JPH09201352A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH09201352A JPH09201352A JP8245942A JP24594296A JPH09201352A JP H09201352 A JPH09201352 A JP H09201352A JP 8245942 A JP8245942 A JP 8245942A JP 24594296 A JP24594296 A JP 24594296A JP H09201352 A JPH09201352 A JP H09201352A
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 管電圧の大小によるＸ線強度分布シフトの相
殺をはかりたい。更に、熱ドリフト等によるＸ線管の移
動によるビームシフトの相殺をはかりたい。 【解決手段】 Ｘ線管２の駆動機構１８を設けておく。
管電圧の大小によりＸ線強度分布シフトする。このシフ
トは出力Ａ、Ｂの中に現われる。そこで、Ａ＝Ｂとする
ように、増幅器１７の利得Ｇを設定する。この設定後に
あっては、比較器１５、制御装置１６を介してＸ線管２
がＡ＝Ｂとなるように負帰還制御され、熱ドリフトシフ
トの補正を行う。
殺をはかりたい。更に、熱ドリフト等によるＸ線管の移
動によるビームシフトの相殺をはかりたい。 【解決手段】 Ｘ線管２の駆動機構１８を設けておく。
管電圧の大小によりＸ線強度分布シフトする。このシフ
トは出力Ａ、Ｂの中に現われる。そこで、Ａ＝Ｂとする
ように、増幅器１７の利得Ｇを設定する。この設定後に
あっては、比較器１５、制御装置１６を介してＸ線管２
がＡ＝Ｂとなるように負帰還制御され、熱ドリフトシフ
トの補正を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線ビームのシフ
ト補正を行うＸ線ＣＴ装置に関する。
ト補正を行うＸ線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線管と、この放出Ｘ
線をファンビーム状にコリメートするコリメータを持
つ。コリメータを通過するＸ線はファンビーム化され、
被検体に照射される。Ｘ線管に対向した配置関係にある
多チャンネルＸ線検出器が、被検体を透過したＸ線を検
出する。このＸ線検出器の出力はＡＤ変換されて画像処
理装置に入力する。Ｘ線管とＸ線検出器とは互いに対向
した位置関係のもとに回転し、この回転の間、Ｘ線管が
Ｘ線を連続的又は間欠的に曝射し、所定のピッチ角度
（これを投影角度と呼ぶ）毎に、Ｘ線検出器によるそれ
に伴う被検体透過Ｘ線の検出を行う。対向位置関係のも
とでの１回転又は半回転１８０゜（＋α）の回転により
得られたＸ線検出器の出力について、画像処理装置で、
各種の前処理や再構成処理が行われ、再構成画像を得
る。
線をファンビーム状にコリメートするコリメータを持
つ。コリメータを通過するＸ線はファンビーム化され、
被検体に照射される。Ｘ線管に対向した配置関係にある
多チャンネルＸ線検出器が、被検体を透過したＸ線を検
出する。このＸ線検出器の出力はＡＤ変換されて画像処
理装置に入力する。Ｘ線管とＸ線検出器とは互いに対向
した位置関係のもとに回転し、この回転の間、Ｘ線管が
Ｘ線を連続的又は間欠的に曝射し、所定のピッチ角度
（これを投影角度と呼ぶ）毎に、Ｘ線検出器によるそれ
に伴う被検体透過Ｘ線の検出を行う。対向位置関係のも
とでの１回転又は半回転１８０゜（＋α）の回転により
得られたＸ線検出器の出力について、画像処理装置で、
各種の前処理や再構成処理が行われ、再構成画像を得
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】画像再構成のために
は、ファンビームＸ線がＸ線検出器のＸ線感応領域に正
確に入射することが必要である。Ｘ線管及びコリメータ
並びにＸ線検出器が互いに整列されることで、Ｘ線管か
ら放射されるＸ線がコリメータでファンビーム化され、
このファンビームＸ線がＸ線検出器のＸ線感応領域へと
入射する。こうしたＸ線管とコリメータとＸ線検出器と
は機構的に互いに整列するように設計され、組立てられ
ている。
は、ファンビームＸ線がＸ線検出器のＸ線感応領域に正
確に入射することが必要である。Ｘ線管及びコリメータ
並びにＸ線検出器が互いに整列されることで、Ｘ線管か
ら放射されるＸ線がコリメータでファンビーム化され、
このファンビームＸ線がＸ線検出器のＸ線感応領域へと
入射する。こうしたＸ線管とコリメータとＸ線検出器と
は機構的に互いに整列するように設計され、組立てられ
ている。
【０００４】しかし、こうした設計、組立てのもとで
も、ファンビームＸ線が位置ずれ（シフト）を起こすこ
とがあった。位置ずれの主な原因としては、Ｘ線管自体
の熱ドリフトによる移動がある。
も、ファンビームＸ線が位置ずれ（シフト）を起こすこ
とがあった。位置ずれの主な原因としては、Ｘ線管自体
の熱ドリフトによる移動がある。
【０００５】Ｘ線管の移動により、焦点がずれ、予定の
ファンビームＸ線を得ることができない。熱ドリフトに
よるＸ線管の移動があっても、その移動量を検出してそ
の移動量を相殺するようなシフト補正方法が考えられ
る。その一例が特開平４−２２７２３８号である。特開
平４−２２７２３８号は、ファンビームを得るための手
段としてのコリメータに対して、移動量を相殺するよう
な位置制御をはかる。熱ドリフトによる移動量の相殺の
ためには、その移動量を正確に検出することが必要であ
る。
ファンビームＸ線を得ることができない。熱ドリフトに
よるＸ線管の移動があっても、その移動量を検出してそ
の移動量を相殺するようなシフト補正方法が考えられ
る。その一例が特開平４−２２７２３８号である。特開
