JPH0917607A - Chip type circuit component and its manufacture - Google Patents
Chip type circuit component and its manufactureInfo
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- JPH0917607A JPH0917607A JP7183437A JP18343795A JPH0917607A JP H0917607 A JPH0917607 A JP H0917607A JP 7183437 A JP7183437 A JP 7183437A JP 18343795 A JP18343795 A JP 18343795A JP H0917607 A JPH0917607 A JP H0917607A
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- Thermistors And Varistors (AREA)
- Details Of Resistors (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、チップ状部品素体の端
部に外部電極を有するチップ状回路部品に関し、特に外
部電極の表面にメッキが施されると共に、例えば温度に
より抵抗値が変化し、電子機器の温度補償、電流制御、
温度検出等に使用されるサーミスタ等のように、チップ
状部品素体がメッキ液に浸食されやすいチップ状回路部
品とその製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip-shaped circuit component having an external electrode at the end of a chip-shaped component body, and in particular, the surface of the external electrode is plated and the resistance value changes depending on the temperature, for example. Temperature compensation of electronic equipment, current control,
The present invention relates to a chip circuit component such as a thermistor used for temperature detection and the like, in which a chip component element body is easily eroded by a plating solution and a method for manufacturing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】この種のサーミスタは、抵抗器、コンデ
ンサ、インダクタ等と同様にしてチップ化が進んでお
り、その多くは積層セラミックコンデンサと同様に、角
柱或は角板状のチップ状のセラミック素体の両端面に接
続用の端子、いわゆる外部電極を設けたものである。図
4は特に、セラミックの積層体からなるチップ状部品素
体1を有するチップ状回路部品を示している。すなわ
ち、チップ状部品素体1を構成するチップ状回路部品層
4の層間に2組の内部電極5、6が形成され、これら内
部電極5、6がチップ状回路部品層4を介して対向して
いる。各組の内部電極5、6は、各々チップ状部品素体
1の対向する端面側に導出され、チップ状部品素体1の
各々の端部に形成された外部電極2、3に導通してい
る。このようなチップ状回路部品において、その抵抗値
はセラミック素体1に固有の抵抗率と、その内部におい
て対向した内部電極5、6の間の距離と面積により決定
される。2. Description of the Related Art This type of thermistor has been formed into chips in the same manner as resistors, capacitors, inductors and the like, and in many cases, similarly to multilayer ceramic capacitors, chip-shaped ceramics in the form of prisms or square plates have been developed. A terminal for connection, a so-called external electrode, is provided on both end surfaces of the element body. FIG. 4 particularly shows a chip-shaped circuit component having a chip-shaped component body 1 made of a ceramic laminate. That is, two sets of internal electrodes 5, 6 are formed between the layers of the chip-shaped circuit component layer 4 forming the chip-shaped component body 1, and these internal electrodes 5, 6 face each other with the chip-shaped circuit component layer 4 in between. ing. The internal electrodes 5 and 6 of each set are led out to the opposite end faces of the chip-shaped component body 1, respectively, and are electrically connected to the external electrodes 2 and 3 formed at the respective ends of the chip-shaped component body 1. There is. In such a chip-shaped circuit component, its resistance value is determined by the resistivity specific to the ceramic element body 1 and the distance and area between the internal electrodes 5 and 6 facing each other inside the ceramic element body 1.
