JPH0916253A - 排気浄化装置の診断装置 - Google Patents
排気浄化装置の診断装置Info
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- JPH0916253A JPH0916253A JP16591595A JP16591595A JPH0916253A JP H0916253 A JPH0916253 A JP H0916253A JP 16591595 A JP16591595 A JP 16591595A JP 16591595 A JP16591595 A JP 16591595A JP H0916253 A JPH0916253 A JP H0916253A
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- Japan
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- catalyst
- oxygen sensor
- bypass passage
- deterioration
- bypass
- Prior art date
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02T—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
- Y02T10/00—Road transport of goods or passengers
- Y02T10/10—Internal combustion engine [ICE] based vehicles
- Y02T10/40—Engine management systems
Landscapes
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Exhaust Gas After Treatment (AREA)
- Electrical Control Of Air Or Fuel Supplied To Internal-Combustion Engine (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 触媒の劣化判定に際してバイパス通路側への
漏れ故障に伴う誤診を防止する。 【構成】 バルブ切換手段36により主通路31aに排
気を流すときには上流側酸素センサー出力に基づいて、
またバイパス通路31bに排気を流すときは下流側酸素
センサー出力に基づいて制御手段37が空燃比のフィー
ドバック制御を行う。判定手段38の判定結果より触媒
32の劣化が進行しない条件でだけバイパスバルブ33
にバイパス通路31b側への漏れ故障が生じているかど
うかを少なくとも下流側酸素センサー出力に基づいて判
定手段39が判定し、この判定結果よりバイパスバルブ
33にバイパス通路31b側への漏れ故障が生じていな
い場合において触媒32の劣化が進行する条件になった
とき触媒32に劣化が生じたかどうかを少なくとも下流
側酸素センサー出力に基づいて判定手段40が判定す
る。
漏れ故障に伴う誤診を防止する。 【構成】 バルブ切換手段36により主通路31aに排
気を流すときには上流側酸素センサー出力に基づいて、
またバイパス通路31bに排気を流すときは下流側酸素
センサー出力に基づいて制御手段37が空燃比のフィー
ドバック制御を行う。判定手段38の判定結果より触媒
32の劣化が進行しない条件でだけバイパスバルブ33
にバイパス通路31b側への漏れ故障が生じているかど
うかを少なくとも下流側酸素センサー出力に基づいて判
定手段39が判定し、この判定結果よりバイパスバルブ
33にバイパス通路31b側への漏れ故障が生じていな
い場合において触媒32の劣化が進行する条件になった
とき触媒32に劣化が生じたかどうかを少なくとも下流
側酸素センサー出力に基づいて判定手段40が判定す
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はエンジンの排気浄化装
置の診断装置に関する。
置の診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】三元触媒の上流と下流に酸素センサーを
設け、それぞれの酸素センサー出力の反転周波数(また
は反転周期)を算出し、両者の周波数比を運転状態に応
じて算出される判定基準値とを比較することで、触媒に
劣化が生じたかどうかを判定するようにしたものが提案
されている(特開平3−57862号公報参照)。
設け、それぞれの酸素センサー出力の反転周波数(また
は反転周期)を算出し、両者の周波数比を運転状態に応
じて算出される判定基準値とを比較することで、触媒に
劣化が生じたかどうかを判定するようにしたものが提案
されている(特開平3−57862号公報参照)。
【0003】ここで、診断の原理は、触媒の有する酸素
ストレージ能力に応じて2つの酸素センサー出力の反転
周波数比が変化し、また触媒の酸素ストレージ能力が触
媒の劣化度合に応じて変化することを利用したものであ
る。上流側酸素センサー出力に基づいて空燃比フィード
バック制御を行うことで、排気空燃比が所定の周波数を
もってリッチになったりリーンになったりと周期的に変
動している状態において、その排気空燃比の反転周波数
は、上流側酸素センサー出力の反転周波数と一致する。
この場合に、触媒がフレッシュであれば、酸素ストレー
ジ能力が大きいため、触媒下流では排気空燃比の変動が
抑制されて下流側酸素センサー出力の反転周波数が非常
に小さなものとなる。これに対して触媒が劣化してくる
と、触媒の酸素ストレージ能力が低くなってくるため、
下流側酸素センサー出力の反転周波数が大きくなり、完
全に酸素ストレージ能力がない状態では下流側酸素セン
サー出力の反転周波数が上流側酸素センサー出力の反転
周波数とほぼ同一となる。つまり反転周波数比HZRA
TEを、 HZRATE=下流側酸素センサー出力の反転周波数/
上流側酸素センサー出力の反転周波数 とすると、触媒がフレッシュの状態ではHZRATEが
ほぼ0に近く、触媒が劣化するにつれて1に近づいてい
くので、予め実験により求めておいた触媒劣化の判定基
準値と比較することで、HZRATEが判定基準値以上
になると、触媒に劣化が生じたと判断することができる
のである。
ストレージ能力に応じて2つの酸素センサー出力の反転
周波数比が変化し、また触媒の酸素ストレージ能力が触
媒の劣化度合に応じて変化することを利用したものであ
る。上流側酸素センサー出力に基づいて空燃比フィード
バック制御を行うことで、排気空燃比が所定の周波数を
もってリッチになったりリーンになったりと周期的に変
動している状態において、その排気空燃比の反転周波数
は、上流側酸素センサー出力の反転周波数と一致する。
この場合に、触媒がフレッシュであれば、酸素ストレー
ジ能力が大きいため、触媒下流では排気空燃比の変動が
抑制されて下流側酸素センサー出力の反転周波数が非常
に小さなものとなる。これに対して触媒が劣化してくる
と、触媒の酸素ストレージ能力が低くなってくるため、
