JPH09193454A - 画像形成装置 - Google Patents
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- JPH09193454A JPH09193454A JP686796A JP686796A JPH09193454A JP H09193454 A JPH09193454 A JP H09193454A JP 686796 A JP686796 A JP 686796A JP 686796 A JP686796 A JP 686796A JP H09193454 A JPH09193454 A JP H09193454A
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Landscapes
- Laser Beam Printer (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 形成されるべき画像の形状を変化させること
なく、副走査方向のエッジ部の位置を位置決めする。 【解決手段】 メモリに記憶された画像データのうち1
画素データを読み取り(100〜102)、副走査方向
に隣接する画素データを参照し副走査方向のエッジ部で
あるか否かを判断する(104)。エッジ部以外のとき
は、その階調や色等に応じ通常のパルス幅及び光強度を
演算する(110)。副走査方向のエッジ部のとき、エ
ッジ部を形成するに最適な光強度を演算し(106)、
演算された光強度をもとに最適なパルス幅を演算する
(108)。これら最適な光強度及び最適なパルス幅で
レーザ光源が駆動され、これを繰り返すことにより、感
光体表面上では、画素データに応じて隣接する画素のレ
ーザビームによる光合成分布が形成され、バラツキが少
ない潜像電位合成分布が形成される。
なく、副走査方向のエッジ部の位置を位置決めする。 【解決手段】 メモリに記憶された画像データのうち1
画素データを読み取り(100〜102)、副走査方向
に隣接する画素データを参照し副走査方向のエッジ部で
あるか否かを判断する(104)。エッジ部以外のとき
は、その階調や色等に応じ通常のパルス幅及び光強度を
演算する(110)。副走査方向のエッジ部のとき、エ
ッジ部を形成するに最適な光強度を演算し(106)、
演算された光強度をもとに最適なパルス幅を演算する
(108)。これら最適な光強度及び最適なパルス幅で
レーザ光源が駆動され、これを繰り返すことにより、感
光体表面上では、画素データに応じて隣接する画素のレ
ーザビームによる光合成分布が形成され、バラツキが少
ない潜像電位合成分布が形成される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像形成装置にか
かり、特に、光ビームを走査することによって画像を形
成する画像形成装置に関する。
かり、特に、光ビームを走査することによって画像を形
成する画像形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザ・ビーム・プリンター、デジタル
複写機、ファクシミリ等の画像形成装置では、気体レー
ザや半導体レーザ等から射出されるレーザ光等の光ビー
ムを、回転多面鏡(ポリゴンミラー)により所定方向に
偏向して主走査すると共に、その回転多面鏡により反射
された光ビームを感光体等の結像面上において、所定方
向と直交する方向に感光体等を移動させたりガルバノミ
ラー等の素子により偏向したりして副走査する。ポリゴ
ンミラーで偏向された光ビームを等速度直線運動の状態
でかつ集光させる光学系としてはfθレンズ等で構成さ
れた光学系が主に用いられている。
複写機、ファクシミリ等の画像形成装置では、気体レー
ザや半導体レーザ等から射出されるレーザ光等の光ビー
ムを、回転多面鏡(ポリゴンミラー)により所定方向に
偏向して主走査すると共に、その回転多面鏡により反射
された光ビームを感光体等の結像面上において、所定方
向と直交する方向に感光体等を移動させたりガルバノミ
ラー等の素子により偏向したりして副走査する。ポリゴ
ンミラーで偏向された光ビームを等速度直線運動の状態
でかつ集光させる光学系としてはfθレンズ等で構成さ
れた光学系が主に用いられている。
【0003】図12には一般的なレーザプリンタの光走
査装置の概略構成を示した。この光走査装置では、レー
ザ光源12より出射されたレーザビームは、コリメータ
レンズ14によってコリメートされ、回転多面鏡(ポリ
ゴンミラー)16の回転(図12では矢印B方向の回
転)によって所定方向(図12では矢印M方向)に主走
査(偏向)される。ポリゴンミラー16により主走査さ
れたレーザビームはfθレンズ18によって走査速度補
正された後に、反射ミラー26を介して円筒状の感光体
24を露光する。この場合、感光体24が露光されるレ
ーザビームは主走査により直線状の走査線が形成される
が、この走査光は感光体24の中心軸と略直交する。な
お、感光体24上での主走査方向の画像信号書き込みタ
イミング信号(SOS)を検出するために感光体領域外
のレーザビーム走査領域に位置検出センサ(ピックアッ
プミラー20及びセンサ22)が設けられている。ま
た、感光体24は円筒状に形成され、所定方向(図12
の矢印A方向)にステップ駆動回転または等速度回転す
る。レーザビームの走査を感光体24上でみると、感光
体24の回転によりレーザビームは主走査されたときの
方向(図12では矢印M方向、以下、主走査方向)と略
直交する方向に走査されることになるので、感光体24
の回転は副走査に対応する。これらの主走査及び副走査
を行うことで、感光体24を2次元的に露光できる。
査装置の概略構成を示した。この光走査装置では、レー
ザ光源12より出射されたレーザビームは、コリメータ
レンズ14によってコリメートされ、回転多面鏡(ポリ
ゴンミラー)16の回転(図12では矢印B方向の回
転)によって所定方向(図12では矢印M方向)に主走
査(偏向)される。ポリゴンミラー16により主走査さ
れたレーザビームはfθレンズ18によって走査速度補
正された後に、反射ミラー26を介して円筒状の感光体
24を露光する。この場合、感光体24が露光されるレ
ーザビームは主走査により直線状の走査線が形成される
が、この走査光は感光体24の中心軸と略直交する。な
お、感光体24上での主走査方向の画像信号書き込みタ
イミング信号(SOS)を検出するために感光体領域外
のレーザビーム走査領域に位置検出センサ(ピックアッ
プミラー20及びセンサ22)が設けられている。ま
た、感光体24は円筒状に形成され、所定方向(図12
の矢印A方向)にステップ駆動回転または等速度回転す
