JPH09171862A - 電気接続ユニット - Google Patents
電気接続ユニットInfo
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- JPH09171862A JPH09171862A JP7333066A JP33306695A JPH09171862A JP H09171862 A JPH09171862 A JP H09171862A JP 7333066 A JP7333066 A JP 7333066A JP 33306695 A JP33306695 A JP 33306695A JP H09171862 A JPH09171862 A JP H09171862A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/70—Coupling devices
- H01R12/82—Coupling devices connected with low or zero insertion force
- H01R12/85—Coupling devices connected with low or zero insertion force contact pressure producing means, contacts activated after insertion of printed circuits or like structures
- H01R12/853—Fluid activated
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
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- H01R12/7082—Coupling device supported only by cooperation with PCB
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】電気接続ユニットにおいて、基板の導電パッド
25,26とコンタクトピン12との距離が個々にバラ
ツキがあっても接触圧を均一にし電気的接続ができると
ともにコンタクトピンの寿命の長くする。 【解決手段】導電パッド25,26同志の導通をとるた
めのコンタクトピン12の押し付け圧を気体又は液体の
圧力により確保している。気体又は液体の圧力を外部よ
り制御することでコンクトピン12の押し付け圧を任意
に設定でき、減圧した場合はコンタクトピン12を後退
させることを可能としている。又、コンタクトピン12
周辺の構造を簡素化したことでコンタクトピン12同志
の導通を導線13で直付けを可能としている。
25,26とコンタクトピン12との距離が個々にバラ
ツキがあっても接触圧を均一にし電気的接続ができると
ともにコンタクトピンの寿命の長くする。 【解決手段】導電パッド25,26同志の導通をとるた
めのコンタクトピン12の押し付け圧を気体又は液体の
圧力により確保している。気体又は液体の圧力を外部よ
り制御することでコンクトピン12の押し付け圧を任意
に設定でき、減圧した場合はコンタクトピン12を後退
させることを可能としている。又、コンタクトピン12
周辺の構造を簡素化したことでコンタクトピン12同志
の導通を導線13で直付けを可能としている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、相対して離間して
配置される二枚の基板の複数の導電パッド同志を電気的
に接続する電気接続ユニットに関する。
配置される二枚の基板の複数の導電パッド同志を電気的
に接続する電気接続ユニットに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の電気接続ユニットは、導
電パッドと接触したり離間したりする可動のコンタクト
ピンを基板の両面に設けられた構造のものは少くなく、
いづれかが可動のコンタクトピンで他のコンタクトピン
は基板に固定される構造のものが多い。
電パッドと接触したり離間したりする可動のコンタクト
ピンを基板の両面に設けられた構造のものは少くなく、
いづれかが可動のコンタクトピンで他のコンタクトピン
は基板に固定される構造のものが多い。
【0003】図4は従来技術の電気接続ユニットの一例
を示す斜視図である。例えば、図4に示す電子部品を測
定する測定装置における電気接続ユニットであるプロー
ブリング32には、電子部品の導電パッドと接触するめ
に可動のコンタクトピン27とこのコンタクトピン27
と導線30と接続しプローブカード28の導電穴31に
差し込まれるコンタクトピンである固定ピン33とが備
えられている。
を示す斜視図である。例えば、図4に示す電子部品を測
定する測定装置における電気接続ユニットであるプロー
ブリング32には、電子部品の導電パッドと接触するめ
に可動のコンタクトピン27とこのコンタクトピン27
と導線30と接続しプローブカード28の導電穴31に
差し込まれるコンタクトピンである固定ピン33とが備
えられている。
【0004】また、電子部品を測定する場合は、プロー
ブカード28に取付けられたプローブカード28が下降
