JPH0917304A - リレー劣化測定方法 - Google Patents

リレー劣化測定方法

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JPH0917304A
JPH0917304A JP7163890A JP16389095A JPH0917304A JP H0917304 A JPH0917304 A JP H0917304A JP 7163890 A JP7163890 A JP 7163890A JP 16389095 A JP16389095 A JP 16389095A JP H0917304 A JPH0917304 A JP H0917304A
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relay
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measuring
unit
deterioration
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Kazushi Sato
一志 佐藤
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NEC Yamagata Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】装置に実装されているリレーの劣化状態を把握
し、リレーが動作不良を起こす前に交換できるようにす
ることにある。 【構成】テストヘッド部2に、リレー駆動電圧可変用の
電源コントロール部2cと、テスタ本大部1からのリレ
ー劣化診断プログラムよって制御されるリレー測定部2
aとを有する。このリレー測定部2aは、リレー接点の
動作時間,接触抵抗,動作電圧,接点間リーク電流を測
定し、リレーの劣化状態を把握して良否を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はリレー劣化測定方法に関
し、特にリレーが劣化する時間を測定(寿命測定)する
リレー劣化測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、機械的接点を備えたリレーは、
長時間使用すると、アークによる接点表面の焼損や摩耗
などにより劣化し、動作不良を生ずる。実際には、目的
によって使用されるリレーが異なるので、リレー個々の
劣化状態を判断することは出来ない。
【0003】従来、かかるリレーの動作不良の測定方法
としては、特開平3−140093号公報の図1にも示
されているように、リレー接点部に接点と応動するアン
サーバック接点を設け、そのアンサーバック接点の開閉
信号を演算部に取り込み、リレーの駆動信号の発生から
接点が動作するまでの時間をカウントすることにより、
リレーの故障診断や故障予知を行う方法がある。
【0004】また、リレーとは異なるが、特開平2−1
28417号公報の図4にも示されているように、目合
わせ露光装置におけるギャップユニットの劣化予知方法
も知られている。この劣化予知方法は、ギャップユニッ
トの動作時間を測定する一方、この時間と予め設定した
基準時間値とを比較し、その時間差の大小によりギャッ
プユニットの劣化を判定するものである。
【0005】しかしながら、従来はこれらの方法を用い
ても、リレー個々の劣化状態を判断することは出来ない
ため、現実的には、測定に異常が発生してから不良とな
ったリレーの調査を行って交換するか、あるいは故障発
生状況から推定し、リレーを全数交換するといった方法
が取られている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のリレー
劣化測定方法は、故障リレーのみの交換を行うような場
合には、測定に異常が発生してから調査や修理を行うた
め、良品率が低下し、故障修理時間分だけ装置が停止す
るため、生産不可能になるという欠点がある。また、故
障原因の調査のための人的工数が増加したり、測定製品
の再測定が必要になり、ロス時間が増加したりするとい
う欠点がある。
【0007】一方、全数交換を前提とするリレー劣化測
定の場合には、装置によって数千本のリレーを使用して
いることから、莫大な費用が発生したり、寿命に達して
いないリレーを交換することによる無駄が発生したりす
るという欠点がある。また、リレー交換時のミスも発生
し易く、ミス修正のための調査や時間がかかり、しかも
多数のリレーを一度に交換するため、リレーの初期不良
が起きる可能性が高くなるという欠点がある。
【0008】さらに、従来のリレー劣化測定において
は、アンサバック接点や検出回路の追加が必要になり、
配線数の増加および演算回路等を複雑化させるという欠
点がある。
【0009】本発明の目的は、かかる動作不良前に劣化
の進んだリレーを交換でき、故障調査工数,交換時間,
交換時ミスの削減とともに、寿命に達していないリレー
を極限まで使用できるようにし、測定回路も簡略化でき
るリレー劣化測定方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明のリレー劣化測定
方法は、被測定リレーに接続され且つ接点の動作時間,
接触抵抗,動作電圧および接点間のリーク電流を測定す
る機能を持ったリレー測定部と前記リレー測定部に電源
電圧を供給するための制御を行う電源制御部とを備えた
テストヘッド部と、各種測定プログラム機能を備えると
ともに前記テストヘッド部の前記リレー測定部との間で
測定データの送受信を行う機能測定部と前記機能測定部
に接続され測定結果の演算処理を行うCPU部と前記機
