JPH09223594A - ビーム源及び微細加工方法 - Google Patents
ビーム源及び微細加工方法Info
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- 238000000034 method Methods 0.000 title description 9
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 abstract description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 20
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical group [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 11
- -1 argon ions Chemical class 0.000 description 6
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- KZBUYRJDOAKODT-UHFFFAOYSA-N Chlorine Chemical compound ClCl KZBUYRJDOAKODT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 2
- BSYNRYMUTXBXSQ-UHFFFAOYSA-N Aspirin Chemical compound CC(=O)OC1=CC=CC=C1C(O)=O BSYNRYMUTXBXSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
Abstract
速原子線源とプラズマジェットを多量に取出すことがで
きるビーム源及びそのビーム源を用いた微細加工方法を
提供する。 【解決手段】 放電容器21と、プラズマ発生機構2
4,25と、ガス導入機構22と、プラズマ発生機構に
より発生されたプラズマ27を、ジェットビームとして
放出するプラズマジェットノズル23とを備えた。
Description
性粒子ビームを発生させるビーム源と、高真空中におい
て、該エネルギービーム源を用いた低ダメージの微細加
工方法に関する。
ついて説明する。常温の大気中で熱運動をしている原子
・分子は、おおむね0.05eV前後の運動エネルギー
を有している。これに比べてはるかに大きな運動エネル
ギーで飛翔する原子・分子を、高速原子と呼び、方向性
を持ったビーム状に放射される場合に、高速原子線とい
う。
線を発生する高速原子線源のうち、運動エネルギーが
0.5eV〜10keVのアルゴン原子を放出する高速
原子線源の構造の一例を図3に示す。主な構成は、円筒
形陰極1、ドーナッツ状陽極2、高電圧電源3、ガス導
入パイプ4、アルゴンガス・プラズマ6、高速原子放出
孔7、高速原子線8等で構成されている。
示しない)以外の構成要素を真空容器に入れ、十分に排
気した後、ガス導入パイプ4からアルゴンガスを円筒形
陰極1の内部に注入する。ここで直流高電圧電源によっ
て、陽極が正電位、陰極が、負電位となるように、直流
電圧を印加する。これで陰極・陽極間に放電が起き、プ
ラズマが発生し、アルゴンイオンと電子が生成される。
更に、この放電において、円筒形陰極の底面1aから放
出する電子は、陽極2に向かって放出され、陽極2の中
央の孔を通過して、円筒形陰極の反対側の底面に達し、
ここで速度を失って反転し、改めて陽極2に向かって加
速され始める。この様に電子は陽極2の中央の孔を介し
て、円筒形陰極の両方の底面の間を高周波振動し、その
あいだに、アルゴンガスに衝突して、多数のアルゴンイ
オンを発生する。
形陰極の底面1aに向かって加速され、十分な運動エネ
ルギーを得るにいたる。この運動エネルギーは、陽極と
陰極との間の放電維持電圧が、例えば1kVの時は1k
eV程度の値となる。円筒形陰極の底面1a近傍の空間
は高周波振動をする電子の折り返し点であって、低エネ
ルギーの電子が多数存在する空間である。この空間に入
射したアルゴンイオンは電子と衝突・再結合してアルゴ
ン原子に戻る。イオンと電子の衝突において、電子の質
量がアルゴンイオンに比べて無視できるほど小さいため
に、アルゴンイオンの運動エネルギーはほとんど損失せ
ずに、そのまま原子に受け継がれて高速原子となる。従
って、この場合の高速原子の運動エネルギーは,1ke
V程度となる。このアルゴン高速原子は、円筒形陰極の
一方の端面に開けられた放出孔から高速原子となって放
出されるのである。
例を図4に示す。このプラズマジェット発生装置は、ガ
ス導入部11、陰極12、陽極13、直流高圧電源14
より構成される。図から諒解されるように、導入された
ガス15が、陽極13と陰極12の間で起こるアーク放
電によりプラズマ17が生成され、そのプラズマ17が
陽極に設けてあるノズル13aよりプラズマジェットと
して放出される。また、過度の加熱を押さえるために、
冷却水16を流し水冷を電極部分に行う場合もある。