し、コンタクトピン27と電子部品の導電パッドと接触
させ測定していた。また、このときコンタクトピン27
はスプンリング29の反発力により導電パッドと一定の
接触圧をもって電気的に接続を行なっていた。
ブカード28に取付けられたプローブカード28が下降
し、コンタクトピン27と電子部品の導電パッドと接触
させ測定していた。また、このときコンタクトピン27
はスプンリング29の反発力により導電パッドと一定の
接触圧をもって電気的に接続を行なっていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の電気接
続ユニットでは、コンタクトピンと導電パッドの接触圧
の確保をスプリングの反発力に頼っているため、個々の
コンタクトピンの導電パッドへの押し込む距離にバラツ
キが生じ接触圧の変動をもたらす、その結果、コンタク
トピンの電子部品の導電パッドに対する接触圧が個々に
バラツキ易く接触不良を起すコンタクトピンが発生す
る。一方、この接触圧を均一に図る装置として、例え
ば、固定のコンタクトピンと接触するプローブカードの
背面にチューブを設けたボード固定装置が実開平5一2
5726号公報に開示されている。しかしながら、この
装置では、プローブカードの取付け不具合による接触不
良を解消できるものの、上述した個々のコンタクトピン
の高さのバラツキを吸収できるものではない。
続ユニットでは、コンタクトピンと導電パッドの接触圧
の確保をスプリングの反発力に頼っているため、個々の
コンタクトピンの導電パッドへの押し込む距離にバラツ
キが生じ接触圧の変動をもたらす、その結果、コンタク
トピンの電子部品の導電パッドに対する接触圧が個々に
バラツキ易く接触不良を起すコンタクトピンが発生す
る。一方、この接触圧を均一に図る装置として、例え
ば、固定のコンタクトピンと接触するプローブカードの
背面にチューブを設けたボード固定装置が実開平5一2
5726号公報に開示されている。しかしながら、この
装置では、プローブカードの取付け不具合による接触不
良を解消できるものの、上述した個々のコンタクトピン
の高さのバラツキを吸収できるものではない。
【0006】また、所定の接触圧力を得るために、コン
タクトピンに導電パッドが触れながら押し込む距離を増
加させるにしても、コンタクトピンの中には、過剰な押
圧力を受け座屈して曲がったり折れたりすることがあ
る。
タクトピンに導電パッドが触れながら押し込む距離を増
加させるにしても、コンタクトピンの中には、過剰な押
圧力を受け座屈して曲がったり折れたりすることがあ
る。
【0007】さらに、コンタクトピン自体がスプリング
を含む数個の部品の組み合せで、かつ互いの接触を利用
して電気的導通を得ているため、接触部の酸化やゴミ等
の付着が生じ易くコンタクトピン自体が内部で接触不良
を起すという問題がある。一方、接触圧力を与えるスプ
リングにも寿命があり、必要に応じて交換したり、定期
的に交換しなければならず、運用コストが高くなるとい
う欠点がある。
を含む数個の部品の組み合せで、かつ互いの接触を利用
して電気的導通を得ているため、接触部の酸化やゴミ等
の付着が生じ易くコンタクトピン自体が内部で接触不良
を起すという問題がある。一方、接触圧力を与えるスプ
リングにも寿命があり、必要に応じて交換したり、定期
的に交換しなければならず、運用コストが高くなるとい
う欠点がある。
【0008】従って、本発明の目的は、基板の導電パッ
ドとコンタクトピンとの距離が個々にバラツキがあって
も接触圧を均一にし電気的接続ができるとともにコンタ
クトピンの寿命の長い電気接続ユニットを提供すること
である。
ドとコンタクトピンとの距離が個々にバラツキがあって
も接触圧を均一にし電気的接続ができるとともにコンタ
クトピンの寿命の長い電気接続ユニットを提供すること
である。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、離間さ
せ相対して配置される二枚の基板のそれぞれ対応する複
数の導電パッド同志を電気的に接続する電気接続ユニッ
トにおいて、相対する前記導電パッドが配置される直線
上を互に反対方向に移動し前記導電パッドと接触したり
離間したりする一対のコンタクトピンと、前記コンタク
トピンの前記移動を拘束することなく前記一対のコンタ
クトピンを互に電気的に接続する導電線部材と、前記コ
ンタクトピンの前記移動力および前記導電パッドへの当
接圧力を与えるガスもしくは液体による加圧手段とを備
える電気接続ユニットである。
せ相対して配置される二枚の基板のそれぞれ対応する複
数の導電パッド同志を電気的に接続する電気接続ユニッ
トにおいて、相対する前記導電パッドが配置される直線
上を互に反対方向に移動し前記導電パッドと接触したり
離間したりする一対のコンタクトピンと、前記コンタク
トピンの前記移動を拘束することなく前記一対のコンタ
クトピンを互に電気的に接続する導電線部材と、前記コ
ンタクトピンの前記移動力および前記導電パッドへの当
接圧力を与えるガスもしくは液体による加圧手段とを備
える電気接続ユニットである。
【0010】また、前記加圧手段は、前記一対のコンタ
クトピンが互に相対する壁より気密に案内移動し得ると
ともに該コンタクトピンの後端面に前記ガス圧を与える
