JPH09180433A - ファーストイン・ファーストアウトメモリ装置 - Google Patents
ファーストイン・ファーストアウトメモリ装置Info
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- JPH09180433A JPH09180433A JP7333444A JP33344495A JPH09180433A JP H09180433 A JPH09180433 A JP H09180433A JP 7333444 A JP7333444 A JP 7333444A JP 33344495 A JP33344495 A JP 33344495A JP H09180433 A JPH09180433 A JP H09180433A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ワード線の選択を切替える場合に生じるアク
セス時間の延長を抑え、比較的簡単な回路構成で能率良
く高速動作を可能とする。 【解決手段】 ワードドライバ12A、16A、12
B、16B、ワード線、列セレクタ14A、18A、1
4B、18B、及びビット線で構成されるアドレス指定
手段を2組備えたデュアルポートRAMを2つ備える。
これらデュアルポートRAMを2組備えると共に、1つ
のワード線に接続される全ビットに対する順次書き込み
終了後毎のワード線の選択切替え毎に、これらデュアル
ポートRAMを交互に用いると共に、該選択切替えに先
立って切替え先のワード線の駆動を予め行うことで、ワ
ード線の選択切替え時のアクセス時間の延長を抑える。
セス時間の延長を抑え、比較的簡単な回路構成で能率良
く高速動作を可能とする。 【解決手段】 ワードドライバ12A、16A、12
B、16B、ワード線、列セレクタ14A、18A、1
4B、18B、及びビット線で構成されるアドレス指定
手段を2組備えたデュアルポートRAMを2つ備える。
これらデュアルポートRAMを2組備えると共に、1つ
のワード線に接続される全ビットに対する順次書き込み
終了後毎のワード線の選択切替え毎に、これらデュアル
ポートRAMを交互に用いると共に、該選択切替えに先
立って切替え先のワード線の駆動を予め行うことで、ワ
ード線の選択切替え時のアクセス時間の延長を抑える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、行デコーダ、該行
デコーダで選択的に駆動するワード線、列セレクタ、及
び、該列セレクタで選択されるビット線で構成されるア
ドレス指定手段を2組備えたデュアルポートランダムア
クセスメモリ(ramdom access memory:以降、RAMと
称する)を備え、該デュアルポートRAMに対して、一
方のアドレス指定手段から連続するアドレスで順次書き
込んだデータを、他方のアドレス指定手段から書き込ん
だ順に読み出すファーストイン・ファーストアウトメモ
リ装置(first-in first-outメモリ装置:以降、FIF
Oと称する)に係り、特に、連続するアドレスでの順次
データの書き込みの際の、あるいは、書き込み順での順
次読み出しの際の、ワード線の選択を切換える場合に生
じる前記デュアルポートRAMのアクセス時間の延長を
抑えることで、該デュアルポートRAMのアクセス時間
のボトルネックを抑え、該デュアルポートRAMに対す
るアクセスを比較的簡単な回路構成で能率よく高速に行
うことができるFIFOに関する。
デコーダで選択的に駆動するワード線、列セレクタ、及
び、該列セレクタで選択されるビット線で構成されるア
ドレス指定手段を2組備えたデュアルポートランダムア
クセスメモリ(ramdom access memory:以降、RAMと
称する)を備え、該デュアルポートRAMに対して、一
方のアドレス指定手段から連続するアドレスで順次書き
込んだデータを、他方のアドレス指定手段から書き込ん
だ順に読み出すファーストイン・ファーストアウトメモ
リ装置(first-in first-outメモリ装置:以降、FIF
Oと称する)に係り、特に、連続するアドレスでの順次
データの書き込みの際の、あるいは、書き込み順での順
次読み出しの際の、ワード線の選択を切換える場合に生
じる前記デュアルポートRAMのアクセス時間の延長を
抑えることで、該デュアルポートRAMのアクセス時間
のボトルネックを抑え、該デュアルポートRAMに対す
るアクセスを比較的簡単な回路構成で能率よく高速に行
うことができるFIFOに関する。
【0002】
【従来の技術】FIFOの基本機能は、入力されるデー
タを順次蓄積し、一方、蓄積した順序通りに出力すると
いうものである。このFIFOには、RAMを用いたも
のがある。このRAMを用いるFIFOは、一般的に、
データを順次蓄積する際に用いる書き込みクロックに同
期して動作するカウンタでRAMのアドレスを順次発生
し、該アドレスをRAMの書き込みアドレスとして用い
ながら、入力されるデータを順次書き込んでいく。一
方、該FIFOでの蓄積したデータの読み出しは、この
読み出しを制御するための読み出しクロックに同期しな
がら動作するカウンタでRAMのアドレスを順次発生
し、これを読み出しアドレスとして用いながら、RAM
から蓄積されているデータを書き込み順に順次読み出
す。ここで、FIFOに用いるRAMは、一般的にはデ
ュアルポートRAMである。
タを順次蓄積し、一方、蓄積した順序通りに出力すると
いうものである。このFIFOには、RAMを用いたも
のがある。このRAMを用いるFIFOは、一般的に、
データを順次蓄積する際に用いる書き込みクロックに同
期して動作するカウンタでRAMのアドレスを順次発生
し、該アドレスをRAMの書き込みアドレスとして用い
ながら、入力されるデータを順次書き込んでいく。一
方、該FIFOでの蓄積したデータの読み出しは、この
読み出しを制御するための読み出しクロックに同期しな
がら動作するカウンタでRAMのアドレスを順次発生
し、これを読み出しアドレスとして用いながら、RAM
から蓄積されているデータを書き込み順に順次読み出
す。ここで、FIFOに用いるRAMは、一般的にはデ
ュアルポートRAMである。
【0003】このデュアルポートRAMは、行デコー
ダ、該行デコーダで選択的に駆動するワード線、列セレ
クタ、及び、該列セレクタで選択されるビット線で構成
されるアドレス指定手段を2組有している。このデュア
ルポートRAMでは、このようにアドレス指定手段を2
組備えることで、内蔵する1つのメモリセルアレイに対
して独立して、必要に応じて同時にも、書き込みアクセ
スと読み出しアクセスとを行うことができるようになっ
ている。即ち、このデュアルポートRAMでは、書き込
みアクセスに用いる書き込みクロックと、読み出しアク
セスに用いる読み出しクロックとは、互いに周波数やタ
イミングが異なるものであってもよい。
ダ、該行デコーダで選択的に駆動するワード線、列セレ
クタ、及び、該列セレクタで選択されるビット線で構成
されるアドレス指定手段を2組有している。このデュア
ルポートRAMでは、このようにアドレス指定手段を2
組備えることで、内蔵する1つのメモリセルアレイに対
して独立して、必要に応じて同時にも、書き込みアクセ
スと読み出しアクセスとを行うことができるようになっ
ている。即ち、このデュアルポートRAMでは、書き込
みアクセスに用いる書き込みクロックと、読み出しアク
セスに用いる読み出しクロックとは、互いに周波数やタ
イミングが異なるものであってもよい。
【0004】又、このようなデュアルポートRAMを用
いたFIFOでは、2組備えられたアドレス指定手段の
うち、一方のものを用いて連続するアドレスで順次書き
込んだデータを、他方のアドレス指定手段から書き込ん
だ順に読み出す。
いたFIFOでは、2組備えられたアドレス指定手段の
うち、一方のものを用いて連続するアドレスで順次書き
込んだデータを、他方のアドレス指定手段から書き込ん
