１３】この検査の特徴は、ハニカム成形体と異な
る温度の気体を通せば評価できるというところにある。
このため、ハニカム成形体の製造プロセスにおける熱処
理工程と組み合わせることにより、特別な工程を設けず
とも自動的に検査することが可能となる。それには、少
なくとも次の構成要素が必要となる。すなわち、検出装
置を乾燥器または成形炉の取り出し口に装備したもので
あって、熱処理直後の蓄熱された状態のハニカム成形体
を受ける台と、流路方向の局所断面に対して冷却ガスを
供給する装置と、冷却中に側面の温度分布の経時変化を
測定し、欠陥の有無を判別する該欠陥検出装置とを装備
すればよい。
る温度の気体を通せば評価できるというところにある。
このため、ハニカム成形体の製造プロセスにおける熱処
理工程と組み合わせることにより、特別な工程を設けず
とも自動的に検査することが可能となる。それには、少
なくとも次の構成要素が必要となる。すなわち、検出装
置を乾燥器または成形炉の取り出し口に装備したもので
あって、熱処理直後の蓄熱された状態のハニカム成形体
を受ける台と、流路方向の局所断面に対して冷却ガスを
供給する装置と、冷却中に側面の温度分布の経時変化を
測定し、欠陥の有無を判別する該欠陥検出装置とを装備
すればよい。
【００１４】
【実施例】本発明の実施例を図１を用いて説明する。ま
ず、供試ハニカム成形体１を検査台５にのせる。ここで
用いた成形体は、外形１５０mm角、セル数２１×２１、
セルピッチ７．０mmp 、リブ厚１．０mmt 、のハニカム
脱硝触媒で、側面から２〜３セルまでセル中央部より流
路方向に対して直角方向にき裂の入ったものである（検
査後内部を切断してわかった）。次にハニカム成形体の
片側端面から８０mmφの単穴を有する堰３を端面に当
て、成形体の中心軸と堰穴の中心がほぼ一致するように
固定し、温風発生機のダクト２を装着する。この状態
で、成形体の側面から赤外放射温度画像処理装置４によ
って監視を始め、さらに該ダクトからハニカム中心軸付
近に温風を流入させる。ここで、赤外放射温度画像処理
装置として、観測波長が８〜１３μm である工業用サー
モグラフィ装置を用いた。また、温風条件として、成形
体よりも約４０℃温度の高い空気を約５m/s で流入させ
た。
ず、供試ハニカム成形体１を検査台５にのせる。ここで
用いた成形体は、外形１５０mm角、セル数２１×２１、
セルピッチ７．０mmp 、リブ厚１．０mmt 、のハニカム
脱硝触媒で、側面から２〜３セルまでセル中央部より流
路方向に対して直角方向にき裂の入ったものである（検
査後内部を切断してわかった）。次にハニカム成形体の
片側端面から８０mmφの単穴を有する堰３を端面に当
て、成形体の中心軸と堰穴の中心がほぼ一致するように
固定し、温風発生機のダクト２を装着する。この状態
で、成形体の側面から赤外放射温度画像処理装置４によ
って監視を始め、さらに該ダクトからハニカム中心軸付
近に温風を流入させる。ここで、赤外放射温度画像処理
装置として、観測波長が８〜１３μm である工業用サー
モグラフィ装置を用いた。また、温風条件として、成形
体よりも約４０℃温度の高い空気を約５m/s で流入させ
た。
【００１５】温風を流し始めてから約３０s 経過した時
の温度分布を図３に示す。成形体の側面において、明ら
かに不連続な温度分布が生じていることがわかる。この
成形体を切断し内部を観察したところ、温度分布の不連
続部にき裂が存在していることがわかった。ここでの検
出精度は、セル寸法や空気条件、温度画像処理装置の測
定レンジによっても変わり得る。このため、き裂と温度
分布の相関をつかみ、温度分布が連続的か不連続かの判
定基準を設定すればよい。
の温度分布を図３に示す。成形体の側面において、明ら
かに不連続な温度分布が生じていることがわかる。この
成形体を切断し内部を観察したところ、温度分布の不連
続部にき裂が存在していることがわかった。ここでの検
出精度は、セル寸法や空気条件、温度画像処理装置の測
定レンジによっても変わり得る。このため、き裂と温度
分布の相関をつかみ、温度分布が連続的か不連続かの判
定基準を設定すればよい。
【００１６】このような結果は、図４に示すように、焼
成炉から取り出した約６０℃のハニカム脱硝触媒に約２
０℃の室温空気を通した場合に認められ、不連続な温度
分布が内部欠陥と対応することがわかった。本発明の他
の実施例を図５に示す。本装置は、ハニカム形成体の内
部欠陥検出装置を装備した熱処理炉である。本装置の構
成は次のとおりである。まず熱処理炉（この場合は乾燥
器）６を用い８０℃、湿度７０％付近の環境でハニカム
成形体の水分を除去するものである。その乾燥器には処
理した成形体を取り出すコンベア７（コンベアにより連
続的処理できるタイプのものはコンベアをそのまま利用
可、バッチ式の場合は取り出し口にコンベアを接続す
