JPH09172614A - 広域ベクトルの相関性を用いた画素の補間方法及びその装置 - Google Patents

広域ベクトルの相関性を用いた画素の補間方法及びその装置

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JPH09172614A JP8257036A JP25703696A JPH09172614A JP H09172614 A JPH09172614 A JP H09172614A JP 8257036 A JP8257036 A JP 8257036A JP 25703696 A JP25703696 A JP 25703696A JP H09172614 A JPH09172614 A JP H09172614A
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永 鐸 金
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 飛越し走査により与えられた画素のデータを
用いて脱落されたラインの画素のデータを補間する方法
及び装置を提供する。 【解決手段】 本発明は多様な傾きを有するエッジに対
する補間を相関程度に応じて効率よくでき、広範囲にか
けた相関性でエッジの傾きの小さい場合は広域ベクトル
を用いて補間を行う。また、両方向へのエッジが見つか
るなどの高周波数成分によるエラーが発生する場合に鑑
みた画素の補間方法及び装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は飛越し走査により与
えられた画素のデータを用いて脱落されたラインの画素
のデータを補間する方法及びその装置に係り、さらに詳
しくは広域ベクトルを使用する補間方法を導入して多様
な傾きのエッジについて効率よく補間を行えるようにし
た画素の補間方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】画素データの補間は飛越し走査された信
号を処理して順次走査された信号に変えるIPC(Inter
laced-to-Progressive Conversion)において必須的なも
ので、飛越し走査による垂直解像度の低下、走査線のフ
リッカ、大きい領域のフリッカ現象などを防止するため
に行われる。
【0003】初期の補間方法はNTSCシステムにおい
て開発され、その後種々の方法が提案されているが、そ
の方法は全て飛越し走査時脱落されたラインを補間によ
り復元することを共通とする。従来の補間方法として
は、[1]単純なライン重畳、垂直フィルタリング、垂
直エッジによる補間法(D,C.Hentschei,IEEE Tr.on Cons
umer Electronics,vol.35,no.3,pp.279-289,1989年8
月);[2]エッジ方向によるIPC(D.Bagni,R.Lanci
ni,S.Landi,and S.Tubaro,Proc. of the Int.Workshop
on HDTV,1994) ;[3]非線形的な補間としては加重さ
れたメジアンフィルタに基づいたもの(J.Juhola,A.Niem
inen,J.Salo,and Y.Neuvo,Proc.IEEE ISCAS-89, Porlan
d,USA.1989年5月,pp.433-436) 、FIRメジアンハイ
ブリッド補間に基づいたもの(A.Lehtonen and M.Renfor
s,Proc.SPIE's Visual Communications and Image Proc
essing,Lansanne,Swizerland,Oct.1990,pp.125-132) 、
相補的なメジアンフィルタに基づいたもの(H.Blume,I.S
chwoerer,and K.Zygis,Proc.of the int.Workshop on H
DTV,1994) 、方向によるメジアンフィルタリングに基づ
いたもの(T.Doylc,pp.421-430,Signal Processing of H
DTV,L.Chiariglion Ed.,Elsevier Science Publishers,
North Holand,1988)、垂直−時間軸メジアンフィルタに
基づいたもの(P.Frencken,IEEE Tr,on Consumer Electr
onics,vol.32,no.3,pp.237-240,1986,T.Doyle and P.Fr
encken, IEEE Digest of Technical Papers, pp.186-18
7,1986) などがあり;[4]動き適応方式(N.Suzuki an
d et al.IEEE Tr.on Consumer Electronics,vol.33,no.
3,pp.266-271, 1989年8月,C.P.Markhauser,IEEE Tr.on
Consumer Electronics,vol.36,no.2,pp.110-114,1990
年5月)などがある。
【0004】しかし、前述した従来の補間方法は、飛越
し走査時脱落されたラインを再生するために補間時使わ
れるデータの範囲が制限されていて、傾きの低い場合を
含めて多様な傾きを有するエッジを感知できなくて高解
