JPH09209140A - スパッタリング装置 - Google Patents
スパッタリング装置Info
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- JPH09209140A JPH09209140A JP1596096A JP1596096A JPH09209140A JP H09209140 A JPH09209140 A JP H09209140A JP 1596096 A JP1596096 A JP 1596096A JP 1596096 A JP1596096 A JP 1596096A JP H09209140 A JPH09209140 A JP H09209140A
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- JP
- Japan
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- target
- magnet
- magnetic
- sputtering
- pole
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ターゲットの表面にスパッタリングに最適な
平行磁場を発生させるようにする。 【解決手段】 マグネット11の磁極12a,13aが
ターゲット10の表面近傍に位置するように設けられて
いるスパッタリング装置である。そして、このスパッタ
リング装置には、ターゲット10に高低を変える昇降手
段21が設けられている。
平行磁場を発生させるようにする。 【解決手段】 マグネット11の磁極12a,13aが
ターゲット10の表面近傍に位置するように設けられて
いるスパッタリング装置である。そして、このスパッタ
リング装置には、ターゲット10に高低を変える昇降手
段21が設けられている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気テープ等の磁
気記録媒体の製造装置に属する技術分野に属し、特に、
磁性層となる磁性薄膜を真空蒸着により支持体上に形成
してなる磁気記録媒体の保護膜形成に好適なスパッタリ
ング装置に関する。
気記録媒体の製造装置に属する技術分野に属し、特に、
磁性層となる磁性薄膜を真空蒸着により支持体上に形成
してなる磁気記録媒体の保護膜形成に好適なスパッタリ
ング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、磁気記録媒体としては、酸化
物磁性粉末あるいは合金磁性粉末等の粉末磁性材料を塩
化ビニル−酢酸ビニル系共重合体、ポリエステル樹脂、
ウレタン樹脂、ポリウレタン樹脂等の有機結合剤中に分
散せしめた磁性塗料を非磁性支持体上に塗布、乾燥する
ことにより作成される塗布型の磁気記録媒体が広く使用
されている。
物磁性粉末あるいは合金磁性粉末等の粉末磁性材料を塩
化ビニル−酢酸ビニル系共重合体、ポリエステル樹脂、
ウレタン樹脂、ポリウレタン樹脂等の有機結合剤中に分
散せしめた磁性塗料を非磁性支持体上に塗布、乾燥する
ことにより作成される塗布型の磁気記録媒体が広く使用
されている。
【0003】これに対して、ビデオテープレコーダー
(VTR)等の分野においては、高画質化を図るため
に、高密度磁気記録化が一層強く要求されており、これ
に対応する磁気記録媒体として、Co−Ni系合金、C
o−Cr系合金、Co−O系等の金属磁性材料を、メッ
キや真空薄膜形成技術(真空蒸着法やスパッタリング
法、イオンプレーティング法等)によってポリエステル
フィルムやポリアミド、ポリイミドフィルム等の非磁性
支持体上に磁性層として直接被着した、いわゆる強磁性
金属薄膜塗布型の磁気記録媒体が提案され注目を集めて
いる。
(VTR)等の分野においては、高画質化を図るため
に、高密度磁気記録化が一層強く要求されており、これ
に対応する磁気記録媒体として、Co−Ni系合金、C
o−Cr系合金、Co−O系等の金属磁性材料を、メッ
キや真空薄膜形成技術(真空蒸着法やスパッタリング
法、イオンプレーティング法等)によってポリエステル
フィルムやポリアミド、ポリイミドフィルム等の非磁性
支持体上に磁性層として直接被着した、いわゆる強磁性
金属薄膜塗布型の磁気記録媒体が提案され注目を集めて
いる。
【0004】そして、この強磁性金属薄膜型の磁気記録
媒体においては、電磁変換特性を向上させ、より大きな
出力を得ることが出来るようにするために、磁性層であ
る強磁性金属薄膜を形成する場合、磁性材料を斜めに蒸
着する斜め蒸着が提案され実用化されている。
媒体においては、電磁変換特性を向上させ、より大きな
出力を得ることが出来るようにするために、磁性層であ
る強磁性金属薄膜を形成する場合、磁性材料を斜めに蒸
着する斜め蒸着が提案され実用化されている。
【0005】このような金属薄膜媒体は、磁気特性的な
優位さ故に今後の高密度磁気記録媒体の主流となると考
えられる。ただし、強磁性金属薄膜塗布型の磁気記録媒
体は、耐久性、耐錆性に問題があると言われており、従
来、コーティングによる潤滑剤、防錆剤などの有機材料
の検討や、微粒子を磁性層形成前に非磁性支持体上に予
め塗布する、いわゆる下塗り技術の検討がなされてい
る。
優位さ故に今後の高密度磁気記録媒体の主流となると考
えられる。ただし、強磁性金属薄膜塗布型の磁気記録媒
体は、耐久性、耐錆性に問題があると言われており、従
来、コーティングによる潤滑剤、防錆剤などの有機材料
の検討や、微粒子を磁性層形成前に非磁性支持体上に予
め塗布する、いわゆる下塗り技術の検討がなされてい
る。
【0006】しかしながら、これらの技術では、特殊な
環境化における使用や、業務用のような過酷な使用に充
分に対応することができず、新たな手法として、真空蒸
着、スパッタリング、プラズマCVD等の真空薄膜形成
