JPH09192122A - Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents
Ｘ線コンピュータ断層撮影装置Info
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- JPH09192122A JPH09192122A JP8350303A JP35030396A JPH09192122A JP H09192122 A JPH09192122 A JP H09192122A JP 8350303 A JP8350303 A JP 8350303A JP 35030396 A JP35030396 A JP 35030396A JP H09192122 A JPH09192122 A JP H09192122A
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- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 125000002066 L-histidyl group Chemical group [H]N1C([H])=NC(C([H])([H])[C@](C(=O)[*])([H])N([H])[H])=C1[H] 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 面状検出器を有するＸ線コンピュータ断層撮
影装置を、検出器素子からの情報の読み取りに関して最
適化することである。 【解決手段】 上記課題は、各部分検出器の中のそれぞ
れ１つの検出器素子が同時に読み取られることによって
解決される。
影装置を、検出器素子からの情報の読み取りに関して最
適化することである。 【解決手段】 上記課題は、各部分検出器の中のそれぞ
れ１つの検出器素子が同時に読み取られることによって
解決される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線コンピュータ
断層撮影装置に関する。
断層撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線コンピュータ断層撮影法において
は、管電力は、本質的な限界値を示す。この理由は、ビ
ーム円錐全体から狭幅扇状ビームのみが絞りによって取
り出されて利用されるからである。もし既存線量をより
良く利用することに成功すれば、所定の容積体を比較的
短い時間で撮影することができ、又は所定の時間（例え
ば、患者が息を止めている時間）内により大きな容積体
を撮影することができるだろう。管線量の利用を改善す
るためには、検出器が装置軸の方向（ｚ方向）に広がっ
て延在していなければならない（面状検出器）。ｚ方向
の解像力が劣化しないように、検出器は、ｚ方向におい
て、それぞれ一列に並んだ検出器素子から成る複数の平
行な行に分割されていなければならない。各検出器素子
には、装置クロックＴの間に情報が蓄積され、次いでこ
の情報が読み取られる。極めて多数（Ｍ*Ｎ）個の検出
器素子のため、全ての素子を同時に（又はほとんど同時
に）読みとることはできない。従って、この読み取り
を、部分的にシーケンシャルに行わざるをえない。その
後、このシーケンシャル信号は、Ａ/Ｄ変換器が接続さ
れた複数の増幅器に供給される。
は、管電力は、本質的な限界値を示す。この理由は、ビ
ーム円錐全体から狭幅扇状ビームのみが絞りによって取
り出されて利用されるからである。もし既存線量をより
良く利用することに成功すれば、所定の容積体を比較的
短い時間で撮影することができ、又は所定の時間（例え
ば、患者が息を止めている時間）内により大きな容積体
を撮影することができるだろう。管線量の利用を改善す
るためには、検出器が装置軸の方向（ｚ方向）に広がっ
て延在していなければならない（面状検出器）。ｚ方向
の解像力が劣化しないように、検出器は、ｚ方向におい
て、それぞれ一列に並んだ検出器素子から成る複数の平
行な行に分割されていなければならない。各検出器素子
には、装置クロックＴの間に情報が蓄積され、次いでこ
の情報が読み取られる。極めて多数（Ｍ*Ｎ）個の検出
器素子のため、全ての素子を同時に（又はほとんど同時
に）読みとることはできない。従って、この読み取り
を、部分的にシーケンシャルに行わざるをえない。その
後、このシーケンシャル信号は、Ａ/Ｄ変換器が接続さ
れた複数の増幅器に供給される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、面状
検出器を有するＸ線コンピュータ断層撮影装置を、各検
出器素子からの情報の読み取りに関して最適化すること
である。
検出器を有するＸ線コンピュータ断層撮影装置を、各検
出器素子からの情報の読み取りに関して最適化すること
である。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題は、 Ｘ線ビー
ム発生器と面状検出器とから成る測定装置を有してお
り、前記面状検出器は、一列に配置された複数の部分検
出器から構成されており、前記各部分検出器の各々は、
各検出器素子のマトリックスから構成されており、前記
各部分検出器の中のそれぞれ１つの検出器素子が同時に
読み取られることによって解決される。
ム発生器と面状検出器とから成る測定装置を有してお
り、前記面状検出器は、一列に配置された複数の部分検
出器から構成されており、前記各部分検出器の各々は、
各検出器素子のマトリックスから構成されており、前記
各部分検出器の中のそれぞれ１つの検出器素子が同時に
読み取られることによって解決される。
【０００５】有利な実施形態は従属請求項から得られ
る。
る。
【０００６】
【発明の実施の形態】本発明を以下に図面に基づいて詳
しく説明する。
しく説明する。
【０００７】図１には、Ｘ線ビーム発生器の焦点１が図
示され、この焦点１からここには図示されていない絞り
によって形成されたピラミッド形状のＸ線ビーム束２が
放射されている。このＸ線ビーム束２は、対象３を透過
し、検出器４に照射されている。この検出器４は、複数
の平行な検出器行から構成される。各検出器行は、一列
に並んだ検出器素子から形成されている。測定装置１、
４は、装置軸６のまわりを回転することができ、従っ
て、対象３は、種々の異なる投影方向から透射される。
この時形成される検出器信号から、コンピュータ７が、
対象３の画像を計算し、この画像はモニター８に表示さ
れる。検出器信号の検出は、マルチプレクサ９によって
行われる。
示され、この焦点１からここには図示されていない絞り
によって形成されたピラミッド形状のＸ線ビーム束２が
放射されている。このＸ線ビーム束２は、対象３を透過
し、検出器４に照射されている。この検出器４は、複数
の平行な検出器行から構成される。各検出器行は、一列
に並んだ検出器素子から形成されている。測定装置１、
４は、装置軸６のまわりを回転することができ、従っ
て、対象３は、種々の異なる投影方向から透射される。