像度を求めるHDTVシステムに適用し難い問題点があ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は多様な
傾きのエッジを有する場合も効率よく補間を行うために
補間時使われるデータの範囲が拡張された加重された広
域ベクトル相関性を用いた二次元補間方法を提供するこ
とである。
【0006】
【課題を解決するための手段】前述した本発明の目的を
達成するために本発明は、多数の画素によりラインを構
成する画像において選択された二本のライン間のライン
を構成する画素のうち選択された一つの画素を補間する
方法において、前記選択された二本のラインのそれぞれ
から前記選択された画素とかかわる三つの隣接した画素
について狭域ベクトルを取ってノルム(Norm)値が
最も小さい狭域ベクトルを求める第1段階と、前記第1
段階で求められたノルム値が最も小さい狭域ベクトルの
ノルム値が既に設定された値より小さい場合、前記ノル
ム値が最も小さい狭域ベクトルの画素を用いて補間を行
い、前記第1段階で求められたノルム値が最も小さい狭
域ベクトルのノルム値が既に設定された値より大きい場
合、前記選択された二本のラインから前記狭域ベクトル
よりさらに多くの画素より構成される広域ベクトルを取
ってノルム値が最も小さい広域ベクトルを求める第2段
階と、前記第2段階で求められた値が最も小さい広域画
素の画素を用いて補間を行う第3段階を含むことを特徴
とする画素の補間方法を提示する。
【0007】また、前述した目的を達成するために本発
明は、多数の画素によりラインを構成する画像で選択さ
れた二本のライン間のラインを構成する画素のうち選択
された一つの画素を補間する装置において、前記選択さ
れた二本のラインを構成する画素のデータを入力され高
周波数成分を除去する低帯域通過フィルタ、前記低帯域
通過フィルタを通過しないデータを用いて前記選択され
た一つの画素とかかわる隣接した画素の垂直相関値を計
算して出力し、前記低帯域通過フィルタを通過した画素
のデータを用いて狭域ベクトルの最小ノルム値、広域ベ
クトルの最小ノルム値を計算して出力し、最小ノルム値
を有する狭域ベクトルと広域ベクトルにかかわる情報を
出力する相関器と、前記選択された二本のラインを構成
する画素のデータを入力され垂直補間値を出力する垂直
フィルタと、前記選択された二本のラインを構成する画
素のデータ及び前記相関器から入力される最小ノルム値
を有する狭域ベクトルにかかわる情報を入力され狭域ベ
クトルによる第1補間値を出力する狭域ベクトル基準フ
ィルタと、前記選択された二本のラインを構成する画素
のデータ及び前記相関器から入力される最小ノルム値を
有する広域ベクトルにかかわる情報を入力され広域ベク
トルによる第2補間値を出力する広域ベクトル基準フィ
ルタと、前記既に設定された第1値及び第2値と前記相
関器から入力される垂直相関値、狭域ベクトルの最小ノ
ルム値、広域ベクトルの最小ノルム値とを比較して前記
垂直フィルタから入力される垂直補間値、前記第1補間
値、前記第2補間値を選択して出力する選択器とを含む
ことを特徴とする画素の補間装置を提示する。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づき本発
明の望ましい実施例を詳細に説明する。本明細書におい
て、{I(n1 −1,・)}と{I(n1 +1、・)}
は飛越し走査により与えられたデータサンプルを示す。
本明細書においてIPCは飛越し走査により与えられた
データサンプルである{I(n1 −1、・)}と{I
(n1 +1、・)}による補間で飛越し走査時脱落され
たラインのイメージデータである{I(n1 、・)}を
求めることを意味する。以下、本発明の実施例は飛び越
し走査時脱落されたラインの画素データI(n1
2 )を求める場合を説明する。
【0009】〔第1実施例〕図1は本発明の第1実施例
による広域ベクトルの相関性を用いた補間方法のフロー
チャートである。図1の第1段階では垂直補間に係る。
垂直補間は垂直方向に最も近接したイメージデータの加
重平均値を求めることで、その遂行が簡単であり具現が
容易なので幅広く使われる技法である。
【0010】この垂直補間は垂直方向に隣り合うイメー
ジデータの相関性の大きい場合には満足すべき結果を与
えるが、垂直エッジが存する場合は垂直解像度が低下さ
れ、エッジの傾きが小さくてエッジの広い範囲にかけて
存する場合には画面全体にフリッカが生ずる。従って、
本実施例では垂直方向への隣接したデータサンプルライ
ンの相関性を先に計算して垂直補間が適宜であるかを判
断する。前記判断結果、垂直方向の相関性の大きい場合
は垂直補間を行い、そうでない場合はさらに多くのイメ
ージデータサンプルを用いる次の段階に進む。
【0011】垂直方向への隣接したデータサンプルの相
関性は次の数式(1)により計算される。 (1) Dv =|I(n1 −1,n2 )−I(n1 +1,n2 )| 前記数式(1)により計算されたDv 値が小さいほど垂
直方向の相関性が大きい。
【0012】したがって、本実施例では相関程度の基準
としてTv 値を既に設定して、計算されたDv 値が予め
設定されたTv 値より小さい場合は垂直補間によりI
(n1,n2 )を計算する。垂直補間は垂直方向へ最も
近接したイメージデータの加重平均値を求めることで、