だ順に読み出す。
【0005】図6は、従来例のデュアルポートRAMを
用いたFIFOの構成を示すブロック図である。
用いたFIFOの構成を示すブロック図である。
【0006】この図6において、メモリセルアレイ10
と、ライトポートワードドライバ12と、ライトポート
列セレクタ14と、リードポートワードドライバ16
と、リードポート列セレクタ18とによって、デュアル
ポートRAMが構成されている。又、この従来のFIF
Oは、このように構成されるデュアルポートRAMに加
えて、ライトアドレス発生回路32Aと、入力回路34
Aと、リードアドレス発生回路42Aと、出力回路44
Aと、フラグ発生回路46Aとを備えている。
と、ライトポートワードドライバ12と、ライトポート
列セレクタ14と、リードポートワードドライバ16
と、リードポート列セレクタ18とによって、デュアル
ポートRAMが構成されている。又、この従来のFIF
Oは、このように構成されるデュアルポートRAMに加
えて、ライトアドレス発生回路32Aと、入力回路34
Aと、リードアドレス発生回路42Aと、出力回路44
Aと、フラグ発生回路46Aとを備えている。
【0007】ここで、当該FIFOへ蓄積する入力デー
タDIは、入力回路34A及びライトポート列セレクタ
14を経てメモリセルアレイ10に書き込まれる。又、
該メモリセルアレイ10に書き込まれ蓄積されているデ
ータは、リードポート列セレクタ18及び出力回路44
Aを経て、出力データDOとして読み出すことができ
る。
タDIは、入力回路34A及びライトポート列セレクタ
14を経てメモリセルアレイ10に書き込まれる。又、
該メモリセルアレイ10に書き込まれ蓄積されているデ
ータは、リードポート列セレクタ18及び出力回路44
Aを経て、出力データDOとして読み出すことができ
る。
【0008】図7は、図6のメモリセルアレイ10の各
メモリセルのマトリックス状の配置を示す線図である。
メモリセルのマトリックス状の配置を示す線図である。
【0009】この図7では、符号WWD0〜WWD7に
よって、FIFOのデータ書き込みに用いる、一方のア
ドレス指定手段の合計8本のワード線が示される。一
方、符号RWD0〜RWD7によってFIFOに蓄積さ
れているデータを読み出すために用いる、他方のアドレ
ス指定手段のワード線が示される。
よって、FIFOのデータ書き込みに用いる、一方のア
ドレス指定手段の合計8本のワード線が示される。一
方、符号RWD0〜RWD7によってFIFOに蓄積さ
れているデータを読み出すために用いる、他方のアドレ
ス指定手段のワード線が示される。
【0010】又、図7中のマトリックス状の方形に付さ
れた“0”〜“31”によって、合計32個のメモリセ
ルが示される。このように、図6に示されるFIFOの
デュアルポートRAMは、各ワード線に対して合計4個
のメモリセルが接続され、各ビット線に対して合計8個
のメモリセルが接続されている。
れた“0”〜“31”によって、合計32個のメモリセ
ルが示される。このように、図6に示されるFIFOの
デュアルポートRAMは、各ワード線に対して合計4個
のメモリセルが接続され、各ビット線に対して合計8個
のメモリセルが接続されている。
【0011】図8は、従来例のFIFOの書き込み動作
を示すタイムチャートである。
を示すタイムチャートである。
【0012】この従来例のFIFOの書き込み動作は、
クロック信号WCKで制御される。FIFOに対して第
1番目のデータを蓄積するに当たって、時刻t11にお
いて、外部から入力するリセット信号WRSTを立ち下
げる。すると、ライトアドレス発生回路32Aが内蔵す
る書き込みアドレスWADを発生するためのカウンタの
値が“0”となり、従って該書き込みアドレスWADも
“0”となる。
クロック信号WCKで制御される。FIFOに対して第
1番目のデータを蓄積するに当たって、時刻t11にお
いて、外部から入力するリセット信号WRSTを立ち下
げる。すると、ライトアドレス発生回路32Aが内蔵す
る書き込みアドレスWADを発生するためのカウンタの
値が“0”となり、従って該書き込みアドレスWADも
“0”となる。
【0013】この後、リセット信号WRSTが時刻t1
2で立ち上がった後に、蓄積する入力データDIを入力
すると共に、選択信号WENを立ち下げる。この後にク
ロック信号WCKが時刻t13で立ち上がると、L状態
の選択信号WENが取り込まれて選択信号WEがH状態
となり、同時に入力データDIが取り込まれる。このよ
うに取り込まれた入力DIは、“0”の書き込みアドレ
スWADに対応するメモリセルアレイ10のメモリセル
に対して書き込まれる。ここで、選択信号WEは、(W
E=(WENバー)・WCK)の論理演算で生成され
る。
2で立ち上がった後に、蓄積する入力データDIを入力
すると共に、選択信号WENを立ち下げる。この後にク
ロック信号WCKが時刻t13で立ち上がると、L状態
の選択信号WENが取り込まれて選択信号WEがH状態
となり、同時に入力データDIが取り込まれる。このよ
うに取り込まれた入力DIは、“0”の書き込みアドレ
スWADに対応するメモリセルアレイ10のメモリセル
に対して書き込まれる。ここで、選択信号WEは、(W
E=(WENバー)・WCK)の論理演算で生成され
る。
【0014】次に、時刻t14の直前までに、次に蓄積
する入力データDIを入力しておく。すると、時刻t1
4でクロック信号WCKが立ち上がると、ライトアドレ
ス発生回路32Aが内蔵する前述のカウンタの値がイン
クリメントされ、書き込みアドレスWADの値が“1”
となる。この後、入力されていた入力データDIは、こ
のように“1”となった書き込みアドレスWADに対応
するメモリセルアレイ10のメモリセルへと書き込まれ
る。
する入力データDIを入力しておく。すると、時刻t1
4でクロック信号WCKが立ち上がると、ライトアドレ
ス発生回路32Aが内蔵する前述のカウンタの値がイン
クリメントされ、書き込みアドレスWADの値が“1”
となる。この後、入力されていた入力データDIは、こ
のように“1”となった書き込みアドレスWADに対応
するメモリセルアレイ10のメモリセルへと書き込まれ
る。
【0015】以降同様に、クロック信号WCKの立ち上
がりに同期して、ライトアドレス発生回路32Aが内蔵
するカウンタが順次インクリメントされ、メモリセルア
レイ10の対応するメモリセルに対して、順次入力され
る入力データDIが書き込まれている。
がりに同期して、ライトアドレス発生回路32Aが内蔵
するカウンタが順次インクリメントされ、メモリセルア
レイ10の対応するメモリセルに対して、順次入力され
る入力データDIが書き込まれている。
【0016】ここで、時刻t16までの期間では、書き
込みワード線WWD0に接続されるメモリセルに対して
入力データDIを書き込むことになり、この期間のほぼ
全体に亘って該書き込みワード線WWD0はH状態とな
っている。時刻t17から時刻t18までの期間では、
書き込みワード線WWD1に接続されるメモリセルに対
して入力データDIを書き込むことになるため、この期
間のほぼ全体に亘って、該書き込みワード線WWD1は
H状態となっている。時刻t19以降の期間では、書き
込みワード線WWD2に接続されるメモリセルに対して
入力データDIを書き込むことになり、これに対応し該
期間のほぼ全体に亘って該書き込みワード線WWD2は
H状態となっている。
込みワード線WWD0に接続されるメモリセルに対して
入力データDIを書き込むことになり、この期間のほぼ
全体に亘って該書き込みワード線WWD0はH状態とな
っている。時刻t17から時刻t18までの期間では、
書き込みワード線WWD1に接続されるメモリセルに対
して入力データDIを書き込むことになるため、この期
間のほぼ全体に亘って、該書き込みワード線WWD1は
H状態となっている。時刻t19以降の期間では、書き
込みワード線WWD2に接続されるメモリセルに対して