前記ガスを蓄えたり排出したりする箱体を備えることで
あるか、あるいは、複数の前記一対のコンタクトピンの
それぞれの後端部を被着させるとともに内部に前記ガス
あるいは前記液体を蓄えたり排出したりする伸縮可能な
袋状部材を備えるかである。さらに、前記袋状部材がゴ
ムチューブであることが望ましい。
クトピンが互に相対する壁より気密に案内移動し得ると
ともに該コンタクトピンの後端面に前記ガス圧を与える
前記ガスを蓄えたり排出したりする箱体を備えることで
あるか、あるいは、複数の前記一対のコンタクトピンの
それぞれの後端部を被着させるとともに内部に前記ガス
あるいは前記液体を蓄えたり排出したりする伸縮可能な
袋状部材を備えるかである。さらに、前記袋状部材がゴ
ムチューブであることが望ましい。
【0011】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
して説明する。
【0012】図1は本発明の第1の実施の形態における
電気接続ユニットの断面図である。この電気接続リング
は、図1に示すように、相対して離間して配置されるテ
ストボード24とプローブカード28のそれぞれにある
複数の導電パッド25,26同志を電気的に接続するた
めに互に反対方向に移動し前記導電パッドと接触したり
離間したりする一対のコンタクトピン2と、このコンタ
クトピン2を壁1aよりOリング8を介して気密に移動
し得るとともにコンタクトピン2のフランジ10にガス
圧を与えるガスが気体出入口6から供給および排出され
るハウジング1とを備えている。
電気接続ユニットの断面図である。この電気接続リング
は、図1に示すように、相対して離間して配置されるテ
ストボード24とプローブカード28のそれぞれにある
複数の導電パッド25,26同志を電気的に接続するた
めに互に反対方向に移動し前記導電パッドと接触したり
離間したりする一対のコンタクトピン2と、このコンタ
クトピン2を壁1aよりOリング8を介して気密に移動
し得るとともにコンタクトピン2のフランジ10にガス
圧を与えるガスが気体出入口6から供給および排出され
るハウジング1とを備えている。
【0013】また、ハウジング1の空間部にガス圧を調
整するための気体出入口6には、ガスを供給したり排出
させたりする気体導入・排出管5が接続されている。さ
らに、コンタクトピン2の後端部には、コンタクトピン
2の抜け防止のためのフランジ10が取付けられ、先端
部には、ハウジング1内に引込れるのを防止するストッ
プリング3が設けられている。なお、フランジ10の大
きさは、供給されるガスによる圧力とコンタクトピン2
と導電パッド25,26との接触圧を考慮して決めるこ
とが望ましい。
整するための気体出入口6には、ガスを供給したり排出
させたりする気体導入・排出管5が接続されている。さ
らに、コンタクトピン2の後端部には、コンタクトピン
2の抜け防止のためのフランジ10が取付けられ、先端
部には、ハウジング1内に引込れるのを防止するストッ
プリング3が設けられている。なお、フランジ10の大
きさは、供給されるガスによる圧力とコンタクトピン2
と導電パッド25,26との接触圧を考慮して決めるこ
とが望ましい。
【0014】さらに、コンタクトピン2同志を接続する
導線7は、コンタクトピン2の移動によって捩れ力によ
る断線や絡みが起きないように、コイル状に巻き小さな
力で伸縮できるようにし、捩れ力が導線7の局部的に加
わならいようにすることが望ましい。一方、ハウジング
1の壁1aを離間させる側壁は、メンテナンスし易いよ
うに取外しできるようにしてある。そして、壁との間に
は、気密を保つようにOリング9が設けられている。な
お、この圧力調整に用いられるガスは、通常、空気でも
良いが、内部の壁や導線7などに腐食を起さないよう
に、例えば、安価で不活性である窒素ガスが望ましい。
導線7は、コンタクトピン2の移動によって捩れ力によ
る断線や絡みが起きないように、コイル状に巻き小さな
力で伸縮できるようにし、捩れ力が導線7の局部的に加
わならいようにすることが望ましい。一方、ハウジング
1の壁1aを離間させる側壁は、メンテナンスし易いよ
うに取外しできるようにしてある。そして、壁との間に
は、気密を保つようにOリング9が設けられている。な
お、この圧力調整に用いられるガスは、通常、空気でも
良いが、内部の壁や導線7などに腐食を起さないよう
に、例えば、安価で不活性である窒素ガスが望ましい。
【0015】次に、この電気接続ユニットによる導電パ
ッド25,26同志の接続動作を説明する。まず、ハウ
ジング1の空間部が大気圧と同圧の状態であって、鎖線
で示すようにコンタクトピン2が引込まれたハウジング
1をテストボード24とプローブカード28との間に挿
入する。次に、ハウジング1の基準面とテストボード2
4とプローブカード28の基準面とを位置決めし、それ
ぞれの導電パッド25,26が同一線上にしてから、ハ
ウジング1を固定し準備を完了する。
ッド25,26同志の接続動作を説明する。まず、ハウ
ジング1の空間部が大気圧と同圧の状態であって、鎖線
で示すようにコンタクトピン2が引込まれたハウジング
1をテストボード24とプローブカード28との間に挿
入する。次に、ハウジング1の基準面とテストボード2
