JPH09205221A - Solar cell - Google Patents

Solar cell

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JPH09205221A
JPH09205221A JP8009684A JP968496A JPH09205221A JP H09205221 A JPH09205221 A JP H09205221A JP 8009684 A JP8009684 A JP 8009684A JP 968496 A JP968496 A JP 968496A JP H09205221 A JPH09205221 A JP H09205221A
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electrode
silicon substrate
type silicon
solar cell
photoresist
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邦夫 上村
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Abstract

(57)【要約】 【課題】P型シリコン基板の表面に設けられる表面電極
の反射光を効率よくP型基板内に入射させることができ
る。 【解決手段】表面部分が凹凸状になったP型シリコン基
板11の表面部分には、N型不純物拡散層11aが設け
られており、また、その表面部分には、ストライプ状に
窪んだ一対の電極設置凹部11cが設けられている。各
電極設置凹部11cには、凹凸状になった表面部分から
突出しないように表面電極12がそれぞれ設けられてい
る。P型シリコン基板11の表面は、接着剤層14によ
って接着されたガラス板15によって覆われている。
(57) Abstract: Reflected light of a surface electrode provided on the surface of a P-type silicon substrate can be efficiently incident on the P-type substrate. An N-type impurity diffusion layer 11a is provided on a surface portion of a P-type silicon substrate 11 having an uneven surface portion, and a pair of stripe-shaped recesses is formed on the surface portion. An electrode installation recess 11c is provided. A surface electrode 12 is provided in each electrode installation recess 11c so as not to project from the uneven surface portion. The surface of the P-type silicon substrate 11 is covered with a glass plate 15 adhered by an adhesive layer 14.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、太陽光を受光して
発電する太陽電池に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a solar cell that receives sunlight to generate electricity.

【0002】[0002]

【従来の技術】太陽光を受光して発電する太陽電池の一
例を図8に示す。この太陽電池40は、P型シリコン基
板41を有しており、その表面部分に、N型不純物拡散
層41aが設けられている。P型シリコン基板41は、
N型不純物拡散層41aとのP−N接合によって、表面
に太陽光が照射されることによって発電するようになっ
ている。N型不純物拡散層41aが設けられたP型シリ
コン基板41の表面は平坦になっており、その表面上に
表面電極42が設けられている。
2. Description of the Related Art FIG. 8 shows an example of a solar cell that receives sunlight to generate electricity. This solar cell 40 has a P-type silicon substrate 41, and an N-type impurity diffusion layer 41a is provided on the surface portion thereof. The P-type silicon substrate 41 is
Due to the PN junction with the N-type impurity diffusion layer 41a, the surface is irradiated with sunlight to generate power. The surface of the P-type silicon substrate 41 provided with the N-type impurity diffusion layer 41a is flat, and the surface electrode 42 is provided on the surface.

【0003】表面電極42は金属によって櫛形に形成さ
れており、N型不純物拡散層41aの側部上に設けられ
た直線部分42aと、その直線部分42aから直交状態
で側方に延出する複数の直交部分42bとを有してい
る。表面電極42の各直交部分42bは、間隔が比較的
大きくなるように幅寸法を小さくされて、P型シリコン
基板41の表面に、直線部分42aが設けられた側部か
ら他方の側部にわたって延びている。表面電極42に
は、直線部分42aを除いて、接着剤層44を介して、
ガラス板45が積層されている。
The surface electrode 42 is formed of a metal in a comb shape, and has a linear portion 42a provided on a side portion of the N-type impurity diffusion layer 41a and a plurality of lateral portions extending laterally in an orthogonal state from the linear portion 42a. And an orthogonal portion 42b of. Each of the orthogonal portions 42b of the surface electrode 42 has a width dimension reduced so that the interval is relatively large, and extends from the side portion where the linear portion 42a is provided to the other side portion on the surface of the P-type silicon substrate 41. ing. Except for the straight line portion 42a, the front surface electrode 42 is provided with an adhesive layer 44,
Glass plates 45 are laminated.

【0004】P型シリコン基板41の裏面部分には、P
型不純物拡散層41bが設けられており、このP型不純
物拡散層41bの裏面全体に、裏面電極46が設けられ
ている。
On the back surface of the P-type silicon substrate 41, P
The type impurity diffusion layer 41b is provided, and the back surface electrode 46 is provided on the entire back surface of the P type impurity diffusion layer 41b.

【0005】このような太陽電池40では、ガラス板4
5から入射する太陽光が、P型シリコン基板41内に入
射することにより、発電されて、表面電極42および裏
面電極46の間に電圧が発生する。
In such a solar cell 40, the glass plate 4
The sunlight entering from No. 5 enters the P-type silicon substrate 41 to generate power, and a voltage is generated between the front surface electrode 42 and the back surface electrode 46.

【0006】P型シリコン基板41の表面に設けられる
表面電極42は、通常、金属によって構成されているた
めに、ガラス板45から入射して各直交部分42bに照
射される太陽光を、P型シリコン基板41内に入射させ
ることなく反射させる。このために、表面電極42の各
直交部分42bは、N型不純物拡散層41a内にて多く
の電子が収集するように、幅方向寸法を小さくして、N
型不純物拡散層41aの表面に占める面積をできるだけ
小さくするとともに、電気抵抗が小さくなるように、厚
く構成されている。通常、表面電極42の各直交部分4
2bの厚さは、P型シリコン基板41の厚さが50〜2
00μmであるのに対して、5〜10μmになってい
る。
Since the surface electrode 42 provided on the surface of the P-type silicon substrate 41 is usually made of metal, the P-type solar light incident on the glass plate 45 and radiated to the orthogonal portions 42b is irradiated. The light is reflected without entering the silicon substrate 41. For this reason, each orthogonal portion 42b of the surface electrode 42 has a widthwise dimension reduced to N so that many electrons are collected in the N-type impurity diffusion layer 41a.
The area occupied by the surface of the type impurity diffusion layer 41a is made as small as possible, and the electrical resistance is made small so as to be thick. Generally, each orthogonal portion 4 of the surface electrode 42
As for the thickness of 2b, the thickness of the P-type silicon substrate 41 is 50 to 2
While it is 00 μm, it is 5 to 10 μm.

