JPH09212214A - ユニットデバッグ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＰＣのプログラム開発時に、目的のユニット
が無い場合においても、プログラム開発を容易に可能と
すること。 【解決手段】 プログラマブルコントローラが有しない
機能を補うためのユニットを使用し、上記プログラマブ
ルコントローラ内部にあるシーケンスプログラムをデバ
ッグする場合に、上記ユニットの擬似的なデータをセッ
トしたソフトウェアを周辺機器から動作させることによ
り、上記ユニットを使用したプログラマブルコントロー
ラ内部にあるシーケンスプログラムのデバッグを行なう
ユニットデバッグ装置である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はプログラマブルコン
トローラにおけるユニットを使用したシーケンスプログ
ラムのデバッグを援助する装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１４は従来のプログラマブルコントロ
ーラ（以下、適宜ＰＣと記す）の構成例（以下適宜ＰＣ
システムと記す）を表した図である。５は電源ユニッ
ト、６はＰＣ、７は入力ユニット、８は出力ユニット、
９はベース、３１はＰＣ６が有しない機能を補う、例え
ば補助用等のユニットである。ベース９にＰＣ６及び各
ユニットが装着されている。この従来例は以下の説明を
行うためのもので、ユニット構成は任意である。また、
ここで用いるユニットは、ユニットの一例としてアナロ
グ／デジタル変換ユニット（以下Ａ／Ｄ変換ユニットと
記す）３１を用いて以下の説明を行うが、本発明のデバ
ッグ装置においてユニットの種類を特定することはな
い。Ａ／Ｄ変換ユニット３１は、入力されたアナログ値
（電圧又は電流）をデジタル値に変換するためのユニッ
トである。従来、図１４のようなＰＣシステムにおい
て、ＰＣ６の内部のシーケンスプログラムのＡ／Ｄ変換
ユニット３１のデバッグ作業を行う場合は、Ａ／Ｄ変換
ユニット３１を実際にベース９に装着する。そして図１
５はＡ／Ｄ変換ユニットの機能ブロック図であるが、Ａ
／Ｄ変換ユニット３１は図１５の電圧／電流入力端子部
３４に外部機器３５から実入力（電圧又は電流）を投入
されることにより、その実入力（電圧又は電流−＞Ａ／
Ｄ変換ユニット内部ではアナログ値として扱われる）か
らＡ／Ｄコンバータ３２がアナログ値からデジタル値変
換をする。その後、そのデジタル値を制御回路３３がバ
ッファメモリ１５に書き込む動作をするので、ＰＣ６は
バッファメモリ読み出し命令１４を使用し、バッファメ
モリ１５内に上記の動作で書き込まれたデジタル値を読
み出し、その値を元にＡ／Ｄ変換ユニット３１のデバッ
グ作業を行う。このデバッグ方法は他のユニットでも同
様である。例えば高速カウンタユニットと呼ばれるユニ
ットに関して、図１６が高速カウンタユニットの機能ブ
ロック図であるが、最初にＰＣ６からバッファメモリ書
き込み命令１３を使用し、バッファメモリ１５内に必要
なデータ（パルス入力モード種類やカウンタ機能種類
等）を書き込み、更にパルス電圧入力端子部６２に外部
機器６４からパルス電圧を投入し、その投入されたパル
ス電圧と上記によりバッファメモリ１５に書かれている
データから制御回路６３がカウントをする。そして、そ
のカウント値を制御回路６３がバッファメモリ１５に書
き込む動作をするので、ＰＣ６はバッファメモリ読み出
し命令１４を使用し、バッファメモリ１５内に上記の動
作で書き込まれたカウント値を読み出し、その値を元に
高速カウンタユニットのデバッグ作業を行う。