【0003】このようなサーミスタは、次のようにして
製造される。まず、酸化マンガン、酸化コバルトを主成
分とし、酸化銅等の焼結助剤や酸化ニッケル等の原子価
制御剤等を含むサーミスタセラミック粉末を溶剤で溶解
された樹脂バインダに一様に分散したセラミックスラリ
ーを作る。このセラミックスラリーをドクターブレード
法等でポリエチレンテレフタレートフィルム等のベース
フィルム上に薄く塗布し、乾燥してセラミックグリーン
シートを作る。次に、このセラミックグリーンシート上
にPdペースト等の導電ペーストを使用してサーミスタ
素体複数個分の内部電極パターンを印刷する。そして、
図4のように、内部電極5、6が両端側に交互にずれる
ようにベースフィルムから剥離されたセラミックグリー
ンシートを順次積層し、サーミスタ素体を複数個分含む
未焼成のセラミック積層体を得る。その後、この積層体
を裁断し、焼成することにより、個々に分離されたチッ
プ状部品素体1を得る。このチップ状部品素体1の両端
部に導電ペーストを塗布し、これを焼き付けることによ
り、外部電極2、3を形成する。これにより、図4に示
すようなサーミスタであるチップ状回路部品が完成す
る。Such a thermistor is manufactured as follows. First, a ceramic in which manganese oxide and cobalt oxide are the main components and a thermistor ceramic powder containing a sintering aid such as copper oxide and a valence control agent such as nickel oxide is uniformly dispersed in a resin binder dissolved in a solvent. Make a rally. This ceramic slurry is thinly applied onto a base film such as a polyethylene terephthalate film by a doctor blade method or the like, and dried to form a ceramic green sheet. Next, an internal electrode pattern for a plurality of thermistor bodies is printed on the ceramic green sheet using a conductive paste such as a Pd paste. And
As shown in FIG. 4, the ceramic green sheets peeled from the base film are sequentially laminated so that the internal electrodes 5 and 6 are alternately displaced to both ends, thereby obtaining an unfired ceramic laminated body including a plurality of thermistor bodies. . After that, the laminated body is cut and fired to obtain the individual chip-shaped component bodies 1. External electrodes 2 and 3 are formed by applying a conductive paste to both end portions of the chip-shaped component body 1 and baking it. As a result, a chip circuit component, which is a thermistor as shown in FIG. 4, is completed.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとしている課題】前記のようなチッ
プ状回路部品は、回路基板上に搭載され、前記外部電極
2、3が回路基板上のランド電極に半田付けされる。こ
のとき、チップ状回路部品の外部電極2、3の半田濡れ
性を良好にし、ランド電極への半田付けを良好にするた
め、外部電極2、3の表面にニッケルメッキや半田メッ
キを施すことが行われている。このようなニッケルメッ
キや半田メッキは、メッキ浴中に外部電極2、3を形成
したチップ状回路部品を浸漬して無電界メッキ法等によ
り行われる。The chip-shaped circuit component as described above is mounted on a circuit board, and the external electrodes 2 and 3 are soldered to land electrodes on the circuit board. At this time, in order to improve the solder wettability of the external electrodes 2 and 3 of the chip-shaped circuit component and the soldering to the land electrodes, nickel plating or solder plating may be applied to the surfaces of the external electrodes 2 and 3. Has been done. Such nickel plating or solder plating is performed by electroless plating or the like by immersing the chip-shaped circuit component having the external electrodes 2 and 3 in a plating bath.
【0005】しかしながら、チップ状回路部品のチップ
状部品素体の中には、サーミスタのようにメッキ液に弱
く、チップ状部品素体がメッキ液に浸食されて溶け出し
てしまうものもある。また、メッキ処理に際して、メッ
キ液がチップ状部品素体の表面に付着してしまう。この
ように、チップ状部品素体がメッキ液に浸食されたり、
メッキ液が付着すると、素体の抵抗値が変動する他、絶
縁抵抗の劣化等の特性の劣化を生じる。本発明は、前記
従来の外部電極にメッキ膜を有するチップ状回路部品と
その製造方法の課題に鑑み、チップ状部品素体がメッキ
液に浸食されにくく、しかも製造過程で特性値の調整も
可能なチップ状回路部品とその製造方法を提供すること
を目的とする。However, among the chip-shaped component bodies of the chip-shaped circuit component, there are some such as thermistors that are vulnerable to the plating liquid and the chip-shaped component body is eroded by the plating liquid and melts out. In addition, during the plating process, the plating solution adheres to the surface of the chip-shaped component body. In this way, the chip-shaped component body is eroded by the plating solution,
When the plating solution adheres, the resistance value of the element body fluctuates and the characteristics such as the insulation resistance deteriorate. In view of the problems of the conventional chip-shaped circuit component having a plating film on the external electrode and the manufacturing method thereof, the present invention makes it difficult for the chip-shaped component element body to be eroded by the plating solution, and moreover the characteristic value can be adjusted in the manufacturing process. A chip-shaped circuit component and a method for manufacturing the same.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明では、チップ状部品素体13の端部に形成さ
れた外部電極14の縁部の間を切削し、この切削部18
の部分に耐メッキ液性の絶縁樹脂19を設け、この状態
で外部電極14、14にニッケルメッキや半田メッキ等
のメッキ膜21、22を形成した。これにより、メッキ
液によりチップ状部品素体13が浸漬されないようにし
た。また同時に、前記切削過程でチップ状回路部品の特
性値が調整できるようにした。In order to achieve the above object, the present invention cuts between the edge portions of the external electrodes 14 formed at the end portions of the chip-shaped component body 13, and the cut portions 18 are formed.
