JPH09214315A - 出力バッファ、半導体集積回路、及び出力バッファの駆動能力調整方法 - Google Patents

出力バッファ、半導体集積回路、及び出力バッファの駆動能力調整方法

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JPH09214315A
JPH09214315A JP8022807A JP2280796A JPH09214315A JP H09214315 A JPH09214315 A JP H09214315A JP 8022807 A JP8022807 A JP 8022807A JP 2280796 A JP2280796 A JP 2280796A JP H09214315 A JPH09214315 A JP H09214315A
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signal
circuit
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semiconductor integrated
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Takaaki Aoki
孝哲 青木
Takashi Mihashi
隆 三橋
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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    • H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • H03K19/018585—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only programmable

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  • Mathematical Physics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 実装時に、パッケージ外部の回路の負荷容量
に応じて出力バッファの駆動能力を適切な値に調整でき
る半導体集積回路を提供する。 【解決手段】 所定の回路動作を行う内部回路と、該内
部回路の出力が印加される入力ノードと信号出力パッド
との間に並列接続された複数個のトランジスタを有し該
内部回路の出力に基づいて前記信号出力パッドに接続さ
れる外部回路を駆動する出力バッファとを備えた半導体
集積回路において、前記出力バッファに、前記各トラン
ジスタの信号入力を個別にスイッチングする複数個のス
イッチ手段を設け、前記外部回路の負荷容量を参照し
て、前記各スイッチ手段のスイッチング状態を設定す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、信号出力パッドに
接続される外部回路を駆動する出力バッファ、この出力
バッファを搭載した半導体集積回路、及び前記出力バッ
ファの駆動能力を調整する出力バッファの駆動能力調整
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の分野の技術としては例え
ば図9に示すようなものがあった。
【0003】図9は、従来の半導体集積回路の一構成例
を示す回路図である。
【0004】この半導体集積回路100の内部回路10
1から出力される信号S11は、出力バッファ102を
通して出力パッド103に接続されるパッケージ外部の
回路へ供給される。
【0005】前記出力バッファ102は、内部回路10
1からの信号S11を反転増幅するインバータ110を
有し、さらにその出力側のノードN11と、出力信号S
12が出力される前記信号出力パッド103に接続され
たノードN12との間には、複数のインバータ111,
112,113が並列接続されている。
【0006】このような構成の出力バッファ102を使
用して、信号出力パッド103に接続される外部回路を
駆動する場合について、図10(a),(b)を用いて
説明する。
【0007】図10(a),(b)は、出力バッファの
駆動能力の違いによる信号波形の相違を示すグラフであ
り、同図(a)は、負荷容量Caを持つ外部回路を駆動
した場合の信号波形を示し、同図(b)に同一の出力バ
ッファで負荷容量Cbの外部回路を駆動した場合を示す
