JPH09193451A - 画像形成装置の光走査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】感光体の全面にわたり弱露光部を適正かつ均一
に制御することのできる画像形成装置の光走査装置を提
供する。 【解決手段】感光体全体が弱露光部になっているときに
感光体全体の弱露光部電位を検知する弱露光部電位検知
手段と、前記弱露光部電位検知手段の検知データを記憶
する記憶手段と、それぞれの弱露光部電位が適正かつ均
一になるように露光光源の光出力をコントロールする演
算手段とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は画像形成装置の光走
査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図２に従来の画像形成装置の光走査装置
を示す。半導体レーザ光源１から出た光はコリメータレ
ンズ２で平行な光にされ、回転多面鏡４の面倒れ補正の
ために設けられているシリンダレンズ３を通過し、回転
多面鏡４により偏向走査される。この後、Ｆθレンズ５
により帯電器２０によって帯電された感光体６上へ結像
される。また、レーザ光は画像データによって強度が変
調され、感光体６上に静電潜像が形成される。回転多面
鏡やＦθレンズ等の部品は図３に示すような入射角αに
よって光の反射率が変化することが知られている。一般
にαが小さいときよりも大きいときの方が光の反射率は
高くなる。つまり、Ｆθレンズ等の透明な光学部品の場
合は、αが小さいときよりも大きいときの方が光の透過
率が低くなる。その他、光学部品に付着した塵や光走査
装置の偏向角度等によっても光の透過率が変わる場合が
ある。

【０００３】以上のような様々な原因により図２に示す
ような従来の光走査装置においては、偏向角度によっ
て、感光体上に照射される光の強度が変化する。そのた
め、走査方向の表面電位が均一でなくなっていた。ま
た、感光体の走査方向の感度、帯電能力のばらつきある
いは帯電器２０の帯電変動やむらによっても表面電位は
均一でなくなってしまっていた。

【０００４】また、画像形成方式の一つとして、均一に
帯電した感光体上に、非露光部、弱露光部および強露光
部からなる静電潜像を形成し、前記非露光部および強露
光部に現像剤を供給して可視像を形成する方式のものが
ある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】この方式においては、
印刷物の背景部に相当する弱露光部の電位が変動してし
まうと、背景部に現像剤を付着させてしまうことにな
り、印刷品質に重大な影響を及ぼしてしまう。

【０００６】本発明の目的は、感光体の全面にわたり弱
露光部を適正かつ均一に制御することのできる画像形成
装置の光走査装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的は、均一に帯電
した感光体上に、非露光部、弱露光部および強露光部か
らなる静電潜像を形成し、前記非露光部および強露光部
に現像剤を供給して可視像を形成する画像形成装置の光
走査装置において、前記感光体全体が弱露光部になって
いるときに感光体全体の弱露光部電位を検知する弱露光
部電位検知手段と、前記弱露光部電位検知手段の検知デ
ータを記憶する記憶手段と、それぞれの弱露光部電位が
適正かつ均一になるように露光光源の光出力をコントロ
ールする演算手段とを有することにより達成される。

【０００８】

【発明の実施の形態】図１は本発明の光走査装置の一実
施例を示す概略構成図である。半導体レーザなどの光源
１から出た光はコリメータレンズ２を通り平行光にさ
れ、この後、シリンダレンズ３を経て回転多面鏡４によ
り偏向走査され、Ｆθレンズ５を通過して帯電器２０で
帯電された感光体６上に結像される。弱露光部電位検知
手段となる表面電位センサ２１は複数個あり、走査方向
に並んで配置されている。これは光を照射した後の感光
体６上の表面電位を検知するためのものである。弱露光
部電位制御モードのときは半導体レーザ１を点灯させ
て、感光体６上の全体の弱露光部電位を検知する。弱露
光部電位の検知はプリンタの初期動作時や、トナー補給
時などのプリンタが一時停止したときに行なうようにし
ている。

