JPH09147560A - 半導体記憶装置におけるデータ伝送路のショート方法及び半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置におけるデータ伝送路のショート方法及び半導体記憶装置

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JPH09147560A
JPH09147560A JP7301743A JP30174395A JPH09147560A JP H09147560 A JPH09147560 A JP H09147560A JP 7301743 A JP7301743 A JP 7301743A JP 30174395 A JP30174395 A JP 30174395A JP H09147560 A JPH09147560 A JP H09147560A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】同一のデータバスを使用し、かつ、データを相
補信号化して伝送することによりデータのリード及びラ
イトを行うようにされた半導体記憶装置、例えば、SD
RAMに関し、リード及びライトの高速化を図る。 【解決手段】ライト時におけるデータバスのショート解
除のタイミングをリード時におけるデータバスのショー
ト解除のタイミングよりも前に設定し、動作サイクルを
短くする場合において、リード時には、データバスを完
全にプリチャージ電圧にプリチャージした後に、センス
アンプが確保するデータをデータバスに伝送するように
した場合においても、ライト時、選択されたセルに対す
るライト動作が終了する前に、データバスがショートさ
れてしまい、プリチャージ動作が開始されてしまうこと
を避ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、同一のデータ伝送
路を使用し、かつ、データを相補信号化して伝送するこ
とによりデータのリード及びライトを行うように構成さ
れる半導体記憶装置におけるデータ伝送路のショート方
法、及び、このような半導体記憶装置に関する。
【0002】同一のデータ伝送路を使用し、かつ、デー
タを相補信号化して伝送することによりデータのリード
及びライトを行う半導体記憶装置として、たとえば、ダ
イナミック・ランダム・アクセス・メモリ(以下、DR
AMという)が知られているが、特に、シンクロナスD
RAM(以下、SDRAMという)や、100MHz以
上の動作サイクルが要求される非同期型の高速DRAM
において、更なる高速化を図るためには、データ伝送路
を構成する対をなすデータバスのプリチャージのための
ショートの解除タイミングを考慮する必要がある。
【0003】
【従来の技術】従来、SDRAMとして、たとえば、図
9に、その構成を概略的に示すようなものが知られてい
る。図9中、1はチップ本体、2〜5はメモリセル(以
下、単にセルという)領域であり、2点鎖線Xで囲む部
分は、セル領域2及びその周辺回路の一部を拡大して示
すものである。
【0004】セル領域2において、6はセルが配列され
たセル・アレー、7〜10はセル、WL0、WL1はセ
ルの選択を行うワード線、BL0、/BL0、BL1、
/BL1はデータ伝送路をなすビット線である。
【0005】図10はセル7の構成を示す回路図であ
り、12は記憶媒体をなすキャパシタ、いわゆる、セル
・キャパシタ、13はワード線WL0を介して導通(以
下、ONという)、非導通(以下、OFFという)が制
御される電荷入出力制御用のトランジスタ、いわゆる、
セル・トランジスタ、VCPはセル・プレート電圧であ
る。セル8〜10等、他のセルも同様に構成されてい
る。
【0006】また、図9において、15は対をなすビッ
ト線間の電圧差を増幅するセンスアンプ(S/A)が配
列されたセンスアンプ列であり、16はビット線BL
0、/BL0に対応して設けられているセンスアンプ、
17はビット線BL1、/BL1に対応して設けられて
いるセンスアンプである。
【0007】図11はセンスアンプ16の構成を示す回
路図であり、19〜22は増幅動作を行うトランジスタ
であり、19、20はプルアップ用のpMOSトランジ
スタ、21、22はプルダウン用のnMOSトランジス
タである。
【0008】また、23はセンスアンプ活性化信号/S
AEによりON、OFFが制御されるpMOSトランジ
スタ、24はセンスアンプ活性化信号SAEによりO
N、OFFが制御されるnMOSトランジスタ、VCC
は電源電圧、VSSは接地電圧である。
【0009】また、図9において、26はコラムの選択
を行うコラムゲート(CG)が配列されたコラムゲート
列であり、27はビット線BL0、/BL0に対応して
設けられているコラムゲート、28はビット線BL1、
/BL1に対応して設けられているコラムゲートであ
る。
【0010】図12はコラムゲート27、28の構成を
示す回路図であり、30、31はコラム選択信号CL0
によってON、OFFが制御されるnMOSトランジス
タ、32、33はコラム選択信号CL1によってON、
OFFが制御されるnMOSトランジスタである。
【0011】また、図9において、LDB、/LDBは
複数のコラムに共用される対をなすデータ伝送路をなす
ローカル・データバス、35はデータバス・スイッチで
あり、36、37はデータバス・スイッチ選択信号DS
LによりON、OFFが制御されるnMOSトランジス
タである。
【0012】また、GDB、/GDBは複数のローカル
・データバス対に共用されるグローバル・データバス、
39はショート信号SHによってON、OFFが制御さ
れるnMOSトランジスタ(以下、ショート・トランジ
スタという)である。
【0013】また、40はリード(読出し)・データD
Oのリードを行うリード回路をなすセンスバッファ(S
/B)、41はライト(書込み)・データDIのライト
を行うライト回路をなすライトアンプ(W/A)であ
る。
【0014】なお、ショート・トランジスタ39は、セ
ンスバッファ40の入力端の近く、即ち、ライトアンプ
41の出力端の近くにおいて、グローバル・データバス
GDB、/GDBをショートするように配置されてい
る。
【0015】ここに、センスバッファ40は、図13に
示すように構成されている。図13中、43はグローバ
ル・データバスGDB、/GDBを電源電圧VCCより
も低いプリチャージ電圧VPにプリチャージするための
プリチャージ回路である。
【0016】このプリチャージ回路43において、4
4、45はプリチャージ信号PCによりON、OFFが
制御されるnMOSトランジスタであり、プリチャージ
信号PCはコラム系が動作する場合は、電源電圧VCC
に固定される。
【0017】また、46、47はカレント・ミラー増幅
回路であり、カレント・ミラー増幅回路46において、
48、49は入力トランジスタをなすpMOSトランジ
スタ、50、51はカレント・ミラー回路を構成するn
MOSトランジスタ、52は活性、非活性を制御するp
MOSトランジスタ、53は活性、非活性を制御するn
MOSトランジスタである。
【0018】また、カレント・ミラー増幅回路47にお
いて、54、55は入力トランジスタをなすpMOSト
ランジスタ、56、57はカレント・ミラー回路を構成
するnMOSトランジスタ、58は活性、非活性を制御
するpMOSトランジスタであり、59は活性、非活性
を制御するnMOSトランジスタである。
【0019】また、60、61はフリップフロップ回路
を構成するNOR回路、62はNOR回路60の出力を
反転してリード・データDOを出力するインバータ(反
転回路)である。
【0020】また、REはリード動作を設定するリード
・イネーブル信号、63はリード・イネーブル信号RE
を反転するインバータであり、リード・イネーブル信号
REは、リード動作を設定する場合にはHレベル、ライ
ト動作を設定する場合にはLレベルとされる。
【0021】また、64はNOR回路61の出力とイン
バータ63の出力とをNOR処理するNOR回路、65
はNOR回路64の出力を反転するインバータ、66は
インバータ65の出力によりON、OFFが制御される
nMOSトランジスタであり、pMOSトランジスタ5
8及びnMOSトランジスタ59もインバータ65の出
力によりON、OFFが制御される。
【0022】また、67はNOR回路60の出力とイン
バータ63の出力とをNOR処理するNOR回路、68
はNOR回路67の出力を反転するインバータ、69は
インバータ68の出力によりON、OFFが制御される
nMOSトランジスタであり、pMOSトランジスタ5
2及びnMOSトランジスタ53もインバータ68の出
力によりON、OFFが制御される。
【0023】このセンスバッファ40においては、リー
ド時、グローバル・データバスGDB、/GDB上のデ
ータが反転すると、カレント・ミラー増幅回路46、4
7の一方が動作してリード・データDOを確定し、動作
したカレント・ミラー増幅回路が非活性とされると共
に、非活性とされていた他方のカレント・ミラー増幅回
路が、活性状態とされ、次のグローバル・データバスG
DB、/GDB上のデータの反転時に動作するようにス
タンバイされる。
【0024】即ち、このセンスバッファ40は、リード
・データDOが、「1」→「0」→「1」→「0」と反
転を繰り返す場合、カレント・ミラー増幅回路46、4
7は、交互に動作し、アクセスに遅れがでないようにし
たものである。
【0025】また、ライトアンプ41は、図14に示す
ように構成されている。図14中、71、72はライト
・データDIを反転するインバータ、73はインバータ
71の出力を反転するインバータである。
【0026】また、WEはライト動作を設定するライト
・イネーブル信号であり、このライト・イネーブル信号
WEは、ライト動作を設定する場合にはHレベル、リー
ド動作を設定する場合にはLレベルとされる。
【0027】また、74はライト・イネーブル信号WE
を反転するインバータ、75はpMOSトランジスタ7
5A及びnMOSトランジスタ75Bからなる伝送ゲー
ト、76はpMOSトランジスタ76A及びnMOSト
ランジスタ76Bからなる伝送ゲートである。
【0028】このライトアンプ41は、ライト・イネー
ブル信号WE=Hレベルとされる場合には、伝送ゲート
75、76がONとなり、活性状態とされ、ライト・イ
ネーブル信号WE=Lレベルとされる場合には、伝送ゲ
ート75、76がOFFとなり、非活性状態とされる。
【0029】このSDRAMにおいては、リード時、選
択されたセルからビット線に放電される電荷又はビット
線から選択されたセルに充電される電荷によるビット線
対の電圧差がセンスアンプにより増幅される。
【0030】そして、その後、選択されたコラムのビッ
ト線がローカル・データバスに接続されると共に、選択
されたローカル・データバスがグローバル・データバス
GDB、/GDBに接続され、選択されたセルのデータ
が相補信号としてセンスアンプからローカル・データバ
ス及びグローバル・データバスGDB、/GDBを介し
てセンスバッファ40に伝送される。
【0031】図15はリード動作の一例を示す波形図で
あり、センスアンプ16からの「0」の出力と、センス
アンプ17からの「1」の出力とを繰り返して行う場合
を示している。
【0032】なお、図15Aには、外部から供給される
外部クロックCLKの電圧波形、コラム選択信号CL
0、CL1の電圧波形及びショート信号SHの電圧波形
を示し、図15Bには、外部クロックCLKの電圧波
形、ビット線BL0、/BL0、BL1、/BL1の電
圧変化、ローカル・データバスLDB、/LDBの電圧
変化及びグローバル・データバスGDB、/GDBの電
圧変化を示している。
【0033】このように、連続したリード動作を行い、
かつ、小振幅によるデータの伝送を行うことで、高速な
リードを行うことができるが、一度リードした場合に
は、次のサイクルのリード動作を遅延させないように、
ショート・トランジスタ39をON状態とし、グローバ
ル・データバスGDB、/GDBをショートすることに
より、グローバル・データバスGDB、/GDB及び選
択されたローカル・データバスをプリチャージ電圧VP
にプリチャージする必要がある。
【0034】また、ライト時には、ライト・データDI
