JPH09178756A - 分析装置及び該分析装置が接続される製造ユニットの運転の監視及び制御のための方法 - Google Patents

分析装置及び該分析装置が接続される製造ユニットの運転の監視及び制御のための方法

Info

Publication number
JPH09178756A
JPH09178756A JP8309853A JP30985396A JPH09178756A JP H09178756 A JPH09178756 A JP H09178756A JP 8309853 A JP8309853 A JP 8309853A JP 30985396 A JP30985396 A JP 30985396A JP H09178756 A JPH09178756 A JP H09178756A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analyzer
monitoring
sub
control
main
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8309853A
Other languages
English (en)
Inventor
Philippe Ricoux
フイリツプ・リクー
Claude Alain Saby
クロード・アラン・サビ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Elf Antar France
Original Assignee
Elf Antar France
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Elf Antar France filed Critical Elf Antar France
Publication of JPH09178756A publication Critical patent/JPH09178756A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、分析装置と分析装置に連結される
製造ユニットの動作を監視し制御する方法を提供する。 【解決手段】 この方法は、主分析装置の多変量較正の
動作、標準化用製品が供給される副分析装置から出され
る信号を標準化する周期的動作、主分析装置と副分析装
置との間の較正トランスファ動作、監視及び制御の方式
を適用して、監視及び制御の指標の値の経時変化を記録
する動作を含むことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、分析装置と分析装
置に連結された製造ユニットの動作を監視し制御する方
法に関する。
【０００２】本発明は、化学、石油、製薬、美容、及び
農産物の各業界におけるコントロールラボ、研究所、製
造ユニットに適用される。
【０００３】
【従来の技術】分析しようとする製品サンプルの物理的
並びに化学的特性を決定するために使用される分光計な
どの多くの分析装置は、較正を必要とする。
【０００４】この較正は、分析対象である製品の特性と
分析装置から出される信号との間の数学的関係を表すモ
デルを確立するものである。
【０００５】この動作は冗長で、しかも直接測定によっ
て特性が決定された数十個の製品を使用する必要があ
る。
【０００６】この動作は、主分析装置と呼ばれる所定の
分析装置で実施されているので、こうして得られたモデ
ルを、副分析装置と呼ばれる同じ形式の他の一つまたは
複数の分析装置で使用し、これらの装置で較正動作を何
回も繰返す必要をなくすと特に有利なことである。
【０００７】例えば副分析装置の動作条件及び構成要素
の老朽化に応じて経時変化する、主分析装置と副分析装
置との間の計器応答の差を考慮に入れるために、副分析
装置から出される信号を、周期的な標準化動作にかけて
補正する。
【０００８】この標準化動作を実施するために、いくつ
かの方式（method）を使用することができる。
【０００９】例として、米国特許第４８６６６４４号に
記載のSHENCK法、及びフランス特許出願第９５０５９５
７号に記載の方式を挙げることができる。
【００１０】これらの方式はいずれも、結局のところ副
分析装置からの信号の補正計算となる、較正トランスフ
ァパラメータを計算する、多くのステップを含む。
【００１１】これらの方式はいずれも、分析回路全体に
わたるドリフト、機能不良、乱れの根源を識別すること
ができず、また、結局のところ副分析装置の所与の動作
範囲内及び較正モデルの有効限界内でのみ有効である、
標準化によって与えられる補正にもかかわらず、誤った
結果に導く可能性のある現象の出現をユーザに警告する
ことができない。
【００１２】これらの方式は、分析装置が連結されてい
る製造ユニットの動作に関する指示を与えない。製造ユ
ニットの監視と制御を実施するために、周知の一方式
は、多変量制御図の使用から成るもので、製造工程の動
作の多くの特性変数を確認することを必要とする。多く
の場合において、これらの変数は測定不可能であり、あ
るいは技術的理由または経済的理由もしくはその両方の
ために測定されない。
【００１３】さらに、監視及び制御の基準を決定するこ
とが難しい。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、まさ
にこれらの欠点を是正することであり、詳細には、副分
析装置とこれが連結される製造ユニットの動作を監視し
制御する方法を提供することである。
【００１５】この方法により、副分析装置とこれが連結
されている製造ユニットを含む関連測定回路の動作の乱
れ、ドリフト、異常を明らかにし、これらの機能不良の
原因を識別し、各状況に合った準備を行う、例えば分析
の結果を無効と宣言し、分析装置が連結されているユニ
ットを利用するオペレータに警告を与え、オペレータに
意思決定するための要素を提供することが可能になる。
