JPH09219295A - 液冷式リモートプラズマアプリケータ - Google Patents

液冷式リモートプラズマアプリケータ

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JPH09219295A
JPH09219295A JP9016833A JP1683397A JPH09219295A JP H09219295 A JPH09219295 A JP H09219295A JP 9016833 A JP9016833 A JP 9016833A JP 1683397 A JP1683397 A JP 1683397A JP H09219295 A JPH09219295 A JP H09219295A
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JP
Japan
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tube
plasma
liquid
applicator
coolant
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JP9016833A
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Herchen Harald
ハーチェン ハラルド
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 マイクロ波等のエネルギーをさほど減じず
に、アプリケータ等を効率良く冷却する。 【解決手段】 動作中に電磁放射を受容する導波路と、
導波路を貫通し導波路内の電磁マイクロ波放射により自
身の内部を流れるガスが励起されるプラズマチューブ
と、プラズマチューブの外側の周囲で且つプラズマチュ
ーブのうち導波路内部にあり電磁放射に曝露される部分
の上をスパイラル状に巻き付けられるクーラントチュー
ブ(冷却液チューブ)と、を備えている。使用中は、プ
ラズマチューブを冷却するよう、クーラントがクーラン
トチューブ内を循環する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は概説的には、リモー
トプラズマソースに関する。
【0002】
【従来の技術】プラズマベースのリモート励起ソースな
いしプラズマアプリケータは、高い入力電力を取り扱う
必要があり、また、高温と高化学反応性環境との組合わ
せの環境に耐える必要がある。例えば、プラズマアプリ
ケータの通常の用途において、ジェネレータにはNF3
ガスが流入し、これがプラズマにより分解する。その結
果、励起種が生じてこれがアプリケータ中を流動し、イ
ンシチュウチャンバクリーニング、エッチング、フォト
レジストストリッピングやその他のあらゆる処理を行う
半導体処理装置の中に進入する。インシチュウチャンバ
クリーニングに反応性種を用いる例としては、1994
年7月21日に出願の米国特許出願S.N.08/27
8605号、標題 A Deposition Chamber Cleaning Tec
hnique Using a Remote Excitation Source"(「リモー
ト励起ソースを用いた堆積チャンバのクリーニング技
術」)の特許出願に記載されている。
【0003】このように非常に苛酷な環境に装置が晒さ
れるため、プラズマアプリケータはすぐに使用不能にな
ってしまう。例えば、市販のアプリケータによっては、
クオーツチューブを用いてこのような励起種を収容して
しまうものもある。このようなシステムでは、発生する
弗素がチューブを急速にエッチングしてしまう。更に、
電力のレベルが高い場合(1ないし1.5kW以上)
は、クオーツは破壊されやすい。このように、アプリケ
ータを2〜3回用いた後、あるいはある時間操作を持続
させた後では、チューブの壁は、このシステムを支配し
ている高温及び真空に晒され続ければすぐに破壊されて
しまうほどに薄くなっている。従って、チューブは、寿
命の非常に初期の段階で、新しいチューブと取り替えな
ければならない。 クオーツチューブを定期的に交換し
なければならない不便さとコストは共に非常に高いもの
である。
【0004】現在あるプラズマアプリケータの中には、
クオーツチューブの代りにセラミックチューブを用いる
ものもある。セラミックチューブは、しばしば遭遇する
化学的腐食性環境において、クオーツチューブよりも耐
久性が高い。しかし、セラミックチューブは万能薬では
ない。これらは通常、クオーツやその他の材料と比べ
