JPH09172548A - 画信号処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、注目画素にＭＦＴ補正を施す画信
号処理装置に関し、ノイズや塵等ではＭＴＦ補正を施さ
ないようにすることにより、不必要な強調をなくして、
ＭＴＦ補正による白黒の誤判定を防止することを目的と
する。 【解決手段】 レベル差検出器22から出力された各隣接
画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉ毎の注目画素Ｅに対する信号レベル
の差が第一しきい値発生器23のしきい値よりも大きいと
きに第一比較器24から出力される信号をカウンタ25がカ
ウントし、そのカウンタ値が２〜６のときにはＭＴＦ補
正演算器26により処理された注目画素Ｅの画信号Ｅ′
を、カウンタ値がそれ以外の１、７、８のときにはその
ままの画信号Ｅを、第二しきい値発生器23のしきい値と
比較して２値化する第二比較器29に出力する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、画像読取装置に搭
載される画信号処理装置に関し、詳しくは、注目する画
素にＭＦＴ（Modulation Transfer Function）補正を施
す画信号処理装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、読み取った画像の画素にＭＦ
Ｔ補正を施すことにより、画像（例えば、輪郭）を強調
する画信号処理装置が知られている。この種の画信号処
理装置としては、例えば、特開昭５８−１７３９７４号
公報に記載されているものがある。この画信号処理装置
は、ＭＴＦ補正を施すか否か判断する注目画素の周囲
に、その注目画素との濃度レベル（画信号の出力値）の
差が所定以上の画素が１つ以上存在するときに、その注
目画素にＭＴＦ補正を施す。このように構成することに
よって、注目画素以外にも強調すべき画素がある場合
に、つまり注目画素がノイズではなく画像である場合に
その注目画素を強調することにより、画信号中にノイズ
があったとしてもそのノイズを強調してしまうことを防
止し、白／黒の誤判定を防止することができる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の画信号処理装置にあっては、画信号中のノイ
ズによる影響は除去することができるが、１画素程度の
大きさの小さな塵などでも２画素に掛かる状態で読み取
られたときにはＭＦＴ補正可と判断するため、塵である
画素をＭＦＴ補正により強調して、白黒の誤判定が発生
してしまうことがあるという問題があった。

【０００４】そこで、請求項１記載の発明は、画像とす
る必要のない大きさではＭＴＦ補正を施さないようにす
ることにより、不必要な画像の強調をなくして、ＭＴＦ
補正による白黒の誤判定を防止することを目的とする。
請求項２、３記載の発明は、注目画素に対する位置や読
取条件に応じてＭＴＦ補正の要否判断の条件を変えるこ
とにより、これらによる影響をなくして、白黒誤判定の
防止をより確実にすることを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的達成のため、請
求項１記載の発明は、画像の読取装置に搭載され、注目
する画素に隣接する画素の画信号を用いて該注目画素を
ＭＴＦ補正する画信号処理装置であって、注目画素の画
信号と隣接画素の画信号との出力値の差が予め設定され
た設定値以上であるか否か比較する比較手段と、該比較
手段による比較結果から注目画素と画信号の出力値の差
が所定以上の隣接画素数を計数する計数手段と、該計数
手段による計数結果が２以上から隣接画素数未満の間の
所定範囲内のときにＭＴＦ補正を施した注目画素を読み
取った画素とする補正手段と、を備えたことを特徴とす
るものである。

【０００６】この請求項１記載の発明では、読み取られ
た注目画素の画信号と隣接画素の画信号との出力値が比
較されてその出力値の差が所定以上ある隣接画素数が計
数され、その計数結果が２以上から隣接画素数未満の間
で予め設定された範囲内であるときにＭＴＦ補正された
注目画素が読取画素とされる。したがって、ノイズや塵
などのように微小なものによって少ない数の画素に他の
画素との出力値の差が生じた場合にはＭＴＦ補正を施し
た注目画素を読取画素とすることはない。