る。レーザビームの走査を感光体24上でみると、感光
体24の回転によりレーザビームは主走査されたときの
方向(図12では矢印M方向、以下、主走査方向)と略
直交する方向に走査されることになるので、感光体24
の回転は副走査に対応する。これらの主走査及び副走査
を行うことで、感光体24を2次元的に露光できる。
【0004】従って、これらの主走査及び副走査に同期
してレーザビームをオンオフすれば、感光体24上には
画像が形成(露光)される。この露光により、感光体2
4上には潜像電位分布が生じて、図示を省略した現像装
置によるトナーの付着及び定着等により紙等の記録媒体
に2次元画像を形成することができる。詳細には、図1
8及び図19に示す感度(光エネルギーと潜像電位との
関係、以下、PIDCという)の感材を感光体24の表
面に用いることによって、画像を表す画像データに応じ
た画素毎のレーザビームの露光により光エネルギーが分
布し、図18または図19に示すPIDCに応じた潜像
電位分布が形成される。
してレーザビームをオンオフすれば、感光体24上には
画像が形成(露光)される。この露光により、感光体2
4上には潜像電位分布が生じて、図示を省略した現像装
置によるトナーの付着及び定着等により紙等の記録媒体
に2次元画像を形成することができる。詳細には、図1
8及び図19に示す感度(光エネルギーと潜像電位との
関係、以下、PIDCという)の感材を感光体24の表
面に用いることによって、画像を表す画像データに応じ
た画素毎のレーザビームの露光により光エネルギーが分
布し、図18または図19に示すPIDCに応じた潜像
電位分布が形成される。
【0005】ところで、副走査方向の解像度は副走査の
移動量とポリゴンミラーの回転数により制限されるの
で、この副走査方向の解像度を向上させるため、画像を
形成するときの副走査方向の画像の端部(以下、エッジ
部という)の光強度を変化させることによって副走査方
向のエッジ位置を制御する画像形成装置が提案されてい
る(特開平6−91930号公報参照)。
移動量とポリゴンミラーの回転数により制限されるの
で、この副走査方向の解像度を向上させるため、画像を
形成するときの副走査方向の画像の端部(以下、エッジ
部という)の光強度を変化させることによって副走査方
向のエッジ位置を制御する画像形成装置が提案されてい
る(特開平6−91930号公報参照)。
【0006】例えば、感光体24の表面に副走査方向の
所定長さの縦線を書き込む場合、レーザビームの光スポ
ット281 、282 、283 、284 、285 により感
光体24が露光される(図12)。このとき、図13
(1)に示すように、感光体24上には光スポット28
1 〜285 に対応する光エネルギーが分布する。各スポ
ットの略中心を通る副走査方向の直線30上では、図1
3(2)に示すように、重複する隣り合うレーザビーム
の光強度が合成されて、現像時に顕在化されるべき潜像
電位L0 (以下、現像レベルL0 という。)を越えた、
所定電位レベルLaとなる。
所定長さの縦線を書き込む場合、レーザビームの光スポ
ット281 、282 、283 、284 、285 により感
光体24が露光される(図12)。このとき、図13
(1)に示すように、感光体24上には光スポット28
1 〜285 に対応する光エネルギーが分布する。各スポ
ットの略中心を通る副走査方向の直線30上では、図1
3(2)に示すように、重複する隣り合うレーザビーム
の光強度が合成されて、現像時に顕在化されるべき潜像
電位L0 (以下、現像レベルL0 という。)を越えた、
所定電位レベルLaとなる。
【0007】これらの光スポット281 〜285 のう
ち、エッジ部の光スポット285 の光強度を100%、
75%、50%、25%、0%、と順次変調すると、エ
ッジ部の光エネルギー分布は順次小さくなる(図13
(2)参照)。このときの光エネルギー合成分布は、図
14に示すように、変調の大きさに応じて副走査方向に
変動する。従って、この場合、現像レベルL0 に対して
トナーが付着し(図14に変調度に応じて斜線で示した
領域)、トナー付着のエッジ部は光強度の変調に応じて
副走査方向に制御することができる。
ち、エッジ部の光スポット285 の光強度を100%、
75%、50%、25%、0%、と順次変調すると、エ
ッジ部の光エネルギー分布は順次小さくなる(図13
(2)参照)。このときの光エネルギー合成分布は、図
14に示すように、変調の大きさに応じて副走査方向に
変動する。従って、この場合、現像レベルL0 に対して
トナーが付着し(図14に変調度に応じて斜線で示した
領域)、トナー付着のエッジ部は光強度の変調に応じて
副走査方向に制御することができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
画像形成装置では、図16に示すように、光強度が小さ
くなるに従ってエッジ位置は形成される線分が短くなる
方向の位置になるが、エッジ部のトナー未付着部の面積
は光強度が低くなるに従って大きくなる。これによっ
て、副走査方向の位置は制御できるものの、制御量(光
強度の大きさ)に応じて主走査方向まで影響する。
画像形成装置では、図16に示すように、光強度が小さ
くなるに従ってエッジ位置は形成される線分が短くなる
方向の位置になるが、エッジ部のトナー未付着部の面積
は光強度が低くなるに従って大きくなる。これによっ
て、副走査方向の位置は制御できるものの、制御量(光
強度の大きさ)に応じて主走査方向まで影響する。
【0009】すなわち、図15(1)〜(5)に示すよ
うに、トナー付着部が、副走査方向のエッジ部の光強度
を制御することによって副走査方向のエッジ位置を補正
することができるが、エッジ部のトナー付着部の形状が
変化する。特に、光強度が低い(図15(2)の参照)
時にはエッジ部のトナー付着部の形状が大きく変化し、
本来、100%の光強度(図15(5)と略同一形状ま
たは矩形状であるべき先端部分の形状が、先凸形状にな
り、エッジ部がぎざつくことになる。
うに、トナー付着部が、副走査方向のエッジ部の光強度
を制御することによって副走査方向のエッジ位置を補正
することができるが、エッジ部のトナー付着部の形状が
変化する。特に、光強度が低い(図15(2)の参照)
時にはエッジ部のトナー付着部の形状が大きく変化し、
本来、100%の光強度(図15(5)と略同一形状ま
たは矩形状であるべき先端部分の形状が、先凸形状にな
り、エッジ部がぎざつくことになる。
【0010】このエッジ部がぎざつきは、主走査方向及
び副走査方向のエッジ部(コーナー部)で顕著に現れ、
従来の画像形成装置では、例えば文字に対して副走査方