手段による表面保護膜の検討が行われている。
環境化における使用や、業務用のような過酷な使用に充
分に対応することができず、新たな手法として、真空蒸
着、スパッタリング、プラズマCVD等の真空薄膜形成
手段による表面保護膜の検討が行われている。
【0007】このような状況の中、スパッタリング法に
よる保護膜形成技術により、耐久性、耐錆性に優れた磁
気記録媒体の製造装置が開発されているが、このスパッ
タリング法による保護膜の形成は、その成膜速度が遅い
ため生産性に劣るという不都合が生じる。
よる保護膜形成技術により、耐久性、耐錆性に優れた磁
気記録媒体の製造装置が開発されているが、このスパッ
タリング法による保護膜の形成は、その成膜速度が遅い
ため生産性に劣るという不都合が生じる。
【0008】そこで、このような不都合を回避して、成
膜速度を向上させるために、ターゲットの下部にマグネ
ットを配置し、これによってターゲット表面に形成され
ている漏洩磁界を利用するマグネトロン型スパッタリン
グ装置が用いられている。
膜速度を向上させるために、ターゲットの下部にマグネ
ットを配置し、これによってターゲット表面に形成され
ている漏洩磁界を利用するマグネトロン型スパッタリン
グ装置が用いられている。
【0009】このマグネトロン型スパッタリング装置に
は、円形のマグネットを用いてこれを偏心して回転さ
せ、より広範囲に均一にターゲット上に磁界を発生させ
る構成のものと、角型のマグネットを用いるものとがあ
るが、磁気テープ等の長尺物に対しては、このうちの角
型のマグネットを用いるものが採用されている。
は、円形のマグネットを用いてこれを偏心して回転さ
せ、より広範囲に均一にターゲット上に磁界を発生させ
る構成のものと、角型のマグネットを用いるものとがあ
るが、磁気テープ等の長尺物に対しては、このうちの角
型のマグネットを用いるものが採用されている。
【0010】図7及び図8に示すものは、上記角型のマ
グネットを用いたマグネトロン型連続スパッタリング装
置のカソード101の一例である。
グネットを用いたマグネトロン型連続スパッタリング装
置のカソード101の一例である。
【0011】このカソード101は、電源に接続されカ
ソード電極としての機能を有するバッキングプレート1
02と、バッキングプレート102上に接着される角形
ターゲット103と、バッキングプレート102や角形
ターゲット103等を水等の冷媒が流される配管104
a,104bによって冷却する冷却機構部104と、バ
ッキングプレート102下に角形ターゲット103と対
向するように配置されるマグネット106と、このマグ
ネット106を収納するカソードケース107とから構
成されている。
ソード電極としての機能を有するバッキングプレート1
02と、バッキングプレート102上に接着される角形
ターゲット103と、バッキングプレート102や角形
ターゲット103等を水等の冷媒が流される配管104
a,104bによって冷却する冷却機構部104と、バ
ッキングプレート102下に角形ターゲット103と対
向するように配置されるマグネット106と、このマグ
ネット106を収納するカソードケース107とから構
成されている。
【0012】マグネット106は、断面が略々E字状を
呈して、センターポールと、このセンターポールの周囲
を取り囲む矩形環状のマグネットリングとから構成され
ており、これらセンターポールとマグネットリングの先
端、すなわち角形ターゲット103との対向面は、互い
に異なる極性(例えば、センターポールがS極、マグネ
ットリングがN極)とされている。
呈して、センターポールと、このセンターポールの周囲
を取り囲む矩形環状のマグネットリングとから構成され
ており、これらセンターポールとマグネットリングの先
端、すなわち角形ターゲット103との対向面は、互い
に異なる極性(例えば、センターポールがS極、マグネ
ットリングがN極)とされている。
【0013】したがって、この従来のスパッタリング装
置を使用して、冷却キャン109に搬送されるベースフ
ィルム108に対してスパッタリングを行う場合には、
電離(プラズマ)されたアルゴンイオンを加速すること
により、その運動エネルギーにより角形ターゲット10
3の原子をはじき出して、そのはじき出された原子がベ
ースフィルム108に堆積され、目的とする薄膜を形成
することができる。
置を使用して、冷却キャン109に搬送されるベースフ
ィルム108に対してスパッタリングを行う場合には、
電離(プラズマ)されたアルゴンイオンを加速すること
により、その運動エネルギーにより角形ターゲット10
3の原子をはじき出して、そのはじき出された原子がベ
ースフィルム108に堆積され、目的とする薄膜を形成
することができる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な従来装置では、非磁性支持体であるベースフィルム1
08が冷却キャン109により図中時計方向に走行され
るが、このとき角形ターゲット103と対向するように
配置されるマグネット106の形状に対応して、ターゲ
ット103の表面が部分的に侵食される、いわゆるエロ
ージョンの問題が生じる。エロージョンは、マグネット
106の発生する磁界が角形ターゲット103表面付近
で湾曲してプラズマを閉じこめているため、このプラズ
マ密度の高い部分のみが集中的にスパッタリング(消
費)される現象である。
な従来装置では、非磁性支持体であるベースフィルム1
08が冷却キャン109により図中時計方向に走行され
るが、このとき角形ターゲット103と対向するように
配置されるマグネット106の形状に対応して、ターゲ
ット103の表面が部分的に侵食される、いわゆるエロ
ージョンの問題が生じる。エロージョンは、マグネット
106の発生する磁界が角形ターゲット103表面付近