ものである。なお、各負荷容量の大きさはCa<Cbな
る関係を持ち、図中Vthは出力バッファ102内イン
バータのスレッシュホールドレベルである。
【0008】図10(a),(b)から分かるように、
負荷容量の違いにより信号の立ち上がり時間が異なり、
最適な立ち上がり時間の信号tを得るためには、適切な
負荷駆動能力をもつ出力バッファを使用する必要があ
る。しかしながら一般的に、半導体集積回路はその製造
時において如何なる負荷容量をもつ回路と接続されるか
は不明である。そのため製造時には、ある負荷容量を仮
定し、それを適切な立ち上がり時間tで駆動できる能力
を持つ出力バッファを使用している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記半
導体集積回路の出力バッファでは、次のような問題点が
あった。
【0010】すなわち、上述したように、信号出力パッ
ド103に接続される外部回路の負荷容量を、ある値に
仮定して駆動能力を設定するため、当該出力バッファを
備えた半導体集積回路をプリント基板等に実装するに際
し、製造時に仮定した負荷容量より小さい負荷容量を持
つ回路と接続される場合も有り得る。出力バッファ10
2で消費する電力はその駆動能力に比例して増大するた
め、必要以上に高い駆動能力を持つ出力バッファは不必
要な電力消費をもたらすことになる。
【0011】本発明は、上述の如き従来の問題点を解決
するためになされたもので、その目的は、外部回路の負
荷容量に応じて駆動能力を適切な値に調整できる出力バ
ッファを提供することである。またその他の目的は、実
装時にパッケージ外部の回路の負荷容量に応じて出力バ
ッファの駆動能力を適切な値に調整できる半導体集積回
路を提供することである。さらにその他の目的は、半導
体集積回路の実動作前に、パッケージ外部の回路の負荷
容量に応じて出力バッファの駆動能力を適切な値に調整
できる出力バッファの駆動能力調整方法を提供すること
である。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第1の発明の出力バッファの特徴は、入力信号が印
加される入力ノードと信号出力パッドとの間に並列接続
された複数個のトランジスタを有する出力バッファにお
いて、前記各トランジスタの信号入力を個別にスイッチ
ングする複数個のスイッチ手段を設け、前記信号出力パ
ッドに接続される外部回路の負荷容量を参照して、前記
各スイッチ手段のスイッチング状態を設定することにあ
る。
【0013】この第1の発明によれば、並列接続された
トランジスタの並列接続数が外部回路の負荷容量に応じ
て適切に設定され、外部回路に対する駆動能力は、その
負荷容量に応じて適切な値に調整されることになる。
【0014】第2の発明の半導体集積回路の特徴は、所
定の回路動作を行う内部回路と、該内部回路の出力が印
加される入力ノードと信号出力パッドとの間に並列接続
された複数個のトランジスタを有し該内部回路の出力に
基づいて前記信号出力パッドに接続される外部回路を駆
動する出力バッファとを備えた半導体集積回路におい
て、前記出力バッファに、前記各トランジスタの信号入
力を個別にスイッチングする複数個のスイッチ手段を設
け、前記外部回路の負荷容量を参照して、前記各スイッ
チ手段のスイッチング状態を設定することにある。
【0015】この第2の発明によれば、出力バッファに
おいて並列接続されたトランジスタの並列接続数が外部
回路の負荷容量に応じて適切に設定され、外部回路に対
する出力バッファの駆動能力は、外部回路の負荷容量に
応じて適切な値に調整されることになる。
【0016】第3の発明の半導体集積回路の特徴は、所
定の回路動作を行う内部回路と、該内部回路の出力が印
加される入力ノードと信号出力パッドとの間に並列接続
された複数個のトランジスタを有し該内部回路の出力に
基づいて前記信号出力パッドに接続される外部回路を駆
動する出力バッファとを備えた半導体集積回路におい
て、複数の駆動能力調整用信号によってそれぞれオン/
オフ制御され、前記各トランジスタの信号入力を個別に
スイッチングする複数個のスイッチ手段を前記出力バッ
ファに設けると共に、駆動能力調整モード時に、前記内
部回路の出力の代りにテスト信号を前記出力バッファへ
入力するテスト信号入力回路と、駆動能力調整モード時
に、外部回路が接続された前記信号出力パッドの信号を
取り込み、該信号が所定の立上がり時間になるように前
記複数の駆動能力調整用信号を確定する駆動能力自動調
整回路とを設けたことにある。