はプラズマジェットの生成方法において、従来の高速原
子線源では、高ビーム密度のプロセスを行う場合では、
約1kV以上の高電圧放電を行うことによって、放電電
流が高く、高エネルギー高密度の高速原子線が得られる
ものであった。しかしながら、例えば、低エネルギーの
放電を行うと、低い放電電流値しか得られず、何らかの
方策を行う必要が生じる。これは、マグネットによる磁
場を用いた場合でも、同様であり、直流放電の有する特
性でもある。従って、放電電流が低いことは、生成され
るイオンの生成量が低いことを意味し、放出される高速
原子線量が低いことを意味する。
は、アーク放電を用いているために、微細加工などの、
不純物による汚染の影響を嫌うプロセスには、大きな問
題となる。アーク放電によって、電極の極度の加熱やス
パッタ粒子の放出により、電極材料の粒子が不純物とし
て、多量に発生する。また、通常、低真空圧力程度で使
用することが多いため、プラズマジェット放出ノズルが
先細ノズルであったり、パイプ状、又は円筒孔状であっ
たりする。しかしながら、微細加工を行う高真空中で
は、この様なノズルでは、プラズマや活性ラジカル粒子
の輸送効率が著しく落ちてしまうという問題がある。
ので、高真空中での利用が可能で、低エネルギーの高速
原子線とプラズマジェットを多量に取出すことができる
ビーム源及びそのビーム源を用いた微細加工方法を提供
することを目的とする。
電容器と、プラズマ発生機構と、ガス導入機構と、前記
プラズマ発生機構により発生されたプラズマを、ジェッ
トビームとして放出するプラズマジェットノズルとを備
えたことを特徴とする。
速ノズル又は極超音速ノズルであることを特徴とする。
材料からなり、プラズマ生成部より上流部に、電極を備
え、該電極と該プラズマジェットノズルを含む下流側電
極間に、直流電圧、パルス電圧、又は高周波電圧を印加
し、電気的に加速されたエネルギービームとプラズマジ
ェットとを同時又は交互に放出することを特徴とする。
を含む下流側電極が、相対向する平板構造に作製されて
いることを特徴とする。
高周波放電機構を用いたものであることを特徴とする。
ーム源を用いて、高真空中にて、微細加工を行うことを
特徴とする。
と、放電容器と、ガス導入機構と、プラズマジェット放
出用ノズルと、電極とからなるビーム源と、該ビーム源
より放出されたビームが、高真空の容器中に設置されて
いる試料に到達して、微細加工を行う微細加工方法につ
いてのものである。通常のプラズマジェット発生と異な
り、アーク放電プラズマではなく、低エネルギー・高密
度プラズマを得るために、誘電結合型高周波放電、EC
R放電、ヘリコン波放電、高電圧直流放電等のプラズマ
発生機構を用いる。そして、プラズマジェット放出用の
超音速ノズル、または、極超音速ノズルを用いること
で、生成されたプラズマやラジカル粒子を、圧力10-3
Torr以下の高真空中にて、効率よく試料表面まで到達さ
せることができる。
プラズマの上流に電極を配置し、下流にプラズマジェッ
ト放出用超音速ノズルを有する電極を配置し、該上流・
下流電極間に、直流電圧を印加することにより、プラズ
マジェット放出用ノズルからは、プラズマジェットと、
印加電圧に対応したエネルギーを有する高速原子線とを
放出することができる。このため、高真空中の試料表面
には、プラズマジェットと高速原子線の両方を照射して
微細加工プロセスを行うことができる。
ラズマジェット及び高速原子線放出用の超音速ノズルま
たは極超音速ノズルが取り付けられている。生成された
プラズマは、ラバルノズルや円錐ノズル等の超音速ノズ
ルまたは極超音速ノズルによって、効率よく、高真空中
の、試料表面上へ輸送される。このとき、高真空中で、
非圧縮性流体や低真空中でのプラズマジェット用ノズル
のように、先細ノズルやパイプ状ノズルを用いると、大
変効率の悪いプラズマ輸送を行うことになる。何故なら
ばノズル出口における圧力差が著しいため、パイプ状ノ
ズルや先細ノズル出口からのプラズマの噴流が、大変広
領域に広がってしまい、プラズマジェットの極一部し
か、試料に到達できなくなるためである。
体輸送の効率化と同じで、超音速ノズルや極超音速ノズ
ルによって、プラズマ中のイオン、ラジカル粒子等を、
加速し、速度ベクトルを揃えることができ、かつ、ノズ
ル出口における、圧力差を小さくすることができるの
で、ノズル下流において、先細ノズルやパイプ状ノズル
のように、広い領域にプラズマやラジカル粒子が拡散す
ることがなくなり、効率よく、プラズマやラジカル粒子
を試料表面に輸送できる。
部の上流部に板状電極を配し、該電極と平行に、超音速
ノズルを有する電極を相対向配置して、両電極間に、直
流電圧を印加する。すると、プラズマジェットを効率的
に放出するのみでなく、印加電圧に応じたエネルギーを
有する高速原子線をも同時に、ノズルから放出すること
ができる。この直流電圧は、パルス状で与えると、パル
スの直流電圧印加時間中に、高速原子線が放出される。
オンが下流電極の方向に印加電圧に基づく電界に従って
加速し、ノズル中において、残留ガス粒子と電荷交換を
行って、高速の中性粒子となり、高速原子線として、ノ
ズル出口から放出されるのである。即ち、プラズマ発生