垂直補間によるイメージデータをIv とすれば、Iv
次の数式(2)のように計算される。 (2) Iv (n1 ,n2 )=w-1I(n1 −1,n2 )+w+11(n1 +1、n2 ) 前記数式(2)においてw-1とw+1は各サンプルの加重
値を示すもので、w-1+w+1=1である。
【0013】本発明の第1段階を定理すれば次の数式
(3)の通りである。 (3) I(n1 ,n2 )=Iv (n1 ,n2 ),ifDv <Tv 垂直方向への隣接したデータサンプルの相関性が小さく
てDv が既に設定されたTv より大きい場合は垂直補間
は下向きであり、この場合は第2段階に進む。
【0014】Dv が既に設定されたTv より大きい場合
はエッジの方向性に基づいた補間方法が使用されるべき
であるが、第2段階ではエッジの傾きが大きい場合を処
理する。第2段階では相関性判断のために長さが3の狭
域ベクトルを用いる。長さが3の狭域ベクトルu(l)
とv(m)は次の数式(4)及び数式(5)により定義
される。狭域ベクトルu(l)とv(m)は低域通過さ
れたデータサンプルのJ(n1-1,・),J(n1
1,・)を用いて定義されるが、これは与えられたデー
タサンプル内の高周波数成分が相関性計算に及び影響を
減らすためのことである。 (4) u(l)=[J(n1 −1,n2 +l−1),J(n1 −1,n2 +l), J(n1 −1,n2 +l+1)] =[u-1(l),u0 (l),u-1(l)] (5) v(m)=[J(n1 +1,n2 +m−1),J(n1 +1,n2 +m), J(n1 +1,n2 +m+1)] =[v-1(m),v0 (m),v+1(m)] 数式4によるu(l)はI(n1 ,n2 )を基準として
上ラインにおいてn2 垂直軸からlだけ離れた位置に隣
接した三つのデータサンプルの低域フィルタリングされ
た値よりなっており、数式(5)によるv(m)はI
(n1,n2 )を基準として、下ラインにおいてn2 垂直
軸からmだけ離れた位置に隣接した三つのデータサンプ
ルの低域フィルタリングされた値よりなる。
【0015】エッジの傾きが狭域ベクトルによる補間が
適宜であるかを判断し、また相関性の最も大きい狭域ベ
クトルを捜し出すために狭域ベクトルの加重されたノル
ム(orm)を計算する。狭域ベクトルの加重されたノ
ルムDn は次の数式(6)により定義される。
【0016】
【数3】
【0017】ここで、ci は加重値を示し、k=c-1
0 +c+1である。前記数式(6)により定義された加
重されたノルムであるDn は二つのベクトル、u(l)
とv(m)の類似した程度を示すもので、二つのベクト
ルの相関性が大きくて二つのベクトル値が類似するほど
小さいDn を有することになり(例えば同一な二つのベ
クトルの場合は0である),二つのベクトルの相関性が
小さいほど大きい値を有する。
【0018】l,mは二つのベクトルに対するn2 垂直
軸からの距離を示し、l,mを−1〜1範囲内で変化さ
せながら前記数式(6)によりDn を計算してDn が最
も小さい二つのベクトルを捜し出す。第2段階において
計算を簡単にするために変化させるl,mの領域をl,
m∈[−1,1]に制限する。この際、Dn を最小とす
るl,mをそれぞれl’,m’とし、その際のDn 値を
n ’とする。
【0019】Dn ’を式で表示すれば次の数式(7)の
通りである。 (7) Dn (l’,m’)=Min{Dn (l,m)|l=−1,0,+1, m=−1,0,+1} すなわち、Dn (l’,m’)はI(n1 ,n2 )近傍
の狭域ベクトルのうち相関性の最も大きい狭域ベクトル
の相関程度を示す。Dn (l’,m’)が既に設定され
たTn より小さい場合は狭域ベクトルの相関性が大きい
ので第2段階の補間が適宜である。この際、決定された
l’,m’によるデータサンプルを補間してI(n1
2)を求める。一方、Dn (l’,m’)が既に設定さ
れたTnより大きい場合は狭域ベクトルの相関性が小さ
いので広域ベクトルを用いる第3段階に進む。
【0020】図2(A)ないし(I)はl’,m’によ
る狭域ベクトルu(l’),v(m’)の位置及びI
(n1 ,n2 )を求めるために使われるデータサンプル
を説明するための図である。図2(A)ないし(I)に
おいて、‘×’表示は補間により求められるべきI(n
1 ,n2 )地点を表示するものであり、‘×’を基準と
して上ラインの狭域ベクトルu(l)と下ラインの狭域
ベクトルv(m)が‘●と○’で表示されている。その
うち、●で示されるのはI(n1 ,n2 )と幾何学的に
最も近接したサンプルを示すもので、●で示された地点
のデータサンプルによる補間によりI(n1 ,n2 )が
決定される。
【0021】例えば、図2(A)は(l’,m’)=
(−1,−1)の場合、すなわちl=−1,m=−1の
際、Dn が最小となる場合であって、I(n1 ,n2
は幾何学的に最も近接したサンプルの●で示されたI
(n1 −1,n2 )とI(n1 +1,n2 )の算術平均
により決定される。図2(B)は(l’,m’)=(−
1,0)の場合であり、この場合●で示されたI(n1
−1,n2 −1),I(n 1 −1,n2 ),I(n1
1,n2 )及びI(n1 +1,n2 +1)の算術平均に
より決定される。
【0022】第2段階による補間により決定されたI