て、熱膨張係数が比較的高い。従って、このようなシス
テムに通常行われる室温と高い処理温度との間の温度サ
イクルを繰り返すことにより、セラミックチューブには
大きな応力が発生することになる。この応力により、チ
ューブにクラックが生じて破壊される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】マイクロ波プラズマア
プリケータでは、2本の同心状のセラミックチューブを
用いるものが開発されており、これらチューブ、即ち外
側チューブと内側チューブは共に、マイクロ波放射に対
して透過性を有する材料、例えばクオーツやサファイア
製である。内側チューブはプラズマを収容し、従って、
高温及び腐食性の高い環境に曝露される。内側チューブ
を冷却するため、2つのチューブの間の環状の領域の中
に水を流す。このようなシステムは、1995年2月1
3日に出願の米国特許出願第08/387603号に記
載されている。水はマイクロ波を吸収するため、この環
状の領域を形成できる厚さには、厳しい制限がある。厚
すぎれば、マイクロ波は著しく減じられ、内側チューブ
の中にプラズマを発生しこれを維持することが困難ある
いは不可能になる。他方、この領域が薄すぎれば、冷却
効率が著しく悪化する。
【0006】
【課題を解決するための手段】概説的に、1つの特徴と
して、本発明は、出力ソースに用いる液冷式プラズマア
プリケータである。このアプリケータないしジェネレー
タは、動作中に電磁放射を受容する導波路と、導波路を
貫通し導波路内の電磁マイクロ波放射により自身の内部
を流れるガスが励起されるプラズマチューブと、プラズ
マチューブの外側の周囲で且つプラズマチューブのうち
導波路内部にあり電磁放射に曝露される部分の上をスパ
イラル状に巻き付けられるクーラントチューブ(冷却液
チューブ)と、を備えている。使用中は、プラズマチュ
ーブを冷却するよう、クーラントがクーラントチューブ
内を循環する。
【0007】好ましい具体例では、以下の特徴を有して
いる。アプリケータはマイクロ波放射ソースも有し、ま
た、導波路はマイクロ波導波路である。マイクロ波放射
ソースにより、波長1〜100センチメートルの波長を
有するマイクロ波が発生する。マイクロ波の放射の波長
がλとすれば、クーラントチューブの外径はおよそλ/
100よりも低く、また、スパイラル状クーラントチュ
ーブは約λ/50よりも大きな巻き間隔を有するコイル
状である。あるいは、スパイラル状クーラントチューブ
の巻き間隔は、クーラントチューブの外径よりも大きく
てもよい(例えば、クーラントチューブの直径の2倍以
上)。また、液冷式プラズマアプリケータは、クーラン
トチューブ内を循環させようとするクーラントを受容す
るための流入コネクタと、クーラントチューブの中を通
過した後のクーラントを流出させる流出コネクタとを有
している。更に、クーラントチューブはプラズマチュー
ブの外面と接触している。
【0008】また、好ましい具体例では、プラズマチュ
ーブはセラミック製であり、例えば酸化アルミニウム製
やサファイア製などである。また、クーラントチューブ
は誘電材料製であり、例えばテフロン(ポリ四弗化エチ
レン樹脂)製である。また、液冷式プラズマアプリケー
タは、自身の内部にプラズマチューブが設置されるアプ
リケータ本体と、アプリケータ本体の流入端に設置され
る第1のアダプタ板と、アプリケータ本体の流出端に設
置される第2のアダプタ板とを有している。第1のアダ
プタ板は、ガスラインをプラズマアプリケータへとつな
げ、プラズマチューブプラズマチューブ内のガスが流入
する通路を与える第1のカップリングを有し、第2のア
ダプタ板は、プラズマアプリケータから流出する励起ガ
スの流出通路を有している。
【0009】スパイラル状冷却器の構成により、マイク
ロ波を吸収する水等のクーラントを用いる場合でも、プ
ラズマチューブ内を通過するマイクロ波エネルギーをあ
まり減じずに、プラズマチューブを充分に冷却すること
が可能となる。本発明の液冷式プラズマアプリケータ
は、半導体製造産業で用いられる化学物質のうち最も攻
撃性の高い化学物質のいくつかと共に用いることが可能
であり、これは例えば、Cl2、NF3、CF4、その他
弗素化合物が挙げられる。
【0010】本発明のその他の利点及び特徴は、好まし
い具体例の記載及び請求の範囲により明らかになるだろ
う。
【0011】
【発明の実施の形態】図1に示すように、液冷式プラズ
マアプリケータ10は、プラズマチューブ12を有して
いる。プラズマチューブ12は、チューブ内で励起しよ
うとするガスを受容するための流入端12(a)と、遠