平４−２２７２３８号は、ファンビームを得るための手
段としてのコリメータに対して、移動量を相殺するよう
な位置制御をはかる。熱ドリフトによる移動量の相殺の
ためには、その移動量を正確に検出することが必要であ
る。
【０００６】又、Ｘ線ビームの熱ドリフト等によるシフ
トをなくすために、コリメータの位置制御を行うが、こ
の際にシフト検出用の信号にノイズが重畳し、正しくシ
フト量を検出できないとの問題がある。
トをなくすために、コリメータの位置制御を行うが、こ
の際にシフト検出用の信号にノイズが重畳し、正しくシ
フト量を検出できないとの問題がある。
【０００７】本発明の目的は、熱ドリフト等によるＸ線
管の移動量を正確に検出可能にするＸ線ＣＴ装置を提供
するものである。
管の移動量を正確に検出可能にするＸ線ＣＴ装置を提供
するものである。
【０００８】更に本発明の目的は、コリメータへの位置
制御を使用することなく、Ｘ線の移動の相殺を可能にす
るＸ線ＣＴ装置を提供するものである。
制御を使用することなく、Ｘ線の移動の相殺を可能にす
るＸ線ＣＴ装置を提供するものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、Ｘ線管と、Ｘ
線管駆動機構と、Ｘ線管からの放出Ｘ線をファンビーム
化するコリメータと、Ｘ線管と対向して、被検体を搭載
する天板の周囲を、回転する多チャネルＸ線検出器と、
ファンビームＸ線の熱ドリフト等シフトの有無を示す２
つの信号Ａ、Ｂ（シフトなしでＡ＝Ｂ、シフトあればそ
のシフトに応じた差分Ａ−Ｂとなる）を出力するＸ線検
出器と、管電圧の大きさによって、熱ドリフト等シフト
の発生していない状態で出力Ａ、ＢがＡ＝Ｂとなるよう
に、出力Ａ、Ｂの少なくともいずれか一方を調整する手
段と、この調整後に得られる信号Ａ、Ｂの熱ドリフ等シ
フトによるＡ≠Ｂの場合に、Ａ＝Ｂとするように、上記
Ｘ線管駆動機構を介してＸ線管の位置制御を行う手段
と、この位置制御後の上記多チャネルＸ線検出器の計測
信号から画像再構成を行う処理手段と、より成るＸ線Ｃ
Ｔ装置を開示する。
線管駆動機構と、Ｘ線管からの放出Ｘ線をファンビーム
化するコリメータと、Ｘ線管と対向して、被検体を搭載
する天板の周囲を、回転する多チャネルＸ線検出器と、
ファンビームＸ線の熱ドリフト等シフトの有無を示す２
つの信号Ａ、Ｂ（シフトなしでＡ＝Ｂ、シフトあればそ
のシフトに応じた差分Ａ−Ｂとなる）を出力するＸ線検
出器と、管電圧の大きさによって、熱ドリフト等シフト
の発生していない状態で出力Ａ、ＢがＡ＝Ｂとなるよう
に、出力Ａ、Ｂの少なくともいずれか一方を調整する手
段と、この調整後に得られる信号Ａ、Ｂの熱ドリフ等シ
フトによるＡ≠Ｂの場合に、Ａ＝Ｂとするように、上記
Ｘ線管駆動機構を介してＸ線管の位置制御を行う手段
と、この位置制御後の上記多チャネルＸ線検出器の計測
信号から画像再構成を行う処理手段と、より成るＸ線Ｃ
Ｔ装置を開示する。
【００１０】更に本発明は、Ｘ線管と、Ｘ線管からの放
出Ｘ線をファンビーム化するコリメータと、Ｘ線管と対
向して、被検体を搭載する天板の周囲を回転する、多チ
ャネルＸ線検出器と、ファンビームＸ線の熱ドリフト等
シフトの有無を示す２つの信号Ａ、Ｂ（シフトなしでＡ
＝Ｂ、シフトあればそのシフトに応じた差分Ａ−Ｂとな
る）を出力するＸ線検出器と、管電圧の大きさによっ
て、熱ドリフト等シフトの発生していない状態で出力
Ａ、ＢがＡ＝Ｂとなるように、出力Ａ、Ｂのいずれか一
方を調整する手段と、コリメータ駆動機構と、この調整
後に得られる信号Ａ、Ｂの熱ドリフト等シフトによるＡ
≠Ｂの場合に、Ａ＝Ｂとするように、上記コリメータの
位置制御を行う手段と、このコリメータの位置制御後の
上記多チャネルＸ線検出器の計測信号から画像構成を行
う処理手段と、より成るＸ線ＣＴ装置を開示する。
出Ｘ線をファンビーム化するコリメータと、Ｘ線管と対
向して、被検体を搭載する天板の周囲を回転する、多チ
ャネルＸ線検出器と、ファンビームＸ線の熱ドリフト等
シフトの有無を示す２つの信号Ａ、Ｂ（シフトなしでＡ
＝Ｂ、シフトあればそのシフトに応じた差分Ａ−Ｂとな
る）を出力するＸ線検出器と、管電圧の大きさによっ
て、熱ドリフト等シフトの発生していない状態で出力
Ａ、ＢがＡ＝Ｂとなるように、出力Ａ、Ｂのいずれか一
方を調整する手段と、コリメータ駆動機構と、この調整
後に得られる信号Ａ、Ｂの熱ドリフト等シフトによるＡ
≠Ｂの場合に、Ａ＝Ｂとするように、上記コリメータの
位置制御を行う手段と、このコリメータの位置制御後の
上記多チャネルＸ線検出器の計測信号から画像構成を行
う処理手段と、より成るＸ線ＣＴ装置を開示する。
【００１１】更に本発明は、Ｘ線管と、Ｘ線管駆動機構
と、Ｘ線管からの放出Ｘ線をファンビーム化するコリメ
ータと、Ｘ線管と対向して、被検体を搭載する天板の周
囲を、回転する多チャネルＸ線検出器と、ファンビーム
Ｘ線の熱ドリフト等シフトの有無を示す２つの信号Ａ、
Ｂ（シフトなしでＡ＝Ｂ、シフトあればそのシフトに応
じた差分Ａ−Ｂとなる）を出力するＸ線検出器と、管電
圧及び又は管電流の大きさに応じて利得の大きさが切替
えられると共に、上記信号Ａ、Ｂを入力しその利得に応
じた信号Ａ′、Ｂ′を出力する利得手段と、この利得切
替え後に得られる信号Ａ、Ｂに対する出力信号Ａ′、
Ｂ′について熱ドリフト等シフトによるＡ′≠Ｂ′の場
合に、Ａ′＝Ｂ′とするように、上記Ｘ線管駆動機構を
介してＸ線管の位置制御を行う手段と、この位置制御後
の上記多チャネルＸ線検出器の計測信号から画像再構成
を行う処理手段と、より成るＸ線ＣＴ装置を開示する。
と、Ｘ線管からの放出Ｘ線をファンビーム化するコリメ
ータと、Ｘ線管と対向して、被検体を搭載する天板の周
囲を、回転する多チャネルＸ線検出器と、ファンビーム
Ｘ線の熱ドリフト等シフトの有無を示す２つの信号Ａ、
