JPH09197004A - Ｉｃ測定方法およびその装置 - Google Patents
Ｉｃ測定方法およびその装置Info
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- 238000005096 rolling process Methods 0.000 abstract description 2
- NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N kaolin Chemical compound O.O.O=[Al]O[Si](=O)O[Si](=O)O[Al]=O NLYAJNPCOHFWQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ＩＣの電気特性を測定するＩＣ測定方法および
その装置において、変形したリード１０をもつＩＣ９や
傾いた姿勢で載置されたＩＣでも、正規の状態と同じよ
うにリード１０とコンタクト４とを接触させることによ
りリード１０の変形助長や傷の発生を起すことなく正確
な電気特性を測定する。 【解決手段】くさび部１１の下降に伴ないローラ１にバ
ネ７の反発力による押圧力を与え、可動部２ａの移動に
よりローラ１を回転させながらリード１０の曲りを矯正
し正規の状態でリード１０とコンタクト４とを接触させ
る。
その装置において、変形したリード１０をもつＩＣ９や
傾いた姿勢で載置されたＩＣでも、正規の状態と同じよ
うにリード１０とコンタクト４とを接触させることによ
りリード１０の変形助長や傷の発生を起すことなく正確
な電気特性を測定する。 【解決手段】くさび部１１の下降に伴ないローラ１にバ
ネ７の反発力による押圧力を与え、可動部２ａの移動に
よりローラ１を回転させながらリード１０の曲りを矯正
し正規の状態でリード１０とコンタクト４とを接触させ
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣの特性選別工
程におけるＩＣの電気的特性を測定するＩＣ測定方法お
よびその装置に関する。
程におけるＩＣの電気的特性を測定するＩＣ測定方法お
よびその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は従来のＩＣ測定装置の一例を示す
図である。従来、ＩＣハンドリング装置におけるＩＣ測
定装置は、図３に示すように、ＩＣ９のリード１０を乗
せＩＣ９を載置する平坦部とこの平坦部と根元部との間
にばね性をもつ湾曲部とが形成されるコンタクトの複数
を具備するＩＣソケット３と、シリンダ８の圧力でバネ
７の反発力を抗して下降しリード１０をコンタクト４に
押圧するプッシャー５とを備えていた。
図である。従来、ＩＣハンドリング装置におけるＩＣ測
定装置は、図３に示すように、ＩＣ９のリード１０を乗
せＩＣ９を載置する平坦部とこの平坦部と根元部との間
にばね性をもつ湾曲部とが形成されるコンタクトの複数
を具備するＩＣソケット３と、シリンダ８の圧力でバネ
７の反発力を抗して下降しリード１０をコンタクト４に
押圧するプッシャー５とを備えていた。
【０００３】図４（ａ）および（ｂ）と図５（ａ）およ
び（ｂ）は図３のＩＣ測定装置によるＩＣの測定動作順
に示す図である。ＩＣ９を図３のＩＣ測定装置で測定す
る場合は、まず、図４（ａ）に示すように、プッシャー
５をバネ７の反発力で持ち上げ、コンタクト４の平坦部
にＩＣ９のリード１０を乗せる。次に、図４（ｂ）に示
すように、シリンダを動作させプッシャー５を下降させ
リード１０をコンタクト４の平坦部に押し付け一定の圧
力を与えリード１０とコンタクト４と接触させる。
び（ｂ）は図３のＩＣ測定装置によるＩＣの測定動作順
に示す図である。ＩＣ９を図３のＩＣ測定装置で測定す
る場合は、まず、図４（ａ）に示すように、プッシャー
５をバネ７の反発力で持ち上げ、コンタクト４の平坦部
にＩＣ９のリード１０を乗せる。次に、図４（ｂ）に示
すように、シリンダを動作させプッシャー５を下降させ
リード１０をコンタクト４の平坦部に押し付け一定の圧
力を与えリード１０とコンタクト４と接触させる。
【０００４】また、図５（ａ）に示すように、リード１
０が反りをもっていても、プッシャー５の平坦部をリー
ド１０に押し付けリード１０をコンタクト４の平坦部と