入力データDIを書き込むことになり、これに対応し該
期間のほぼ全体に亘って該書き込みワード線WWD2は
H状態となっている。
【0017】ここで、このような書き込み動作におい
て、図8中の時間tsは、クロック信号WCKが立ち上
がってから、ライトアドレス発生回路32Aが出力する
選択信号WEが立ち上がり、且つ、該ライトアドレス発
生回路32Aが内蔵するカウンタからの書き込みアドレ
スWADの値が変化するまでの時間である。又、このよ
うに選択信号WEがH状態となり、且つ書き込みアドレ
スWADの値が変化してから、対応するメモリセルに対
して書き込みが終了するまでの時間をtwとする。する
と、当該FIFOにおける書き込み時間は(ts+t
w)となる。又、クロック信号WCKの周期は、サイク
ル時間twcyであるこの(ts+tw)以上である必
要がある。
て、図8中の時間tsは、クロック信号WCKが立ち上
がってから、ライトアドレス発生回路32Aが出力する
選択信号WEが立ち上がり、且つ、該ライトアドレス発
生回路32Aが内蔵するカウンタからの書き込みアドレ
スWADの値が変化するまでの時間である。又、このよ
うに選択信号WEがH状態となり、且つ書き込みアドレ
スWADの値が変化してから、対応するメモリセルに対
して書き込みが終了するまでの時間をtwとする。する
と、当該FIFOにおける書き込み時間は(ts+t
w)となる。又、クロック信号WCKの周期は、サイク
ル時間twcyであるこの(ts+tw)以上である必
要がある。
【0018】次に、図9は、当該従来例における、読み
出し動作を示すタイムチャートである。
出し動作を示すタイムチャートである。
【0019】この従来例での読み出し動作は、クロック
信号RCKによって制御される。まず、FIFOに蓄積
されているデータの第1個目を読み出すに当たって、時
刻t21においてリセット信号RRSTを立ち下げる。
すると、リードアドレス発生回路42Aが内蔵するカウ
ンタがリセットされて“0”となり、該カウンタから出
力される読み出しアドレスRADの値は“0”となる。
信号RCKによって制御される。まず、FIFOに蓄積
されているデータの第1個目を読み出すに当たって、時
刻t21においてリセット信号RRSTを立ち下げる。
すると、リードアドレス発生回路42Aが内蔵するカウ
ンタがリセットされて“0”となり、該カウンタから出
力される読み出しアドレスRADの値は“0”となる。
【0020】続いて時刻t22においてリセット信号R
RSTが立ち上がってから、時刻t23でクロック信号
RCKが立ち上がるまでの期間内で、選択信号RENを
立ち下げる。クロック信号RCKが立ち上がると、この
タイミングでL状態の選択信号RENが取り込まれる。
RSTが立ち上がってから、時刻t23でクロック信号
RCKが立ち上がるまでの期間内で、選択信号RENを
立ち下げる。クロック信号RCKが立ち上がると、この
タイミングでL状態の選択信号RENが取り込まれる。
【0021】この後に時刻t23でクロック信号RCK
が立ち上がった後に、リードアドレス発生回路42Aが
出力する選択信号REが立ち上がると共に、“0”の読
み出しアドレスRADに対応するメモリセルアレイ10
のメモリセルからの出力データDOの読み出し動作が開
始され、所定時間後に該出力データDOが出力回路44
Aから出力される。ここで、選択信号REは、(RE=
(RENバー)・RCK)の論理演算により得られる信
号である。
が立ち上がった後に、リードアドレス発生回路42Aが
出力する選択信号REが立ち上がると共に、“0”の読
み出しアドレスRADに対応するメモリセルアレイ10
のメモリセルからの出力データDOの読み出し動作が開
始され、所定時間後に該出力データDOが出力回路44
Aから出力される。ここで、選択信号REは、(RE=
(RENバー)・RCK)の論理演算により得られる信
号である。
【0022】次に時刻t24において、クロック信号R
CKが立ち上がる。すると、リードアドレス発生回路4
2Aが内蔵するカウンタの値がインクリメントされ、読
み出しアドレスRADが“1”となる。又、該読み出し
アドレスRADに対応するメモリセルアレイ10の該当
メモリセルからは、所定時間後に出力データD0が読み
出される。
CKが立ち上がる。すると、リードアドレス発生回路4
2Aが内蔵するカウンタの値がインクリメントされ、読
み出しアドレスRADが“1”となる。又、該読み出し
アドレスRADに対応するメモリセルアレイ10の該当
メモリセルからは、所定時間後に出力データD0が読み
出される。
【0023】時刻t25等、以後クロック信号RCKが
立ち上がる毎に、読み出しアドレスRADがインクリメ
ントされて、対応するメモリセルアレイ10のメモリセ
ルに記憶される出力データDOを読み出すことができ
る。
立ち上がる毎に、読み出しアドレスRADがインクリメ
ントされて、対応するメモリセルアレイ10のメモリセ
ルに記憶される出力データDOを読み出すことができ
る。
【0024】ここで、クロック信号RCKが立ち上がっ
てから、リードアドレス発生回路42Aが出力する選択
信号REが立ち上がり、且つ、リードアドレス発生回路
42Aが内蔵するカウンタがカウントアップされて読み
出しアドレスRADの値が変化するまでの時間を、図9
中に示されるような時間tsとする。又、クロック信号
RCKが立ち上がってから時間tsの後、メモリセルア
レイ10の該当メモリセルに記憶される出力データDO
が出力回路44Aから出力されるまでの時間を時間tr
(図9の中ではtraやtrb)とする。すると、クロ
ック信号RCKが立ち上がってから(ts+tr)の時
間が、記憶されるデータの読み出しに要する時間とな
る。又、クロック信号RCKの周期は、サイクル時間t
rcyである(ts+tr)以上である必要がある。
てから、リードアドレス発生回路42Aが出力する選択
信号REが立ち上がり、且つ、リードアドレス発生回路
42Aが内蔵するカウンタがカウントアップされて読み
出しアドレスRADの値が変化するまでの時間を、図9
中に示されるような時間tsとする。又、クロック信号
RCKが立ち上がってから時間tsの後、メモリセルア
レイ10の該当メモリセルに記憶される出力データDO
が出力回路44Aから出力されるまでの時間を時間tr
(図9の中ではtraやtrb)とする。すると、クロ
ック信号RCKが立ち上がってから(ts+tr)の時
間が、記憶されるデータの読み出しに要する時間とな
る。又、クロック信号RCKの周期は、サイクル時間t
rcyである(ts+tr)以上である必要がある。
【0025】ここで、時刻t26までの期間では、読み
出しワード線RWD0に接続されるメモリセルから出力
データを読み出すため、該期間では該読み出しワード線
RWD0がH状態となる。又、時刻t27から時刻t2
8の期間では、読み出しワード線RWD1に接続される
メモリセルに記憶されるデータを読み出すため、該期間
では読み出しワード線RWD1はH状態となる。時刻t
29以降の期間では、読み出しワード線RWD2に接続
されるメモリセルに記憶されるデータを読み出すため、
該期間では該読み出しワード線RWD2がH状態とな
る。
出しワード線RWD0に接続されるメモリセルから出力
データを読み出すため、該期間では該読み出しワード線
RWD0がH状態となる。又、時刻t27から時刻t2
8の期間では、読み出しワード線RWD1に接続される
メモリセルに記憶されるデータを読み出すため、該期間
では読み出しワード線RWD1はH状態となる。時刻t
29以降の期間では、読み出しワード線RWD2に接続
されるメモリセルに記憶されるデータを読み出すため、
該期間では該読み出しワード線RWD2がH状態とな
る。
【0026】
【発明が解決しようとする課題】ここで、図8において
時刻t16からt17までの期間にワード線の選択が切
替えられるとき、又時刻t18からt19までの期間に