下流側酸素センサー出力の反転周波数が大きくなり、完
全に酸素ストレージ能力がない状態では下流側酸素セン
サー出力の反転周波数が上流側酸素センサー出力の反転
周波数とほぼ同一となる。つまり反転周波数比HZRA
TEを、 HZRATE=下流側酸素センサー出力の反転周波数/
上流側酸素センサー出力の反転周波数 とすると、触媒がフレッシュの状態ではHZRATEが
ほぼ0に近く、触媒が劣化するにつれて1に近づいてい
くので、予め実験により求めておいた触媒劣化の判定基
準値と比較することで、HZRATEが判定基準値以上
になると、触媒に劣化が生じたと判断することができる
のである。
【0004】なお、上記触媒劣化の判定基準値は、エン
ジンの負荷と回転数等によって定まる運転状態に応じて
変更することができる。
ジンの負荷と回転数等によって定まる運転状態に応じて
変更することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、排気管を主
通路とバイパス通路に分岐して主通路に触媒を設置する
とともに、排気の流れを主通路とバイパス通路とに切換
えるためのバイパスバルブを設け、低排気温度域では触
媒を排気の全量が、また高排気温度域では高排気温度に
よる触媒の劣化を防止するためバイパス通路を排気の全
量が流れるように、上記のバイパスバルブを切換制御す
るようにしたものがある(図1参照)。
通路とバイパス通路に分岐して主通路に触媒を設置する
とともに、排気の流れを主通路とバイパス通路とに切換
えるためのバイパスバルブを設け、低排気温度域では触
媒を排気の全量が、また高排気温度域では高排気温度に
よる触媒の劣化を防止するためバイパス通路を排気の全
量が流れるように、上記のバイパスバルブを切換制御す
るようにしたものがある(図1参照)。
【0006】このような構成においても、上記の劣化判
定を行うには、下流側酸素センサーを主通路とバイパス
通路の合流部より下流側に設けておき、バイパス通路の
全閉時に触媒に劣化が生じたかどうかの判定を行うこと
になるが、このような構成においては、バイパスバルブ
の故障により触媒の劣化判定に誤診が生じる可能性があ
る。
定を行うには、下流側酸素センサーを主通路とバイパス
通路の合流部より下流側に設けておき、バイパス通路の
全閉時に触媒に劣化が生じたかどうかの判定を行うこと
になるが、このような構成においては、バイパスバルブ
の故障により触媒の劣化判定に誤診が生じる可能性があ
る。
【0007】たとえば、バイパスバルブの正常時に劣化
判定を行ったところ、反転周波数比HZRATEが判定
基準値より少しだけ小さい状態(つまり触媒劣化と判定
されていない状態)であったとして、バイパス通路の全
閉時にバイパスバルブの故障によりバイパス通路を一部
の排気が流れるときは、見かけ上、触媒のストレージ能
力が低下した状態となって下流側酸素センサー出力の反
転周波数が増加し、その分だけ反転周波数比HZRAT
Eが大きくなるため、そのHZRATEの増大によって
判定基準値を超えたのでは、触媒に劣化が生じたと誤診
されてしまうのである。
判定を行ったところ、反転周波数比HZRATEが判定
基準値より少しだけ小さい状態(つまり触媒劣化と判定
されていない状態)であったとして、バイパス通路の全
閉時にバイパスバルブの故障によりバイパス通路を一部
の排気が流れるときは、見かけ上、触媒のストレージ能
力が低下した状態となって下流側酸素センサー出力の反
転周波数が増加し、その分だけ反転周波数比HZRAT
Eが大きくなるため、そのHZRATEの増大によって
判定基準値を超えたのでは、触媒に劣化が生じたと誤診
されてしまうのである。
【0008】そこでこの発明は、触媒の劣化が進行しな
い条件でだけ下流側酸素センサー出力に基づくことで、
バイパス通路側に排気が漏れる故障が生じているかどう
かを判定し、この判定結果よりバイパス通路側への漏れ
故障が生じてない場合において触媒の劣化が進行する条
件になるときだけ、触媒に劣化が生じたかどうかを判定
することにより、触媒の劣化判定に際してバイパス通路
側への漏れ故障に伴う誤診を防止することを目的とす
る。
い条件でだけ下流側酸素センサー出力に基づくことで、
バイパス通路側に排気が漏れる故障が生じているかどう
かを判定し、この判定結果よりバイパス通路側への漏れ
故障が生じてない場合において触媒の劣化が進行する条
件になるときだけ、触媒に劣化が生じたかどうかを判定
することにより、触媒の劣化判定に際してバイパス通路
側への漏れ故障に伴う誤診を防止することを目的とす
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】第1の発明では、図9に
示すように、排気管31の上流で主通路31aとバイパ
ス通路31bに分岐して主通路31aに触媒32を設置
し、排気の流れを主通路31aとバイパス通路31bと
に切換えるバイパスバルブ33を設ける一方で、前記触
媒32の上流と前記主通路31およびバイパス通路31
bの合流部より下流側とに酸素センサー34、35を配
置するとともに、低排気温度域で前記主通路31aに排
気を、高排気温度域になると前記バイパス通路31bに
排気を流すように前記バイパスバルブ33を切換える手
段36と、この切換手段36により前記主通路31aに
排気を流すときには前記上流側の酸素センサー34出力
に基づいて、また前記バイパス通路31bに排気を流す
ときは前記下流側の酸素センサー出力に基づいてそれぞ
れ空燃比のフィードバック制御を行う手段37と、前記
触媒32の劣化が進行しない条件であるのか劣化が進行
する条件であるのかを判定する手段38と、この判定結
果より前記触媒32の劣化が進行しない条件でだけ前記
バイパスバルブ33にバイパス通路31b側への漏れ故
障が生じているかどうかを少なくとも前記下流側酸素セ
ンサー出力に基づいて判定する手段39と、この判定結
果より前記バイパスバルブ33にバイパス通路31b側
への漏れ故障が生じていない場合において前記触媒32
の劣化が進行する条件になったとき前記触媒32に劣化
が生じたかどうかを少なくとも前記下流側酸素センサー
出力に基づいて判定する手段40とを設けた。
示すように、排気管31の上流で主通路31aとバイパ
ス通路31bに分岐して主通路31aに触媒32を設置
し、排気の流れを主通路31aとバイパス通路31bと
に切換えるバイパスバルブ33を設ける一方で、前記触
媒32の上流と前記主通路31およびバイパス通路31
bの合流部より下流側とに酸素センサー34、35を配
置するとともに、低排気温度域で前記主通路31aに排
気を、高排気温度域になると前記バイパス通路31bに
排気を流すように前記バイパスバルブ33を切換える手
段36と、この切換手段36により前記主通路31aに
排気を流すときには前記上流側の酸素センサー34出力
に基づいて、また前記バイパス通路31bに排気を流す
ときは前記下流側の酸素センサー出力に基づいてそれぞ
れ空燃比のフィードバック制御を行う手段37と、前記
触媒32の劣化が進行しない条件であるのか劣化が進行
する条件であるのかを判定する手段38と、この判定結
果より前記触媒32の劣化が進行しない条件でだけ前記