【0017】この第3の発明によれば、外部回路に対す
る出力バッファの駆動能力が負荷容量に応じて適切な値
になるように、出力バッファにおける並列接続されたト
ランジスタの並列接続数を自動的に設定する。
【0018】第4の発明の半導体集積回路の特徴は、上
記第3の発明において、前記駆動能力自動調整回路は、
カウントアップ信号の入力によりカウントアップ動作を
行って前記複数の駆動能力調整用信号を出力し、イネー
ブル信号の入力を受けて前記カウントアップ動作を停止
するバイナリィカウンタと、前記駆動能力調整モード時
に、外部回路が接続された前記信号出力パッドの信号を
前記テスト信号より所定時間遅れて取り込み、前記バイ
ナリィカウンタへ前記イネーブル信号を出力するフリッ
プフロップとを備えたことにある。
【0019】この第4の発明によれば、外部回路の負荷
容量に応じて正確に複数の駆動能力調整用信号を確定す
る。
【0020】第5の発明の半導体集積回路の特徴は、所
定の回路動作を行う内部回路と、該内部回路の出力が印
加される入力ノードと信号出力パッドとの間に並列接続
された複数個のトランジスタを有し該内部回路の出力に
基づいて前記信号出力パッドに接続される外部回路を駆
動する出力バッファとをパッケージ内部に搭載した半導
体集積回路において、前記各トランジスタの信号入力を
個別にスイッチングする複数個のスイッチ手段を前記出
力バッファに設けると共に、前記外部回路の負荷容量を
参照して前記各スイッチ手段のスイッチング状態を設定
するためのデータを前記パッケージ外部からプログラム
して記憶するデータ記憶手段を前記パッケージ内部に設
けたことにある。
【0021】この第5の発明によれば、実装時に、出力
バッファが駆動する負荷容量を参照してパッケージ外部
からデータ記憶手段をブログラムし、これによって出力
バッファの駆動能力を調整する。
【0022】第6の発明である出力バッファの駆動能力
調整方法の特徴は、半導体集積回路の内部回路の出力が
印加される入力ノードと信号出力パッドとの間に並列接
続された複数個のトランジスタを有し該内部回路の出力
に基づいて前記信号出力パッドに接続される外部回路を
駆動する出力バッファを用意し、複数の駆動能力調整用
信号によってそれぞれオン/オフ制御され、前記各トラ
ンジスタの信号入力を個別にスイッチングする複数個の
スイッチ手段を前記出力バッファに設けておき、駆動能
力調整モード時に、前記内部回路の出力の代りにテスト
信号を前記出力バッファへ入力し、外部回路が接続され
た前記信号出力パッドの信号を取り込み、該信号が所定
の立上がり時間になるように前記複数の駆動能力調整用
信号を確定した後、前記出力バッファへ前記内部回路の
出力を入力する実動作モードへ移行することにある。
【0023】この第6の発明によれば、駆動能力調整モ
ード後の実動作モードにおいて、出力バッファは、外部
回路の負荷容量に応じた適切な駆動能力で外部回路を駆
動する。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係
る半導体集積回路の構成を示すブロック図である。
【0025】本実施形態の半導体集積回路は、所定の回
路動作を行う内部回路1を有し、この内部回路1の出力
側が、出力バッファ2を介して、当該半導体集積回路の
周辺に設けられた信号出力パッド3に接続されている。
そして、出力バッファ2は、その入力端子を介して内部
回路1からの信号S1を入力し、外部回路(図示省略)
駆動するための出力信号S2を信号出力パッド3より出
力する。さらに、出力バッファ2は、駆動能力調整用の
端子群2a,2b,2cを有し、この端子群2a,2
b,2cにそれぞれ印加される電圧(信号D1,D2,
D3)により駆動能力を調整する機能を有する。
【0026】図2は、図1中の出力バッファ2の構成を
示す回路図である。
【0027】この出力バッファ2は、内部回路1からの
信号S1を反転増幅するインバータ10を有し、さらに
その出力側のノードN1と、出力信号S2が出力される
前記信号出力パッド3に接続されたノードN2との間に
は、例えば3個のインバータ11,12,13が並列接
続されている。加えて、この各インバータ11,12,
13の入力側と前記ノードN1との間には、パストラン
ジスタ21,22,23が接続されている。
【0028】パストランジスタ21,22,23は、そ
の各ゲートに接続された前記端子群2a,2b,2cに
それぞれ供給される信号D1,D2,D3によりオン/
オフ動作し、インバータ11,12,13の各入力側と
前記ノードN1と経路をスイッチングする働きをする。