同じくワード線の選択が切替えられるとき、前述の時間
twが延長されるのが一般的である。これは、一般に列
アドレスのみ変更となるアクセスに比べて、ワード線の
遷移を伴うアクセスが長くなるためである。又、このよ
うに時間twが延長されると、メモリアクセスに要する
時間全体も延長されてしまう。
時刻t16からt17までの期間にワード線の選択が切
替えられるとき、又時刻t18からt19までの期間に
同じくワード線の選択が切替えられるとき、前述の時間
twが延長されるのが一般的である。これは、一般に列
アドレスのみ変更となるアクセスに比べて、ワード線の
遷移を伴うアクセスが長くなるためである。又、このよ
うに時間twが延長されると、メモリアクセスに要する
時間全体も延長されてしまう。
【0027】又、図9において、時刻t26からt27
までの期間のワード線の選択が切替えられるとき、又、
時刻t28からt29までの期間のワード線の選択が切
替えられるときについても、書き込み動作の場合と同
様、ワード線の選択が切替えられることに伴って、時間
trが延長される傾向がある。即ち、図9において図示
される時間tra及びtrbでは、(tra<trb)
の関係となる。従って、ワード線の選択が切替えられる
場合に要するメモリアクセス時間が、メモリアクセスの
時間のボトルネックとなってしまう。
までの期間のワード線の選択が切替えられるとき、又、
時刻t28からt29までの期間のワード線の選択が切
替えられるときについても、書き込み動作の場合と同
様、ワード線の選択が切替えられることに伴って、時間
trが延長される傾向がある。即ち、図9において図示
される時間tra及びtrbでは、(tra<trb)
の関係となる。従って、ワード線の選択が切替えられる
場合に要するメモリアクセス時間が、メモリアクセスの
時間のボトルネックとなってしまう。
【0028】このように、一般に、書き込み動作も読み
出し動作も、列アドレスの変更のみのアクセスに比べ
て、ワード線の選択が切替えられるアクセスの方が時間
を要する。又、このため、このようなワード線の選択が
切替えられるアクセスの場合が、メモリアクセス時間の
ボトルネックとなってしまう。
出し動作も、列アドレスの変更のみのアクセスに比べ
て、ワード線の選択が切替えられるアクセスの方が時間
を要する。又、このため、このようなワード線の選択が
切替えられるアクセスの場合が、メモリアクセス時間の
ボトルネックとなってしまう。
【0029】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたものであって、連続するアドレスでの順次デ
ータの書き込みの際の、あるいは、書き込み順での順次
読み出しの際の、ワード線の選択を切換える場合に生じ
る前記デュアルポートRAMのアクセス時間の延長を抑
えることで、該デュアルポートRAMのアクセス時間の
ボトルネックを抑え、該デュアルポートRAMに対する
アクセスを比較的簡単な回路構成で能率よく高速に行う
ことができるFIFOを提供することを目的とする。
くなされたものであって、連続するアドレスでの順次デ
ータの書き込みの際の、あるいは、書き込み順での順次
読み出しの際の、ワード線の選択を切換える場合に生じ
る前記デュアルポートRAMのアクセス時間の延長を抑
えることで、該デュアルポートRAMのアクセス時間の
ボトルネックを抑え、該デュアルポートRAMに対する
アクセスを比較的簡単な回路構成で能率よく高速に行う
ことができるFIFOを提供することを目的とする。
【0030】
【課題を解決するための手段】本発明は、行デコーダ、
該行デコーダで選択的に駆動するワード線、列セレク
タ、及び、該列セレクタで選択されるビット線で構成さ
れるアドレス指定手段を2組有するデュアルポートラン
ダムアクセスメモリを備え、該デュアルポートランダム
アクセスメモリに対して、一方のアドレス指定手段から
連続するアドレスで順次書き込んだデータを、他方のア
ドレス指定手段から書き込んだ順に読み出すファースト
イン・ファーストアウトメモリ装置において、偶数行ア
ドレス用の前記デュアルポートランダムアクセスメモ
リ、及び奇数行アドレス用の前記デュアルポートランダ
ムアクセスメモリの、2組の前記デュアルポートランダ
ムアクセスメモリと、1つのワード線に接続される全ビ
ットに対する順次書き込み後毎の、ワード線の選択切換
え毎に、アクセス対象の前記デュアルポートランダムア
クセスメモリを変更することで交互に、2組の前記デュ
アルポートランダムアクセスメモリに跨がって、連続す
るアドレスで順次データを書き込むためのアドレスを発
生すると共に、前記デュアルポートランダムアクセスメ
モリの選択切換えの際には、該選択切換えに先立って予
め切換え先の前記デュアルポートランダムアクセスメモ
リの前記行デコーダでの選択的なワード線の駆動を行う
ライトアドレス発生回路と、1つのワード線に接続され
る全ビットに対する書き込み順の順次読み出し後毎の、
ワード線の選択切換え毎に、アクセス対象の前記デュア
ルポートランダムアクセスメモリを変更することで交互
に、2組の前記デュアルポートランダムアクセスメモリ
に跨がって、書き込み順の順次読み出しのためのアドレ
スを発生すると共に、前記デュアルポートランダムアク
セスメモリの選択切換えの際には、該選択切換えに先立
って予め切換え先の前記デュアルポートランダムアクセ
スメモリの前記行デコーダでの選択的なワード線の駆動
を行うリードアドレス発生回路とを備え、連続するアド
レスでの順次データの書き込みの際にも、又、書き込み
順での順次読み出しの際にも、偶数行アドレス用の前記
デュアルポートランダムアクセスメモリへのアクセス、
及び奇数行アドレス用の前記デュアルポートランダムア
クセスメモリへのアクセスを、ワード線の選択を切換え
る毎に交互に行うようにしたことにより、前記課題を解
決したものである。
該行デコーダで選択的に駆動するワード線、列セレク
タ、及び、該列セレクタで選択されるビット線で構成さ
れるアドレス指定手段を2組有するデュアルポートラン
ダムアクセスメモリを備え、該デュアルポートランダム
アクセスメモリに対して、一方のアドレス指定手段から
連続するアドレスで順次書き込んだデータを、他方のア
ドレス指定手段から書き込んだ順に読み出すファースト
イン・ファーストアウトメモリ装置において、偶数行ア
ドレス用の前記デュアルポートランダムアクセスメモ
リ、及び奇数行アドレス用の前記デュアルポートランダ
ムアクセスメモリの、2組の前記デュアルポートランダ
ムアクセスメモリと、1つのワード線に接続される全ビ
ットに対する順次書き込み後毎の、ワード線の選択切換
え毎に、アクセス対象の前記デュアルポートランダムア
クセスメモリを変更することで交互に、2組の前記デュ
アルポートランダムアクセスメモリに跨がって、連続す
るアドレスで順次データを書き込むためのアドレスを発
生すると共に、前記デュアルポートランダムアクセスメ
モリの選択切換えの際には、該選択切換えに先立って予
め切換え先の前記デュアルポートランダムアクセスメモ
リの前記行デコーダでの選択的なワード線の駆動を行う
ライトアドレス発生回路と、1つのワード線に接続され
る全ビットに対する書き込み順の順次読み出し後毎の、
ワード線の選択切換え毎に、アクセス対象の前記デュア
ルポートランダムアクセスメモリを変更することで交互
に、2組の前記デュアルポートランダムアクセスメモリ
に跨がって、書き込み順の順次読み出しのためのアドレ
スを発生すると共に、前記デュアルポートランダムアク
セスメモリの選択切換えの際には、該選択切換えに先立
って予め切換え先の前記デュアルポートランダムアクセ
スメモリの前記行デコーダでの選択的なワード線の駆動
を行うリードアドレス発生回路とを備え、連続するアド
レスでの順次データの書き込みの際にも、又、書き込み
順での順次読み出しの際にも、偶数行アドレス用の前記
デュアルポートランダムアクセスメモリへのアクセス、
及び奇数行アドレス用の前記デュアルポートランダムア