【0007】照射される太陽光をさらに効率よくシリコ
ン基板内に入射させるようにした太陽電池を図9に示
す。この太陽電池50は、P型シリコン基板51の表面
部分に、N型不純物拡散層51aが設けられており、こ
れにより、PN接合が形成されている。また、P型シリ
コン基板51の裏面部分には、P型不純物拡散層51b
が設けられており、このP型不純物拡散層51bに裏面
電極56が設けられている。P型シリコン基板51の表
面に設けられたN型不純物拡散層51aの表面は、四角
錐状の凹部と凸部とが縦方向および横方向に交互に形成
された凹凸状になっている。
FIG. 9 shows a solar cell in which the irradiated sunlight is made to enter the silicon substrate more efficiently. In this solar cell 50, an N-type impurity diffusion layer 51a is provided on the surface portion of a P-type silicon substrate 51, whereby a PN junction is formed. In addition, on the back surface of the P-type silicon substrate 51, the P-type impurity diffusion layer 51b is formed.
And the back electrode 56 is provided on the P-type impurity diffusion layer 51b. The surface of the N-type impurity diffusion layer 51a provided on the surface of the P-type silicon substrate 51 has a concavo-convex shape in which concave and convex portions each having a quadrangular pyramid shape are alternately formed in the vertical and horizontal directions.

【0008】N型不純物拡散層51aの表面には、幅方
向に沿ってストライプ状に延びる一対の電極設置台部5
1cが、適当な間隔をあけて平行に設けられている。な
お、図9は、太陽電池の一例を示しており、電極設置台
部51cは、一対である必要はなく、また、幅方向の全
体にわたっている必要もない。各電極設置台部51c
は、図10に示すように、凹凸状になったP型シリコン
基板51の表面における各凸部の頂部のレベルよりも若
干高いレベルにおいて平坦に形成されており、各電極設
置台部51cには、長板状の表面電極52が、N型不純
物拡散層51aに接触した状態で、それぞれ、各電極設
置台部51cのほぼ全長にわたって設けられている。
On the surface of the N-type impurity diffusion layer 51a, a pair of electrode mounting bases 5 extending in stripes along the width direction.
1c are provided in parallel at appropriate intervals. Note that FIG. 9 illustrates an example of a solar cell, and the electrode installation base portions 51c need not be a pair and need not extend over the entire width direction. Each electrode installation base 51c
As shown in FIG. 10, is formed flat at a level slightly higher than the level of the top of each convex portion on the surface of the P-type silicon substrate 51 having an uneven shape. The long plate-shaped surface electrode 52 is provided over substantially the entire length of each electrode installation base 51c in a state of being in contact with the N-type impurity diffusion layer 51a.

【0009】P型シリコン基板51の表面には、接着剤
層54を介して、ガラス板55が積層されており、各表
面電極52も、接着剤層54およびガラス板55に覆わ
れた状態になっている。
A glass plate 55 is laminated on the surface of the P-type silicon substrate 51 via an adhesive layer 54, and each surface electrode 52 is also covered with the adhesive layer 54 and the glass plate 55. Has become.

【0010】このような長板状の表面電極52は、表面
が所定の凹凸状に形成されるとともに各電極設置台部5
1cが形成されたP型シリコン基板(ウエーハ)51に
対して、次のようにして形成される。表面部分にN型不
純物拡散層51aが設けられたP型シリコン基板51に
対して、図11に示すように、厚さ10μm程度のフォ
トレジスト20を一様に塗布し、そのフォトレジスト2
0に、表面電極52の形状に対応したストライプ状にパ
ターニングする。フォトレジスト20に対するパターニ
ングは、ストライプパターンが設けられたガラスマスク
をフォトレジスト20に密着させて、ガラスマスクを露
光して現像することにより行われる。これにより、フォ
トレジスト20には、電極設置台部51c上にストライ
プ状の凹部21が形成される。
The surface of the long plate-like surface electrode 52 is formed in a predetermined uneven shape, and each electrode installation base 5 is formed.
The P-type silicon substrate (wafer) 51 on which 1c is formed is formed as follows. As shown in FIG. 11, a photoresist 20 having a thickness of about 10 μm is uniformly applied to the P-type silicon substrate 51 having the N-type impurity diffusion layer 51a on the surface thereof, and the photoresist 2 is formed.
0 is patterned into a stripe shape corresponding to the shape of the surface electrode 52. The patterning of the photoresist 20 is performed by bringing a glass mask provided with a stripe pattern into close contact with the photoresist 20 and exposing and developing the glass mask. As a result, in the photoresist 20, stripe-shaped recesses 21 are formed on the electrode mounting base 51c.

【0011】次に、所定のストライプ状の凹部21が形
成されたフォトレジスト20を有するP型シリコン基板
51の表面に対して、電極材料を一様に蒸着する。電極
材料は、フォトレジスト20の凹部21内に進入して、
表面電極52を形成する。その後、P型シリコン基板5
1の表面からフォトレジスト20を、溶剤によって除去
する。これにより、フォトレジスト20上に蒸着された
電極材料は、レジストとともに除去され、フォトレジス
ト20のストライプ状の凹部21内の電極材料だけが残
り、表面電極52が形成される。
Next, an electrode material is uniformly vapor-deposited on the surface of the P-type silicon substrate 51 having the photoresist 20 having the predetermined stripe-shaped recess 21 formed therein. The electrode material enters the recess 21 of the photoresist 20,
The surface electrode 52 is formed. Then, the P-type silicon substrate 5
The photoresist 20 is removed from the surface of No. 1 by a solvent. As a result, the electrode material deposited on the photoresist 20 is removed together with the resist, and only the electrode material in the stripe-shaped recess 21 of the photoresist 20 remains, and the surface electrode 52 is formed.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】このようにして形成さ
れる金属製の表面電極52も、その表面に照射される太
陽光を、P型シリコン基板51内に入射させることなく
反射させる。しかも、図10に示すように、各表面電極
52の表面は、P型シリコン基板51よりも高いレベル
になっているために、各表面電極52の表面に照射され
て反射される太陽光が、電極設置台部51cに隣接する
P型シリコン基板51の表面から内部に入射する効率が
きわめて悪いという問題がある。
The metal surface electrode 52 thus formed also reflects the sunlight applied to the surface of the surface electrode 52 without causing it to enter the P-type silicon substrate 51. Moreover, as shown in FIG. 10, since the surface of each surface electrode 52 is at a higher level than that of the P-type silicon substrate 51, the sunlight radiated to the surface of each surface electrode 52 and reflected is There is a problem that the efficiency of incident light from the surface of the P-type silicon substrate 51 adjacent to the electrode mounting base 51c to the inside is extremely low.