これによって、信号D1,D2,D3により出力バッフ
ァ2におけるインバータ11〜13の並列接続数が変化
するようになっている。
【0029】なお、前記インバータ10は、電源VDD
と接地VSSとの間に直列接続されたPチャネルMOS
トランジスタ(以下、単にP−MOSという)10aと
NチャネルMOSトランジスタ(以下、単にN−MOS
という)10bからなるCMOSインバータであり、同
様に前記インバータ11,12,13は、それぞれP−
MOS11a,12a,13aとN−MOS11b,1
2b,13bとからなるCMOSインバータで構成され
ている。
【0030】そして、インバータ10におけるP−MO
S10aとN−MOS10bの各ゲートには、前記内部
回路1からの信号S1が供給され、各ドレインが出力ノ
ードとなってノードN1に共通接続されている。また、
インバータ11におけるP−MOS11aとN−MOS
11bの各ゲートがパストランジスタ21を介してノー
ドN1に共通接続されている。同様にインバータ12に
おけるP−MOS12aとN−MOS12bの各ゲート
がパストランジスタ22を介してノードN1に共通接続
され、インバータ13におけるP−MOS13aとN−
MOS13bの各ゲートがパストランジスタ23を介し
てノードN1に共通接続され、さらにこれらインバータ
11,12,13を構成する前記トランジスタの各ドレ
インがノードN2に共通接続されている。
【0031】以上のように構成される半導体集積回路に
おいて特徴的な動作は、端子群2a,2b,2cに加え
る信号D1〜D3の電圧により、出力バッファ2のイン
バータ11〜13の並列接続数を変化させる点にある。
この点について、図3を参照しつつ具体的に説明する。
なお、図3は、本実施形態における出力バッファ2の駆
動能力の調整動作を説明するための図である。
【0032】ここで、図3では、パストランジスタ21
が内部回路1からの信号S1を通過させるのに必要な信
号D1の電圧を“1”と記述し、通過させない信号D1
の電圧(通常0ボルト)を“0”と記述する。同様に、
パストランジスタ22,23が内部回路1からの信号S
1を通過させるのに必要な制御信号D2,D3の電圧を
“1”と記述し、通過させない制御信号D2,D3の電
圧をそれぞれ“0”と記述する。
【0033】図3に示すように、例えば、端子群2a,
2b,2cにそれぞれ“1”,“1”,“1”の電圧を
加えると、全てのインバータ11,12,13が実質的
に並列接続される。このとき、ノードN1が“1”レベ
ル(信号S1は“0”レベル)であれば、各インバータ
11,12,13においてはそれぞれN−MOS11
b,12b,13bのみがオン状態となり、逆に、ノー
ドN1が“0”レベル(信号S1は“1”レベル)であ
れば、各インバータ11,12,13においてそれぞれ
P−MOS11a,12a,13aのみがオン状態とな
る。
【0034】同様に、端子群2a,2b,2cにそれぞ
れ“0”,“1”,“1”の電圧を加えるとインバータ
12,13が並列接続され、“1”,“0”,“1”の
電圧を加えるとインバータ11,13が並列接続され、
“0”,“0”,“1”の電圧を加えるとインバータ1
3のみが接続される。さらに、端子群2a,2b,2c
にそれぞれ“1”,“1”,“0”の電圧を加えるとイ
ンバータ11,12が並列接続され、“0”,“1”,
“0”の電圧を加えるとインバータ12のみが接続さ
れ、“1”,“0”,“0”の電圧を加えるとインバー
タ11のみが接続される。
【0035】ここで、図2に示すインバータ11,1
2,13のトランジスタのチャネル幅を、1:2:4と
した場合は、図3に示すような、端子群2a,2b,2
cに供給する信号D1〜D3の電圧の組み合わせによ
り、仮想的に1:2:3:4:5:6:7のチャネル長
をつまり駆動能力を変化させることが可能となる。すな
わち、3個のインバータによるチャネル長の合計は、D
1,D2,D3=“1”,“1”,“1”では7で最大
となり、D1,D2,D3=“0”,“1”,“1”で
は6となり、D1,D2,D3=“1”,“0”,
“1”では5となり、D1,D2,D3=“0”,
“0”,“1”では4となり、D1,D2,D3=
“1”,“1”,“0”では3となり、D1,D2,D
3=“0”,“1”,“0”では2となり、D1,D
2,D3=“1”,“0”,“0”では、チャネル長が
1で最小となる。
【0036】一般に、2n,n=1,2,3…mの比率
を有するm個のトランジスタを用意することで、出力バ