る）が装着されている。そのコンベアの側面部には、冷
却および欠陥検出用空気を供給する空気ダクト２が取り
付けられている。そのダクトの上方には空気によって冷
却される過程での成形体の側面の温度分布を検出するた
めの赤外放射温度画像処理装置４が装着され、温度分布
が連続であるか不連続であるかをあるしきい値を基準に
判定し、その結果を欠陥判定マーカ８によって直接成形
体に明記するものである。これによって、自動的に内部
欠陥を検査し、判別することができる。また特に検査工
程を設けなくても済む。
成炉から取り出した約６０℃のハニカム脱硝触媒に約２
０℃の室温空気を通した場合に認められ、不連続な温度
分布が内部欠陥と対応することがわかった。本発明の他
の実施例を図５に示す。本装置は、ハニカム形成体の内
部欠陥検出装置を装備した熱処理炉である。本装置の構
成は次のとおりである。まず熱処理炉（この場合は乾燥
器）６を用い８０℃、湿度７０％付近の環境でハニカム
成形体の水分を除去するものである。その乾燥器には処
理した成形体を取り出すコンベア７（コンベアにより連
続的処理できるタイプのものはコンベアをそのまま利用
可、バッチ式の場合は取り出し口にコンベアを接続す
る）が装着されている。そのコンベアの側面部には、冷
却および欠陥検出用空気を供給する空気ダクト２が取り
付けられている。そのダクトの上方には空気によって冷
却される過程での成形体の側面の温度分布を検出するた
めの赤外放射温度画像処理装置４が装着され、温度分布
が連続であるか不連続であるかをあるしきい値を基準に
判定し、その結果を欠陥判定マーカ８によって直接成形
体に明記するものである。これによって、自動的に内部
欠陥を検査し、判別することができる。また特に検査工
程を設けなくても済む。
【００１７】この結果は、検出装置を連続燃焼炉の出口
部に装備した場合も同様に、自動欠陥検査が可能であっ
た。
部に装備した場合も同様に、自動欠陥検査が可能であっ
た。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、ハニカム成形体の片側
端面に対して局所的に、成形体と異なる温度の気体を供
給する手段と、前記成形体側面における温度分布から内
部欠陥を検出する装置とを備えたことにより、また、ハ
ニカム成形体の片側端面から該成形体と異なる温度の気
体を供給し、該成形体の外側面における温度分布から内
部欠陥の状態を検出するようにしたことにより、短時間
に、側面近傍まで延びた横割れ（流路方向に対して直角
方向の割れ）の検査が可能となり、また熱処理装置に組
み合わせて自動検査することにより、検査に伴う工数を
ほとんど増加することなく、ハニカム成形体の内部欠陥
を検出することができる。
端面に対して局所的に、成形体と異なる温度の気体を供
給する手段と、前記成形体側面における温度分布から内
部欠陥を検出する装置とを備えたことにより、また、ハ
ニカム成形体の片側端面から該成形体と異なる温度の気
体を供給し、該成形体の外側面における温度分布から内
部欠陥の状態を検出するようにしたことにより、短時間
に、側面近傍まで延びた横割れ（流路方向に対して直角
方向の割れ）の検査が可能となり、また熱処理装置に組
み合わせて自動検査することにより、検査に伴う工数を
ほとんど増加することなく、ハニカム成形体の内部欠陥
を検出することができる。
【図１】本発明のハニカム成形体欠陥検出装置を示す
図。
図。
【図２】本発明装置の検出原理の説明図。
【図３】本発明のハニカム成形体欠陥検出装置で得られ
た赤外放射熱画像図（成形体温度＜供給空気温度）。
た赤外放射熱画像図（成形体温度＜供給空気温度）。
【図４】本発明のハニカム成形体欠陥検出装置で得られ
た赤外放射熱画像図（成形体温度＞供給空気温度）。
た赤外放射熱画像図（成形体温度＞供給空気温度）。
【図５】本発明の欠陥検出装置を組み込んだ熱処理炉を
示す図。
示す図。
１…ハニカム成形体、２…供給空気ダクト、３…堰、４
…赤外放射温度画像解析装置、５…検査台、６…熱処理
炉（乾燥器）、７…コンベア、８…欠陥判定マーカ。
…赤外放射温度画像解析装置、５…検査台、６…熱処理
炉（乾燥器）、７…コンベア、８…欠陥判定マーカ。
Claims (3)
- 【請求項１】 隣接通路間を隔壁によって仕切られた互
いに平行な多数のセル通路の集合体からなるハニカム成
形体の内部欠陥検出方法において、前記ハニカム成形体
の片側端面から一個または複数個のセル通路内に、該ハ
ニカム成形体と異なる温度の気体を供給し、該ハニカム
成形体外側面における温度分布の状態から内部欠陥の状
態を検出することを特徴とするハニカム成形体の内部欠
陥検出方法。 - 【請求項２】 隣接通路間を隔壁によって仕切られた互
いに平行な多数のセル通路の集合体からなるハニカム成