向のエッジ部の光強度を制御することによって副走査の
エッジ位置を補正しようとすると、トナー付着部の形状
変化の連続によって、コーナー部が欠ける現象を生じる
(図17参照)。
び副走査方向のエッジ部(コーナー部)で顕著に現れ、
従来の画像形成装置では、例えば文字に対して副走査方
向のエッジ部の光強度を制御することによって副走査の
エッジ位置を補正しようとすると、トナー付着部の形状
変化の連続によって、コーナー部が欠ける現象を生じる
(図17参照)。
【0011】本発明は、上記事実を考慮して、形成され
るべき画像の形状を変化させることなく、副走査方向の
エッジ部の位置を位置決めできる画像形成装置を得るこ
とが目的である。
るべき画像の形状を変化させることなく、副走査方向の
エッジ部の位置を位置決めできる画像形成装置を得るこ
とが目的である。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の画像形成装置は、光ビームを射出する光ビー
ム射出手段と、前記光ビームを所定の主走査方向に走査
露光しかつ当該主走査方向と交差する副方向に走査露光
すると共に、当該副走査方向に走査するときの走査間隔
より大きい所定ビーム径の光ビームを当該副走査方向の
隣接する光ビームの一部が重なり合うように感光体上に
集光させる走査集光手段と、前記感光体上の副走査方向
の所定位置に露光部と未露光部との境界を形成させると
き、当該所定位置に境界が形成されるように当該境界に
対応する光ビームの強度を制御すると共に、当該境界に
対応する光ビームの強度に基づいて当該光ビームの射出
時間を前記感光体上のエネルギー密度が一定になるよう
に制御する制御手段と、を備えている。
に本発明の画像形成装置は、光ビームを射出する光ビー
ム射出手段と、前記光ビームを所定の主走査方向に走査
露光しかつ当該主走査方向と交差する副方向に走査露光
すると共に、当該副走査方向に走査するときの走査間隔
より大きい所定ビーム径の光ビームを当該副走査方向の
隣接する光ビームの一部が重なり合うように感光体上に
集光させる走査集光手段と、前記感光体上の副走査方向
の所定位置に露光部と未露光部との境界を形成させると
き、当該所定位置に境界が形成されるように当該境界に
対応する光ビームの強度を制御すると共に、当該境界に
対応する光ビームの強度に基づいて当該光ビームの射出
時間を前記感光体上のエネルギー密度が一定になるよう
に制御する制御手段と、を備えている。
【0013】本発明によれば、副走査方向の隣接する光
ビームの一部が重なり合うように感光体上に集光され、
光ビームの合成されたエネルギーが感光体に提供され
る。この感光体にエッジ部が形成されるように、感光体
上の副走査方向の所定位置に露光部と未露光部の境界を
形成するとき、境界に対応する光ビームの強度を制御し
て、所定位置までが露光部となるように走査する。この
とき、光ビームの強度を制御したのみでは主走査方向の
露光部と未露光部との境界が変化する。本発明では、前
記制御する光ビームの強度に基づいて光ビームの射出時
間を感光体上のエネルギー密度が一定になるようにす
る。従って、境界に対応する光ビームによる感光体上の
エネルギー密度は一定となり、主走査方向の露光部と未
露光部との境界が変化することはない。
ビームの一部が重なり合うように感光体上に集光され、
光ビームの合成されたエネルギーが感光体に提供され
る。この感光体にエッジ部が形成されるように、感光体
上の副走査方向の所定位置に露光部と未露光部の境界を
形成するとき、境界に対応する光ビームの強度を制御し
て、所定位置までが露光部となるように走査する。この
とき、光ビームの強度を制御したのみでは主走査方向の
露光部と未露光部との境界が変化する。本発明では、前
記制御する光ビームの強度に基づいて光ビームの射出時
間を感光体上のエネルギー密度が一定になるようにす
る。従って、境界に対応する光ビームによる感光体上の
エネルギー密度は一定となり、主走査方向の露光部と未
露光部との境界が変化することはない。
【0014】また、前記制御手段は、請求項2に記載し
たように、光ビームの強度を小さくするに従って、射出
時間を長くすることができる。このようにすることによ
って、光ビームの強度が小さくなるのに従って、射出時
間が長くなり、境界に対応する光ビームによる感光体上
のエネルギー密度は一定とすることができる。
たように、光ビームの強度を小さくするに従って、射出
時間を長くすることができる。このようにすることによ
って、光ビームの強度が小さくなるのに従って、射出時
間が長くなり、境界に対応する光ビームによる感光体上
のエネルギー密度は一定とすることができる。
【0015】また、前記制御手段は、請求項3に記載し
たように、前記境界に対応する光ビームの射出時間を前
記境界に対応する光ビーム以外の光ビームの射出時間よ
り長くすることができる。このようにすることによっ
て、境界付近の光エネルギーは、境界へ至るまでの露光
部より大きくすることができ、境界に対応する光ビーム
の強度が小さくされても、境界に対応する付近における
感光体上のエネルギー密度は一定とすることができる。
たように、前記境界に対応する光ビームの射出時間を前
記境界に対応する光ビーム以外の光ビームの射出時間よ
り長くすることができる。このようにすることによっ
て、境界付近の光エネルギーは、境界へ至るまでの露光
部より大きくすることができ、境界に対応する光ビーム
の強度が小さくされても、境界に対応する付近における
感光体上のエネルギー密度は一定とすることができる。
【0016】また、前記制御手段は、請求項4に記載し
たように、前記境界に対応する光ビーム以外の光ビーム
の射出時間を、前記主走査方向の1画素を形成するため
の射出時間より短くすることができる。このようにする
ことによって、感光体上では、副走査方向の隣接する光
ビームの一部が重なり合うように集光されるので、境界
に対応する光ビーム以外の光ビームの強度を合成された
光エネルギーを考慮して安定的に定めることができると
共に、境界に対応する付近における感光体上のエネルギ
ー密度を一定にするように境界に対応する光ビームの強
度を定めることができる。
たように、前記境界に対応する光ビーム以外の光ビーム
の射出時間を、前記主走査方向の1画素を形成するため
の射出時間より短くすることができる。このようにする
ことによって、感光体上では、副走査方向の隣接する光
ビームの一部が重なり合うように集光されるので、境界
に対応する光ビーム以外の光ビームの強度を合成された
光エネルギーを考慮して安定的に定めることができると
共に、境界に対応する付近における感光体上のエネルギ