は、ライトアンプ41により相補信号化され、グローバ
ル・データバスGDB、/GDB、選択されたローカル
・データバスを介して、選択されたコラムのセンスアン
プに伝送され、ビット線を介して選択されたセルに書き
込まれる。
【0035】図16はライト動作の一例を示す波形図で
あり、センスアンプ16が「0」を検出し、センスアン
プ17が「1」を検出している場合において、センスア
ンプ16に「1」を伝送し、次に、センスアンプ17に
「0」を伝送し、次に、センスアンプ16に「1」を伝
送し、次に、センスアンプ17に「0」を伝送した場合
を示している。
【0036】なお、図16Aには、外部クロックCLK
の電圧波形、コラム選択信号CL0、CL1の電圧波形
及びショート信号SHの電圧波形を示し、図16Bに
は、外部クロックCLKの電圧波形、グローバル・デー
タバスGDB、/GDBの電圧変化、ローカル・データ
バスLDB、/LDBの電圧変化及びビット線BL0、
/BL0、BL1、/BL1の電圧変化を示している。
【0037】ここに、ライトアンプ41からグローバル
・データバスGDB、/GDBへ出力する相補信号の電
圧差は大きい方が高速なライトを行うことができるが、
一度ライトした場合には、次のサイクルのライト動作を
妨げないように、リード時の場合と同様に、ショート・
トランジスタ39をON状態とし、グローバル・データ
バスGDB、/GDBをショートすることにより、グロ
ーバル・データバスGDB、/GDB及び選択されたロ
ーカル・データバスをプリチャージ電圧VPにプリチャ
ージする必要がある。
【0038】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このSDR
AMにおいて、動作サイクルを短くして、高速化を図ろ
うとする場合には、センスアンプの駆動能力からして、
リード時には、選択されたローカル・データバス及びグ
ローバル・データバスGDB、/GDBを完全にプリチ
ャージ電圧VPにプリチャージした後に、センスアンプ
が確保するデータをローカル・データバスに伝送する必
要がある。
【0039】そして、また、このSDRAMにおいて
は、図15及び図16に示すように、グローバル・デー
タバスGDB、/GDBをショートしてプリチャージす
るタイミング及びショート期間を同一としているので、
グローバル・データバスGDB、/GDBをショートす
る期間は、リード時を基準とする必要がある。
【0040】しかし、このようにする場合には、ライト
時、ライトアンプ41からグローバル・データバスGD
B、/GDBに出力される相補信号の電圧差が十分な大
きさとなる前に、グローバル・データバスGDB、/G
DBがショートされてしまい、これが、リード及びライ
トの高速化を妨げてしまうという問題点があった。
【0041】ここに、このSDRAMにおいては、デー
タは、リード時には、選択されたセンスアンプ→選択さ
れたローカル・データバス→グローバル・データバスG
DB、/GDB→センスバッファ40の順に伝送され、
ライト時には、ライトアンプ41→グローバル・データ
バスGDB、/GDB→選択されたローカル・データバ
ス→選択されたセンスアンプの順に伝送される。
【0042】そして、また、ショート・トランジスタ3
9は、センスバッファ40の入力端の近く、即ち、ライ
トアンプ41の出力端の近くにおいて、グローバル・デ
ータバスGDB、/GDBをショートするように配置さ
れている。
【0043】即ち、ショート・トランジスタ39は、リ
ード時のデータ伝送のドライバであるセンスアンプから
見ると、遠い位置にあり、ライト時のデータ伝送のドラ
イバであるライトアンプ41から見ると、近い位置にあ
る。
【0044】この点を考慮した本発明者の実験、研究の
結果、動作サイクルを短くすると、リードの場合には、
グローバル・データバスGDB、/GDBのショートを
十分に行ってからデータ伝送の動作に入った方が高速に
なり、ライトの場合には、グローバル・データバスGD
B、/GDBのショート動作を、ある程度で解除し、そ
の後は、ライトアンプ41自身の駆動能力でグローバル
・データバスGDB、/GDB及び選択されたローカル
・データバス上のデータを反転させた方が高速になるこ
とが判明した。
【0045】本発明は、かかる点に鑑み、同一のデータ
伝送路を使用し、かつ、データを相補信号化して伝送す
ることによりデータのリード及びライトを行うように構
成される半導体記憶装置におけるデータ伝送路のショー
ト方法であって、リード及びライトの高速化を図ること
ができるようにした半導体記憶装置におけるデータ伝送
路のショート方法、及び、同一のデータバスを使用し、
かつ、データを相補信号化して伝送することによりデー
タのリード及びライトを行う半導体記憶装置であって、
リード及びライトの高速化を図ることができるようにし
た半導体記憶装置を提供することを目的とする。
【0046】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体記憶装置
におけるデータ伝送路のショート方法は、メモリセルが
接続され、リード時、その電圧差をセンスアンプにより
増幅される対をなす第1、第2のデータ伝送路と、コラ
ムゲートを介して第1、第2のデータ伝送路が接続さ
れ、かつ、リード回路及びライト回路が同一の端部側に
接続され、データを相補化した信号が伝送される対をな
す第3、第4のデータ伝送路と、センスアンプから第
3、第4のデータ伝送路へのデータ出力前及びライト回
路から第3、第4のデータ伝送路へのデータ出力前に、
第3、第4のデータ伝送路をショートするためのショー
ト回路とを備える半導体記憶装置におけるデータ伝送路
のショート方法を改良するものであり、ライト時におけ
る第3、第4のデータ伝送路のショート期間がリード時
における第3、第4のデータ伝送路のショート期間より
も短くなるようにショート回路を制御して第3、第4の
データ伝送路をショートするというものである。
【0047】本発明の半導体記憶装置におけるデータ伝
送路のショート方法によれば、ライト時における第3、
第4のデータ伝送路のショート期間は、リード時におけ
る第3、第4のデータ伝送路のショート期間よりも短く
されることから、動作サイクルを短くする場合におい
て、リード時には、第3、第4のデータ伝送路を完全に
プリチャージ電圧にプリチャージした後に、センスアン
プが確保するデータを第3、第4のデータ伝送路に出力
するようにした場合においても、ライト時、ライト回路
から第3、第4のデータ伝送路に出力される相補信号の
電圧差が十分な大きさとなる前に、第3、第4のデータ
伝送路がショートされてしまうという事態を避け、リー
ド及びライトの高速化を図ることができる。
【0048】本発明の半導体記憶装置は、メモリセルが
接続され、リード時、その電圧差をセンスアンプにより
増幅される対をなす第1、第2のデータ伝送路と、コラ
ムゲートを介して第1、第2のデータ伝送路が接続さ
れ、かつ、リード回路及びライト回路が同一の端部側に
接続され、データを相補化した信号が伝送される対をな
す第3、第4のデータ伝送路と、センスアンプから第
3、第4のデータ伝送路へのデータ出力前及びライト回
路から前記第3、第4のデータ伝送路へのデータ出力前
に、第3、第4のデータ伝送路をショートするためのシ
ョート回路とを備える半導体記憶装置を改良するもので
あり、ライト時における第3、第4のデータ伝送路のシ
ョート期間がリード時における第3、第4のデータ伝送
路のショート期間よりも短くなるようにショート回路を
制御する制御回路(請求項2記載の第1の制御回路に該
当する制御回路)を備えるというものである。
【0049】本発明の半導体記憶装置によれば、ライト
時における第3、第4のデータ伝送路のショート期間
は、リード時における第3、第4のデータ伝送路のショ
ート期間よりも短くされることから、動作サイクルを短
くする場合において、リード時には、第3、第4のデー
タ伝送路を完全にプリチャージ電圧にプリチャージした
後に、センスアンプが確保するデータを第3、第4のデ
ータ伝送路に出力するようにした場合においても、ライ
ト時、ライト回路から第3、第4のデータ伝送路に出力
される相補信号の電圧差が十分な大きさとなる前に、第
3、第4のデータ伝送路がショートされてしまうという
事態を避け、リード及びライトの高速化を図ることがで
きる。
【0050】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図8を参照して、本
発明の半導体記憶装置の実施の第1の形態〜第3の形態
について、本発明の半導体記憶装置をSDRAMに適用
した場合を例にし、かつ、本発明の半導体記憶装置にお
けるデータ伝送路のショート方法の実施の形態を含めて
説明する。なお、図1において、図9に対応する部分に
は同一符号を付し、その重複説明は省略する。
【0051】本発明の実施の第1の形態・・図1〜図4 図1は、本発明の実施の第1の形態の構成を概略的に示
す図である。図1中、80はチップ本体、81〜84は
セル領域であり、二点鎖線Yで囲む部分は、セル領域8
1の部分及びその周辺回路の一部分を拡大して示すもの
である。
【0052】ここに、セル領域81〜84は、図9に示
すセル領域2〜5と同一の回路構成とされており、本発
明の実施の第1の形態が特徴とする点は、後述する回路
構成を有するコントロール回路85を備えている点であ
る。
【0053】図2はコントロール回路85の構成を示す
回路図である。図2中、W/Rはライト時であるか、リ
ード時であるかを示すライト・リード識別信号(請求項
11記載の第2の信号に該当する信号)、INは外部か
ら供給される外部クロックCLKに同期したタイミング
信号、87、88はバッファを構成するインバータであ
る。なお、インバータ88の出力は、請求項6記載の第
1の信号に該当する。
【0054】また、89はライト・イネーブル信号WE
を出力してライトアンプ41の活性化を制御するライト
活性化制御部(請求項13記載の第5の制御回路の一例
に該当する制御回路)であり、90はライト・リード識
別信号W/Rを反転するインバータ、91はインバータ
88の出力を反転するインバータ、92はインバータ9
0の出力とインバータ91の出力をNOR処理するNO
R回路である。
【0055】また、93はNOR回路92の出力を反転
するインバータ、94はインバータ93の出力を反転し
て、ライト・イネーブル信号WEを出力するインバータ
である。なお、インバータ93、94からなる遅延回路
は、請求項15記載の第2の遅延回路の一例に該当す
る。
【0056】また、95はリード・イネーブル信号RE
を出力してセンスバッファ40の活性化を制御するリー
ド活性化制御部(請求項16記載の第6の制御回路の一
例に該当する制御回路)であり、96はインバータ88
の出力を反転するインバータ、97はライト・リード識
別信号W/Rとインバータ96の出力とをNOR処理す
るNOR回路である。
【0057】また、98はNOR回路97の出力を反転
するインバータ、99はインバータ98の出力を反転し
て、リード・イネーブル信号REを出力するインバータ
である。なお、インバータ98、99からなる遅延回路
は、請求項17記載の第3の遅延回路の一例に該当す
る。
【0058】また、100はライト時におけるグローバ
ル・データバスGDB、/GDBのショートのタイミン
グを制御するライト時ショート制御部(請求項10記載
の第2の制御回路の一例に該当する制御回路)であり、
101はライト・リード識別信号W/Rとインバータ8
8の出力とをNAND処理するNAND回路である。
【0059】また、102はリード時におけるグローバ
ル・データバスGDB、/GDBのショートのタイミン
グを制御するリード時ショート制御部(請求項10記載
の第3の制御回路の一例に該当する制御回路)であり、
103はインバータ88の出力を反転するインバータ、
104はインバータ103の出力を反転するインバー
タ、105はインバータ88の出力とインバータ104
の出力とをNAND処理するNAND回路である。な
お、インバータ103、104からなる遅延回路は、請
求項11記載の第1の遅延回路の一例に該当する。
【0060】また、106はショート信号SHを出力し