【0013】電極設置台部51上に占める表面電極52
の面積を小さくすることにより、P型シリコン基板51
内に入射する太陽光の光量は増加するが、この場合に
は、表面電極52の電気抵抗を小さくするために、厚み
を大きくして断面積を大きくしなければならない。しか
し、このように、表面電極52の厚みを大きくすると、
表面電極52の表面がP型シリコン基板51の表面から
大きく突出した状態になる。その結果、表面電極52を
形成するために、P型シリコン基板51上に設けられる
フォトレジスト20を厚く積層しなければならず、その
ために、多量のフォトレジストを使用しなければならな
い。
Surface electrode 52 occupying on the electrode mounting base 51
By reducing the area of the P type silicon substrate 51.
The amount of sunlight entering the inside increases, but in this case, in order to reduce the electric resistance of the surface electrode 52, the thickness must be increased to increase the cross-sectional area. However, if the thickness of the surface electrode 52 is increased in this way,
The surface of the surface electrode 52 is in a state of largely protruding from the surface of the P-type silicon substrate 51. As a result, in order to form the surface electrode 52, the photoresist 20 provided on the P-type silicon substrate 51 must be thickly laminated, and therefore a large amount of photoresist must be used.

【0014】また、表面電極52が設けられる電極設置
台部51cは、通常、P型シリコン基板51の凹凸状に
なった表面の凸部と同程度のレベルになっている。表面
電極52を形成するためには、P型シリコン基板51に
フォトレジスト20を塗布されるが、フォトレジスト2
0の量が少ないと、図11に二点鎖線で示すように、P
型シリコン基板51の表面の凹凸によって、フォトレジ
スト20の表面が波打った状態になり、電極設置台部5
1c上のフォトレジスト20が薄くなるおそれがある。
このように、電極設置台部51c上に所定の厚さのフォ
トレジスト20を積層するためにも、多量のフォトレジ
スト20が必要になる。
The electrode mounting base 51c, on which the surface electrode 52 is provided, is usually at the same level as the convex portion of the uneven surface of the P-type silicon substrate 51. To form the surface electrode 52, the photoresist 20 is applied to the P-type silicon substrate 51.
When the amount of 0 is small, as shown by the chain double-dashed line in FIG.
Due to the unevenness of the surface of the mold type silicon substrate 51, the surface of the photoresist 20 becomes wavy, and the electrode installation base 5
There is a possibility that the photoresist 20 on 1c may become thin.
As described above, a large amount of photoresist 20 is required to stack the photoresist 20 having a predetermined thickness on the electrode mounting base 51c.

【0015】さらに、P型シリコン基板51に接着剤層
54によってガラス板55を接着する際に、表面電極5
2がP型シリコン基板51の表面から突出した状態にな
っているために、各表面電極52の表面とガラス板55
との間隙が小さくなり、接着剤層54が薄くなる。図1
0に示すように、P型シリコン基板51における凹部の
最も低いレベルの部分とガラス板55との間が、接着剤
層54が最も厚くなり、その厚さT1 となるのに対し
て、接着剤層54は、表面電極52とガラス板55との
間にて最も薄くなり、その厚さはT4 となる。この接着
剤層54が最も薄い厚さT4 は、P型シリコン基板51
の凸部における最も高いレベルの部分とガラス板55と
の間における接着剤層54の厚さT2 よりも著しく小さ
くなっている。このために、その接着剤層54が薄くな
った部分において、接着剤が十分に硬化しなかったり、
使用上の環境によっては、その部分にてガラス板55が
剥離するおそれがある。
Further, when the glass plate 55 is bonded to the P-type silicon substrate 51 by the adhesive layer 54, the surface electrode 5
2 is projected from the surface of the P-type silicon substrate 51, the surface of each surface electrode 52 and the glass plate 55 are
The gap between and becomes smaller and the adhesive layer 54 becomes thinner. FIG.
As shown in 0, the adhesive layer 54 is thickest between the lowest level portion of the concave portion of the P-type silicon substrate 51 and the glass plate 55, and the thickness thereof is T 1. The agent layer 54 is thinnest between the surface electrode 52 and the glass plate 55, and its thickness is T 4 . The thinnest thickness T 4 of the adhesive layer 54 is the P-type silicon substrate 51.
Is significantly smaller than the thickness T 2 of the adhesive layer 54 between the glass plate 55 and the highest level portion of the convex portion. For this reason, the adhesive does not cure sufficiently in the thinned portion of the adhesive layer 54,
Depending on the environment of use, the glass plate 55 may peel off at that portion.

【0016】本発明は、このような問題を解決するもの
であり、その目的は、半導体基板内に太陽光を効率よく
入射させることができ、従って、発電効率を著しく向上
させることができる太陽電池を提供することにある。本
発明の他の目的は、小型であって、容易に製造でき、し
かも、半導体基板に対して接着されるガラス板が剥離す
ることを抑制し得る太陽電池を提供することにある。
The present invention is intended to solve such a problem, and an object thereof is to allow solar light to efficiently enter the semiconductor substrate, and thus to significantly improve power generation efficiency. To provide. Another object of the present invention is to provide a solar cell which is small in size, can be easily manufactured, and can prevent the glass plate adhered to the semiconductor substrate from peeling off.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、表面部分から太陽光が入射することにより発電する
半導体基板を有する太陽電池であって、太陽光が入射さ
れる半導体基板の表面部分が凹凸状になっており、その
表面部分に、ストライプ状に窪んだ電極設置凹部が設け
られているとともに、電極設置凹部に、凹凸状になった
表面部分から突出しないように表面電極が設けられてい
ることを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a solar cell having a semiconductor substrate that generates electric power when sunlight is incident from a surface portion of the semiconductor substrate, the surface of the semiconductor substrate on which sunlight is incident. The part has an uneven shape, and the surface part is provided with an electrode installation concave part that is recessed in a stripe shape, and the electrode installation concave part is provided with a surface electrode so as not to protrude from the uneven surface part. It is characterized by being.