ッファ2の駆動能力を2m−1種類に変化させることが
可能となる。
【0037】上述した如く複数のトランジスタ(インバ
ータ11〜13)を並列接続すると、トランジスタのチ
ャネル長を増加させることと等価であるため、並列接続
数に比例して出力バッファ2の駆動能力を高めることが
できる。さらに、出力バッファ2で消費する電力はトラ
ンジスタのチャネル長に比例して増加するため、並列接
続数を調整し必要最低限の駆動能力を実現することで、
不必要な電力の消費を抑えることができる。
【0038】上記駆動能力調整機能を持つ出力バッファ
2を搭載したICパッケージの例を図4に示す。
【0039】同図に示すように、前記内部回路1と前記
出力バッファ2を備えた半導体集積回路はパッケージ3
1内に収納され、該パッケージ31の側面からは、信号
出力用パッド3と、出力バッファ2の駆動能力調整用の
端子群2a〜2cとが引き出されている。
【0040】実装時に、パッド3に接続される負荷容量
に応じて端子群2a〜2cに信号D1〜D3を加えるこ
とで、出力バッファ2の駆動能力を適切なものに調整す
る。
【0041】図5は、本発明の第2実施形態に係る半導
体集積回路の構成を示す回路図であり、上記図2と共通
の要素には同一の符号が付されている。
【0042】本実施形態の半導体集積回路は、上記第1
実施形態において、出力バッファ2の駆動能力を自動調
整する機能を設けたものである。
【0043】図5により具体的に説明すると、内部回路
1の出力側とインバータ10の入力側との間には、前記
P−MOSからなるパストランジスタ41が接続され、
さらにインバータ10の入力側にはN−MOSからなる
パストランジスタ42が接続されている。ここで、パス
トランジスタ41及び42は、駆動能力調整モード信号
MOによりオン/オフ制御され、そのうちのパストラン
ジスタ41は内部回路1からの信号S1をスイッチング
し、パストランジスタ42はテスト信号TSをスイッチ
ングする。
【0044】一方、信号出力用パッド3が接続されたノ
ードN2は、N−MOSからなるパストランジスタ43
を介して、エッジトリガーのフリップフロップ44のデ
ータ入力端子Dに接続されている。フリップフロップ4
4のデータ出力端子Qからはイネーブル信号S3が出力
され、3ビットのバイナリィカウンタ45のイネーブル
端子ENに供給される。そのバイナリィカウンタ45の
出力端子Q1,Q2,Q3からはそれぞれ前記信号D
1,D2,D3が出力されるようになっている。以下、
前記フリップフロップ44と前記バイナリィカウンタ4
5からなる回路を駆動能力自動調整回路50とする。
【0045】なお、パストランジスタ43は、前記駆動
能力調整モード信号MOによりオン/オフ制御され、フ
リップフロップ44は、信号φ1に同期して、前記パス
トランジスタ43を介して送られてきた信号S2を取り
込むと共に、バイナリィカウンタ45へイネーブル信号
S3を出力する。また、バイナリィカウンタ45は、こ
のイネーブル信号S3が入力されている期間中、信号φ
2のパルスが供給されてもカウントアップ動作を行わな
いようにして、前記信号D1〜D3を生成出力する。
【0046】また、出力バッファ2におけるインバータ
11,12,13のトランジスタは、1:2:4の比率
のチャネル幅を有しているものとする。
【0047】以上のように構成される半導体集積回路
は、信号出力パッド3に外部回路を接続した状態で、駆
動能力調整モード信号MOとして電圧“1”レベルをパ
ストランジスタ41,42,43のゲートに加え、当該
半導体集積回路を出力バッファ2の駆動能力調整モード
にする。このように、駆動能力調整モード信号MOを加
えることで、出力バッファ2を内部回路1からの信号S
1から切り放し、且つ駆動能力自動調整回路50へ信号
S2を供給する。
【0048】こうして、パストランジスタ42を介して
出力バッファ2へテスト信号TSを入力すると、駆動能
力自動調整回路50は、出力バッファ2からの信号2が
適切な立ち上がり時間tになるように、前記パストラン
ジスタ21〜23の前記端子群2a〜2cに加える信号
D1〜D3の電圧を調整する。
【0049】以下、図6に示すタイムチャートを用い
て、本実施形態の動作を詳細に説明する。
【0050】先ず、バイナリカウンタ45に信号φ2を
加え、該バイナリカウンタ45をカウントアッブする。
図6に示す例では、このバイナリカウンタ45のカウン
トアップにより、バイナリカウンタ45から端子群2
a,2b,2cに対し、それぞれ信号D1,D2,D3
=“1”,“0”,“1”が出力され(時刻T1)、パ