【０００７】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明の構成に加え、前記比較手段を、注目画素に対する隣
接画素の位置に応じた２種以上の設定値を用いて該隣接
画素と注目画素との画信号の出力値の差を比較するよう
に構成したことを特徴とするものである。この請求項２
記載の発明では、注目画素および隣接画素の画信号の出
力値の差は注目画素に対する隣接画素の位置に応じた２
種以上の設定値が用いられて比較される。したがって、
例えば、注目画素に対して読取の主走査方向および副走
査方向に位置する隣接画素とで出力値の差の比較に用い
る設定値が変えられることにより、主走査方向および副
走査方向の画素に掛かる画像や塵による画信号の出力値
が略同様なレベルとすることができる。

【０００８】請求項３記載の発明は、請求項１または２
に記載の発明の構成に加え、前記比較手段を、注目画素
に対する隣接画素の位置毎に、かつ、読取装置の画像の
読取密度に応じた２種以上の設定値を用いて該隣接画素
と注目画素との画信号の出力値の差を比較するように構
成したことを特徴とするものである。この請求項３記載
の発明では、注目画素および隣接画素の画信号の出力値
の差は注目画素に対する隣接画素の位置毎に、かつ、読
取密度に応じた２種以上の設定値が用いられて比較され
る。したがって、例えば、注目画素に対して読取の主走
査方向および副走査方向に位置する隣接画素とで出力値
の差の比較に用いる設定値が変えられるとともに読取密
度に応じてもその設定値が変えられることにより、主走
査方向および副走査方向の画素に掛かる画像や塵による
画信号の出力値が読取密度による出力値への影響も考慮
して略同様なレベルとすることができる。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に基づいて説
明する。図１は本発明に係る画信号処理装置の第１実施
形態を示す図であり、本実施形態は請求項１記載の発明
に対応する。まず、構成を説明する。

【００１０】図１において、10は画信号処理装置を備え
る画像読取装置であり、画像読取装置10は、例えば、図
示していない画像記録装置などに搭載されたり外部装置
に接続され、読み取った画素毎の画信号をその装置に出
力する。この画像読取装置10は、主走査方向に複数の読
取素子が配列されたラインイメージセンサおよび原稿に
光を照射する光源を備えるスキャナ11を備えており、こ
のスキャナ11は原稿とラインイメージセンサなどの読取
ユニットとを副走査方向に相対移動させその原稿に照射
した光の反射光を読取素子毎（画素毎）に取り込み画素
毎の濃度レベルに応じた出力値のアナログ画信号を出力
する。

【００１１】12はアナログ／デジタル変換器（Ａ／Ｄ変
換器）、13、14はラインバッファであり、Ａ／Ｄ変換器
12はライン毎かつ主走査方向の画素毎にスキャナ11から
順次出力されるアナログ画信号を多値のデジタル画信号
に変換して出力し、ラインバッファ13はＡ／Ｄ変換器12
から前ラインの読取時に出力されたデジタル画信号を保
持して出力し、ラインバッファ14はＡ／Ｄ変換器12から
前々ラインの読取時に出力されたデジタル画信号を保持
して出力する。なお、ラインバッファ13、14が保持する
画信号は、読取のライン毎に書き換えられる。

【００１２】15はレジスタマトリックスであり、レジス
タマトリックス15はＡ／Ｄ変換器12およびラインバッフ
ァ13、14から出力される読取中、前ラインおよび前々ラ
インの画素毎の画信号を保持して出力するようになって
おり、一ライン中の一画素にＭＴＦ補正を施す際に、前
ラインの一画素をＭＦＴ補正する注目画素Ｅとしてその
画信号を保持・出力するとともに、その前ライン（前々
ライン）で同一位置およびこれに主走査方向両側で隣接
する位置の隣接画素Ａ〜Ｃ、その同一ライン（前ライ
ン）で主走査方向両側で隣接する位置の隣接画素Ｄ、
Ｆ、および読取中のラインで同一位置およびこれに主走
査方向両側で隣接する位置の隣接画素Ｇ〜Ｉ、の画信号
をそのＭＦＴ補正に使用する画信号として保持・出力す
る。