A plating liquid resistant insulating resin 19 was provided on the above portion, and in this state, plating films 21 and 22 such as nickel plating and solder plating were formed on the external electrodes 14 and 14. This prevents the chip-shaped component body 13 from being immersed in the plating solution. At the same time, the characteristic value of the chip-shaped circuit component can be adjusted in the cutting process.
【0007】すなわち、本発明によるチップ状回路部品
は、チップ状部品素体13と、このチップ状部品素体1
3の端部に形成された外部電極14とを有し、前記チッ
プ状部品素体13の表面が前記外部電極14の端縁の間
で一部切削され、この切削部18にメッキ液に対して耐
性のある絶縁樹脂19が形成され、前記外部電極14に
メッキ膜21、22が形成されていることを特徴とす
る。That is, the chip-shaped circuit component according to the present invention comprises a chip-shaped component element body 13 and this chip-shaped component element body 1.
3 has an external electrode 14 formed at the end thereof, and the surface of the chip-shaped component body 13 is partially cut between the edges of the external electrode 14, and the cutting portion 18 is exposed to the plating liquid. Insulating resin 19 having high resistance is formed, and plating films 21 and 22 are formed on the external electrode 14.
【0008】さらにこのようなチップ状回路部品を製造
する本発明によるチップ状回路部品の製造方法は、チッ
プ状部品素体13を得る工程と、このチップ状部品素体
13の端部に外部電極20を形成する工程とを有し、チ
ップ状部品素体13の表面に外部電極14となる導体膜
14’を形成する工程と、この導体膜14’を形成する
工程の後、外部電極14、14となる部分を除いて導体
膜14’の一部及びチップ状部品素体13の表面の一部
を切削する工程と、この切削部18の部分に、メッキ液
に対して耐性のある絶縁樹脂19を塗布し、硬化させる
工程と、前記外部電極14にメッキを施してメッキ膜2
1、22を形成する工程とを有することを特徴とする。Further, in the method of manufacturing a chip-shaped circuit component according to the present invention for manufacturing such a chip-shaped circuit component, a step of obtaining the chip-shaped component body 13 and an external electrode at the end of the chip-shaped component body 13. 20 and a step of forming a conductor film 14 ′ serving as the external electrode 14 on the surface of the chip-shaped component body 13, and a step of forming the conductor film 14 ′, the external electrode 14, A step of cutting a part of the conductor film 14 ′ and a part of the surface of the chip-shaped component body 13 except the part to be 14, and an insulating resin having resistance to the plating liquid in the part of the cutting part 18. 19 is applied and cured, and the plating film 2 is formed by plating the external electrode 14.
1 and 22 are formed.