ストランジスタ21と23が通過状態となる。その結
果、インバータ11と13が並列動作を行う。
【0051】次に、テスト信号TSを加える(時刻T
2)。このテスト信号TSによりインバータ11と13
が外部回路の負荷容量のチャージアップを始め、出力信
号S2の電圧が徐々に増加する。テスト信号TSに続い
て、該テスト信号TSよりも時間tbだけ遅れて信号φ
1をフリップフロップ44に加える(時刻T3)。ここ
で、時間tbは出力信号S2の適切な立ち上がり時間に
フィリッブフロップ44のセットアップ時間を加えた時
間である。
【0052】もし、出力信号S2の電圧が前記インバー
タ11,13のスレッシュホールド電圧Vthまで上昇
しているならば、フィリップフロップ44は、信号φ1
の立上がりエッジで出力信号S2を入力し、イネーブル
信号S3をバイナリカウンタ45に対し出力する(時刻
T4)。イネーブル信号S3が加えられたバイナリカウ
ンタ45は、信号φ2が加えられてもカウントアップを
行わない。その結果、信号D1,D2,D3の電圧が例
えば“1”,“0”,“1”のレベルで確定する。
【0053】以上の動作により、出力バッファ2におけ
る駆動能力調整用の端子群2a,2b,2cに加える信
号D1〜D3の電圧を自動的に調整することが可能とな
る。
【0054】図7は、本発明の第3実施形態に係る半導
体集積回路の構成を示すブロック図であり、上記図1と
共通の要素には同一の符号が付されている。
【0055】本実施形態は、パッケージ外部からプログ
ラム可能な例えばPLA(Programmable
Logic Array)を搭載し、駆動能力調整用の
端子群2a,2b,2cをパッケージ31内部に内蔵し
た例である。
【0056】パッケージ31内部には、前記内部回路1
及び出力バッファ2の他に、PLA60が設けられてい
る。PLA60は、例えば図8に示すように、プルアッ
プ抵抗61に接続されるライン62及びプルダウン抵抗
63に接続されるライン64と、端子群2a,2b,2
cにそれぞれ接続されるライン65a,65b,65c
とがマトリックス状に配列され、その各交点箇所にはダ
イオード66がそれぞれ接続されて構成されている。そ
して、このPLA60は、入力端子60−1〜60−n
への入力状態の任意の組み合わせに対して、所定の出力
をプログラムすることができるものである。
【0057】本実施形態では、パッケージ31の実装時
に出力バッファ2が駆動する負荷容量に応じてパッケー
ジ31の外部からPLA60をブログラムし、出力バッ
ファ2の駆動能力を調整する。このように構成しても、
上記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
【0058】なお、上記第1、第2及び第3実施形態で
は、トランジスタ(インバータ)の並列接続数として3
段構成の例を説明したが、3段以外でも適用可能である
ことはいうまでもない。
【0059】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
の出力バッファによれば、各トランジスタの信号入力を
個別にスイッチングする複数個のスイッチ手段を設け、
信号出力パッドに接続される外部回路の負荷容量を参照
して、前記各スイッチ手段のスイッチング状態を設定す
るようにしたので、例えば実装時に外部回路に対する駆
動能力をその負荷容量に応じて適切な値に調整すること
ができ、消費する電力を抑えることが可能となる。
【0060】第2の発明の半導体集積回路によれば、出
力バッファに、各トランジスタの信号入力を個別にスイ
ッチングする複数個のスイッチ手段を設け、外部回路の
負荷容量を参照して、前記各スイッチ手段のスイッチン
グ状態を設定するようにしたので、例えば実装時に外部
回路に対する出力バッファの駆動能力をその負荷容量に
応じて適切な値に調整することができ、半導体集積回路
の低消費電力化を可能とする。
【0061】第3の発明の半導体集積回路によれば、複
数の駆動能力調整用信号によってそれぞれオン/オフ制
御され、各トランジスタの信号入力を個別にスイッチン
グする複数個のスイッチ手段を出力バッファに設けると
共に、駆動能力調整モード時に、内部回路の出力の代り
にテスト信号を前記出力バッファへ入力するテスト信号
入力回路と、駆動能力調整モード時に、外部回路が接続
された前記信号出力パッドの信号を取り込み、該信号が
所定の立上がり時間になるように前記複数の駆動能力調
整用信号を確定する駆動能力自動調整回路とを設けたの
で、外部回路に対する出力バッファの駆動能力を負荷容