て、ショート・トランジスタ39のON、OFFを制御
するショート制御部(請求項10記載の第4の制御回路
の一例に該当する制御回路)であり、107はライト時
ショート制御部100の出力S100とリード時ショー
ト制御部102の出力S102とをNAND処理するN
AND回路である。
【0061】また、108はNAND回路107の出力
を反転するインバータ、109はインバータ108の出
力を反転するインバータ、110はインバータ109の
出力を反転してショート信号SHを出力するインバータ
である。
【0062】なお、これらインバータ108、109、
110で構成される反転遅延回路は、請求項11記載の
第1の反転遅延回路の一例に該当し、ライト時ショート
制御部100と、リード時ショート制御部102と、シ
ョート制御部106とで構成される制御回路は、請求項
2記載の第1の制御回路の一例に該当する。
【0063】また、111はコラム制御信号CLを出力
してコラムの選択のタイミングを制御するコラム制御部
(請求項18記載の第7の制御回路の一例に該当する制
御回路)である。なお、本発明の実施の第1の形態にお
けるコラム制御信号CLは、請求項18記載の第3の信
号に該当する。
【0064】コラム制御部111において、112はイ
ンバータ88の出力を反転するインバータ、113はイ
ンバータ112の出力を反転するインバータ、114は
インバータ113の出力を反転するインバータとして機
能するNAND回路、115はNAND回路114の出
力を反転するインバータとして機能するNAND回路、
116はNAND回路115の出力を反転するインバー
タ、117はインバータ116の出力を反転してコラム
制御信号CLを出力するインバータである。
【0065】ここに、図3は本発明の実施の第1の形態
の動作を説明するための波形図であり、図3Aはリード
時の場合を示し、図3Bはライト時の場合を示してい
る。
【0066】リード時においては、ライト・リード識別
信号W/R=Lレベルとされ、この場合において、タイ
ミング信号IN=Lレベルの場合、ライト活性化制御部
89においては、インバータ90の出力=Hレベル、イ
ンバータ91の出力=Hレベル、NOR回路92の出力
=Lレベル、インバータ93の出力=Hレベル、ライト
・イネーブル信号WE=Lレベルとなり、ライトアンプ
41は非活性状態とされる。
【0067】また、リード活性化制御部95において
は、インバータ96の出力=Hレベル、NOR回路97
の出力=Lレベル、インバータ98の出力=Hレベル、
リード・イネーブル信号RE=Lレベルとなり、センス
バッファ40も非活性状態とされる。
【0068】また、ライト時ショート制御部100の出
力S100=Hレベルとなると共に、リード時ショート
制御部102においては、インバータ103の出力=H
レベル、インバータ104の出力=Lレベルとなり、リ
ード時ショート制御部102の出力S102=Hレベル
となる。
【0069】この結果、ショート制御部106において
は、NAND回路107の出力=Lレベル、インバータ
108の出力=Hレベル、インバータ109の出力=L
レベル、ショート信号SH=Hレベルとなり、ショート
・トランジスタ39はON状態とされ、グローバル・デ
ータバスGDB、/GDBはショート状態とされる。
【0070】また、コラム制御部111においては、イ
ンバータ112の出力=Hレベル、インバータ113の
出力=Lレベル、NAND回路114の出力=Hレベ
ル、NAND回路115の出力=Lレベル、インバータ
116の出力=Hレベル、コラム制御信号CL=Lレベ
ルとなり、コラムは非選択状態とされる。
【0071】この状態から、タイミング信号IN=Hレ
ベルになると、ライト活性化制御部89においては、イ
ンバータ91の出力=Lレベルになるが、インバータ9
0の出力=Hレベル、NOR回路92の出力=Lレベ
ル、インバータ93の出力=Hレベル、ライト・イネー
ブル信号WE=Lレベルの状態が維持され、ライトアン
プ41の非活性状態が維持される。
【0072】これに対して、リード活性化制御部95に
おいては、インバータ96の出力=Lレベル、NOR回
路97の出力=Hレベル、インバータ98の出力=Lレ
ベル、リード・イネーブル信号RE=Hレベルになり、
センスバッファ40は活性状態とされる。
【0073】また、ライト時ショート制御部100の出
力S100=Hレベルが維持されると共に、リード時シ
ョート制御部102においては、インバータ103の出
力=Lレベル、インバータ104の出力=Hレベルとな
り、リード時ショート制御部102の出力S102=L
レベルとなる。
【0074】この結果、ショート制御部106において
は、NAND回路107の出力=Hレベル、インバータ
108の出力=Lレベル、インバータ109の出力=H
レベル、ショート信号SH=Lレベルとなり、ショート
・トランジスタ39はOFF状態とされ、グローバル・
データバスGDB、/GDBのショート状態が解除され
る。
【0075】また、コラム制御部111においては、イ
ンバータ112の出力=Lレベル、インバータ113の
出力=Hレベル、NAND回路114の出力=Lレベ
ル、NAND回路115の出力=Hレベル、インバータ
116の出力=Lレベル、コラム制御信号CL=Hレベ
ルとなり、コラムの選択が行われる。
【0076】ここに、ショート信号SHの立ち下がりの
タイミングは、リード時ショート制御部102とショー
ト制御部106との合計遅延時間で決定され、コラム制
御信号CLの立ち上がりのタイミングは、コラム制御部
111の遅延時間により決定されるが、リード時ショー
ト制御部102とショート制御部106との合計遅延時
間はコラム制御部111の遅延時間と略同一となるの
で、ショート信号SHの立ち下がりのタイミングと、コ
ラム制御信号CLの立ち上がりのタイミングとは、略同
一となる。
【0077】なお、本発明の実施の第1の形態において
は、グローバル・データバスGDB、/GDBのショー
ト解除が、グローバル・データバスGDB、/GDB及
び選択されたローカル・データバスがプリチャージ電圧
VPにプリチャージされた後に行われるように、リード
時ショート制御部102とショート制御部106との合
計遅延時間が設定される。
【0078】その後、タイミング信号IN=Lレベルに
なると、ライト活性化制御部89においては、インバー
タ91の出力=Hレベルに反転するのみであり、インバ
ータ90の出力=Hレベル、NOR回路92の出力=L
レベル、インバータ93の出力=Hレベル、ライト・イ
ネーブル信号WE=Lレベルが維持され、ライトアンプ
41の非活性状態が維持される。
【0079】これに対して、リード活性化制御部95に
おいては、インバータ96の出力=Hレベル、NOR回
路97の出力=Lレベル、インバータ98の出力=Hレ
ベル、リード・イネーブル信号RE=Lレベルになり、
センスバッファ40は非活性状態とされる。
【0080】また、ライト時ショート制御部100の出
力S100=Hレベルが維持されると共に、リード時シ
ョート制御部102の出力S102=Hレベルとなる。
【0081】この結果、ショート制御部106において
は、NAND回路107の出力=Lレベル、インバータ
108の出力=Hレベル、インバータ109の出力=L
レベル、ショート信号SH=Hレベルとなり、ショート
・トランジスタ39はON状態とされ、グローバル・デ
ータバスGDB、/GDBはショートされ、グローバル
・データバスGDB、/GDBのプリチャージが行われ
る。
【0082】また、コラム制御部111においては、イ
ンバータ112の出力=Hレベル、インバータ113の
出力=Lレベル、NAND回路114の出力=Hレベ
ル、NAND回路115の出力=Lレベル、インバータ
116の出力=Hレベル、コラム制御信号CL=Lレベ
ルとなり、コラムの選択が終了する。
【0083】なお、ショート信号SHの立ち上がりのタ
イミングと、コラム制御信号CLの立ち下がりのタイミ
ングとは、略同一となる。
【0084】他方、ライト時においては、ライト・リー
ド識別信号W/R=Hレベルとされ、この場合におい
て、タイミング信号IN=Lレベルの場合、ライト活性
化制御部89においては、インバータ90の出力=Lレ
ベル、インバータ91の出力=Hレベル、NOR回路9
2の出力=Lレベル、インバータ93の出力=Hレベ
ル、ライト・イネーブル信号WE=Lレベルとなり、ラ
イトアンプ41は非活性状態とされる。
【0085】また、リード活性化制御部95において
は、インバータ96の出力=Lレベル、NOR回路97
の出力=Lレベル、インバータ98の出力=Hレベル、
リード・イネーブル信号RE=Lレベルとなり、センス
バッファ40も非活性状態とされる。
【0086】また、ライト時ショート制御部100の出
力S100=Hレベルとなると共に、リード時ショート
制御部102においては、インバータ103の出力=H
レベル、インバータ104の出力=Lレベルとなり、リ
ード時ショート制御部102の出力S102=Hレベル
となる。
【0087】この結果、ショート制御部106において
は、NAND回路107の出力=Lレベル、インバータ
108の出力=Hレベル、インバータ109の出力=L
レベル、ショート信号SH=Hレベルとなり、ショート
・トランジスタ39はON状態とされ、グローバル・デ
ータバスGDB、/GDBはショート状態とされる。
【0088】また、コラム制御部111においては、イ
ンバータ112の出力=Hレベル、インバータ113の
出力=Lレベル、NAND回路114の出力=Hレベ
ル、NAND回路115の出力=Lレベル、インバータ
116の出力=Hレベル、コラム制御信号CL=Lレベ
ルとなり、コラムは非選択状態とされる。
【0089】この状態から、タイミング信号IN=Hレ
ベルとなると、ライト活性化制御部89においては、イ
ンバータ91の出力=Lレベル、NOR回路92の出力
=Hレベル、インバータ93の出力=Lレベル、ライト
・イネーブル信号WE=Hレベルとなり、ライトアンプ
41は活性状態とされる。
【0090】これに対して、リード活性化制御部95に
おいては、インバータ96の出力=Lレベルとなるが、
ライト・リード識別信号W/R=Hレベルとされている
ので、NOR回路97の出力=Lレベル、インバータ9
8の出力=Hレベル、リード・イネーブル信号RE=L
レベルが維持され、センスバッファ40の非活性状態が
維持される。
【0091】また、ライト時ショート制御部100の出
力S100=Lレベルとなり、この結果、ショート制御
部106においては、NAND回路107の出力=Hレ
ベル、インバータ108の出力=Lレベル、インバータ
109の出力=Hレベル、ショート信号SH=Lレベル
となり、ショート・トランジスタ39はOFF状態とさ
れ、グローバル・データバスGDB、/GDBのショー
ト状態は解除される。
【0092】なお、リード時ショート制御部102にお
いては、インバータ103の出力=Lレベル、インバー
タ104の出力=Hレベルとなり、リード時ショート制
御部102の出力S102=Lレベルとなる。
【0093】また、コラム制御部111においては、イ
ンバータ112の出力=Lレベル、インバータ113の
出力=Hレベル、NAND回路114の出力=Lレベ
ル、NAND回路115の出力=Hレベル、インバータ
116の出力=Lレベル、コラム制御信号CL=Hレベ
ルとなり、コラムの選択が行われる。
【0094】ここに、ショート信号SHの立ち下がりの
タイミングは、ライト時ショート制御部100とショー
ト制御部106との合計遅延時間で決定され、コラム制
御信号CLの立ち上がりのタイミングは、コラム制御部
111の遅延時間により決定されるが、ライト時ショー
ト制御部100とショート制御部106との合計遅延時
間はコラム制御部111の遅延時間よりも短いので、シ
ョート信号SHの立ち下がりのタイミングの方が、コラ
ム制御信号CLの立ち上がりのタイミングよりも先行す
ることとなる。
【0095】なお、本発明の実施の第1の形態において
は、ショート信号SHの立ち下がりのタイミングは、グ
ローバル・データバスGDB、/GDB及び選択された
ローカル・データバスが完全にプリチャージ電圧VPに
プリチャージされるよりも前に設定されるようにライト
時ショート制御部100とショート制御部106との合