バイパスバルブ33にバイパス通路31b側への漏れ故
障が生じているかどうかを少なくとも前記下流側酸素セ
ンサー出力に基づいて判定する手段39と、この判定結
果より前記バイパスバルブ33にバイパス通路31b側
への漏れ故障が生じていない場合において前記触媒32
の劣化が進行する条件になったとき前記触媒32に劣化
が生じたかどうかを少なくとも前記下流側酸素センサー
出力に基づいて判定する手段40とを設けた。
【0010】第2の発明では、第1の発明において、前
記触媒32の劣化が進行する条件になったとき、その条
件にいた履歴(たとえば経過時間)に応じて前記触媒3
2の最大劣化状態を予測する手段と、少なくとも前記下
流側酸素センサー出力に基づいて前記触媒32の現在の
劣化状態を算出する手段と、この現在の劣化状態と前記
最大劣化状態との比較より現在の劣化状態のほうが最大
劣化状態より大きい場合に前記バイパスバルブ33にバ
イパス通路側への漏れ故障があると判定する手段とを設
けた。
記触媒32の劣化が進行する条件になったとき、その条
件にいた履歴(たとえば経過時間)に応じて前記触媒3
2の最大劣化状態を予測する手段と、少なくとも前記下
流側酸素センサー出力に基づいて前記触媒32の現在の
劣化状態を算出する手段と、この現在の劣化状態と前記
最大劣化状態との比較より現在の劣化状態のほうが最大
劣化状態より大きい場合に前記バイパスバルブ33にバ
イパス通路側への漏れ故障があると判定する手段とを設
けた。
【0011】第3の発明では、第1または第2の発明に
おいて、前記上流側酸素センサー34を前記バイパスバ
ルブ33の下流側に設ける。
おいて、前記上流側酸素センサー34を前記バイパスバ
ルブ33の下流側に設ける。
【0012】第4の発明では、第1から第3までのいず
れか一つの発明において、前記バイパス通路側への漏れ
故障の判定を行う条件が定常時である。
れか一つの発明において、前記バイパス通路側への漏れ
故障の判定を行う条件が定常時である。
【0013】
【作用】排気管の上流で主通路とバイパス通路に分岐し
て主通路に触媒を設置し、排気の流れを主通路とバイパ
ス通路とに切換えるバイパスバルブを設ける一方で、触
媒の上流と主通路およびバイパス通路の合流部より下流
側とに酸素センサーを配置するとともに、低排気温度域
で主通路に排気を、高排気温度域になるとバイパス通路
に排気を流すようにバイパスバルブを切換え、この切換
により主通路に排気を流すときには上流側の酸素センサ
ー出力に基づいて、またバイパス通路に排気を流すとき
は下流側の酸素センサー出力に基づいてそれぞれ空燃比
のフィードバック制御を行う構成の場合にも、触媒に劣
化が生じたかどうかの判定を行おうとすれば、バイパス
通路の全閉時に劣化判定を行うことになるが、この構成
においては、バイパスバルブの故障により触媒の劣化判
定に誤診が生じる可能性がある。バイパス通路の全閉時
にバイパスバルブの故障によりバイパス通路を一部の排
気が流れるときは、見かけ上、触媒のストレージ能力が
低下した状態となって下流側酸素センサー出力が変化
(反転周波数が増加)するので、この変化分だけ下流側
酸素センサー出力に誤差を生じることになるからであ
る。
て主通路に触媒を設置し、排気の流れを主通路とバイパ
ス通路とに切換えるバイパスバルブを設ける一方で、触
媒の上流と主通路およびバイパス通路の合流部より下流
側とに酸素センサーを配置するとともに、低排気温度域
で主通路に排気を、高排気温度域になるとバイパス通路
に排気を流すようにバイパスバルブを切換え、この切換
により主通路に排気を流すときには上流側の酸素センサ
ー出力に基づいて、またバイパス通路に排気を流すとき
は下流側の酸素センサー出力に基づいてそれぞれ空燃比
のフィードバック制御を行う構成の場合にも、触媒に劣
化が生じたかどうかの判定を行おうとすれば、バイパス
通路の全閉時に劣化判定を行うことになるが、この構成
においては、バイパスバルブの故障により触媒の劣化判
定に誤診が生じる可能性がある。バイパス通路の全閉時
にバイパスバルブの故障によりバイパス通路を一部の排
気が流れるときは、見かけ上、触媒のストレージ能力が
低下した状態となって下流側酸素センサー出力が変化
(反転周波数が増加)するので、この変化分だけ下流側
酸素センサー出力に誤差を生じることになるからであ
る。
【0014】しかしながら、触媒の劣化が進行しない条
件であれば、バイパス通路に排気が漏れる故障が生じて
いる場合にだけ下流側酸素センサー出力に変化が生じる
ことになる。したがって、第1の発明により触媒の劣化
が進行しない条件でだけ下流側酸素センサー出力に基づ
くことで、バイパス通路側への漏れ故障が生じているか
どうかを判定することができる。また、その判定結果よ
りバイパス通路側への漏れ故障が生じてない場合におい
て触媒の劣化が進行する条件になると、触媒に劣化が生
じたかどうかを判定するので、触媒の劣化判定に際して
バイパス通路側への漏れ故障に伴う誤診が生じることが
ない。
件であれば、バイパス通路に排気が漏れる故障が生じて
いる場合にだけ下流側酸素センサー出力に変化が生じる
ことになる。したがって、第1の発明により触媒の劣化
が進行しない条件でだけ下流側酸素センサー出力に基づ
くことで、バイパス通路側への漏れ故障が生じているか
どうかを判定することができる。また、その判定結果よ
りバイパス通路側への漏れ故障が生じてない場合におい
て触媒の劣化が進行する条件になると、触媒に劣化が生
じたかどうかを判定するので、触媒の劣化判定に際して
バイパス通路側への漏れ故障に伴う誤診が生じることが
ない。
【0015】第2の発明では、触媒の劣化が進行する条
件においてその条件にいた履歴に応じて触媒の最大劣化
状態を予測しており、この最大劣化状態と下流側酸素セ
ンサー出力に基づいて算出される現在の劣化状態とを比
較すれば、現在の劣化状態が最大劣化状態より大きくな
ることがない。これを逆にいえば、現在の劣化状態のほ
うが最大劣化状態より大きい場合にバイパス通路側への
漏れ故障があると判定することができ、これによって第
2の発明では触媒の劣化が進行する条件でも、バイパス
通路側への漏れ故障の診断を行うことが可能となる。
件においてその条件にいた履歴に応じて触媒の最大劣化
状態を予測しており、この最大劣化状態と下流側酸素セ
ンサー出力に基づいて算出される現在の劣化状態とを比
較すれば、現在の劣化状態が最大劣化状態より大きくな
ることがない。これを逆にいえば、現在の劣化状態のほ
うが最大劣化状態より大きい場合にバイパス通路側への
漏れ故障があると判定することができ、これによって第
2の発明では触媒の劣化が進行する条件でも、バイパス
通路側への漏れ故障の診断を行うことが可能となる。
【0016】第3の発明では、上流側酸素センサー34
を前記バイパスバルブ33の下流側に設けるので、高温
の排気に晒されることによる酸素センサー34の劣化を
防止できる。
を前記バイパスバルブ33の下流側に設けるので、高温
の排気に晒されることによる酸素センサー34の劣化を
防止できる。
【0017】第4の発明では、バイパス通路側への漏れ
故障の判定を行う条件が定常時であるので、過渡時にも
バイパス通路側への漏れ故障の判定を行う場合に比べて