【００１６】この方法の適用例は、分析ラボや製造ユニ
ットに見られる。
【００１７】
【課題を解決するための手段】この目的のために、本発
明では、分析装置と分析装置に連結された製造ユニット
の動作を監視し制御する方法であって、主分析装置の多
変量較正の動作、標準化用製品を供給される副分析装置
から出される信号を標準化する周期的動作、及び較正ト
ランスファアルゴリズムに関連するパラメータを計算す
る較正トランスファステップを含み、一方では、前記パ
ラメータの一つ、またはこれらのパラメータの少なくと
も二つの数学的組合せが、副分析装置の動作の監視及び
制御の指標として選択され、他方では監視及び制御の方
式が選択され、各標準化動作の完了後に、前記監視及び
制御の方式を適用することによって監視及び制御の指標
の値の経時変化が記録され、次いで、前記監視及び制御
の方式と特性要因図を適用することによって得られた結
果から指標の値の変化の原因を確認することにより、副
分析装置の適正な動作と、これが連結されている製造ユ
ニットの適正な動作が検査されることを特徴とする方法
を提案する。
【００１８】本発明の他の特徴によれば、主分析装置と
副分析装置は異なる期間に使用される同じ分析装置であ
る。
【００１９】本発明の他の特徴によれば、監視及び制御
の指標の有意なドリフトの検出後に、主分析装置からの
結果の妥当性を、これを副分析装置と見做して検査す
る。
【００２０】本発明の他の特徴によれば、標準化動作の
少なくとも一つについて一方では主分析装置と副分析装
置から出される信号を級数分解すること、及び他方では
級数分解から得られる係数の間の数学的関係を確立する
ことから成る標準化動作中に、この数学的関係を定義す
るために計算されたパラメータの一つ、またはこれらの
パラメータの少なくとも二つの組合せが、監視及び制御
の指標として選択される。
【００２１】本発明の他の特徴によれば、標準化動作の
少なくとも一つについて一方では主分析装置と副分析装
置から出される信号を級数分解すること、及び他方では
級数分解から得られる係数の間の数学的関係を確立する
ことから成る標準化動作中に、この数学的関係がニュー
ラルネットワークで表され、ニューラルネットワークを
定義するために計算されたパラメータの一つ、または前
記パラメータの少なくとも二つの数学的組合わせが監視
及び制御の指標として選択される。
【００２２】本発明の他の特徴によれば、その少なくと
も一つが係数のマトリクス計算を伴う標準化動作中に、
この計算から生ずる係数のマトリクス、またはこれらの
係数の少なくとも二つのマトリクスの組合せが、監視及
び制御の指標として選択される。
【００２３】本発明の他の特徴によれば、監視及び制御
の方式が少なくとも一つの一変量制御図を使用する。
【００２４】本発明の他の特徴によれば、監視及び制御
の方式が少なくとも一つの多元制御図を使用する。
【００２５】本発明の他の特徴によれば、監視及び制御
の方式が少なくとも一つのニューラルネットワークを使
用する。
【００２６】本発明の他の特徴によれば、標準化動作が
少なくとも二つの異なる標準化技法を使用するときに、
前記技法のうちの少なくとも二つから生ずる係数から特
性要因図が構築される。
【００２７】本発明の他の特徴によれば、主分析装置と
副分析装置から出される信号が事前に時間微分演算にか
けられる。
【００２８】
【発明の実施の形態】一般的に、本発明による方法は、
製造ユニットに連結された副分析装置の動作または実験
室の分析装置の動作の監視と制御を可能にする。
【００２９】本発明は、非限定的な例として示す二つの
実施形態についての以下の説明によって、さらによく理
解されよう。
【００３０】第一実施形態によれば、主分析装置と副分
析装置は、１０７６ｎｍから１５４８ｎｍの波長範囲の
吸光度を測定する赤外線分光計である。
【００３１】内燃機関に動力を与えるための燃料の特性
を決定するため、主分析装置は実験室用分析装置であ
り、副分析装置は炭化水素処理ユニットに連結された分
光計である。
【００３２】本発明の方法は、信号の較正と標準化の周
知の動作を副分析装置の監視と制御のための動作によっ
て補うものである。
【００３３】較正動作は、必要とされる特性の値が既知
である一組の較正燃料の各々を主分析装置で分析して生
ずる信号の各々から、モデルを確立することから成る。
【００３４】モデルは、分析された燃料の特性の値と主
分析装置によって出された信号との間の数学的関係を表
す。
【００３５】このモデルは、他の分析装置で使用される
ので、また、主分析装置と副分析装置との間の計器応答
の差、並びに副分析装置の経時ドリフトを考慮に入れる
ために、いくつかの方式が副分析装置から出される信号
の補正を提案している。この補正を実施するための動作
は、較正トランスファ動作の名で知られている。
【００３６】これらの動作はまず、後で示すように、信
号を補正するための係数の計算と、これらの係数をトラ
ンスファマトリクスの形で記憶することにある。次にト
ランスファマトリクスが、特性値を確かめることが求め
られる各燃料サンプルについて副分析装置から出される
各信号を補正するために使用される。
【００３７】補正係数は下記のように計算される。
【００３８】分析しようとする燃料の母集団を代表す
る、特性値が既知である標準化用燃料１０サンプルを選
択する。
【００３９】これらの燃料を主分析装置と副分析装置に
それぞれ供給し、各分析装置が各サンプルについて信号
を送る。
【００４０】各分析装置から出される各信号のフーリエ
級数分解を実施する。
【００４１】各標準化用燃料サンプルについて、信号の
フーリエ変換を下記の式で表す。
【００４２】
【数１】
【００４３】ただし、 − ｙｉは、Ｎ個の点に分解された信号の値。
【００４４】− ｉは、０からＮ−１まで変化する。
【００４５】− ｋは、０からＮ−１まで変化する。
【００４６】− Ｆ（ｋ）は、ｋ／Ｎの頻度でフーリエ
変換から結果として得られる値。ただし、完全なフーリ
エ変換を使用する必要はなく、Ｆ（ｋ）の最初のｎ個の