【0018】請求項2に記載の太陽電池は、前記表面電
極の表面は、照射される太陽光を、ストライプ状の電極
設置凹部における内側面に対して効率的に入射させるべ
く、その内側面に対向するように傾斜した傾斜面を有す
る。
In the solar cell according to a second aspect of the present invention, the surface of the surface electrode is formed on the inner surface of the recess so that the irradiated sunlight is efficiently incident on the inner surface of the stripe-shaped electrode installation recess. It has an inclined surface inclined so as to face each other.

【0019】請求項3に記載の太陽電池は、前記電極設
置凹部は、半導体基板の表面を凹凸状に形成する際に同
時に形成される。
In the solar cell according to a third aspect of the present invention, the electrode installation concave portion is formed at the same time when the surface of the semiconductor substrate is formed in an uneven shape.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面に基づいて詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0021】図1は、本発明の太陽電池の実施の形態の
一例を示す斜視図である。この太陽電池10は、半導体
基板としてP型シリコン基板11を使用したシリコン太
陽電池である。P型シリコン基板11は、太陽光が照射
される表面部分に、N型不純物拡散層11aが設けられ
ており、従って、その内部にPN接合が形成されてい
る。またP型シリコン基板11の裏面部分には、P型不
純物拡散層11bが設けられている。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of an embodiment of a solar cell of the present invention. The solar cell 10 is a silicon solar cell using a P-type silicon substrate 11 as a semiconductor substrate. The P-type silicon substrate 11 is provided with an N-type impurity diffusion layer 11a on the surface portion where sunlight is irradiated, and thus a PN junction is formed inside thereof. A P-type impurity diffusion layer 11b is provided on the back surface of the P-type silicon substrate 11.

【0022】N型不純物拡散層11aが設けられたP型
シリコン基板11の表面は、四角錐形状の凹部と同様の
四角錐形状の凸部とが、縦方向および横方向にそれぞれ
交互に形成された凹凸状になっている。
On the surface of the P-type silicon substrate 11 provided with the N-type impurity diffusion layer 11a, quadrangular pyramidal concave portions and quadrangular pyramidal convex portions are formed alternately in the vertical and horizontal directions. It is uneven.

【0023】図2は、そのシリコン太陽電池10の表面
部分の拡大断面図である。図1および図2に示すよう
に、N型不純物拡散層11aが設けられたP型シリコン
基板11の表面には、幅方向に沿って延びる一対のスト
ライプ状になった電極設置凹部11cが、適当な間隔を
あけて平行に設けられている。なお、図1は、太陽電池
の一部を示しており、電極設置凹部11cは、一対であ
る必要はなく、また、必ずしも太陽電池の全面にわたっ
て設ける必要もない。他の例でも同様である。各電極設
置凹部11cの下面は、凹凸状になったP型シリコン基
板11の表面における各凹部の最も低い部分とほぼ等し
いレベルにおいて平坦に形成されている。また、各電極
設置凹部11cの相互に対向する内側面は、P型シリコ
ン基板11の表面における凹凸と同様の傾斜状態になっ
ている。
FIG. 2 is an enlarged sectional view of the surface portion of the silicon solar cell 10. As shown in FIGS. 1 and 2, on the surface of the P-type silicon substrate 11 provided with the N-type impurity diffusion layer 11a, a pair of stripe-shaped electrode installation recesses 11c extending in the width direction are appropriate. They are provided in parallel with each other at regular intervals. It should be noted that FIG. 1 shows a part of the solar cell, and the electrode installation concave portions 11c do not have to be a pair and do not necessarily have to be provided over the entire surface of the solar cell. The same applies to other examples. The lower surface of each electrode installation concave portion 11c is formed flat at a level almost equal to the lowest portion of each concave portion on the surface of the uneven P-type silicon substrate 11. The inner side surfaces of the electrode installation recesses 11c facing each other are in the same inclined state as the unevenness on the surface of the P-type silicon substrate 11.

【0024】各電極設置凹部11c上には、長板状の表
面電極12が、N型不純物拡散層11aに接触した状態
で、それぞれ、各電極設置凹部11cのほぼ全長にわた
って設けられている。
On each electrode installation recess 11c, a long plate-shaped surface electrode 12 is provided over substantially the entire length of each electrode installation recess 11c in contact with the N-type impurity diffusion layer 11a.

【0025】各表面電極12は、例えば金属によって、
幅方向寸法よりも厚さ方向の寸法が大きくなった断面縦
長の直方体状に構成されており、その上面は、平坦にな
っている。そして、各電極12の上面は、凹凸状になっ
たP型シリコン基板11の表面の各凸部における最も高
い部分よりも低いレベルに設定されている。
Each surface electrode 12 is made of, for example, metal.
It is configured in a rectangular parallelepiped shape having a vertically long cross section in which the dimension in the thickness direction is larger than the dimension in the width direction, and the upper surface thereof is flat. The upper surface of each electrode 12 is set to a level lower than the highest portion of each convex portion on the surface of the P-type silicon substrate 11 having an uneven shape.

【0026】N型不純物拡散層11aが設けられたP型
シリコン基板11の凹凸状になった表面には、接着剤層
14を介して、ガラス板15が設けられている。従っ
て、P型シリコン基板11の凹凸状になった表面および
各表面電極12は、接着剤層14およびガラス板15に
よって覆われている。
A glass plate 15 is provided via an adhesive layer 14 on the uneven surface of the P-type silicon substrate 11 provided with the N-type impurity diffusion layer 11a. Therefore, the uneven surface of the P-type silicon substrate 11 and each surface electrode 12 are covered with the adhesive layer 14 and the glass plate 15.