隔にあるプロセスチャンバ(図示せず)へ励起したガス
を流すための流出端12(b)とを有している。プラズ
マチューブ12は、方形の導波路14の中を貫通する。
導波路14は、導波路14の一方の端部につながったマ
イクロ波ジェネレータ(図示せず)からのマイクロ波エ
ネルギーを受容する。プラズマチューブ12の導波路1
4の中にある部分は、導波路14へと与えられるマイク
ロ波エネルギーに曝露される。プラズマチューブ12
は、用いるマイクロ波の放射に対して実質的に透過性を
有する誘電材料製であり、動作中にプラズマチューブ1
2の中に発生するプラズマとマイクロ波の場とを最適に
結合させるように導波路14の中に配置される。例え
ば、プラズマチューブ12は、マイクロ波放射の方向を
横切る方向に通じ、導波路内部の電界がプラズマチュー
ブ内部に最大値をもつように配置される。
【0012】ここに記載される具体例では、プラズマチ
ューブ12は酸化アルミニウム製、特に単結晶のサファ
イア製である。サファイアチューブは、例えば米国ニュ
ーハンプシャー州ミルフォードの Saphikon 社などから
入手可能である。しかし、プラズマチューブ12は、プ
ラズマチューブ内のプラズマ励起ガスによって生じる高
温及び高腐食性の環境に耐え得るあらゆる材料を使用可
能である。例えば、他のセラミック材料製あってもよ
く、あるいは、クオーツ製であってもよい。
【0013】上述の如く、動作中には著しい量の熱が発
生するだろう。プラズマチューブ12を冷却するため
に、プラズマチューブの外側の周囲で且つプラズマチュ
ーブの導波路内部に配置される部分全体の上方で、スパ
イラル状に巻き付けられる、スパイラル型チューブ又は
コイル16が具備される。コイル16の巻きの間にオー
プンスペースを形成するように、コイル16の巻き同士
が分離される。コイル16の巻きが相互に分離すること
により、プラズマチューブ12の中へのマイクロ波が通
過するウィンドウが形成され、このとき、管自身又はそ
の中を通るクーラントによりマイクロ波が著しく吸収さ
れることはない。
【0014】図1に示されている、配管の相対サイズ、
巻きの数、巻き同士の間隔は、例示が容易となるように
選択したものであり、実際の具体例を代表するものでは
ない。実際の具体例では、配管のサイズ、巻きの数、巻
き同士の間隔は、適切に以下に示すガイドラインに従っ
て選択される。
【0015】ここに記載される具体例では、コイル16
はテフロン(ポリ四弗化エチレン樹脂)製であり、この
材料は、プラズマチューブ12の外側で生じる比較的高
温に対して耐性を有する材料である。無論、動作中にチ
ューブの周りに存在するだろう条件に耐え得る限り、マ
イクロ波を吸収する他の誘電材料や、更には非誘電性の
材料を用いることが可能である。
【0016】コイル16の一方の端部にはクーラント供
給ライン22に接続する流入コネクタ20が具備され、
コイル16の他方の端部には流出ライン26に接続する
流出コネクタ24が具備される。動作中は、コイル16
の中をクーラントが循環し、プラズマチューブ12から
熱を奪い去る。ここに記載される具体例では、クーラン
トはフィルターを通った水である。しかし、他のクーラ
ントを用いてもよい。水を用いる利点は、水道から容易
に入手でき、しかも再循環させる必要がない点である。
従って、水道水を用いることにより、再循環のためクー
ラントから熱を除去する熱交換器を用いる必要をなくす
ことができる。
【0017】アプリケータ12は、導波路14の上側に
取り付けられた、上側の円筒状中空の本体部30と、導
波路14の底部に取り付けられた、下側の円筒状中空の
本体部32とを有している。上側本体部30と下側本体
部32は共にメタル製(例えばAl)であり、これら本
体30、32の中を通過するプラズマチューブ12の外
径よりも僅かに大きな内径を有している。上側本体部3
0の上端にはフランジ30(a)が具備され、このフラ
ンジには、遠隔のガスソースからプラズマチューブ12
内へとガスをつなげるためのアダプタ板34がボルト留
めされている。
【0018】アプリケータ10の下流端には、同様の構
成が配置されている。即ち、下端下側本体部32にはフ
ランジ32(a)が具備され、このフランジには、プラ
ズマチューブ12からのプラズマ励起ガスを、処理シス
テム(例えばプラズマ処理システム)に接続するライン
40へとつなげるための、別のアダプタ板38がボルト
留めされている。
【0019】電磁放射は、マイクロ波の範囲にある周波
数(例えば、波長1cm〜100cm)でなされる。こ
こに記載される具体例では、マイクロ波ソースは約2.