【０００３】従来のデバッグ作業の詳細を以下に示す。
図１５は、ユニットの例として選定したＡ／Ｄ変換ユニ
ット３１を機能ブロック図として示したものである。１
３はＰＣ６のデータをバッファメモリ１５内に書き込む
バッファメモリ書き込み命令を意味し、矢印の向きは命
令が発行される方向を示す。１４はバッファメモリ１５
内のデータをＰＣ６に読み出すバッファメモリ読み出し
命令を意味し、矢印の向きは命令が発行される方向を示
す。 １５はバッファメモリ、１６はＰＣ用インタフェ
ースである。バッファメモリ１５の中には図１７のよう
に、Ａ／Ｄ変換ユニット３１に対しての実入力（電圧又
は電流）を投入して、使用するチャンネルを決める使用
チャンネル指定エリア４５や時間／回数のどちらの平均
をとるかの設定をする平均処理指定エリア４６や実際の
平均時間／回数をセットするＣＨ１〜ＣＨ８平均時間／
回数エリア４７や実入力（電圧又は電流）をデジタル変
換した値が入っているＣＨ１〜ＣＨ８デジタル出力値エ
リア４８があり、各々のエリアに分かれている。ＰＣ６
は、ＰＣ用インタフェース１６を介してバッファメモリ
書き込み命令１３やバッファメモリ読み出し命令１４を
使用して、Ａ／Ｄ変換ユニット３１内のバッファメモリ
１５に対して、デジタル出力値などのデバッグに必要な
データを読み書きする。３４は電圧／電流入力端子部で
ありＡ／Ｄ変換ユニットに実入力（電圧又は電流）が実
際に外部機器３５から投入される部分である。電圧／電
流入力端子部３４に外部機器３５から実入力（電圧又は
電流）が加えられると、実入力（電圧又は電流）はＡ／
Ｄ変換ユニットにアナログ値として扱われ、Ａ／Ｄコン
バータ３２によりデジタル値に変換される。そして制御
回路３３によって、バッファメモリ１５内のＣＨ１〜Ｃ
Ｈ８デジタル出力値エリア４８に変換されたデジタル値
が書き込まれる。ユニットの例として選定したＡ／Ｄ変
換ユニット３１のデバッグは、投入された実入力（電圧
又は電流）がデジタル変換された値により実施する。
又、電圧／電流入力端子部３４から実入力（電圧又は電
流）を投入しなければならない理由はバッファメモリ１
５内のＣＨ１〜ＣＨ８デジタル出力値エリア４８は通常
において読出専用（つまり、書込不可）であるからデジ
タル出力値エリア４８に直接デジタル値を書き込んでデ
バッグすることができないため、外部機器３５から実際
に実入力（電圧又は電流）を加え、アナログ（実入力）
からデジタル変換されたバッファメモリ１５内のＣＨ１
〜ＣＨ８デジタル出力値エリア４８の値をバッファメモ
リ読み出し命令１４を使用して読み込み、その読み込ん
だデータを元にＰＣ６内のシーケンスプログラムのデバ
ッグ作業を行う。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ユニットの例として記
述しているＡ／Ｄ変換ユニットと高速カウンタユニット
の機能ブロック図内部のバッファメモリ１５はＨ／Ｗと
して同様なものであるが、各ユニット毎にバッファメモ
リ１５のメモリ割り付け（各ユニット毎に持っている固
有のデータエリア）は異なる。（例えば、図１７のＡ／
Ｄ変換ユニットのバッファメモリ割り付けと図１８の高
速カウンタユニットのバッファメモリ割り付け） 従って、例えばＡ／Ｄ変換ユニットのデバッグを行う場
合は、必ずＡ／Ｄ変換ユニットが必要であり、更にＡ／
Ｄ変換ユニットに実際に電圧又は電流を投入する外部機
器もＡ／Ｄ変換ユニットに使用することが可能な実入力
（電圧又は電流）を投入できる外部機器を使用しなけれ
ばならない。よって、Ａ／Ｄ変換ユニットのデバッグ作
業を行う場合、別にユニットでＡ／Ｄ変換ユニットの代
用をすることは不可能であり、外部機器に関してもデバ
ッグしたいユニットに合わせた専用の外部機器が必要で
あるという問題点があった。

【０００５】本発明は、上述の問題点に鑑み、例えば特
定の目的の為のユニットやそのユニットに接続する外部
機器がなくても、ユニットを用いたシーケンスプログラ
ムのデバッグを可能とするユニットのデバッグ用ユニッ
トを提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明に係るユニットデ
バッグ装置は、プログラマブルコントローラが有しない
機能を補うためのユニットを使用し、上記プログラマブ
ルコントローラ内部にあるシーケンスプログラムをデバ
ッグする場合に、上記ユニットの擬似的なデータをセッ
トしたソフトウェアを周辺機器から動作させることによ
り、上記ユニットを使用したプログラマブルコントロー
ラ内部にあるシーケンスプログラムのデバッグを行なう
ものである。