クセスメモリへのアクセスを、ワード線の選択を切換え
る毎に交互に行うようにしたことにより、前記課題を解
決したものである。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、図を用いて本発明の実施の
形態を詳細に説明する。
形態を詳細に説明する。
【0032】図1は、本発明が適用されたデュアルポー
トRAMを備えるFIFOの構成を示すブロック図であ
る。
トRAMを備えるFIFOの構成を示すブロック図であ
る。
【0033】この図1において、メモリセルアレイ10
Aと、ライトポートワードドライバ12Aと、ライトポ
ート列セレクタ14Aと、リードポートワードドライバ
16Aと、リードポート列セレクタ18Aとにより、偶
数行アドレス用の、第1のデュアルポートRAMが構成
される。次に、メモリセルアレイ10Bと、ライトポー
トワードドライバ12Bと、ライトポート列セレクタ1
4Bと、リードポートワードドライバ16Bと、リード
ポート列セレクタ18Bとにより、奇数行アドレス用
の、第2のデュアルポートRAMが構成される。
Aと、ライトポートワードドライバ12Aと、ライトポ
ート列セレクタ14Aと、リードポートワードドライバ
16Aと、リードポート列セレクタ18Aとにより、偶
数行アドレス用の、第1のデュアルポートRAMが構成
される。次に、メモリセルアレイ10Bと、ライトポー
トワードドライバ12Bと、ライトポート列セレクタ1
4Bと、リードポートワードドライバ16Bと、リード
ポート列セレクタ18Bとにより、奇数行アドレス用
の、第2のデュアルポートRAMが構成される。
【0034】このように、前述の従来例等に対して、本
実施形態では、2つのデュアルポートRAMが備えられ
ていることが特徴である。
実施形態では、2つのデュアルポートRAMが備えられ
ていることが特徴である。
【0035】次に、本実施形態のFIFOでは、これら
のデュアルポートRAMに加えて、ライトアドレス発生
回路32と、入力回路34と、リードアドレス発生回路
42と、出力回路44と、フラグ発生回路46とを備え
ている。
のデュアルポートRAMに加えて、ライトアドレス発生
回路32と、入力回路34と、リードアドレス発生回路
42と、出力回路44と、フラグ発生回路46とを備え
ている。
【0036】ここで、メモリセルアレイ10Aは図2に
示されるような構成となっている。この図2において
は、書き込みワード線WWD0、2、4、6、及び、読
み出しワード線RWD0、2、4、6が示されている。
即ち、メモリセルアレイ10Aでは、偶数の行アドレス
のみが存在する。
示されるような構成となっている。この図2において
は、書き込みワード線WWD0、2、4、6、及び、読
み出しワード線RWD0、2、4、6が示されている。
即ち、メモリセルアレイ10Aでは、偶数の行アドレス
のみが存在する。
【0037】次に、メモリセルアレイ10Bは、図3に
示すように構成されている。この図3に示す如く、メモ
リセルアレイ10Bには、書き込みワード線WWD1、
3、5、7及び読み出しワード線RWD1、3、5、7
が設けられている。このように、メモリセルアレイ10
Bには、奇数の行アドレスのみが存在する。
示すように構成されている。この図3に示す如く、メモ
リセルアレイ10Bには、書き込みワード線WWD1、
3、5、7及び読み出しワード線RWD1、3、5、7
が設けられている。このように、メモリセルアレイ10
Bには、奇数の行アドレスのみが存在する。
【0038】又、これらメモリセルアレイ10A及び1
0Bは、1つのワード線に接続される4つのメモリセル
に対するアクセスの後毎の、ワード線の選択切替え毎
に、これらデュアルポートRAMが交互に選択切替えさ
れる。又、本実施形態のメモリセルアレイ10A及び1
0B2つが、前述の従来例の1つのメモリセルアレイ1
0に相当する。本実施形態では、従来1つとされたデュ
アルポートRAMが、偶数行アドレス用のものと奇数ア
ドレス用のものとの、2つに分割されている。
0Bは、1つのワード線に接続される4つのメモリセル
に対するアクセスの後毎の、ワード線の選択切替え毎
に、これらデュアルポートRAMが交互に選択切替えさ
れる。又、本実施形態のメモリセルアレイ10A及び1
0B2つが、前述の従来例の1つのメモリセルアレイ1
0に相当する。本実施形態では、従来1つとされたデュ
アルポートRAMが、偶数行アドレス用のものと奇数ア
ドレス用のものとの、2つに分割されている。
【0039】又、入力データDIを蓄えるための書き込
み動作において、どちらのデュアルポートRAMを用い
るかは、ライトアドレス発生回路32によって決定され
る。即ち、該ライトアドレス発生回路32が内蔵するカ
ウンタの値で決定されるアドレスのうち、列アドレスの
値が偶数であれば偶数行アドレス用のデュアルポートR
AMを選択し、奇数であれば奇数行アドレス用のデュア
ルポートRAMを選択する。
み動作において、どちらのデュアルポートRAMを用い
るかは、ライトアドレス発生回路32によって決定され
る。即ち、該ライトアドレス発生回路32が内蔵するカ
ウンタの値で決定されるアドレスのうち、列アドレスの
値が偶数であれば偶数行アドレス用のデュアルポートR
AMを選択し、奇数であれば奇数行アドレス用のデュア
ルポートRAMを選択する。
【0040】偶数行アドレス用のデュアルポートRAM
を選択した場合、ライトポート列セレクタ14Aを経由
してメモリセルアレイ10Aに対してデータを書き込
む。一方、奇数行アドレス用のデュアルポートRAMが
選択された場合、ライトポート列セレクタ14Bを経由
してメモリセルアレイ10Bに対してデータが蓄積され
る。
を選択した場合、ライトポート列セレクタ14Aを経由
してメモリセルアレイ10Aに対してデータを書き込
む。一方、奇数行アドレス用のデュアルポートRAMが
選択された場合、ライトポート列セレクタ14Bを経由
してメモリセルアレイ10Bに対してデータが蓄積され
る。
【0041】又、蓄えられているデータを読み出す場合
には、リードアドレス発生回路42が内蔵するカウンタ
の値によって、いずれのデュアルポートRAMを用いる
かが決定される。即ち、該カウンタの値で示されるアド
レスのうち、行アドレスが偶数であれば偶数行アドレス
用のデュアルポートRAMを選択し、奇数であれば奇数
行アドレス用のデュアルポートRAMを選択する。
には、リードアドレス発生回路42が内蔵するカウンタ
の値によって、いずれのデュアルポートRAMを用いる
かが決定される。即ち、該カウンタの値で示されるアド
レスのうち、行アドレスが偶数であれば偶数行アドレス
用のデュアルポートRAMを選択し、奇数であれば奇数
行アドレス用のデュアルポートRAMを選択する。
【0042】偶数行アドレス用のデュアルポートRAM
が選択された場合、リードポート列セレクタ18Aを経
由してメモリセルアレイ10Aに蓄えられているデータ
を読み出す。一方、奇数行アドレス用のデュアルポート
RAMが選択された場合、リードポート列セレクタ18
Bを経てメモリセルアレイ10Bに蓄えられているデー
タを読み出す。
が選択された場合、リードポート列セレクタ18Aを経
由してメモリセルアレイ10Aに蓄えられているデータ
を読み出す。一方、奇数行アドレス用のデュアルポート
RAMが選択された場合、リードポート列セレクタ18
Bを経てメモリセルアレイ10Bに蓄えられているデー
タを読み出す。
【0043】図4は、本実施形態の書き込み動作を示す
タイムチャートである。
タイムチャートである。
【0044】ライトアドレス発生回路32においては、
図4に示される如く、内蔵するカウンタはリセット信号
WRSTの立ち下がりでリセットされ“0”となった
後、クロック信号WCKの立ち上がり毎にインクリメン
トされ、書き込みアドレスWADが変更される。この書
き込みアドレスWADがライトアドレス発生回路32内