計遅延時間が設定されると共に、ショート・トランジス
タ39がOFF状態となると同時にライト動作が行われ
るようにライト活性化制御部89の遅延時間が設定され
る。
【0096】このようにしても、ライトアンプ41の駆
動能力は大きくすることが可能であり、グローバル・デ
ータバスGDB、/GDB及び選択されたローカル・デ
ータバス上のデータを反転させる場合であっても、ライ
トアンプ41によって十分にこれを行うことができる。
【0097】その後、タイミング信号IN=Lレベルに
なると、ライト活性化制御部89においては、インバー
タ91の出力=Hレベル、NOR回路92の出力=Lレ
ベル、インバータ93の出力=Hレベル、ライト・イネ
ーブル信号WE=Lレベルとなり、ライトアンプ41は
非活性状態となる。
【0098】また、リード活性化制御部95において
は、インバータ96の出力=Hレベルに反転するのみで
あり、NOR回路97の出力=Lレベル、インバータ9
8の出力=Hレベル、リード・イネーブル信号RE=L
レベルの状態が維持され、センスバッファ40の非活性
状態が維持される。
【0099】また、ライト時ショート制御部100の出
力S100=Hレベルとなると共に、リード時ショート
制御部102の出力S102=Hレベルとなる。
【0100】この結果、ショート制御部106において
は、NAND回路107の出力=Lレベル、インバータ
108の出力=Hレベル、インバータ109の出力=L
レベル、ショート信号SH=Hレベルとなり、ショート
・トランジスタ39はON状態とされ、グローバル・デ
ータバスGDB、/GDBはショート状態とされ、グロ
ーバル・データバスGDB、/GDBのプリチャージが
行われる。
【0101】また、コラム制御部111においては、イ
ンバータ112の出力=Hレベル、インバータ113の
出力=Lレベル、NAND回路114の出力=Hレベ
ル、NAND回路115の出力=Lレベル、インバータ
116の出力=Hレベル、コラム制御信号CL=Lレベ
ルとなり、コラムの選択が終了する。
【0102】なお、ショート信号SHの立ち上がりのタ
イミングと、コラム制御信号CLの立ち下がりのタイミ
ングとは、略同一となる。
【0103】ちなみに、図4は本発明の実施の第1の形
態の動作の一例のシミュレーション結果を示す波形図で
あり、まず、ライト時にして、センスアンプ16に
「0」を検出させると共に、センスアンプ17に「0」
を検出させ、その後、センスアンプ16に「1」をライ
トし、続いて、センスアンプ17からの「0」のリード
と、センスアンプ16からの「1」のリードとを繰り返
した場合を示している。
【0104】なお、図4Aは外部クロックCLKの電圧
波形、図4Bはライト・リード識別信号W/Rの電圧波
形、図4Cは外部クロックCLKの電圧波形、ビット線
BL0、/BL0、BL1、/BL1の電圧変化、ロー
カル・データバスLDB、/LDBの電圧変化、グロー
バル・データバスGDB、/GDBの電圧変化を示して
いる。
【0105】また、図4Dは外部クロックCLKの電圧
波形、ショート信号SHの電圧波形、コラム選択信号C
L0、CL1の電圧波形、リード・イネーブル信号RE
の電圧波形を示している。
【0106】また、図4Eは外部クロックCLKの電圧
波形、ショート信号SHの電圧波形、コラム選択信号C
L0、CL1の電圧波形、ライト・イネーブル信号WE
の電圧波形を示している。
【0107】この図4から、動作サイクル上、ライト時
におけるグローバル・データバスGDB、/GDBのシ
ョート解除は、リード時におけるグローバル・データバ
スGDB、/GDBのショート解除よりも早い時期に行
われていることが分かる。
【0108】このように、本発明の実施の第1の形態に
よれば、ライト時におけるグローバル・データバスGD
B、/GDBのショート解除のタイミングをリード時に
おけるグローバル・データバスGDB、/GDBのショ
ート解除のタイミングよりも前に設定するように構成さ
れている。
【0109】したがって、動作サイクルを短くする場合
において、リード時には、選択されたローカル・データ
バス及びグローバル・データバスGDB、/GDBを完
全にプリチャージ電圧VPにプリチャージした後に、セ
ンスアンプが確保するデータをローカル・データバスに
伝送するようにした場合においても、ライト時、ライト
アンプ41からグローバル・データバスGDB、/GD
Bに出力される相補信号の電圧差が十分な大きさとなる
前に、グローバル・データバスGDB、/GDBがショ
ートされてしまうという事態を避け、リード及びライト
の高速化を図ることができる。
【0110】なお、ライトアンプ41は、グローバル・
データバスGDB、/GDBのレベルを反転させる場
合、本来的なプリチャージ手段であるショート・トラン
ジスタ39及びプリチャージ回路43によるよりも速く
グローバル・データバスGDB、/GDBをプリチャー
ジ電圧VPにプリチャージする駆動能力を備えさせる場
合には、より高速なライトを行うことができる。
【0111】本発明の実施の第2の形態・・図5、図6 本発明の実施の第2の形態は、図2に示すコントロール
回路85の代わりに、図5に示すコントロール回路を備
え、その他については、本発明の実施の第1の形態と同
様に構成するというものである。
【0112】図5に示すコントロール回路は、図2に示
すコラム制御部111の代わりに、リード時コラム制御
部120と、ライト時コラム制御部121と、コラム制
御部122とを設け、その他については、図2に示すコ
ントロール回路85と同様に構成したものである。
【0113】なお、リード時コラム制御部120と、ラ
イト時コラム制御部121とからなる制御回路は、請求
項19記載の第8の制御回路の一例に該当し、コラム制
御部122は、請求項19記載の第9の制御回路の一例
に該当する。
【0114】リード時コラム制御部120はリード時の
コラム制御信号CLの立ち上がりタイミングを制御する
ものであり、123はインバータ88の出力を反転する
インバータ、124はインバータ123の出力を反転す
るインバータ、125はインバータ124の出力を反転
するインバータとして機能するNAND回路、126は
NAND回路125の出力を反転するインバータとして
機能するNAND回路である。
【0115】なお、インバータ124及びNAND回路
125、126からなる反転遅延回路は、請求項20記
載の第2の反転遅延回路の一例に該当し、また、本発明
の実施の第2の形態においては、コラム制御信号CL
は、請求項19記載の第4の信号に該当する。
【0116】また、ライト時コラム制御部121はライ
ト時のコラム制御信号CLの立ち上がりタイミングを制
御するものであり、127はライト・リード識別信号W
/Rとインバータ123の出力とをNAND処理するN
AND回路、128はNAND回路127の出力を反転
するインバータとして機能するNAND回路、129は
NAND回路128の出力を反転するインバータとして
機能するNAND回路、130はNAND回路129の
出力を反転するインバータ、131はインバータ130
の出力を反転するインバータである。
【0117】なお、NAND回路128、129及びイ
ンバータ130、131からなる遅延回路は、請求項2
0記載の第4の遅延回路の一例に該当する。
【0118】また、コラム制御部122は、コラム制御
信号CLを出力してコラムの選択を制御するものであ
り、132はリード時コラム制御部120の出力S12
0とライト時コラム制御部121の出力S121とをN
AND処理するNAND回路、133はNAND回路1
32の出力を反転してコラム制御信号CLを出力するイ
ンバータである。
【0119】図6は本発明の実施の第2の形態の動作を
説明するための波形図であり、図6Aはリード時の場
合、図6Bはライト時の場合を示しているが、ライト活
性化制御部89、リード活性化制御部95、ライト時シ
ョート制御部100、リード時ショート制御部102及
びショート制御部106は、本発明の実施の第1の形態
の場合と同様に動作する。
【0120】ここに、リード時には、ライト・リード識
別信号W/R=Lレベルとされるが、この場合におい
て、タイミング信号IN=Lレベルの場合、リード時コ
ラム制御部120においては、インバータ123の出力
=Hレベル、インバータ124の出力=Lレベル、NA
ND回路125の出力=Hレベルとなり、リード時コラ
ム制御部120の出力S120=Lレベルとなる。
【0121】また、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Hレベル、NAND
回路128の出力=Lレベル、NAND回路129の出
力=Hレベル、インバータ130の出力=Lレベルとな
り、ライト時コラム制御部121の出力S121=Hレ
ベルとなる。
【0122】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Hレベルとなり、コラ
ム制御信号CL=Lレベルとなる。
【0123】この状態から、タイミング信号IN=Hレ
ベルとなると、リード時コラム制御部120において
は、インバータ123の出力=Lレベル、インバータ1
24の出力=Hレベル、NAND回路125の出力=L
レベル、リード時コラム制御部120の出力S120=
Hレベルとなる。
【0124】また、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Hレベル、NAND
回路128の出力=Lレベル、NAND回路129の出
力=Hレベル、インバータ130の出力=Lレベル、ラ
イト時コラム制御部121の出力S121=Hレベルが
維持される。
【0125】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Lレベルとなり、コラ
ム制御信号CL=Hレベルとなる。
【0126】ここに、コラム制御信号CLが立ち上がる
タイミングは、リード時コラム制御部120及びコラム
制御部122の合計遅延時間で決定されることになる
が、リード時コラム制御部120及びコラム制御部12
2の合計遅延時間は、リード時ショート制御部102及
びショート制御部106の合計遅延時間と略同一である
ので、コラム制御信号CLが立ち上がるタイミングは、
本発明の実施の第1の形態の場合と略同一となる。
【0127】その後、タイミング信号IN=Lレベルと
なると、リード時コラム制御部120においては、イン
バータ123の出力=Hレベル、インバータ124の出
力=Lレベル、NAND回路125の出力=Hレベル、
リード時コラム制御部120の出力S120=Lレベル
となる。
【0128】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Hレベルとなり、コラ
ム制御信号CL=Lレベルとなるが、コラム制御信号C
Lが立ち下がるタイミングも、本発明の実施の第1の形
態の場合と略同一となる。
【0129】なお、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Hレベル、NAND
回路128の出力=Lレベル、NAND回路129の出
力=Hレベル、インバータ130の出力=Lレベル、ラ
イト時コラム制御部121の出力S121=Hレベルが
維持される。
【0130】これに対して、ライト時には、ライト・リ
ード識別信号W/R=Hレベルとされるが、この場合に
おいて、タイミング信号IN=Lレベルの場合、リード
時コラム制御部120においては、インバータ123の
出力=Hレベル、インバータ124の出力=Lレベル、
NAND回路125の出力=Hレベルとなり、リード時
コラム制御部120の出力S120=Lレベルとなる。
【0131】また、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Lレベル、NAND
回路128の出力=Hレベル、NAND回路129の出
力=Lレベル、インバータ130の出力=Hレベルとな
り、ライト時コラム制御部121の出力S121=Lレ
ベルとなる。
【0132】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Hレベルとなり、コラ
ム制御信号CL=Lレベルとなる。