【００１３】21は第一選択器、22はレベル差検出器、23
は第一しきい値発生器、24は第一比較器、25はカウンタ
であり、第一選択器21はレジスタマトリックス15から出
力される隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉの画信号を一画素毎に
選択してレベル差検出器22に順次出力し、レベル差検出
器22はその選択出力された画信号と注目画素Ｅの画信号
との出力値（以下、画信号の出力値を信号レベルともい
う）のレベル差を各隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉ毎に算出
（例えば、出力値Ｅ−出力値Ａ）して第一比較器24に出
力する。一方、第一しきい値発生器23は各隣接画素Ａ〜
Ｄ、Ｆ〜Ｉ毎の注目画素Ｅとの信号レベルの差と比較す
るために予め設定されたしきい値（設定値）を第一比較
器24に出力する。そして、第一比較器24はレベル差検出
器22および第一しきい値発生器23から出力された各隣接
画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉ毎の注目画素Ｅに対する信号レベル
の差がしきい値以上であるか否か比較してその比較結果
をカウンタ25に出力し、カウンタ25はその出力される比
較結果、つまり各隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉ毎の注目画素
Ｅに対する信号レベルの差がしきい値以上であるときに
出力される信号をカウント（計数）し後述する第二選択
器27に出力する。すなわち、レベル差検出器22、第一し
きい値発生器23および第一比較器24が比較手段を構成
し、カウンタ25が計数手段を構成している。

【００１４】26はＭＦＴ補正演算器であり、ＭＦＴ補正
演算器26はレジスタマトリックス15から出力される注目
画素Ｅおよび隣接画素Ｂ、Ｄ、Ｆ、Ｈの信号レベルＢ、
Ｄ、Ｆ、Ｈを用いて次式のＭＴＦ補正演算を行ない、 Ｅ′＝３Ｅ−（Ｂ＋Ｄ＋Ｆ＋Ｈ）／２ ＭＴＦ補正を施した注目画素Ｅの信号レベルＥ′を第二
選択器27に出力する。なお、ＭＴＦ補正演算式は、隣接
画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉの信号レベルＡ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉを用い
て、 Ｅ′＝５Ｅ−（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｆ＋Ｇ＋Ｈ＋Ｉ）／２ としてもよく、またこのような簡易な演算式に限るもの
ではないことはいうまでもない。

【００１５】27は第二選択器であり、第二選択器27はレ
ジスタマトリックス15から出力された注目画素Ｅのその
ままの画信号ＥおよびＭＦＴ補正演算器26から出力され
たＭＴＦ補正された注目画素Ｅの画信号Ｅ′を入力され
るとともにカウンタ25から出力されたカウント値を入力
され、そのカウント値が２〜６のときにはＭＴＦ補正後
の画信号Ｅ′を、カウント値がそれ以外の１、７、８の
ときにはそのままの画信号Ｅを後述する第二比較器29に
出力する。したがって、カウンタ25による計数結果が２
〜６（隣接画素数未満の間の所定範囲内）のときのみに
ＭＴＦ補正を施した注目画素Ｅの画信号Ｅ′を読み取っ
た画素の画信号として出力することになる。すなわち、
ＭＦＴ補正演算器26および第二選択器27が補正手段を構
成している。なお、本実施形態では、ＭＦＴ補正演算器
26はすべての注目画素ＥにＭＴＦ補正を施しているが、
これに限らず、カウンタ25のカウント値に応じて注目画
素ＥにＭＴＦ補正を施すようにしてもよいが、ＭＦＴ補
正演算器26が第一選択器21からカウンタ25までの処理の
間に平行処理できるので本実施形態のように処理するの
が好ましい。

【００１６】28は第二しきい値発生器、29は第二比較器
であり、第二しきい値発生器28は注目画素Ｅを白／黒の
２値化するために予め設定されたしきい値を第二比較器
29に出力し、第二比較器29は第二選択器27から出力され
た注目画素Ｅの画信号Ｅ（またはＥ′）の信号レベルと
第二しきい値発生器28から出力されたしきい値とを比較
し、注目画素Ｅを白／黒の２値の画信号に変換して画像
記録装置本体などに出力する。