54GHzで動作する。また、出力ソースは、これより
低いRFの範囲にある周波数で動作する。このケースで
あっても、プラズマへ放射を結合させる方法は、ここに
図示され説明されたものから修正しなければならない場
合がある。
【0020】導波路14のマイクロ波ソースが結合する
開口と反対の端部には、プランジャ44によって動かし
出し入れすることができるメタルショート42が具備さ
れる。メタルショート42は、プラズマチューブ12の
中を流れるガスの内部でプラズマを点火させるに適切な
ポジションまで移動して、そのポジションに置かれる。
このポジションは、トライアルアンドエラーにより容易
に見出すことができる。メタルショート42は、エッチ
レイトを最も高くするための最適なポジション又はその
近傍に配置されるべきであることが見出された。無論、
いわゆる当業者に知られそして用いられ得る、別の設計
及びチューニングの方法もある。例えば、米国特許第
4,851,630号に記載されるシステムなどである。
本発明は特定の導波路の設計ないしチューニングの技術
に制限されるものではない。
【0021】前述の如く、コイル16の巻の間の空間に
より、プラズマチューブ12の中へのマイクロ波が通過
するウィンドウが形成され、このとき、冷却システムに
よりマイクロ波が著しく吸収されることはない。伝達さ
れる電力に対する冷却効率を最適化するように、巻の間
隔ないしピッチを選択するべきである。この間隔が小さ
過ぎれば、プラズマチューブ内へ伝達されるマイクロ波
エネルギーが著しく減じられるであろう。他方、この間
隔が大きすぎれば、冷却効率が許容できるものではなく
なる。一般に、離れていることによる伝達分は、コイル
の巻きのピッチないし間隔の自乗で上昇する。許容され
る間隔は、λ/50の範囲であり、λは放射の波長であ
る。
【0022】クーラント及びおそらくコイル自身(コイ
ルに用いる材料の選択によるが)もマイクロ波を吸収す
るため、コイルを形成する配管の直径が、吸収量を最小
にするように充分小さくすることが重要である。スパイ
ラル型コイルは、熱伝導によりプラズマチューブ12か
ら熱を奪い去り、冷却効率はコイル配管の直径に比例し
て増加する。他方、コイルにより吸収されるマイクロ波
エネルギーは、コイルの直径に比例して増加する。従っ
て、コイルの直径の増加に伴い、冷却効率のへの寄与分
がプラズマチューブへのマイクロ波伝達の減少により相
殺される分よりも大きくなるような点が存在することに
なるだろう。しかし、チューブが小さすぎれば、加熱さ
れたプラズマチューブを冷却得る能力が弱められるだろ
う。一般に、配管の直径がおよそλ/100のオーダー
またはそれ以下であれば許容される。
【0023】ここに記載した具体例では配管形成のため
の材料にプラスチック又はテフロンを用いているが、他
の適切な材料を用いることもでき、これには例えば、銅
などの非誘電マイクロ波吸収材料だけでなく、マイクロ
波を吸収しない誘電材料が含まれる。更に、配管中を循
環するクーラントと加熱されたプラズマチューブの外壁
との間の熱伝導を更に向上させるため、熱セメントを用
いることもできる。
【0024】サファイアプラズマチューブの壁の厚さ
は、コイル16の巻と巻の間の間隔により決まる。ここ
に記載される具体例では、コイルの巻と巻の間の間隔が
0.25インチ(1インチ=約25.4mm)に対し
て、壁の厚さは約0.06インチよりも大きい。壁の厚
さをこのようにすることにより、壁の長手方向の温度勾
配がコイルで軸方向の温度勾配に確実に適合するように
なり、熱応力を最小にする。
【0025】コイルを形成する配管の壁の厚さは主に、
コイルの中をポンプ輸送される液体クーラントの圧力に
より決まる。無論、コイルが壊れないようにするために
は、高い圧力に対してより厚い壁が必要である。
【0026】このプラズマアプリケータは、広範な用途
に用いることができる。例えば、図2に示されるよう
に、プラズマ処理システムの励起ガス種の遠隔のソース