で湾曲してプラズマを閉じこめているため、このプラズ
マ密度の高い部分のみが集中的にスパッタリング(消
費)される現象である。
【0015】このように、スパッタリングが均一でない
場合には、スパッタリングされにくい部分が薄膜形成に
使用されず、角形ターゲット103の使用効率が低下す
る。また、エロージョンの進行は、スパッタリングレー
トを減少させるとともに、ターゲット103の寿命を短
くする等の問題がある。
場合には、スパッタリングされにくい部分が薄膜形成に
使用されず、角形ターゲット103の使用効率が低下す
る。また、エロージョンの進行は、スパッタリングレー
トを減少させるとともに、ターゲット103の寿命を短
くする等の問題がある。
【0016】また、薄膜の成膜時に角形ターゲット10
3の表面に形成される磁場は、湾曲状であるために、こ
のまま搬送されるベースフィルム108上に保護膜を成
膜すると、ターゲット103上での磁束密度が高い(濃
い)部分は、厚い膜が被着され、磁束密度が低い(薄
い)部分は、薄い膜が被着される。
3の表面に形成される磁場は、湾曲状であるために、こ
のまま搬送されるベースフィルム108上に保護膜を成
膜すると、ターゲット103上での磁束密度が高い(濃
い)部分は、厚い膜が被着され、磁束密度が低い(薄
い)部分は、薄い膜が被着される。
【0017】さらに、このような角形ターゲットの表面
に湾曲した磁場が発生する従来装置では、プラズマ密度
が低い部分には、逆に、スパッタ膜が付着して、ダスト
の原因となり、さらに、付着した膜が絶縁膜である場合
は、それが帯電してアーキングを生じさせ、ベースフィ
ルムに損傷を与えていた。
に湾曲した磁場が発生する従来装置では、プラズマ密度
が低い部分には、逆に、スパッタ膜が付着して、ダスト
の原因となり、さらに、付着した膜が絶縁膜である場合
は、それが帯電してアーキングを生じさせ、ベースフィ
ルムに損傷を与えていた。
【0018】このため、従来、マグネット106の形状
や位置等にさまざまな工夫がなされたものが提案されて
はいるが、角形ターゲット103の表面に理想的な平行
磁場を発生させるものは未だ開発されていない。
や位置等にさまざまな工夫がなされたものが提案されて
はいるが、角形ターゲット103の表面に理想的な平行
磁場を発生させるものは未だ開発されていない。
【0019】そこで、本発明は、このような実情に鑑み
て提案されたものであって、いわゆるマグネトロン型連
続スパッタリング装置において、ターゲットの表面にス
パッタリングに最適な平行磁場を発生させることによ
り、ターゲットの使用効率、成膜レート等を向上させる
とともに、スパッタリング装置に見られるアーキングの
発生を抑制することを目的とする。
て提案されたものであって、いわゆるマグネトロン型連
続スパッタリング装置において、ターゲットの表面にス
パッタリングに最適な平行磁場を発生させることによ
り、ターゲットの使用効率、成膜レート等を向上させる
とともに、スパッタリング装置に見られるアーキングの
発生を抑制することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】本発明のスパッタリング
装置は、上記の目的を達成し課題を解決するために、タ
ーゲットと、このターゲット表面に磁界を発生させるマ
グネットとを備え、支持体に対してスパッタリングを行
うスパッタリング装置において、マグネットの磁極がタ
ーゲットの表面近傍に位置するように設けられているこ
とを特徴とする。
装置は、上記の目的を達成し課題を解決するために、タ
ーゲットと、このターゲット表面に磁界を発生させるマ
グネットとを備え、支持体に対してスパッタリングを行
うスパッタリング装置において、マグネットの磁極がタ
ーゲットの表面近傍に位置するように設けられているこ
とを特徴とする。
【0021】また、ターゲットに高低を変える昇降手段
が設けられていることを特徴とする。
が設けられていることを特徴とする。
【0022】さらに、マグネットが磁極が異なるセンタ
ーポールとこのセンターポールの周囲を取り囲む環状の
マグネットリングとから構成され、ターゲットにマグネ
ットの磁極に対応して貫通穴が形成されていることを特
徴とする。
ーポールとこのセンターポールの周囲を取り囲む環状の
マグネットリングとから構成され、ターゲットにマグネ
ットの磁極に対応して貫通穴が形成されていることを特
徴とする。
【0023】本発明のスパッタリング装置は、マグネッ
トの磁極がターゲットの表面近傍に位置するように設け
られているために、ターゲットの表面にスパッタリング
に最適な平行磁場を発生させるようになる。
トの磁極がターゲットの表面近傍に位置するように設け
られているために、ターゲットの表面にスパッタリング
に最適な平行磁場を発生させるようになる。
【0024】また、ターゲットの高低を変える昇降手段
が設けられることにより、スパッタリング中にターゲッ
トの消耗に合わせてマグネットの高さを変えることがで
き、そのため、ターゲットの表面にスパッタリングに最
適な平行磁場を発生させるようになる。
が設けられることにより、スパッタリング中にターゲッ
トの消耗に合わせてマグネットの高さを変えることがで
き、そのため、ターゲットの表面にスパッタリングに最
適な平行磁場を発生させるようになる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体的な実施の形
態を図面に基づいて説明する。
態を図面に基づいて説明する。
【0026】本実施の形態のスパッタリング装置は、図
1に示すように、頭部と低部にそれぞれ設けられた排気
口15から排気されて内部が真空状態となされた真空室
1内に、図中の時計回り方向に定速回転する送りロール
3と、図中の時計回り方向に定速回転する巻取りロール
4とが設けられ、これら送りロール3から巻取りロール
4にテープ状の非磁性支持体であるベースフィルム2が