【0009】ここで、導体膜14’、14’の対向した
縁部及びその間のチップ状部品素体13の外周面を一部
切削する際に、分離された導体膜14’、14’の間で
測定した初期特性値をもとに、その切削幅または深さを
調整する。なお、外部電極14に施されるメッキ膜2
1、22は、一般的にはニッケル及び半田メッキ膜であ
る。Here, when part of the peripheral edges of the conductor films 14 ', 14' facing each other and the chip-shaped component body 13 between them are partially cut, the conductor films 14 ', 14' are separated from each other. Adjust the cutting width or depth based on the initial characteristic values measured in. The plating film 2 applied to the external electrodes 14
1, 22 are generally nickel and solder plated films.
【0010】[0010]
【作用】前記本発明によるチップ状回路部品とその製造
方法では、チップ状部品素体13の表面に外部電極14
となる導体膜14’を形成した後、外部電極14、14
となる部分を除いて導体膜14’の一部及びチップ状部
品素体13の表面の一部を切削し、この切削部18にメ
ッキ液に対して耐性のある絶縁樹脂19を塗布し、硬化
させているので、その後に外部電極14にメッキ膜2
1、22を施すときに、チップ状部品素体13をメッキ
液に浸漬しても、チップ状部品素体13が絶縁樹脂19
によって保護され、メッキ液に浸食されたりメッキ液が
付着したりしない。これにより、メッキ工程におけるチ
ップ状回路部品の特性劣化が起らない。In the chip-shaped circuit component and the manufacturing method thereof according to the present invention, the external electrode 14 is provided on the surface of the chip-shaped component body 13.
After forming the conductor film 14 ′ to be the external electrodes 14 and 14
A part of the conductor film 14 ′ and a part of the surface of the chip-shaped component body 13 are cut except for a portion to be the target, and an insulating resin 19 resistant to a plating solution is applied to the cut portion 18 and cured. After that, the plating film 2 is formed on the external electrode 14 after that.
Even when the chip-shaped component element body 13 is immersed in the plating solution when applying steps 1 and 22, the chip-shaped component element body 13 still has the insulating resin 19
Protected against, does not corrode or adhere to the plating solution. As a result, the characteristic deterioration of the chip-shaped circuit component does not occur during the plating process.
【0011】さらに、前述のようにして、導体膜1
4’、14’の対向した縁部及びその間のチップ状部品
素体13の外周面を一部切削する際に、分離された導体
膜14’、14’の間で測定した初期特性値をもとに、
その切削幅を調整することにより、この切削工程を特性
値の調整手段として利用することもできる。これによ
り、最終的に正確に所望の特性を有するチップ状回路部
品を製造することができる。Further, as described above, the conductor film 1
When cutting the outer peripheral surfaces of the chip-shaped component body 13 between the opposite edges of 4 ′ and 14 ′ and between them, the initial characteristic values measured between the separated conductor films 14 ′ and 14 ′ are also included. And
By adjusting the cutting width, this cutting step can be used as a characteristic value adjusting means. As a result, the chip-shaped circuit component having the desired characteristics can be finally and accurately manufactured.
【0012】[0012]
【実施例】次に、図面を参照しながら、本発明の実施例
について具体的且つ詳細に説明する。図2に本発明によ
るチップ状回路部品のチップ状部品素体13の積層構造
の例を示す。例えば、チップ状回路部品がサーミスタで
ある場合、チップ状部品素体13を構成するセラミック
層11、17、18は、抵抗値に正または負の温度特性
を有する酸化マンガン、酸化コバルトを主成分とするサ
ーミスタセラミックからなり、図示の場合は矩形状の層
からなっている。このセラミック層11、17、18の
うち、中間のセラミック層11、11…の表面に2種類
の内部電極15、16が各々形成されている。このうち
内部電極15、15…は、セラミック層11、11…の
図において左側の端辺にのみ達するように偏って形成さ
れている。また、他方のセラミック層11、11…に形
成された内部電極16、16…は、セラミック層11、
11…の図において右側の辺の端辺にのみ達するよう偏
って形成されている。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention; FIG. 2 shows an example of a laminated structure of the chip-shaped component body 13 of the chip-shaped circuit component according to the present invention. For example, when the chip-like circuit component is a thermistor, the ceramic layers 11, 17, and 18 constituting the chip-like component body 13 are mainly composed of manganese oxide and cobalt oxide having positive or negative temperature characteristics in resistance. And a rectangular layer in the case shown in the figure. Of the ceramic layers 11, 17 and 18, two types of internal electrodes 15 and 16 are formed on the surfaces of the intermediate ceramic layers 11, 11 ... Of these, the internal electrodes 15, 15 ... Are formed so as to be biased so as to reach only the left side edge of the ceramic layers 11, 11 ... Further, the internal electrodes 16, 16 ... Formed on the other ceramic layer 11, 11 ...