(n1 ,n2 )をIn (n1 ,n2 )とし、図3(A)
ないし(C)を参照しながら決定されたl’,m’によ
るIn(n1 ,n2 )を数式でそれぞれ示せば次の数式
(8)ないし数式(16)の通りである。
【0023】
【数4】
【0024】
【数5】
【0025】本実施例の第2段階を要約すれば次の数式
(17)の通りである。 (17) I(n1 ,n2 )=In (n1 ,n2 ),ifDv >Tv , andDn (l’,m’)<Tn 第2段階においてDn (l’,m’)が既に設定された
n より大きい場合は、狭域ベクトルの相関性が小さい
場合であって、狭域ベクトルを使用する補間が不向きで
ある。従って、広域ベクトルを使用する次の第3段階に
進む。
【0026】本実施例の第3段階で使う広域ベクトルを
数式(18)と数式(19)により定義する。狭域ベク
トルと同様に高周波数成分が相関性計算に与える影響を
減らすために低域フィルタリングされたデータサンプル
のJ(n1 −1,・),J(n1 +1,・)を使用して
定義される。 (18) U(l)=[J(n1 −1,n2 −L+l),・・・,J(n1 −1,n2 +l) ,・・・,J(n1 −1,n2 +L+l)] =[U-L(l),・・・,Uo (l),・・・,UL (l)] (19) U(m)=[J(n1 +1,n2 −L−l+m),・・・,J(n1 +1,n2 − l−m),・・・,J(n1 −1,n2 +L+l+m)] =[V-L(m),・・・,Vo (m),・・・,VL (m)] ここで、Lは広域ベクトルの長さとかかわる定数であっ
て、各広域ベクトルの長さは2L+1であり、Lは2よ
り大きいか等しいである。前述したように定義される広
域ベクトルが及び範囲は狭域ベクトルより広い。
【0027】数式(18)によれば、広域ベクトルU
(l)は、I(n1 ,n2 )の上ラインのn2 垂直軸か
らlだけ離れた位置を中心に隣接した2L+1個のデー
タサンプルが低域通過された値よりなっている。数式
(19)によれば、V(O)はU(l)とI(n1 ,n
2 )について点対称関係にある。V(m)はU(l)を
点対称して得たV(O)をmだけ移動して得られ、その
長さはU(l)と同様に2L+1である。
【0028】第3段階で広域ベクトルの相関性を判断す
るために広域ベクトルの加重されたノルムDn (l,
m)を定義する。広域ベクトルの加重されたノルムDw
(l,m)は次の数式(20)のように定義される。
【0029】
【数6】
【0030】ここで、Ci は加重値を示し、M=ΣCi
である。Dn と同様にDw の値が小さいほど相関性が大
きい。前記数式(18),数式(19)により定義され
た広域ベクトルでlとmを変化させながら広域ベクトル
の加重されたノルムDw が最小となる広域ベクトルを捜
し出す。Dw が最小の行為ベクトルは相関性が最も大き
いものである。
【0031】第3段階でDw が最小とする広域ベクトル
を捜し出すためにlを変化させる領域は1∈[−S,+
S]であるが、ここでラインの端近傍におけるエラーを
減らすためにSはL(広域ベクトルの長さ(2L+1)
とかかわる定数)より小さいか等しい。mは−1,0,
1の値を有するように変化されるが、V(m)はU
(l)を点対称して得られるV(O)をmほど移動して
得られるものなので、mの変化領域は[−1,0,+
1]でも十分である。
【0032】前述したようにl,mを変化させながらD
w を最小とするl,mを求めてその値をそれぞれl”,
m”とする。これを数式で示せば次の数式(21)の通
りである。 (21) Dw (l”,m”)=Min{Dw (l,m)|l=−S,・・・0,+S and m=−1,0,1} 前記数式(21)によりl”,m”が決定されれば、補
間に使われる広域ベクトルが決定されるもので、本実施
例の第3段階における補間はl”,m”による各広域ベ
クトルの中心に位置したデータサンプルの算術平均値に
より行われる。第3段階において補間により得られるI
(n1 ,n2 )値をIw (n1 ,n2 )とすれば次の数
式(22)の通りである。
【0033】
【数7】
【0034】本実施例の第3段階を要約すれば次の数式
(23)の通りである。 (23) In (n1 ,n2 )=Iw (n1 ,n2 ),if Dv >Tv and Dn (l’,m’)>Tn 図3(A)ないし(C)は広域ベクトルの長さが5の場
合(L=2)において、本実施例により決定された
l”,m”による広域ベクトルU,Vの位置及びI(n
1 ,n2 )を求めるために使われるデータサンプルを説
明するための図である。
【0035】図3(A)ないし(C)において、‘×’
表示は補間により求められるべきI(n1 ,n2 )地点
を表示するものであり、●で示されるのは補間に使われ
る広域ベクトルの中心データを表示するのである。例え
ば、図3(A)はDw を最小とする(l”,m”)が
(−2,0)の場合であり、この場合●で示される通
り、U(−2)の中心データであるI(n1 −1,n2
−2)とV(0)の中心データであるI(n1 +1,n
2 +2)の算術平均によりI(n1 ,N2 )が決定され
る。
【0036】図4は以上説明したような本発明の第1実
施例による補間方法を具現する補間装置のブロック図で
ある。飛越し走査により与えられたデータサンプル{I