【0133】この状態から、タイミング信号IN=Hレ
ベルとなると、リード時コラム制御部120において
は、インバータ123の出力=Lレベル、インバータ1
24の出力=Hレベル、NAND回路125の出力=L
レベル、リード時コラム制御部120の出力S120=
Hレベルとなる。
【0134】また、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Hレベル、NAND
回路128の出力=Lレベル、NAND回路129の出
力=Hレベル、インバータ130の出力=Lレベル、ラ
イト時コラム制御部121の出力S121=Hレベルと
なる。
【0135】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Lレベルとなり、コラ
ム制御信号CL=Hレベルとなる。
【0136】但し、ライト時コラム制御部121の出力
S121は、リード時コラム制御部120の出力S12
0がHレベルとなった後、NAND回路1個分とインバ
ータ1個分の合計遅延時間だけ遅延して、Hレベルとな
る。
【0137】したがって、コラム制御信号CLがHレベ
ルとなるタイミングは、本発明の実施の第1の形態の場
合よりも遅延する。図6Bに示す破線Zは、本発明の実
施の第1の形態の場合におけるコラム制御信号CLを示
している。
【0138】その後、タイミング信号IN=Lレベルと
なると、リード時コラム制御部120においては、イン
バータ123の出力=Hレベル、インバータ124の出
力=Lレベル、NAND回路125の出力=Hレベル、
リード時コラム制御部120の出力S120=Lレベル
となる。
【0139】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Hレベルとなり、コラ
ム制御信号CL=Lレベルとなる。
【0140】なお、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Lレベル、NAND
回路128の出力=Hレベル、NAND回路129の出
力=Lレベル、インバータ130の出力=Hレベルとな
り、ライト時コラム制御部121の出力S121=Lレ
ベルとなるが、そのタイミングは、リード時コラム制御
部120の出力S120がLレベルになるタイミングよ
りも遅いので、コラム制御信号CLが立ち下がるタイミ
ングは、本発明の実施の第1の形態の場合と略同一とな
る。
【0141】ここに、本発明の実施の第1の形態におい
て、チップ・サイズが大きくされ、データ伝送路が長く
されると、ライトアンプ41からグローバル・データバ
スGDB、/GDBに出力された相補信号が選択された
コラムゲートに達する前に、コラムゲートが選択されて
しまうおそれがあるが、この場合において、選択された
コラムのセンスアンプに確保されているデータが選択さ
れたセルに書き込まれるべきデータと反転関係にある場
合には、選択されたローカル・データバス上で、反転関
係にある相補信号同士が衝突してしまい、データ伝送に
遅延が発生してしまうおそれがある。
【0142】この点を考慮して、本発明の実施の第2の
形態においては、コラム制御信号CLの立ち上がりのタ
イミングを本発明の実施の第1の形態の場合よりも遅延
させているので、選択されたローカル・データバスの電
位が確定してから、選択されたコラムのセンスアンプに
データを書き込むことができる。
【0143】したがって、本発明の実施の第2の形態に
よれば、動作サイクルを短くする場合において、リード
時には、選択されたローカル・データバス及びグローバ
ル・データバスGDB、/GDBを完全にプリチャージ
電圧VPにプリチャージした後に、センスアンプが確保
するデータをローカル・データバスに伝送するようにし
た場合においても、ライト時、ライトアンプ41からグ
ローバル・データバスGDB、/GDBに出力される相
補信号の電圧差が十分な大きさとなる前に、グローバル
・データバスGDB、/GDBがショートされてしまう
という事態を避けると共に、ライトアンプ41からグロ
ーバル・データバスGDB、/GDBに出力された相補
信号とセンスアンプから出力された相補信号とが衝突す
ることによるデータ伝送の遅延を避け、リード及びライ
トの高速化を図ることができる。
【0144】本発明の実施の第3の形態・・図7、図8 本発明の実施の第3の形態は、図2に示すコントロール
回路85の代わりに、図7に示すコントロール回路を備
え、その他については、図1に示す本発明の実施の第1
の形態と同様に構成するというものである。
【0145】図7に示すコントロール回路は、ワーク・
コントロール部135(請求項21記載の第13の制御
回路の一例に該当する制御回路)を設けると共に、図5
に示すリード時コラム制御部120の代わりに、回路構
成の異なるリード時コラム制御部136(請求項21記
載の第10の制御回路の一例に該当する制御回路)を設
け、その他については、図5に示すコントロール回路と
同様に構成したものである。
【0146】なお、本発明の実施の第3の形態において
は、ライト時コラム制御部121は、請求項21記載の
第11の制御回路の一例に該当し、コラム制御部122
は、請求項21記載の第12の制御回路の一例に該当
し、コラム制御信号CLは、請求項21記載の第5の信
号に該当する。
【0147】ここに、ライト時におけるコラム制御信号
CLの立ち下がりタイミングも遅延させて、ライト時間
を十分に確保しようとする場合において、図5に示すコ
ントロール回路を使用する場合には、リード時コラム制
御部120の出力S120の立ち下がりタイミングを遅
延させる必要があるが、このようにすると、リードから
ライトにモードを切り替える場合又はライトからリード
にモードを切り替える場合に、コラム制御信号CLが立
ち上がってしまうという不都合が生じるが、本発明の実
施の第3の形態は、この不都合を解消するというもので
ある。
【0148】ワーク・コントロール部135において、
137はワード・リード識別信号W/Rを反転するイン
バータ、138はインバータ137の出力を反転するイ
ンバータ、139はインバータ138の出力とワード・
リード識別信号W/RとをNAND処理するNAND回
路である。なお、インバータ137、138で構成され
る遅延回路は、請求項22記載の第7の遅延回路の一例
に該当する。
【0149】このワーク・コントロール部135は、リ
ードからライトにモードを切り替える場合には、ワード
・リード識別信号W/Rをインバータ137、138及
びNAND回路139の合計遅延時間だけ反転遅延して
リード時コラム制御部136に供給し、ライトからリー
ドにモードを切り替える場合には、ワード・リード識別
信号W/RをNAND回路139の遅延時間だけ反転遅
延してリード時コラム制御部136に供給するというも
のである。
【0150】また、リード時コラム制御部136は、図
5に示すリード時コラム制御部120が設けるインバー
タ124の代わりに、インバータ123の出力とワーク
・コントロール部135の出力とをNAND処理し、そ
の出力をNAND回路125に供給するNAND回路1
40を設け、その他については、図5に示すリード時コ
ラム制御部120と同様に構成したものである。
【0151】なお、NAND回路125、126で構成
される遅延回路は、請求項22記載の第5の遅延回路の
一例に該当し、NAND回路128、129及びインバ
ータ130、131で構成される遅延回路は、請求項2
2記載の第6の遅延回路の一例に該当する。
【0152】図8は本発明の実施の第3の形態の動作を
説明するための波形図であり、図8Aはリード時の場
合、図8Bはライト時の場合を示しているが、ライト活
性化制御部89、リード活性化制御部95、ライト時シ
ョート制御部100、リード時ショート制御部102及
びショート制御部106は、本発明の実施の第1の形態
の場合と同様に動作する。
【0153】ここに、リード時、ライト・リード識別信
号W/R=Lレベルとされるが、この場合、ワーク・コ
ントロール部135においては、インバータ137の出
力=Hレベル、インバータ138の出力=Lレベル、N
AND回路139の出力=Hレベルとなる。
【0154】この場合において、タイミング信号IN=
Lレベルの場合、リード時コラム制御部136において
は、インバータ123の出力=Hレベル、NAND回路
140の出力=Lレベル、NAND回路125の出力=
Hレベル、リード時コラム制御部136の出力S136
=Lレベルとなる。
【0155】また、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Hレベル、NAND
回路128の出力=Lレベル、NAND回路129の出
力=Hレベル、インバータ130の出力=Lレベル、ラ
イト時コラム制御部121の出力S121=Hレベルと
なる。
【0156】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Hレベルとなり、コラ
ム制御信号CL=Lレベルとなる。
【0157】この状態から、タイミング信号IN=Hレ
ベルとなると、リード時コラム制御部136において
は、インバータ123の出力=Lレベル、NAND回路
140の出力=Hレベル、NAND回路125の出力=
Lレベル、リード時コラム制御部136の出力S136
=Hレベルとなる。
【0158】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Lレベルとなり、コラ
ム制御信号CL=Hレベルとなる。
【0159】なお、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Hレベル、NAND
回路128の出力=Lレベル、NAND回路129の出
力=Hレベル、インバータ130の出力=Lレベル、ラ
イト時コラム制御部121の出力S121=Hレベルが
維持される。
【0160】ここに、コラム制御信号CLがHレベルに
なるタイミングは、リード時コラム制御部136及びコ
ラム制御部122の合計遅延時間で決定されることにな
るが、リード時コラム制御部136及びコラム制御部1
22の合計遅延時間は、リード時ショート制御部102
及びショート制御部106の合計遅延時間と略同一であ
るので、コラム制御信号CLがHレベルになるタイミン
グは、本発明の実施の第1の形態の場合と略同一とな
る。
【0161】その後、タイミング信号IN=Lレベルと
なると、リード時コラム制御部136においては、イン
バータ123の出力=Hレベル、NAND回路140の
出力=Lレベル、NAND回路125の出力=Hレベ
ル、リード時コラム制御部136の出力S136=Lレ
ベルとなる。
【0162】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Hレベル、コラム制御
信号CL=Lレベルとなるが、コラム制御信号CL=L
レベルとなるタイミングも、本発明の実施の第1の形態
の場合と略同一となる。
【0163】これに対して、ライト時、ライト・リード
識別信号W/R=Hレベルとされるが、この場合、ワー
ク・コントロール部135においては、インバータ13
7の出力=Lレベル、インバータ138の出力=Hレベ
ル、NAND回路139の出力=Lレベルとなる。
【0164】この場合において、タイミング信号IN=
Lレベルの場合、リード時コラム制御部136において
は、インバータ123の出力=Hレベル、NAND回路
140の出力=Hレベル、NAND回路125の出力=
Lレベル、リード時コラム制御部136の出力S136
=Hレベルとなる。
【0165】また、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Lレベル、NAND
回路128の出力=Hレベル、NAND回路129の出
力=Lレベル、インバータ130の出力=Hレベル、ラ
イト時コラム制御部121の出力S121=Lレベルと
なる。
【0166】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Hレベル、コラム制御
信号CL=Lレベルとなる。
【0167】この状態から、タイミング信号IN=Hレ
ベルとなると、リード時コラム制御部136において
は、インバータ123の出力=Lレベルとなるが、NA