In the drawing of 11 ..., it is formed so as to be biased so as to reach only the edge of the right side.
【0013】このような内部電極15、16が形成され
たセラミック層11、11…は、必要な組数だけ交互に
積層され、さらにその両側に内部電極15、16が形成
されていないセラミック層17、18が適当な数だけ積
層され、この積層体によりチップ状部品素体13が構成
される。なお、このようなサーミスタは、図2に示すよ
うに個々に積層されて製造される訳ではなく、前述した
ように、実際は積層セラミックコンデンサと同様にし
て、セラミックグリーンシートの形成、その表面への内
部電極パターンの印刷、セラミックグリーンシートの積
層、その積層体の裁断、積層体の焼成、焼成済みの積層
体への外部電極の形成という工程を経て、多数のものが
同時に製造される。The ceramic layers 11, 11 ... With such internal electrodes 15, 16 are alternately laminated by the required number of sets, and the ceramic layers 17 without the internal electrodes 15, 16 formed on both sides thereof. , 18 are laminated in an appropriate number, and the chip-shaped component element body 13 is constituted by this laminated body. It should be noted that such a thermistor is not manufactured by individually laminating the thermistor as shown in FIG. 2, but as described above, actually, in the same manner as the monolithic ceramic capacitor, formation of a ceramic green sheet and formation of a ceramic green sheet on the surface thereof. Through the steps of printing the internal electrode pattern, laminating the ceramic green sheets, cutting the laminated body, firing the laminated body, and forming external electrodes on the fired laminated body, a large number of things are manufactured at the same time.
【0014】こうして得られたチップ状部品素体13を
図1(a)に示す。このチップ状部品素体13では、そ
の内部で積層されたセラミック層を介して一対の内部電
極が交互に対向している。そして、これら内部電極の端
部がチップ状部品素体13の対向する端面に露出してい
る。図1(b)に示すように、このチップ状部品素体1
3の端部表面に銀ペースト等の導電ペーストを塗布し、
焼き付けて外部電極14を形成するための導体膜1
4’、14’が形成される。そして、このチップ状回路
部品の導体膜14’、14’の間の初期抵抗値(R2
5)を測定し、そのランク分けを行う。The chip-shaped component body 13 thus obtained is shown in FIG. In this chip-shaped component body 13, a pair of internal electrodes are alternately opposed to each other with a ceramic layer laminated inside. Then, the end portions of these internal electrodes are exposed at the facing end surfaces of the chip-shaped component body 13. As shown in FIG. 1B, this chip-shaped component body 1
Apply a conductive paste such as silver paste on the end surface of 3
Conductor film 1 for baking to form external electrode 14
4 ', 14' are formed. Then, the initial resistance value (R2 between the conductor films 14 'and 14' of this chip-shaped circuit component is
5) is measured and ranked.