量に応じて自動的に適切な値に設定することができ、半
導体集積回路の低消費電力化を可能とする。
【0062】第4の発明の半導体集積回路によれば、上
記第3の発明において、前記駆動能力自動調整回路は、
カウントアップ信号の入力によりカウントアップ動作を
行って前記複数の駆動能力調整用信号を出力し、イネー
ブル信号の入力を受けて前記カウントアップ動作を停止
するバイナリィカウンタと、前記駆動能力調整モード時
に、外部回路が接続された前記信号出力パッドの信号を
前記テスト信号より所定時間遅れて取り込み、前記バイ
ナリィカウンタへ前記イネーブル信号を出力するフリッ
プフロップとを備えたので、外部回路の負荷容量に応じ
て正確に複数の駆動能力調整用信号を確定することがで
き、出力バッファの駆動能力を外部回路の負荷容量に応
じてより適切な値に設定することが可能となる。さら
に、駆動能力自動調整回路を簡単な構成で実現すること
ができる。
【0063】第5の発明の半導体集積回路によれば、各
トランジスタの信号入力を個別にスイッチングする複数
個のスイッチ手段を出力バッファに設けると共に、外部
回路の負荷容量を参照して前記各スイッチ手段のスイッ
チング状態を設定するためのデータをパッケージ外部か
らプログラムして記憶するデータ記憶手段をパッケージ
内部に設けたので、例えば実装時に、出力バッファが駆
動する負荷容量に応じてパッケージ外部からデータ記憶
手段をブログラムし、これによって出力バッファの駆動
能力を調整することができ、低消費電力化を可能とす
る。
【0064】第6の発明である出力バッファの駆動能力
調整方法によれば、半導体集積回路の内部回路の出力が
印加される入力ノードと信号出力パッドとの間に並列接
続された複数個のトランジスタを有し該内部回路の出力
に基づいて前記信号出力パッドに接続される外部回路を
駆動する出力バッファを用意し、複数の駆動能力調整用
信号によってそれぞれオン/オフ制御され、前記各トラ
ンジスタの信号入力を個別にスイッチングする複数個の
スイッチ手段を前記出力バッファに設けておき、駆動能
力調整モード時に、前記内部回路の出力の代りにテスト
信号を前記出力バッファへ入力し、外部回路が接続され
た前記信号出力パッドの信号を取り込み、該信号が所定
の立上がり時間になるように前記複数の駆動能力調整用
信号を確定した後、前記出力バッファへ前記内部回路の
出力を入力する実動作モードへ移行するようにしたの
で、駆動能力調整モード後の実動作モードにおいて、出
力バッファは、外部回路の負荷容量に応じた適切な駆動
能力で外部回路を駆動することができ、半導体集積回路
の低消費電力化を可能とする。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係る半導体集積回路の
構成を示すブロック図である。
【図2】図1中の出力バッファ2の構成を示す回路図で
ある。
【図3】第1実施形態の出力バッファ2の駆動能力調整
動作を説明するための図である。
【図4】駆動能力調整機能を持つ出力バッファを搭載し
たICパッケージの例を示す図である。
【図5】本発明の第2実施形態に係る半導体集積回路の
構成を示す回路図である。
【図6】第2実施形態の動作を示すタイムチャートであ
る。
【図7】本発明の第3実施形態に係る半導体集積回路の
構成を示すブロック図である。
【図8】図7中のPLAの構成を示す回路図である。
【図9】従来の半導体集積回路の一構成例を示す回路図
である。
【図10】出力バッファの駆動能力の違いによる信号波
形の相違を示すグラフである。
【符号の説明】
1 内部回路 2 出力バッファ 2a,2b,2c 駆動能力調整用の端子群 11,12,13 インバータ 21,22,23 パストランジスタ 31 パッケージ 41,42,43 パストランジスタ 44 フリップフロップ 45 バイナリカウンタ 50 駆動能力自動調整回路 61 PLA D1,D2,D3 駆動能力調整用の信号 S1 内部回路1の出力信号 S2 出力バッファ2の出力信号 S3 イネーブル信号 TS テスト信号 MO 駆動能力調整モード信号

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号が印加される入力ノードと信号
    出力パッドとの間に並列接続された複数個のトランジス
    タを有する出力バッファにおいて、 前記各トランジスタの信号入力を個別にスイッチングす
    る複数個のスイッチ手段を設け、 前記信号出力パッドに接続される外部回路の負荷容量を