ー密度を一定にするように境界に対応する光ビームの強
度を定めることができる。
【0017】また、前記光ビーム射出手段は、請求項5
に記載したように、前記副走査方向に段階的な強度変化
を有する光ビームを射出することができる。感光体上で
は、副走査方向の隣接する光ビームの一部が重なり合う
ように集光されるので、境界に対応する光ビームの強度
が小さくされても、境界付近の光エネルギーは、急激な
変化なく段階的に変化することになり、境界と境界に対
応する光ビームの強度との対応を容易に関係付けること
ができる。
に記載したように、前記副走査方向に段階的な強度変化
を有する光ビームを射出することができる。感光体上で
は、副走査方向の隣接する光ビームの一部が重なり合う
ように集光されるので、境界に対応する光ビームの強度
が小さくされても、境界付近の光エネルギーは、急激な
変化なく段階的に変化することになり、境界と境界に対
応する光ビームの強度との対応を容易に関係付けること
ができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態の一例を詳細に説明する。
施の形態の一例を詳細に説明する。
【0019】図1には本実施の形態にかかるレーザプリ
ンタの光走査装置40の概略構成を示した。本実施の形
態の光走査装置40は、レーザ光源42を備えており、
レーザ光源42の射出側にはコリメータレンズ44及び
ポリゴンミラー46が順に配設されている。このレーザ
ー光源42はマイクロコンピュータで構成された光強度
・パルス幅演算器を含んだ制御装置58(詳細は後述)
に接続されている。なお、ポリゴンミラー46は、制御
装置58によって所定方向(図1の矢印B方向)等速度
回転される。従って、レーザ光源42より出射されたレ
ーザビームは、コリメータレンズ44によってコリメー
トされ、ポリゴンミラー46の回転によって感光体上で
所定方向(図1の矢印M方向)に主走査(偏向)され
る。
ンタの光走査装置40の概略構成を示した。本実施の形
態の光走査装置40は、レーザ光源42を備えており、
レーザ光源42の射出側にはコリメータレンズ44及び
ポリゴンミラー46が順に配設されている。このレーザ
ー光源42はマイクロコンピュータで構成された光強度
・パルス幅演算器を含んだ制御装置58(詳細は後述)
に接続されている。なお、ポリゴンミラー46は、制御
装置58によって所定方向(図1の矢印B方向)等速度
回転される。従って、レーザ光源42より出射されたレ
ーザビームは、コリメータレンズ44によってコリメー
トされ、ポリゴンミラー46の回転によって感光体上で
所定方向(図1の矢印M方向)に主走査(偏向)され
る。
【0020】ポリゴンミラー46の反射側には、入射さ
れたレーザビームを等走査速度に補正するためのfθレ
ンズ48が設けられており、fθレンズ48の下流側に
は反射ミラー56が設けられている。この反射ミラー5
6の反射側には円筒状の感光体54が設けられている。
従って、ポリゴンミラー46により主走査されたレーザ
ビームはfθレンズ48によって走査速度補正された後
に、反射ミラー56を介して感光体54を露光する。こ
の感光体54上には、レーザビームの上記主走査による
直線状の走査線が形成されるが、この走査光は感光体5
4の中心軸と略直交する。
れたレーザビームを等走査速度に補正するためのfθレ
ンズ48が設けられており、fθレンズ48の下流側に
は反射ミラー56が設けられている。この反射ミラー5
6の反射側には円筒状の感光体54が設けられている。
従って、ポリゴンミラー46により主走査されたレーザ
ビームはfθレンズ48によって走査速度補正された後
に、反射ミラー56を介して感光体54を露光する。こ
の感光体54上には、レーザビームの上記主走査による
直線状の走査線が形成されるが、この走査光は感光体5
4の中心軸と略直交する。
【0021】この感光体54は、制御装置58によって
所定方向(図1の矢印A方向)にステップ駆動回転また
は等速度回転される。従って、感光体54上では、感光
体54の回転によりレーザビームは主走査されたときの
主走査方向と略直交する方向に走査され、副走査され
る。
所定方向(図1の矢印A方向)にステップ駆動回転また
は等速度回転される。従って、感光体54上では、感光
体54の回転によりレーザビームは主走査されたときの
主走査方向と略直交する方向に走査され、副走査され
る。
【0022】なお、感光体54上での主走査方向の画像
信号書き込みタイミング信号(SOS)を検出するため
に、感光体領域外のレーザビーム走査領域にピックアッ
プミラー50及びセンサ52から構成される位置検出セ
ンサが設けられている。
信号書き込みタイミング信号(SOS)を検出するため
に、感光体領域外のレーザビーム走査領域にピックアッ
プミラー50及びセンサ52から構成される位置検出セ
ンサが設けられている。
【0023】図2に示すように、制御装置58は、マイ
クロコンピュータで構成された光強度・パルス幅演算器
60を備えている。この光強度・パルス幅演算器60は
画像データ(1画像分の全画素データ)を記憶するため
のメモリ68に接続されている。このメモリ68には、
図示しないホストコンピュータ等の画像データ出力装置
から供給される1画像分の全ての画素データ(画像デー
タ)が記憶される。
クロコンピュータで構成された光強度・パルス幅演算器
60を備えている。この光強度・パルス幅演算器60は
画像データ(1画像分の全画素データ)を記憶するため
のメモリ68に接続されている。このメモリ68には、
図示しないホストコンピュータ等の画像データ出力装置
から供給される1画像分の全ての画素データ(画像デー
タ)が記憶される。
【0024】光強度・パルス幅演算器60は、画素デー
タに基づいたパルス幅信号を生成するためのパルス幅変
調器62を介してドライバ66に接続されると共に、画
素データに基づいた光強度信号を生成するための光強度
変調器64を介してドライバ66に接続されている。ド
ライバ66はレーザ光源42に接続されており、パルス
幅変調器62及び光強度変調器64から出力された信号
に応じたパルス幅及び光強度でレーザ光源を駆動する。
タに基づいたパルス幅信号を生成するためのパルス幅変
調器62を介してドライバ66に接続されると共に、画
素データに基づいた光強度信号を生成するための光強度
変調器64を介してドライバ66に接続されている。ド
ライバ66はレーザ光源42に接続されており、パルス
幅変調器62及び光強度変調器64から出力された信号
に応じたパルス幅及び光強度でレーザ光源を駆動する。
【0025】また、光強度・パルス幅演算器60には、
同期検出器70を介してセンサ52が接続されている。