【0015】その後、図1(c)に示すように、導体膜
14’、14’の対向した縁部及びその間のチップ状部
品素体13の外周面を一部切削する。この場合、前述の
初期抵抗値Rの前記ランクにより切削幅や切削深さを決
定する。すなわち、初期抵抗値Rの低いものは切削幅を
広くするか、または深くし、初期抵抗値Rの低いものは
切削幅を狭くするか、または浅くする。これにより、最
終的なチップ状回路部品の初期抵抗値Rを調整する。な
お、サーミスタの場合、調整する特性値は抵抗値である
が、例えば、積層セラミックコンデンサでは静電容量値
が調整の対象となり、積層セラミックインダクタでは、
インダクタンス値が調整の対象となる。このように、調
整の対象となる特性値はチップ状回路部品の種類により
異なる。Thereafter, as shown in FIG. 1 (c), the outer peripheral surfaces of the chip-shaped component body 13 between the opposing edges of the conductor films 14 'and 14' and between them are partially cut. In this case, the cutting width and the cutting depth are determined by the rank of the initial resistance value R described above. That is, those having a low initial resistance value R have a wide or deep cutting width, and those having a low initial resistance value R have a narrow cutting width or a shallow cutting width. Thereby, the initial resistance value R of the final chip-shaped circuit component is adjusted. In the case of a thermistor, the characteristic value to be adjusted is the resistance value, but for example, in the multilayer ceramic capacitor, the capacitance value is the target of adjustment, and in the multilayer ceramic inductor,
The inductance value is subject to adjustment. In this way, the characteristic value to be adjusted differs depending on the type of chip-shaped circuit component.
【0016】次に、図1(d)に示すように、この切削
部18にエポキシ樹脂等、メッキ液に対して耐性のある
樹脂を塗布し、硬化して絶縁樹脂18を形成する。その
後、このチップ状回路部品をメッキ液に浸漬し、図1
(d)に示すように、ニッケルメッキ膜や半田メッキ膜
からなるメッキ膜21、22を形成する。これにより、
チップ状回路部品が完成する。Next, as shown in FIG. 1 (d), a resin having resistance to a plating solution such as an epoxy resin is applied to the cutting portion 18 and cured to form an insulating resin 18. After that, the chip-shaped circuit component is dipped in a plating solution,
As shown in (d), plating films 21 and 22 made of a nickel plating film or a solder plating film are formed. This allows
Chip circuit parts are completed.
【0017】次に、図3に本発明の他の実施例を示す。
図3(a)は前述の図2のような積層構造を有するチッ
プ状部品素体13であり、まず図3(b)に示すよう
に、このチップ状部品素体13の中央部を切削し、切削
部18’を形成する。次に、図3(c)に示すように、
このチップ状部品素体13の全面に、スパッタリング、
真空蒸着、メッキ等の手段でクロム等からなる導体膜1
4’を形成する。Next, FIG. 3 shows another embodiment of the present invention.
FIG. 3A shows a chip-shaped component body 13 having a laminated structure as shown in FIG. 2. First, as shown in FIG. 3B, the central portion of the chip-shaped component body 13 is cut. , The cutting portion 18 'is formed. Next, as shown in FIG.
On the entire surface of this chip-shaped component body 13, sputtering,
Conductor film 1 made of chromium or the like by means such as vacuum deposition or plating
4 'is formed.
【0018】その後、図3(d)に示すように、導体膜
14’の中間部及びその部分のチップ状部品素体13の
外周面を一部切削することにより、導体膜14’をチッ
プ状部品素体13の両端部に分離し、外部電極14、1
4を形成する。この場合、外部電極14、14の間の初
期抵抗値(R25)を測定し、そのランク分けを行う。
そして、この初期抵抗値Rの前記ランクにより切削部1
8の切削幅や深さを調整する。すなわち、初期抵抗値R
の低いものは切削部18の切削幅を広くするか、または
深くし、初期抵抗値Rの低いものは切削部18の切削幅
を狭くするか、または浅くする。これにより、最終的な
チップ状回路部品の初期抵抗値Rを調整する。なお、調
整の対象となる特性値はチップ状回路部品の種類により
異なるのは、既に述べた通りである。Then, as shown in FIG. 3D, the conductor film 14 'is formed into a chip shape by partially cutting the intermediate portion of the conductor film 14' and the outer peripheral surface of the chip-shaped component body 13 in that portion. Separated at both ends of the component body 13, the external electrodes 14, 1
4 is formed. In this case, the initial resistance value (R25) between the external electrodes 14 and 14 is measured and the rank is classified.