この時形成される検出器信号から、コンピュータ７が、
対象３の画像を計算し、この画像はモニター８に表示さ
れる。検出器信号の検出は、マルチプレクサ９によって
行われる。
【０００８】図２は、検出器４が一列に並んだ部分検出
器１０〜１４から構成されることを示している。各部分
検出器１０〜１４は、Ｋ*Ｎ個の検出器素子のマトリッ
クスを有する。
器１０〜１４から構成されることを示している。各部分
検出器１０〜１４は、Ｋ*Ｎ個の検出器素子のマトリッ
クスを有する。
【０００９】図３は、Ｍ＝９、Ｋ＝３、Ｎ＝４の場合の
読み取りパターンを示している。ただし、Ｍは行毎の検
出器素子の個数である。その都度読み取られる検出器素
子を枠で囲って示す。この枠で囲られた検出器素子は、
その都度所定の時間に読み取られる。この読み取りは、
図３ではジグザグに行われる。
読み取りパターンを示している。ただし、Ｍは行毎の検
出器素子の個数である。その都度読み取られる検出器素
子を枠で囲って示す。この枠で囲られた検出器素子は、
その都度所定の時間に読み取られる。この読み取りは、
図３ではジグザグに行われる。
【００１０】各素子は列毎に読み取られる。水平方向に
隣接する各素子の各読み取り間の時間的間隔が、各部分
検出器１０等の各境界に亙って一定であるように、隣接
する素子の読み取りサイクルはＴ/Ｎだけずらされなけ
ればならない。水平方向に隣接する素子は、時間Ｔ/
（Ｋ*Ｎ）だけずらされて読み取られ、垂直方向に隣接
する素子は、時間Ｔ/Ｎだけずらされて読み取られる。
隣接する各素子の各読み取り間の時間的間隔が、各部分
検出器１０等の各境界に亙って一定であるように、隣接
する素子の読み取りサイクルはＴ/Ｎだけずらされなけ
ればならない。水平方向に隣接する素子は、時間Ｔ/
（Ｋ*Ｎ）だけずらされて読み取られ、垂直方向に隣接
する素子は、時間Ｔ/Ｎだけずらされて読み取られる。
【００１１】図４は、Ｍ＝９、Ｋ＝３、Ｎ＝４の場合の
一つの読み取りパターンを示している。この読み取りパ
ターンにおいては、枠で囲まれた各検出器素子は、その
都度所定の時間に読み取られ、この読み取りは、行毎、
列毎に行われる。部分検出器の読み取りの間の時間的な
ずれは必要不可欠ではない。水平方向に隣接する素子
は、時間Ｔ/Ｋだけずらされて読み取られ、垂直方向に
隣接する素子は、時間Ｔ/（Ｋ*Ｎ）だけずらされて読み
取られる。
一つの読み取りパターンを示している。この読み取りパ
ターンにおいては、枠で囲まれた各検出器素子は、その
都度所定の時間に読み取られ、この読み取りは、行毎、
列毎に行われる。部分検出器の読み取りの間の時間的な
ずれは必要不可欠ではない。水平方向に隣接する素子
は、時間Ｔ/Ｋだけずらされて読み取られ、垂直方向に
隣接する素子は、時間Ｔ/（Ｋ*Ｎ）だけずらされて読み
取られる。
【００１２】部分検出器の部分にそれぞれ信号変換器列
を備えつけることも可能である。そうすれば、これらの
分割部に上述した両方のパターンを適用することもでき
る。この場合、Ｋ及びＮは、この分割部の大きさであ
る。
を備えつけることも可能である。そうすれば、これらの
分割部に上述した両方のパターンを適用することもでき
る。この場合、Ｋ及びＮは、この分割部の大きさであ
る。
【００１３】図４は、部分検出器１０等々の各々から、
それぞれ互いに相応する検出器素子、つまりマトリック
スの同じ位置にある検出器素子が同時に読み取られるこ
とを示している。
それぞれ互いに相応する検出器素子、つまりマトリック
スの同じ位置にある検出器素子が同時に読み取られるこ
とを示している。
【図１】本発明の技術思想を説明するための面状検出器
を有するＸ線コンピュータ断層撮影装置の概略図であ
る。
を有するＸ線コンピュータ断層撮影装置の概略図であ
る。
【図２】図１に図示されているコンピュータ断層撮影装
置における面状検出器の概略図である。
置における面状検出器の概略図である。
【図３】図１及び図２に図示されている面状検出器の読
み取りに関する図式的な概略図である。
み取りに関する図式的な概略図である。
【図４】図１及び図２に図示されている面状検出器の読
み取りに関する図式的な概略図である。
み取りに関する図式的な概略図である。
１ 焦点 ２ Ｘ線ビーム束 ３ 対象 ４ 検出器 ６ 装置軸 ７ コンピュータ ８ モニター ９ マルチプレクサ １０〜１４ 部分検出器
Claims (3)
- 【請求項１】 Ｘ線ビーム発生器（１）と面状検出器
（４）とから成る測定装置を有しており、前記面状検出
器（４）は、一列に配置された複数の部分検出器（１０
等）から構成されており、前記各部分検出器（１０等）
の各々は、各検出器素子のマトリックスから構成されて
おり、前記各部分検出器（１０等）の中のそれぞれ１つ
の検出器素子が同時に読み取られることを特徴とするＸ
線コンピュータ断層撮影装置。 - 【請求項２】 検出器素子は、ジグザグに読み取られる
こと（図３）を特徴とする請求項１記載のＸ線コンピュ
ータ断層撮影装置。 - 【請求項３】 各部分検出器（１０等）から、常に互い
に相応する検出器素子が同時に読み取られること（図
４）を特徴とする請求項１記載のＸ線コンピュータ断層
撮影装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19600115.3 | 1996-01-03 | ||
| DE19600115A DE19600115C1 (de) | 1996-01-03 | 1996-01-03 | Röntgen-Computertomograph |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09192122A true JPH09192122A (ja) | 1997-07-29 |
| JP4035190B2 JP4035190B2 (ja) | 2008-01-16 |
Family
ID=7782121
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35030396A Expired - Fee Related JP4035190B2 (ja) | 1996-01-03 | 1996-12-27 | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置の検出器素子の読み取りのための方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5737382A (ja) |
| JP (1) | JP4035190B2 (ja) |
| CN (1) | CN1131700C (ja) |