4とプローブカード28の基準面とを位置決めし、それ
ぞれの導電パッド25,26が同一線上にしてから、ハ
ウジング1を固定し準備を完了する。
【0016】次に、ハウジング1内に気体出入口6から
ガスを導入し、空間部内の圧力を上昇させることでコン
タクトピン2が移動し、コンタクトピン2がテストボー
ド24とプローブカード28の導電パッド25,26に
与えられたガス圧力で接触し、確実な導通が得られる。
ガスを導入し、空間部内の圧力を上昇させることでコン
タクトピン2が移動し、コンタクトピン2がテストボー
ド24とプローブカード28の導電パッド25,26に
与えられたガス圧力で接触し、確実な導通が得られる。
【0017】そして、測定が終わったら、ハウジング1
内のガスを排気し必要と思われる程度に減圧し、コンタ
クトピン2をハウジング1内に引込ませる。このような
動作を繰返して行ない導電パット25,26の電気的接
続を行なう。従って、コンタクトピン2と導電パッド2
5,26との距離にバラツキがあっても、それに応じて
個々のコンタクトピン2の突出量が変化しバラツキを吸
収するとともに一定のガス圧で接触できる。
内のガスを排気し必要と思われる程度に減圧し、コンタ
クトピン2をハウジング1内に引込ませる。このような
動作を繰返して行ない導電パット25,26の電気的接
続を行なう。従って、コンタクトピン2と導電パッド2
5,26との距離にバラツキがあっても、それに応じて
個々のコンタクトピン2の突出量が変化しバラツキを吸
収するとともに一定のガス圧で接触できる。
【0018】図2(a)および(b)は本発明の第2の
実施の形態を示す電気接続ユニットの取付け状態を示す
断面図および電気接続ユニットを拡大した断面図であ
る。図2(a)のように、テストボード24とプローブ
カード28の間に挿入された電気接続ユニット11は、
図2(b)に示すように、導電パッド25,26と同一
線上に設けられ絶縁ガイド20の孔に案内され移動する
複数の一対のコンタクトピン12と、このコンタクトピ
ン12のそれぞれの後端部のフランジ15と接合部19
とで被着させる柔軟な外皮をもつとともに内部にガスが
収納されるゴムチューブ14を備えている。
実施の形態を示す電気接続ユニットの取付け状態を示す
断面図および電気接続ユニットを拡大した断面図であ
る。図2(a)のように、テストボード24とプローブ
カード28の間に挿入された電気接続ユニット11は、
図2(b)に示すように、導電パッド25,26と同一
線上に設けられ絶縁ガイド20の孔に案内され移動する
複数の一対のコンタクトピン12と、このコンタクトピ
ン12のそれぞれの後端部のフランジ15と接合部19
とで被着させる柔軟な外皮をもつとともに内部にガスが
収納されるゴムチューブ14を備えている。
【0019】また、これらコンタクトピン12の後端を
被着するゴムチューブ14は、横方向の拡がりを規制す
るサポートリング16が嵌め込れている。さらに、この
ゴムチューブ1にはエアチューブ18と接続するゴムチ
ューブ口金17が取付けられており、外部から気体の出
し入れを可能としている。すなわち、ガスをある圧力で
導入した場合、その圧力でゴムチューブ1は紙面上の上
下方向にふくらみコンタクトピン12が押し出される。
コンタクトピン12の導電パッド25,26への接触圧
は、この導入されるガスの圧力を変化させることで広範
囲に得ることができる。
被着するゴムチューブ14は、横方向の拡がりを規制す
るサポートリング16が嵌め込れている。さらに、この
ゴムチューブ1にはエアチューブ18と接続するゴムチ
ューブ口金17が取付けられており、外部から気体の出
し入れを可能としている。すなわち、ガスをある圧力で
導入した場合、その圧力でゴムチューブ1は紙面上の上
下方向にふくらみコンタクトピン12が押し出される。
コンタクトピン12の導電パッド25,26への接触圧
は、この導入されるガスの圧力を変化させることで広範
囲に得ることができる。
【0020】一対のコンタクトピン12を接続する導線
13は、コンタクトクトピン12のフランジ15に接続
され、ゴムチューブ14の膨らみを干渉しないように長
さを有している。また、隣接するコンタクトピン12や
エアチューブ18と絡んだり接触したりしないように、
サポートリング16の外側を這う導線13は、サポート
リング16に固定することが望ましい。
13は、コンタクトクトピン12のフランジ15に接続
され、ゴムチューブ14の膨らみを干渉しないように長
さを有している。また、隣接するコンタクトピン12や
エアチューブ18と絡んだり接触したりしないように、
サポートリング16の外側を這う導線13は、サポート
リング16に固定することが望ましい。
【0021】図3(a)および(b)は図2の電気接続
ユニットの動作を説明するための断面図である。次に、
この電気接続ユニットの動作を図2(b)および図3を
参照して説明する。まず、図3(a)に示すように、ゴ
ムチューブ14内のガスの圧力は大気圧と同圧にし初期
状態する。そして、テストボード24とプローブカード
28との間に挿入し、導電パッド25,26とコンタク
トピン12が一直線上に来るように位置決めする。
ユニットの動作を説明するための断面図である。次に、
この電気接続ユニットの動作を図2(b)および図3を