下流側酸素センサー出力が安定し、判定精度が向上す
る。
故障の判定を行う条件が定常時であるので、過渡時にも
バイパス通路側への漏れ故障の判定を行う場合に比べて
下流側酸素センサー出力が安定し、判定精度が向上す
る。
【0018】
【実施例】図1において、排気マニホールド2に接続さ
れる排気管3は主通路3aとバイパス通路3bに分岐さ
れ、主通路に三元触媒からなるフロント触媒4が、また
バイパス通路の合流部より下流にも三元触媒からなるリ
ア触媒5が設置されている。
れる排気管3は主通路3aとバイパス通路3bに分岐さ
れ、主通路に三元触媒からなるフロント触媒4が、また
バイパス通路の合流部より下流にも三元触媒からなるリ
ア触媒5が設置されている。
【0019】バイパス通路3bの分岐点のすぐ下流に、
排気の流れを主通路3aとバイパス通路3bとに切換え
るためのバイパスバルブ6が設けられ、このバイパスバ
ルブ6は駆動装置7(たとえばステップモーター等)に
より駆動される。バイパスバルブ6では主通路側のバタ
フライ状バルブ6aと、バイパス通路側のバタフライ状
バルブ6bとがそれぞれほぼ直交する状態でシャフト6
cに固定されており、主通路側バルブ6aが全開の場合
にバイパス通路側バルブ6bが全閉となり、この逆に主
通路側バルブ6aが全閉の場合にバイパス通路側バルブ
6bが全開となる。なお、バイパス換バルブ6はバイパ
ス通路3bと主通路3aの分岐部や合流部に設けること
もできる。
排気の流れを主通路3aとバイパス通路3bとに切換え
るためのバイパスバルブ6が設けられ、このバイパスバ
ルブ6は駆動装置7(たとえばステップモーター等)に
より駆動される。バイパスバルブ6では主通路側のバタ
フライ状バルブ6aと、バイパス通路側のバタフライ状
バルブ6bとがそれぞれほぼ直交する状態でシャフト6
cに固定されており、主通路側バルブ6aが全開の場合
にバイパス通路側バルブ6bが全閉となり、この逆に主
通路側バルブ6aが全閉の場合にバイパス通路側バルブ
6bが全開となる。なお、バイパス換バルブ6はバイパ
ス通路3bと主通路3aの分岐部や合流部に設けること
もできる。
【0020】マイクロコンピューターからなるコントロ
ールユニット21では、後述する基本噴射パルス幅T
p、エンジン回転数NRPMから、さらに冷却水温Tw
に応じても排気温度Texhを予測し、低速低負荷時等
の低排気温度域ではフロント触媒4を排気の全量が、ま
た高速高負荷時等の高排気温度域になるとフロント触媒
4の劣化防止のためバイパス通路3bを排気の全量が流
れるように、バイパスバルブ6を切換制御する。
ールユニット21では、後述する基本噴射パルス幅T
p、エンジン回転数NRPMから、さらに冷却水温Tw
に応じても排気温度Texhを予測し、低速低負荷時等
の低排気温度域ではフロント触媒4を排気の全量が、ま
た高速高負荷時等の高排気温度域になるとフロント触媒
4の劣化防止のためバイパス通路3bを排気の全量が流
れるように、バイパスバルブ6を切換制御する。
【0021】フロント触媒4の直ぐ上流でバルブ6aの
下流に上流側酸素センサー11が、また主通路3aとバ
イパス通路3bの合流部近傍に下流側酸素センサー12
がそれぞれ設けられる。バルブ6aの下流に上流側酸素
センサー11を設けたのは、高排気温度によりセンサー
11が劣化を防止するためである。
下流に上流側酸素センサー11が、また主通路3aとバ
イパス通路3bの合流部近傍に下流側酸素センサー12
がそれぞれ設けられる。バルブ6aの下流に上流側酸素
センサー11を設けたのは、高排気温度によりセンサー
11が劣化を防止するためである。
【0022】これら2つの酸素センサー11、12から
の信号は、エンジンの冷却水温Twを検出するセンサー
13、エアフローメーター14、クランク角度の単位角
度ごとの信号と基準位置信号(Ref信号)とを出力す
るクランク角度センサー15からの信号とともに、コン
トロールユニット21に入力され、コントロールユニッ
ト21では、吸入空気量Qaとエンジン回転数NRPM
から基本噴射パルス幅Tpを算出し、これに応じた時間
だけ吸気ポートに設置された燃料インジェクター22を
エンジン回転に同期して開いて燃料を噴射するととも
に、所定の空燃比フィードバック制御域において空燃比
が理論空燃比を中心とした狭い範囲に収まるように空燃
比フィードバック補正係数αを算出し、これを上記のT
pに乗算することによって、空燃比のフィードバック制
御を行う。
の信号は、エンジンの冷却水温Twを検出するセンサー
13、エアフローメーター14、クランク角度の単位角
度ごとの信号と基準位置信号(Ref信号)とを出力す
るクランク角度センサー15からの信号とともに、コン
トロールユニット21に入力され、コントロールユニッ
ト21では、吸入空気量Qaとエンジン回転数NRPM
から基本噴射パルス幅Tpを算出し、これに応じた時間
だけ吸気ポートに設置された燃料インジェクター22を
エンジン回転に同期して開いて燃料を噴射するととも
に、所定の空燃比フィードバック制御域において空燃比
が理論空燃比を中心とした狭い範囲に収まるように空燃
比フィードバック補正係数αを算出し、これを上記のT
pに乗算することによって、空燃比のフィードバック制
御を行う。
【0023】この場合、主通路3aに排気を流すときに
は、上流側酸素センサー出力に基づいて空燃比フィード
バック補正係数αを算出し、またバイパス通路3bに排
気を流すときは下流側酸素センサー出力に基づいてαを
算出する。
は、上流側酸素センサー出力に基づいて空燃比フィード
バック補正係数αを算出し、またバイパス通路3bに排
気を流すときは下流側酸素センサー出力に基づいてαを
算出する。
【0024】さて、上述したように、温度域に応じてバ
イパスバルブ6を切換え、この切換により主通路3aに
排気を流すときには上流側の酸素センサー出力に基づい
て、またバイパス通路3bに排気を流すときは下流側の
酸素センサー出力に基づいてそれぞれ空燃比のフィード
バック制御を行う構成の場合にも、フロント触媒4に劣
化が生じたかどうかの判定を行おうとすれば、バイパス
通路3bの全閉時に劣化判定を行うことになるが、この
構成においては、バイパスバルブ6の故障によりフロン
ト触媒4の劣化判定に誤診が生じる可能性がある。バイ
パス通路3bの全閉時にたとえばバイパス通路側バルブ
6bと吸気通路壁との間に異物がかみこんでバイパス通
路3bを一部の排気が流れるときは、見かけ上、フロン
ト触媒4のストレージ能力が低下した状態となって下流
側酸素センサー出力の反転周波数が増加するので、この
増加分だけ下流側酸素センサー出力に誤差を生じること
になるからである。なお、以下で劣化を判定するのはフ
ロント触媒についてだけであるため、単にフロント触媒
のことを単に触媒という。
イパスバルブ6を切換え、この切換により主通路3aに
排気を流すときには上流側の酸素センサー出力に基づい
て、またバイパス通路3bに排気を流すときは下流側の
酸素センサー出力に基づいてそれぞれ空燃比のフィード
バック制御を行う構成の場合にも、フロント触媒4に劣
化が生じたかどうかの判定を行おうとすれば、バイパス
通路3bの全閉時に劣化判定を行うことになるが、この