でプリデコードされて、ライトポートワードドライバ1
2A及びライトポート列セレクタ14Aを用いるか、あ
るいはライトポートワードドライバ12B及びライトポ
ート列セレクタ14Bを用いるかが選択されると共に、
これらに対する該当するアドレスを出力する。この後
に、メモリセルアレイ10Aあるいは10Bの該当する
メモリセルに対して入力データDIが書き込まれる。
図4に示される如く、内蔵するカウンタはリセット信号
WRSTの立ち下がりでリセットされ“0”となった
後、クロック信号WCKの立ち上がり毎にインクリメン
トされ、書き込みアドレスWADが変更される。この書
き込みアドレスWADがライトアドレス発生回路32内
でプリデコードされて、ライトポートワードドライバ1
2A及びライトポート列セレクタ14Aを用いるか、あ
るいはライトポートワードドライバ12B及びライトポ
ート列セレクタ14Bを用いるかが選択されると共に、
これらに対する該当するアドレスを出力する。この後
に、メモリセルアレイ10Aあるいは10Bの該当する
メモリセルに対して入力データDIが書き込まれる。
【0045】ここで、時刻t31から時刻t37まで
は、メモリセルアレイ10Aをアクセスする。時刻t3
8から時刻t39までは、メモリセルアレイ10Bをア
クセスする。時刻t40からは、メモリセルアレイ10
Aをアクセスする。
は、メモリセルアレイ10Aをアクセスする。時刻t3
8から時刻t39までは、メモリセルアレイ10Bをア
クセスする。時刻t40からは、メモリセルアレイ10
Aをアクセスする。
【0046】ここで、図4における時刻t33〜t37
では、クロック信号WCKの立ち上がりの際に、列アド
レスのみが変更される。これに対して、時刻t37から
t38の間、又時刻t39からt40までの間では、列
アドレスが“0”となるとともに、行アドレスが変更さ
れる。この行アドレス変更の際、本実施形態では、デュ
アルポートRAMの切替えがなされている。
では、クロック信号WCKの立ち上がりの際に、列アド
レスのみが変更される。これに対して、時刻t37から
t38の間、又時刻t39からt40までの間では、列
アドレスが“0”となるとともに、行アドレスが変更さ
れる。この行アドレス変更の際、本実施形態では、デュ
アルポートRAMの切替えがなされている。
【0047】又、このようなデュアルポートRAMの切
替えの際には、該切替えに先立って予め切替え先のデュ
アルポートRAMの行デコーダでのワード線の駆動が予
めなされている。従って、本実施形態では、このような
ワード線の切替えが伴うような場合でも、アクセス時間
を抑えることが可能となっている。
替えの際には、該切替えに先立って予め切替え先のデュ
アルポートRAMの行デコーダでのワード線の駆動が予
めなされている。従って、本実施形態では、このような
ワード線の切替えが伴うような場合でも、アクセス時間
を抑えることが可能となっている。
【0048】図4に示される本実施形態における書き込
み動作を、図8に示した従来のものと比較すると、偶数
行アドレス用のデュアルポートRAMに対して出力する
書き込みワード線WWD0の立ち下がりを基準として、
奇数行アドレス用のデュアルポートRAMに対して出力
する書き込みワード線WWD1の立ち上がりのタイミン
グが早められている。又、奇数行アドレス用のデュアル
ポートRAMに対して出力される書き込みワード線WW
D1の立ち下がりを基準として、偶数行アドレス用のデ
ュアルポートRAMに対して出力する書き込みワード線
WWD2の立ち上がりのタイミングが早められている。
このように、本実施形態では単に2つのデュアルポート
RAMを交互に選択するだけでなく、切替え先のワード
線の駆動を予め行っているため、ワード線の選択を切替
える場合でのアクセス時間の延長を抑えることが可能と
なっている。
み動作を、図8に示した従来のものと比較すると、偶数
行アドレス用のデュアルポートRAMに対して出力する
書き込みワード線WWD0の立ち下がりを基準として、
奇数行アドレス用のデュアルポートRAMに対して出力
する書き込みワード線WWD1の立ち上がりのタイミン
グが早められている。又、奇数行アドレス用のデュアル
ポートRAMに対して出力される書き込みワード線WW
D1の立ち下がりを基準として、偶数行アドレス用のデ
ュアルポートRAMに対して出力する書き込みワード線
WWD2の立ち上がりのタイミングが早められている。
このように、本実施形態では単に2つのデュアルポート
RAMを交互に選択するだけでなく、切替え先のワード
線の駆動を予め行っているため、ワード線の選択を切替
える場合でのアクセス時間の延長を抑えることが可能と
なっている。
【0049】図5は、本実施形態の読み出し動作を示す
タイムチャートである。
タイムチャートである。
【0050】リードアドレス発生回路42においては、
図5に示される如く、内蔵するカウンタはリセット信号
RRSTの立ち上がりでリセットされ“0”となった
後、クロック信号RCKの立ち上がり毎にインクリメン
トされ、読み出しアドレスRADが変更される。この読
み出しアドレスRADがリードアドレス発生回路42内
でプリデコードされて、リードポートワードドライバ1
6A及びリードポート列セレクタ18Aを用いるか、あ
るいはリードポートワードドライバ16B及びリードポ
ート列セレクタ18Bを用いるかが選択されると共に、
これらに対する該当するアドレスを出力する。この後
に、メモリセルアレイ10Aあるいは10Bの該当する
メモリセルから、出力データDOが読み出される。
図5に示される如く、内蔵するカウンタはリセット信号
RRSTの立ち上がりでリセットされ“0”となった
後、クロック信号RCKの立ち上がり毎にインクリメン
トされ、読み出しアドレスRADが変更される。この読
み出しアドレスRADがリードアドレス発生回路42内
でプリデコードされて、リードポートワードドライバ1
6A及びリードポート列セレクタ18Aを用いるか、あ
るいはリードポートワードドライバ16B及びリードポ
ート列セレクタ18Bを用いるかが選択されると共に、
これらに対する該当するアドレスを出力する。この後
に、メモリセルアレイ10Aあるいは10Bの該当する
メモリセルから、出力データDOが読み出される。
【0051】ここで、時刻t41から時刻t47まで
は、メモリセルアレイ10Aをアクセスする。時刻t4
8から時刻t49までは、メモリセルアレイ10Bをア
クセスする。時刻t50からは、メモリセルアレイ10
Aをアクセスする。
は、メモリセルアレイ10Aをアクセスする。時刻t4
8から時刻t49までは、メモリセルアレイ10Bをア
クセスする。時刻t50からは、メモリセルアレイ10
Aをアクセスする。
【0052】ここで、図5における時刻t43〜t47
では、クロック信号RCKの立ち上がりの際に、列アド
レスのみが変更される。これに対して、時刻t47から
t48の間、又時刻t49からt50までの間では、列
アドレスが“0”となるとともに、行アドレスが変更さ
れる。この行アドレス変更の際、本実施形態では、デュ
アルポートRAMの切替えがなされている。
では、クロック信号RCKの立ち上がりの際に、列アド
レスのみが変更される。これに対して、時刻t47から
t48の間、又時刻t49からt50までの間では、列
アドレスが“0”となるとともに、行アドレスが変更さ
れる。この行アドレス変更の際、本実施形態では、デュ
アルポートRAMの切替えがなされている。
【0053】又、このようなデュアルポートRAMの切
替えの際には、該切替えに先立って予め切替え先のデュ
アルポートRAMの行デコーダでのワード線の駆動が予
めなされている。従って、本実施形態では、このような
ワード線の切替えが伴うような場合でも、アクセス時間
を抑えることが可能となっている。
替えの際には、該切替えに先立って予め切替え先のデュ
アルポートRAMの行デコーダでのワード線の駆動が予
めなされている。従って、本実施形態では、このような
