JPH09229876A - 自動磁粉探傷装置 - Google Patents
自動磁粉探傷装置Info
- Publication number
- JPH09229876A JPH09229876A JP8067208A JP6720896A JPH09229876A JP H09229876 A JPH09229876 A JP H09229876A JP 8067208 A JP8067208 A JP 8067208A JP 6720896 A JP6720896 A JP 6720896A JP H09229876 A JPH09229876 A JP H09229876A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- inspection object
- flattening
- magnetic particle
- particle flaw
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁粉探傷において欠陥以外のノイズを自動除
去して欠陥検出能を大幅に向上させる。 【解決手段】 テレビカメラ18により得られた検査対
象物1表面の画像データを2値化して解析し、検査対象
物1の欠陥を判定する手段23とからなる磁粉探傷装置
において、検査対象物1を磁化するに先立ち、へん平化
手段6により査対象物1の欠陥が広がる方向にへん平化
し、欠陥検出能を大幅に向上させる。
去して欠陥検出能を大幅に向上させる。 【解決手段】 テレビカメラ18により得られた検査対
象物1表面の画像データを2値化して解析し、検査対象
物1の欠陥を判定する手段23とからなる磁粉探傷装置
において、検査対象物1を磁化するに先立ち、へん平化
手段6により査対象物1の欠陥が広がる方向にへん平化
し、欠陥検出能を大幅に向上させる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、磁化させた検査
対象物に磁粉を付着させてテレビカメラにより得た画像
データを解析し、検査対象物の表面および表面近傍の欠
陥を検出する磁粉探傷装置に関するもので、例えば、電
縫鋼管溶接部のペネトレータと呼ばれる微小な溶接欠陥
をも検出できる磁粉探傷装置に関する。
対象物に磁粉を付着させてテレビカメラにより得た画像
データを解析し、検査対象物の表面および表面近傍の欠
陥を検出する磁粉探傷装置に関するもので、例えば、電
縫鋼管溶接部のペネトレータと呼ばれる微小な溶接欠陥
をも検出できる磁粉探傷装置に関する。
【0002】
【従来の技術】金属材料に生じる割れ等の表面疵の検査
は、例えば、超音波探傷装置で行われているが、例え
ば、電縫鋼管にあっては、その電縫溶接部にコールドウ
エルド、ペネトレータ、溶け落ち、フッククラック等の
欠陥が発生するため、電縫溶接部を超音波探傷試験して
品質管理を行っている。前記電縫溶接部に発生する微小
な溶接欠陥であるペネトレータは、前記超音波探傷試験
では検出困難である。このため、電縫鋼管の表面疵の検
査は、図7(a)に示すとおり、電縫鋼管71を所定の
長さで切り出し、電縫溶接部72を時計の3時または9
時位置にして平板73間に挟み、図7(b)に示すとお
り、電縫鋼管71を規定高さまで押圧したのち電縫溶接
部72に欠陥があるかないか観察するへん平試験によっ
て検査している。
は、例えば、超音波探傷装置で行われているが、例え
ば、電縫鋼管にあっては、その電縫溶接部にコールドウ
エルド、ペネトレータ、溶け落ち、フッククラック等の
欠陥が発生するため、電縫溶接部を超音波探傷試験して
品質管理を行っている。前記電縫溶接部に発生する微小
な溶接欠陥であるペネトレータは、前記超音波探傷試験
では検出困難である。このため、電縫鋼管の表面疵の検
査は、図7(a)に示すとおり、電縫鋼管71を所定の
長さで切り出し、電縫溶接部72を時計の3時または9
時位置にして平板73間に挟み、図7(b)に示すとお
り、電縫鋼管71を規定高さまで押圧したのち電縫溶接
部72に欠陥があるかないか観察するへん平試験によっ
て検査している。
【0003】上記へん平試験は、人的手段によって行わ
れるため、電縫溶接部の位置ずれにより溶接部が正確に
曲がらなくて試験にならなかったり、へん平に押圧した
後の電縫溶接部の観察も目視のため、判定結果に個人的
誤差が生じるという問題点を有している。
れるため、電縫溶接部の位置ずれにより溶接部が正確に