【0027】P型シリコン基板11の裏面には、シリコ
ン酸化膜11dを介して裏面電極16が設けられてい
る。シリコン酸化膜11dは、P型シリコン基板11の
P型不純物拡散層11bの一部と裏面電極16の一部と
を、直接接触させた状態になっている。
A back surface electrode 16 is provided on the back surface of the P-type silicon substrate 11 via a silicon oxide film 11d. The silicon oxide film 11d is in a state where a part of the P-type impurity diffusion layer 11b of the P-type silicon substrate 11 and a part of the back surface electrode 16 are in direct contact with each other.

【0028】このような構成のシリコン太陽電池10
は、ガラス板15に入射される太陽光が、N型不純物拡
散層11aの表面に照射されることにより、N型不純物
拡散層11aを通って、P型シリコン基板11内に入射
する。しかし、金属製の各表面電極12の表面に照射さ
れた太陽光は、各表面電極12によって反射されるため
に、P型シリコン基板11内には、直接、入射されな
い。しかし、図3に示すように、各表面電極12の表面
は、平坦になっており、しかも、凹凸状になったP型シ
リコン基板11の表面の凸部における最も高い部分より
も低いレベルになっているために、各表面電極12の表
面における角部によって乱反射された太陽光が、電極設
置凹部11cにおける傾斜した内側面(P型シリコン基
板11の傾斜した表面)に、効率よく入射される。従っ
て、各表面電極12の表面にて反射されてP型シリコン
基板11内に入射する太陽光の光量が増加し、シリコン
太陽電池10の出力が増加する。
A silicon solar cell 10 having such a structure
The sunlight incident on the glass plate 15 is incident on the P-type silicon substrate 11 through the N-type impurity diffusion layer 11a by irradiating the surface of the N-type impurity diffusion layer 11a. However, the sunlight applied to the surface of each metal surface electrode 12 is reflected by each surface electrode 12, and thus is not directly incident on the P-type silicon substrate 11. However, as shown in FIG. 3, the surface of each surface electrode 12 is flat and is at a lower level than the highest portion of the convex portion of the surface of the P-type silicon substrate 11 which is uneven. Therefore, the sunlight diffusely reflected by the corners on the surface of each surface electrode 12 is efficiently incident on the inclined inner side surface (the inclined surface of the P-type silicon substrate 11) of the electrode installation recess 11c. Therefore, the amount of sunlight reflected on the surface of each surface electrode 12 and entering the P-type silicon substrate 11 increases, and the output of the silicon solar cell 10 increases.

【0029】また、シリコン太陽電池10における接着
剤層14の厚さは、図3に示すように、P型シリコン基
板11の表面における凹部の最も低いレベルの部分にお
いて最大になり、その厚さがT1 であるのに対して、P
型シリコン基板11の表面における凸部の最も高いレベ
ルの部分において最小になり、その厚さはT2 となる。
各表面電極12の上面は、P型シリコン基板11の表面
における凸部の最も高い部分よりも低いレベルになって
いるために、各表面電極12に被覆される接着剤層14
の厚さT3 は、最小の厚さT2 よりも大きくなる。従っ
て、接着剤層14がP型シリコン基板11から剥離しな
いような接着剤層14の最小の厚さT2を、環境試験等
によって設定すれば、各表面電極12は、その最小の厚
さT2 よりも厚くなった接着剤層14によって被覆され
ることになる。その結果、ガラス板15の剥離を防止す
るために、また、各表面電極12を保護するために、各
表面電極12を被覆する接着剤層14の厚さを、特別に
大きくする必要がなく、接着剤層14を全体にわたって
薄くすることができる。これにより、シリコン太陽電池
10を小型化および軽量化することができる。
Further, as shown in FIG. 3, the thickness of the adhesive layer 14 in the silicon solar cell 10 becomes maximum at the lowest level portion of the concave portion on the surface of the P-type silicon substrate 11, and the thickness thereof is reduced. T 1 while P
It becomes minimum in the highest level portion of the convex portion on the surface of the mold silicon substrate 11, and its thickness becomes T 2 .
Since the upper surface of each surface electrode 12 is at a lower level than the highest part of the convex portion on the surface of the P-type silicon substrate 11, the adhesive layer 14 coated on each surface electrode 12 is formed.
Has a thickness T 3 greater than the minimum thickness T 2 . Therefore, if the minimum thickness T 2 of the adhesive layer 14 that prevents the adhesive layer 14 from peeling from the P-type silicon substrate 11 is set by an environmental test or the like, each surface electrode 12 has a minimum thickness T 2. It will be covered by the adhesive layer 14 which is thicker than 2 . As a result, in order to prevent the peeling of the glass plate 15 and protect each surface electrode 12, the thickness of the adhesive layer 14 covering each surface electrode 12 does not need to be particularly increased, The adhesive layer 14 can be made thin throughout. As a result, the silicon solar cell 10 can be made smaller and lighter.

【0030】このような構成のシリコン太陽電池10の
表面電極12は次のように製造される。まず、図4
(a)に示すように、P型シリコン基板(ウエーハ)1
1の表面にシリコン酸化膜11eを形成する。そして、
図4(b)に示すように、シリコン酸化膜11e上にフ
ォトレジスト20を積層する。次に、図4(c)および
(d)に示すように、P型シリコン基板11の表面の凹
凸形状に対応した平面形状、および、各電極設置凹部1
1cに対応した平面形状に、フォトレジスト20をパタ
ーンニングする。この場合、図4(d)に示すように、
表面電極12が設けられる電極設置凹部11cに対応し
た部分では、フォトレジスト20はストライプ状にパタ
ーニングされない。
The surface electrode 12 of the silicon solar cell 10 having such a structure is manufactured as follows. First, FIG.
As shown in (a), a P-type silicon substrate (wafer) 1
A silicon oxide film 11e is formed on the surface of 1. And
As shown in FIG. 4B, a photoresist 20 is laminated on the silicon oxide film 11e. Next, as shown in FIGS. 4C and 4D, a planar shape corresponding to the uneven shape of the surface of the P-type silicon substrate 11 and the electrode mounting recesses 1 are formed.
The photoresist 20 is patterned into a planar shape corresponding to 1c. In this case, as shown in FIG.
The photoresist 20 is not patterned in stripes in the portion corresponding to the electrode installation recess 11c in which the surface electrode 12 is provided.