を接触させ測定を行なっていた。
０が反りをもっていても、プッシャー５の平坦部をリー
ド１０に押し付けリード１０をコンタクト４の平坦部と
を接触させ測定を行なっていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のＩＣ測定装置では、図５に示すように、リード
１０に反りあるいは曲りがある場合には以下の問題点が
あった。
た従来のＩＣ測定装置では、図５に示すように、リード
１０に反りあるいは曲りがある場合には以下の問題点が
あった。
【０００６】その第１の問題点は、従来のプッシャー５
の押圧面が平らであるため、図５のようにリード１０が
上下方向に曲っている場合やＩＣ９自体が傾いている場
合には、プッシャー５の押圧面とリード１０の面との間
に傾きが生じ、両側のリード１０とコンタクト４との接
触圧が均等にならず、この接触圧の違いにより接触抵抗
のばらつきを生み、接触圧の小さいリード１０とコンタ
クト４との間では、微少な電気信号での試験において不
安定な測定結果を招いてしまうことである。
の押圧面が平らであるため、図５のようにリード１０が
上下方向に曲っている場合やＩＣ９自体が傾いている場
合には、プッシャー５の押圧面とリード１０の面との間
に傾きが生じ、両側のリード１０とコンタクト４との接
触圧が均等にならず、この接触圧の違いにより接触抵抗
のばらつきを生み、接触圧の小さいリード１０とコンタ
クト４との間では、微少な電気信号での試験において不
安定な測定結果を招いてしまうことである。
【０００７】第２の問題点は片側しかプッシャーとリー
ドが当っていない場合、他方のリードが変形するほど過
分な力を受けコンタクトはリード９の変形を助長してし
まう恐れがあることである。また、この場合リードに変
形起さないまでも、プッシャーとリードとが斜め方向で
接触するため、プッシャーとリードとの間で擦べりが起
きリード表面に致命的な傷を生じさせるという問題があ
る。
ドが当っていない場合、他方のリードが変形するほど過
分な力を受けコンタクトはリード９の変形を助長してし
まう恐れがあることである。また、この場合リードに変
形起さないまでも、プッシャーとリードとが斜め方向で
接触するため、プッシャーとリードとの間で擦べりが起
きリード表面に致命的な傷を生じさせるという問題があ
る。
【０００８】従って、本発明の目的は、曲ったリードや
両側のリードに傾きのあるＩＣでもリードとコンタクト
ピンを正規の状態で接触させＩＣの電気特性を測定でき
るＩＣ測定方法およびその装置を提供することである。
両側のリードに傾きのあるＩＣでもリードとコンタクト
ピンを正規の状態で接触させＩＣの電気特性を測定でき
るＩＣ測定方法およびその装置を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、ＩＣの
外郭体の両側から並び外方に突出する複数のリードを該
リードに対応するＩＣソケトのコンタクトに乗せ、前記
リードにローラ部材を押圧するとともに該ローラ部材を
回転させながら前記リードの伸びる方向に移動させ前記
リードと前記コンタクトとに接触圧を与え前記ＩＣの電
気特性を測定するＩＣ測定方法である。
外郭体の両側から並び外方に突出する複数のリードを該
リードに対応するＩＣソケトのコンタクトに乗せ、前記
リードにローラ部材を押圧するとともに該ローラ部材を
回転させながら前記リードの伸びる方向に移動させ前記
リードと前記コンタクトとに接触圧を与え前記ＩＣの電
気特性を測定するＩＣ測定方法である。
【００１０】また、他の特徴は、前記ＩＣのリードを乗
せ該ＩＣを載置する先端部と該先端部と根元部との間に
ばね性をもつ湾曲部とが形成される前記コンタクトを具
備するＩＣソケットと、前記ローラ部材を回転自在に取
付けるとともに下降に伴なって前記ローラ部材を前記リ
ードに接触させかつ前記リードの伸びる方向に移動しな
がら前記ローラ部材を回転させ前記コンタクトに前記リ
ードを押圧する押圧機構とを備えるＩＣ測定装置であ
る。
せ該ＩＣを載置する先端部と該先端部と根元部との間に
ばね性をもつ湾曲部とが形成される前記コンタクトを具
備するＩＣソケットと、前記ローラ部材を回転自在に取
付けるとともに下降に伴なって前記ローラ部材を前記リ
ードに接触させかつ前記リードの伸びる方向に移動しな
