JPH09218220A

JPH09218220A - プローブユニット

Info

Publication number: JPH09218220A
Application number: JP8026936A
Authority: JP
Inventors: Katsuhiro Imazaki; 勝弘今▲崎▼
Original assignee: Suncall Corp
Current assignee: Suncall Corp
Priority date: 1996-02-14
Filing date: 1996-02-14
Publication date: 1997-08-19

Abstract

(57)【要約】【課題】プローブ同士のショートを防止し、取付け部
材の寿命向上を図ると共に、回路の複雑化・高密度化に
も対応可能とする。【解決手段】取付け部材（２）をアルミニウム素材で
形成し、この取付け部材（２）のうち、プローブ（３）
と接触する取付け孔（４）の内壁面にアルマイト被膜
（９）を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板等に
取付けられた電子部品の導通検査等に用いるプローブユ
ニットに関する。

【０００２】

【従来の技術】図２（ａ）（ｂ）に示すように、プロー
ブユニット（21）は、板状の取付け部材（22）に、平行
配置した複数のプローブ（23）を貫通固定したもので、
プローブ（23）の先端部に設けられた接触子（27）をプ
リント基板等の被検査体に接触させ、各プローブ（23）
の上端に取付けたリード線（図示省略）に所定電圧を印
加して被検査体の導通検査を行なうものである。接触子
（27）の上端側は、（ｂ）図に示すようにプローブ（2
3）の基体（26）の下端に設けられた収容部（25）にバ
ネ（28）を介して収納され、これにより接触子（27）は
プローブ（23）の軸方向に沿って弾性的に変位可能とさ
れている。

【０００３】このプローブユニット（21）において、各
プローブ（23）は導電性の金属材料で形成される。一
方、取付け板（22）は、プローブ同士のショートによ
り、検査不能となったり、或いは、ＩＣ等の電子部品が
破壊される等の事態を防止するため、ベークライトやプ
ラスチック材等の絶縁材料で形成されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記プロー
ブユニットによる導通検査中には、検査箇所で一定の接
触圧を得るべく、取付け部材をプリント基板側に強く押
し付けるようにしている。この場合、取付け部材には検
査の度に押圧力が負荷されるので、繰り返して検査した
場合には、繰り返し荷重により取付け部材に反りや変形
を生じ、さらには時効変化によって欠けや割れ等を生じ
るおそれがある。また、プローブは定期的に交換される
が、取付け部材にベークライト等の耐摩擦性に劣る材料
を使用している関係で、交換時にプローブを挿入・抜脱
する際に取付け部材のプローブ取付け用の孔が摩耗し易
く、そのために取付け部材の寿命も短くなる傾向にあ
る。

【０００５】このような不具合を解消するものとして、
図３に示すように、取付け部材（22）をアルミ等の金属
材料で形成し、プローブ（23）に樹脂等の絶縁性素材で
成形した円筒状のスリーブ（29）を被嵌することによ
り、プローブ（23）と取付け部材（22）との間を絶縁す
る構造も考えられるが、これでは、新たな部品（スリー
ブ）を必要とし、組立工数も増大するためにコスト高と
なる。また、隣接するプローブ間に最低限スリーブの肉
厚の二倍以上の間隔を必要とするため、近年の回路の複
雑化・高密度化に伴う測定ピッチの狭小化に対応できな
くなるおそれがある。

【０００６】そこで、本発明では、プローブ同士のショ
ートを確実に防止できると共に、取付け部材の寿命向上
を図ることができ、しかも低コストで回路の複雑化・高
密度化にも対応可能なプローブユニットを提供すること
を目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく、
本発明では、取付け部材と、取付け部材に固定された複
数のプローブとを具備するものにおいて、取付け部材及
びプローブのうち、何れか一方の部材をアルミニウム素
材で形成すると共に、このアルミニウム素材からなる部
材の少なくとも他方の部材との接触部にアルマイト被膜
を形成することとした。