参照して説明する。まず、図3(a)に示すように、ゴ
ムチューブ14内のガスの圧力は大気圧と同圧にし初期
状態する。そして、テストボード24とプローブカード
28との間に挿入し、導電パッド25,26とコンタク
トピン12が一直線上に来るように位置決めする。
【0022】次に、図2(b)に示すように、エアチュ
ーブ18を通して外部よりガスをゴムチューブ14内に
導入し、このことにより圧力が上昇しゴムチューブ14
が膨張する。この力でコンタクトピン12が押し出さ
れ、テストボード24とプローブカード28の導電パッ
ド25,26にコンタクトピン12が一定の圧力で接触
し確実な導通が得られる。
ーブ18を通して外部よりガスをゴムチューブ14内に
導入し、このことにより圧力が上昇しゴムチューブ14
が膨張する。この力でコンタクトピン12が押し出さ
れ、テストボード24とプローブカード28の導電パッ
ド25,26にコンタクトピン12が一定の圧力で接触
し確実な導通が得られる。
【0023】次に、一つの電子部品の試験が終了した
ら、図3(b)に示すように、ゴムチューブ14内のガ
スをエアチューブ6を通して外部へ排出することによ
り、ゴムチューブ14を減圧状態にしその収縮力でコン
タクトピン12を後退させる。そして、すべての電子部
品の試験が終了すれば、図3(a)に示すように、ゴム
チューブ14を大気圧に戻し電気接続ユニット11を取
外す。
ら、図3(b)に示すように、ゴムチューブ14内のガ
スをエアチューブ6を通して外部へ排出することによ
り、ゴムチューブ14を減圧状態にしその収縮力でコン
タクトピン12を後退させる。そして、すべての電子部
品の試験が終了すれば、図3(a)に示すように、ゴム
チューブ14を大気圧に戻し電気接続ユニット11を取
外す。
【0024】この実施の形態における電気接続ユニット
は、前述の実施の形態における電気接続ユニットに比
べ、個々のコンタクトピンの移動を独立して行なえるの
で、相対する導電パッドの高さが異なる場合でも適用で
きるという利点がある。なお、この実施の形態では、伸
縮可能なゴムチューブを用いたが、高価であるがベロー
ズを用いても良い。また、この実施の形態ではガスを使
用しているが、液体を利用することができるという利点
もある。
は、前述の実施の形態における電気接続ユニットに比
べ、個々のコンタクトピンの移動を独立して行なえるの
で、相対する導電パッドの高さが異なる場合でも適用で
きるという利点がある。なお、この実施の形態では、伸
縮可能なゴムチューブを用いたが、高価であるがベロー
ズを用いても良い。また、この実施の形態ではガスを使
用しているが、液体を利用することができるという利点
もある。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、離間して
配置される基板の導電パッドに当接し電気的接続を行な
う一対のコンタクトピンが互に逆方向の一直線上を一対
のコンタクトピンを互に繋ぐ導電線部材の拘束を受ける
ことなく移動できるようにし、これら一対のコンタクピ
ンの移動および当接時の力を与えるガス圧印加手段を設
けることにより、コンタクトピンの長さのバラツキや導
電パッドの高さのバラツキがあっても、全てのコンタク
トピンと導電パッドとの接触圧を均一にし良好な電気的
接続が得られるという効果がある。
配置される基板の導電パッドに当接し電気的接続を行な
う一対のコンタクトピンが互に逆方向の一直線上を一対
のコンタクトピンを互に繋ぐ導電線部材の拘束を受ける
ことなく移動できるようにし、これら一対のコンタクピ
ンの移動および当接時の力を与えるガス圧印加手段を設
けることにより、コンタクトピンの長さのバラツキや導
電パッドの高さのバラツキがあっても、全てのコンタク
トピンと導電パッドとの接触圧を均一にし良好な電気的
接続が得られるという効果がある。
【0026】また、この単純な構造をもつガス圧印加手
段を設けることにより、従来のように、疲労して破壊さ
れ易いスプリングやコンタクトピンを案内するスリーブ
など不要となり、それに伴なうコンタクトピンの折れ、
曲がりを防止できるようになる。さらに、常に一定の圧
力でコンタクトピンに接触圧を与えているので、過剰な
接触力を与えることがなくなり、それに伴なうコンタク
トピンの寿命をより長くすることができる。その結果、
運用コストの低減を図ることができるという効果があ
る。
段を設けることにより、従来のように、疲労して破壊さ
れ易いスプリングやコンタクトピンを案内するスリーブ
など不要となり、それに伴なうコンタクトピンの折れ、
曲がりを防止できるようになる。さらに、常に一定の圧
力でコンタクトピンに接触圧を与えているので、過剰な
接触力を与えることがなくなり、それに伴なうコンタク
トピンの寿命をより長くすることができる。その結果、
運用コストの低減を図ることができるという効果があ
る。
【図1】本発明の第1の実施の形態における電気接続ユ
ニットの断面図である。
ニットの断面図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態を示す電気接続ユニ
ットの取付け状態を示す断面図および電気接続ユニット
を拡大した断面図である。