Then, according to the rank of the initial resistance value R, the cutting portion 1
Adjust the cutting width and depth of 8. That is, the initial resistance value R
The cutting width of the cutting portion 18 is widened or deepened when the cutting resistance is low, and the cutting width of the cutting portion 18 is narrowed or shallowed when the initial resistance value R is low. Thereby, the initial resistance value R of the final chip-shaped circuit component is adjusted. As described above, the characteristic value to be adjusted differs depending on the type of chip-shaped circuit component.
【0019】次に、図3(e)に示すように、この切削
部18にエポキシ樹脂等、メッキ液に対して耐性のある
樹脂を塗布し、硬化して絶縁樹脂18を形成する。その
後、このチップ状回路部品をメッキ液に浸漬し、図3
(f)に示すように、ニッケルメッキ膜や半田メッキ膜
からなるメッキ膜21、22を形成する。これにより、
チップ状回路部品が完成する。前記実施例では、主とし
てサーミスタとその製造方法を例に説明したが、本発明
は、既に述べた積層セラミックコンデンサや積層セラミ
ックインダクタ等のチップ状回路部品についても同様に
して適用することができることは言うまでもない。Next, as shown in FIG. 3 (e), a resin having resistance to a plating solution such as an epoxy resin is applied to the cutting portion 18 and cured to form an insulating resin 18. After that, this chip-shaped circuit component is dipped in a plating solution,
As shown in (f), plating films 21 and 22 made of a nickel plating film or a solder plating film are formed. This allows
Chip circuit parts are completed. Although the thermistor and the method for manufacturing the thermistor have been mainly described in the above embodiments, the present invention can be similarly applied to chip-shaped circuit components such as the above-mentioned multilayer ceramic capacitors and multilayer ceramic inductors. Yes.
【0020】[0020]
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、製
造過程で特性値の調整が可能であり、しかもその調整に
より形成された切削部18に設けた絶縁樹脂19によ
り、外部電極14にメッキ膜21、22を施す際に、チ
ップ状部品素体13がメッキ液に浸食されなくなる。こ
れにより、特性値のバラツキを調整しながら、チップ状
回路部品を歩留りよく製造することが可能となる。As described above, according to the present invention, the characteristic value can be adjusted in the manufacturing process, and the insulating resin 19 provided on the cutting portion 18 formed by the adjustment can be applied to the external electrode 14. When the plating films 21 and 22 are applied, the chip-shaped component element body 13 is not corroded by the plating solution. As a result, it becomes possible to manufacture the chip-shaped circuit component with high yield while adjusting the variation of the characteristic value.
【図1】本発明の実施例によるチップ状回路部品とその
製造過程の縦断側面図である。FIG. 1 is a vertical sectional side view of a chip-shaped circuit component and a manufacturing process thereof according to an embodiment of the present invention.
【図2】同実施例によるチップ状回路部品のチップ状部
品素体の積層構造の例を示す分解斜視図である。FIG. 2 is an exploded perspective view showing an example of a laminated structure of a chip-shaped component element body of the chip-shaped circuit component according to the embodiment.
【図3】本発明の他の実施例によるチップ状回路部品と
その製造過程の縦断側面図である。FIG. 3 is a vertical sectional side view of a chip-shaped circuit component and a manufacturing process thereof according to another embodiment of the present invention.
【図4】従来例によるチップ状回路部品の一部破断した
斜視図である。FIG. 4 is a partially cutaway perspective view of a conventional chip-shaped circuit component.