Ｂ（シフトなしでＡ＝Ｂ、シフトあればそのシフトに応
じた差分Ａ−Ｂとなる）を出力するＸ線検出器と、管電
圧及び又は管電流の大きさに応じて利得の大きさが切替
えられると共に、上記信号Ａ、Ｂを入力しその利得に応
じた信号Ａ′、Ｂ′を出力する利得手段と、この利得切
替え後に得られる信号Ａ、Ｂに対する出力信号Ａ′、
Ｂ′について熱ドリフト等シフトによるＡ′≠Ｂ′の場
合に、Ａ′＝Ｂ′とするように、上記Ｘ線管駆動機構を
介してＸ線管の位置制御を行う手段と、この位置制御後
の上記多チャネルＸ線検出器の計測信号から画像再構成
を行う処理手段と、より成るＸ線ＣＴ装置を開示する。
【００１２】更に本発明は、Ｘ線管と、Ｘ線管からの放
出Ｘ線をファンビーム化するコリメータと、Ｘ線管と対
向して、被検体を搭載する天板の周囲を回転する、多チ
ャネルＸ線検出器と、ファンビームＸ線の熱ドリフト等
シフトの有無を示す２つの信号Ａ、Ｂ（シフトなしでＡ
＝Ｂ、シフトあればそのシフトに応じた差分Ａ−Ｂとな
る）を出力するＸ線検出器と、管電圧及び又は管電流の
大きさに応じて利得の大きさが切替えられると共に、上
記信号Ａ、Ｂを入力しその利得に応じた信号Ａ′、Ｂ′
を出力する利得手段と、コリメータ駆動機構と、上記利
得切替え後に得られる信号Ａ、Ｂに対する出力信号
Ａ′、Ｂ′についての熱ドリフト等シフトによるＡ′≠
Ｂ′の場合に、Ａ′＝Ｂ′とするように、上記コリメー
タの位置制御を行う手段と、このコリメータの位置制御
後の上記多チャネルＸ線検出器の計測信号から画像構成
を行う処理手段と、より成るＸ線ＣＴ装置を開示する。
出Ｘ線をファンビーム化するコリメータと、Ｘ線管と対
向して、被検体を搭載する天板の周囲を回転する、多チ
ャネルＸ線検出器と、ファンビームＸ線の熱ドリフト等
シフトの有無を示す２つの信号Ａ、Ｂ（シフトなしでＡ
＝Ｂ、シフトあればそのシフトに応じた差分Ａ−Ｂとな
る）を出力するＸ線検出器と、管電圧及び又は管電流の
大きさに応じて利得の大きさが切替えられると共に、上
記信号Ａ、Ｂを入力しその利得に応じた信号Ａ′、Ｂ′
を出力する利得手段と、コリメータ駆動機構と、上記利
得切替え後に得られる信号Ａ、Ｂに対する出力信号
Ａ′、Ｂ′についての熱ドリフト等シフトによるＡ′≠
Ｂ′の場合に、Ａ′＝Ｂ′とするように、上記コリメー
タの位置制御を行う手段と、このコリメータの位置制御
後の上記多チャネルＸ線検出器の計測信号から画像構成
を行う処理手段と、より成るＸ線ＣＴ装置を開示する。
【００１３】更に本発明は、上記管電圧及び又は管電流
による利得切替えは、Ｘ線強度信号が少なくて信号Ａ、
Ｂのレベルが小さい時には信号Ａ、Ｂのレベルの大きい
時に比して利得を大きくするように切替えるものとした
請求項３又は４のＸ線ＣＴ装置を開示する。
による利得切替えは、Ｘ線強度信号が少なくて信号Ａ、
Ｂのレベルが小さい時には信号Ａ、Ｂのレベルの大きい
時に比して利得を大きくするように切替えるものとした
請求項３又は４のＸ線ＣＴ装置を開示する。
【００１４】更に本発明は、上記管電圧及び管電流によ
る利得切替えは、熱ドリフトの発生していない状態で
Ａ′＝Ｂ′となるように利得切替えると共に、Ｘ線強度
が小さくて信号Ａ、Ｂのレベルが小さい時には信号Ａ、
Ｂのレベルの大きい時に比して利得を大きくするように
切替えるものとした請求項３又は４のＸ線ＣＴ装置を開
示する。
る利得切替えは、熱ドリフトの発生していない状態で
Ａ′＝Ｂ′となるように利得切替えると共に、Ｘ線強度
が小さくて信号Ａ、Ｂのレベルが小さい時には信号Ａ、
Ｂのレベルの大きい時に比して利得を大きくするように
切替えるものとした請求項３又は４のＸ線ＣＴ装置を開
示する。
【００１５】
【発明の実施の形態】図２は、本発明のＸ線ＣＴシステ
ムの構成例図である。図において、ガントリ１の中央部
には開孔が形成され、この開孔には、ベット１４の駆動
にともなって被検体５が挿入配置される。ガントリ１に
はＸ線管２とコリメータ３とＸ線検出器４が配置され、
Ｘ線管２及びコリメータ３とＸ線検出器４は前記被検体
５を間にして互いに対向配置されている。Ｘ線管２は制
御装置６の制御によってＸ線の放出を行う。コリメータ
３は、図３に示すように、Ｘ線管２内の陰極２Ａより放
出された電子線が回転陽極２Ｂに衝突することにより発
生する円錐状のＸ線ビームを、厚さ（スライス幅）を持
った扇状ビーム３Ａにコリメートする。コリメータ３を
通過した扇状Ｘ線ビーム３Ａが被検体５を通る。円弧状
の多チャンネル形Ｘ線検出器４が被検体５を通過したＸ
線を検出する。
ムの構成例図である。図において、ガントリ１の中央部
には開孔が形成され、この開孔には、ベット１４の駆動
にともなって被検体５が挿入配置される。ガントリ１に
はＸ線管２とコリメータ３とＸ線検出器４が配置され、
Ｘ線管２及びコリメータ３とＸ線検出器４は前記被検体
５を間にして互いに対向配置されている。Ｘ線管２は制
御装置６の制御によってＸ線の放出を行う。コリメータ
３は、図３に示すように、Ｘ線管２内の陰極２Ａより放
出された電子線が回転陽極２Ｂに衝突することにより発
生する円錐状のＸ線ビームを、厚さ（スライス幅）を持
った扇状ビーム３Ａにコリメートする。コリメータ３を
通過した扇状Ｘ線ビーム３Ａが被検体５を通る。円弧状
の多チャンネル形Ｘ線検出器４が被検体５を通過したＸ
線を検出する。
【００１６】Ｘ線管２とＸ線検出器４は互いに対向した
まま被検体５を中心として回転する。この回転は走査部
制御装置８によって駆動される駆動装置７によって行
う。走査部制御装置８は画像処理装置１１からの出力信
号によって駆動される。更に、Ｘ線検出器４からの出力
は、増幅器９を介してＡ／Ｄ変換器１０によってディジ
タル化され前記画像処理装置１１に入力する。そして、
この画像処理装置１１によって画像処理により再構成像