値のみを使用する。ただし、ｋは０とｎの間にあり、ｎ
はＮ−１に比べて非常に小さい。
【００４７】ｎの値は、逆フーリエ変換によって再構成
された信号と標準化用燃料の少なくとも一つからの真の
信号との間の収束を反映する、停止基準を用いて決定さ
れる。
【００４８】この信号について、２０と４０の間の係数
ｎが選択され、次いで信号がこれらのｎ個の係数で再構
成される。
【００４９】次に、各波長での吸光度の値の差の平方の
和の平方根（ＲＳＤ）と、標準偏差の平均（ＭＥ）が計
算される。これらの数値から、ＲＳＤの第１差（Δ１
Ｒ）と第２差（Δ２Ｒ）が下の表に示すように計算され
る。
【００５０】
【表１】
【００５１】停止基準として、Δ２Ｒの符号が反転した
ものに対応するカッテルの判定基準を使用する。この例
では値ｎ＝３５が得られる。
【００５２】こうして、各信号についてフーリエ変換の
二つの係数の級数が得られる。
【００５３】 − 実係数ｒ1，ｒ2，．．．，ｒ35 − 虚係数ｋ1，ｋ2，．．．，ｋ35 こうして得られた係数の間の数学的関係として、
【００５４】
【数２】
【００５５】のような線形関係式が選ばれる。この関係
式において、Ａは、主分析装置によって送られる信号の
フーリエ変換を通じて得られる係数マトリクスである。
【００５６】
【数３】
【００５７】は、副分析装置からの信号のフーリエ変換
の最小２乗センスで推定される係数マトリクスである。
【００５８】αとβはそれぞれ、最小２乗アルゴリズム
を通じて推定される、勾配係数マトリクスと原点におけ
る総座標係数マトリクスである。
【００５９】αとβはトランスファマトリクスを定義す
る。
【００６０】副分析装置で分析された製品からの信号
は、その推定された係数から逆フーリエ変換によって再
構成される。
【００６１】トランスファマトリクスは、主分析装置で
分析された製品からの信号を従属析器で分析された同じ
製品からの補正された信号と比較することによって確認
され、これは下記の二つの方式にしたがって行われる。
【００６２】・ それぞれのＲＳＤの標準偏差を計算す
る。
【００６３】・ 較正モデルを、主分析装置からの信号
と副分析装置からの信号とに適用する。これら二つの分
析装置からそれぞれ得られる調査した特性の値を比較
し、次いで、観察された標準偏差の有効度（degree of
significance）を試験する。
【００６４】ＲＳＤの計算の結果が実験的に求められた
値を超えるか、または第二の方式によって観察された標
準偏差の値が高すぎる場合には、先のステップを繰り返
して、収束が得られるまで計算仮定を変更する。
【００６５】特性がわかっている製品が投入された副分
析装置で得られたすべての信号を、フーリエ級数に分解
する。先に選ばれたものと同じ判定基準にしたがって、
その信号についてｎの値を計算する。この信号によって
決定されたｎの値と先に得られた値との差が正または負
の２であると異常を示し、この原因を後のステップで探
索する。
【００６６】異常が検出されない場合には、分解された
副分析装置からの信号を、転送アルゴリズムによって補
正済み係数から再構成する。次に、求める特性を得るた
めに、主分析装置で決定された較正モデルを再構成され
た従属分析装置からの信号に適用する。
【００６７】副分析装置の動作、またはこれが連結され
ている製造ユニットの動作の監視と制御を行うために、
一変量制御図を使用する。
【００６８】各制御図は、例えば番号ｎ、係数αまたは
βもしくはその両方、ＲＳＤなどのパラメータの変化を
監視する。また一変量制御図は、転送アルゴリズムの結
果としてモデルから得られた求める特性の変化を監視す
るためにも使用する。
【００６９】多変量制御図を、トランスファマトリクス
を構成する係数α及びβの値について主成分分析（ＰＣ
Ａ）を実施するために使用することもできる。
【００７０】一つまたは複数の制御及び監視パラメータ
の限界値は、特に求める特性の許容変化範囲の関数とし
て実験で決定される。
【００７１】一つまたは複数の制御及び監視パラメータ
の一つまたは複数の値が先に決定された限界内にある場
合には、分析手順を続行する。
【００７２】逆に、限界値を超えることは異常の特徴で
あり、その原因を次のステップで探索しなければならな
い。
【００７３】監視パラメータの値が決定された限界内に
あるが、規則的（例えば経時的に線形）に変化する場合
には、検出された問題及び監視されるパラメータに適合
する監視規則を定義しなければならない。
【００７４】シフティングの原因を特性要因型の方式を
使用して分析する。この方式により、検出された異常の
原因、例えば分析された製品の品質、主分析装置または
副分析装置、較正モデル、転送アルゴリズムの動作、ま
たは副分析装置が連結されている製造ユニットの機能不
良が識別される。
【００７５】例２：本発明の第２実施形態によれば、第
一実施形態で選んだ数学的関係
【００７６】
【数４】
【００７７】をニューラルネットワークに基づく関係で
置き換える。
【００７８】第二実施形態によれば、３５−４−３５の
構成を有する傾斜逆伝播ネットワークが選ばれる。
【００７９】この構成は３１９個という多くの重みを発
生する。
【００８０】トランスファマトリクスの値の数は３５×
１０、すなわち３５０個である。この例では、トランス
ファマトリクスの計算で考慮される１０個の信号の数
は、一般に使用される計算モードを参照する場合には下
限の数である。
【００８１】隠れ層におけるニューロンの数、または重
みと実験的に求められたしきい値に対するその距離、も
しくはその両方を監視することによって、トランスファ
マトリクスのパラメータまたはその計算に用いられたパ
ラメータの経時変化を監視する。
【００８２】欠陥表が確立され、そのすべての要素を監
視することにより、製品の製造における変化を識別し、
この製造における経時ドリフトを検出し、特定の製品の
存在と装置に関連するもの以外の乱れの存在を検出する
ことが可能になる。