| DE (1) | DE19600115C1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005349187A (ja) * | 2004-05-11 | 2005-12-22 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置、放射線検出器および放射線検出器における電気信号の読出方法 |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5867554A (en) * | 1996-06-20 | 1999-02-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Spiral scan computed tomography apparatus having a modular surface detector for radiation |
| DE19731927A1 (de) * | 1997-07-24 | 1999-02-11 | Sirona Dental Systems Gmbh | Röntgendiagnostikgerät für Tomosynthese |
| US6404909B2 (en) * | 1998-07-16 | 2002-06-11 | General Electric Company | Method and apparatus for processing partial lines of scanned images |
| US6081576A (en) * | 1998-08-25 | 2000-06-27 | General Electric Company | Scalable data acquisition system |
| US6175611B1 (en) * | 1998-10-06 | 2001-01-16 | Cardiac Mariners, Inc. | Tiered detector assembly |
| US6256372B1 (en) * | 1999-03-16 | 2001-07-03 | General Electric Company | Apparatus and methods for stereo radiography |
| AU4603400A (en) | 1999-05-10 | 2000-11-21 | Yves Chartier | Energy selective detection systems |
| DE19922346C2 (de) * | 1999-05-14 | 2003-06-18 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung für Tomosynthese oder Schichtung |
| WO2003051201A2 (en) * | 2001-12-14 | 2003-06-26 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Virtual spherical anode computed tomography |
| US7054409B2 (en) * | 2002-12-31 | 2006-05-30 | General Electric Company | Volumetric CT system and method utilizing multiple detector panels |
| DE10307752B4 (de) * | 2003-02-14 | 2007-10-11 | Siemens Ag | Röntgendetektor |
| US20080080666A1 (en) * | 2004-09-29 | 2008-04-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Computed Tomography Imaging With Rotated Detection Modules |
| US8111804B2 (en) | 2005-05-31 | 2012-02-07 | Arineta Ltd. | Graded resolution field of view CT scanner |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5355309A (en) * | 1992-12-30 | 1994-10-11 | General Electric Company | Cone beam spotlight imaging using multi-resolution area detector |
| JP3449561B2 (ja) * | 1993-04-19 | 2003-09-22 | 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US5430784A (en) * | 1994-02-28 | 1995-07-04 | General Electric Company | Computerized tomography imaging using multi-slice detector with selectable slice thickness |
| JP3168824B2 (ja) * | 1994-04-30 | 2001-05-21 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1996
- 1996-01-03 DE DE19600115A patent/DE19600115C1/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-11-25 CN CN96114578.1A patent/CN1131700C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-12-03 US US08/754,035 patent/US5737382A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-12-27 JP JP35030396A patent/JP4035190B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005349187A (ja) * | 2004-05-11 | 2005-12-22 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置、放射線検出器および放射線検出器における電気信号の読出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5737382A (en) | 1998-04-07 |
| DE19600115C1 (de) | 1997-01-30 |
| CN1131700C (zh) | 2003-12-24 |
| CN1153627A (zh) | 1997-07-09 |
| JP4035190B2 (ja) | 2008-01-16 |
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