【0031】フォトレジスト20のパターニングは、所
定の形状が書き込まれたガラスマスクをフォトレジスト
20に密着した状態で配置して、ガラスマスクを露光し
て、現像することにより行われる。これにより、フォト
レジスト20は、不要部分が除去されて、所定形状にパ
ターニングされる。
The patterning of the photoresist 20 is carried out by disposing a glass mask in which a predetermined shape is written in close contact with the photoresist 20, exposing the glass mask, and developing it. As a result, the photoresist 20 is patterned into a predetermined shape by removing unnecessary portions.

【0032】このようにして、フォトレジスト20がパ
ターニングされると、P型シリコン基板11の表面上の
シリコン酸化膜11eを、エッチング液によってエッチ
ングする。この場合、フォトレジスト20が積層された
シリコン酸化膜11e部分は、エッチング液によって除
去されず、フォトレジスト20によって覆われていない
部分のみが除去される。そして、フォトレジスト20
を、例えば溶剤によって除去すると、図4(e)および
(f)に示すように、シリコン酸化膜11eは、フォト
レジスト20がパターニングされた形状と同様の形状に
パターニングされる。
When the photoresist 20 is patterned in this way, the silicon oxide film 11e on the surface of the P-type silicon substrate 11 is etched with an etching solution. In this case, the silicon oxide film 11e portion where the photoresist 20 is laminated is not removed by the etching solution, and only the portion that is not covered by the photoresist 20 is removed. Then, the photoresist 20
Is removed by, for example, a solvent, the silicon oxide film 11e is patterned into a shape similar to the shape of the patterned photoresist 20, as shown in FIGS. 4 (e) and 4 (f).

【0033】その後、シリコン酸化膜11eによって覆
われていないP型シリコン基板11部分を、アルカリエ
ッチング液によってエッチングする。この場合、P型シ
リコン基板11の結晶方位によって、エッチング速度に
異方性があり、図4(g)および(h)に示すように、
P型シリコン基板11の表面は、四角錐形状の凹部およ
び凸部が縦方向および横方向に連続した形状にエッチン
グされるとともに、表面電極12が設けられるストライ
プ状の電極設置凹部11cが形成される。その後、シリ
コン酸化膜11eが除去される。
After that, the portion of the P-type silicon substrate 11 which is not covered with the silicon oxide film 11e is etched with an alkaline etching solution. In this case, the etching rate has anisotropy depending on the crystal orientation of the P-type silicon substrate 11, and as shown in FIGS.
On the surface of the P-type silicon substrate 11, quadrangular pyramid-shaped recesses and projections are etched in a continuous shape in the vertical and horizontal directions, and stripe-shaped electrode placement recesses 11c on which the surface electrodes 12 are provided are formed. . Then, the silicon oxide film 11e is removed.

【0034】このような状態になると、P型シリコン基
板11にN型不純物が拡散されて、P型シリコン基板1
1の表面に沿ってN型不純物拡散層11aが形成され
る。
In such a state, N-type impurities are diffused into the P-type silicon substrate 11, and the P-type silicon substrate 1
N-type impurity diffusion layer 11a is formed along the surface of No. 1.

【0035】次に、図5(a)に示すように、N型不純
物拡散層11aが形成されたP型シリコン基板11の表
面に、フォトレジスト20が積層される。フォトレジス
ト20は、P型シリコン基板11の凹凸状になった表面
が、薄く覆われるような厚さに積層される。これによ
り、電極設置凹部11c上には、フォトレジスト20が
厚く積層された状態になる。
Next, as shown in FIG. 5A, a photoresist 20 is laminated on the surface of the P-type silicon substrate 11 on which the N-type impurity diffusion layer 11a is formed. The photoresist 20 is laminated in such a thickness that the uneven surface of the P-type silicon substrate 11 is thinly covered. As a result, the photoresist 20 is thickly stacked on the electrode installation recess 11c.

【0036】次いで、P型シリコン基板11の電極設置
凹部11cに積層されたフォトレジスト20部分を、形
成すべき表面電極12に対応したストライプ状にパター
ニングする。この場合のパターニングも、所定のパター
ンが設けられたガラスマスクをフォトレジスト20に密
着させて、ガラスマスクを露光し、フォトレジスト20
を現像することによって行われる。これにより、図5
(b)に示すように、電極設置凹部11c上のフォトレ
ジスト20部分には、ストライプ状の凹部21が形成さ
れる。電極設置凹部11c上に形成されるストライプ状
の凹部21は、電極設置凹部11c上にフォトレジスト
20が厚く積層されているために、フォトレジスト20
の表面から深く形成されている。
Next, the photoresist 20 portion laminated in the electrode mounting recess 11c of the P-type silicon substrate 11 is patterned into a stripe shape corresponding to the surface electrode 12 to be formed. In the patterning in this case as well, a glass mask provided with a predetermined pattern is brought into close contact with the photoresist 20, the glass mask is exposed to light, and the photoresist 20 is exposed.
Is developed. As a result, FIG.
As shown in (b), a stripe-shaped recess 21 is formed in the photoresist 20 portion on the electrode installation recess 11c. The stripe-shaped recess 21 formed on the electrode installation recess 11c has the photoresist 20 thickly stacked on the electrode installation recess 11c.
It is formed deep from the surface of.