【０００７】

【発明の実施の形態】

発明の実施の形態１．本発明に係わるユニットを用いた
ＰＣシステムのデバッグ方法について、それを実施する
装置との関係を交え、好適な実施の形態を挙げ、添付の
図面を参照しながら以下詳細に説明する。

【０００８】図１は本発明の一つの実施の形態によるデ
バッグ用ユニットの概観図である。１はデバッグ用ユニ
ット、２は現在シミュレーションを行っているユニット
の形名を表示する表示器、３は周辺機器と通信を行うた
めの周辺機器用インタフェース、４は外部スイッチであ
りこのスイッチの切り換えを行いシミュレーションする
ユニットの機種を選択する。図２は本発明の一つの実施
の形態によるデバッグ用ユニットから構成されるＰＣシ
ステムを表した図である。電源ユニット５、ＰＣ６、入
力ユニット７、出力ユニット８、ベース９は前記図９の
従来装置と全く同一のものである。図２のデバッグ用ユ
ニット１は図１と全く同一のものである。図２の１０は
周辺機器用インタフェース３に接続されたケーブルであ
り、１１の周辺機器と接続するためのものである。ここ
で、周辺機器１１には、デバッグ用ユニット１を擬似的
なＡ／Ｄ変換ユニットとみなすようにさせるＳ／Ｗが動
作する。以下、デバッグ用ユニット１と、周辺機器１１
で実行するＳ／Ｗについて説明する。

【０００９】デバッグ用ユニット１について説明する。
図３において、１はデバッグ用ユニットである。表示器
２、周辺機器用インタフェース３は図１と同一のもので
ある。ＰＣ６、バッファメモリ１５、ＰＣ用インタフェ
ース１６は図１０の従来のものと全く同一ものである。
（但し、バッファメモリ１５のメモリ割り付けは異な
る）１２はデバッグ用ユニットの制御回路であり、ＰＣ
からの指令や周辺機器からの指令に応じて動作するもの
である。制御回路の処理内容については以下に記す。図
４はデバッグ用ユニット１の処理フローであり制御回路
１２によって処理される。図３及び図４を用いて以下に
説明を示す。ステップ４−１で、イニシャル処理として
ＰＣ用インタフェース１６や周辺機器用インタフェース
１３に対し、それぞれ通信できるように通信回線をオー
プンする処理を行う。ステップ４−３で、外部スイッチ
４で指定されたユニットの機種の名前を表示器２に表示
する。ステップ４−６で、外部スイッチ４で指定された
ユニットのバッファメモリ割り付けデータを本デバッグ
用ユニットの制御回路内部に固定データとして持ってお
り、そのメモリ割り付けデータをバッファメモリ１５に
反映させる。つまり、図１８のＡ／Ｄ変換ユニットのバ
ッファメモリ割り付けが、制御回路３３内に固定データ
として存在し、それを図５のデバッグ用ユニットの可変
バッファメモリ割り付けエリア４９の位置にそのまま反
映する。この動作により、デバッグ用ユニット１はどの
ようなユニットのバッファメモリ割り付けでも中和する
ことが可能となる。ステップ４−４で、ＰＣ６からバッ
ファメモリ１５の読出（バッファメモリ読み出し命令１
４）やバッファメモリ１５の書込（バッファメモリ書き
込み命令１３）の指令が発生した時、その指令に合わせ
た指令処理を図３の制御回路１２が行う。ステップ４−
５で、周辺機器１１からのバッファメモリの読出やバッ
ファメモリの書込の指令が発生した時（周辺機器用イン
タフェース３経由で制御回路がバッファメモリ１５の内
容を読み書きする）、その指令に合わせた指令処理を図
３の制御回路１２が行う。

【００１０】以後、ステップ４−４とステップ４−５を
繰り返し行う。この繰り返しにより、ＰＣ６からと周辺
機器１１からの図３のバッファメモリ１５の読出又は、
書込の指令がきても常時対応できることになる。又、上
記以外のユニットで、例えば図１７の高速カウンタユニ
ットをデバッグする場合は上記のＡ／Ｄ変換ユニット３
１と異なってくる箇所は、図４の４−３の形名が変わり
（高速カウンタユニットの形名、例えば「ＡＤ６１」と
なる）、図４の４−６でのバッファメモリ割り付けデー
タが変わるだけで（図１９のバッファメモリ割り付けが
図５のデバッグ用ユニットの可変バッファメモリ割り付
けエリア４９の位置にそのまま反映されるため）、後は
同様な動作をする。