がら前記ローラ部材を回転させ前記コンタクトに前記リ
ードを押圧する押圧機構とを備えるＩＣ測定装置であ
る。
【００１１】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
して説明する。
【００１２】図１（ａ）および（ｂ）は本発明の一実施
の形態におけるＩＣ測定装置の部分破断図およびＸＸ断
面矢視図である。このＩＣ測定装置は、図１に示すよう
に、ＩＣ９のリード１０を乗せＩＣ９を載置する先端部
と該先端部と根元部との間にばね性をもつ湾曲部４ａと
が形成されるコンタクト４を具備するＩＣソケット３
と、ローラ１をボールベアリング１ａにより回転自在に
取付けるとともにくさび部１１の下降に伴なってリード
１０の伸びる方向に移動する可動部２ａとくさび部１１
の下降によりバネ７の反発力を可動部２ａに伝える押圧
部２ｂとで構成される押圧機構２とを備えている。
の形態におけるＩＣ測定装置の部分破断図およびＸＸ断
面矢視図である。このＩＣ測定装置は、図１に示すよう
に、ＩＣ９のリード１０を乗せＩＣ９を載置する先端部
と該先端部と根元部との間にばね性をもつ湾曲部４ａと
が形成されるコンタクト４を具備するＩＣソケット３
と、ローラ１をボールベアリング１ａにより回転自在に
取付けるとともにくさび部１１の下降に伴なってリード
１０の伸びる方向に移動する可動部２ａとくさび部１１
の下降によりバネ７の反発力を可動部２ａに伝える押圧
部２ｂとで構成される押圧機構２とを備えている。
【００１３】また、シリンダ８は図示していない架台に
固定されており、ストロークガイド６を摺動するくさび
部１１の昇降を仕さどっている。さらに、シリンダ８の
動作により下降するくさび部１１は、押圧部２ｂと可動
部２ａを介してローラ１にバネ７の反発力を与えるとと
もに可動部２ａをリード１０の伸びる方向にアリ溝１２
に沿って移動させる。そして、この可動部２ａの移動に
伴なってローラ１は回転しながらリード１０に接触す
る。
固定されており、ストロークガイド６を摺動するくさび
部１１の昇降を仕さどっている。さらに、シリンダ８の
動作により下降するくさび部１１は、押圧部２ｂと可動
部２ａを介してローラ１にバネ７の反発力を与えるとと
もに可動部２ａをリード１０の伸びる方向にアリ溝１２
に沿って移動させる。そして、この可動部２ａの移動に
伴なってローラ１は回転しながらリード１０に接触す
る。
【００１４】図２（ａ）および（ｂ）は図１のＩＣ測定
装置の動作順に示す部分断面図である。次に、本発明の
ＩＣの測定方法の説明を図１のＩＣ測定装置の動作に従
って説明する。まず、図２（ａ）に示すように、ＩＣソ
ケットのコンタクト４上にリード１０の一方が曲ったＩ
Ｃ９を乗せる。
装置の動作順に示す部分断面図である。次に、本発明の
ＩＣの測定方法の説明を図１のＩＣ測定装置の動作に従
って説明する。まず、図２（ａ）に示すように、ＩＣソ
ケットのコンタクト４上にリード１０の一方が曲ったＩ
Ｃ９を乗せる。
【００１５】次に、図２（ｂ）に示すように、シリンダ
により下降したきたくさび部１１は、押圧部２ｂと可動
部２ａを介してローラ１にリード１０へのバネ７の反発
力を与えるとともに可動部２ａを矢印の方向に移動させ
る。このことにより紙面の右側の曲ったリード１０と最
初に接したところから、ローラ１は曲ったリード１０上
を転がりながら押えてコンタクト４に接触する位置まで
下降する。そして、ローラ１の下降停止位置では、曲っ
たリード１０はローラ１に矯正され左方のリード１０の
正常な場合と同じ状態でコンタクト４と接触することに
なる。
により下降したきたくさび部１１は、押圧部２ｂと可動
部２ａを介してローラ１にリード１０へのバネ７の反発
力を与えるとともに可動部２ａを矢印の方向に移動させ
る。このことにより紙面の右側の曲ったリード１０と最
初に接したところから、ローラ１は曲ったリード１０上
を転がりながら押えてコンタクト４に接触する位置まで
下降する。そして、ローラ１の下降停止位置では、曲っ
たリード１０はローラ１に矯正され左方のリード１０の
正常な場合と同じ状態でコンタクト４と接触することに
なる。
【００１６】このようにバネ７の反発力による一定の押
圧力をもつローラ１を回転しながらリード１０の先端方
向に向けて移動させることによって、リード１０の曲っ
たＩＣ９や斜めに載置されＩＣでも、リード１０とロー