として用いることも可能である。この用途では、外部の
ガスソース100から、導管102を介してプラズマア
プリケータ10のガス流入ポートへ反応性ガスを供給す
る。次に、プラズマアプリケータ10内で生成した励起
ガス種は、プラズマアプリケータ10のガス流出ポート
に接続したライン40を介してプラズマチャンバ104
の中へと供給される。アプリケータの冷却システムの流
入ポートと流出ポートの間に接続されるポンプ104及
び熱交換器106により、動作中は、クーラントをアプ
リケータ10内に循環させる。導波路14へ電力を供給
するマイクロ波ソース108は、アプリケータ10のプ
ラズマチューブ12の中にプラズマを発生させ、主プラ
ズマチャンバ104へガス種を導入する前にこれを励起
するようにする。
【0027】このようなシステムに典型的に存在するそ
の他の部材には、プラズマチャンバを脱気するための真
空ポンプと、プラズマチャンバ内に第2のプラズマを発
生させるための出力ソース(例えば、RF電源やDC電
源)とがある。
【0028】励起された種は、何等かの適切な方法で処
理チャンバ内に輸送される。更に、アプリケータは、基
板処理チャンバに直接設置してもよく、又は、基板処理
チャンバから離して配置してもよく、この場合には、適
切な材料の励起ガス供給ラインが必要となる。励起弗素
の場合のように、励起種の反応性が非常に高い場合は、
ライン40を形成する材料は、発生する励起種と相互作
用をしない材料、例えばステンレス鋼とする必要があ
る。他の適切な材料には、アルミニウム、セラミックや
一部の弗素ベース材料等が挙げられる。
【0029】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、マイクロ波等のエネルギーをさほど減じずに、ア
プリケータ等を効率良く冷却することができる装置が提
供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の具体例の1つであるプラズマアプリケ
ータの断面図である。
【図2】図1のプラズマアプリケータを用いた半導体処
理システムの構成図である。
【符号の説明】
10…液冷式プラズマアプリケータ、12…プラズマチ
ューブ、12(a)…流入端、12(b)…流出端、1
4…導波路、16…スパイラルチューブ、20…流入コ
ネクタ、22…クーラント供給ライン、24…流出コネ
クタ、26…流出ライン、30…アプリケータ上側本体
部、30(a)…フランジ、32…アプリケータ下側本
体部、32(a)…フランジ、34,38…アダプタ
板、40…ライン、42…メタルショート、44…プラ
ンジャ、102…導管、104…プラズマチャンバ、1
06…熱交換器、108…マイクロ波ソース。

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 出力ソースに用いるための液冷式プラズ
    マアプリケータであって、 動作中に出力ソースから電磁放射を受容する導波路と、 前記導波路内を通過し、且つ、前記導波路内の電磁放射
    により自身の中を流れるガスを励起するように配置され
    るプラズマチューブと、 前記プラズマチューブの外側で、且つ、前記プラズマチ
    ューブのうち前記導波路の中に配置されている領域で電
    磁放射に曝露されている領域の上に、スパイラル状に巻
    き付けられるクーラントチューブであって、使用の際に
    は前記プラズマチューブを冷却するためクーラントを前
    記クーラントチューブの中に循環させる、前記クーラン
    トチューブとを備える液冷式プラズマアプリケータ。
  2. 【請求項2】 該電磁放射がマイクロ波放射であり、前
    記導波路がマイクロ波導波路である請求項1に記載の液
    冷式プラズマアプリケータ。
  3. 【請求項3】 マイクロ波放射ソースを更に備える請求
    項2に記載のプラズマアプリケータ。
  4. 【請求項4】 前記マイクロ波放射ソースが、1〜10