(n 1 −1,・)},{I(n1 +1,・)}が入力さ
れすぐ相関部20に入力されたり、低域通過フィルタ1
0を経て相関部20に入力される。低帯域通過フィルタ
10により低帯域フィルタリングされたデータサンプル
は{J(n1 −1,・)},{J(n1 +1,・)}で
表示されている。
【0037】相関部20の第1相関器21は与えられた
データサンプル{I(n1 −1,・)},{I(n1
1,・)}からDv を計算して出力する。相関部20の
第2相関器22は低帯域フィルタリングされたデータサ
ンプル{J(n1 −1,・)},{J(n1 +1,
・)}からDn を最小とするl’,m’を求めて、
l’,m’とDn (l’,m’)を出力する。相関部2
0の第3相関器23は低帯域フィルタリングされたデー
タサンプル{J(n1 −1,・)},{J(n1 +1,
・)}からDw を最小とするl”,m”を求めて、
l”,m”を出力する。
【0038】広域ベクトル基準フィルタ30は前記第3
相関器23からl”,m”を入力され、与えられたデー
タサンプル{I(n1 −1,・)}{I(n1 +1,
・)}を入力され広域ベクトルによる補間値であるIw
(n1 ,n2 )を出力する。狭域ベクトル基準フィルタ
40は前記第2相関器22からl’,m’を入力され、
与えられたデータサンプル{I(n1 −1,・)}{I
(n1 +1,・)}を入力され狭域ベクトルによる補間
値であるIn (n1 ,n2 )を出力する。
【0039】垂直フィルタ50は与えられたデータサン
プル{i(n1 −1,・)}{I(n1 +1,・)}を
入力され、垂直補間値であるIv (n1,n2 )を出力す
る。選択器60は既に設定されたTv ,Tn と第1相関
器21からDv 、第2相関器22からDn (l’,
m’)、広域ベクトル基準フィルタ30からI
w (n1,n2 )、狭域ベクトル基準フィルタ40から
n (n1 ,n2 )、垂直フィルタ50からI
v (n1 ,n2 )を入力され、i)Dv <Tv の時Iv
を選択して出力し、ii)Dv <Tv であり、D
n (l’,m’)<Tn の時はIn を出力し、iii)
v >Tv であり、Dn (l’,m’)<Tn の時はI
w を出力する。
【0040】前記装置により出力される補間値はエッジ
の傾きにより補間に使われるデータの範囲が適宜に調節
され補間されたI(n1 ,n2 )値である。 〔第2実施例〕図5及び図6は本発明の第2実施例によ
る広域ベクトルの相関性を用いた補間方法のフローチャ
ートである。第1実施例と同様に、垂直相関性の程度に
より垂直補間を行う第1段階と、狭域ベクトルによる補
間を行う第2段階及び広域ベクトルによる補間を行う第
3段階より構成されている。
【0041】また、Dv ,Dn ,Dw と狭域ベクトル
u,vと広域ベクトルU,V及び補間値であるIv ,I
n ,Iw は前記第1実施例で定義された通りである。垂
直補間を行う第1段階では垂直相関値であるDv が既に
設定されたTv 値より小さい場合、垂直補間されたIv
(n1 ,n2 )を出力する。前記第1段階でDv がTv
より大きければ第2段階に進む。第2段階では狭域ベク
トルを取る。
【0042】第2実施例の第2段階は単純にノルムを最
小とする狭域ベクトルによる補間を行うことではない。
右側と左側の両方向へのエッジが全部見つかる場合はエ
ラーが発生されたことで、この場合は単純に垂直補間を
行わせると良い。従って、第2実施例では左側方向のエ
ッジである(l’,m’)が(−1,0),(−1,
1),(0,1)の場合について最小Dn を求め、右側
方向のエッジの(l’,m’)が(0,−1),(1,
−1),(1,0)の場合について最小Dn を求める。
前者をDn-L , Dn-R とすれば,Dn-L とDn-R の両者
のうちいずれか一つが既に設定されたTn より小さけれ
ば該当する狭域ベクトルによる補間を行い、Dn-L とD
n-R の両者がTn より大きければ広域ベクトルを用いる
第3段階に進み、Dn-L とDn-R の両者がTn より小さ
ければ両方向へのエッジが発生された場合なので単純垂
直補間を行う。
【0043】第3段階ではエラーが発生する場合に構え
て両方向のDw を計算し、計算されたDw を既に設定さ
れた値Tw と比較してエッジの方向性を判断して補間す
る。この際、lの変化領域は{−S,+S}の両値に限
定し、Sの初期値は2と設定する。mは−1,0,1の
値を有するように変化される。まず、lが−Sの時とl
が+Sの時、Dw を最小とするmをそれぞれ求める。l
が−Sの時Dw を最小とするmをm-s,lが+Sの時D
w を最小とするmをm +sとする。これを式で示せば次の
数式(24)の通りである。 (24) Dw (−S,m-s)=Min{Dw (−S,m)|m=−1,0,1} Dw (+S,m+s)=Min{Dw (+S,m)|m=−1,0,1} その後、相関性判断の基準値と設定されたTw とD
w (−S,m-s),Dw (+S,m+s)をそれぞれ比較
すればエッジの方向性がわかる。lが−Sの場合は左上
側から右下側に傾斜を有するエッジに当たり、lが+S
の場合は右上側から左下側に傾斜を有するエッジにそれ
ぞれ当たる。従って、Dw (−S,m-s)がTw より小
さく、同時にDw (+S,m+s)がTw より大きい場合