この同期検出器70から出力される同期信号によって光
強度・パルス幅演算器60主走査及び副走査のタイミン
グを検出することができる。また、同期検出器70は、
同期検出器70から出力される同期信号はポリゴンミラ
ー46を駆動するための主走査駆動器72及び感光体5
4を回転するための副走査駆動器74に出力されるよう
に各々接続されている。この副走査駆動器74は感光体
54を等速度回転させる。なお、主走査駆動器72で
は、同期信号の周期が一定となるようにポリゴンミラー
46を駆動することによってポリゴンミラー46を等速
度回転させることができ、上記fθレンズ48からのレ
ーザビームを一定の等速度走査させることができる。ま
た、副走査駆動器74では、同期信号の周期に応じて感
光体の回転速度を変更することによって、副走査方向の
速度を一定にすることができる。また、同期信号をカウ
ントすることによって副走査方向の位置を特定すること
ができる。
同期検出器70を介してセンサ52が接続されている。
この同期検出器70から出力される同期信号によって光
強度・パルス幅演算器60主走査及び副走査のタイミン
グを検出することができる。また、同期検出器70は、
同期検出器70から出力される同期信号はポリゴンミラ
ー46を駆動するための主走査駆動器72及び感光体5
4を回転するための副走査駆動器74に出力されるよう
に各々接続されている。この副走査駆動器74は感光体
54を等速度回転させる。なお、主走査駆動器72で
は、同期信号の周期が一定となるようにポリゴンミラー
46を駆動することによってポリゴンミラー46を等速
度回転させることができ、上記fθレンズ48からのレ
ーザビームを一定の等速度走査させることができる。ま
た、副走査駆動器74では、同期信号の周期に応じて感
光体の回転速度を変更することによって、副走査方向の
速度を一定にすることができる。また、同期信号をカウ
ントすることによって副走査方向の位置を特定すること
ができる。
【0026】次に、本実施の形態の光走査装置40の作
動を図3のフローチャトを参照して説明する。
動を図3のフローチャトを参照して説明する。
【0027】なお、本実施の形態では、レーザビームの
ビーム径及び隣接するレーザビームの関係は、感光体上
において光合成分布を形成させるため、隣接するレーザ
ビームの一部が重複されるように設定されている。ま
た、レーザ光源は、パルス幅変調及び光強度変調するこ
とによって、露光量を制御する。さらに、以下の説明で
は、光走査装置の解像度が800DPI(ドット/イン
チ)、(感光体上における)レーザビームのビーム径が
65μm×65μm、及び図19のPIDCによる潜像
電位合成分布が形成される場合を例として説明する。
ビーム径及び隣接するレーザビームの関係は、感光体上
において光合成分布を形成させるため、隣接するレーザ
ビームの一部が重複されるように設定されている。ま
た、レーザ光源は、パルス幅変調及び光強度変調するこ
とによって、露光量を制御する。さらに、以下の説明で
は、光走査装置の解像度が800DPI(ドット/イン
チ)、(感光体上における)レーザビームのビーム径が
65μm×65μm、及び図19のPIDCによる潜像
電位合成分布が形成される場合を例として説明する。
【0028】光走査装置40の電源が投入されると、初
期設定として、レーザ光源42の安定化(予め定めた所
定値に、レーザビームの光強度やパルス幅を設定する等
のプロセスコントロール)を実行すると共に、ポリゴン
ミラー46を等速度回転させると共に、感光体54が回
転可能にする。初期設定が終了すると、制御装置58の
光強度・パルス幅演算器60において図3のステップ1
00が実行され、メモリ68から1画像の全画素データ
である画像データを読み取る。次のステップ102で
は、走査対象となる1画素データを読み取り、次のステ
ップ104において読み取った画素データがエッジ部の
画素データであるか否かを判断する。この判断は、読み
取った画素データの画素と副走査方向に隣接する画素の
うち何れか一方の画素が未露光の画素データで有るか否
かを判断することによって行うことができる。また、画
像データから副走査方向の位置データを定めて、端部で
あるか否かを判断することもできる。
期設定として、レーザ光源42の安定化(予め定めた所
定値に、レーザビームの光強度やパルス幅を設定する等
のプロセスコントロール)を実行すると共に、ポリゴン
ミラー46を等速度回転させると共に、感光体54が回
転可能にする。初期設定が終了すると、制御装置58の
光強度・パルス幅演算器60において図3のステップ1
00が実行され、メモリ68から1画像の全画素データ
である画像データを読み取る。次のステップ102で
は、走査対象となる1画素データを読み取り、次のステ
ップ104において読み取った画素データがエッジ部の
画素データであるか否かを判断する。この判断は、読み
取った画素データの画素と副走査方向に隣接する画素の
うち何れか一方の画素が未露光の画素データで有るか否
かを判断することによって行うことができる。また、画
像データから副走査方向の位置データを定めて、端部で
あるか否かを判断することもできる。
【0029】ステップ104において否定判断された場
合には、副走査方向のエッジ部以外のデータであるの
で、ステップ110へ進み、画素データを用いて、その
画素の階調や色等に応じて通常のパルス幅及びレーザビ
ームの光強度を定め(演算し)、出力する。
合には、副走査方向のエッジ部以外のデータであるの
で、ステップ110へ進み、画素データを用いて、その
画素の階調や色等に応じて通常のパルス幅及びレーザビ
ームの光強度を定め(演算し)、出力する。
【0030】一方、ステップ104において肯定判断さ
れた場合には、副走査方向のエッジ部の画素であるの
で、ステップ106へ進み、レーザ光源42より射出さ
れたレーザビームの露光によってエッジ部の画素を形成
するための最適な光強度を演算し、演算された光強度を
もとにして次のステップ108で最適なパルス幅を演算
する。
れた場合には、副走査方向のエッジ部の画素であるの
で、ステップ106へ進み、レーザ光源42より射出さ
れたレーザビームの露光によってエッジ部の画素を形成
するための最適な光強度を演算し、演算された光強度を
もとにして次のステップ108で最適なパルス幅を演算
する。
【0031】ここで、本発明者は、解像度が800DP
I、レーザビームのビーム径が65μm×65μm、及
び図19のPIDCによって潜像電位合成分布を形成す
る実験を行い、本実施の形態の光強度・パルス演算器6
0で最適な光強度及びパルス幅を一般化して求める演算