    0センチメートルの範囲にある波長を有するマイクロ波
    を発生する請求項3に記載の液冷式プラズマアプリケー
    タ。
  5. 【請求項5】 該マイクロ波放射の波長がλであり、前
    記クーラントチューブの外径がDであり、Dが約λ/1
    00未満である請求項2に記載の液冷式プラズマアプリ
    ケータ。
  6. 【請求項6】 該マイクロ波放射の波長がλであり、前
    記スパイラル状のチューブが、巻と巻の間の間隔がSで
    あるコイルをなし、Sが約λ/50よりも大きい請求項
    2に記載の液冷式プラズマアプリケータ。
  7. 【請求項7】 該マイクロ波放射の波長がλであり、前
    記クーラントチューブの外径がDであり、前記スパイラ
    ル状のチューブが、巻と巻の間の間隔がSであるコイル
    をなし、SがDよりも大きい請求項2に記載の液冷式プ
    ラズマアプリケータ。
  8. 【請求項8】 該マイクロ波放射の波長がλであり、前
    記クーラントチューブの外径がDであり、前記スパイラ
    ル状のチューブが、巻と巻の間の間隔がSであるコイル
    をなし、Sが2D(Dの2倍)よりも大きい請求項2に
    記載の液冷式プラズマアプリケータ。
  9. 【請求項9】 前記クーラントチューブ内を循環させる
    クーラントを受容するための流入コネクタと、前記クー
    ラントチューブを通過した後のクーラントを排出するた
    めの流出コネクタとを更に備える請求項1に記載の液冷
    式プラズマアプリケータ。
  10. 【請求項10】 前記クーラントチューブが前記プラズ
    マチューブの外面と接触する請求項9に記載の液冷式プ
    ラズマアプリケータ。
  11. 【請求項11】 前記プラズマチューブがセラミック製
    である請求項7に記載の液冷式プラズマアプリケータ。
  12. 【請求項12】 前記プラズマチューブが酸化アルミニ
    ウム製である請求項7に記載の液冷式プラズマアプリケ
    ータ。
  13. 【請求項13】 前記プラズマチューブがサファイア製
    である請求項12に記載の液冷式プラズマアプリケー
    タ。
  14. 【請求項14】 前記クーラントチューブが誘電材料製
    である請求項13に記載の液冷式プラズマアプリケー
    タ。
  15. 【請求項15】 前記クーラントチューブがテフロンな
    いしポリ四弗化エチレン樹脂製である請求項14に記載
    の液冷式プラズマアプリケータ。
  16. 【請求項16】 前記プラズマチューブが設置されるア
    プリケータ本体を更に備える請求項2に記載の液冷式プ
    ラズマアプリケータ。
  17. 【請求項17】 前記アプリケータ本体の流入端に設置
    され、前記プラズマアプリケータへガスラインをつなぎ
    前記プラズマチューブ内へガスを流す通路を与える、第
    1のアダプタ板を更に備える請求項16に記載の液冷式
    プラズマアプリケータ。
  18. 【請求項18】 前記アプリケータ本体の流出端に設置
    され、前記プラズマアプリケータから流出する励起ガス
    を排出するための通路を有する、第2のアダプタ板を更
    に備える請求項17に記載の液冷式プラズマアプリケー
    タ。
JP9016833A 1996-01-30 1997-01-30 液冷式リモートプラズマアプリケータ Withdrawn JPH09219295A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
US59383196A 1996-01-30 1996-01-30
US08/593831 1996-01-30

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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