ワード線の切替えが伴うような場合でも、アクセス時間
を抑えることが可能となっている。
【0054】図5に示す如く、2つのデュアルポートR
AMを交互に用いた本実施形態における読み出し動作時
においても、図9に示した従来例のものに比べ、まず、
偶数行アドレス用のデュアルポートRAMに対して出力
する、読み出しワード線RWD0の立ち下がりを基準と
して、奇数行アドレス用のデュアルポートRAMに対し
て出力する読み出しワード線RWD1の立ち上がりが早
められている。又、奇数行アドレス用デュアルポートR
AMに対して出力する、読み出しワード線RWD1の立
ち下がりを基準とした、偶数行アドレス用のデュアルポ
ートRAMに対して出力される読み出しワード線RWD
2の立ち上がりのタイミングが早められている。このよ
うに、読み出し動作時にも、本実施形態では単に2つの
デュアルポートRAMを交互に用いるだけでなく、デュ
アルポートRAMの選択切替えを行う場合には、該選択
切替えに先立って切換先のデュアルポートRAMの行デ
コーダでの選択的なワード線の駆動を行うようにしてい
る。従って、読み出し動作時に、ワード線の選択が切替
えられる場合にも、本実施形態によればアクセス時間が
延長されてしまうことがない。
AMを交互に用いた本実施形態における読み出し動作時
においても、図9に示した従来例のものに比べ、まず、
偶数行アドレス用のデュアルポートRAMに対して出力
する、読み出しワード線RWD0の立ち下がりを基準と
して、奇数行アドレス用のデュアルポートRAMに対し
て出力する読み出しワード線RWD1の立ち上がりが早
められている。又、奇数行アドレス用デュアルポートR
AMに対して出力する、読み出しワード線RWD1の立
ち下がりを基準とした、偶数行アドレス用のデュアルポ
ートRAMに対して出力される読み出しワード線RWD
2の立ち上がりのタイミングが早められている。このよ
うに、読み出し動作時にも、本実施形態では単に2つの
デュアルポートRAMを交互に用いるだけでなく、デュ
アルポートRAMの選択切替えを行う場合には、該選択
切替えに先立って切換先のデュアルポートRAMの行デ
コーダでの選択的なワード線の駆動を行うようにしてい
る。従って、読み出し動作時に、ワード線の選択が切替
えられる場合にも、本実施形態によればアクセス時間が
延長されてしまうことがない。
【0055】ここで、入力データDI及び出力データD
Oを1ビットとする。又、メモリセルアレイ10A及び
10Bそれぞれにおける、行数をMとし、列数をNと
し、合計(M×N)個のメモリセルで構成されているも
のとする。すると、ライトアドレス発生回路32あるい
はリードアドレス発生回路42で生成される行アドレス
のビット幅は(log 2M/log 2)ビットとなり、列ア
ドレスのビット幅は(log 2N/log 2)ビットとな
る。
Oを1ビットとする。又、メモリセルアレイ10A及び
10Bそれぞれにおける、行数をMとし、列数をNと
し、合計(M×N)個のメモリセルで構成されているも
のとする。すると、ライトアドレス発生回路32あるい
はリードアドレス発生回路42で生成される行アドレス
のビット幅は(log 2M/log 2)ビットとなり、列ア
ドレスのビット幅は(log 2N/log 2)ビットとな
る。
【0056】この際、列アドレスの0〜(N−1)まで
が偶数行アドレス用のデュアルポートRAMに割り当て
られ、列アドレスN〜(2N−1)までが奇数行アドレ
ス用のデュアルポートRAMに割り当てられる。このよ
うに、本実施形態は前述の図2や図3に限定されるもの
ではなく、任意の行数及び列数のメモリセルアレイ10
Aや10Bを用いたものに適用することができる。なお
図2や図3に示されるごとく、前述の本実施形態では、
(M=8)であり、(N=4)である。
が偶数行アドレス用のデュアルポートRAMに割り当て
られ、列アドレスN〜(2N−1)までが奇数行アドレ
ス用のデュアルポートRAMに割り当てられる。このよ
うに、本実施形態は前述の図2や図3に限定されるもの
ではなく、任意の行数及び列数のメモリセルアレイ10
Aや10Bを用いたものに適用することができる。なお
図2や図3に示されるごとく、前述の本実施形態では、
(M=8)であり、(N=4)である。
【0057】以上説明した通り、本実施形態では本発明
を適用しながら、2つのデュアルポートRAMを交互に
用い、又デュアルポートRAMの選択切替えの際には、
該選択切替えに先立って、切替え先のデュアルポートR
AMの行デコーダでのワード線の駆動を行うことができ
る。従って、本実施形態によれば、連続するアドレスで
の順次データの書き込みの際の、あるいは、書き込み順
での順次読み出しの際の、ワード線の選択を切換える場
合に生じる前記デュアルポートRAMのアクセス時間の
延長を抑えることで、該デュアルポートRAMのアクセ
ス時間のボトルネックを抑え、該デュアルポートRAM
に対するアクセスを比較的簡単な回路構成で能率よく高
速に行うことができるという優れた効果を得ることがで
きる。
を適用しながら、2つのデュアルポートRAMを交互に
用い、又デュアルポートRAMの選択切替えの際には、
該選択切替えに先立って、切替え先のデュアルポートR
AMの行デコーダでのワード線の駆動を行うことができ
る。従って、本実施形態によれば、連続するアドレスで
の順次データの書き込みの際の、あるいは、書き込み順
での順次読み出しの際の、ワード線の選択を切換える場
合に生じる前記デュアルポートRAMのアクセス時間の
延長を抑えることで、該デュアルポートRAMのアクセ
ス時間のボトルネックを抑え、該デュアルポートRAM
に対するアクセスを比較的簡単な回路構成で能率よく高
速に行うことができるという優れた効果を得ることがで
きる。
【0058】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、連
続するアドレスでの順次データの書き込みの際の、ある
いは、書き込み順での順次読み出しの際の、ワード線の
選択を切換える場合に生じる前記デュアルポートRAM
のアクセス時間の延長を抑えることで、該デュアルポー
トRAMのアクセス時間のボトルネックを抑え、該デュ
アルポートRAMに対するアクセスを比較的簡単な回路
構成で能率よく高速に行うことができるという優れた効
果を得ることができる。
続するアドレスでの順次データの書き込みの際の、ある
いは、書き込み順での順次読み出しの際の、ワード線の
選択を切換える場合に生じる前記デュアルポートRAM
のアクセス時間の延長を抑えることで、該デュアルポー
トRAMのアクセス時間のボトルネックを抑え、該デュ
アルポートRAMに対するアクセスを比較的簡単な回路
構成で能率よく高速に行うことができるという優れた効
果を得ることができる。
【図1】本発明が適用されるデュアルポートRAMを用
いたFIFOの実施形態の構成を示すブロック図
いたFIFOの実施形態の構成を示すブロック図
【図2】前記実施形態に用いられる偶数行アドレス用の
デュアルポートRAMのメモリセル構成を示す線図
デュアルポートRAMのメモリセル構成を示す線図
【図3】前記実施形態に用いられる奇数行アドレス用の
デュアルポートRAMのメモリセル構成を示す線図
デュアルポートRAMのメモリセル構成を示す線図
【図4】前記実施形態での書き込み動作を示すタイムチ
ャート
ャート
【図5】前記実施形態での読み出し動作を示すタイムチ
ャート
ャート
【図6】従来のデュアルポートRAMを用いるFIFO
の構成を示すブロック図
の構成を示すブロック図
【図7】前記従来例のデュアルポートRAMのメモリセ
ル構成を示す線図
ル構成を示す線図
【図8】前記従来例での書き込み動作を示すタイムチャ
ート
ート
【図9】前記従来例での読み出し動作を示すタイムチャ
ート
ート