ND回路140の出力=Hレベル、NAND回路125
の出力=Lレベル、リード時コラム制御部136の出力
S136=Hレベルが維持される。
【0168】また、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Hレベル、NAND
回路128の出力=Lレベル、NAND回路129の出
力=Hレベル、インバータ130の出力=Lレベル、ラ
イト時コラム制御部121の出力S121=Hレベルと
なる。
【0169】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Lレベルとなり、コラ
ム制御信号CL=Hレベルとなる。
【0170】コラム制御信号CLが立ち上がるタイミン
グは、ライト時コラム制御部121とコラム制御部12
2との合計遅延時間で決定されることになるが、ライト
時コラム制御部121とコラム制御部122との合計遅
延時間は、リード時コラム制御部136とコラム制御部
122との合計遅延時間よりも長いので、本発明の実施
の第1の形態の場合よりも遅延し、本発明の実施の第2
の形態の場合と同一となる。図8Bに示す破線Zは、本
発明の実施の第1の形態の場合におけるコラム制御信号
CLを示している。
【0171】その後、タイミング信号IN=Lレベルと
なると、リード時コラム制御部136においては、イン
バータ123の出力=Hレベルとなるが、NAND回路
140の出力=Hレベル、NAND回路125の出力=
Lレベル、リード時コラム制御部136の出力S136
=Hレベルが維持される。
【0172】また、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Lレベル、NAND
回路128の出力=Hレベル、NAND回路129の出
力=Lレベル、インバータ130の出力=Hレベルとな
り、ライト時コラム制御部121の出力=Lレベルとな
る。
【0173】この結果、コラム制御部122において
は、NAND回路132の出力=Hレベルとなり、コラ
ム制御信号CL=Lレベルとなる。
【0174】ここに、コラム制御信号CLが立ち下がる
タイミングは、立ち上がる場合と同様に、ライト時コラ
ム制御部121とコラム制御部122との合計遅延時間
で決定されることになるので、本発明の実施の第1、第
2の形態の場合よりも遅延し、ライト時におけるコラム
制御信号CLは、リード時のコラム制御信号CLを遅延
させた波形となり、十分なライト時間を確保することが
できる。
【0175】そして、このようにしても、リードからラ
イトにモードを切り替える場合又はライトからリードに
モードを切り替える場合に、コラム制御信号CLが立ち
上がり、コラムの選択が行われてしまうという不都合は
発生しない。
【0176】即ち、ライト・リード識別信号W/R=L
レベルとされ、リード時とされている場合において、タ
イミング信号IN=Lレベルの場合、ライト時コラム制
御部121においては、NAND回路127の出力=H
レベル、NAND回路128の出力=Lレベル、NAN
D回路129の出力=Hレベル、インバータ130の出
力=Lレベル、インバータ131の出力=Hレベルとな
る。
【0177】また、ワーク・コントロール部135にお
いては、インバータ137の出力=Hレベル、インバー
タ138の出力=Lレベル、NAND回路139の出力
=Hレベルとなる。
【0178】また、リード時コラム制御部136におい
ては、インバータ123の出力=Hレベル、NAND回
路140の出力=Lレベル、NAND回路125の出力
=Hレベル、NAND回路126の出力=Lレベルとな
る。
【0179】また、コラム制御部122においては、N
AND回路132の出力=Hレベルとなり、コラム制御
信号CL=Lレベルとなる。
【0180】この状態から、ライト・リード識別信号W
/R=Hレベルとなり、ライト時とされる場合には、ワ
ーク・コントロール部135においては、インバータ1
37の出力=Lレベル、インバータ138の出力=Hレ
ベル、NAND回路139の出力=Lレベルとなり、こ
の結果、リード時コラム制御部136においては、NA
ND回路140の出力=Hレベル、NAND回路125
の出力=Lレベル、NAND回路126の出力=Hレベ
ルとなる。
【0181】他方、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Lレベル、NAND
回路128の出力=Hレベル、NAND回路129の出
力=Lレベル、インバータ130の出力=Hレベル、イ
ンバータ131の出力=Lレベルとなる。
【0182】ここに、リード時コラム制御部136の出
力S136がHレベルに反転するタイミングは、インバ
ータ137、138と、NAND回路139、140、
125、126との合計遅延時間で決定され、ライト時
コラム制御部121の出力S121がLレベルに反転す
るタイミングは、NAND回路127〜129と、イン
バータ130、131との合計遅延時間で決定される。
【0183】この結果、この場合には、リード時コラム
制御部136の出力S136がHレベルに反転するタイ
ミングよりも、ライト時コラム制御部121の出力S1
21がLレベルに反転するタイミングの方が早く、コラ
ム制御部122においては、NAND回路132の出力
=Hレベル、コラム制御信号CL=Lレベルが維持され
る。
【0184】また、ライト・リード識別信号W/R=H
レベルとされ、ライト時とされている場合において、タ
イミング信号IN=Lレベルの場合、ワーク・コントロ
ール部135においては、インバータ137の出力=L
レベル、インバータ138の出力=Hレベル、NAND
回路139の出力=Lレベルとなる。
【0185】また、リード時コラム制御部136におい
ては、インバータ123の出力=Hレベル、NAND回
路140の出力=Hレベル、NAND回路125の出力
=Lレベル、NAND回路126の出力=Hレベルとな
る。
【0186】また、ライト時コラム制御部121におい
ては、NAND回路127の出力=Lレベル、NAND
回路128の出力=Hレベル、NAND回路129の出
力=Lレベル、インバータ130の出力=Hレベル、イ
ンバータ131の出力=Lレベルとなる。
【0187】また、コラム制御部122においては、N
AND回路132の出力=Hレベルとなり、コラム制御
信号CL=Lレベルとなる。
【0188】この状態から、ライト・リード識別信号W
/R=Lレベルとなり、リード時とされる場合には、ラ
イト時コラム制御部121においては、NAND回路1
27の出力=Hレベル、NAND回路128の出力=L
レベル、NAND回路129の出力=Hレベル、インバ
ータ130の出力=Lレベル、インバータ131の出力
=Hレベルとなる。
【0189】他方、ワーク・コントロール部135にお
いては、NAND回路139の出力=Hレベルとなり、
この結果、リード時コラム制御部136においては、N
AND回路140の出力=Lレベル、NAND回路12
5の出力=Hレベル、NAND回路126の出力=Lレ
ベルとなる。
【0190】ここに、ライト時コラム制御部121の出
力S121がHレベルに反転するタイミングは、NAN
D回路127〜129とインバータ130、131との
合計遅延時間で決定され、リード時コラム制御部136
の出力S136がLレベルに反転するタイミングは、N
AND回路139、140、125、126の合計遅延
時間で決定される。
【0191】この結果、この場合には、ライト時コラム
制御部121の出力S121がHレベルに反転するタイ
ミングよりも、リード時コラム制御部136の出力S1
36がLレベルに反転するタイミングの方が早く、コラ
ム制御部122においては、NAND回路132の出力
=Hレベル、コラム制御信号CL=Lレベルが維持され
る。
【0192】したがって、本発明の実施の第3の形態に
よれば、動作サイクルを短くする場合において、リード
時には、選択されたローカル・データバス及びグローバ
ル・データバスGDB、/GDBを完全にプリチャージ
電圧VPにプリチャージした後に、センスアンプが確保
するデータをローカル・データバスに伝送するようにし
た場合においても、ライト時、ライトアンプ41からグ
ローバル・データバスGDB、/GDBに出力される相
補信号の電圧差が十分な大きさとなる前に、グローバル
・データバスGDB、/GDBがショートされてしまう
という事態を避けると共に、ライトアンプ41からグロ
ーバル・データバスGDB、/GDBに出力された相補
信号とセンスアンプから出力された相補信号とが衝突す
ることによる遅延を避け、更に、コラム制御信号CLの
Hレベル期間を長くし、リード及びライトの高速化を図
ることができる。
【0193】なお、本発明の実施の第1〜第3の形態に
おいては、グローバル・データバスGDB、/GDB及
び選択されたローカル・データバスをプリチャージする
手段として、ショート・トランジスタ39のほかに、コ
ラム系の回路が動作する場合に動作するプリチャージ回
路43を設けるようにした場合について説明したが、こ
のプリチャージ回路43は設けなくとも良い。
【0194】また、このプリチャージ回路43の代わり
に、ショート信号SHに同期した信号によりプリチャー
ジ動作を行うプリチャージ回路、即ち、コラム系の回路
が動作する期間において、グローバル・データバスGD
B、/GDBがショートされる期間は、グローバル・デ
ータバスGDB、/GDBにプリチャージ電圧VPを供
給し、グローバル・データバスGDB、/GDBがショ
ートされていない期間は、グローバル・データバスGD
B、/GDBにプリチャージ電圧VPを供給しないよう
に制御されるプリチャージ回路を設けるようにしても良
い。
【0195】また、本発明の実施の第1〜第3の形態に
おいては、複数のローカル・データバスと、これら複数
のローカル・データバスに共用されるグローバル・デー
タバスGDB、/GDBとを設けるようにした場合につ
いて説明したが、本発明は、データバスをローカル・デ
ータバスとグローバル・データバスGDB、/GDBと
に分割せず、センスアンプに接続されるデータバスにシ
ョート・トランジスタ39、センスバッファ40及びラ
イトアンプ41を接続するようにしたものについても適
用することができる。
【0196】また、本発明の実施の第1〜第3の形態に
おいては、本発明をSDRAMに適用した場合について
説明したが、本発明は、ライト動作及びリード動作を連
続して行うことができる非同期型のDRAMにも適用す
ることができる。
【0197】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、ライト
時における第3、第4のデータ伝送路のショート期間が
リード時における第3、第4のデータ伝送路のショート
期間よりも短くなるようにショート回路が制御されるの
で、動作サイクルを短くする場合において、リード時に
は、第3、第4のデータ伝送路を完全にプリチャージ電
圧にプリチャージした後に、センスアンプが確保するデ
ータを第3、第4のデータ伝送路に出力するようにした
場合においても、ライト時、ライト回路から第3、第4
のデータ伝送路に出力される相補信号の電圧差が十分な
大きさとなる前に、第3、第4のデータ伝送路がショー
トされてしまうという事態を避け、リード及びライトの
高速化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の第1の形態の構成を概略的に示
す図である。
【図2】本発明の実施の第1の形態が備えるコントロー
ル回路の構成を示す回路図である。
【図3】本発明の実施の第1の形態の動作を説明するた
めの波形図である。
【図4】本発明の実施の第1の形態の動作の一例のシミ
ュレーション結果を示す波形図である。
【図5】本発明の実施の第2の形態が備えるコントロー
ル回路の構成を示す回路図である。
【図6】本発明の実施の第2の形態の動作を説明するた
めの波形図である。
【図7】本発明の実施の第3の形態が備えるコントロー
ル回路の構成を示す回路図である。
【図8】本発明の実施の第3の形態の動作を説明するた
めの波形図である。
【図9】従来のSDRAMの一例の構成を概略的に示す
図である。
【図10】図9に示す従来のSDRAMが備えるセルの