は左上側のデータと右下側のデータが相関性の大きい場
合であり、よってエッジが左上側から右下側の傾斜を有
する。
【0044】比較結果、Dw (−S,m-s)とDw (+
S,m+s)のうちいずれか一つが既に設定されたTw
り小さい場合、該当する広域ベクトルU(−S)とV
(m-s)またはU(+S)とV(m+s)を用いて補間を
行う。Dw (−S,m-s)がT w より小さく、同時にD
w (+S,m+s)がTw より大きい場合は広域ベクトル
U(−S)とV(m-s)の中心点で補間を行う。D
w (−S,m-s)がTw より大きく、同時にDw (+
S,m+s)がTw より小さい場合は広域ベクトルU(+
S)とV(m+s)の中心点で補間を行う。
【0045】比較結果、Dw (−S,m-s)とDw (+
S,m+s)の両方が既に設定されたTw より小さい場
合、両方向にエッジが見つかったことである。これは事
実上エラーが発生したことと見られ、高周波数成分の多
い部分で発生する。この場合はエッジの方向性を正確に
感知できなくて単純な垂直補間を行うのが画質面におい
てさらに望ましい。
【0046】比較結果、Dw (−S,m-s)またはDw
(+S,m+s)の両方が既に設定されたTw より大きい
場合、Sを1増加させた後lが−Sの時と+Sの時Dw
(−S,m-s),Dw (+S,m+s)を求め、既に設定
されたTw と比較することを繰り返す。前述した方式を
繰り返した結果、SがLとなるまでエッジの方向性を捜
し出せないとやはり単純な垂直補間を行う。
【0047】本実施例の第3段階で広域ベクトルを用い
た補間により求めたI(n1 ,n2)をIw1(n1 ,n
2 ),Iw2(n1 ,n2 )とし、これを式で表示すれば
次の数式(25)ないし数式(28)の通りである。
【0048】
【数8】
【0049】図7は本発明の第2実施例による補間方法
を具現する補間装置を示す。飛越し走査により与えられ
たデータサンプル{I(n1 −1)、・)}{I(n1
+1)、・)}が入力されすぐ相関部20に入力された
り低帯域通過フィルタ10を経て相関部20に入力され
る。低帯域通過フィルタ10により低帯域フィルタリン
グされたデータサンプルは{J(n1 −1)、・)}
{J(n1 +1)、・)}と示されている。
【0050】相関部20の第1相関器21は与えられた
データサンプル{I(n1 −1),・)}{I(n1
1),・)}からDv を計算して出力する。相関部20
の第2相関器22は低帯域フィルタリングされたデータ
サンプル{J(n1 −1),・)}{J(n1 +1),
・)}から左側エッジのDn-L を最小とするl’とm’
と右側エッジのDn-R を最小とするl’とm’を求め
て、(l’,m’)とD n-L (l’,m’),D
n-R (l’,m’)を出力する。相関部20の第3相関
器23は低帯域フィルタリングされたデータサンプル
{J(n1 −1),・)}{J(n1 +1),・)}か
らDw (−S,m)とDw (+S,m)を最小とするm
-sとm+sを求めて、(−S,m-s),(+S,m+s)と
w (−S,m-s)とDw (+S,m+s)を出力する。
【0051】広域ベクトル基準フィルタ30は前記第3
相関器23から(−S,m-s),(+S,m+s)を入力
され、与えられたデータサンプル{I(n1 −1),
・)}{I(n1 +1),・)}を入力され広域ベクト
ルによる補間値であるIW1(n 1 ,n2 ),I
w2(n1 ,n2 )を出力する。狭域ベクトル基準フィル
タ40は前記第2相関器22から(l’,m’)を入力
され、与えられたデータサンプル{I(n1 −1),
・)}{I(n1 +1),・)}を入力され狭域ベクト
ルによる補間値であるIn (n1 ,n2 )を出力する。
【0052】垂直フィルタ50は与えられたデータサン
プル{I(n1 −1),・)}{I(n1 +1),
・)}を入力され垂直補間値であるIv (n1 ,n2
を出力する。選択器60は既に設定されたTv ,T
n と、第1相関器21からDv ,第2相関器22からD
n-L (l’,m’),Dn-R (l’,m’)、広域ベク
トル基準フィルタ30からIw1(n1 ,n2 ),I
w2(n1 ,n2 ),狭域ベクトル基準フィルタ40から
n (n1 ,n2 )、垂直フィルタ50からI
v (n1 ,n2)を入力され、i)Dv <Tv の時Iv
を選択して出力し、ii)Dv <Tv であり、D
n (l’,m’)<Tn の時はIn を出力し、iii)
v >Tv であり、Dn (l’,m’)<Tn の時はI
w を出力する。
【0053】
【発明の効果】以上述べたように、本発明は多様な傾き
を有するエッジに対する補間を相関程度に応じて効率よ
くでき、広範囲にかけた相関性でエッジの傾きの小さい
場合は広域ベクトルを用いて補間を行う。また、両方向
へのエッジが見つかるなどの高周波数成分によるエラー
が発生する場合は単純垂直補間を行う。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例による補間方法のフローチ
ャートである。
【図2】(A)ないし(C)は本発明による方法におい
て狭域ベクトルu,vの位置と補間に使われるデータサ
ンプルを説明するための図である。
【図3】本発明による方法において広域ベクトルU,V