順次走行するようになされている。
1に示すように、頭部と低部にそれぞれ設けられた排気
口15から排気されて内部が真空状態となされた真空室
1内に、図中の時計回り方向に定速回転する送りロール
3と、図中の時計回り方向に定速回転する巻取りロール
4とが設けられ、これら送りロール3から巻取りロール
4にテープ状の非磁性支持体であるベースフィルム2が
順次走行するようになされている。
【0027】そして、これら送りロール3から巻取りロ
ール4側に上記ベースフィルム2が走行する中途部に
は、各ロール3,4の径よりも大径となされた冷却キャ
ン5が設けられている。この冷却キャン5の周面には、
ベースフィルム2が巻き付けられ、したがって冷却キャ
ン5も前記ロール3,4と同期して図中の時計回り方向
に定速回転する構成とされる。
ール4側に上記ベースフィルム2が走行する中途部に
は、各ロール3,4の径よりも大径となされた冷却キャ
ン5が設けられている。この冷却キャン5の周面には、
ベースフィルム2が巻き付けられ、したがって冷却キャ
ン5も前記ロール3,4と同期して図中の時計回り方向
に定速回転する構成とされる。
【0028】また、上記送りロール3、巻取りロール
4、及び、冷却キャン5は、それぞれベースフィルム2
の幅と略同じ長さからなる円筒状をなすものであり、ま
た、冷却キャン5には、内部に図示しない冷却装置が設
けられ、上記ベースフィルム2の温度上昇による変形等
を抑制し得るようになされている。
4、及び、冷却キャン5は、それぞれベースフィルム2
の幅と略同じ長さからなる円筒状をなすものであり、ま
た、冷却キャン5には、内部に図示しない冷却装置が設
けられ、上記ベースフィルム2の温度上昇による変形等
を抑制し得るようになされている。
【0029】したがって、ベースフィルム2は、送りロ
ール3から順次送り出され、さらに上記冷却キャン5の
周面を通過し、巻取りロール4に巻取られて行くように
なされている。尚、上記送りロール3と記冷却キャン5
との間及び該冷却キャン5と上記巻取りロール4との問
にはそれぞれガイドロール6,7が配設され、上記送り
ロール3から冷却キャン5及び該冷却キャン5から券取
りロール4にわたって走行するベースフィルム2に所定
のテンションをかけ、該ベースフィルム2が円滑に走行
するようになされている。
ール3から順次送り出され、さらに上記冷却キャン5の
周面を通過し、巻取りロール4に巻取られて行くように
なされている。尚、上記送りロール3と記冷却キャン5
との間及び該冷却キャン5と上記巻取りロール4との問
にはそれぞれガイドロール6,7が配設され、上記送り
ロール3から冷却キャン5及び該冷却キャン5から券取
りロール4にわたって走行するベースフィルム2に所定
のテンションをかけ、該ベースフィルム2が円滑に走行
するようになされている。
【0030】また、上記真空室1内には、上記冷却キャ
ン5の下方にカソード8が設けられ、このカソード8の
上面にターゲット10として金属磁性材料9が接着され
ている。
ン5の下方にカソード8が設けられ、このカソード8の
上面にターゲット10として金属磁性材料9が接着され
ている。
【0031】なお、カソード8としては、真空室1内に
カソード8がすべて入る、いわゆるインターナルタイプ
のものと、真空室1内にターゲット10の表面10a部
分のみが入る、いわゆるエクスターナルタイプのものが
あるが、本実施の形態においては、いずれのタイプのも
のにも適用することができる。
カソード8がすべて入る、いわゆるインターナルタイプ
のものと、真空室1内にターゲット10の表面10a部
分のみが入る、いわゆるエクスターナルタイプのものが
あるが、本実施の形態においては、いずれのタイプのも
のにも適用することができる。
【0032】本実施の形態のカソード8は、インターナ
ルタイプのもので、図3乃至図4に示すように、電源に
接続されカソード電極としての機能を有するバッキング
プレート14と、バッキングプレート14上に接着され
るターゲット10と、このターゲット10の表面10a
に磁界を発生させるマグネット11を主要な構成となし
ている。
ルタイプのもので、図3乃至図4に示すように、電源に
接続されカソード電極としての機能を有するバッキング
プレート14と、バッキングプレート14上に接着され
るターゲット10と、このターゲット10の表面10a
に磁界を発生させるマグネット11を主要な構成となし
ている。
【0033】カソードケース15は、筺体状の内部に、
上記バッキングプレート14、ターゲット10、マグネ
ット11等が配されている。また、カソードケース15
の下部は、後述するターゲット10を昇降させる昇降手
段21等が貫通している。さらに、カソードケース15
の側面側には、絶縁礙子16がネジ部材17を介して固
定されている。
上記バッキングプレート14、ターゲット10、マグネ
ット11等が配されている。また、カソードケース15
の下部は、後述するターゲット10を昇降させる昇降手
段21等が貫通している。さらに、カソードケース15
の側面側には、絶縁礙子16がネジ部材17を介して固
定されている。
【0034】マグネット11は、永久磁石であり、図3
に示すように、所定の長さを有するセンターポール12
と、このセンターポール12の周囲を取り囲む矩形環状
のマグネットリング13とから構成されており、これら
センターポール12とマグネットリング13は、互いに
異なる極性(例えば、センターポール12がS極、マグ
ネットリング13がN極)とされている。したがって、
このマグネット11は、縦断面がE字状を呈する。な
お、このマグネット12は、電源に接続された電磁石で
あっても良いことは勿論である。
に示すように、所定の長さを有するセンターポール12
と、このセンターポール12の周囲を取り囲む矩形環状
のマグネットリング13とから構成されており、これら