【０００９】次に、弱露光部電位（以下、「中間電位」と
称する。）制御の流れを説明する。中間電位検知モード
のとき、半導体レーザが点灯し、感光体上の複数の表面
電位センサで中間電位を検知する。同時に、感光体の位
置もセンサ２３で検知し、感光体全体の中間電位分布を
記憶手段となるメモリに入れる。このメモリの中のある
走査方向の例を図４の８に示す。この例の場合、感光体
の中央部で中間電位が高く、周辺部で低くなっている。
この後、このデ−タをもとに演算回路にて計算を行な
う。表面電位センサ２１で検知した中間電位が適当かつ
一定になるように光源１の光強度を制御する。光強度の
制御においては、検知した中間電位が所定の値より大き
いところの半導体レーザの光出力を大きくし、検知した
中間電位が所定の値より小さいところの半導体レーザの
光出力を小さくし、かつ適当な値になるようにすればよ
い。

【００１０】最初に補正した半導体レーザの光出力で、
感光体上の電位を低下させたところを、もう一度表面電
位センサで検知して検知した中間電位が所定の値より大
きいところの半導体レーザの光出力を大きくし、検知し
た中間電位が所定の値より小さいところの半導体レーザ
の光出力を小さくし、かつ適当な値になるようにする。
これを繰り返し行ない、補正前と補正後の中間電位の変
化がなくなったときを最適とする。この例の計算結果を
図４の９に示す。この図４の９は半導体レーザ単体の光
出力であり、この例では光強度を中央で大きく周辺で小
さくするようになっている。この補正を行なった後の中
間電位は、図４の１０のように走査画角によらず適当で
かつ一定の値になる。この計算結果と印刷データをもと
に半導体レーザ制御装置で半導体レーザの出力を制御す
れば走査画角によって中間電位の変化がない光走査装置
が得られる。

【００１１】次に、本発明の他の実施例について図５を
用いて説明する。この実施例では表面電位センサを単一
にしている点で先の実施例と異なる。表面電位センサ２
２は矢印１２の方向に移動して走査全域の表面電位を検
知する。また、同時にこのセンサ２２の位置を位置セン
サ２４で検知している。この後の処理については先の実
施例と同様にして実現できるので説明を省略する。

【００１２】

【発明の効果】本発明によれば、感光体全体の弱露光部
電位を弱露光部電位検知手段で検知し、弱露光部電位検
知手段の検知データに基づき弱露光部電位が適正かつ均
一になるように露光光源の光出力をコントロールするの
で、弱露光部電位のばらつきをなくすことができ、背景
部に現像剤が付着することのない高品質な画像形成装置
の光走査装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す概略構成図。

【図２】従来例を示す概略構成図。

【図３】光の反射の様子を示す説明図。

【図４】中間電位と走査画角と光強度の関係を示す説明
図。

【図５】本発明の他の実施例を示す概略構成図。

【符号の説明】

１は光源、２はコリメータレンズ、３はシリンダレン
ズ、４は回転多面鏡、５はＦθレンズ、６は感光体、２
０は帯電器、２１、２２は表面電位センサ、２３は回転
位置センサ、２４は位置センサである。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】均一に帯電した感光体上に、非露光部、弱
   露光部および強露光部からなる静電潜像を形成し、前記
   非露光部および強露光部に現像剤を供給して可視像を形
   成する画像形成装置の光走査装置において、前記感光体
   全体が弱露光部になっているときに感光体全体の弱露光
   部電位を検知する弱露光部電位検知手段と、前記弱露光
   部電位検知手段の検知データを記憶する記憶手段と、そ
   れぞれの弱露光部電位が適正かつ均一になるように露光
   光源の光出力をコントロールする演算手段とを有するこ
   とを特徴とする画像形成装置の光走査装置。
2. 【請求項２】前記弱露光部電位検知手段を感光体上の走
   査領域全域にわたって複数設けたことを特徴とする請求
   項１記載の画像形成装置の光走査装置。
3. 【請求項３】前記弱露光部電位検知手段を単一で設ける
   とともに、この弱露光部電位検知手段を走査方向へ移動
   可能に設けたことを特徴とする請求項１記載の画像形成
   装置の光走査装置。
4. 【請求項４】前記弱露光部電位の検知は、画像形成装置
   が非印刷時のときに行なわれることを特徴とする請求項
   １記載の画像形成装置の光走査装置。