【００１７】次に、作用を説明する。なお、第二比較器
29は第二しきい値発生器28から出力されるしきい値より
画素の信号レベルが大きな値のときに黒、小さな値のと
きに白と判定するものとする。まず、ノイズや小さな塵
により隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉのうちの１つの信号レベ
ルが注目画素Ｅの信号レベルよりも大きく、その１つの
画素で第一しきい値発生器23のしきい値より注目画素Ｅ
に対する信号レベルの差が大きな値となり、カウンタ25
のカウント値が１となったとしても、注目画素Ｅとして
はそのままの画信号Ｅが出力される。

【００１８】また、ノイズや小さな塵により注目画素Ｅ
の信号レベルが隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉの信号レベルよ
りも大きく、隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉの８つによりカウ
ンタ25のカウント値が８となったとしても、注目画素Ｅ
としてはそのままの画信号Ｅが出力される。また、小さ
な塵により注目画素Ｅおよび隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉの
うちの１つの信号レベルが他の画素の信号レベルよりも
大きく、隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉのうちの７つによりカ
ウンタ25のカウント値が７となったとしても、注目画素
Ｅとしてはそのままの画信号Ｅが出力される。

【００１９】なお、小さな塵により隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ
〜Ｉのうちの２つの信号レベルが注目画素Ｅの信号レベ
ルよりも大きく、その２つの画素によりカウンタ25のカ
ウント値が２となったときには、注目画素ＥとしてはＭ
ＴＦ補正された画信号Ｅ′が出力される。このときに
は、注目画素Ｅは小さな値であるので、ＭＴＦ補正が施
されても影響はない。

【００２０】したがって、ノイズや小さな塵により１つ
または２つの画素が影響を受けたとして何れも注目画素
Ｅは画信号Ｅがそのまま出力されるので、注目画素Ｅの
信号レベルが黒レベルに近い白レベルのときでも黒レベ
ルに強調されてしまうことがない。また、ノイズや塵の
影響による信号レベルは白レベル程度であるとともに２
画素以下の画像もあまり考えられない。この結果、ノイ
ズや塵による影響があったとしても注目画素Ｅが白であ
るにも拘らず誤って黒と判定されることはない。なお、
仮に塵の濃度による信号レベルが黒レベルであったとし
てもその注目画素Ｅが強調されることはない。

【００２１】一方、ノイズや小さな塵による影響ではな
くても注目画素Ｅの信号レベルよりも隣接画素Ａ〜Ｄ、
Ｆ〜Ｉのうちの１つの信号レベルが小さくなった場合に
は第一しきい値発生器23のしきい値よりその信号レベル
の差が大きな値となってカウンタ25のカウント値が１と
なったり、また注目画素Ｅの信号レベルよりも隣接画素
Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉのうちの７つ以上の信号レベルが大きく
なった場合にも第一しきい値発生器23のしきい値よりそ
の信号レベルの差が大きな値となってカウンタ25のカウ
ント値が７、８となり、注目画素Ｅとしてはそのままの
画信号Ｅが出力される。この読取画像は、少なくとも隣
接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉのうちの７つ以上で濃度が高い、
つまり広い範囲の画素が黒となっている画像であるの
で、このときには注目画素Ｅを強調しなくても何等問題
はない。

【００２２】このように本実施形態においては、注目画
素Ｅを白／黒の２値化するに際して、ＭＴＦ補正を施し
た画信号Ｅ′を使用するか、施していないそのままの画
信号Ｅを使用するかを、注目画素Ｅに対して信号レベル
の差の大きな隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉの数（カウント
値）に応じて選択し、ノイズや塵による影響のないカウ
ント値２〜６の範囲内のときのみにＭＴＦ補正を施した
注目画素Ｅの画信号Ｅ′を読取信号として用い白黒のニ
値化を行なっている。したがって、ノイズや塵などによ
る影響があったとときにＭＴＦ補正した注目画素Ｅの画
信号Ｅ′を不必要に読取信号としてしまうことがなく、
ＭＴＦ補正による白黒の誤判定を防止するができる。こ
の結果、例えば、画像読取装置では、画像の読取精度を
低下させることなく、高精度なＭＴＦ補正により画像の
品質を向上させることができる。