構成においては、バイパスバルブ6の故障によりフロン
ト触媒4の劣化判定に誤診が生じる可能性がある。バイ
パス通路3bの全閉時にたとえばバイパス通路側バルブ
6bと吸気通路壁との間に異物がかみこんでバイパス通
路3bを一部の排気が流れるときは、見かけ上、フロン
ト触媒4のストレージ能力が低下した状態となって下流
側酸素センサー出力の反転周波数が増加するので、この
増加分だけ下流側酸素センサー出力に誤差を生じること
になるからである。なお、以下で劣化を判定するのはフ
ロント触媒についてだけであるため、単にフロント触媒
のことを単に触媒という。
【0025】これに対処するため本発明では、触媒4の
劣化が進行しない条件でだけ下流側酸素センサー出力に
基づくことで、バイパス通路側への漏れ故障が生じてい
るかどうかを判定し、この判定結果よりバイパス通路側
への漏れ故障が生じてない場合において触媒4の劣化が
進行する条件になるときだけ、触媒4に劣化が生じたか
どうかを判定する。
劣化が進行しない条件でだけ下流側酸素センサー出力に
基づくことで、バイパス通路側への漏れ故障が生じてい
るかどうかを判定し、この判定結果よりバイパス通路側
への漏れ故障が生じてない場合において触媒4の劣化が
進行する条件になるときだけ、触媒4に劣化が生じたか
どうかを判定する。
【0026】コントロールユニット21で実行されるこ
の制御の内容を、以下のフローチャートにしたがって説
明する。
の制御の内容を、以下のフローチャートにしたがって説
明する。
【0027】図2と図3のフローチャートは、たとえば
10sec毎に実行する。
10sec毎に実行する。
【0028】図2のステップ1から4までは診断条件で
あるかどうかをみる部分である。まず、ステップ1で
は、触媒4と2つの酸素センサー11、12とが活性化
したかどうかをみる。たとえば冷却水温が60℃以上と
なっているときあるいは始動後100sec以上経過し
たとき活性化していると判断してステップ2へ進み、そ
れ以外では図2のフローを終了する。
あるかどうかをみる部分である。まず、ステップ1で
は、触媒4と2つの酸素センサー11、12とが活性化
したかどうかをみる。たとえば冷却水温が60℃以上と
なっているときあるいは始動後100sec以上経過し
たとき活性化していると判断してステップ2へ進み、そ
れ以外では図2のフローを終了する。
【0029】ステップ2では空燃比フィードバック制御
中(図では空燃比F/B中で略記)であるかどうかみ
て、空燃比フィードバック制御中であればステップ3に
進み、そうでなければ図2のフローを終了する。
中(図では空燃比F/B中で略記)であるかどうかみ
て、空燃比フィードバック制御中であればステップ3に
進み、そうでなければ図2のフローを終了する。
【0030】ステップ3では駆動装置7への出力信号か
ら主通路側バルブ6aが全開状態にあるかどうかみて、
全開状態のときはステップ4に進み、そうでないときは
図2のフローを終了する。
ら主通路側バルブ6aが全開状態にあるかどうかみて、
全開状態のときはステップ4に進み、そうでないときは
図2のフローを終了する。
【0031】ステップ4では定常運転状態かどうかをみ
る。たとえば、基本噴射パルス幅Tpと回転数NRPM
の10sec当たりの各変化幅が所定値以内にあれば、
定常運転状態にあると判断して図3のステップ11に進
み、そうでないときは図2のフローを終了する。ここ
で、定常状態であることを診断条件の1つの要件として
いるのは、非定常時では反転周波数比HZRATEが安
定せず、HZRATEの判定時に誤差を生じることがあ
るので、この誤差を防ぐためである。
る。たとえば、基本噴射パルス幅Tpと回転数NRPM
の10sec当たりの各変化幅が所定値以内にあれば、
定常運転状態にあると判断して図3のステップ11に進
み、そうでないときは図2のフローを終了する。ここ
で、定常状態であることを診断条件の1つの要件として
いるのは、非定常時では反転周波数比HZRATEが安
定せず、HZRATEの判定時に誤差を生じることがあ
るので、この誤差を防ぐためである。
【0032】図3のステップ11では、前回に診断を行
った後に高排気温度域に入ったかどうかを高排気温度フ
ラグfhitemにより判定する。高排気温度フラグf
hitemは始動時に“0”にイニシャライズし、後述
するステップ18、19、20において高排気温度域に
入っていれば“1”にセットされるフラグである。いま
は高排気温度域に入っていないとしてステップ12に進
む。
った後に高排気温度域に入ったかどうかを高排気温度フ
ラグfhitemにより判定する。高排気温度フラグf
hitemは始動時に“0”にイニシャライズし、後述
するステップ18、19、20において高排気温度域に
入っていれば“1”にセットされるフラグである。いま
は高排気温度域に入っていないとしてステップ12に進
む。
【0033】ステップ12では、バイパスバルブの故障
診断を、今回の始動後に既に実行したかどうかをバルブ
チェックフラグfvalchkの値から判定する。fv
alchk=0のときはまだバルブ故障診断を実行して
いないと判断し、ステップ13以降に進む。
診断を、今回の始動後に既に実行したかどうかをバルブ
チェックフラグfvalchkの値から判定する。fv
alchk=0のときはまだバルブ故障診断を実行して
いないと判断し、ステップ13以降に進む。
【0034】ステップ13、14、15はバイパスバル
ブ6にバイパス通路側への漏れ故障があるかどうかを判
定する部分である。ここでの漏れ故障の判定は、バイパ
ス通路側のバルブ6bが全閉状態にある条件にもかかわ
らず、異物等により全閉できずに排気の一部がバイパス
通路3bに漏れるという故障を判定するものである。こ
の漏れた排気は、触媒4で浄化されないため排気エミッ
ションの悪化原因となることから、バルブ6に生じるバ
イパス通路側への漏れ故障を判定する必要があるわけで
ある。バイパス通路側への漏れ故障は、バルブ6bに漏
れがある場合は下流側酸素センサー出力の反転周波数
が、上流側酸素センサー出力の反転周波数と同等になる
ため、触媒4の劣化判定と同じく、反転周波数比HZR
ATEから判定できる。
ブ6にバイパス通路側への漏れ故障があるかどうかを判
定する部分である。ここでの漏れ故障の判定は、バイパ
ス通路側のバルブ6bが全閉状態にある条件にもかかわ
らず、異物等により全閉できずに排気の一部がバイパス
通路3bに漏れるという故障を判定するものである。こ
の漏れた排気は、触媒4で浄化されないため排気エミッ
ションの悪化原因となることから、バルブ6に生じるバ
イパス通路側への漏れ故障を判定する必要があるわけで
ある。バイパス通路側への漏れ故障は、バルブ6bに漏
れがある場合は下流側酸素センサー出力の反転周波数
が、上流側酸素センサー出力の反転周波数と同等になる
ため、触媒4の劣化判定と同じく、反転周波数比HZR
ATEから判定できる。
【0035】ステップ13、14、15では後述するス
テップ21、22、23と同様にして、反転周波数比H
ZRATEをモニターし、基本噴射Tp、回転数NRP
Mから図4を内容とするマップを検索することにより、
故障判定値HZVALを求め、HZRATEとHZVA