構成を示す回路図である。
【図11】図9に示す従来のSDRAMが備えるセンス
アンプの構成を示す回路図である。
【図12】図9に示す従来のSDRAMが備えるコラム
ゲートの構成を示す回路図である。
【図13】図9に示す従来のSDRAMが備えるセンス
バッファの構成を示す回路図である。
【図14】図9に示す従来のSDRAMが備えるライト
アンプの構成を示す回路図である。
【図15】図9に示す従来のSDRAMにおけるリード
動作の一例を示す波形図である。
【図16】図9に示す従来のSDRAMにおけるライト
動作の一例を示す波形図である。
【符号の説明】
80 チップ本体 81〜84 セル領域 S/A センスアンプ CG コラムゲート LDB、/LDB ローカル・データバス GDB、/GDB グローバル・データバス S/B センスバッファ W/A ライトアンプ SH ショート信号 WE ライト・イネーブル信号 RE リード・イネーブル信号

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】メモリセルが接続され、リード時、その電
    圧差をセンスアンプにより増幅される対をなす第1、第
    2のデータ伝送路と、コラムゲートを介して前記第1、
    第2のデータ伝送路が接続され、かつ、リード回路及び
    ライト回路が同一の端部側に接続され、データを相補化
    した信号が伝送される対をなす第3、第4のデータ伝送
    路と、前記センスアンプから前記第3、第4のデータ伝
    送路へのデータ出力前及び前記ライト回路から前記第
    3、第4のデータ伝送路へのデータ出力前に、前記第
    3、第4のデータ伝送路をショートするためのショート
    回路とを備える半導体記憶装置におけるデータ伝送路の
    ショート方法であって、ライト時における前記第3、第
    4のデータ伝送路のショート期間がリード時における前
    記第3、第4のデータ伝送路のショート期間よりも短く
    なるように前記ショート回路を制御して前記第3、第4
    のデータ伝送路をショートすることを特徴とする半導体
    記憶装置におけるデータ伝送路のショート方法。
  2. 【請求項2】メモリセルが接続され、リード時、その電
    圧差をセンスアンプにより増幅される対をなす第1、第
    2のデータ伝送路と、コラムゲートを介して前記第1、
    第2のデータ伝送路が接続され、かつ、リード回路及び
    ライト回路が同一の端部側に接続され、データを相補化
    した信号が伝送される対をなす第3、第4のデータ伝送
    路と、前記センスアンプから前記第3、第4のデータ伝
    送路へのデータ出力前及び前記ライト回路から前記第
    3、第4のデータ伝送路へのデータ出力前に、前記第
    3、第4のデータ伝送路をショートするためのショート
    回路とを備える半導体記憶装置であって、ライト時にお
    ける前記第3、第4のデータ伝送路のショート期間がリ
    ード時における前記第3、第4のデータ伝送路のショー
    ト期間よりも短くなるように前記ショート回路を制御す
    る第1の制御回路を備えていることを特徴とする半導体
    記憶装置。
  3. 【請求項3】前記第3、第4のデータ伝送路は、前記第
    1、第2のデータ伝送路が接続される対をなす第5、第
    6のデータ伝送路と、前記リード回路及び前記ライト回
    路が同一の端部側に接続され、スイッチ回路を介して前
    記第5、第6のデータ伝送路が接続される対をなす第
    7、第8のデータ伝送路とから構成されていることを特
    徴とする請求項2記載の半導体記憶装置。
  4. 【請求項4】前記第3、第4のデータ伝送路にプリチャ
    ージ電圧を供給するプリチャージ回路を備えていること
    を特徴とする請求項2又は3記載の半導体記憶装置。
  5. 【請求項5】前記プリチャージ回路は、コラム系が動作
    する期間において、前記第3、第4のデータ伝送路がシ
    ョートされている期間は、前記第3、第4のデータ伝送
    路にプリチャージ電圧を供給し、前記第3、第4のデー
    タ伝送路がショートされていない期間は、前記第3、第
    4のデータ伝送路にプリチャージ電圧を供給しないよう
    に制御される構成とされていることを特徴とする請求項
    4記載の半導体記憶装置。
  6. 【請求項6】前記第1の制御回路は、前記第3、第4の
    データ伝送路をショートするタイミングが動作タイミン
    グを制御する第1の信号に対してリード時及びライト時
    で同一ないし略同一となり、前記第3、第4のデータ伝
    送路のショートを解除するタイミングが前記第1の信号
    に対してリード時の場合よりもライト時の場合の方が早
    くなるように前記ショート回路を制御するように構成さ
    れていることを特徴とする請求項2、3、4又は5記載
    の半導体記憶装置。
  7. 【請求項7】前記第1の制御回路は、リード時における
    前記第3、第4のデータ伝送路のショート解除を前記第
    3、第4のデータ伝送路がプリチャージ電圧にプリチャ
    ージされた後に行うように前記ショート回路を制御する
    構成とされていることを特徴とする請求項2、3、4、
    5又は6記載の半導体記憶装置。
  8. 【請求項8】前記第1の制御回路は、ライト時における
    前記第3、第4のデータ伝送路のショート解除を前記第
    3、第4のデータ伝送路がプリチャージ電圧にプリチャ
    ージされる前に行うように前記ショート回路を制御する
    構成とされていることを特徴とする請求項2、3、4、
    5、6又は7記載の半導体記憶装置。
  9. 【請求項9】前記ライト回路は、前記第3、第4のデー
    タ伝送路の相補信号のレベルを反転させる場合、前記第
    3、第4のデータ伝送路をプリチャージする手段よりも
    速く前記第3、第4のデータ伝送路をプリチャージ電圧
    にする駆動能力を備えていることを特徴とする請求項8
    記載の半導体記憶装置。
  10. 【請求項10】前記第1の制御回路は、ライト時におけ
    る前記第3、第4のデータ伝送路のショート開始及びシ
    ョート解除のタイミングを制御する第2の制御回路と、
    リード時における前記第3、第4のデータ伝送路のショ
    ート開始及びショート解除のタイミングを制御する第3
    の制御回路と、前記第2の制御回路の出力及び前記第3
    の制御回路の出力に制御され、前記ショート回路のショ
    ート動作を制御する第4の制御回路とを備えて構成され
    ていることを特徴とする請求項2、3、4、5、6、
    7、8又は9記載の半導体記憶装置。
  11. 【請求項11】前記第2の制御回路は、前記第1の信号
    と、ライト時であるか、リード時であるかを示す第2の
    信号とをNAND処理する第1のNAND回路を備えて
    構成され、前記第3の制御回路は、前記第1の信号を遅
    延する第1の遅延回路と、この第1の遅延回路の出力と
    前記第1の信号とをNAND処理する第2のNAND回
    路とを備えて構成され、前記第4の制御回路は、前記第
    2の制御回路の出力と前記第3の制御回路の出力とをN
    AND処理する第3のNAND回路と、この第3のNA
    ND回路の出力を反転遅延する第1の反転遅延回路とを
    備えて構成されていることを特徴とする請求項10記載
    の半導体記憶装置。
  12. 【請求項12】前記第1の信号は、外部から供給される
    外部クロックに同期した信号であることを特徴とする請
    求項6、7、8、9、10又は11記載の半導体記憶装
    置。
  13. 【請求項13】ライト時、前記第3、第4のデータ伝送
    路のショート解除と同時ないし略同時に、データを前記
    第3、第4のデータ伝送路に出力できるように前記ライ
    ト回路の活性化を制御する第5の制御回路を備えている
    ことを特徴とする請求項2、3、4、5、6、7、8、
    9、10、11又は12記載の半導体記憶装置。
  14. 【請求項14】前記第5の制御回路は、前記第1の信号
    と、前記第2の信号に制御され、前記ライト回路を制御
    するように構成されていることを特徴とする請求項13
    記載の半導体記憶装置。
  15. 【請求項15】前記第5の制御回路は、前記第1の信号
    を反転する第1の反転回路と、前記第2の信号を反転す
    る第2の反転回路と、前記第1の反転回路の出力と前記
    第2の反転回路の出力とをNOR処理する第1のNOR
    回路と、この第1のNOR回路の出力を遅延する第2の
    遅延回路とを備えて構成されていることを特徴とする請
    求項14記載の半導体記憶装置。
  16. 【請求項16】前記第1の信号と、前記第2の信号とに
    制御され、前記リード回路の活性化を制御する第6の制
    御回路を備えていることを特徴とする請求項6、7、
    8、9、10、11、12、13、14又は15記載の
    半導体記憶装置。
  17. 【請求項17】前記第6の制御回路は、前記第1の信号
    を反転する第3の反転回路と、この第3の反転回路の出
    力と前記第2の信号とをNOR処理する第2のNOR回
    路と、この第2のNOR回路の出力を遅延する第3の遅
    延回路とを備えて構成されていることを特徴とする請求
    項16記載の半導体記憶装置。
  18. 【請求項18】前記第1の信号を遅延して前記コラムゲ
    ートの選択及び選択解除のタイミングを制御する第3の
    信号を出力する第7の制御回路を備え、前記コラムゲー
    トを選択及び選択解除するタイミングがリード時及びラ
    イト時で同一となるように構成されていることを特徴と
    する請求項6、7、8、9、10、11、12、13、
    14、15、16又は17記載の半導体記憶装置。
  19. 【請求項19】リード時におけるコラムの選択及び選択
    解除のタイミングを制御すると共に、ライト時における
    コラムの選択及び選択解除のタイミングを制御する第8
    の制御回路と、前記第8の制御回路の出力に制御され、
    前記コラムゲートの選択及び選択解除のタイミングを制
    御する第4の信号を出力する第9の制御回路とを備え、
    ライト時における前記コラムゲートを選択するタイミン
    グがリード時の場合よりも遅くなり、前記コラムゲート
    を選択解除するタイミングがリード時とライト時とで同
    一ないし略同一となるように構成されていることを特徴
    とする請求項2、3、4、5、6、7、8、9、10、
    11、12、13、14、15、16又は17記載の半
    導体記憶装置。
  20. 【請求項20】前記第8の制御回路は、前記第1の信号
    を反転する第4の反転回路と、この第4の反転回路の出
    力を反転遅延する第2の反転遅延回路と、前記第2の信
    号と前記第4の反転回路の出力とをNAND処理する第
    4のNAND回路と、この第4のNAND回路の出力を
    遅延する第4の遅延回路とを備えて構成され、第9の制
    御回路は、前記第2の反転遅延回路の出力と前記第4の
    遅延回路の出力とをNAND処理する第5のNAND回
    路と、この第5のNAND回路の出力を反転する第5の
    反転回路とを備えて構成されていることを特徴とする請
    求項19記載の半導体記憶装置。
  21. 【請求項21】リード時におけるコラムの選択及び選択
    解除のタイミングを制御する第10の制御回路と、ライ
    ト時におけるコラムの選択及び選択解除のタイミングを
    制御する第11の制御回路と、前記第10の制御回路の
    出力及び前記第11の制御回路の出力に制御され、前記
    コラムゲートの選択及び選択解除のタイミングを制御す
    る第5の信号を出力する第12の制御回路と、前記第1
    0の制御回路を制御する第13の制御回路とを備え、ラ
    イト時における前記コラムゲートを選択及び選択解除す