ラ１の間に擦べりを起すことなくリード１０の曲りある
いはＩＣの姿勢を矯正し、正常な状態でのリード１０と
コンタクト４との接触がが可能となる。
圧力をもつローラ１を回転しながらリード１０の先端方
向に向けて移動させることによって、リード１０の曲っ
たＩＣ９や斜めに載置されＩＣでも、リード１０とロー
ラ１の間に擦べりを起すことなくリード１０の曲りある
いはＩＣの姿勢を矯正し、正常な状態でのリード１０と
コンタクト４との接触がが可能となる。
【００１７】なお、図面には示していないが、可動部２
ａが元位置に復帰するためのスプリングによる復帰機構
が備えられている。また、ローラ１の材質は、リード１
０に傷をつけないように柔かい材質である塩化ビニール
などの樹脂が望ましい。さらに、可動部２ａが摺動する
アリ溝１２の摺動面は摩擦係数の小さいテフロン（６フ
ッ化ビニール）コーティングされていることが望まし
い。
ａが元位置に復帰するためのスプリングによる復帰機構
が備えられている。また、ローラ１の材質は、リード１
０に傷をつけないように柔かい材質である塩化ビニール
などの樹脂が望ましい。さらに、可動部２ａが摺動する
アリ溝１２の摺動面は摩擦係数の小さいテフロン（６フ
ッ化ビニール）コーティングされていることが望まし
い。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、コンタク
トへのリードを押圧するローラ部材と、このローラ部材
を回転自在に取り付けるとともに下降に伴なってローラ
部材をリード先端部に向け移動する押圧機構とを設ける
ことによって、リードが上下方向に曲っている場合やＩ
Ｃ自体が傾いている場合でもローラ部材が回転しながら
リード先端分に向って移動し曲りや姿勢を矯正し一定の
接触圧を与え、電気特性を測定ができ安定した結果を得
られるようになる。その結果、リードに変形や傷を生じ
させることなく正確に測定できるという効果がある。
トへのリードを押圧するローラ部材と、このローラ部材
を回転自在に取り付けるとともに下降に伴なってローラ
部材をリード先端部に向け移動する押圧機構とを設ける
ことによって、リードが上下方向に曲っている場合やＩ
Ｃ自体が傾いている場合でもローラ部材が回転しながら
リード先端分に向って移動し曲りや姿勢を矯正し一定の
接触圧を与え、電気特性を測定ができ安定した結果を得
られるようになる。その結果、リードに変形や傷を生じ
させることなく正確に測定できるという効果がある。
【図１】本発明の一実施の形態におけるＩＣ測定装置の
部分破断図およびＸＸ断面矢視図である。
部分破断図およびＸＸ断面矢視図である。
【図２】図１のＩＣ測定装置の動作順に示す部分断面図
である。
である。
【図３】従来のＩＣ測定装置の一例を示す図である。
【図４】図３のＩＣ測定装置によるＩＣの測定動作順に
示す図である。
示す図である。
【図５】図３のＩＣ測定装置によるＩＣの測定動作順に
示す図である。
示す図である。
１ ローラ ２ 押圧機構 ２ａ 可動部 ２ｂ 押圧部 ３ ＩＣソケット ４ コンタクト ４ａ 湾曲部 ５ プッシャー ６ ストロークガイド ７ バネ ８ シリンダ ９ ＩＣ １０ リード １１ くさび部 １２ アリ溝
Claims (2)
- 【請求項１】 ＩＣの外郭体の両側から並び外方に突出
する複数のリードを該リードに対応するＩＣソケトのコ
ンタクトに乗せ、前記リードにローラ部材を押圧すると
ともに該ローラ部材を回転させながら前記リードの伸び
る方向に移動させ前記リードと前記コンタクトとに接触
圧を与え前記ＩＣの電気特性を測定することを特徴とす
るＩＣ測定方法。 - 【請求項２】 前記ＩＣのリードを乗せ該ＩＣを載置す
る先端部と該先端部と根元部との間にばね性をもつ湾曲
部とが形成される前記コンタクトを具備するＩＣソケッ
トと、前記ローラ部材を回転自在に取付けるとともに下
降に伴なって前記ローラ部材を前記リードに接触させか
つ前記リードの伸びる方向に移動しながら前記ローラ部
材を回転させ前記コンタクトに前記リードを押圧する押