Lを比較する。
テップ21、22、23と同様にして、反転周波数比H
ZRATEをモニターし、基本噴射Tp、回転数NRP
Mから図4を内容とするマップを検索することにより、
故障判定値HZVALを求め、HZRATEとHZVA
Lを比較する。
【0036】この比較の結果、HZRATEがHZVA
L以上であればバルブ6bに漏れ故障があると判断し、
ステップ16に進んで、バルブ6bの漏れ故障を警告す
るためのアラームを点灯する(あるいは警告ブザーを鳴
らす)。
L以上であればバルブ6bに漏れ故障があると判断し、
ステップ16に進んで、バルブ6bの漏れ故障を警告す
るためのアラームを点灯する(あるいは警告ブザーを鳴
らす)。
【0037】一方、HZRATEがHZVALより小さ
ければバルブ6bに漏れ故障が生じてないと判断し、ス
テップ17でバルブチェックフラグfvalchkを
“1”にセットする。このフラグfvalchkの
“1”へのセットにより、次の制御周期からはステップ
12よりステップ21以降に流れる。これは、バルブ6
bの漏れ故障の判定は一走行に一回だけとするものであ
る。ただし、たとえば10分間隔で、フラグfvalc
hkを“0”にイニシャライズすれば、走行中に定期的
にバルブ6bの漏れ故障の診断を行うことが可能とな
る。
ければバルブ6bに漏れ故障が生じてないと判断し、ス
テップ17でバルブチェックフラグfvalchkを
“1”にセットする。このフラグfvalchkの
“1”へのセットにより、次の制御周期からはステップ
12よりステップ21以降に流れる。これは、バルブ6
bの漏れ故障の判定は一走行に一回だけとするものであ
る。ただし、たとえば10分間隔で、フラグfvalc
hkを“0”にイニシャライズすれば、走行中に定期的
にバルブ6bの漏れ故障の診断を行うことが可能とな
る。
【0038】ステップ18では、TpとNRPMから図
6を内容とするマップを検索することにより、排気温度
Texhを求め、これと所定値T0をステップ19にお
いて比較し、排気温度Texhが所定値T0以上であれ
ば高排気温度域に入っていると判断し、ステップ20に
おいてフラグfhitemを“1”にセットする。所定
値T0は一般に触媒4の劣化が進行する温度の下限値
(たとえば600℃)である。
6を内容とするマップを検索することにより、排気温度
Texhを求め、これと所定値T0をステップ19にお
いて比較し、排気温度Texhが所定値T0以上であれ
ば高排気温度域に入っていると判断し、ステップ20に
おいてフラグfhitemを“1”にセットする。所定
値T0は一般に触媒4の劣化が進行する温度の下限値
(たとえば600℃)である。
【0039】このフラグfhitemの“1”へのセッ
トにより次の制御周期からは、ステップ11よりステッ
プ21以降に進む。つまり、バルブ6bの漏れ故障の判
定終了後に高排気温度域に入っている(触媒4の劣化が
進行する条件である)場合は、以後バルブ6bの漏れ故
障の判定を行わせない。言い換えると、前回のバルブ6
bの漏れ故障判定終了後に高排気温度域に入っていない
(触媒4の劣化が進行していない)場合に限りバルブ6
bの漏れ故障判定を行わせるわけである。
トにより次の制御周期からは、ステップ11よりステッ
プ21以降に進む。つまり、バルブ6bの漏れ故障の判
定終了後に高排気温度域に入っている(触媒4の劣化が
進行する条件である)場合は、以後バルブ6bの漏れ故
障の判定を行わせない。言い換えると、前回のバルブ6
bの漏れ故障判定終了後に高排気温度域に入っていない
(触媒4の劣化が進行していない)場合に限りバルブ6
bの漏れ故障判定を行わせるわけである。
【0040】ステップ11、12において、フラグfh
itemが“1”であることより高排気温度を経験した
ときと、フラグfvalchkが“1”であることより
バルブ故障診断が終了しているときはステップ21以降
に進む。
itemが“1”であることより高排気温度を経験した
ときと、フラグfvalchkが“1”であることより
バルブ故障診断が終了しているときはステップ21以降
に進む。
【0041】ステップ21、22、23は触媒4に劣化
が生じたかどうかの判定を行う部分であり、従来と同様
にして、HZRATEをモニターし、Tp、NRPMか
ら図5を内容とするマップを検索することにより触媒の
劣化判定値HZCATを求め、HZRATEとHZCA
Tを比較する。比較の結果、HZRATEがHZCAT
より小さければ触媒4に劣化が生じてないと判断して図
3のフローを終了し、HZRATEがHZCAT以上で
あれば触媒4に劣化が生じたと判断し、ステップ24で
触媒4に劣化が生じたことを警告するためのアラームを
点灯する。
が生じたかどうかの判定を行う部分であり、従来と同様
にして、HZRATEをモニターし、Tp、NRPMか
ら図5を内容とするマップを検索することにより触媒の
劣化判定値HZCATを求め、HZRATEとHZCA
Tを比較する。比較の結果、HZRATEがHZCAT
より小さければ触媒4に劣化が生じてないと判断して図
3のフローを終了し、HZRATEがHZCAT以上で
あれば触媒4に劣化が生じたと判断し、ステップ24で
触媒4に劣化が生じたことを警告するためのアラームを
点灯する。
【0042】上記の2つの判定値HZVALとHZCA
Tは、図4と図5に示すように、基本的に基本噴射パル
ス幅Tpが大きくなるほど、また回転数NRPMが大き
くなるほど値が大きくなる特性である。実際には下流側
酸素センサー12の取り付け位置等の影響を受けるた
め、実験的に求めることが必要である。
Tは、図4と図5に示すように、基本的に基本噴射パル
ス幅Tpが大きくなるほど、また回転数NRPMが大き
くなるほど値が大きくなる特性である。実際には下流側
酸素センサー12の取り付け位置等の影響を受けるた
め、実験的に求めることが必要である。
【0043】このように、第1実施例では、診断前の排
気温度の経緯をみて触媒4の劣化が進行していない条件
であるかどうかを判定し、触媒4の劣化が進行していな
い条件でだけバイパスバルブ6にバイパス通路側への漏
れ故障があるかどうかの判定を行い、この判定結果より
バイパス通路側への漏れ故障がない場合において触媒4
の劣化が進行する条件になったとき触媒4に劣化が生じ
たかどうかの判定を行うようにしたので、バイパス通路
側への漏れ診断を行うことができるほか、触媒4の劣化
判定に際してバイパス通路側への漏れ故障に伴う誤診が
生じることがない。
気温度の経緯をみて触媒4の劣化が進行していない条件
であるかどうかを判定し、触媒4の劣化が進行していな
い条件でだけバイパスバルブ6にバイパス通路側への漏
れ故障があるかどうかの判定を行い、この判定結果より
バイパス通路側への漏れ故障がない場合において触媒4
の劣化が進行する条件になったとき触媒4に劣化が生じ
たかどうかの判定を行うようにしたので、バイパス通路
側への漏れ診断を行うことができるほか、触媒4の劣化
判定に際してバイパス通路側への漏れ故障に伴う誤診が
生じることがない。
【0044】図7は第2実施例で図3に対応する。図3
と異なるのは、ステップ31からステップ37を加えた
点であり、これらの相違点を主に説明する。