式として、光強度を求めるための次の(1)式、及びパ
ルス幅を求めるための次の(2)を導出した。
I、レーザビームのビーム径が65μm×65μm、及
び図19のPIDCによって潜像電位合成分布を形成す
る実験を行い、本実施の形態の光強度・パルス演算器6
0で最適な光強度及びパルス幅を一般化して求める演算
式として、光強度を求めるための次の(1)式、及びパ
ルス幅を求めるための次の(2)を導出した。
【0032】 Y=0.0722X2 +0.6893X ・・・(1) Z=−0.0002Y3 +0.024Y2 −1.5143Y+200 ・・・(2) 但し、X:エッジ位置,Y:光強度,Z:パルス幅
【0033】図4には、副走査エッジ部の光強度を25
%における異なるパルス幅変調で行ったときに形成され
る画像状態を示した。図4(1)は上記説明した従来の
光強度のみを変調した場合、図4(2)はエッジ部のパ
ルス幅をエッジ部以外のパルスに対して150%に延長
して変調した場合、図4(3)はエッジ部のパルス幅を
エッジ部以外のパルス幅に対して200%に延長して変
調した場合の各画像状態を示した。このように、エッジ
部のパルス幅をエッジ部以外のパルス幅に対して延長す
るに従って、形成される画像(図4の例では線)の先端
形状が良好となる。
%における異なるパルス幅変調で行ったときに形成され
る画像状態を示した。図4(1)は上記説明した従来の
光強度のみを変調した場合、図4(2)はエッジ部のパ
ルス幅をエッジ部以外のパルスに対して150%に延長
して変調した場合、図4(3)はエッジ部のパルス幅を
エッジ部以外のパルス幅に対して200%に延長して変
調した場合の各画像状態を示した。このように、エッジ
部のパルス幅をエッジ部以外のパルス幅に対して延長す
るに従って、形成される画像(図4の例では線)の先端
形状が良好となる。
【0034】そこで、本発明者は、副走査方向のエッジ
部の光強度50%時、75%時、各々パルス幅を変化さ
せた多数の実験を行った結果、トナー付着面積が変化し
ないように、すなわち形成される画像(図4の例では
線)の先端形状が良好となる(光強度100%時と略一
致する)、光強度とエッジ位置とパルス幅の関係とし
て、図5に実線で示す光強度とエッジ位置との関係を示
す特性32及び光強度とトナー未付着面積との関係を示
す平坦な特性34を得た。この図5に示す特性32より
エッジ位置に対する光強度の関係として、図6に示す特
性36を得た。この図6に示す特性36より、近似的に
上記の(1)式を導出した。また、この特性36を得る
ための他の特性として、光強度とパルス幅の関係として
図7に示す特性38を得た。この特性38より、近似的
に上記の(2)式を導出した。
部の光強度50%時、75%時、各々パルス幅を変化さ
せた多数の実験を行った結果、トナー付着面積が変化し
ないように、すなわち形成される画像(図4の例では
線)の先端形状が良好となる(光強度100%時と略一
致する)、光強度とエッジ位置とパルス幅の関係とし
て、図5に実線で示す光強度とエッジ位置との関係を示
す特性32及び光強度とトナー未付着面積との関係を示
す平坦な特性34を得た。この図5に示す特性32より
エッジ位置に対する光強度の関係として、図6に示す特
性36を得た。この図6に示す特性36より、近似的に
上記の(1)式を導出した。また、この特性36を得る
ための他の特性として、光強度とパルス幅の関係として
図7に示す特性38を得た。この特性38より、近似的
に上記の(2)式を導出した。
【0035】従って、上記ステップ106、108の各
々では、上記の(1)、(2)式を用いて最適な光強度
Y及び最適なパルス幅Zを演算し出力する。
々では、上記の(1)、(2)式を用いて最適な光強度
Y及び最適なパルス幅Zを演算し出力する。
【0036】これら出力された光強度及び最適なパルス
幅の各値を用いて、光強度変調器64はレーザ光源42
へ供給する電流値をドライバ66へ出力すると共に、パ
ルス幅変調器62はレーザ光源42を点灯する時間(パ
ルス幅)をドライバ66へ出力する。ドライバでは、入
力された最適なレーザビームの光強度とパルス幅によっ
て、レーザ光源42を駆動する。なお、画素データによ
る感光体の露光が開始されるときは、主走査に同期させ
ると共に、感光体が回転され、副走査が開始される。
幅の各値を用いて、光強度変調器64はレーザ光源42
へ供給する電流値をドライバ66へ出力すると共に、パ
ルス幅変調器62はレーザ光源42を点灯する時間(パ
ルス幅)をドライバ66へ出力する。ドライバでは、入
力された最適なレーザビームの光強度とパルス幅によっ
て、レーザ光源42を駆動する。なお、画素データによ
る感光体の露光が開始されるときは、主走査に同期させ
ると共に、感光体が回転され、副走査が開始される。
【0037】これにより、レーザ光源42から射出され
たレーザビームは、コリメータレンズ44により平行光
線にされ、ボリゴンミラー46で走査され、fθレンズ
48により走査速度補正され、感光体54の表面を走査
され、画素データに応じて隣接する画素のレーザビーム
による光合成分布を形成し、潜像電位合成分布を形成す
る。
たレーザビームは、コリメータレンズ44により平行光
線にされ、ボリゴンミラー46で走査され、fθレンズ
48により走査速度補正され、感光体54の表面を走査
され、画素データに応じて隣接する画素のレーザビーム
による光合成分布を形成し、潜像電位合成分布を形成す
る。
【0038】上記の処理を画像データの画素全てについ
て繰り返し実行する(ステップ112)。
て繰り返し実行する(ステップ112)。
【0039】このように、副走査方向のエッジ部を最適
な光強度に対するパルス変調制御することによって副走
査方向のいずれにエッジ部が位置した場合であっても、
エッジ部のトナー付着部の形状変化(エッジのギザつ
き)が抑制されかつバラツキが少ない潜像電位合成分布
を形成することができる。
な光強度に対するパルス変調制御することによって副走
査方向のいずれにエッジ部が位置した場合であっても、
エッジ部のトナー付着部の形状変化(エッジのギザつ
き)が抑制されかつバラツキが少ない潜像電位合成分布
を形成することができる。
【0040】次に、本発明の他の実施の形態を説明す
る。なお、本実施の形態は上記実施の形態と略同一の構
成であるため、同一部分に同一符号を付し詳細な説明を
省略する。
る。なお、本実施の形態は上記実施の形態と略同一の構
成であるため、同一部分に同一符号を付し詳細な説明を
省略する。
【0041】図8に示すように、本実施の形態の光走査
装置は、コリメータレンズ44のレーザビームの進行方
向下流側に、スリット80が設けられている。このスリ