【００２３】次に、本発明に係る画信号処理装置の第２
実施形態を説明するが、本実施形態は上述第１実施形態
と略同様に構成されているので、図１を流用して特徴部
分のみ説明する。なお、本実施形態は請求項２記載の発
明に対応する。図１において、第一しきい値発生器23
は、注目画素Ｅに対する隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉの位置
毎に応じて予め設定されたしきい値を第一比較器24に出
力するようになっており、斜めに隣接する位置の隣接画
素Ａ、Ｃ、Ｇ、Ｉ用にはしきい値ＴＨ１１を、主走査方
向に隣接する位置の隣接画素Ｄ、Ｆ用にはしきい値Ｔ１
２を、副走査方向に隣接する位置の隣接画素Ｂ、Ｈ用に
はしきい値ＴＨ１３を出力する。

【００２４】ここで、スキャナ11は、原稿とラインイメ
ージセンサなどの相対的な移動により画像を読み取って
いるので、例えば、注目画素Ｅに対する位置で副走査方
向に延びる直線のような画像は主走査方向の画像と異な
り断続的に取り込まれることになるので、その信号レベ
ルは主走査方向に延びる直線よりも小さな値となり、ま
た斜めの画像は主走査方向の画像よりも大きな値とな
る。

【００２５】このため、第一しきい値発生器23が第一比
較器24に出力するしきい値ＴＨ１１〜ＴＨ１３は、画像
の濃度として略同一の基準で処理できるように、 ＴＨ１１＞ＴＨ１２＞ＴＨ１３ のレベルで設定されている。本実施例では、注目画素Ｅ
に対する隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉの位置毎に異なるしき
い値ＴＨ１１〜ＴＨ１３が第一比較器24に出力されるの
で、塵などを読み取った画信号は注目画素Ｅに対する位
置に拘らず略同様な信号レベルで処理される。したがっ
て、信号レベルの精度を向上させることができ、白黒誤
判定をより確実に防止するができる。

【００２６】次に、本発明に係る画信号処理装置の第３
実施形態を説明するが、本実施形態は上述第２実施形態
と略同様に構成されているので、図１を流用して特徴部
分のみ説明する。なお、本実施形態は請求項３記載の発
明に対応する。図１において、第一しきい値発生器23
は、注目画素Ｅに対する隣接画素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉの位置
毎に応じて、さらに読取密度毎に予め設定されたしきい
値を第一比較器24に出力するようになっており、読取密
度が粗いときには隣接画素Ａ、Ｃ、Ｇ、Ｉ用にはしきい
値ＴＨ２１を、隣接画素Ｄ、Ｆ用にはしきい値Ｔ２２
を、隣接画素Ｂ、Ｈ用にはしきい値ＴＨ２３を出力する
一方、読取密度が細かいときには隣接画素Ａ、Ｃ、Ｇ、
Ｉ用にはしきい値ＴＨ３１を、隣接画素Ｄ、Ｆ用にはし
きい値Ｔ３２を、隣接画素Ｂ、Ｈ用にはしきい値ＴＨ３
３を出力する。

【００２７】ここで、スキャナ11の読取密度は、原稿と
ラインイメージセンサなどとの相対的な移動速度を制御
することにより変化させるため、読取密度が粗いときに
は画像の取り込み時間は読取密度が細かいときよりも短
くなる。このため、第一しきい値発生器23が第一比較器
24に出力するしきい値ＴＨ２１〜ＴＨ２３、ＴＨ３１〜
３３は、注目画素Ｅに対する位置関係および読取密度の
何れでも画像の濃度として略同一の基準で処理できるよ
うに ＴＨ２１＞ＴＨ２２＞ＴＨ２３ ＴＨ３１＞ＴＨ３２＞ＴＨ３３ ＴＨ２１＞ＴＨ３１、ＴＨ２２＞ＴＨ３２、ＴＨ２３＞
ＴＨ３３ のレベルで設定されている。

