JPH0917599A - プラズマ処理装置 - Google Patents

プラズマ処理装置

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Publication number
JPH0917599A
JPH0917599A JP7187944A JP18794495A JPH0917599A JP H0917599 A JPH0917599 A JP H0917599A JP 7187944 A JP7187944 A JP 7187944A JP 18794495 A JP18794495 A JP 18794495A JP H0917599 A JPH0917599 A JP H0917599A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma processing
coil
electromagnetic coil
processing chamber
flux density
Prior art date
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Pending
Application number
JP7187944A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Yoshiki
宏之 吉木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daihen Corp
Original Assignee
Daihen Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Daihen Corp filed Critical Daihen Corp
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Publication of JPH0917599A publication Critical patent/JPH0917599A/ja
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  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】被処理物の近傍に広い範囲に亘り均一な磁束密
度の領域を発生させる位置に配設された2つの電磁コイ
ルを有するプラズマ処理装置を得る。 【構成】第1の電磁コイルの内径は被処理物の直径と同
程度に、第1の電磁コイルの外径はプラズマ処理室の内
径より充分小さく設定され、第2の電磁コイルの内径は
第1の電磁コイルの内径より大きく、第2の電磁コイル
の外径は第1の電磁コイルの外径より大きく、かつプラ
ズマ処理室の内径より充分小さく設定され、第1の電磁
コイルはプラズマ処理室側に配設され、かつ被処理物の
近傍に広い範囲に亘り均一な磁束密度の領域を発生させ
る位置に配設され、均一な磁束密度の領域を広げさせる
第2の電磁コイルを第1の電磁コイルに並べて配設す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロ波と磁界によ
り発生させたプラズマを用いて、主として半導体基板を
プラズマによりデポジションまたはエッチング処理する
プラズマ処理装置に係り、特に磁界を発生させる電磁コ
イルに関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体製造工程におけるデポジシ
ョンまたはエッチングにマイクロ波と磁界により発生さ
せたプラズマを利用したプラズマ処理装置が用いられて
いる。図4は、例えば1992年6月に発行されたジャ
パニーズ ジャーナル オブアプライド フィジックス
(Japanese Journal of Applied Physics )Vol.31Pa
rt2, No.6B のp774〜p776に示された従来のプラズマ処
理装置を示す概略構成図である。図において、1はマイ
クロ波発振器、2はマイクロ波を伝送する導波管、3は
石英、セラミックスなどからなるマイクロ波透過窓、4
はプラズマ処理室である。プラズマ処理室4には、放電
ガスを導入するリークバルブ5、排気口6、処理基板ホ
ルダー7が設けられており、処理基板ホルダー7に被処
理物8が載置され、処理基板ホルダー7は冷却水9によ
り一定温度に保たれている。プラズマ処理室4の外周に
は、主コイル10及び補助コイル11が設置されてお
り、プラズマ処理室4内に所定の磁界を発生させること
ができる。
【0003】次に動作について説明する。プラズマ処理
室4内に被処理物8をセットした後、プラズマ処理室4