を得る。再構成像は、ディスプレイ１２に表示したり、
あるいは記憶装置１３に記録したりする。
まま被検体５を中心として回転する。この回転は走査部
制御装置８によって駆動される駆動装置７によって行
う。走査部制御装置８は画像処理装置１１からの出力信
号によって駆動される。更に、Ｘ線検出器４からの出力
は、増幅器９を介してＡ／Ｄ変換器１０によってディジ
タル化され前記画像処理装置１１に入力する。そして、
この画像処理装置１１によって画像処理により再構成像
を得る。再構成像は、ディスプレイ１２に表示したり、
あるいは記憶装置１３に記録したりする。
【００１７】図１は、本発明の管電圧の大小による強度
分布シフトの補正制御（相殺又は低減）手段付加例を示
す。Ｘ線管２は、内部に電子線を発生する陰極２Ａ、こ
の電子線の標的となる回転陽極２Ｂとを持つ。回転陽極
２Ｂが電子線を受けてＸ線２Ｃを放出する。Ｘ線管２
は、ウォームギヤ等の駆動機構１８によって矢印（紙面
の左右）方向に微動できるようになっている。回転陽極
２Ｂからの放出Ｘ線２Ｃはコリメータ３によってスライ
スの幅を制御してファンビーム状にコリメートされ、被
検体５に照射され、この透過Ｘ線はＸ線検出器４で検出
される。尚、Ｘ線検出器４は多チャンネル形であり、紙
面に直交する方向にチャンネルが形成されている。
分布シフトの補正制御（相殺又は低減）手段付加例を示
す。Ｘ線管２は、内部に電子線を発生する陰極２Ａ、こ
の電子線の標的となる回転陽極２Ｂとを持つ。回転陽極
２Ｂが電子線を受けてＸ線２Ｃを放出する。Ｘ線管２
は、ウォームギヤ等の駆動機構１８によって矢印（紙面
の左右）方向に微動できるようになっている。回転陽極
２Ｂからの放出Ｘ線２Ｃはコリメータ３によってスライ
スの幅を制御してファンビーム状にコリメートされ、被
検体５に照射され、この透過Ｘ線はＸ線検出器４で検出
される。尚、Ｘ線検出器４は多チャンネル形であり、紙
面に直交する方向にチャンネルが形成されている。
【００１８】コリメータ３Ｂは、放出Ｘ線２Ｃの一部を
取り込み、２チャンネルＸ線検出器４Ｂで、ファンビー
ムＸ線のシフト及び管電圧の大小による強度分布シフト
を検出可能なように、コリメートする。２チャンネルＸ
線検出器４Ｂの構成とコリメータ３Ｂを通過したＸ線と
の関係を図４に示す。Ｆがコリメータ３Ｂからの放出Ｘ
線（ファンビームＸ線）である。Ｘ線Ｆはスライス幅か
らみた図である。
取り込み、２チャンネルＸ線検出器４Ｂで、ファンビー
ムＸ線のシフト及び管電圧の大小による強度分布シフト
を検出可能なように、コリメートする。２チャンネルＸ
線検出器４Ｂの構成とコリメータ３Ｂを通過したＸ線と
の関係を図４に示す。Ｆがコリメータ３Ｂからの放出Ｘ
線（ファンビームＸ線）である。Ｘ線Ｆはスライス幅か
らみた図である。
【００１９】図のファンビームＸ線Ｆと検出器４Ｂの感
応領域との関係は以下の通りである。斜線領域４２と４
３とは不感領域、白ヌキ領域４０と４１とは感応領域で
ある。ファンビームＸ線Ｆが感応領域４０と４１との中
間位置（デッドライン）４５に対して、直交する方向に
なるように、ファンビームＸ線Ｆに対して検出器４Ｂを
配置する。熱ドリフトによる前後動シフトがない正常位
置がファンビームＸ線のＰ0位置であり、このＰ0位置に
あっては、感応領域４０と４１との出力は等しい。一
方、前に移動すると、Ｐ0→Ｐ1方向にファンビームＸ線
Ｆが移動し、後に移動すると、Ｐ0→Ｐ2方向にファンビ
ームＸ線Ｆが移動する。従ってＰ0、Ｐ1、Ｐ2位置での
各出力Ａ、Ｂは以下の如くなる。 Ｐ0位置ではＡ＝Ｂ Ｐ1位置ではＡ＞Ｂ Ｐ2位置ではＡ＜Ｂ
応領域との関係は以下の通りである。斜線領域４２と４
３とは不感領域、白ヌキ領域４０と４１とは感応領域で
ある。ファンビームＸ線Ｆが感応領域４０と４１との中
間位置（デッドライン）４５に対して、直交する方向に
なるように、ファンビームＸ線Ｆに対して検出器４Ｂを
配置する。熱ドリフトによる前後動シフトがない正常位
置がファンビームＸ線のＰ0位置であり、このＰ0位置に
あっては、感応領域４０と４１との出力は等しい。一
方、前に移動すると、Ｐ0→Ｐ1方向にファンビームＸ線
Ｆが移動し、後に移動すると、Ｐ0→Ｐ2方向にファンビ
ームＸ線Ｆが移動する。従ってＰ0、Ｐ1、Ｐ2位置での
各出力Ａ、Ｂは以下の如くなる。 Ｐ0位置ではＡ＝Ｂ Ｐ1位置ではＡ＞Ｂ Ｐ2位置ではＡ＜Ｂ
【００２０】以上のＸ線検出器４Ｂの出力Ａ、Ｂの差分
（Ａ−Ｂ）を求め、この差分を零（Ａ＝Ｂ）にするよう
に制御を行う。この制御系統が、負帰還系を形成する比
較器１５及び制御装置１６、駆動機構１８である。即
ち、比較器１５で差分（Ａ−Ｂ）をとり、制御装置１
６、駆動機構１８で差分（Ａ−Ｂ）を零にするようにＸ
線管２の位置制御を行う。然るに、管電圧による強度分
布シフトが存在すると、Ｐ0位置であってもＡ＝Ｂとな
らない。Ｐ1、Ｐ2位置でもＡ、Ｂの成分の中に強度分布
シフトの影響がスライス幅方向に現われ、本来のＡ、Ｂ
でなくなり、Ｘ線管の位置制御を正しく行えない。これ
を、図６で説明する。
（Ａ−Ｂ）を求め、この差分を零（Ａ＝Ｂ）にするよう
に制御を行う。この制御系統が、負帰還系を形成する比
較器１５及び制御装置１６、駆動機構１８である。即
ち、比較器１５で差分（Ａ−Ｂ）をとり、制御装置１
６、駆動機構１８で差分（Ａ−Ｂ）を零にするようにＸ
線管２の位置制御を行う。然るに、管電圧による強度分
布シフトが存在すると、Ｐ0位置であってもＡ＝Ｂとな
らない。Ｐ1、Ｐ2位置でもＡ、Ｂの成分の中に強度分布
シフトの影響がスライス幅方向に現われ、本来のＡ、Ｂ
でなくなり、Ｘ線管の位置制御を正しく行えない。これ
を、図６で説明する。
【００２１】管電圧によってスライス方向でＸ線の強度
分布がシフトすることが、本件発明者によって確認でき
た。この際の強度分布の様子を図５に示す。横軸がスラ
