JPH09190652A - 光磁気記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 情報のオーバーライトを確実に行うことので
きる光磁気記録媒体を提供する。 【解決手段】 少なくともメモリー層とライティング層
とスイッチング層と初期化層から成り、かつ、これらの
層は室温において交換結合しており、情報のオーバーラ
イトが可能な光磁気記録媒体において、ユーザーデータ
領域以外のデータトラックの初期化層に、低レベル記録
パワーを求めるためのテストパターンが記録されている
オーバーライト可能な光磁気記録媒体。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ビームの照射に
よる情報のオーバーライトが可能な光磁気記録媒体に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ビームの照射によって情報の記
録・再生が行える光記録媒体として光磁気記録媒体が知
られている。光磁気記録媒体は、情報の書き換えが何度
でも可能であるという利点をもっているが、情報の記録
に先立って消去用光ビームの照射と消去用磁界の印加に
よって情報の消去が必要であるため、情報の記録速度が
若干遅いという欠点をもっていた。しかし、この欠点も
特開昭６３−２６８１０３に示されるようなオーバライ
ト可能な光磁気記録媒体の発明によって克服された。こ
の光磁気記録媒体は、メモリー層、ライティング層、ス
イッチング層および初期化層からなる交換結合４層膜を
有している。そして、記録光ビームの制御によって記録
膜の温度を高温プロセス（または記録プロセス）がおき
る温度と、低温プロセス（または消去プロセス）がおき
る温度の間でスイッチングして情報のオーバーライトを
行っている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、オーバ
ーライト可能な光磁気記録媒体では、情報の再生は高温
プロセスも低温プロセスもおきないような低エネルギー
の光ビームを照射して行い、情報のオーバーライトは高
温プロセスをおこすに十分な高エネルギーの光ビームと
低温プロセスはおこすが高温プロセスはおこさない程度
の中程度のエネルギーの光ビームを記録する情報によっ
て制御して照射しなければならない。このためオーバー
ライト可能な光磁気記録媒体を使用する場合は、オーバ
ーライトが不可能な光磁気記録媒体に情報を消去・記録
・再生する場合よりも、光ビームのエネルギーを高精度
に制御しなければならない。特に情報のオーバーライト
を確実に行うためには、低温プロセス部分の温度で確実
に低温プロセスがおき、かつ高温プロセスがおきないよ
うに光ビームのエネルギーを制御しなければならない。
低温プロセス部分の光ビームエネルギーの最適値を見出
す方法として、例えば、まずテストパターンを記録した
後、このテストパターンに低温プロセス用の光ビームの
パワーを変化させて照射し、パターンが消去されるパワ
ーを求める方法がある。しかし、このような方法で求め
たパワーでは、テストパターンを記録したパワーよりも
大きなパワーで記録されたマークを消去できることが保
証されないという問題がある。さらには、ドライブ装置
ではマークが完全に消去されたことを検知することが困
難であるという問題もある。

【０００４】この発明の目的は、上記問題点を解決し、
情報のオーバーライトを確実に行うことのできる光磁気
記録媒体を提供することである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、少なく
ともメモリー層とライティング層とスイッチング層と初
期化層から成り、かつ、これらの層は室温において交換
結合しており、情報のオーバーライトが可能な光磁気記
録媒体において、ユーザーデータ領域以外のデータトラ
ックの初期化層に低レベル記録パワーを求めるためのテ
ストパターンが記録されているオーバーライト可能な光
磁気記録媒体によって達成される。