内を高真空状態にする。つぎに、リークバルブ5からプ
ラズマ処理室4内に所定の放電ガスを、プラズマ処理室
内が所定の圧力になるまで供給する。つづいて、主コイ
ル10に通電してプラズマ処理室内に磁界を発生させ
る。この状態でマイクロ波発振器1から、マイクロ波導
波管2とマイクロ波透過窓3とを通してプラズマ処理室
4にマイクロ波を供給すると、プラズマ処理室内の放電
ガスがマイクロ波電界により電離・励起して被処理物の
近傍にプラズマを生成する。
【0004】主コイル10により発生する磁界を、マイ
クロ波がプラズマ処理室に導入されるマイクロ波透過窓
3付近で高磁場とし、被処理物8に向かうにしたがって
低磁場となるような磁界配位とすることにより、マイク
ロ波を効率よくプラズマに供給することができる。
【0005】上記プラズマの密度を高めるために、大き
な磁束密度を得ようとした場合、主コイル10の通電に
加えて、補助コイル11に適宜の電流を通電することに
より、被処理物8の近傍に例えば電子サイクロトロン共
鳴(ECR)領域12を設定すれば、プラズマ密度を飛
躍的に高めることができる。この電子サイクロトロン共
鳴領域としては、例えば2.45GHzのマイクロ波に
対しては875ガウスの磁束密度の領域が対応してい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来のプラズマ処理装
置では、プラズマ処理室4の外周に主コイル10及び補
助コイル11を配設しているために、装置全体が大きく
なると共に、コストアップを招くという問題点がある。
【0007】また、両コイル10,11間の配置及び被
処理物8と両コイル10,11との位置関係では、均一
な磁束密度の領域が被処理物の近傍に発生されないとい
う問題点がある。
【0008】さらに、図4に示したように、プラズマ処
理室4が主コイル10及び補助コイル11により覆われ
ているために、プラズマ処理の前後における被処理物の
搬送が容易でないという別の問題点も生じる。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
プラズマ処理装置は、被処理物を配置して所定の処理を
行うプラズマ処理室と、プラズマ処理室内に磁界を発生
させると共に、中心軸を一致させた2つの電磁コイル
と、プラズマ処理室にマイクロ波を導入する導波管と、
導波管にマイクロ波を供給するマイクロ波発振器とを備
えたプラズマ処理装置を対象とし、2つの電磁コイルの
内の第1の電磁コイルの内径は被処理物の直径と同程度
に、第1の電磁コイルの外径はプラズマ処理室の内径よ
り充分小さく設定され、2つの電磁コイルの内の第2の
電磁コイルの内径は第1の電磁コイルの内径より大き
く、第2の電磁コイルの外径は第1の電磁コイルの外径
より大きく、かつプラズマ処理室の内径より充分小さく
設定され、第1の電磁コイルはプラズマ処理室側に配設
され、かつ被処理物の近傍に広い範囲に亘り均一な磁束
密度の領域を発生させる位置に配設され、均一な磁束密
度の領域を広げさせる第2の電磁コイルを第1の電磁コ
イルに並べて配設したことを特徴とする。
【0010】また、本発明の請求項2に係るプラズマ処
理装置は、請求項1において、第1及び第2の電磁コイ
ルは、被処理物の近傍に広い範囲に亘り均一な磁束密度
の領域を発生しつつ磁束密度を可変設定にしたことを特
徴とする。
【0011】
【作用】本発明の請求項1においては、電磁コイルのサ
イズが小型化され、しかも被処理物の近傍に広い範囲に
亘り均一な磁束密度の領域を発生させることができるの
で、高均一性を有するプラズマが実現され、均一性のよ
いプラズマ処理を達成することができる。
【0012】また、本発明の請求項2においては、高均
一性でしかも高密度を有するプラズマが実現できるの
で、高速にプラズマ処理することができる。
【0013】
【実施例】図1は、本発明の実施例を示す概略構成図で
ある。図1において、マイクロ波発振器1により発生し
たマイクロ波は、導波管2を通りマイクロ波透過窓3を
介してプラズマ処理室4に導入される。マイクロ波透過
窓3と被処理物8との間に磁界を発生させる第1及び第
2の電磁コイル20,21が、プラズマ処理室4上に、
しかも導波管2を取り囲むように並べて配設されてい
る。なお、図4と同一構成部材については、同一符号を
付して説明を省略する。
【0014】マイクロ波透過窓3と被処理物8との間に
発生する磁界の分布形状は、第1及び第2の電磁コイル
20,21の外形寸法及び両コイルの位置関係により決
まる。したがって、被処理物8の近傍に均一な磁束密度
の領域を広い範囲に亘って発生させるには、コイルの内
径、外径及び長さがそれぞれ異なる第1及び第2の電磁
コイル20,21を、その中心軸を一致させて隣接させ