【０００８】また、取付け部材と、取付け部材に固定さ
れた複数のプローブとを具備するものにおいて、取付け
部材及びプローブをアルミニウム素材で形成し、少なく
とも両者の接触部にアルマイト被膜を介在させることと
した。

【０００９】この場合、アルマイト被膜は、取付け部材
及びプローブのうちの何れか一方又は双方に形成すれば
よい。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図１
（ａ）（ｂ）に基づいて説明する。

【００１１】図１に示すように、本発明にかかるプロー
ブユニット（１）は、板状の取付け部材（２）と、これ
に貫通固定した複数のプローブ（３）とで構成される。

【００１２】取付け部材（２）はアルミニウム素材で形
成され、その所定位置にはプローブ（３）取付け用の取
付け孔（４）が貫通形成されている。

【００１３】プローブ（３）は、パイプ状の基体（６）
と、この基体（６）よりも小径で且つ先端部が円錐状に
形成された接触子（７）とで構成される。この基体
（６）及び接触子（７）は、何れも導電性材料、例えば
アルミニウム素材で形成される。基体（６）の下部に
は、その全周にわたって内径側に縮径する係止部（6a）
が設けられている。基体（６）の内部空間のうち、係止
部（6a）よりも下方の空間（５）には、接触子（７）の
基部側がバネ（８）を介して摺動自在に収容され、バネ
（８）の上端側は係止部（6a）によって係止されてい
る。これにより、検査時には、バネ（８）の弾性力によ
って接触子（７）と被検査体との間に一定の接触圧が付
与される。

【００１４】取付け部材（２）のうちのプローブ（３）
と接触する部位、すなわち取付け孔（４）の内壁面の全
面には、陽極酸化処理等の公知手段によってアルマイト
被膜（９）が形成される（図面では、被膜の厚さを誇張
して描いている）。この時のアルマイト被膜（９）の厚
さは任意であるが、１０〜２００μｍ程度とするのが望
ましい。

【００１５】このようにして取付け孔（４）にアルマイ
ト被膜（９）を形成した後、各プローブ（３）を取付け
孔（４）に挿入して適当なはめあい公差で両者を固定す
れば、図１（ａ）に示すプローブユニット（１）が構成
される。この時には、基体（６）の下端部を取付け部材
（２）の下面に一致させ、接触子（７）を取付け部材
（２）の下方に突出させておく。このプローブユニット
（１）をプリント基板に接近させ、接触子（７）を基板
の配線パターン等に接触させた後、取付け部材（２）を
基板側に押圧しつつ各プローブ（３）に所定の検査信号
を送出して導通検査を行なう。

【００１６】アルマイト被膜（９）は、周知のように優
れた絶縁性を有する。従って、上述のように、プローブ
（３）と取付け孔（４）との間にアルマイト被膜（９）
を介在させれば、プローブ（３）と取付け部材（２）と
の間が電気的に絶縁され、これによってプローブ（３）
同士が絶縁されるので、プローブ（３）のショートを防
止することが可能となる。例えば、アルマイト被膜
（９）の膜厚を１０μｍした場合の耐電圧は２００ｖ以
上であり、導通検査時における印加電圧（５０ｖ程度）
に比べて十分に大きいので、良好な絶縁性を確保するこ
とができる。また、アルマイト被膜は、既にある処理装
置により簡単且つ安価に形成可能であるから、製造コス
トが著しく高騰することもない。

【００１７】また、アルマイト被膜（９）の膜厚は、図
３に示すスリーブ（29）に比べて各段に小さい。従っ
て、スリーブを用いる場合に比べてプローブ（３）の配
置ピッチをごく小さくすることができ、回路の複雑化・
高密度化にも容易に対応可能となる。