13 チップ状部品素体 14 外部電極 14’ 導体膜 18 切削部 19 絶縁樹脂 21 メッキ膜 22 メッキ膜 13 Chip Component Element 14 External Electrode 14 'Conductor Film 18 Cutting Part 19 Insulating Resin 21 Plating Film 22 Plating Film
Claims (5)
プ状部品素体(13)の端部に形成された外部電極(1
4)とを有するチップ状回路部品において、前記チップ
状部品素体(13)の表面が前記外部電極(14)の端
縁の間で一部切削され、この切削部(18)にメッキ液
に対して耐性のある絶縁樹脂(19)が形成され、前記
外部電極(14)にメッキ膜(21)、(22)が形成
されていることを特徴とするチップ状回路部品。A chip-like component body (13) and an external electrode (1) formed at an end of the chip-like component body (13).
4), the surface of the chip-shaped component body (13) is partially cut between the edges of the external electrode (14), and the cutting portion (18) is coated with a plating solution. A chip-shaped circuit component, characterized in that an insulating resin (19) having resistance to the external electrodes (14) is formed, and plating films (21) and (22) are formed on the external electrodes (14).
及び半田メッキ膜であることを特徴とする請求項1に記
載のチップ状回路部品。2. The chip-shaped circuit component according to claim 1, wherein the plating films (21) and (22) are nickel and solder plating films.
と、このチップ状部品素体(13)の端部に外部電極
(20)を形成する工程とを有するチップ状回路部品の
製造方法において、チップ状部品素体(13)の表面に
外部電極(14)となる導体膜(14’)を形成する工
程と、その後外部電極(14)となる部分を除いて導体
膜(14’)の一部及びチップ状部品素体(13)の表
面の一部を切削する工程と、この切削部(18)にメッ
キ液に対して耐性のある絶縁樹脂(19)を塗布し、硬
化させる工程と、前記外部電極(14)にメッキを施し
てメッキ膜(21)、(22)を形成する工程とを有す
ることを特徴とするチップ状回路部品の製造方法。3. A method for manufacturing a chip-shaped circuit component, comprising: a step of obtaining a chip-shaped component element body (13); and a step of forming an external electrode (20) at an end of the chip-shaped component element body (13). In the step of forming a conductor film (14 ′) to be the external electrode (14) on the surface of the chip-shaped component body (13), and then removing the conductor film (14 ′) to be the external electrode (14). And a step of cutting a part of the surface of the chip-shaped component body (13), and a step of applying an insulating resin (19) having resistance to a plating liquid to the cutting portion (18) and curing the insulating resin (19). And a step of plating the external electrodes (14) to form plating films (21) and (22).
及び半田メッキ膜であることを特徴とする請求項3に記
載のチップ状回路部品の製造方法。4. The method for manufacturing a chip-shaped circuit component according to claim 3, wherein the plating films (21), (22) are nickel and solder plating films.
された導体膜(14’)、(14’)を形成した後、そ
の間で測定した初期特性値により、導体膜(14’)、
(14’)の対向した縁部及びその間のチップ状部品素
体(13)の外周面の切削幅と切削深さの少なくとも何
れかを調整することにより、特性値を調整することを特
徴とする請求項3または4に記載のチップ状回路部品の
製造方法。5. The conductor film (14 ') is formed according to initial characteristic values measured after the conductor films (14') and (14 ') are formed on both ends of the chip-shaped component body (13) and then separated. ,
Characteristic value is adjusted by adjusting at least one of a cutting width and a cutting depth of the outer peripheral surface of the chip-shaped component body (13) between the facing edges of (14 ′) and between them. The method for manufacturing the chip-shaped circuit component according to claim 3.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7183437A JPH0917607A (en) | 1995-06-26 | 1995-06-26 | Chip type circuit component and its manufacture |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP7183437A JPH0917607A (en) | 1995-06-26 | 1995-06-26 | Chip type circuit component and its manufacture |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0917607A true JPH0917607A (en) | 1997-01-17 |
Family
ID=16135761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7183437A Pending JPH0917607A (en) | 1995-06-26 | 1995-06-26 | Chip type circuit component and its manufacture |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0917607A (en) |
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1995
- 1995-06-26 JP JP7183437A patent/JPH0917607A/en active Pending
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