圧機構とを備えることを特徴とするＩＣ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8005901A JP2826499B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | Ｉｃ測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8005901A JP2826499B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | Ｉｃ測定方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09197004A true JPH09197004A (ja) | 1997-07-31 |
| JP2826499B2 JP2826499B2 (ja) | 1998-11-18 |
Family
ID=11623809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8005901A Expired - Fee Related JP2826499B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | Ｉｃ測定方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2826499B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105324672A (zh) * | 2013-06-28 | 2016-02-10 | 惠康有限公司 | 半导体元件测试用插座装置 |
| JP2016102688A (ja) * | 2014-11-27 | 2016-06-02 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品搬送装置、電子部品検査装置および電子部品押圧装置 |
| JP2016102684A (ja) * | 2014-11-27 | 2016-06-02 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品搬送装置、電子部品検査装置および電子部品押圧装置 |
| KR20200071437A (ko) * | 2018-12-11 | 2020-06-19 | (주)테크윙 | 전자부품 테스트용 핸들러 |
-
1996
- 1996-01-17 JP JP8005901A patent/JP2826499B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105324672A (zh) * | 2013-06-28 | 2016-02-10 | 惠康有限公司 | 半导体元件测试用插座装置 |
| JP2016511513A (ja) * | 2013-06-28 | 2016-04-14 | ハイコン カンパニー リミテッド | 半導体素子テスト用ソケット装置 |
| US9494616B2 (en) | 2013-06-28 | 2016-11-15 | Hicon Co., Ltd. | Socket device for testing semiconductor device |
| JP2016102688A (ja) * | 2014-11-27 | 2016-06-02 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品搬送装置、電子部品検査装置および電子部品押圧装置 |
| JP2016102684A (ja) * | 2014-11-27 | 2016-06-02 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品搬送装置、電子部品検査装置および電子部品押圧装置 |
| KR20200071437A (ko) * | 2018-12-11 | 2020-06-19 | (주)테크윙 | 전자부품 테스트용 핸들러 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2826499B2 (ja) | 1998-11-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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