【００１１】次に周辺機器１１上で動作するＳ／Ｗによ
り、Ａ／Ｄ変換ユニット３１のシミュレートした場合を
例にして説明する。図６は前記Ｓ／Ｗの周辺機器１１に
出力される画面を示し、図７にて前記Ｓ／Ｗの処理を示
す。構成としてはユニット種別選択画面５７、アナログ
入力電圧電流選択画面１７、使用チャンネル／平均処理
指定画面５１、電圧入出力変換特性設定画面１８、電流
入出力変換特性設定画面１９、電圧値入力画面２０、電
流値入力画面２１があり操作方法を以下に示す。

【００１２】周辺機器１１上にてＳ／Ｗを起動すると図
６のユニット種別選択画面５７が表示され、そこでデバ
ッグを行いたいユニットの種別を選択する。（図７の５
６、ここでは例として「１．Ａ６８ＡＤ」を選択する） ユニットの種別選択後、アナログ入力選択画面１７が周
辺機器１１に表示されＡ／Ｄ変換ユニット３１のアナロ
グ入力値（実入力に相当）を電圧又は電流かで選択する
（図７の３６）。次に使用チャンネル／平均処理指定画
面５１が周辺機器１１に表示され、使用チャンネル及
び、平均処理指定を両方設定する。（図７の５５）使用
チャンネル指定には図８の５２（右端からＣＨ１、ＣＨ
２、・・・・、ＣＨ８）の位置に使用するチャンネルの
位置のビットがＯＮするように１６進数表現にて設定を
行う。平均処理指定の平均処理実行チャンネルは図９の
５３（右端からＣＨ１、ＣＨ２、・・・・、ＣＨ８）の
位置に平均処理ならビットがＯＮするように、サンプリ
ング処理ならビットがＯＦＦするように１６進数表現に
て設定を行う。平均処理指定の時間／回数は図９の５４
（右端からＣＨ１、ＣＨ２、・・・・、ＣＨ８）の位置
に時間平均ならビットがＯＮするように、回数平均なら
ビットがＯＦＦするように１６進数表現にて設定を行
う。次にアナログ入力選択画面１７にて電圧が選択され
た時（１キーが押された時）は入出力特性設定（電圧）
画面１８が周辺機器１１に表示され、電流が選択された
時（２キーが押された時）は入出力特性設定（電流）画
面１９が周辺機器１１に表示される。それぞれオフセッ
ト値２２とゲイン値２３を設定する。（図７の３７及
び、３８） オフセット値２２はデジタル出力の最大に値するアナロ
グ入力値（電圧又は電流）であり、ゲイン値２３はデジ
タル出力の最小に値するアナログ入力値（電圧又は電
流）である。