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 分析装置と分析装置に連結された製造ユ
    ニットの動作を監視し制御する方法であって、主分析装
    置の多変量較正の動作、標準化用製品を供給される副分
    析装置から出される信号を標準化する周期的動作、及び
    較正トランスファアルゴリズムに関連するパラメータを
    計算する較正トランスファステップを含み、一方では、
    前記パラメータの一つ、またはこれらのパラメータの少
    なくとも二つの数学的組合せが、副分析装置の動作の監
    視及び制御の指標として選択され、他方では監視及び制
    御の方式が選択され、各標準化動作の完了後に、前記監
    視及び制御の方式を適用することによって監視及び制御
    の指標の値の経時変化が記録され、次いで前記監視及び
    制御の方式と特性要因図を適用することによって得られ
    た結果から指標の値の変化の原因を識別することによ
    り、副分析装置の適正な動作とこれが連結されている製
    造ユニットの適正な動作が検査されることを特徴とする
    方法。
  2. 【請求項２】 主分析装置と副分析装置が異なる期間に
    使用される同じ分析装置であることを特徴とする請求項
    １に記載の方法。
  3. 【請求項３】 監視及び制御の指標の有意なドリフトの
    検出後に、主分析装置からの結果の妥当性を、これを副
    分析装置と見做して検査することを特徴とする請求項１
    または２に記載の方法。
  4. 【請求項４】 標準化動作の少なくとも一つについて一
    方では主分析装置と副分析装置から出される信号を級数
    分解すること、及び他方では級数分解から得られる係数
    の間の数学的関係を確立することから成る標準化動作中
    に、この数学的関係を定義するために計算されたパラメ
    ータの一つ、またはこれらのパラメータの少なくとも二
    つの組合せが、監視及び制御の指標として選択されるこ
    とを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の
    方法。
  5. 【請求項５】 標準化動作の少なくとも一つについて一
    方では主分析装置と副分析装置から出される信号を級数
    分解すること、及び他方では級数分解から得られる係数
    の間の数学的関係を確立することから成る標準化動作中
    に、この数学的関係がニューラルネットワークで表さ
    れ、ニューラルネットワークを定義するために計算され
    たパラメータの一つ、または前記パラメータの少なくと
    も二つの数学的組合わせが、監視及び制御指標として選
    択されることを特徴とする請求項１から３のいずれか一
    項に記載の方法。
  6. 【請求項６】 その少なくとも一つが係数のマトリクス
    計算を伴う標準化動作中に、この計算から生ずる係数の
    マトリクス、またはこれらの係数の少なくとも二つのマ
    トリクスの組合せが、監視及び制御の指標として選択さ
    れることを特徴とする請求項１または２に記載の方法。
  7. 【請求項７】 監視及び制御の方式が少なくとも一つの
    一変量制御図を使用することを特徴とする請求項１から
    ６のいずれか一項に記載の方法。
  8. 【請求項８】 監視及び制御の方式が少なくとも一つの
    多変量制御図を使用することを特徴とする請求項１から
    ６のいずれか一項に記載の方法。
  9. 【請求項９】 監視及び制御の方式が少なくとも一つの
    ニューラルネットワークを使用することを特徴とする請
    求項１から６のいずれか一項に記載の方法。
  10. 【請求項１０】 標準化動作が少なくとも二つの異なる
    標準化技法を使用するときに、前記技法のうちの少なく
    とも二つから生ずる係数から特性要因図が構築されるこ
    とを特徴とする請求項１から９のいずれか一項に記載の
    方法。
  11. 【請求項１１】 主分析装置と副分析装置から出される
    信号が事前に時間微分演算にかけられることを特徴とす
    る請求項１から１０のいずれか一項に記載の方法。
JP8309853A 1995-10-16 1996-10-16 分析装置及び該分析装置が接続される製造ユニットの運転の監視及び制御のための方法 Pending JPH09178756A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9512087 1995-10-16
FR9512087A FR2739928B1 (fr) 1995-10-16 1995-10-16 Procede de suivi et de controle du fonctionnement d'un analyseur et d'une unite de fabrication a laquelle il est raccorde