センターポール12とマグネットリング13は、互いに
異なる極性(例えば、センターポール12がS極、マグ
ネットリング13がN極)とされている。したがって、
このマグネット11は、縦断面がE字状を呈する。な
お、このマグネット12は、電源に接続された電磁石で
あっても良いことは勿論である。
【0035】また、上記永久磁石であるマグネット11
は、この断面E字状の先端側が磁極12a,13aとさ
れて、これらの磁極12a,13a上には、ネジ部材1
9によりシールド部材18が固定されている。
は、この断面E字状の先端側が磁極12a,13aとさ
れて、これらの磁極12a,13a上には、ネジ部材1
9によりシールド部材18が固定されている。
【0036】そして特に、この断面E字状のマグネット
11は、図3に示すように、センターポール12の磁極
12aとマグネットリング13の磁極13aがターゲッ
ト10の表面10aに対して自由な位置に設定できるよ
うになされている。
11は、図3に示すように、センターポール12の磁極
12aとマグネットリング13の磁極13aがターゲッ
ト10の表面10aに対して自由な位置に設定できるよ
うになされている。
【0037】すなわち、本実施の形態においては、図2
に示すように、ターゲット10の外周側にターゲット1
0とバッキングプレート14を支持するように配される
昇降手段21と、冷却手段31と、電流供給手段41が
配され、いずれも昇降動に対応することができるように
なされている。
に示すように、ターゲット10の外周側にターゲット1
0とバッキングプレート14を支持するように配される
昇降手段21と、冷却手段31と、電流供給手段41が
配され、いずれも昇降動に対応することができるように
なされている。
【0038】まず、昇降手段21は、マグネット11の
磁極12a,13aがターゲット10の表面10aより
も高くなる位置に設定できるもので、図2に示すよう
に、本実施の形態においては4つ設けられている。
磁極12a,13aがターゲット10の表面10aより
も高くなる位置に設定できるもので、図2に示すよう
に、本実施の形態においては4つ設けられている。
【0039】この昇降手段21は、図3に示すように、
絶縁継手22を介して支持する支持棒23と、この支持
棒23を受ける軸受け24と、駆動手段25とから構成
されている。この昇降手段21は、支持棒23の外周に
ネジが形成されるとともに、軸受け24の内周にネジが
形成されている。したがって、駆動手段25からの駆動
力を得て支持棒23と軸受け24とを調整することによ
り、ターゲット10とバッキングプレート14の高低を
変えるようになされている。
絶縁継手22を介して支持する支持棒23と、この支持
棒23を受ける軸受け24と、駆動手段25とから構成
されている。この昇降手段21は、支持棒23の外周に
ネジが形成されるとともに、軸受け24の内周にネジが
形成されている。したがって、駆動手段25からの駆動
力を得て支持棒23と軸受け24とを調整することによ
り、ターゲット10とバッキングプレート14の高低を
変えるようになされている。
【0040】さらに、上記支持棒23には、その外周を
締め付けるクランプ部材26が設けられており、このク
ランプ部材26は、ネジ部材27を介してカソードケー
ス15に固定されている。
締め付けるクランプ部材26が設けられており、このク
ランプ部材26は、ネジ部材27を介してカソードケー
ス15に固定されている。
【0041】次に、冷却手段31は、ターゲット10や
バッキングプレート14等をプラズマ熱から保護するた
めに設けられるもので、本実施の形態においては、図2
に示すように、2つの冷却部材32,32とU字状の管
路32Aとから構成されている。そして、バッキングプ
レート14の内部に配されるU字状の管路32Aに沿っ
て、水等の冷媒が図2中矢印方向に流されるようになさ
れている。
バッキングプレート14等をプラズマ熱から保護するた
めに設けられるもので、本実施の形態においては、図2
に示すように、2つの冷却部材32,32とU字状の管
路32Aとから構成されている。そして、バッキングプ
レート14の内部に配されるU字状の管路32Aに沿っ
て、水等の冷媒が図2中矢印方向に流されるようになさ
れている。
【0042】冷却部材32は、図3に示すように、水等
の冷媒が流されるように内部が空洞とされている部材で
あり、バッキングプレート14の下面をOリング33と
固定部材34を介して支持する構成とされ、また、クラ
ンプ部材36を介して、マグネット11とカソードケー
ス15を貫通して設けられている。
の冷媒が流されるように内部が空洞とされている部材で
あり、バッキングプレート14の下面をOリング33と
固定部材34を介して支持する構成とされ、また、クラ
ンプ部材36を介して、マグネット11とカソードケー
ス15を貫通して設けられている。
【0043】そして、冷却手段31は、その上部側に、
上記昇降手段21が昇降しても、この昇降に対応し得る
構成の管継手35が設けられている。
上記昇降手段21が昇降しても、この昇降に対応し得る
構成の管継手35が設けられている。
【0044】次に、電流供給手段41は、バッキングプ
レート14において、電源に接続されカソード電極とし
ての機能を有するようにするためのもので、本実施の形
態においては、図2に示すように、上記冷却部材32と
32との間に1つ設けられている。
レート14において、電源に接続されカソード電極とし
ての機能を有するようにするためのもので、本実施の形
態においては、図2に示すように、上記冷却部材32と
32との間に1つ設けられている。
【0045】この電流供給手段41は、昇降手段21、
冷却手段31と同じように棒状のもので、電極先端がバ
ッキングプレート14に接続され、図4に示すように、
電極42のまわりに電極カバー43が形成され、そし