【００１８】さらには、アルマイト被膜（９）は優れた
耐摩耗性を有するので、プローブ（３）の交換作業を繰
り返し行なっても取付け孔（４）が摩耗することはな
い。また、取付け部材（２）がベークライト等に比べれ
ば剛性の高いアルミ製とされているので、取付け部材
（２）が変形したり、欠けや割れを生じるおそれもな
い。従って、取付け部材（２）の寿命を図２に示す従来
品に比べて著しく向上させることができる。

【００１９】以上の構成では、取付け部材（２）をアル
ミニウム素材とし、取付け孔（４）の内壁面にアルマイ
ト被膜（９）を形成しているが、アルマイト被膜（９）
は少なくとも取付け部材（２）と各プローブ（３）との
接触部分に介在していれば足りる。従って、プローブ
（３）をアルミ製とし、その外周面に膜厚が２〜５０μ
ｍ程度のアルマイト被膜（９）を形成してもよい。ま
た、取付け部材（２）との接触部だけでなく、これより
も上方の外周面の全体にアルマイト被膜（９）を形成し
てもよく、これにより測定間隔を狭くし且つ全長を長く
したタイプのプローブ（３）であっても、上端部の変形
によるプローブ（３）同士のショートを確実に回避する
ことが可能となる。なお、このようにプローブ（３）を
アルミ製とした場合には、取付け部材（２）はアルミ製
とする必要はなく、一定の強度を有する他の金属材料で
形成しても構わない。

【００２０】また、取付け部材（２）とプローブ（３）
の双方をアルミ製とし、双方にアルマイト被膜（９）を
形成してもよい。

【００２１】本発明は、プローブ（３）や取付け部材
（２）の形状や構造、プローブ（３）の線経や配置位
置、配置本数等を問わず、あらゆる構造のプローブユニ
ット（１）に適用可能である。また、アルマイト被膜
（９）の形成箇所も、取付け部材（２）と各プローブ
（３）の接触部が含まれている限り任意であり、他の部
分（例えば接触子の表面等）に形成しても構わない。

【００２２】

【発明の効果】このように、本発明によれば、プローブ
と取付け部材との間の絶縁材料として、アルマイト被膜
を使用しているので、低コストで確実にプローブ同士の
ショートを防止することができる。また、絶縁素材とし
て樹脂等からなるスリーブを用いる場合に比べると、プ
ローブの配置ピッチをより小さくすることができ、回路
の複雑化・高密度化にも容易に対応可能となる。さらに
は、アルマイト被膜の耐摩耗性により、プローブの交換
作業を繰り返し行なっても取付け孔が摩耗することはな
く、また、取付け部材の素材として変形や欠け、割れ等
の生じにくい金属材料を使用することができるので、取
付け部材の寿命を従来品に比べて著しく向上させること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ）図は本発明にかかるプローブユニットの
縦断面図であり、（ｂ）図はプローブの先端部近傍の拡
大断面図である。

【図２】（ａ）図は、従来のプローブユニットの縦断面
図であり、（ｂ）図はプローブの先端部近傍の拡大断面
図である。

【図３】従来のプローブユニットの改良例を示す縦断面
図である。

【符号の説明】

１プローブユニット２取付け部材３プローブ９アルマイト被膜

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】取付け部材と、取付け部材に固定された
複数のプローブとを具備するものにおいて、取付け部材
及びプローブのうち、何れか一方の部材をアルミニウム
素材で形成すると共に、このアルミニウム素材からなる
部材の少なくとも他方の部材との接触部にアルマイト被
膜を形成したことを特徴とするプローブユニット。
【請求項２】取付け部材と、取付け部材に固定された
複数のプローブとを具備するものにおいて、取付け部材
及びプローブをアルミニウム素材で形成し、少なくとも
両者の接触部にアルマイト被膜を介在させたことを特徴
とするプローブユニット。
【請求項３】アルマイト被膜を、取付け部材及びプロ
ーブのうちの何れか一方又は双方に形成したことを特徴
とする請求項２記載のプローブユニット。