イス幅方向の座標値、縦軸がＸ線相対強度を示す。管電
圧として、８０ＫＶ、１００ＫＶ、１２０ＫＶの３つの
例を示した。この図から明らかなことは、管電圧の大き
さによって、分布ピーク位置が、８０ＫＶでａ、１００
ＫＶでｂ、１２０ＫＶでｃとシフトし、且つ分布形状も
それに応じて変化する。こうした分布ピーク位置のシフ
ト、分布形状のシフトが生ずると、出力Ａ、Ｂにその影
響が現われ、本来の熱ドリフトシフトによる出力Ａ、Ｂ
と異なったものになる。
分布がシフトすることが、本件発明者によって確認でき
た。この際の強度分布の様子を図５に示す。横軸がスラ
イス幅方向の座標値、縦軸がＸ線相対強度を示す。管電
圧として、８０ＫＶ、１００ＫＶ、１２０ＫＶの３つの
例を示した。この図から明らかなことは、管電圧の大き
さによって、分布ピーク位置が、８０ＫＶでａ、１００
ＫＶでｂ、１２０ＫＶでｃとシフトし、且つ分布形状も
それに応じて変化する。こうした分布ピーク位置のシフ
ト、分布形状のシフトが生ずると、出力Ａ、Ｂにその影
響が現われ、本来の熱ドリフトシフトによる出力Ａ、Ｂ
と異なったものになる。
【００２２】そこで、本実施の形態では、熱ドリフトの
ないＸ線管の立ち上げ時に、Ａ＝Ｂとなるように調整さ
れる可変利得（Ｇ）増幅器１７（例えばＡＧＣ）を設け
た。そして、このＸ線管の立ち上げ時に、その時の管電
圧によってもＡ＝Ｂとなるように、利得設定を行う。こ
の利得設定は、利得制御回路１９によって行う。管電圧
による適正利得は事前に定まる場合にはラッチしておき
この信号１９Ａによって制御してよい。事前に定まらな
い場合には、Ｘ線管２を熱ドリフトシフトのない位置に
設定しておき、その状態で使用する管電圧によってＸ線
を曝射してＡ＝Ｂとなるように利得選択を行う。
ないＸ線管の立ち上げ時に、Ａ＝Ｂとなるように調整さ
れる可変利得（Ｇ）増幅器１７（例えばＡＧＣ）を設け
た。そして、このＸ線管の立ち上げ時に、その時の管電
圧によってもＡ＝Ｂとなるように、利得設定を行う。こ
の利得設定は、利得制御回路１９によって行う。管電圧
による適正利得は事前に定まる場合にはラッチしておき
この信号１９Ａによって制御してよい。事前に定まらな
い場合には、Ｘ線管２を熱ドリフトシフトのない位置に
設定しておき、その状態で使用する管電圧によってＸ線
を曝射してＡ＝Ｂとなるように利得選択を行う。
【００２３】Ｇ設定は、Ｘ線ＣＴ装置の立ち上げ時に行
うが、この調整後にあってのＸ線管の実働時に、熱ドリ
フトシフトが発生した場合でも、管電圧強度分布シフト
の補正がなされているため、下記の負帰還系が働く。即
ち、比較器１５→制御装置１６→駆動機構１８→検出器
４Ｂ→比較器１５なる閉ループ負帰還系を構成してお
き、比較器１５の出力Ｑが零となるように、この負帰還
系を働かせる。これは、比較器１５の出力Ｑが制御装置
１６に入力し、その出力Ｑを零にするように駆動機構１
８を働かせることで実現する。
うが、この調整後にあってのＸ線管の実働時に、熱ドリ
フトシフトが発生した場合でも、管電圧強度分布シフト
の補正がなされているため、下記の負帰還系が働く。即
ち、比較器１５→制御装置１６→駆動機構１８→検出器
４Ｂ→比較器１５なる閉ループ負帰還系を構成してお
き、比較器１５の出力Ｑが零となるように、この負帰還
系を働かせる。これは、比較器１５の出力Ｑが制御装置
１６に入力し、その出力Ｑを零にするように駆動機構１
８を働かせることで実現する。
【００２４】熱ドリフトの相殺制御の従来例としては、
特開平４−２２７２３８がある。これは、Ｘ線管の放出
側にあるファンビーム用コリメータに対して、熱ドリフ
トを相殺するように、位置（回転を含む）制御するよう
にしたものである。これにより、ファンビームＸ線が、
多チャンネルＸ線検出器に、位置ずれを起こすことなく
入力できるようになる。これはＸ線管の位置制御に代わ
る例であるが、かかるコリメータ制御を行わせるやり方
にも適用できる。この場合、比較器１５の出力でコリメ
ータの制御を行う。
特開平４−２２７２３８がある。これは、Ｘ線管の放出
側にあるファンビーム用コリメータに対して、熱ドリフ
トを相殺するように、位置（回転を含む）制御するよう
にしたものである。これにより、ファンビームＸ線が、
多チャンネルＸ線検出器に、位置ずれを起こすことなく
入力できるようになる。これはＸ線管の位置制御に代わ
る例であるが、かかるコリメータ制御を行わせるやり方
にも適用できる。この場合、比較器１５の出力でコリメ
ータの制御を行う。
【００２５】図１の実施の形態では、管電圧の大小によ
って利得Ｇを変更して比較器１５で比較を行い、ビーム
シフトの相殺をはかるようにした。然るに、比較器１５
への入力信号の中にノイズが混入し比較の精度を低下さ
せるとの問題を持つことがあった。これの理由と新しい
実施の形態とについて以下で説明する。
って利得Ｇを変更して比較器１５で比較を行い、ビーム
シフトの相殺をはかるようにした。然るに、比較器１５
への入力信号の中にノイズが混入し比較の精度を低下さ
せるとの問題を持つことがあった。これの理由と新しい
実施の形態とについて以下で説明する。
【００２６】Ｘ線検出器４Ｂの２つの出力Ａ、Ｂのレベ
ルは、Ｘ線強度により大きく変化する。図７（ａ）、
（ｂ）にその様子を示す。図７（ａ）はＸ線強度が小さ
い場合、図７（ｂ）はＸ線強度が大きい場合である。か
かる図７（ａ）、（ｂ）で、信号Ａ、ＢにノイズＮ（Ｎ
1、Ｎ2）が重畳する。ノイズ源としては、各種電気回路
からの高周波ノイズ、ホトカップリング機構等から発生
する高周波ノイズ、Ｘ線源からのＸ線の微少なばらつき
によるノイズ等が考えられる。いずれにしろ、信号Ａ、
ＢそれぞれにノイズＮ1、Ｎ2が重畳する。
ルは、Ｘ線強度により大きく変化する。図７（ａ）、
（ｂ）にその様子を示す。図７（ａ）はＸ線強度が小さ