【０００６】

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態は、以下の実
施例において詳細に説明する。

【０００７】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細
に説明する。 実施例１ 図１は本発明の光ディスクの一例を示した模式的平面図
である。図１において、１は透明基板上に光磁気記録層
が形成された直径８６ｍｍの光磁気ディスクであり、裏
面には紫外線硬化樹脂からなる保護層がコーティングさ
れている。光磁気ディスク１は、半径２２．５ｍｍから
半径４１．５ｍｍの間にトラックピッチ１．１μｍでデ
ータトラックが形成されている。２で示す半径２３．７
ｍｍから４１．０ｍｍの範囲はユーザーデータ領域で、
ユーザーデータやユーザーデータを管理するための情報
がこの領域に記録されている。３は初期化層に低レベル
記録パワーを求めるためのテストパターンが記録されて
いる領域で、ユーザーデータ領域２よりも内周側と外周
側にトラックに１周分づつ設けてある。本実施例では半
径２３．５ｍｍと半径４１．２ｍｍの半径位置にディス
ク１周にわたって初期化層に低レベル記録パワーを求め
るためのテストパターンが記録されている領域を設け
た。図２に３の領域の断面を拡大した模式図を示す。４
は透明基板、５は情報の保持および読み出しを行うため
のメモリー層、６はメモリー層５に情報を転写してオー
バーライトを行うための前記メモリー層５に対して室温
において小さい保磁力と高いキュリー温度を有するライ
ティング層、７は初期化層８からライティング層６への
磁化の転写を制御するための４層の中で最もキュリー温
度が低いスイッチング層、８はライティング層６を初期
化するためのあらかじめ所定の磁化方向に着磁され、且
つ４層の中で最もキュリー温度の高い初期化層である。
初期化層８には低レベル記録パワーを求めるためのテス
トパターンが着磁してある。このテストパターンは、ド
ライブ装置での低レベル記録パワーの検出を容易にする
ために、ユーザーデータを記録すると同一の記録方式で
同一のフォーマットで着磁した。本実施例では（１，
７）変調された後に６Ｔマーク−６Ｔスペースの繰り返
しパターンとなるデータを着磁した。テストパターンの
着磁は、特別の高い記録パワーを出すことのできる記録
装置を用いて行った。本実施例に用いたオーバーライト
可能な光磁気ディスクは、３０００ｒｐｍで回転させて
半径２３．５ｍｍ位置のトラックでは低レベル記録パワ
ー３．６ｍＷ、高レベル記録８．５ｍＷで通常の記録が
でき、半径４１．２ｍｍ位置のトラックでは低レベル記
録パワー４．６ｍＷ、高レベル記録パワー１０．６ｍＷ
で通常の記録が行えるものである。このオーバーライト
可能な光磁気ディスクを３０００ｒｐｍで回転して、半
径２３．５ｍｍ位置のトラックでは低レベル記録パワー
３．６ｍＷ、高レベル記録パワー１７．５ｍＷで５００
Ｏｅの記録磁界を印加して光変調記録方式で初期化層に
マークを記録した。また、半径４１．２ｍｍ位置のトラ
ックでは低レベル記録パワー４．６ｍＷ、高レベル記録
パワー２１．８ｍＷで５００Ｏｅの記録磁界を印加して
光変調記録方式で初期化層にマークを記録した。