機構が単独に機能を発揮するので、高速原子線エネルギ
ーを決定する直流電圧は、低電圧でも低エネルギーの高
速原子線を供給することができる。従って、低エネルギ
ーから高エネルギーの高速原子線を、直流電圧の選定に
よって発生することができる。低エネルギーの高速原子
線と反応性の高いプラズマジェットを同時に試料表面に
与えて、微細加工を行うと、従来の直流放電型高速原子
線のみの微細加工では困難であった、低エネルギー・低
ダメージの微細加工が可能となる。また、プラズマジェ
ットによる高反応性を利用した高速加工も可能となる。
す。セラミック等の絶縁性材料からなる放電容器21
に、ガス導入パイプ22とプラズマジェット用超音速ノ
ズル23が配置されている。例えば、円筒状容器の内径
が、10mmから200mm程度である。放電容器21
内でグロー放電を起すには、誘導結合型高周波電源24
を用いて、容器近傍に、コイル25を巻き、該コイル
に、整合器を介して、高周波(RF)電流を与えると、
放電容器21内に高密度プラズマ27を発生することが
できる。例えば、ガス導入パイプ22に塩素ガス26を
導入し、内径60mmで長さ100mmの放電管21
に、ノズルスロート部孔径が10〜20mmで、ノズル
出口穴径が30〜50mmのノズル22を用いる。グロ
ー放電には、水冷可能な銅管を1から3ターンほど巻い
たコイル25を用いる。該コイルに、高周波電流を流す
ことにより、塩素ガス粒子の高密度プラズマ27を生成
する。発生した塩素プラズマ27は、超音速ノズル23
によって、約10-3Torr以下の高真空度状態にある、真
空容器内部に設置された試料をプラズマジェット28と
して照射し、微細加工が行われる。
示す。セラミックなどの絶縁物の放電管内に、ガス通過
孔のある板状電極29と超音速ノズル23が配置され、
該ノズル23は、導電性の電極材料でできている下流側
電極30の一部となっている。上流側電極29と超音速
ノズルを含む下流側電極30間で、高密度プラズマ27
を発生するように、放電管21に1から3ターンのコイ
ル25が設置されている。該コイル25に13.56M
HzのRF高周波電圧を印加して、高密度プラズマ27
が生成される。ガス26としては、不活性ガスのアルゴ
ンや、化学反応を用いた加工を行う場合には、塩素やフ
ッ素含有ガスなどの反応性ガスを用いる。
9とノズルを含む下流側電極30間に直流電圧を印加す
ると、ノズルからプラズマジェット28が放出されるだ
けでなく、印加電圧に応じたエネルギーを持つ、高速原
子線31もノズル孔23より放出される。従って、低エ
ネルギーでも高密度プラズマが得られるので、低エネル
ギー高速原子線を多量に放出することができ、かつ、反
応性の高いプラズマジェットを放出できるので、高真空
中で、試料に高速原子線とプラズマジェットを照射する
効率的な加工が可能となる。上流側電極と下流側電極と
の間に、パルス状の電圧を印加することにより、高速原
子線を間欠的に噴射することができる。
などの半導体材料、ガラス・セラミックス、金属などを
加工することができる。従来の高速原子線のみの加工に
比べ、プラズマジェット加工を併用することができるの
で大変効率的となる。また、低エネルギーで、高異方性
の加工が、可能となるため、LSIなどの絶縁性薄膜の
高アスペクト比のエッチングなどに有効である。
と、下記のような優れた効果が期待できる。即ち、従来
の直流放電型高速原子線源による微細加工では、低エネ
ルギーでの放電時に、高密度プラズマが得られにくく、
高密度の低エネルギー高速原子線を発生することが困難
であった。また、低真空中でのプラズマジェットで用い
るアーク放電や先細ノズルを用いると、電極材料の加熱
やスパッターによる汚染が問題となったり、高真空中で
の加工を行う場合には、プラズマジェットの輸送効率が
著しく悪い。
空中における半導体材料や絶縁物などの微細加工を効率
よく行えるビーム源を提供するもので、電極材料のスパ
ッター粒子の放出による汚染を減少させるため、高密度
のグロー放電を用いる。また、プラズマジェットの輸送
効率をあげるため、超音速ノズルや極超音速ノズルを用
いる。さらに、放電管内部に、プラズマ上流部に電極を
配し、プラズマ下流部に超音速ノズルを配した電極を用
いて、両電極間に、直流電圧を印加することにより、低
エネルギーから高エネルギーまでエネルギー制御可能な
高速原子線を多量に放出することができる。この場合
は、プラズマジェットと高速原子線の両方を放出できる
ので、反応性が高く、異方性に優れる低ダメージの加工
を実現することができる。例えば、半導体素子又はLS
Iの加工、量子効果素子、量子効果を用いたレーザ素
子、発光素子・光学レンズ素子の作製に有効となるな
ど、本発明の学術的・産業的意義は大変大きく、有意義
である。
Claims (6)
- 【請求項1】 放電容器と、プラズマ発生機構と、ガス
導入機構と、前記プラズマ発生機構により発生されたプ
ラズマを、ジェットビームとして放出するプラズマジェ
ットノズルとを備えたことを特徴とするビーム源。 - 【請求項2】 前記プラズマジェットノズルが、超音速
ノズル又は極超音速ノズルであることを特徴とする請求