10、10A、10B…メモリセルアレイ 12、12A、12B…ライトポートワードドライバ 14、14A、14B…ライトポート列セレクタ 16、16A、16B…リードポートワードドライバ 18、18A、18B…リードポート列セレクタ 32、32A…ライトアドレス発生回路 34、34A…入力回路 42、42A…リードアドレス発生回路 44、44A…出力回路 46、46A…フラグ発生回路 WEN、WE、REN、RE…選択信号 WRST、RRST…リセット信号 WCK、RCK…クロック信号 WWD0〜WWD7…書き込みワード線 RWD0〜RWD7…読み出しワード線 DI…入力データ DO…出力データ FUL…フルフラグ EPT…エンプティフラグ ts、tr…時間 WAD…書き込みアドレス RAD…読み出しアドレス
Claims (1)
- 【請求項1】行デコーダ、該行デコーダで選択的に駆動
するワード線、列セレクタ、及び、該列セレクタで選択
されるビット線で構成されるアドレス指定手段を2組有
するデュアルポートランダムアクセスメモリを備え、該
デュアルポートランダムアクセスメモリに対して、一方
のアドレス指定手段から連続するアドレスで順次書き込
んだデータを、他方のアドレス指定手段から書き込んだ
順に読み出すファーストイン・ファーストアウトメモリ
装置において、 偶数行アドレス用の前記デュアルポートランダムアクセ
スメモリ、及び奇数行アドレス用の前記デュアルポート
ランダムアクセスメモリの、2組の前記デュアルポート
ランダムアクセスメモリと、 1つのワード線に接続される全ビットに対する順次書き
込み後毎の、ワード線の選択切換え毎に、アクセス対象
の前記デュアルポートランダムアクセスメモリを変更す
ることで交互に、2組の前記デュアルポートランダムア
クセスメモリに跨がって、連続するアドレスで順次デー
タを書き込むためのアドレスを発生すると共に、前記デ
ュアルポートランダムアクセスメモリの選択切換えの際
には、該選択切換えに先立って予め切換え先の前記デュ
アルポートランダムアクセスメモリの前記行デコーダで
の選択的なワード線の駆動を行うライトアドレス発生回
路と、 1つのワード線に接続される全ビットに対する書き込み
順の順次読み出し後毎の、ワード線の選択切換え毎に、
アクセス対象の前記デュアルポートランダムアクセスメ
モリを変更することで交互に、2組の前記デュアルポー
トランダムアクセスメモリに跨がって、書き込み順の順
次読み出しのためのアドレスを発生すると共に、前記デ
ュアルポートランダムアクセスメモリの選択切換えの際
には、該選択切換えに先立って予め切換え先の前記デュ
アルポートランダムアクセスメモリの前記行デコーダで
の選択的なワード線の駆動を行うリードアドレス発生回
路とを備え、 連続するアドレスでの順次データの書き込みの際にも、
又、書き込み順での順次読み出しの際にも、偶数行アド
レス用の前記デュアルポートランダムアクセスメモリへ
のアクセス、及び奇数行アドレス用の前記デュアルポー
トランダムアクセスメモリへのアクセスを、ワード線の
選択を切換える毎に交互に行うようにしたことを特徴と
するファーストイン・ファーストアウトメモリ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7333444A JPH09180433A (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | ファーストイン・ファーストアウトメモリ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7333444A JPH09180433A (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | ファーストイン・ファーストアウトメモリ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09180433A true JPH09180433A (ja) | 1997-07-11 |
Family
ID=18266178
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7333444A Pending JPH09180433A (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | ファーストイン・ファーストアウトメモリ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09180433A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004192694A (ja) * | 2002-12-10 | 2004-07-08 | Renesas Technology Corp | 半導体記憶装置 |
| JP2007531957A (ja) * | 2003-07-14 | 2007-11-08 | フルクラム・マイクロシステムズ・インコーポレーテッド | 非同期スタティックランダムアクセスメモリ |
| US20120030447A1 (en) * | 2004-09-01 | 2012-02-02 | Texas Instruments Incorporated | Process, circuits, devices, and systems for encryption and decryption and other purposes, and processes of making |
| JP5212100B2 (ja) * | 2006-03-30 | 2013-06-19 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体メモリおよびメモリシステム |
-
1995
- 1995-12-21 JP JP7333444A patent/JPH09180433A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004192694A (ja) * | 2002-12-10 | 2004-07-08 | Renesas Technology Corp | 半導体記憶装置 |
| JP2007531957A (ja) * | 2003-07-14 | 2007-11-08 | フルクラム・マイクロシステムズ・インコーポレーテッド | 非同期スタティックランダムアクセスメモリ |
| US20120030447A1 (en) * | 2004-09-01 | 2012-02-02 | Texas Instruments Incorporated | Process, circuits, devices, and systems for encryption and decryption and other purposes, and processes of making |
| US8671254B2 (en) * | 2004-09-01 | 2014-03-11 | Texas Instruments Incorporated | Processes, circuits, devices, and systems for concurrent dual memory access in encryption and decryption |
| JP5212100B2 (ja) * | 2006-03-30 | 2013-06-19 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体メモリおよびメモリシステム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051018 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051025 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060307 |