と異なるのは、ステップ31からステップ37を加えた
点であり、これらの相違点を主に説明する。
【0045】ステップ11で前回のバルブ6bの漏れ故
障の判定後に高排気温度域に入ったと判定された場合
は、ステップ31で前回の故障判定時の反転周波数比H
ZPREを読み込む。このHZPREは、図7のフロー
の終了前のステップ37において反転周波数比HZRA
TEをHZPREとしてメモリーに記憶しておくことに
よって得ることができる。
障の判定後に高排気温度域に入ったと判定された場合
は、ステップ31で前回の故障判定時の反転周波数比H
ZPREを読み込む。このHZPREは、図7のフロー
の終了前のステップ37において反転周波数比HZRA
TEをHZPREとしてメモリーに記憶しておくことに
よって得ることができる。
【0046】ステップ32では高排気温度域で経過した
時間(触媒4の劣化が進行する条件にいた履歴)を読み
込み、ステップ33においてこの経過時間から図8を内
容とするテーブルを検索することにより、触媒劣化に伴
う反転周波数比HZRATEの変化代(増加代)DHZ
を求める。ここで、DHZは、高排気温度域における触
媒劣化に伴うHZRATEの変化(増加)を予め実験的
に求めておいた結果を、経過時間に対するテーブルとし
てメモリーに記憶したもので、最大劣化状態での値であ
る。
時間(触媒4の劣化が進行する条件にいた履歴)を読み
込み、ステップ33においてこの経過時間から図8を内
容とするテーブルを検索することにより、触媒劣化に伴
う反転周波数比HZRATEの変化代(増加代)DHZ
を求める。ここで、DHZは、高排気温度域における触
媒劣化に伴うHZRATEの変化(増加)を予め実験的
に求めておいた結果を、経過時間に対するテーブルとし
てメモリーに記憶したもので、最大劣化状態での値であ
る。
【0047】ステップ34では今回のHZRATEをモ
ニターし、これをステップ35においてHTPREにD
HZを加えた値と比較する。つまり、前回のバルブ6b
の漏れ故障判定のタイミングに対しその後の高排気温度
による触媒4の劣化を予測したときの触媒最大劣化状態
相当量がHZPRE+DHZであり、これと今回実測さ
れた触媒劣化状態相当量であるHZRATEとを比べる
わけで、HZRATE<HZPRE+DHZであれば、
触媒4の劣化が予測される範囲内にあることになる。こ
れを逆にいうと、HZRATE≧HZPRE+DHZと
なったときは、触媒4の劣化による反転周波数比の増加
でない(つまりバルブ6bの漏れ故障)と判断し、ステ
ップ36でバルブ6bに漏れ故障が生じたことを警告す
るためのアラームを点灯する。
ニターし、これをステップ35においてHTPREにD
HZを加えた値と比較する。つまり、前回のバルブ6b
の漏れ故障判定のタイミングに対しその後の高排気温度
による触媒4の劣化を予測したときの触媒最大劣化状態
相当量がHZPRE+DHZであり、これと今回実測さ
れた触媒劣化状態相当量であるHZRATEとを比べる
わけで、HZRATE<HZPRE+DHZであれば、
触媒4の劣化が予測される範囲内にあることになる。こ
れを逆にいうと、HZRATE≧HZPRE+DHZと
なったときは、触媒4の劣化による反転周波数比の増加
でない(つまりバルブ6bの漏れ故障)と判断し、ステ
ップ36でバルブ6bに漏れ故障が生じたことを警告す
るためのアラームを点灯する。
【0048】一方、HZRATE<HTPRE+DHZ
である場合は、バルブ6bに漏れ故障はないのであるか
ら、触媒4に劣化が生じたかどうかの判定を行うためス
テップ22以降に進み、第1実施例と同様に触媒4の劣
化判定を行う。
である場合は、バルブ6bに漏れ故障はないのであるか
ら、触媒4に劣化が生じたかどうかの判定を行うためス
テップ22以降に進み、第1実施例と同様に触媒4の劣
化判定を行う。
【0049】このように第2実施例では、触媒4の劣化
が進行する高排気温度域を経験している場合でも、バル
ブ6bの漏れ故障の判定を行うことが可能となる。
が進行する高排気温度域を経験している場合でも、バル
ブ6bの漏れ故障の判定を行うことが可能となる。
【0050】2つの実施例では、2つの酸素センサー出
力の反転周波数比HZRATEに基づいてバルブ6bの
漏れ故障と触媒4の劣化の各判定を行う場合で説明した
が、これに限らず、たとえば上流側酸素センサー出力の
反転時より下流側酸素センサー出力の反転までの応答遅
れで判定する方式、または下流側酸素センサー出力単独
の反転周波数(または振幅)で判定する方式といった方
式の判定でも適用可能である。
力の反転周波数比HZRATEに基づいてバルブ6bの
漏れ故障と触媒4の劣化の各判定を行う場合で説明した
が、これに限らず、たとえば上流側酸素センサー出力の
反転時より下流側酸素センサー出力の反転までの応答遅
れで判定する方式、または下流側酸素センサー出力単独
の反転周波数(または振幅)で判定する方式といった方
式の判定でも適用可能である。
【0051】また、フロント触媒として通常の三元触媒
で説明したが、これに限られるものでなく、酸素ストレ
ージ能力がありかつ酸素ストレージ能力と転化性能の間
に相関があるものであれば適用可能である。つまり、程
度の差はあるものの、NOx吸蔵還元型三元触媒や酸化
触媒でも適用の可能性があることはいうまでもない。
で説明したが、これに限られるものでなく、酸素ストレ
ージ能力がありかつ酸素ストレージ能力と転化性能の間
に相関があるものであれば適用可能である。つまり、程
度の差はあるものの、NOx吸蔵還元型三元触媒や酸化
触媒でも適用の可能性があることはいうまでもない。
【0052】
【発明の効果】第1の発明では、バイパス通路側への漏
れ故障を判定できるほか、触媒の劣化判定に際してバイ
パス通路側への漏れ故障に伴う誤診が生じることがな
い。
れ故障を判定できるほか、触媒の劣化判定に際してバイ
パス通路側への漏れ故障に伴う誤診が生じることがな
い。
【0053】第2の発明では、触媒の劣化が進行する条
件でも、バイパス通路側への漏れ故障の判定を行うこと
が可能となる。
件でも、バイパス通路側への漏れ故障の判定を行うこと
が可能となる。
【0054】第3の発明では、高温の排気に晒されるこ
とによる上流側酸素センサーの劣化を防止できる。
とによる上流側酸素センサーの劣化を防止できる。
【0055】第4の発明では、過渡時にバイパス通路側
への漏れ故障の判定を行う場合に比べて酸素センサー出
力が安定し、判定精度が向上する。
への漏れ故障の判定を行う場合に比べて酸素センサー出
力が安定し、判定精度が向上する。
【図1】一実施例の制御システム図である。
【図2】診断条件の判定を説明するためのフローチャー
トである。
トである。
【図3】バルブ6bの漏れ故障と触媒4の劣化の判定を
説明するためのフローチャートである。
説明するためのフローチャートである。
【図4】判定値HZVALの特性図である。
【図5】判定値HZCATの特性図である。
【図6】排気温度の特性図である。
【図7】第2実施例のバルブ6bの漏れ故障と触媒4の
劣化の判定を説明するためのフローチャートである。
劣化の判定を説明するためのフローチャートである。
【図8】高排気温度域における経過時間に対するHZR