ット80は、副走査方向に所定幅の隙間を有するように
形成することにより回折光を生じさせるためのものであ
る。
装置は、コリメータレンズ44のレーザビームの進行方
向下流側に、スリット80が設けられている。このスリ
ット80は、副走査方向に所定幅の隙間を有するように
形成することにより回折光を生じさせるためのものであ
る。
【0042】このスリット80を設けることによって、
感光体54上には、図9(1)に示すように、副走査方
向について主に0次光及び1次光が露光される。この回
折光を含むレーザビームのビームプロファイルは、主走
査方向については図9(2)に示すように、ガウシアン
分布形状となるが、副走査方向については図9(3)に
示すように、略ガウシアン分布形状の0次光の両脇に回
折光特有の0次光より光強度が低い1次光の略ガウシア
ン分布形状を有するものとなる。
感光体54上には、図9(1)に示すように、副走査方
向について主に0次光及び1次光が露光される。この回
折光を含むレーザビームのビームプロファイルは、主走
査方向については図9(2)に示すように、ガウシアン
分布形状となるが、副走査方向については図9(3)に
示すように、略ガウシアン分布形状の0次光の両脇に回
折光特有の0次光より光強度が低い1次光の略ガウシア
ン分布形状を有するものとなる。
【0043】このように、回折光で感光体を露光する
と、1画素で形成されるべきドットが副走査方向に点在
することになるため、本実施の形態では、レーザビーム
の結像位置を感光体表面から解像度低下を生じない所定
距離だけずらす(焦点から近ずけるまたは遠ざける)こ
とによって、感光体表面上で図10(1)に示すよう
に、副走査方向にビーム形状が変形させレーザビームが
連続するようにしている。この場合のビームプロファイ
ルは、主走査方向については図10(2)に示すよう
に、ガウシアン分布形状であると共に、副走査方向につ
いては図10(3)に示すように、略ガウシアン分布形
状の中腹部分からビーム幅が広がった形状(サイドロー
ブを有する形状)となる。
と、1画素で形成されるべきドットが副走査方向に点在
することになるため、本実施の形態では、レーザビーム
の結像位置を感光体表面から解像度低下を生じない所定
距離だけずらす(焦点から近ずけるまたは遠ざける)こ
とによって、感光体表面上で図10(1)に示すよう
に、副走査方向にビーム形状が変形させレーザビームが
連続するようにしている。この場合のビームプロファイ
ルは、主走査方向については図10(2)に示すよう
に、ガウシアン分布形状であると共に、副走査方向につ
いては図10(3)に示すように、略ガウシアン分布形
状の中腹部分からビーム幅が広がった形状(サイドロー
ブを有する形状)となる。
【0044】従って、スリット80を設けずにエッジ部
のレーザビームの光強度を変更した場合には、隣接する
レーザビームとの合成光はガウシアン分布形状の裾野部
分の光強度による合成となり、エッジ部のレーザビーム
の変調が顕著に現れるが、本実施の形態のようにスリッ
ト80を設けてサイドローブ部を有するレーザビームの
光強度を変更した場合には、エッジ部のレーザビームが
変調されてもサイドローブ部のレーザビームの合成光に
よって、光強度が補間されることになり、エッジ位置と
レーザビームの光強度の線形性が増加する。
のレーザビームの光強度を変更した場合には、隣接する
レーザビームとの合成光はガウシアン分布形状の裾野部
分の光強度による合成となり、エッジ部のレーザビーム
の変調が顕著に現れるが、本実施の形態のようにスリッ
ト80を設けてサイドローブ部を有するレーザビームの
光強度を変更した場合には、エッジ部のレーザビームが
変調されてもサイドローブ部のレーザビームの合成光に
よって、光強度が補間されることになり、エッジ位置と
レーザビームの光強度の線形性が増加する。
【0045】本発明者は、回折光を生じさせるためのス
リットを設けた光走査装置とスリットを設けない光走査
装置とを用いて、実験を行い、図11に点線で示すよう
に、スリットを設けないもの(図11に実線で示した特
性)と比較し、エッジ位置とレーザビームの光強度の線
形性(リニアリティー)が増加するという結果を得た。
リットを設けた光走査装置とスリットを設けない光走査
装置とを用いて、実験を行い、図11に点線で示すよう
に、スリットを設けないもの(図11に実線で示した特
性)と比較し、エッジ位置とレーザビームの光強度の線
形性(リニアリティー)が増加するという結果を得た。
【0046】このように、本実施の形態では、回折光を
生じさせるためのスリットを設けることによって、エッ
ジ位置とレーザビームの光強度の線形性が増加するの
で、エッジ部を所定位置に位置決めするための制御が容
易になる。
生じさせるためのスリットを設けることによって、エッ
ジ位置とレーザビームの光強度の線形性が増加するの
で、エッジ部を所定位置に位置決めするための制御が容
易になる。
【0047】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、感
光体にエッジ部が形成されるように、感光体上の副走査
方向の所定位置に露光部と未露光部の境界を形成すると
き、境界に対応する光ビームの強度を制御し、境界に対
応する光ビームの強度に基づいて光ビームの射出時間を
感光体上のエネルギー密度が一定になるように制御する
ので、光ビームの強度に基づいた光ビームの射出時間に
よる感光体上のエネルギー密度が一定になり、境界に対
応する光ビームによる感光体上のエネルギー密度は一定
となり、文字等の隅部分が欠けることがない、という効
果がある。
光体にエッジ部が形成されるように、感光体上の副走査
方向の所定位置に露光部と未露光部の境界を形成すると
き、境界に対応する光ビームの強度を制御し、境界に対
応する光ビームの強度に基づいて光ビームの射出時間を
感光体上のエネルギー密度が一定になるように制御する
ので、光ビームの強度に基づいた光ビームの射出時間に
よる感光体上のエネルギー密度が一定になり、境界に対
応する光ビームによる感光体上のエネルギー密度は一定
となり、文字等の隅部分が欠けることがない、という効
果がある。
【0048】また、前記副走査方向に段階的な強度変化
を有する光ビームを射出するようにすれば、感光体上の
光エネルギーが急激に変化することがなく段階的にな
り、境界と境界に対応する光ビームの強度との対応を容
易に関係付けることができると共に、制御が容易にな
る、という効果がある。
を有する光ビームを射出するようにすれば、感光体上の
光エネルギーが急激に変化することがなく段階的にな
り、境界と境界に対応する光ビームの強度との対応を容