能測定部への電源電圧を供給する電源部とを備えたテス
タ本体部とを有し、前記接点の動作時間,接触抵抗,動
作電圧および接点間のリーク電流を測定する機能を組合
せることにより、前記被測定リレーの劣化状態を把握し
て良否を判定するように構成される。
【0011】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は本発明の一実施例を説明するための
テスタ本体部とテスタヘッド部のブロック構成図であ
る。図1に示すように、本実施例のリレー劣化測定は、
リレー劣化診断プログラムを備え、データ処理等を行う
テスタ本体部1と、被測定リレーに接続されるテストヘ
ッド部2とを用いて行われる。このテストヘッド部2
は、被測定リレーに接続されるリレー測定部2aを備
え、そのリレー測定部2aでは、リレー接点の動作時
間、すなわちリレー駆動信号がコイルに印加されてから
動作するまでの時間または印加されなくなってから接点
が動作するまでの時間や、接点の接触抵抗、またはリレ
ー接点の動作電圧(接点が動作する最低の印加電圧)、
あるいは接点間のリーク電流等を測定し、それぞれ基準
値と比較することにより、リレーの劣化状態を把握する
機能を有する。また、テストヘッド部2は、電源部2b
と、この電源部2bからリレー測定部2aに対し各種の
測定電圧を供給するための電源制御部2cとを備えてい
る。
【0012】一方、テスタ本体部1は、リレーの劣化診
断のための各種測定プログラム機能を備えた機能測定部
1bと、この機能測定部1bに接続され測定結果の演算
処理を行うCPU部1aと、機能測定部1bへの電源電
圧を供給する電源部1cとを備えている。この機能測定
部1bとテストヘッド部2のリレー測定部2aとの間
で、測定データの送受信が行われる。
【0013】実際には、上述した接点の動作時間,接触
抵抗,動作電圧および接点間のリーク電流を測定する機
能を組合せ、それぞれ基準値と比較することにより、被
測定リレーの劣化状態を把握し、良否を判定している。
【0014】図2は図1に示すテストヘッド部における
リレー測定部の回路図である。図2に示すように、この
リレー測定部2aは機能測定部から供給されるパターン
信号を駆動するドライバ3と、そのドライバ3の出力を
オン/オフするドライバリレー接点13と、機能測定部
1bの直流電流(DC)測定部7に接続されるDCフォ
ースリレー接点14およびDCセンスリレー接点15
と、外部切離しリレー接点16と、基準電圧/電流(R
EF)値入力および被測定リレー接点5を介した入力を
比較する判定部4と、この判定部4の被測定側入力に接
続されるフローティング防止抵抗6およびフローティン
グ防止抵抗接続リレー接点12とを有する。
【0015】かかるリレー測定部2aにおいて、フロー
ティング防止抵抗6およびフローティング防止抵抗接続
リレー接点12はリレー接点の動作時間を測定する際
に、被測定リレー接点5が開放しても、判定部4の入力
がフローティングしないために接続するものである。な
お、被測定リレー5の駆動電圧を可変するにあたって
は、図1における電源制御部2cから各種の電圧を供給
するようにしている。
【0016】図3(a),(b)はそれぞれ図2におけ
るリレー良否判定の特性説明図である。まず、図3
(a)に示すように、リレー接点の動作時間によって劣
化の予知を行う場合を説明する。この場合には、前述し
た図2において、ドライバリレーの接点13とフローテ
ィング防止抵抗接続リレーの接点12を閉じ、その他の
リレー接点、すなわちDCフォースリレー接点14,D
Cセンスリレー接点15および外部切離しリレー接点1
6をオフ(開放)する。この状態で図3(a)の特性8
ように被測定リレーをオフさせると、所定動作時間Tの
間で特性9に示すように接点5がオフとなる。このた
め、判定部4においては、この動作入力とREF入力と
を比較し、被測定リレーが基準時間内にオフしているの
で、劣化なし特性10Aを出力する。
【0017】一方、図3(b)に示すように、被測定リ
レーをオフさせたとき、特性9のとおり被測定リレーの
接点5が基準時間T内にオフしなければ、判定部4にお
いては、劣化あり特性10Bを出力する。この特性10
Bが出力されると、警報等を発して間もなくリレーの動
作不良が起こることを知らせる。
【0018】図4(a)〜(c)はそれぞれ図2におけ
るリレーの各種機能の試験回路図である。まず、図4
(a)に示すように、この場合は被測定リレーの接点抵
抗によって劣化の予知を行うものであり、図2におい
て、ドライバリレーの接点13と外部切離しリレー接点
16をオフし、接点12,接点14,接点15をオンさ
せる。しかるに、被測定リレーの接点5を閉じておく
と、DC測定部7から出力した定電流Iは、接点5を介
して抵抗6に流れる。この結果、判定部4では、発生す
る電圧から全抵抗値(R=V/I)を算出し、基準値
(REF省略)と比較して、基準値を超えているときに
は、前述した動作時間の測定と同様に、警報信号を出力
する。
【0019】つぎに、図4(b)に示すように、この場
合は被測定リレーの動作電圧によって劣化の予知を行う
ものであり、図2において、接点13,接点12を動作
させ、その他の接点14,15および接点16をオフさ
せておく。この状態で被測定リレーのコイル11に印加
する電圧Vを変化させ、その接点5が動作する電圧を判
定部4において求める。そのときの動作電圧が基準値以
下になったものは、劣化したものとして警報信号を出力
する。
【0020】さらに、図4(c)に示すように、この場
合は被測定リレーリーク電流によって劣化の予知を行う
ものであり、図2において、接点13,接点16をオ