【００２８】本実施例では、注目画素Ｅに対する隣接画
素Ａ〜Ｄ、Ｆ〜Ｉの位置毎、かつ、読取密度毎に異なる
しきい値ＴＨ２１〜ＴＨ２３、ＴＨ３１〜ＴＨ３３が第
一比較器24に出力されるので、塵などを読み取った画信
号は注目画素Ｅに対する位置や読取密度に拘らず略同様
な信号レベルで処理される。したがって、信号レベルの
精度を向上させることができ、白黒誤判定をより確実に
防止するができる。

【００２９】

【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、注目画素
と画信号の出力値の差が設定値以上ある隣接画素数が２
以上から隣接画素数未満の予め設定された範囲内である
ときにＭＴＦ補正を施した注目画素を読取画素とするの
で、少ない数の画素にノイズや塵などによる影響があっ
たときに不必要に読取画素を強調してしまうことがな
い。したがって、ＭＴＦ補正による白黒の誤判定を防止
するができる。この結果、画像読取装置では、画像の読
取精度を低下させることなく、高精度なＭＴＦ補正によ
り画像の品質を向上させることができる。

【００３０】請求項２記載の発明によれば、注目画素お
よび隣接画素の画信号の出力値の差を注目画素に対する
隣接画素の位置に応じた設定値を用いて比較するので、
例えば、注目画素に対する読取の主走査方向および副走
査方向に位置する隣接画素でも略同様なレベルで比較す
ることができ、画像を読み取る際の走査方向による影響
をなくすことができる。したがって、白黒誤判定をより
確実に防止するができる。

【００３１】請求項３記載の発明によれば、注目画素お
よび隣接画素の画信号の出力値の差を注目画素に対する
隣接画素の位置毎に、かつ、読取密度に応じた設定値を
用いて比較するので、例えば、注目画素に対する読取の
主走査方向および副走査方向に位置する隣接画素でも、
また読取密度に応じた出力値の差を考慮したレベルで比
較することができ、画像を読み取る際の走査方向や読取
密度による影響をなくすことができる。したがって、白
黒誤判定をより確実に防止するができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る画信号処理装置の一実施形態を搭
載する画像読取装置の一例を示す図であり、その全体構
成を示すブロック図である。

【符号の説明】

10 画信号処理装置を備える画像読取装置 11 スキャナ 12 アナログ／デジタル変換器 13、14 ラインバッファ 15 レジスタマトリックス 21 第一選択器 22 レベル差検出器（比較手段） 23 第一しきい値発生器（比較手段） 24 第一比較器（比較手段） 25 カウンタ（計数手段） 26 ＭＦＴ補正演算器（補正手段） 27 第二選択器（補正手段） 28 第二しきい値発生器 29 第二比較器

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】画像の読取装置に搭載され、注目する画素
   に隣接する画素の画信号を用いて該注目画素をＭＴＦ補
   正する画信号処理装置であって、 注目画素の画信号と隣接画素の画信号との出力値の差が
   予め設定された設定値以上であるか否か比較する比較手
   段と、 該比較手段による比較結果から注目画素と画信号の出力
   値の差が所定以上の隣接画素数を計数する計数手段と、 該計数手段による計数結果が２以上から隣接画素数未満
   の間の所定範囲内のときにＭＴＦ補正を施した注目画素
   を読み取った画素とする補正手段と、を備えたことを特
   徴とする画信号処理装置。
2. 【請求項２】前記比較手段を、注目画素に対する隣接画
   素の位置に応じた２種以上の設定値を用いて該隣接画素
   と注目画素との画信号の出力値の差を比較するように構
   成したことを特徴とする請求項１記載の画信号処理装
   置。
3. 【請求項３】前記比較手段を、注目画素に対する隣接画
   素の位置毎に、かつ、読取装置の画像の読取密度に応じ
   た２種以上の設定値を用いて該隣接画素と注目画素との
   画信号の出力値の差を比較するように構成したことを特
   徴とする請求項１または２に記載の画信号処理装置。