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09178756A true JPH09178756A (ja) 1997-07-11

Family

ID=9483543

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8309853A Pending JPH09178756A (ja) 1995-10-16 1996-10-16 分析装置及び該分析装置が接続される製造ユニットの運転の監視及び制御のための方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6128544A (ja)
EP (1) EP0768522A3 (ja)
JP (1) JPH09178756A (ja)
CA (1) CA2187943A1 (ja)
FR (1) FR2739928B1 (ja)
IL (2) IL119427A0 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6269276B1 (en) 1998-03-31 2001-07-31 Roche Diagnostics Corporation Multi-rule quality control method and apparatus

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6864978B1 (en) * 1999-07-22 2005-03-08 Sensys Medical, Inc. Method of characterizing spectrometer instruments and providing calibration models to compensate for instrument variation
AU2002358459B2 (en) * 2002-01-10 2006-10-05 Foss Analytical A/S Method and means for correcting measuring instruments
US6984527B2 (en) * 2003-08-11 2006-01-10 Dade Behring Inc. Automated quality control protocols in a multi-analyzer system
US20050146671A1 (en) * 2003-12-24 2005-07-07 Khavrounyak Igor V. Method of manufacturing thin crystal films
TWI379074B (en) * 2007-05-07 2012-12-11 Verity Instr Inc Calibration method of a radiometric optical monitoring system used for fault detection and process monitoring