て、電源に接続されている。なお、具体的に図示しない
が、この供給手段41も、冷却手段31と同じように、
昇降手段21が昇降してもこの昇降に対応し得る構成と
なされている。
冷却手段31と同じように棒状のもので、電極先端がバ
ッキングプレート14に接続され、図4に示すように、
電極42のまわりに電極カバー43が形成され、そし
て、電源に接続されている。なお、具体的に図示しない
が、この供給手段41も、冷却手段31と同じように、
昇降手段21が昇降してもこの昇降に対応し得る構成と
なされている。
【0046】そして、ターゲット10とバッキングプレ
ート14は、このような昇降構造に合わせて形成されて
いる。すなわち、ターゲット10とバッキングプレート
14には、その中央にマグネット11の磁極12a,1
3aを貫通させる穴39が形成されている。
ート14は、このような昇降構造に合わせて形成されて
いる。すなわち、ターゲット10とバッキングプレート
14には、その中央にマグネット11の磁極12a,1
3aを貫通させる穴39が形成されている。
【0047】このように、ターゲット10は、マグネッ
ト11の磁極12a,13aを貫通させる穴10aが形
成されたほぼドーナツ状を呈してなる(図2参照)。し
たがって、ターゲット10を昇降手段21により昇降さ
せることにより、マグネット11の磁極12a,13a
がターゲット10の表面10a上に位置するようにな
る。
ト11の磁極12a,13aを貫通させる穴10aが形
成されたほぼドーナツ状を呈してなる(図2参照)。し
たがって、ターゲット10を昇降手段21により昇降さ
せることにより、マグネット11の磁極12a,13a
がターゲット10の表面10a上に位置するようにな
る。
【0048】バッキングプレート14は、電源に接続さ
れるとともに、その上に低融点の金属でターゲット10
を接着してある。このバッキングプレート14は、熱伝
導性に優れた銅で形成されているが、熱伝導性に優れた
材質であれば、これには限定されるものではない。
れるとともに、その上に低融点の金属でターゲット10
を接着してある。このバッキングプレート14は、熱伝
導性に優れた銅で形成されているが、熱伝導性に優れた
材質であれば、これには限定されるものではない。
【0049】そして、バッキングプレート14は、上記
マグネット11のセンターポール12とマグネットリン
グ13との間に位置するターゲット10の形状に対応し
た形状となされた、ほぼドーナツ状を呈してなる。した
がって、ターゲット10とバッキングプレート14を昇
降手段21により昇降させて、マグネット11の磁極1
2a,13aがターゲット10の表面10a上に位置す
るようになされている。
マグネット11のセンターポール12とマグネットリン
グ13との間に位置するターゲット10の形状に対応し
た形状となされた、ほぼドーナツ状を呈してなる。した
がって、ターゲット10とバッキングプレート14を昇
降手段21により昇降させて、マグネット11の磁極1
2a,13aがターゲット10の表面10a上に位置す
るようになされている。
【0050】このような構成のスパッタリング装置によ
れば、4つの昇降手段21を作動させることにより、タ
ーゲット10の高低を変えることができる。そして、本
実施の形態の昇降構造によれば、マグネット11の各磁
極12a,13aがターゲット10の表面10aよりも
高くしたり等自由な位置に設定できる。
れば、4つの昇降手段21を作動させることにより、タ
ーゲット10の高低を変えることができる。そして、本
実施の形態の昇降構造によれば、マグネット11の各磁
極12a,13aがターゲット10の表面10aよりも
高くしたり等自由な位置に設定できる。
【0051】ここで、昇降手段21としては、また、昇
降手段21としては、本実施の形態のように、ターゲッ
ト10の高低を変えるものではなく、マグネット11に
上記のような昇降手段21等を設けることにより、マグ
ネット11の磁極12a,13aがターゲット10の表
面10aよりも高くなる位置に設定できるようにしても
良い。
降手段21としては、本実施の形態のように、ターゲッ
ト10の高低を変えるものではなく、マグネット11に
上記のような昇降手段21等を設けることにより、マグ
ネット11の磁極12a,13aがターゲット10の表
面10aよりも高くなる位置に設定できるようにしても
良い。
【0052】さらに、本実施の形態は、図4に示すよう
に、マグネット11の中央のセンターポール12の磁極
12aにも、流路36が形成され、水等の冷媒が流され
る配管37a,37bが設けられている。ここにおける
配管37a,37bは、管継手38,38を介して着脱
自在に設けられている。
に、マグネット11の中央のセンターポール12の磁極
12aにも、流路36が形成され、水等の冷媒が流され
る配管37a,37bが設けられている。ここにおける
配管37a,37bは、管継手38,38を介して着脱
自在に設けられている。
【0053】したがって、ターゲット10aやバッキン
グプレート14等の温度上昇に対して、上記配管37
a,37bから冷媒を流すことにより(図4中、INか
らOUTへ)、これらターゲット10a等を冷却するこ
とができる。
グプレート14等の温度上昇に対して、上記配管37
a,37bから冷媒を流すことにより(図4中、INか
らOUTへ)、これらターゲット10a等を冷却するこ
とができる。
【0054】本実施の形態のスパッタリング装置は、上
記構成からなるものであるから、このスパッタリング装
置を使用して、ベースフィルム2に対してスパッタリン
グを行う場合には、電離(プラズマ)されたアルゴンイ
オンを加速することにより、その運動エネルギーにより
ターゲット10の原子をはじき出して、そのはじき出さ
れた原子がベースフィルム2に堆積され、目的とする薄