【００１３】次にアナログ入力値の設定を行うためにア
ナログ入力選択画面１７にて電圧が選択された場合は入
力電圧設定画面２０を表示、アナログ入力選択画面１７
にて電流が選択された場合は入力電流設定画面２１が表
示され、周辺機器１１のファンクションキーであるＦ１
からＦ８キーでアナログ入力値のチャンネル指定（本Ａ
／Ｄ変換ユニット３１は最大８チャンネルアナログ入力
できるものとする）を行い（図７の３９及び、４０）、
選択されたチャンネル指定先の設定上にアナログ入力値
（電圧又は電流）と設定下に平均時間又は、平均回数を
設定する。（図７の４１及び、４２） 次にオフセット値２２とゲイン値２３から上記にて設定
されているアナログ入力値をデジタル値に変換する。変
換方法は図１０の入出力変換特性グラフに示す様にオフ
セット値２２はデジタル値が１０００となる時のアナロ
グ入力値の点となり、ゲイン値２３はデジタル値が０と
なる時のアナログ入力値の点となる。この２点を結ぶ直
線のグラフが入出力特性となり、このグラフが示す値の
デジタル値に上記にて設定されたアナログ入力値（電圧
または電流）が変換される。但し、本Ａ／Ｄ変換ユニッ
ト３１の制限としてデジタル値の最大値は２０４７で最
少値は−２０４８である。前記Ｓ／Ｗの処理としては、
入出力特性設定（電圧）なら電圧入出力変換特性設定画
面１８で設定されているオフセット値及び、ゲイン値と
使用するチャンネルに加える実入力（電圧）の値（アナ
ログ値）から、ゲイン×使用するチャンネルに加える実
入力の値＋オフセット値でデジタル変換される。又、入
出力特性設定（電流）なら電流入出力変換特性設定画面
１９で設定されているオフセット値及び、ゲイン値と使
用するチャンネルに加える実入力（電流）の値（アナロ
グ値）から、ゲイン×使用するチャンネルに加える実入
力の値＋オフセット値でデジタル変換される。（図７の
４３及び、４４） そして、このデジタル変換された値をデバッグ用ユニッ
ト１のバッファメモリ１５のＣＨ１〜ＣＨ８デジタル出
力値エリア４８に書き込む。以上により、ＰＣ６から見
れば、デバッグ用ユニット１のバッファメモリ１５のＣ
Ｈ１〜ＣＨ８デジタル出力値エリア４８は、通常のＡ／
Ｄ変換ユニットのデジタル出力値が入っているエリアと
同様な位置なので、デバッグ用ユニット１が、あたかも
Ａ／Ｄ変換ユニット３１のような動作をすることになり
（実際のＡ／Ｄ変換ユニットが不必要）、尚且つ外部機
器の必要がないデバッグが可能となる。

【００１４】また、他の例として高速カウンタユニット
の場合は、図１１の５７の所でＡＤ６１（高速カウンタ
ユニット）を選択し、以下は上記のＡ／Ｄ変換ユニット
のＳ／Ｗと同様の考えで、高速カウンタユニットを動作
させる上で必要なデータをセットする。これは図１８の
バッファメモリ内のデータを図１１の５７から６１の設
定画面に従ってセットする。尚、パルス入力モード選択
画面５８では１相パルス入力（パルス電圧の入力箇所が
１箇所）か２相パルス入力（パルス電圧の入力箇所が２
箇所）かを選択し、カウンタ機能選択画面５９ではラッ
チカウンタ機能（パルス電圧入力端子部６２にパルス電
圧が入力された時、カウンタの現在値をカウンタ機能選
択カウント値エリア６６に保持する）を使用するなどの
カウンタ機能選択カウント値エリア６６に格納する条件
を選択し、その他の設定画面６０では現在値エリア６５
の値をリセットする場合のリセット値（プリセット値）
等を設定する。そして最後のＣＨリミットスイッチ出力
データ設定画面６１ではＣＨ毎のマルチドグ数（パルス
波形の山の所を指す）等を設定する。そして、このセッ
トされた値を周辺機器からバッファメモリ１５のＣＨ１
〜ＣＨ８リミットスイッチ出力データ設定エリアに書き
込めば、デバッグ用ユニット１が、Ａ／Ｄ変換ユニット
３１と同様な理由で、あたかも高速カウンタユニットの
ような動作をすることになり（実際の高速カウンタユニ
ットが不必要）、尚且つ図１７のパルス電圧入力端子部
６２へのパルス電圧を投入する外部機器６４が必要ない
ことになる。次に周辺機器１１とデバッグ用ユニット間
の通信方法において、周辺機器１１にてデジタル変換さ
れた値を実際のデバッグ用ユニット１のバッファメモリ
１５のＣＨ１〜ＣＨ８デジタル出力値エリア４８に書き
込む場合においての通信手順を記す。周辺機器１１とデ
バッグ用ユニット１との通信は決められた形の伝文を送
受信することにより行う、手順としては周辺機器１１か
ら要求コマンド（自身が得たい情報の要求指示）をデバ
ッグ用ユニット１に送信し、結果がデバッグ用ユニット
１から周辺機器１１に返される（図１２）。以下にバッ
ファメモリ１５の書込時の通信方法の例を挙げる。