い場合、図７（ｂ）はＸ線強度が大きい場合である。か
かる図７（ａ）、（ｂ）で、信号Ａ、ＢにノイズＮ（Ｎ
1、Ｎ2）が重畳する。ノイズ源としては、各種電気回路
からの高周波ノイズ、ホトカップリング機構等から発生
する高周波ノイズ、Ｘ線源からのＸ線の微少なばらつき
によるノイズ等が考えられる。いずれにしろ、信号Ａ、
ＢそれぞれにノイズＮ1、Ｎ2が重畳する。
【００２７】高周波ノイズＮ1、Ｎ2が重畳していると、
信号レベルの低い図７（ａ）では信号ＡとＢとの大小の
比較が正確にしにくい。信号レベルの大きい図７（ｂ）
ではノイズＮ1、Ｎ2が混入していても、本来のＡ、Ｂに
比してノイズＮ1、Ｎ2のレベルが相対的に小さいため、
ＡとＢとの大小の比較は正しく行われる。そこで、本発
明では、図７（ａ）の如き、信号Ａ、Ｂのレベルが小さ
い場合に、そのレベルを大きくすべく利得制御を行わせ
ＡをＡ′、ＢをＢ′にして出力させることにした。その
実施の形態を図６に示す。図１に対比して、Ｘ線検出器
４Ｂの２つの出力端に、可変利得増幅回路（例えばＡＧ
Ｃ）２１、２２を設け、これを利得制御回路２０によっ
て利得制御するようにした。利得制御回路２０は、設定
されたＸ線強度（管電圧、管電流で定まる値）を入力と
し、設定Ｘ線強度が大であれば利得を変化させず、設定
Ｘ線強度が小であれば利得を大きくするように、利得増
幅回路２０、２１を制御する。図８には、図７の
（イ）、（ロ）に対する制御例を示す。図８（イ）が図
７（イ）に対応したものであり、利得を大きくした例、
図８（ロ）が図７（ロ）に対応し、利得を変更しない例
を示す（従って、図６（ロ）と図７（ロ）とは同一波
形）。図７（イ）は一つの例であって、その他に図７
（ロ）の波形に近くて種々の大小のレベルのものがある
が、それらに対してもＸ線強度の大きさに応じて利得変
更を行えばよい。
信号レベルの低い図７（ａ）では信号ＡとＢとの大小の
比較が正確にしにくい。信号レベルの大きい図７（ｂ）
ではノイズＮ1、Ｎ2が混入していても、本来のＡ、Ｂに
比してノイズＮ1、Ｎ2のレベルが相対的に小さいため、
ＡとＢとの大小の比較は正しく行われる。そこで、本発
明では、図７（ａ）の如き、信号Ａ、Ｂのレベルが小さ
い場合に、そのレベルを大きくすべく利得制御を行わせ
ＡをＡ′、ＢをＢ′にして出力させることにした。その
実施の形態を図６に示す。図１に対比して、Ｘ線検出器
４Ｂの２つの出力端に、可変利得増幅回路（例えばＡＧ
Ｃ）２１、２２を設け、これを利得制御回路２０によっ
て利得制御するようにした。利得制御回路２０は、設定
されたＸ線強度（管電圧、管電流で定まる値）を入力と
し、設定Ｘ線強度が大であれば利得を変化させず、設定
Ｘ線強度が小であれば利得を大きくするように、利得増
幅回路２０、２１を制御する。図８には、図７の
（イ）、（ロ）に対する制御例を示す。図８（イ）が図
７（イ）に対応したものであり、利得を大きくした例、
図８（ロ）が図７（ロ）に対応し、利得を変更しない例
を示す（従って、図６（ロ）と図７（ロ）とは同一波
形）。図７（イ）は一つの例であって、その他に図７
（ロ）の波形に近くて種々の大小のレベルのものがある
が、それらに対してもＸ線強度の大きさに応じて利得変
更を行えばよい。
【００２８】尚、利得増幅回路２０、２１は、ノイズＮ
1、Ｎ2の周波数帯では利得制御感度が低く、それ以下の
周波数帯（直流成分を含む）では利得制御感度が大きく
なるような回路構成にすることが望ましい。これによ
り、図９に示すような信号ＡとＢとの大小の区別はつく
もののノイズＮ1とＮ2とで示すようなノイズの一部がレ
ベル的に互いに重なっているような場合にも、図８
（イ）の如き峻別のつく２つの波形Ａ、Ｂを得ることが
できる。
1、Ｎ2の周波数帯では利得制御感度が低く、それ以下の
周波数帯（直流成分を含む）では利得制御感度が大きく
なるような回路構成にすることが望ましい。これによ
り、図９に示すような信号ＡとＢとの大小の区別はつく
もののノイズＮ1とＮ2とで示すようなノイズの一部がレ
ベル的に互いに重なっているような場合にも、図８
（イ）の如き峻別のつく２つの波形Ａ、Ｂを得ることが
できる。
【００２９】このような利得制御を行うことで、図８
（イ）の如き波形信号が比較器１５への入力Ａ′、Ｂ′
となり、ノイズＮ1、Ｎ2がＡ、Ｂに乗っていても、両者
のレベルの大小を確実に比較できることになった。
（イ）の如き波形信号が比較器１５への入力Ａ′、Ｂ′
となり、ノイズＮ1、Ｎ2がＡ、Ｂに乗っていても、両者
のレベルの大小を確実に比較できることになった。
【００３０】図６の実施の形態では、利得増幅回路１７
と区別して利得増幅回路２２を設けたが、両者を１つに
して、別々の制御又は重畳した制御を行わせてもよい。
更に、図１の実施の形態によるＸ線管の位置制御の他
に、特開平４−２２７２３８によりコリメータの位置制
御の例にも適用できる。
と区別して利得増幅回路２２を設けたが、両者を１つに
して、別々の制御又は重畳した制御を行わせてもよい。
更に、図１の実施の形態によるＸ線管の位置制御の他
に、特開平４−２２７２３８によりコリメータの位置制
御の例にも適用できる。
【００３１】以上はＸ線ＣＴ計測の例で説明したが、Ｃ
Ｔ計測のみでなくＣＴ装置によるＸ線透視撮影にも利用
できる。またＸ線ＣＴ装置以外への適用、例えばＸ線源
を使うすべてのＸ線装置に適用可能である。また、熱ド
リフトシフトの例としたが、機械系の微動シフト等にも
適用できる。
Ｔ計測のみでなくＣＴ装置によるＸ線透視撮影にも利用
できる。またＸ線ＣＴ装置以外への適用、例えばＸ線源
を使うすべてのＸ線装置に適用可能である。また、熱ド
リフトシフトの例としたが、機械系の微動シフト等にも
適用できる。
【００３２】
【発明の効果】本発明によれば、管電圧の大小によるＸ
線強度分布シフトを補正できた。更に本発明によれば、