易に関係付けることができると共に、制御が容易にな
る、という効果がある。
【図1】本発明の実施の形態にかかる、光走査装置の概
略構成を示すブロック図である。
略構成を示すブロック図である。
【図2】制御装置の概略構成を示すブロック図である。
【図3】制御装置の光強度・パルス幅演算器で実行され
る処理ルーチンの流れを示すフローチャートである。
る処理ルーチンの流れを示すフローチャートである。
【図4】本実施の形態の光走査装置において副走査方向
の境界(エッジ)を形成するレーザ・ビームを強度変調
したときの感光体上における潜像電位分布を示すイメー
ジ図である。
の境界(エッジ)を形成するレーザ・ビームを強度変調
したときの感光体上における潜像電位分布を示すイメー
ジ図である。
【図5】本実施の形態の光走査装置において副走査方向
のエッジ位置と光強度との関係及びトナー未付着面積と
光強度との関係を示す線図である。
のエッジ位置と光強度との関係及びトナー未付着面積と
光強度との関係を示す線図である。
【図6】本実施の形態の光走査装置において副走査方向
の境界(エッジ)位置と光強度の関係を示す線図であ
る。
の境界(エッジ)位置と光強度の関係を示す線図であ
る。
【図7】本実施の形態の光走査装置において光強度とパ
ルス幅関係を示す線図である。
ルス幅関係を示す線図である。
【図8】本発明の他の実施の形態にかかる、光走査装置
の概略構成を示すブロック図である。
の概略構成を示すブロック図である。
【図9】本発明の他の実施の形態にかかる、レーザビー
ムのビーム形状を示す線図である。
ムのビーム形状を示す線図である。
【図10】本発明の他の実施の形態にかかり、結像位置
をずらしたレーザビームのビーム形状を示す線図であ
る。
をずらしたレーザビームのビーム形状を示す線図であ
る。
【図11】回折光を生じさせるスリットの有無による光
強度率とエッジ部の位置との関係を示す線図である。
強度率とエッジ部の位置との関係を示す線図である。
【図12】従来の画像形成装置の光走査装置の概略構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図13】従来の光走査装置において感光体上で副走査
したレーザ・ビームの位置及び位置に対応するレーザ・
ビームのエネルギー分布を示す線図である。
したレーザ・ビームの位置及び位置に対応するレーザ・
ビームのエネルギー分布を示す線図である。
【図14】副走査方向の境界(エッジ)を形成するレー
ザ・ビームを強度変調したときの副走査方向の位置と潜
像電位との関係を示す線図である。
ザ・ビームを強度変調したときの副走査方向の位置と潜
像電位との関係を示す線図である。
【図15】副走査方向の境界(エッジ)を形成するレー
ザ・ビームを強度変調したときの感光体上における潜像
電位分布を示すイメージ図である。
ザ・ビームを強度変調したときの感光体上における潜像
電位分布を示すイメージ図である。
【図16】従来の副走査方向の境界(エッジ)位置と光
強度との関係及びトナー未付着面積と光強度との関係を
示す線図である。
強度との関係及びトナー未付着面積と光強度との関係を
示す線図である。
【図17】原稿と、従来の光走査装置で文字を形成した
結果を示すイメージ図である。
結果を示すイメージ図である。
【図18】ある感材の露光エネルギーと潜像電位との関
係(PIDC)を示す線図である。
係(PIDC)を示す線図である。
【図19】他の感材の露光エネルギーと潜像電位との関
係(PIDC)を示す線図である。
係(PIDC)を示す線図である。
40 光走査装置 42 レーザ光源 46 ポリゴンミラー 54 感光体 58 制御装置 60 光強度・パルス幅演算器
Claims (5)
- 【請求項1】 光ビームを射出する光ビーム射出手段
と、 前記光ビームを所定の主走査方向に走査露光しかつ当該
主走査方向と交差する副方向に走査露光すると共に、当
該副走査方向に走査するときの走査間隔より大きい所定
ビーム径の光ビームを当該副走査方向の隣接する光ビー
ムの一部が重なり合うように感光体上に集光させる走査
集光手段と、 前記感光体上の副走査方向の所定位置に露光部と未露光
部との境界を形成させるとき、当該所定位置に境界が形
成されるように当該境界に対応する光ビームの強度を制
御すると共に、当該境界に対応する光ビームの強度に基
づいて当該光ビームの射出時間を前記感光体上のエネル
ギー密度が一定になるように制御する制御手段と、 を備えた画像形成装置。 - 【請求項2】 前記制御手段は、光ビームの強度を小さ
くするに従って、射出時間を長くすることを特徴とする
請求項1に記載の画像形成装置。 - 【請求項3】 前記制御手段は、前記境界に対応する光
ビームの射出時間を前記境界に対応する光ビーム以外の
光ビームの射出時間より長くすることを特徴とする請求
項1に記載の画像形成装置。 - 【請求項4】 前記制御手段は、前記境界に対応する光
ビーム以外の光ビームの射出時間を、前記主走査方向の
1画素を形成するための射出時間より短くすることを特
徴とする請求項1に記載の画像形成装置。 - 【請求項5】 前記光ビーム射出手段は、前記副走査方
向に段階的な強度変化を有する光ビームを射出すること
を特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP686796A JPH09193454A (ja) | 1996-01-18 | 1996-01-18 | 画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP686796A JPH09193454A (ja) | 1996-01-18 | 1996-01-18 | 画像形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09193454A true JPH09193454A (ja) | 1997-07-29 |
Family
ID=11650198
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP686796A Pending JPH09193454A (ja) | 1996-01-18 | 1996-01-18 | 画像形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09193454A (ja) |
-
1996
- 1996-01-18 JP JP686796A patent/JPH09193454A/ja active Pending
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