膜を形成することができる。ここで、ベースフィルム2
が熱に対して弱い場合には冷却キャン5によって冷却さ
れる。
記構成からなるものであるから、このスパッタリング装
置を使用して、ベースフィルム2に対してスパッタリン
グを行う場合には、電離(プラズマ)されたアルゴンイ
オンを加速することにより、その運動エネルギーにより
ターゲット10の原子をはじき出して、そのはじき出さ
れた原子がベースフィルム2に堆積され、目的とする薄
膜を形成することができる。ここで、ベースフィルム2
が熱に対して弱い場合には冷却キャン5によって冷却さ
れる。
【0055】そして、上記構成のスパッタリング装置に
おいては、駆動手段25により昇降手段21を昇降させ
ると、これに対応して冷却手段31も電流供給手段41
も昇降して、パッタリング中にターゲット10の高さを
変えるようにする。そして、スパッタリング中にターゲ
ット10の消耗に合わせて、マグネット11の磁極12
a,13aがターゲット10の表面10aよりも高く位
置するように設定することにより、常に、ターゲット1
0の表面10aに理想的な平行磁場を発生させることが
できる。
おいては、駆動手段25により昇降手段21を昇降させ
ると、これに対応して冷却手段31も電流供給手段41
も昇降して、パッタリング中にターゲット10の高さを
変えるようにする。そして、スパッタリング中にターゲ
ット10の消耗に合わせて、マグネット11の磁極12
a,13aがターゲット10の表面10aよりも高く位
置するように設定することにより、常に、ターゲット1
0の表面10aに理想的な平行磁場を発生させることが
できる。
【0056】ここで、この平行磁場の状態を図5を用い
て説明すると、従来の装置では(図5(A))、マグネ
ット106から発生する磁界がターゲット103の表面
10aでトンネル状に湾曲して発生していた。このため
に、この湾曲した状態でプラズマが閉じこめられ、プラ
ズマ密度の高い部分のみが集中的にスパッタリングされ
ていた。この原因の一つとしては、従来装置では、マグ
ネット106がバッキングプレート102下に配されて
いたことが挙げられる。
て説明すると、従来の装置では(図5(A))、マグネ
ット106から発生する磁界がターゲット103の表面
10aでトンネル状に湾曲して発生していた。このため
に、この湾曲した状態でプラズマが閉じこめられ、プラ
ズマ密度の高い部分のみが集中的にスパッタリングされ
ていた。この原因の一つとしては、従来装置では、マグ
ネット106がバッキングプレート102下に配されて
いたことが挙げられる。
【0057】これに対して、本実施の形態では(図5
(B))、マグネット11の磁極12a,13aがター
ゲット10の表面10aよりも高くなるような位置に設
けられているために、ターゲット10の表面10aの広
い範囲に理想的な平行磁場を発生させるようになる。
(B))、マグネット11の磁極12a,13aがター
ゲット10の表面10aよりも高くなるような位置に設
けられているために、ターゲット10の表面10aの広
い範囲に理想的な平行磁場を発生させるようになる。
【0058】ここで、本実施の形態と従来装置のターゲ
ット表面10aの磁場ベクトルを測定したものが図6で
ある。すなわち、この図6は、ターゲット10の表面1
0aに発生した磁場が、このターゲット10の表面10
aに対応した平行状態から何度傾いているかの、いわゆ
るベクトル余弦(COSθ)の分布を調べたものであ
る。
ット表面10aの磁場ベクトルを測定したものが図6で
ある。すなわち、この図6は、ターゲット10の表面1
0aに発生した磁場が、このターゲット10の表面10
aに対応した平行状態から何度傾いているかの、いわゆ
るベクトル余弦(COSθ)の分布を調べたものであ
る。
【0059】この図6から明らかなように、本実施の形
態の方が従来の装置よりも、はるかにターゲット10の
表面10aに平行磁場を発生させていることがわかる。
態の方が従来の装置よりも、はるかにターゲット10の
表面10aに平行磁場を発生させていることがわかる。
【0060】したがって、本実施の形態では、スパッタ
リング中にターゲット10の消耗に合わせて、昇降手段
21によりマグネット11の磁極12a,13aを、タ
ーゲット10の表面10aよりも若干高くなるように操
作させれば、従来装置のようにプラズマが閉じこめられ
るようなことがなくなり、スパッタリングレートを増加
させるとともに、ターゲット使用効率が上げられる。
リング中にターゲット10の消耗に合わせて、昇降手段
21によりマグネット11の磁極12a,13aを、タ
ーゲット10の表面10aよりも若干高くなるように操
作させれば、従来装置のようにプラズマが閉じこめられ
るようなことがなくなり、スパッタリングレートを増加
させるとともに、ターゲット使用効率が上げられる。
【0061】また、上記構成のスパッタリング装置を使
用して、薄膜の成膜レートを測定したところ、従来装置
に比べ成膜レートが上がっていた。さらに、ターゲット
10の膜厚分布にも良い結果が得られた。
用して、薄膜の成膜レートを測定したところ、従来装置
に比べ成膜レートが上がっていた。さらに、ターゲット
10の膜厚分布にも良い結果が得られた。
【0062】以上、本実施の形態では、いわゆる角型の
マグネットを用いたものにより本発明を説明したが、本
発明は、円形のマグネットを用いてこれを偏心して回転
させ、ターゲット表面に磁界を発生させるものにも適用
できるものであることは勿論である。
マグネットを用いたものにより本発明を説明したが、本
発明は、円形のマグネットを用いてこれを偏心して回転
させ、ターゲット表面に磁界を発生させるものにも適用
できるものであることは勿論である。
【0063】
【発明の効果】本発明のスパッタリング装置は、マグネ
ットの磁極がターゲットの表面近傍に位置するように設
けられているため、ターゲットの表面にスパッタリング