Ｘ線強度分布シフトを補正したもとで、熱ドリフトシフ
トによるＸ線ファンビームの位置ずれも、正しく補正で
きるようになった。更に本発明によれば、Ｘ線強度が小
さい時のノイズの重畳による信号Ａ、Ｂの比較の誤りを
なくすことができることになった。
線強度分布シフトを補正できた。更に本発明によれば、
Ｘ線強度分布シフトを補正したもとで、熱ドリフトシフ
トによるＸ線ファンビームの位置ずれも、正しく補正で
きるようになった。更に本発明によれば、Ｘ線強度が小
さい時のノイズの重畳による信号Ａ、Ｂの比較の誤りを
なくすことができることになった。
【図１】本発明のＸ線ＣＴ装置の構成例図である。
【図２】Ｘ線ＣＴシステムの全体構成例図である。
【図３】ファンビームＸ線を得るための構成図である。
【図４】本発明の２チャネルＸ線検出器の感応領域とＸ
線ファンビームシフト例とを示す図である。
線ファンビームシフト例とを示す図である。
【図５】管電圧の大小によるファンビーム内Ｘ線強度分
布シフト例を示す図である。
布シフト例を示す図である。
【図６】本発明の他の実施の形態であるＸ線ＣＴ装置を
示す図である。
示す図である。
【図７】信号Ａ、Ｂにノイズが重畳した波形図である。
【図８】信号Ａ、Ｂを増幅した波形図である。
【図９】信号Ａ、Ｂにノイズが重畳した他の波形図であ
る。
る。
１ ガントリ ２ Ｘ線管 ３ コリメータ ４ 多チャネルＸ線検出器 ５ 被検体 ２Ｂ 回転陽極 ２Ｃ ファンビームＸ線 ３Ｂ コリメータ ４Ｂ ２チャネルＸ線検出器 １５ 比較器 １６ 制御装置 １７ 増幅器 １８ 駆動機構 １９ 増幅率制御回路 ４０、４１ 感応領域 ４２、４３ 不感応領域 Ｐ0、Ｐ1、Ｐ2 ファンビーム
Claims (6)
- 【請求項１】 Ｘ線管と、 Ｘ線管駆動機構と、 Ｘ線管からの放出Ｘ線をファンビーム化するコリメータ
と、 Ｘ線管と対向して、被検体を搭載する天板の周囲を、回
転する多チャネルＸ線検出器と、 ファンビームＸ線の熱ドリフト等シフトの有無を示す２
つの信号Ａ、Ｂ（シフトなしでＡ＝Ｂ、シフトあればそ
のシフトに応じた差分Ａ−Ｂとなる）を出力するＸ線検
出器と、 管電圧の大きさによって、熱ドリフト等シフトの発生し
ていない状態で出力Ａ、ＢがＡ＝Ｂとなるように、出力
Ａ、Ｂの少なくともいずれか一方を調整する手段と、 この調整後に得られる信号Ａ、Ｂの熱ドリフ等シフトに
よるＡ≠Ｂの場合に、Ａ＝Ｂとするように、上記Ｘ線管
駆動機構を介してＸ線管の位置制御を行う手段と、 この位置制御後の上記多チャネルＸ線検出器の計測信号
から画像再構成を行う処理手段と、 より成るＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項２】 Ｘ線管と、 Ｘ線管からの放出Ｘ線をファンビーム化するコリメータ
と、 Ｘ線管と対向して、被検体を搭載する天板の周囲を回転
する、多チャネルＸ線検出器と、 ファンビームＸ線の熱ドリフト等シフトの有無を示す２
つの信号Ａ、Ｂ（シフトなしでＡ＝Ｂ、シフトあればそ
のシフトに応じた差分Ａ−Ｂとなる）を出力するＸ線検
出器と、 管電圧の大きさによって、熱ドリフト等シフトの発生し
ていない状態で出力Ａ、ＢがＡ＝Ｂとなるように、出力
Ａ、Ｂのいずれか一方を調整する手段と、 コリメータ駆動機構と、 この調整後に得られる信号Ａ、Ｂの熱ドリフト等シフト
によるＡ≠Ｂの場合に、Ａ＝Ｂとするように、上記コリ
メータの位置制御を行う手段と、 このコリメータの位置制御後の上記多チャネルＸ線検出
器の計測信号から画像構成を行う処理手段と、 より成るＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項３】 Ｘ線管と、 Ｘ線管駆動機構と、 Ｘ線管からの放出Ｘ線をファンビーム化するコリメータ
と、 Ｘ線管と対向して、被検体を搭載する天板の周囲を、回
転する多チャネルＸ線検出器と、 ファンビームＸ線の熱ドリフト等シフトの有無を示す２
つの信号Ａ、Ｂ（シフトなしでＡ＝Ｂ、シフトあればそ
のシフトに応じた差分Ａ−Ｂとなる）を出力するＸ線検
出器と、 管電圧及び又は管電流の大きさに応じて利得の大きさが
切替えられると共に、上記信号Ａ、Ｂを入力しその利得
に応じた信号Ａ′、Ｂ′を出力する利得手段と、 この利得切替え後に得られる信号Ａ、Ｂに対する出力信
号Ａ′、Ｂ′について熱ドリフト等シフトによるＡ′≠
Ｂ′の場合に、Ａ′＝Ｂ′とするように、上記Ｘ線管駆
動機構を介してＸ線管の位置制御を行う手段と、 この位置制御後の上記多チャネルＸ線検出器の計測信号
から画像再構成を行う処理手段と、 より成るＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項４】 Ｘ線管と、 Ｘ線管からの放出Ｘ線をファンビーム化するコリメータ
と、 Ｘ線管と対向して、被検体を搭載する天板の周囲を回転
する、多チャネルＸ線検出器と、 ファンビームＸ線の熱ドリフト等シフトの有無を示す２
つの信号Ａ、Ｂ（シフトなしでＡ＝Ｂ、シフトあればそ
のシフトに応じた差分Ａ−Ｂとなる）を出力するＸ線検
出器と、 管電圧及び又は管電流の大きさに応じて利得の大きさが
切替えられると共に、上記信号Ａ、Ｂを入力しその利得
に応じた信号Ａ′、Ｂ′を出力する利得手段と、 コリメータ駆動機構と、 出力信号Ａ′、Ｂ′についての熱ドリフト等シフトによ
るＡ′≠Ｂ′の場合に、Ａ′＝Ｂ′とするように、上記
コリメータの位置制御を行う手段と、 このコリメータの位置制御後の上記多チャネルＸ線検出
器の計測信号から画像構成を行う処理手段と、 より成るＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項５】 上記管電圧及び又は管電流による利得切
替えは、Ｘ線強度信号が少なくて信号Ａ、Ｂのレベルが