【００１５】図１３の周辺機器送信データ２４は書込時
に周辺機器１１から送信する要求コマンドであり、周辺
機器送信データ２６は周辺機器１１がデバッグ用ユニッ
ト１に対して書込をするという要求を設定する場所であ
り、ここでは１を設定しておくことにより、デバッグ用
ユニット１は周辺機器１１から書込要求が送られてきた
と判断でき、その後デバッグ用ユニット１はデバッグ用
ユニット１の内部でバッファメモリ１５に対しての書込
要求であると認識を変化させる。周辺機器送信データ２
７はバッファメモリ１５の書き込む場所を設定する所
で、ここで３と設定するとバッファメモリ１５の先頭か
ら３番目の位置から周辺機器１１から送られてきたデー
タを書込む事を指す。周辺機器送信データ２８はバッフ
ァメモリ１５に対して周辺機器送信データ２７で指定し
たエリアから何個データを書き込むかを指定したもの
で、ここで２と設定するとバッファメモリ１５の先頭か
ら３番目から２個分（バッファメモリ１５の３番目から
４番目の位置まで）のデータを書き込むことを指してい
る。周辺機器送信データ２９はバッファメモリの３番目
から４番目までに書き込むデータ（実際に書込む値（擬
似デジタル変換値）→例えば１００と２００）を設定す
る。このデータは周辺機器データ２６で指定した数だけ
必要である。以上の内容を含んだ周辺機器１１からの周
辺機器送信データ２４を周辺機器１１からデバッグ用ユ
ニット１に送信するとデバッグ用ユニット１でバッファ
メモリ１５に周辺機器送信データ２９に書かれている値
（例えば１００と２００）をデバッグ用ユニット１のバ
ッファメモリ１５に書込む。その後、デバッグ用ユニッ
ト１は周辺機器１１に対して、図１３のデバッグ用ユニ
ット送信データ２５を用いて完了フラグ３０（書込み完
了の合図→１）を送信し、周辺機器１１とデバッグ用ユ
ニット１間の通信は完了する。上記の手順はユニット
（例えば高速カウンタユニット）でも同様である

【００１６】以上の説明から、デバッグ用ユニット１の
バッファメモリ１５にデバッグしたいユニットのバッフ
ァメモリ割り付けがそのまま反映され、尚且つ、周辺機
器１１上で動作するＳ／Ｗからデバッグ用ユニット１の
バッファメモリ１５に読出／書込できることが可能であ
れば、ＰＣ６からするとデバッグ用ユニット１が、あた
かもデバッグしたユニット（Ａ／Ｄ変換ユニット、高速
カウンタユニット等）に代用できることになり、ＰＣ６
内部のシーケンスプログラムのデバッグは、デバッグし
たいユニットが無くても、又、ユニットに投入する外部
機器等が無くても本発明のデバッグ用ユニット１さえあ
れば可能となる。

【００１７】

【発明の効果】本発明は、デバッグしようとするユニッ
トがデバッグ時にない場合でも、本発明のデバッグ装置
があればデバッグしようとするユニットの代わりをする
ことができる。また、本発明のユニットデバッグ装置
は、例えばＡ／Ｄ変換ユニットのデバッグを行う場合に
おいて、周辺機器側のＳ／Ｗから実入力相当のデータを
デバッグ装置にセットすると、デバッグ装置は、あたか
も外部機器から実入力をＡ／Ｄ変換ユニットに投入し、
Ａ／Ｄ変換ユニットがデジタル変換したかのような値を
出力することが可能なため、従来、必要だった外部機器
無しでユニット単体でのデバッグ作業が行える。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明のユニットデバッグ装置のデバッグ用
ユニットの概観図である。