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01106111A (ja) * 1987-10-19 1989-04-24 Fuji Photo Film Co Ltd シーケンス監視方法
US4866644A (en) * 1986-08-29 1989-09-12 Shenk John S Optical instrument calibration system
JPH0366241A (ja) * 1989-08-04 1991-03-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd プロパティ管理方法とその装置
US5191521A (en) * 1990-06-18 1993-03-02 Controlsoft, Inc. Modular multivariable control apparatus and method
US5459677A (en) * 1990-10-09 1995-10-17 Board Of Regents Of The University Of Washington Calibration transfer for analytical instruments
US5243546A (en) * 1991-01-10 1993-09-07 Ashland Oil, Inc. Spectroscopic instrument calibration
US5327349A (en) * 1993-04-15 1994-07-05 Square D Company Method and apparatus for analyzing and recording downtime of a manufacturing process
US5442562A (en) * 1993-12-10 1995-08-15 Eastman Kodak Company Method of controlling a manufacturing process using multivariate analysis
US5715181A (en) * 1995-04-03 1998-02-03 Horst; Robert L. Isogrammetric analysis method for high-yield processes
FR2734360B1 (fr) * 1995-05-19 1997-07-04 Elf Antar France Procede de correction d'un signal delivre par un instrument de mesure

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6269276B1 (en) 1998-03-31 2001-07-31 Roche Diagnostics Corporation Multi-rule quality control method and apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
CA2187943A1 (fr) 1997-04-17
EP0768522A3 (fr) 1997-10-22
FR2739928A1 (fr) 1997-04-18
EP0768522A2 (fr) 1997-04-16
IL119427A (en) 2000-01-31
US6128544A (en) 2000-10-03
FR2739928B1 (fr) 1997-11-21
IL119427A0 (en) 1997-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Workman A review of calibration transfer practices and instrument differences in spectroscopy
US10317280B2 (en) Method for correcting measuring-point-free temperature compensation model during online application of near infrared spectrum analyzer
KR100273505B1 (ko) 제조라인 해석방법 및 제조라인 해석장치
US6012019A (en) Process for tracking and monitoring a manufacturing unit and/or a near-infrared spectrometer by means of at least one criterion of quality of sets of spectra
JP4394286B2 (ja) 統計的プロセス管理のための多次元的方法及びシステム
CN113468479B (zh) 一种基于数据驱动的冷连轧工业过程监测与异常检测方法
CN113158575A (zh) 一种假定标样的在线近红外光谱模型的转移方法
CN118132963A (zh) 一种工业气体生产质量在线分析方法和系统
CN118501359A (zh) 一种基于物联网技术的智能室内空气质量检测系统
JPH09178756A (ja) 分析装置及び該分析装置が接続される製造ユニットの運転の監視及び制御のための方法
CN119046838A (zh) 一种碳化硅长晶时晶体厚度及质量的测量系统及方法
JPH11326046A (ja) オンライン用分光分析計の計測値解析方法
CN113343361A (zh) 车身尺寸智能监控方法、装置、设备及存储介质
CN121388447A (zh) 一种茶叶发酵过程数据管理方法及系统
CN107220705B (zh) 常减压装置常压塔顶干点预测方法
CN120473014A (zh) 一种基于数字孪生多肽药物低温结晶过程预警方法及系统
US5973324A (en) Process for tracking and monitoring a manufacturing unit and/or a near-infrared spectrometer by means of at least one indicator
CN114428067B (zh) 一种预测汽油辛烷值的方法
EP4409370A1 (en) Method for operating a chemical production system
US20030028329A1 (en) Method and device for measuring characteristics of a sample
CN115704769A (zh) 甜菜制糖中间制品中亚硝酸盐的快速检测方法及其系统
CN120721678B (zh) 一种磷酸氢钙的鉴别方法和应用
CN107220252B (zh) 常减压装置常压塔常一线闪点预测方法
CN107220393B (zh) 常减压装置常压塔常一线干点预测方法
CN112000068B (zh) 一种基于区块链技术的医疗仪器性能质量管理系统