    参照して、前記各スイッチ手段のスイッチング状態を設
    定することを特徴とする出力バッファ。
  2. 【請求項2】 所定の回路動作を行う内部回路と、該内
    部回路の出力が印加される入力ノードと信号出力パッド
    との間に並列接続された複数個のトランジスタを有し該
    内部回路の出力に基づいて前記信号出力パッドに接続さ
    れる外部回路を駆動する出力バッファとを備えた半導体
    集積回路において、 前記出力バッファに、前記各トランジスタの信号入力を
    個別にスイッチングする複数個のスイッチ手段を設け、 前記外部回路の負荷容量を参照して、前記各スイッチ手
    段のスイッチング状態を設定することを特徴とする半導
    体集積回路。
  3. 【請求項3】 所定の回路動作を行う内部回路と、該内
    部回路の出力が印加される入力ノードと信号出力パッド
    との間に並列接続された複数個のトランジスタを有し該
    内部回路の出力に基づいて前記信号出力パッドに接続さ
    れる外部回路を駆動する出力バッファとを備えた半導体
    集積回路において、 複数の駆動能力調整用信号によってそれぞれオン/オフ
    制御され、前記各トランジスタの信号入力を個別にスイ
    ッチングする複数個のスイッチ手段を前記出力バッファ
    に設けると共に、 駆動能力調整モード時に、前記内部回路の出力の代りに
    テスト信号を前記出力バッファへ入力するテスト信号入
    力回路と、 駆動能力調整モード時に、外部回路が接続された前記信
    号出力パッドの信号を取り込み、該信号が所定の立上が
    り時間になるように前記複数の駆動能力調整用信号を確
    定する駆動能力自動調整回路とを設けたことを特徴とす
    る半導体集積回路。
  4. 【請求項4】 前記駆動能力自動調整回路は、 カウントアップ信号の入力によりカウントアップ動作を
    行って前記複数の駆動能力調整用信号を出力し、イネー
    ブル信号の入力を受けて前記カウントアップ動作を停止
    するバイナリィカウンタと、 前記駆動能力調整モード時に、外部回路が接続された前
    記信号出力パッドの信号を前記テスト信号より所定時間
    遅れて取り込み、前記バイナリィカウンタへ前記イネー
    ブル信号を出力するフリップフロップとを備えたことを
    特徴とする請求項3記載の半導体集積回路。
  5. 【請求項5】 所定の回路動作を行う内部回路と、該内
    部回路の出力が印加される入力ノードと信号出力パッド
    との間に並列接続された複数個のトランジスタを有し該
    内部回路の出力に基づいて前記信号出力パッドに接続さ
    れる外部回路を駆動する出力バッファとをパッケージ内
    部に搭載した半導体集積回路において、 前記各トランジスタの信号入力を個別にスイッチングす
    る複数個のスイッチ手段を前記出力バッファに設けると
    共に、 前記外部回路の負荷容量を参照して前記各スイッチ手段
    のスイッチング状態を設定するためのデータを前記パッ
    ケージ外部からプログラムして記憶するデータ記憶手段
    を前記パッケージ内部に設けたことを特徴とする半導体
    集積回路。
  6. 【請求項6】 半導体集積回路の内部回路の出力が印加
    される入力ノードと信号出力パッドとの間に並列接続さ
    れた複数個のトランジスタを有し該内部回路の出力に基
    づいて前記信号出力パッドに接続される外部回路を駆動
    する出力バッファを用意し、 複数の駆動能力調整用信号によってそれぞれオン/オフ
    制御され、前記各トランジスタの信号入力を個別にスイ
    ッチングする複数個のスイッチ手段を前記出力バッファ
    に設けておき、 駆動能力調整モード時に、前記内部回路の出力の代りに
    テスト信号を前記出力バッファへ入力し、 外部回路が接続された前記信号出力パッドの信号を取り
    込み、該信号が所定の立上がり時間になるように前記複
    数の駆動能力調整用信号を確定した後、 前記出力バッファへ前記内部回路の出力を入力する実動
    作モードへ移行することを特徴とする出力バッファの駆
    動能力調整方法。
JP8022807A 1996-02-08 1996-02-08 出力バッファ、半導体集積回路、及び出力バッファの駆動能力調整方法 Pending JPH09214315A (ja)

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