【図２】 本発明のユニットデバッグ装置を含むＰＣシ
ステムの構成図である。

【図３】 本発明のユニットデバッグ装置のデバッグ用
ユニットと周辺機器を接続した機能ブロック図である。

【図４】 本発明のユニットデバッグ装置のデバッグ用
ユニットの処理フロー図である。

【図５】 本発明のバッファメモリの割り付けを示す図
である。

【図６】 本発明のユニットデバッグ装置の周辺機器上
で動作するソフトウェアでＡ／Ｄ変換ユニット選択時の
画面構成図である。

【図７】 Ｓ／Ｗの内部処理の一例であるＡ／Ｄ変換ユ
ニットでの流れを示す図である。

【図８】 ユニットの一例であるＡ／Ｄ変換ユニットの
バッファメモリの使用チャンネル指定エリアの詳細割り
付けを示す図である。

【図９】 ユニットの一例であるＡ／Ｄ変換ユニットの
バッファメモリの平均処理指定エリアの詳細割り付けを
示す図である。

【図１０】 電圧、電流のアナログ値をデジタル値に変
換するための入出力変換特性グラフである。

【図１１】 本発明のユニットデバッグ装置の周辺機器
上で動作するソフトウェアで高速カウンタユニット選択
時の画面構成図である。

【図１２】 本発明のユニットデバッグ装置のデバッグ
用ユニットと周辺機器を接続した時の簡単な伝文の流れ
を示す図である。

【図１３】 本発明のユニットデバッグ装置と周辺機器
で送信されるデータの例を示す図である。

【図１４】 ユニットの一例であるＡ／Ｄ変換ユニット
を含むＰＣシステムの構成図である。

【図１５】 ユニットの一例であるＡ／Ｄ変換ユニット
の機能ブロック図である。

【図１６】 ユニットの一例である高速カウンタユニッ
トの機能ブロック図である。

【図１７】 ユニットの一例であるＡ／Ｄ変換ユニット
のバッファメモリの割り付けを示す図である。

【図１８】 ユニットの一例である高速カウンタユニッ
トのバッファメモリの割り付けを示す図である。

【符号の説明】

１ デバッグ用ユニット、２ 表示器、３ 周辺機器用
インタフェース、４外部スイッチ、５ 電源ユニット、
６ ＰＣ、７ 入力ユニット、８ 出力ユニット、９
ベース、１０ ケーブル、１１ 周辺機器、１２ デバ
ッグ用ユニットの制御回路、１３ バッファメモリ書込
命令、１４ バッファメモリ読出命令、１５ バッファ
メモリ、１６ ＰＣ用インタフェース、２４ 周辺機器
からデバッグ用ユニットに送信するデータ、２５ デバ
ッグ用ユニットから周辺機器に送信するデータ、２６
書込要求コード、２７ バッファメモリのエリア指定、
２８ 書込むデータサイズ、２９ 書込むデータ、３０
完了フラグ、３６ アナログ入力値種類の選定処理、
３７ 入出力特性設定（電圧）時のオフセット値／ゲイ
ン値設定処理、３８ 入出力特性設定（電流）時のオフ
セット値／ゲイン値設定処理、３９ アナログ入力が電
圧時のチャンネル選択処理、４０ アナログ入力が電流
時のチャンネル選択処理、４１ 選択されたチャンネル
に加える電圧設定処理、４２ 選択されたチャンネルに
加える電流設定処理、４３ アナログ入力が電圧時のデ
ジタル変換処理、４４ アナログ入力が電流時のデジタ
ル変換処理、４９ デバッグ用ユニットの可変バッファ
メモリ割り付けエリア、５１使用チャンネル／平均処理
指定画面、５２ Ａ／Ｄ変換ユニットの使用チャンネル
設定箇所、５３ Ａ／Ｄ変換ユニットの平均処理するチ
ャンネル指定箇所、５４ Ａ／Ｄ変換ユニットの時間／
回数の指定箇所、５５ 使用チャンネル及び、平均処理
指定の設定処理、５６ ユニット種類選択処理、５７
ユニット種別選択画面、５８ パルス入力モード選択画
面、５９ カウンタ機能選択画面、６０ その他の設定
画面、６１ ＣＨリミットスイッチ出力データ設定画
面。

フロントページの続き (72)発明者 村瀬 伸幸 名古屋市北区東大曽根町上五丁目1071番地 三菱電機メカトロニクスソフトウエア株 式会社内 (72)発明者 五藤 良昭 名古屋市北区東大曽根町上五丁目1071番地 三菱電機メカトロニクスソフトウエア株 式会社内 (72)発明者 田中 芳実 名古屋市北区東大曽根町上五丁目1071番地 三菱電機メカトロニクスソフトウエア株 式会社内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プログラマブルコントローラが有しない
   機能を補うためのユニットを使用し、上記プログラマブ
   ルコントローラ内部にあるシーケンスプログラムをデバ
   ッグする場合に、上記ユニットの擬似的なデータをセッ
   トしたソフトウェアを周辺機器から動作させることによ
   り、上記ユニットを使用したプログラマブルコントロー
   ラ内部にあるシーケンスプログラムのデバッグを行なう
   ことを特徴とするユニットデバッグ装置。