小さい時には信号Ａ、Ｂのレベルの大きい時に比して利
得を大きくするように切替えるものとした請求項３又は
４のＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項６】 上記管電圧及び管電流による利得切替え
は、熱ドリフトの発生していない状態でＡ′＝Ｂ′とな
るように利得切替えると共に、Ｘ線強度が小さくて信号
Ａ、Ｂのレベルが小さい時には信号Ａ、Ｂのレベルの大
きい時に比して利得を大きくするように切替えるものと
した請求項３又は４のＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24594296A JP4010584B2 (ja) | 1995-11-21 | 1996-09-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7-302502 | 1995-11-21 | ||
| JP30250295 | 1995-11-21 | ||
| JP24594296A JP4010584B2 (ja) | 1995-11-21 | 1996-09-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09201352A true JPH09201352A (ja) | 1997-08-05 |
| JPH09201352A5 JPH09201352A5 (ja) | 2004-09-16 |
| JP4010584B2 JP4010584B2 (ja) | 2007-11-21 |
Family
ID=26537487
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24594296A Expired - Fee Related JP4010584B2 (ja) | 1995-11-21 | 1996-09-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4010584B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002143145A (ja) * | 2000-11-09 | 2002-05-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | コリメータ追従制御方法およびｘ線ｃｔ装置 |
| JP2002143147A (ja) * | 2000-10-25 | 2002-05-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2005143812A (ja) * | 2003-11-14 | 2005-06-09 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2007139613A (ja) * | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 放射線画像撮像条件の補正装置及び放射線画像撮像条件の補正方法 |
| JP2007167388A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| CN108652654A (zh) * | 2018-02-06 | 2018-10-16 | 赛诺威盛科技（北京）有限公司 | Ct机准直器快速补偿定位方法 |
| JP2020034494A (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-05 | アンリツインフィビス株式会社 | Ｘ線検査装置 |
-
1996
- 1996-09-18 JP JP24594296A patent/JP4010584B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002143147A (ja) * | 2000-10-25 | 2002-05-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2002143145A (ja) * | 2000-11-09 | 2002-05-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | コリメータ追従制御方法およびｘ線ｃｔ装置 |
| JP2005143812A (ja) * | 2003-11-14 | 2005-06-09 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2007139613A (ja) * | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 放射線画像撮像条件の補正装置及び放射線画像撮像条件の補正方法 |
| JP2007167388A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| CN108652654A (zh) * | 2018-02-06 | 2018-10-16 | 赛诺威盛科技（北京）有限公司 | Ct机准直器快速补偿定位方法 |
| JP2020034494A (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-05 | アンリツインフィビス株式会社 | Ｘ線検査装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4010584B2 (ja) | 2007-11-21 |
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