ットの取付け状態を示す断面図および電気接続ユニット
を拡大した断面図である。
【図3】図2の電気接続ユニットの動作を説明するため
の断面図である。
の断面図である。
【図4】従来技術の電気接続ユニットの一例を示す斜視
図である。
図である。
1 ハウジング 1a 壁 2,12,27 コンタクトピン 3 ストップリング 5 気体導入・排出管 6 気体出入口 7,13,30 導線 8,9 Oリング 10,15 フランジ 11 電気接続ユニット 14 ゴムチューブ 16 サポートリング 17 ゴムチューブ口金 18 エアチューブ 19 接合部 20 絶縁ガイド 24 テストボード 25,26 導電パッド 28 プローブカード 29 スプリング 31 導電穴 32 プローブリング 33 固定ピン
Claims (4)
- 【請求項1】 離間させ相対して配置される二枚の基板
のそれぞれ対応する複数の導電パッド同志を電気的に接
続する電気接続ユニットにおいて、相対する前記導電パ
ッドが配置される直線上を互に反対方向に移動し前記導
電パッドと接触したり離間したりする一対のコンタクト
ピンと、前記コンタクトピンの前記移動を拘束すること
なく前記一対のコンタクトピンを互に電気的に接続する
導電線部材と、前記コンタクトピンの前記移動力および
前記導電パッドへの当接圧力を与えるガスもしくは液体
による加圧手段とを備えることを特徴とする電気接続ユ
ニット。 - 【請求項2】 前記加圧手段は、前記一対のコンタクト
ピンが互に相対する壁より気密に案内移動し得るととも
に該コンタクトピンの後端面に前記ガス圧を与える前記
ガスを蓄えたり排出したりする箱体を備えることを特徴
とする請求項1記載の電気接続ユニット。 - 【請求項3】 前記加圧手段は、複数の前記一対のコン
タクトピンのそれぞれの後端部を被着させるとともに内
部に前記ガスあるいは前記液体を蓄えたり排出したりす
る伸縮可能な袋状部材を備えることを特徴とする請求項
1記載の電気接続ユニット。 - 【請求項4】 前記袋状部材がゴムチューブであること
を特徴とする請求項3記載の電気接続ユニット。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7333066A JP2723871B2 (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | 電気接続ユニット |
| US08/781,963 US5762504A (en) | 1995-12-21 | 1996-12-20 | Electric connection unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7333066A JP2723871B2 (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | 電気接続ユニット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09171862A true JPH09171862A (ja) | 1997-06-30 |
| JP2723871B2 JP2723871B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=18261892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7333066A Expired - Fee Related JP2723871B2 (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | 電気接続ユニット |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5762504A (ja) |
| JP (1) | JP2723871B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010262869A (ja) * | 2009-05-08 | 2010-11-18 | Fujitsu Ltd | ソケット及び電子機器 |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5957713A (en) * | 1997-02-20 | 1999-09-28 | Westinghouse Air Brake Company | Electric contact arrangement for hose coupling |
| US6265887B1 (en) | 1999-09-22 | 2001-07-24 | International Business Machines Corporation | Mounting fixture for a pin grid array device |
| US6261130B1 (en) | 2000-01-19 | 2001-07-17 | Mhl Development Company, Inc. | High-density pogo pin connector |