【0037】その後、その凹部21内に電極材料の金属
を、所定の高さに蒸着する。その後、溶剤によって、P
型シリコン基板10に積層されたフォトレジスト20を
除去する。これにより、電極設置凹部11c上に、上下
方向に延びるストライプ状の表面電極12が形成され
る。電極設置凹部11c上に形成される表面電極12
は、P型シリコン基板11の表面を覆うフォトレジスト
20に設けられた凹部21内に形成されるために、P型
シリコン基板11の表面における凸部の最も高い部分よ
りも低いレベルにすることができる。
After that, a metal of an electrode material is vapor-deposited in the recess 21 at a predetermined height. Then, with a solvent, P
The photoresist 20 laminated on the mold silicon substrate 10 is removed. As a result, the striped surface electrode 12 extending in the vertical direction is formed on the electrode installation recess 11c. Surface electrode 12 formed on the electrode installation recess 11c
Is formed in the concave portion 21 provided in the photoresist 20 covering the surface of the P-type silicon substrate 11, so that it can be set at a lower level than the highest portion of the convex portion on the surface of the P-type silicon substrate 11. it can.

【0038】なお、各表面電極12は、上面が平坦にな
っている必要はなく、図6に示すように、幅方向の中央
部が先鋭的に突出した状態になるように、一対の傾斜面
を有するような形状であってもよい。また、一対の傾斜
面を設けずに、片側のみを傾斜させる構造としてもよ
い。
Each surface electrode 12 does not have to have a flat upper surface, and as shown in FIG. 6, a pair of inclined surfaces is formed so that the central portion in the width direction is sharply projected. It may have a shape having. Further, the structure may be such that only one side is inclined without providing a pair of inclined surfaces.

【0039】このように各表面電極12の表面が、幅方
向の中央部が突出するように一対の傾斜面を有する構成
では、各電極設置凹部11cのそれぞれの内側面に各傾
斜面が対向した状態になり、ガラス板15を通って入射
する太陽光は、各表面電極12のそれぞれの傾斜面によ
って反射されて、電極設置凹部11cの内側面からP型
シリコン基板11内に、一層、効率よく入射する。従っ
て、シリコン太陽電池10の太陽光に対する発電効率
は、さらに向上する。
In this way, in the structure in which the surface of each surface electrode 12 has a pair of inclined surfaces such that the central portion in the width direction projects, the inclined surfaces face the inner side surfaces of the electrode installation recesses 11c. The sunlight entering the glass plate 15 and reflected by the inclined surfaces of the front surface electrodes 12 is efficiently reflected from the inner surface of the electrode installation recess 11c into the P-type silicon substrate 11. Incident. Therefore, the power generation efficiency with respect to sunlight of the silicon solar cell 10 is further improved.

【0040】このように、表面に一対の傾斜面が設けら
れた表面電極12を形成する場合には、図7に示すよう
に、電極設置凹部11cを形成する際に、その幅方向中
央部の上方に対応するエッチング前のP型シリコン基板
11表面上にも、シリコン酸化膜11eが幅寸法が比較
的小さなストライプ状に残るように、パターニングして
おく。このような状態で、エッチングすると、P型シリ
コン基板11の結晶方位のエッチング速度の異方性によ
って、電極設置凹部11cの下面は、異なる方向に傾斜
した一対の傾斜面が連続して設けられた凹凸状に形成さ
れる。
In the case of forming the surface electrode 12 having the pair of inclined surfaces on the surface as described above, as shown in FIG. 7, when forming the electrode installation concave portion 11c, the central portion in the width direction is formed. Patterning is also performed on the surface of the P-type silicon substrate 11 before etching corresponding to the upper side so that the silicon oxide film 11e remains in a stripe shape having a relatively small width dimension. When etching is performed in such a state, due to the anisotropy of the etching rate of the crystal orientation of the P-type silicon substrate 11, a pair of inclined surfaces inclined in different directions are continuously provided on the lower surface of the electrode installation concave portion 11c. It is formed in an uneven shape.

【0041】このように、下面が凹凸状になった電極設
置凹部11cが形成されると、表面が平坦になった表面
電極12を形成する場合と同様に、フォトレジスト20
がP型シリコン基板20の表面に積層されて、電極設置
凹部11c上に凹部21が形成され、その凹部21内
に、電極材料の金属が蒸着される。この場合、複数の傾
斜面が連続した電極設置凹部11cの下面上には、その
電極設置凹部11cの下面の形状に対応した状態で金属
が蒸着されるために、形成される表面電極12の表面
は、一対の傾斜面が突き合わされて幅方向の中央部が上
方に突出した状態に形成される。このようにして、一対
の傾斜面を有する表面電極12が形成され、その後、フ
ォトレジスト20が溶剤によって除去される。
In this way, when the electrode installation concave portion 11c having an uneven lower surface is formed, the photoresist 20 is formed as in the case of forming the surface electrode 12 having a flat surface.
Is laminated on the surface of the P-type silicon substrate 20, a recess 21 is formed on the electrode installation recess 11c, and a metal of an electrode material is vapor-deposited in the recess 21. In this case, since metal is vapor-deposited on the lower surface of the electrode installation recess 11c having a plurality of continuous inclined surfaces in a state corresponding to the shape of the lower surface of the electrode installation recess 11c, the surface of the surface electrode 12 to be formed. Is formed in a state where a pair of inclined surfaces are abutted against each other and a central portion in the width direction is projected upward. In this way, the surface electrode 12 having a pair of inclined surfaces is formed, and then the photoresist 20 is removed by the solvent.