ATEの変化代DHZの特性図である。
ATEの変化代DHZの特性図である。
【図9】第1の発明のクレーム対応図である。
3 排気管 3a 主通路 3b バイパス通路 4 フロント触媒 6 バイパスバルブ 11 上流側酸素センサー 12 下流側酸素センサー 21 コントロールユニット 31a 主通路 31b バイパス通路 32 触媒 33 バイパスバルブ 34 上流側酸素センサー 35 下流側酸素センサー 36 バルブ切換手段 37 空燃比フィードバック制御手段 38 判定手段 39 バルブ故障判定手段 40 触媒劣化判定手段
Claims (4)
- 【請求項1】排気管の上流で主通路とバイパス通路に分
岐して主通路に触媒を設置し、排気の流れを主通路とバ
イパス通路とに切換えるバイパスバルブを設ける一方
で、前記触媒の上流と前記主通路およびバイパス通路の
合流部より下流側とに酸素センサーを配置するととも
に、 低排気温度域で前記主通路に排気を、高排気温度域にな
ると前記バイパス通路に排気を流すように前記バイパス
バルブを切換える手段と、 この切換手段により前記主通路に排気を流すときには前
記上流側の酸素センサー出力に基づいて、また前記バイ
パス通路に排気を流すときは前記下流側の酸素センサー
出力に基づいてそれぞれ空燃比のフィードバック制御を
行う手段と、 前記触媒の劣化が進行しない条件であるのか劣化が進行
する条件であるのかを判定する手段と、 この判定結果より前記触媒の劣化が進行しない条件でだ
け前記バイパスバルブにバイパス通路側への漏れ故障が
生じているかどうかを少なくとも前記下流側酸素センサ
ー出力に基づいて判定する手段と、 この判定結果より前記バイパスバルブにバイパス通路側
への漏れ故障が生じていない場合において前記触媒の劣
化が進行する条件になったとき前記触媒に劣化が生じた
かどうかを少なくとも前記下流側酸素センサー出力に基
づいて判定する手段とを設けたことを特徴とする排気浄
化装置の診断装置。 - 【請求項2】前記触媒の劣化が進行する条件になったと
き、その条件にいた履歴に応じて前記触媒の最大劣化状
態を予測する手段と、少なくとも前記下流側酸素センサ
ー出力に基づいて前記触媒の現在の劣化状態を算出する
手段と、この現在の劣化状態と前記最大劣化状態との比
較より現在の劣化状態のほうが最大劣化状態より大きい
場合に前記バイパスバルブにバイパス通路側への漏れ故
障があると判定する手段とを設けたことを特徴とする請
求項1に記載の排気浄化装置の診断装置。 - 【請求項3】前記上流側酸素センサーを前記バイパスバ
ルブの下流側に設けることを特徴とする請求項1または
2に記載の排気浄化装置の診断装置。 - 【請求項4】前記バイパス通路側への漏れ故障の判定を
行う条件は定常時であることを特徴とする請求項1から
3までのいずれか一つに記載の排気浄化装置の診断装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16591595A JPH0916253A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 排気浄化装置の診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16591595A JPH0916253A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 排気浄化装置の診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0916253A true JPH0916253A (ja) | 1997-01-17 |
Family
ID=15821435
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16591595A Pending JPH0916253A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 排気浄化装置の診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0916253A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007247486A (ja) * | 2006-03-15 | 2007-09-27 | Nissan Motor Co Ltd | 内燃機関の排気浄化装置の故障診断装置 |
| JP2008063949A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | Nissan Motor Co Ltd | 内燃機関の排気浄化装置の故障診断方法及び故障診断装置 |
| US8341937B2 (en) | 2006-03-15 | 2013-01-01 | Nissan Motor Co., Ltd. | Diagnostic apparatus for an exhaust gas purification system of an internal combustion engine, an exhaust gas purification system and a diagnostic method thereof |
| KR101405180B1 (ko) * | 2008-11-20 | 2014-06-10 | 현대자동차 주식회사 | 촉매 손상 방지 장치 및 그 제어방법 |
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1995
- 1995-06-30 JP JP16591595A patent/JPH0916253A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007247486A (ja) * | 2006-03-15 | 2007-09-27 | Nissan Motor Co Ltd | 内燃機関の排気浄化装置の故障診断装置 |
| US8341937B2 (en) | 2006-03-15 | 2013-01-01 | Nissan Motor Co., Ltd. | Diagnostic apparatus for an exhaust gas purification system of an internal combustion engine, an exhaust gas purification system and a diagnostic method thereof |
| JP2008063949A (ja) * | 2006-09-05 | 2008-03-21 | Nissan Motor Co Ltd | 内燃機関の排気浄化装置の故障診断方法及び故障診断装置 |
| KR101405180B1 (ko) * | 2008-11-20 | 2014-06-10 | 현대자동차 주식회사 | 촉매 손상 방지 장치 및 그 제어방법 |
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