| US6247939B1 (en) * | 2000-08-14 | 2001-06-19 | Unisys Corporation | Connector for making multiple pressed co-axial connections having an air dielectric |
| JP2002256498A (ja) * | 2001-02-26 | 2002-09-11 | Tokyo Electron Ltd | メッキ処理装置、メッキ処理方法 |
| US7473101B2 (en) * | 2006-05-05 | 2009-01-06 | International Business Machines Corporation | Connector for mezzanine mounting of a printed wiring board |
| CN101634683B (zh) * | 2008-07-25 | 2012-11-21 | 深圳富泰宏精密工业有限公司 | 测试模组 |
| TWI452305B (zh) * | 2008-08-01 | 2014-09-11 | Fih Hong Kong Ltd | 電子裝置按鍵測試模組 |
| JP2010169526A (ja) * | 2009-01-22 | 2010-08-05 | Renesas Electronics Corp | 電気的試験用装置及び電子装置の電気的試験方法 |
| US20130337666A1 (en) * | 2012-05-29 | 2013-12-19 | Joe F. Walczyk | Substrate embedded electrical interconnect |
| AT514219B1 (de) * | 2013-05-02 | 2016-08-15 | Herwig Dipl Ing Haböck | Elektrostecker mit Steckdose |
| US10514391B2 (en) | 2016-08-22 | 2019-12-24 | Kla-Tencor Corporation | Resistivity probe having movable needle bodies |
| CN106405167B (zh) * | 2016-08-23 | 2018-11-02 | 南安市弈诚机械科技有限公司 | 一种用于测试集成电路的探针卡 |
| US10263381B2 (en) * | 2016-09-20 | 2019-04-16 | Apple Inc. | Sealed corrosion-resistant contacts |
| DE102016013412A1 (de) * | 2016-11-10 | 2018-05-17 | Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg | Kontaktsystem und Kontaktmodul |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58178293U (ja) * | 1982-05-24 | 1983-11-29 | 株式会社アドバンテスト | コネクタ |
| JPH05290933A (ja) * | 1992-04-13 | 1993-11-05 | Hitachi Ltd | コネクタ |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2956286B2 (ja) * | 1991-07-10 | 1999-10-04 | 株式会社豊田自動織機製作所 | 紡機における糸継機のスライバ検知装置 |
| US5228862A (en) * | 1992-08-31 | 1993-07-20 | International Business Machines Corporation | Fluid pressure actuated connector |
-
1995
- 1995-12-21 JP JP7333066A patent/JP2723871B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-12-20 US US08/781,963 patent/US5762504A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58178293U (ja) * | 1982-05-24 | 1983-11-29 | 株式会社アドバンテスト | コネクタ |
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| JP2010262869A (ja) * | 2009-05-08 | 2010-11-18 | Fujitsu Ltd | ソケット及び電子機器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2723871B2 (ja) | 1998-03-09 |
| US5762504A (en) | 1998-06-09 |
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