ることにより構成し、この隣接されたコイル20,21
と被処理物8との相対位置を決定すればよい。
【0015】次に、電磁コイルの具体的な寸法とその磁
界分布の解析結果について説明する。電磁コイル20の
寸法は、内径360mm,外径430mm,長さ210mm、
また電磁コイル21の寸法は、内径310mm,外径42
2mm,長さ90mmである。電磁コイル20の起磁力を2
8800A・ターン、電磁コイル21の起磁力を300
00A・ターンとした場合の磁界分布の解析結果を図2
及び図3に示す。図2は電磁コイルにより発生する磁力
線を示し、図3は等磁束密度線の分布を示す。
【0016】図3のB1,B2及びB3は、それぞれ6
00,875及び1000ガウスの等磁束密度線を示
す。B2で示される875ガウスの領域は、電磁コイル
21の下方約50mmの位置にあり、φ300に亘る均一
性も±5%程度の範囲内にある。
【0017】図3の等磁束密度線の分布のもとでマイク
ロ波をプラズマ処理室4へ導入すると、φ300に亘っ
て均一性のよい電子サイクロトロン共鳴領域12を発生
させることができ、この領域に被処理物8を配置するこ
とにより、高速にしかも均一性の高いプラズマ処理が実
現できる。
【0018】電磁コイル20,21の通電電流を適宜に
調整することにより、図3の等磁束密度線の分布が変化
することなく、等磁束密度線B2の磁束密度の値を広範
囲に設定することができるので、種々の磁束密度の値で
プラズマ処理することができる。
【0019】図1に示す電磁コイル20,21の配置と
することにより、プラズマ処理室4が電磁コイルにより
覆われることがなくなるので、プラズマ処理室4の壁面
に被処理物の搬入、搬出口を設けることが可能となり、
プラズマ処理の前後における被処理物の搬送が容易とな
る。
【0020】
【発明の効果】以上のように、請求項1及び請求項2に
記載した本発明によれば、電磁コイルが小型化されると
共に、被処理物の近傍に均一な磁界を発生できる。した
がって、被処理物の全面に均一なプラズマを照射してプ
ラズマ処理することができる。
【0021】また、請求項2に記載した発明によれば、
種々の磁束密度の値でプラズマ処理することができ、特
に電子サイクロトロン共鳴を発生させる磁束密度の値に
設定すると、プラズマ密度を飛躍的に増加させ、高速か
つ均一にプラズマ処理することのできる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すプラズマ処理装置の概
略構成図である。
【図2】図1の電磁コイルによる磁力線の分布図であ
る。
【図3】図1の電磁コイルによる等磁束密度線の分布図
である。
【図4】従来のプラズマ処理装置の概略構成図である。
【符号の説明】
1 マイクロ波発振器 2 導波管 3 マイクロ波透過窓 4 プラズマ処理室 8 被処理物 20,21 第1及び第2の電磁コイル

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被処理物を配置して所定の処理を行うプ
    ラズマ処理室と、前記プラズマ処理室内に磁界を発生さ
    せると共に、中心軸を一致させた2つの電磁コイルと、
    前記プラズマ処理室にマイクロ波を導入する導波管と、
    前記導波管にマイクロ波を供給するマイクロ波発振器と
    を備えたプラズマ処理装置において、 前記2つの電磁コイルの内の第1の電磁コイルの内径
    は、前記被処理物の直径と同程度に、前記第1の電磁コ
    イルの外径は前記プラズマ処理室の内径より充分小さく
    設定され、 前記2つの電磁コイルの内の第2の電磁コイルの内径
    は、前記第1の電磁コイルの内径より大きく、前記第2
    の電磁コイルの外径は前記第1の電磁コイルの外径より
    大きく、かつ前記プラズマ処理室の内径より充分小さく
    設定され、 前記第1の電磁コイルは前記プラズマ処理室側に配設さ
    れ、かつ前記被処理物の近傍に広い範囲に亘り均一な磁
    束密度の領域を発生させる位置に配設され、 前記均一な磁束密度の領域を広げさせる前記第2の電磁
    コイルを前記第1の電磁コイルに並べて配設したプラズ
    マ処理装置。
  2. 【請求項2】 前記第1及び第2の電磁コイルは、前記
    被処理物の近傍に広い範囲に亘り均一な磁束密度の領域
    を発生しつつ前記磁束密度を可変設定にした請求項1に
    記載のプラズマ処理装置。
JP7187944A 1995-06-30 1995-06-30 プラズマ処理装置 Pending JPH0917599A (ja)

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