フ、接点14,接点15および接点12をオンさせてお
く。被測定リレーをオフの状態にしてその接点間に電圧
を印加し、その間に流れる漏れ電流Iが基準値以上にな
ったものについては、劣化したものとして警報信号を出
力する。
【0021】このように、上述した各種の測定を行うこ
とにより、リレー個々の劣化状態を把握することがで
き、判定部4からの警報信号により事前にリレーの交換
を行うことができる。
【0022】図5(a),(b)はそれぞれ図2におけ
るリレーの動作時間推移と劣化予知との関係を説明する
ための特性図である。まず、図5(a)に示すように、
基準値を求めるにあたり、リレー接点の動作時間の場合
には、一般にリレーの使用回数が増えるにつれて接点の
動作時間も増加し、ついには動作不良を起こすことにな
る。
【0023】そこで、図5(b)に示すように、本実施
例はこの特性を活用し、テストデータに基いて動作不良
を起こす直前の接点動作時間を劣化予知時間(基準値)
としてっ設定する。このため、測定値がこの値に達し警
報が発せられた時点でリレーの交換を行えば、被測定リ
レーを用いている装置全体の停止時間を最小限に抑える
ことができ、生産性を低下することはなくなる。
【0024】なお、その他の接触抵抗,動作電圧,漏れ
電流等も同様に設定することができる。また、これら
は、テスタ本体部からの制御およびそのテスタ本体部に
診断プログラム等を備えることにより実現可能である。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のリレー劣
化測定方法は、テストヘッド部にリレー接点の動作時
間,接触抵抗,動作電圧および接点間のリーク電流を測
定するリレー測定部と電源電圧を制御する電源制御部と
を備え、テスタ本体部との間で測定データの送受信を行
い、接点の動作時間,接触抵抗,動作電圧および接点間
のリーク電流を測定することにより、リレーの劣化状態
を把握して良否を判定できるので、リレーが動作不良を
起こす前に劣化の進んだリレーを交換できるとともに、
測定中に異常を発生することもなくなるので、歩留りの
低下を防止できるという効果がある。
【0026】また、本発明は装置等が故障修理で停止す
ることもなくなるので、生産性が向上し、故障原因調査
のための工数を大幅に削減でき、再測定の必要がなくな
るという効果がある。
【0027】さらに、本発明は全数交換の必要が無くな
り、最小限の費用で済むとともに、寿命に達していない
リレーを極限まで使用できるという効果がある。
【0028】その外に、本発明はリレーの全数交換が不
要になるので、交換時間の削減や交換時のミスの削減を
実現でき、しかも一度に交換するリレーの数が少なくな
るので、初期不良の可能性を低下させるとともに、アン
サーバック接点や検出回路も不要にできるので、測定回
路を簡略化できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を説明するためのテスタ本体
部とテスタヘッド部のブロック構成図である。
【図2】図1に示すテストヘッド部におけるリレー測定
部の回路図である。
【図3】図2におけるリレー良否判定の特性説明図であ
る。
【図4】図2におけるリレーの各種機能の試験回路図で
ある。
【図5】図2におけるリレーの動作時間推移と劣化予知
との関係を説明するための特性図である。
【符号の説明】
1 テスタ本体部 1a CPU 1b 機能測定部 1c,2b 電源部 2 テストヘッド部 2a リレー測定部 2c 電源制御部 3 ドライバ 4 判定部 5 被測定リレー接点 6 フローティング防止抵抗 7 DC測定部 12 フローティング防止抵抗接続リレー接点 13 ドライバリレー接点 14 DCフォースリレー接点 15 DCセンスリレー接点 16 外部切離しリレー接点

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定リレーに接続され且つ接点の動作
    時間,接触抵抗,動作電圧および接点間のリーク電流を
    測定する機能を持ったリレー測定部と前記リレー測定部
    に電源電圧を供給するための制御を行う電源制御部とを
    備えたテストヘッド部と、各種測定プログラム機能を備
    えるとともに前記テストヘッド部の前記リレー測定部と
    の間で測定データの送受信を行う機能測定部と前記機能
    測定部に接続され測定結果の演算処理を行うCPU部と
    前記機能測定部への電源電圧を供給する電源部とを備え
    たテスタ本体部とを有し、前記接点の動作時間,接触抵
    抗,動作電圧および接点間のリーク電流を測定する機能
    を組合せることにより、前記被測定リレーの劣化状態を
    把握して良否を判定することを特徴とするリレー劣化測
    定方法。
  2. 【請求項2】 前記テストヘッド部の前記リレー測定部
    は、前記接点の動作時間,接触抵抗,動作電圧および接
    点間のリーク電流を測定するための複数のスイッチ手段
    を備え、それぞれ基準値と比較する請求項1記載のリレ
    ー劣化測定方法。
  3. 【請求項3】 前記テストヘッド部の前記リレー測定部
    は、前記被測定リレーの接点を介して接続する入力と基
    準値とを比較する判定部を備えた請求項1記載のリレー
    劣化測定方法。
  4. 【請求項4】 前記判定部は、前記被測定リレーの接点
    を介して接続する入力側にフローティング防止抵抗をス
    イッチング手段とともに接続した請求項3記載のリレー
    劣化測定方法。
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