の位置と補間に使われるデータサンプルを説明するため
のもので、長さが5の広域ベクトルを使用した場合の例
示図である。
【図4】本発明の前記第1実施例による補間方法を具現
する補間装置のブロック構成図である。
【図5】本発明の前記第2実施例による補間方法のフロ
ーチャートである。
【図6】図5に続くフローチャートである。
【図7】本発明の前記第2実施例による補間方法を具現
する補間装置のブロック構成図である。
【符号の説明】
10 低帯域通過フィルタ 20 相関器 30 広域ベクトル基準フィルタ 40 狭域ベクトル基準フィルタ 50 垂直フィルタ 60 選択器

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 多数の画素によりラインを構成する画像
    において選択された二本のライン間のラインを構成する
    画素のうち選択された一つの画素を補間する方法におい
    て、 前記選択された二本のラインのそれぞれから前記選択さ
    れた画素をI(n1 ,n2 )と示す時、前記選択された
    画素とかかわる三つの隣接した画素について次の(式
    1)と(式2)、 (式1) u(l)=[J(n1 −1,n2 +l−1),J(n1 −1,n2 +l), J(n1 −1,n2 +l+1)] =[u-1(l),u0 (l),u-1(l)] (式2) v(m)=[J(n1 +1,n2 +m−1),J(n1 +1,n2 +m), J(n1 +1,n2 +m+1)] =[v-1(m),v0 (m),v-1(m)] 前記(式1)及び(式2)においてJ(n1 −1,・)
    とJ(n1 +1,・)はI(n1 −1,・)とI(n1
    +1,・)を低帯域フィルタリングした値であり、l,
    mの領域はl,m∈[−1,1]である、で示せる狭域
    ベクトルを取って次の(式3)、 【数1】 ここで、ci は加重値を示し、k=c-1+c0 +c+1
    ある、に与えられるノルム値が最も小さい狭域ベクトル
    を求める第1段階と、 前記第1段階で求められたノルム値が最も小さい狭域ベ
    クトルのノルム値が既に設定された値より小さい場合、
    前記ノルム値が最も小さい狭域ベクトルの画素を用いて
    補間を行い、前記第1段階で求められたノルム値が最も
    小さい狭域ベクトルのノルム値が既に設定された値より
    大きい場合、前記選択された二本のラインから前記狭域
    ベクトルよりさらに多くの画素より構成される次の(式
    4)及び(式5)、 (式4) U(l)=[J(n1 −1,n2 −L+1),・・・,J(n1 −1,n2 + l),・・・J(n1 −1,n2 +L+1)] =[U-1(l),・・・,U0 (l),U1 (l)] (式5) v(m)=[J(n1 +1,n2 −L−1+m),・・・,J(n1 +1, n2 −l+m),・・・,J(n1 +1,n2 +L−l+m)] =[V-L(m),・・・,V0 (m),VL (m)] 前記(式4)と(式5)において、J(n1 −1)とJ
    (n1 +1,・)はI(n1 −1,・)とI(n1
    1,・)を低帯域フィルタリングした値であり、Lは広
    域ベクトルの長さ(2L+1)とかかわる定数であって
    2より大きいか等しい。前記(式5)においてmの変化
    領域はm∈[−1,1]である、で示せる狭域ベクトル
    を取って次の(式6)、 【数2】 ここで、Ci は加重値を示し、M=ΣCi である、に与
    えられるノルム値が最も小さい広域ベクトルを求める第
    1段階と、 前記第2段階で求められた値が最も小さい広域ベクトル
    の画素を用いて補間を行う第3段階とを含むことを特徴
    とする画素の補間方法。
  2. 【請求項2】 前記第1段階を行う前に前記選択された
    二本のラインに位置する前記選択された画素の垂直位置
    の二つの画素の垂直相関値が既に設定された値より大き
    い場合は垂直補間を行い、そうでなければ前記第1段階
    を行う垂直補間判断段階をさらに含むことを特徴とする
    請求項1に記載の画素の補間方法。
  3. 【請求項3】 前記第1段階は最小ノルム値を与える狭
    域ベクトルを左側及び右側方向についてそれぞれ求め、
    前記第2段階で狭域ベクトルを用いた補間は、前記左側
    方向と右側方向のエッジに対する最小ノルム値の狭域ベ
    クトルにおいて、両者のうちいずれか一つが既に設定さ
    れたTn より小さければ該当する狭域ベクトルによる補
    間を行い、両者の全てがTn より大きければ広域ベクト
    ルを用いる第3段階に進み、両者の全てがTn より小さ
    ければ、両方向にエッジが発生した場合なので単純垂直
    補間を行うことを特徴とする請求項1に記載の画素補間
    方法。
  4. 【請求項4】 前記第2段階はlが−S,+S(2≦S
    ≦L)の際、mを[−1,1]範囲内で変換させつつノ
    ルムを最小とする広域ベクトルをそれぞれ求め、前記第
    3段階はlが−Sの時と+Sの時のノルムを最小とする
    広域ベクトルのノルム値を既に設定された値と比較して
    エッジの方向性を感知してエッジの方向により補間を行