    るタイミングがリード時の場合よりも遅くなるように構
    成されていることを特徴とする請求項2、3、4、5、
    6、7、8、9、10、11、12、13、14、1
    5、16又は17記載の半導体記憶装置。
  22. 【請求項22】前記第10の制御回路は、前記第1の信
    号を反転する第6の反転回路と、この第6の反転回路の
    出力と前記第13の制御回路の出力とをNAND処理す
    る第6のNAND回路と、この第6のNAND回路の出
    力を遅延する第5の遅延回路とを備えて構成され、前記
    第11の制御回路は、前記第2の信号と前記第6の反転
    回路の出力とをNAND処理する第7のNAND回路
    と、この第7のNAND回路の出力を遅延する第6の遅
    延回路とを備えて構成され、第12の制御回路は、前記
    第10の制御回路の出力と前記第11の制御回路の出力
    とをNAND処理する第8のNAND回路と、この第8
    のNAND回路の出力を反転する第7の反転回路とを備
    えて構成され、前記第13の制御回路は、前記第2の信
    号を遅延する第7の遅延回路と、この第7の遅延回路の
    出力と前記第2の信号とをNAND処理する第9のNA
    ND回路とを備えて構成されていることを特徴とする請
    求項21記載の半導体記憶装置。
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US08/657,484 US5625592A (en) 1995-11-20 1996-05-23 Method and circuit for shortcircuiting data transfer lines and semiconductor memory device having the circuit
IT96MI001234A IT1285208B1 (it) 1995-11-20 1996-06-18 Metodo e circuito per cortocircuitare linee di trasferimento dati e dispositivo di memoria a semiconduttore avente il circuito
KR1019960022229A KR100201718B1 (ko) 1995-11-20 1996-06-19 반도체 기억 장치에 있어서의 데이타 전송로의 단락 방법 및 반도체 기억 장치
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6275430B1 (en) 1999-06-30 2001-08-14 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Semiconductor memory device having global bit line precharge circuits
KR100324327B1 (ko) * 1999-10-19 2002-02-16 박종섭 디램의 동작영역 조절회로
KR100557571B1 (ko) * 1998-12-30 2006-05-16 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 데이터 버스라인 프리차지 장치
JP2006331620A (ja) * 2005-04-28 2006-12-07 Toshiba Corp 半導体集積回路
US7663940B2 (en) 2007-01-08 2010-02-16 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device and driving method thereof
US7982493B1 (en) 2010-01-29 2011-07-19 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor integrated circuit for controlling output driving force

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100307221B1 (ko) * 1998-06-29 2001-11-30 박종섭 반도체메모리장치
KR100365737B1 (ko) * 1998-12-24 2003-02-19 주식회사 하이닉스반도체 안정적인신호전달을위한보조구동회로를갖는반도체소자
JP2000311489A (ja) * 1999-04-23 2000-11-07 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US6538932B2 (en) * 2001-06-13 2003-03-25 International Business Machines Corporation Timing circuit and method for a compilable DRAM
US20060161743A1 (en) * 2005-01-18 2006-07-20 Khaled Fekih-Romdhane Intelligent memory array switching logic
US7297149B2 (en) 2005-04-14 2007-11-20 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Surgical clip applier methods
US7261724B2 (en) * 2005-04-14 2007-08-28 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Surgical clip advancement mechanism
US7740641B2 (en) * 2005-04-14 2010-06-22 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Clip applier with migrational resistance features
US7288098B2 (en) * 2005-04-14 2007-10-30 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Force limiting mechanism for medical instrument
US7686820B2 (en) * 2005-04-14 2010-03-30 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Surgical clip applier ratchet mechanism
US7731724B2 (en) * 2005-04-14 2010-06-08 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Surgical clip advancement and alignment mechanism
US8523882B2 (en) * 2005-04-14 2013-09-03 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Clip advancer mechanism with alignment features
US20090014002A1 (en) * 2005-04-14 2009-01-15 Honeywell International Inc. Air filter assembly
US8038686B2 (en) * 2005-04-14 2011-10-18 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Clip applier configured to prevent clip fallout
US7555659B2 (en) * 2006-02-28 2009-06-30 Mosaid Technologies Incorporated Low power memory architecture
US8267945B2 (en) * 2009-10-09 2012-09-18 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Clip advancer with lockout mechanism
US8262679B2 (en) * 2009-10-09 2012-09-11 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Clip advancer
US9370400B2 (en) 2011-10-19 2016-06-21 Ethicon Endo-Surgery, Inc. Clip applier adapted for use with a surgical robot
US9153302B2 (en) * 2012-01-31 2015-10-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Memory and method of operating the same
US9928888B1 (en) * 2016-09-23 2018-03-27 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited Low power consumption memory device

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0384673B1 (en) * 1989-02-18 1995-05-24 Sony Corporation Memory devices
JP2825291B2 (ja) * 1989-11-13 1998-11-18 株式会社東芝 半導体記憶装置
JP2781080B2 (ja) * 1991-04-09 1998-07-30 三菱電機株式会社 ランダムアクセスメモリ
JP2876830B2 (ja) * 1991-06-27 1999-03-31 日本電気株式会社 半導体記憶装置
JPH0785675A (ja) * 1993-09-17 1995-03-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100557571B1 (ko) * 1998-12-30 2006-05-16 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 데이터 버스라인 프리차지 장치
US6275430B1 (en) 1999-06-30 2001-08-14 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Semiconductor memory device having global bit line precharge circuits
KR100324327B1 (ko) * 1999-10-19 2002-02-16 박종섭 디램의 동작영역 조절회로
JP2006331620A (ja) * 2005-04-28 2006-12-07 Toshiba Corp 半導体集積回路
US7663940B2 (en) 2007-01-08 2010-02-16 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device and driving method thereof
US7982493B1 (en) 2010-01-29 2011-07-19 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor integrated circuit for controlling output driving force

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