形体の内部欠陥検出装置において、前記ハニカム成形体
を支持する手段と、該ハニカム成形体の片側端面に対し
て局所的に該ハニカム成形体と異なる温度の気体を供給
する手段と、該ハニカム成形体側面における温度分布の
経時変化から内部欠陥の状態を検出する赤外放射温度画
像解析装置とを備えたことを特徴とするハニカム成形体
の内部欠陥検出装置。 - 【請求項３】 隣接通路間を隔壁によって仕切られた互
いに平行な多数のセル通路の集合体からなるハニカム成
形体製造用乾燥または焼成装置において、乾燥または焼
成炉と、該炉による熱処理直後の蓄熱された状態のハニ
カム成形体を受けて支持する台と、この成形体の片側端
面から流路方向に対して冷却気体を供給する装置と、冷
却中に該成形体の側面の温度分布の経時変化を測定して
欠陥の有無を判別する装置とを装備したことを特徴とす
るハニカム成形体製造用乾燥または焼成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7301643A JPH09145647A (ja) | 1995-11-20 | 1995-11-20 | ハニカム成形体の内部欠陥検出方法および装置ならびにハニカム成形体製造用乾燥または焼成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7301643A JPH09145647A (ja) | 1995-11-20 | 1995-11-20 | ハニカム成形体の内部欠陥検出方法および装置ならびにハニカム成形体製造用乾燥または焼成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09145647A true JPH09145647A (ja) | 1997-06-06 |
Family
ID=17899415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7301643A Pending JPH09145647A (ja) | 1995-11-20 | 1995-11-20 | ハニカム成形体の内部欠陥検出方法および装置ならびにハニカム成形体製造用乾燥または焼成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09145647A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008170409A (ja) * | 2006-04-20 | 2008-07-24 | Ibiden Co Ltd | ハニカム焼成体の検査方法、及び、ハニカム構造体の製造方法 |
| US9709457B2 (en) | 2013-07-11 | 2017-07-18 | Denso Corporation | Method of detecting defects in honeycomb structural body |
| JP2022545552A (ja) * | 2019-08-30 | 2022-10-27 | コーニング インコーポレイテッド | ハニカム体の検品システムおよび方法 |
| US12111230B2 (en) | 2019-03-14 | 2024-10-08 | Corning Incorporated | Thermal gas inspection of plugged honeycomb body |
-
1995
- 1995-11-20 JP JP7301643A patent/JPH09145647A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008170409A (ja) * | 2006-04-20 | 2008-07-24 | Ibiden Co Ltd | ハニカム焼成体の検査方法、及び、ハニカム構造体の製造方法 |
| US9709457B2 (en) | 2013-07-11 | 2017-07-18 | Denso Corporation | Method of detecting defects in honeycomb structural body |
| US12111230B2 (en) | 2019-03-14 | 2024-10-08 | Corning Incorporated | Thermal gas inspection of plugged honeycomb body |
| JP2022545552A (ja) * | 2019-08-30 | 2022-10-27 | コーニング インコーポレイテッド | ハニカム体の検品システムおよび方法 |
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