    うことを特徴とする請求項1に記載の画素補間方法。
  5. 【請求項5】 前記第3段階はlが−Sの時の広域ベク
    トルの最小ノルム値と+Sの時の広域ベクトルの最小ノ
    ルム値のうちいずれか一つが既に設定された値より小さ
    ければその広域ベクトルを用いて補間を行い、lが−S
    の時の広域ベクトルの最小ノルム値と+Sの時の広域ベ
    クトルの最小ノルム値の全てが既に設定された値より小
    さければ垂直補間を行い、lが−Sの時の広域ベクトル
    の最小ノルム値と+Sの時の広域ベクトルの最小ノルム
    値が全て既に設定された値より大きければ、i)S<L
    の時はSを増加させ前記過程を繰り返し、ii)S=L
    の時は垂直補間を行うことを特徴とする請求項4に記載
    の画素の補間方法。
  6. 【請求項6】 前記第2段階で狭域ベクトルを用いた補
    間はノルムが最も小さい狭域ベクトルの画素のうち選択
    された画素に最も近接した画素のデータを算術平均して
    行うことを特徴とする請求項1に記載の画素の補間方
    法。
  7. 【請求項7】 前記第3段階において広域ベクトルを用
    いた補間はノルムが最も小さい広域ベクトルの画素のう
    ち広域ベクトルの中心画素のデータを算術平均して行う
    ことを特徴とする請求項1に記載の画素の補間方法。
  8. 【請求項8】 多数の画素によりラインを構成する画像
    で選択された二本のライン間のラインを構成する画素の
    うち選択された一つの画素を補間する装置において、 前記選択された二本のラインを構成する画素のデータを
    用いて前記選択された一つの画素とかかわる隣接した画
    素の垂直相関値、狭域ベクトルの最小ノルム値、広域ベ
    クトルの最小ノルム値を計算して出力し、最小ノルム値
    を有する狭域ベクトルと広域ベクトルにかかわる情報を
    出力する相関器と、 前記選択された二本のラインを構成する画素のデータを
    入力され垂直補間値を出力する垂直フィルタと、 前記選択された二本のラインを構成する画素のデータ及
    び前記相関器から入力される最小ノルム値を有する狭域
    ベクトルにかかわる情報を入力され狭域ベクトルによる
    第1補間値を出力する狭域ベクトル基準フィルタと、 前記選択された二本のラインを構成する画素のデータ及
    び前記相関器から入力される最小ノルム値を有する広域
    ベクトルにかかわる情報を入力され広域ベクトルによる
    第2補間値を出力する広域ベクトル基準フィルタと、 前記既に設定された第1値及び第2値と前記相関器から
    入力される垂直相関値、狭域ベクトルの最小ノルム値、
    広域ベクトルの最小ノルム値とを比較して前記垂直フィ
    ルタから入力される垂直補間値、前記第1補間値、前記
    第2補間値を選択して出力する選択器とを含むことを特
    徴とする画素の補間装置。
  9. 【請求項9】 前記補間装置は前記狭域ベクトル及び広
    域ベクトルのノルム値を計算する前に前記選択された二
    本のラインを構成する画素のデータの高周波数成分を取
    り除く低帯域通過フィルタをさらに含むことを特徴とす
    る請求項8に記載の画素の補間装置。
  10. 【請求項10】 前記相関器は、 前記選択された二本のラインを構成する画素のデータを
    入力され前記選択された一つの画素と隣接した画素の垂
    直相関値を出力する第1相関器と、 前記低帯域通過フィルタにより低帯域フィルタリングさ
    れた画素のデータを入力され前記選択された一つの画素
    と隣接した画素の狭域ベクトルの最小ノルム値とその際
    の狭域ベクトル情報を出力する第2相関器と、 前記低帯域通過フィルタにより低帯域フィルタリングさ
    れた画素のデータを入力され前記選択された一つの画素
    と隣接した画素の広域ベクトルの最小ノルム値とその際
    の広域ベクトル情報を出力する第3相関器とより構成さ
    れていることを特徴とする請求項9に記載の画素の補間
    装置。
  11. 【請求項11】 前記第2相関器は、右側及び左側エッ
    ジ方向についてそれぞれ狭域ベクトルの最小ノルム値と
    その際の狭域ベクトルに対する情報を出力することを特
    徴とする請求項10に記載の画素の補間装置。
  12. 【請求項12】 前記第3相関器は、右側及び左側エッ
    ジ方向についてそれぞれ広域ベクトルの最小ノルム値と
    その際の広域ベクトルに対する情報を出力することを特
    徴とする請求項11に記載の画素の補間装置。
  13. 【請求項13】 前記選択器は、前記第2相関器から入
    力される右側及び左側エッジ方向に対する狭域ベクトル
    の最小ノルム値が全て既に設定された第1値より小さけ
    れば垂直補間値を出力し、前記第3相関器から入力され
    る右側及び左側エッジ方向に対する広域ベクトルの最小
    ノルム値が全て既に設定された第2値より小さければ垂
    直補間値を出力することを特徴とする請求項12に記載
    の画素の補間装置。
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