【０００８】次に、この光磁気ディスクを用いて低レベ
ル記録パワーを求める手順を図３、図４および図５を用
いて説明する。図３（ａ）はメモリー層を初期化するス
テップを説明する図、図３（ｂ）はメモリー層にテスト
パターンを転写するステップを説明する図、図４は低レ
ベル記録パワーを求める手順のブロック図、図５は低レ
ベル記録パワーを求めるのに用いるドライブ装置のブロ
ック図である。まずメモリー層を初期化するステップ１
は、この光磁気ディスク１の初期化層に低レベル記録パ
ワーを求めるためのテストパターンが記録されている領
域３において、図５に示すように磁界印加装置１４から
記録磁界Ｈｗを印加しながらレーザー光を高レベル記録
パワーで連続的に照射する。ここで、高レベル記録パワ
ーとは初期化層８を反転させることはなくメモリー層５
とライティング層６の磁化を記録磁界Ｈｗの方向に向け
るのに十分な記録パワーのことである。このステップ１
によってメモリー層５の磁化は記録磁界Ｈｗの方向に一
様に並ぶ。このときライティング層６にはレーザ光照射
部を通過した後に初期化層８とスイッチング層７の働き
によって初期化層８に着磁されているテストパターンが
転写される。次にメモリー層５にテストパターンを転写
するステップ２では、図３（ｂ）に示すようにレーザ光
を高レベル記録パワーよりも低いパワーで照射する。こ
のとき、セクター毎に照射するレーザー光のパワーを変
化させて照射した。レーザー光のパワーを変化させる範
囲はメモリー層５にテストパターンが転写されると想定
されるレーザーパワー（この値は光磁気ディスクの特性
と記録線速度によって決まる）よりも小さなパワーから
大きなパワーまで変化させるようにする。本実施例では
半径２３．５ｍｍ位置のトラックでは２．６ｍＷから
４．６ｍＷまで０．１ｍＷ刻みで変化させ、半径４１．
２ｍｍ位置のトラックでは３．６ｍＷから５．６ｍＷま
で０．１ｍＷ刻みで変化させた。レーザー光を照射した
後この領域に再生レーザー光を照射してテストパターン
の再生を試み（ステップ３）、テストパターンが誤りな
く読み出せるセクターを探す。テストパターンが読み出
せるセクターを探すには、図５の再生信号処理回路１２
によってユーザーデータを読み出すのと同じ処理を行
い、エラーなくテストパターンとして記録してあったデ
ータが読み出せるセクターを探した。ステップ４でテス
トパターンが読み出せたセクターに照射した記録パワー
のうち最も小さな記録パワーを検出する。こうして求め
た記録パワーが、この媒体にオーバーライトを行うため
に必要な低レベル記録パワーである。ステップ３でテス
トパターンがエラーなく読み出せるセクターが見つから
ない場合は、あらかじめ想定していたレーザーパワーの
範囲にオーバーライト可能な低レベル記録パワーが存在
しないことを示しているので、この場合はエラー処理を
行う。エラー処理としては、ステップ２で照射するレー
ザーパワー範囲を変えて再度ステップ１からやり直す、
またはエラーを通知して処理を中断するなどの処理を行
えばよい。このようにしてこの光磁気ディスクに必要な
低レベル記録パワーを求めることができる。なお、上記
の一連のテストにおいてレーザーパワーの制御や低レベ
ル記録パワーの検出は図５のＣＰＵ１３によって制御さ
れている。ドライブ装置はこうして求めた低レベル記録
パワーの値でオーバーライトを行えばよい。さらに、光
磁気ディスクの記録感度のむら、ドライブ装置のフォー
カス、トラックサーボの変動、温度の変動などの影響を
考慮して、この値に一定比率でマージンを加えた低レベ
ル記録パワーの値でオーバーライトを行えばより信頼性
の高い記録が行える。マージンの比率としては、１．０
５倍から１．２倍程度が好ましい。また、内外周のテス
トパターンが着磁してある領域で求めた低レベル記録パ
ワーの値を用いて、他の半径位置における低レベル記録
パワーの値は内挿して求めることができる。さらには、
上記のテストにおいてステップ２で最も小さなレーザー
パワーで照射したセクターがステップ３でエラーなく読
み出せた場合にも、あらかじめ想定していたレーザーパ
ワーの範囲にオーバーライト可能な低レベル記録パワー
が存在しないことを示しているので、この場合にもエラ
ー処理を行うようにしてもよい。

【０００９】上記実施例は本発明の一例を示すものであ
って、媒体の作成を容易にするためにメモリー層とライ
ティング層の間に交換結合力を調整するための中間層を
設けたり、再生特性を向上するために再生層を設けるな
ど、実施例に示していない他の補助層を設けてもよいこ
とは言うまでもない。

【００１０】

【発明の効果】以上述べたように、本発明の光磁気記録
媒体を用いれば、ドライブ装置に特別な検出手段を設け
ることなく、ドライブ装置が通常備えているデータ検出
機構だけを用いて媒体に適した低レベル記録パワーを求
めることができる。したがって情報のオーバーライトを
確実に行うことが可能となった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光磁気記録媒体の一例である光ディス
クを示した模式的平面図である。

【図２】本発明の低レベル記録パワーを求めるためのテ
ストパターンが記録されている領域の模式的断面図であ
る。

【図３】（ａ）はテストパターンを記録する領域のメモ
リー層を初期化するステップを説明する図であり、
（ｂ）はメモリー層にテストパターンを転写するステッ
プを説明する図である。

【図４】本発明の低レベル記録パワーを求める手順のブ
ロック図である。

【図５】本発明の低レベル記録パワーを求めるのに用い
るドライブ装置のブロック図である。

【符号の説明】

１ 光ディスク（光磁気記録媒体） ２ ユーザーデータ領域 ３ テストパターンが着磁されている領域 ４ 透明基板 ５ メモリー層 ６ ライティング層 ７ スイッチング層 ８ テストパターンが着磁された初期化層

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 少なくともメモリー層とライティング層
   とスイッチング層と初期化層から成り、かつ、これらの
   層は室温において交換結合しており、情報のオーバーラ
   イトが可能な光磁気記録媒体において、ユーザーデータ
   領域以外のデータトラックの初期化層に、低レベル記録
   パワーを求めるためのテストパターンが記録されている
   オーバーライト可能な光磁気記録媒体。
2. 【請求項２】 初期化層に記録されている低レベル記録
   パワーを求めるためのテストパターンが、ユーザーデー
   タ領域で用いるパターンと同一の変調方式で変調された
   パターンである、請求項１に記載の光磁気記録媒体。