【0042】[0042]

【発明の効果】本発明の太陽電池は、このように、半導
体基板の凹凸状になった表面部分に、電極設置凹部が設
けられて、その凹部に表面電極が設けられているため
に、表面電極によって反射される太陽光が効率よく半導
体基板内に入射され、発電効率が著しく向上する。電極
設置凹部は、半導体基板の凹凸状の表面を形成する際に
同時に形成されるために、製造が容易である。しかも、
表面電極は、半導体基板の表面から突出していないため
に、半導体基板の表面をガラス板によって覆う際に、ガ
ラス板を接着する接着剤層を、表面電極を覆うために特
別に厚くしなくても、ガラス板が剥離するおそれがな
い、また、接着剤層を特別に厚くする必要がないため
に、太陽電池は小型化される。
As described above, the solar cell of the present invention is provided with the recessed portion for installing an electrode on the uneven surface portion of the semiconductor substrate, and the surface electrode is provided in the recessed portion. The sunlight reflected by the electrodes is efficiently incident on the semiconductor substrate, and the power generation efficiency is significantly improved. The electrode installation concave portion is formed at the same time when the uneven surface of the semiconductor substrate is formed, and therefore the manufacturing is easy. Moreover,
Since the surface electrode does not protrude from the surface of the semiconductor substrate, when the surface of the semiconductor substrate is covered with the glass plate, the adhesive layer for adhering the glass plate does not need to be particularly thick to cover the surface electrode. Since the glass plate does not peel off and the adhesive layer does not need to be particularly thick, the solar cell is downsized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の太陽電池の実施の形態の一例を示す一
部破断斜視図である。
FIG. 1 is a partially cutaway perspective view showing an example of an embodiment of a solar cell of the present invention.

【図2】その太陽電池の要部の断面図である。FIG. 2 is a sectional view of a main part of the solar cell.

【図3】その太陽電池の動作説明のために要部を拡大し
て示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing an enlarged main part for explaining the operation of the solar cell.

【図4】(a)〜(h)は、それぞれ、その太陽電池の
シリコン基板の表面部を凹凸状に形成する工程を示す要
部の断面図である。
4A to 4H are cross-sectional views of a main part showing a step of forming a surface portion of a silicon substrate of the solar cell in a concavo-convex shape, respectively.

【図5】(a)および(b)は、それぞれ、その太陽電
池のシリコン基板に表面電極を設ける工程を示す要部の
断面図である。
5 (a) and 5 (b) are cross-sectional views of a main part showing a step of providing a surface electrode on a silicon substrate of the solar cell, respectively.

【図6】本発明の太陽電池の実施の形態の他の例を示す
要部の断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view of a main part showing another example of the embodiment of the solar cell of the present invention.

【図7】その太陽電池のシリコン基板の表面部を凹凸状
に形成する工程を示す要部の断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view of a main part showing a step of forming a surface portion of a silicon substrate of the solar cell in an uneven shape.

【図8】従来の太陽電池の一例を示す一部破断斜視図で
ある。
FIG. 8 is a partially cutaway perspective view showing an example of a conventional solar cell.

【図9】従来の太陽電池の他の例を示す一部破断斜視図
である。
FIG. 9 is a partially cutaway perspective view showing another example of a conventional solar cell.

【図10】その太陽電池の動作説明のために要部を拡大
して示す断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing an enlarged main part for explaining the operation of the solar cell.

【図11】その太陽電池の表面電極の製造工程における
要部の拡大断面図である。
FIG. 11 is an enlarged cross-sectional view of a main part in a manufacturing process of a surface electrode of the solar cell.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 太陽電池 11 P型シリコン基板 11a N型不純物拡散層 11c 電極設置凹部 12 表面電極 14 接着剤層 15 ガラス板 10 Solar Cell 11 P-type Silicon Substrate 11a N-type Impurity Diffusion Layer 11c Electrode Installation Recess 12 Surface Electrode 14 Adhesive Layer 15 Glass Plate

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 表面部分から太陽光が入射することによ
り発電する半導体基板を有する太陽電池であって、 太陽光が入射される半導体基板の表面部分が凹凸状にな
っており、その表面部分に、ストライプ状に窪んだ電極
設置凹部が設けられているとともに、電極設置凹部に、
凹凸状になった表面部分から突出しないように表面電極
が設けられていることを特徴とする太陽電池。
1. A solar cell having a semiconductor substrate that generates power when sunlight is incident on the surface portion of the semiconductor substrate, wherein the surface portion of the semiconductor substrate on which the sunlight is incident has an uneven shape. , The electrode installation recessed portion that is recessed in a stripe shape is provided, and in the electrode installation recessed portion,
A solar cell, in which a surface electrode is provided so as not to project from the uneven surface portion.
【請求項2】 前記表面電極の表面は、照射される太陽
光を、ストライプ状の電極設置凹部における内側面に対
して効率的に入射させるべく、その内側面に対向するよ
うに傾斜した傾斜面を有する請求項1に記載の太陽電
池。
2. The surface of the surface electrode is an inclined surface that is inclined so as to face the inner surface of the stripe-shaped electrode installation concave portion so that the irradiated sunlight can be efficiently incident on the inner surface. The solar cell according to claim 1, comprising:
【請求項3】 前記電極設置凹部は、半導体基板の表面
を凹凸状に形成する際に同時に形成される請求項1に記
載の太陽電池。
3. The solar cell according to claim 1, wherein the electrode installation concave portion is formed at the same time when the surface of the semiconductor substrate is formed in an uneven shape.
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Cited By (5)

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EP0933822A3 (en) * 1998-01-20 1999-12-15 Sharp Kabushiki Kaisha Substrate for forming high-strenght thin semiconductor element and method for manufacturing high-strength thin semiconductor element
JP2004281511A (en) * 2003-03-13 2004-10-07 Sharp Corp Thin plate, alignment device and alignment method
JP2005510751A (en) * 2001-11-28 2005-04-21 サン−ゴバン グラス フランス Transparent panel with high light transmittance pattern
JP2010519732A (en) * 2007-02-15 2010-06-03 マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー Solar cell with uneven surface
JP2011119772A (en) * 2011-03-14 2011-06-16 Mitsubishi Electric Corp Solar cell module

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0933822A3 (en) * 1998-01-20 1999-12-15 Sharp Kabushiki Kaisha Substrate for forming high-strenght thin semiconductor element and method for manufacturing high-strength thin semiconductor element
JP2005510751A (en) * 2001-11-28 2005-04-21 サン−ゴバン グラス フランス Transparent panel with high light transmittance pattern
JP2004281511A (en) * 2003-03-13 2004-10-07 Sharp Corp Thin plate, alignment device and alignment method
JP2010519732A (en) * 2007-02-15 2010-06-03 マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー Solar cell with uneven surface
JP2011119772A (en) * 2011-03-14 2011-06-16 Mitsubishi Electric Corp Solar cell module

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