項1に記載のビーム源。 - 【請求項3】 前記プラズマジェットノズルが、導電材
料からなり、プラズマ生成部より上流部に、電極を備
え、該電極と該プラズマジェットノズルを含む下流側電
極間に、直流電圧、パルス電圧、又は高周波電圧を印加
し、電気的に加速されたエネルギービームとプラズマジ
ェットとを同時又は交互に放出することを特徴とする請
求項1又は2に記載のビーム源。 - 【請求項4】 前記電極及びプラズマジェットノズルを
含む下流側電極が、相対向する平板構造に作製されてい
ることを特徴とする請求項3に記載のビーム源。 - 【請求項5】 前記プラズマ発生機構が、誘導結合型高
周波放電機構を用いたものであることを特徴とする請求
項1乃至4のいずれかに記載のビーム源。 - 【請求項6】 請求項1乃至5のいずれかに記載のビー
ム源を用いて、高真空中にて、微細加工を行うことを特
徴とする微細加工方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8054056A JPH09223594A (ja) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | ビーム源及び微細加工方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8054056A JPH09223594A (ja) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | ビーム源及び微細加工方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09223594A true JPH09223594A (ja) | 1997-08-26 |
Family
ID=12959967
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8054056A Pending JPH09223594A (ja) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | ビーム源及び微細加工方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09223594A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1693877A1 (en) * | 2005-02-10 | 2006-08-23 | The Thailand Research Fund | High current density ion source |
| WO2009081911A1 (ja) * | 2007-12-25 | 2009-07-02 | Panasonic Electric Works Co., Ltd. | イオン吐出装置 |
| JP2015518268A (ja) * | 2012-03-20 | 2015-06-25 | マッパー・リソグラフィー・アイピー・ビー.ブイ. | ラジカルを輸送するための装置および方法 |
| CN106488639A (zh) * | 2016-12-28 | 2017-03-08 | 大连理工大学 | 大尺度脉冲冷等离子体射流产生装置 |
-
1996
- 1996-02-16 JP JP8054056A patent/JPH09223594A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1693877A1 (en) * | 2005-02-10 | 2006-08-23 | The Thailand Research Fund | High current density ion source |
| WO2009081911A1 (ja) * | 2007-12-25 | 2009-07-02 | Panasonic Electric Works Co., Ltd. | イオン吐出装置 |
| JP2015518268A (ja) * | 2012-03-20 | 2015-06-25 | マッパー・リソグラフィー・アイピー・ビー.ブイ. | ラジカルを輸送するための装置および方法 |
| CN106488639A (zh) * | 2016-12-28 | 2017-03-08 | 大连理工大学 | 大尺度脉冲冷等离子体射流产生装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040217 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20040317 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040416 |
|
| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20040621 |
|
| A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20040730 |