に最適な平行磁場を発生させる。
ットの磁極がターゲットの表面近傍に位置するように設
けられているため、ターゲットの表面にスパッタリング
に最適な平行磁場を発生させる。
【0064】したがって、ターゲットの表面全体のプラ
ズマ密度が高くなり、スパッタリングレートを増加させ
るとともに、ターゲット使用効率が上げられる。
ズマ密度が高くなり、スパッタリングレートを増加させ
るとともに、ターゲット使用効率が上げられる。
【0065】また、ターゲットの表面にスパッタリング
に最適な平行磁場を発生させることにより、支持体上に
均一な膜厚分布が得られるとともに、ターゲットに付着
したデポジション膜が絶縁膜の場合のアーキングが減少
される。
に最適な平行磁場を発生させることにより、支持体上に
均一な膜厚分布が得られるとともに、ターゲットに付着
したデポジション膜が絶縁膜の場合のアーキングが減少
される。
【図1】本発明の第1の実施の形態のスパッタリング装
置の構成を模式的に示す図である。
置の構成を模式的に示す図である。
【図2】ターゲットとカソードケースの平面図である。
【図3】上記図2のA−A線断面図である。
【図4】上記図2のB−B線断面図である。
【図5】マグネットの磁束を比較して示す模式図であ
り、(A)が従来装置の場合で、(B)が上記スパッタ
リング装置の場合である。
り、(A)が従来装置の場合で、(B)が上記スパッタ
リング装置の場合である。
【図6】本実施の形態と従来装置の場合におけるターゲ
ット表面の磁場ベクトル余弦(COSθ)の分布の違い
を示す図である。
ット表面の磁場ベクトル余弦(COSθ)の分布の違い
を示す図である。
【図7】従来のスパッタリング装置の概略構成を示す模
式図である。
式図である。
【図8】従来のスパッタリング装置のカソードの構造を
示す断面図である。
示す断面図である。
8 カソード 10 ターゲット 11 マグネット 12 センターポール 12a 磁極 13 マグネットリング 13a 磁極 14 バッキングプレート 21 昇降手段 31 冷却手段 39 貫通穴
Claims (3)
- 【請求項1】 ターゲットと、このターゲット表面に磁
界を発生させるマグネットとを備え、支持体に対してス
パッタリングを行うスパッタリング装置において、 マグネットの磁極がターゲットの表面近傍に位置するよ
うに設けられていることを特徴とするスパッタリング装
置。 - 【請求項2】 ターゲットに高低を変える昇降手段が設
けられていることを特徴とする請求項1記載のスパッタ
リング装置。 - 【請求項3】 マグネットが磁極が異なるセンターポー
ルとこのセンターポールの周囲を取り囲む環状のマグネ
ットリングとから構成され、 このターゲットにマグネットの磁極に対応して貫通孔が
形成されていることを特徴とする請求項1記載のスパッ
タリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1596096A JPH09209140A (ja) | 1996-01-31 | 1996-01-31 | スパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1596096A JPH09209140A (ja) | 1996-01-31 | 1996-01-31 | スパッタリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09209140A true JPH09209140A (ja) | 1997-08-12 |
Family
ID=11903305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1596096A Withdrawn JPH09209140A (ja) | 1996-01-31 | 1996-01-31 | スパッタリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09209140A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006022388A (ja) * | 2004-07-09 | 2006-01-26 | National Institute For Materials Science | 磁束配置をバランス型/アンバランス型に容易に切替可能に設計したマグネトロンスパッタリング陰極 |
| JP7710571B1 (ja) * | 2024-07-12 | 2025-07-18 | 芝浦機械株式会社 | マグネトロンスパッタ装置 |
| CN121362953A (zh) * | 2025-12-19 | 2026-01-20 | 长沙元戎科技有限责任公司 | 一种可调磁控溅射环装置 |
-
1996
- 1996-01-31 JP JP1596096A patent/JPH09209140A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006022388A (ja) * | 2004-07-09 | 2006-01-26 | National Institute For Materials Science | 磁束配置をバランス型/アンバランス型に容易に切替可能に設計したマグネトロンスパッタリング陰極 |
| JP7710571B1 (ja) * | 2024-07-12 | 2025-07-18 | 芝浦機械株式会社 | マグネトロンスパッタ装置 |
| CN121362953A (zh) * | 2025-12-19 | 2026-01-20 | 长沙元戎科技有限责任公司 | 一种可调磁控溅射环装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030401 |