曲がらなくて試験にならなかったり、へん平に押圧した
後の電縫溶接部の観察も目視のため、判定結果に個人的
誤差が生じるという問題点を有している。
【0004】上記のような問題を解決する方法として
は、検査対象物に付着させた磁粉模様群を撮像管により
電気映像信号に変換し、この電気映像信号を明と暗の2
種類の信号に分類し、これとは別に撮像管の走査電子ビ
ームと同期した掃引電圧を得て画面上の座標を示させ、
この画面上の座標およびこれに対応する位置の映像信号
の出力値を明暗によって記憶させ、明に該当する座標を
画面上のいずれかの明点集合部に属する座標点集合また
は孤立明点に属する座標として分類し、前記分類毎に各
磁粉模様の面積と周長または周長と長さを同時に測定
し、前記測定値を基に(面積)/(周長)2または(周
長)/(長さ)の値を算出し、前記測定値が基準値より
大でかつ算出値が基準値より小であるもののみ表面疵と
判定する方法(特公昭58−57705号公報)、撮像
装置からのビデオ信号をサンプリングして材幅方向に多
数個のデジタル信号に変換し、次に材幅方向および材長
手方向の複数個のデジタル信号毎に、そのデジタル信号
を差分して代表値をそれぞれ求め、この各代表値を所要
数の走査線に対応して各走査線毎に記憶させておき、そ
の記憶した各代表値を検査対象物の表面上における所定
線分方向に所要数だけ加算し、この加算値がしきい値を
超えた時の疵信号により表面疵を検査する磁粉探傷方法
および装置(特公昭59−22895号公報)が提案さ
れている。
は、検査対象物に付着させた磁粉模様群を撮像管により
電気映像信号に変換し、この電気映像信号を明と暗の2
種類の信号に分類し、これとは別に撮像管の走査電子ビ
ームと同期した掃引電圧を得て画面上の座標を示させ、
この画面上の座標およびこれに対応する位置の映像信号
の出力値を明暗によって記憶させ、明に該当する座標を
画面上のいずれかの明点集合部に属する座標点集合また
は孤立明点に属する座標として分類し、前記分類毎に各
磁粉模様の面積と周長または周長と長さを同時に測定
し、前記測定値を基に(面積)/(周長)2または(周
長)/(長さ)の値を算出し、前記測定値が基準値より
大でかつ算出値が基準値より小であるもののみ表面疵と
判定する方法(特公昭58−57705号公報)、撮像
装置からのビデオ信号をサンプリングして材幅方向に多
数個のデジタル信号に変換し、次に材幅方向および材長
手方向の複数個のデジタル信号毎に、そのデジタル信号
を差分して代表値をそれぞれ求め、この各代表値を所要
数の走査線に対応して各走査線毎に記憶させておき、そ
の記憶した各代表値を検査対象物の表面上における所定
線分方向に所要数だけ加算し、この加算値がしきい値を
超えた時の疵信号により表面疵を検査する磁粉探傷方法
および装置(特公昭59−22895号公報)が提案さ
れている。
【0005】また、テレビカメラにより得られた画像デ
ータを2値化して解析するに際し、該画像データより画
素毎の輝度信号を得る画素分割手段と、画素毎の輝度信
号より輝度毎の画素数の分布を求める輝度分布変換手段
と、輝度毎の画素数の分布より画素数が最大である輝度
を求めるピーク検出手段と、該最大画素数輝度から定め
られる閾値により該画像データを2値化する2値化手段
とを備えた装置(特開平2−55948号公報)、テレ
ビカメラにより得られた画像データを2値化して表面疵
を検出するに際し、検査対象物表面の画像データの1画
面毎に任意の1ラインにおける輝度毎の画素数分布を求
めたのち、1ラインにおける輝度毎の画素数分布より画
素数が零となる最も低い輝度を求め、最も低い輝度より
定められる閾値により画像データを2値化する装置(特
開平6−43120号公報)が提案されている。
ータを2値化して解析するに際し、該画像データより画
素毎の輝度信号を得る画素分割手段と、画素毎の輝度信
号より輝度毎の画素数の分布を求める輝度分布変換手段
と、輝度毎の画素数の分布より画素数が最大である輝度
を求めるピーク検出手段と、該最大画素数輝度から定め
られる閾値により該画像データを2値化する2値化手段
とを備えた装置(特開平2−55948号公報)、テレ
ビカメラにより得られた画像データを2値化して表面疵
を検出するに際し、検査対象物表面の画像データの1画
面毎に任意の1ラインにおける輝度毎の画素数分布を求
めたのち、1ラインにおける輝度毎の画素数分布より画
素数が零となる最も低い輝度を求め、最も低い輝度より
定められる閾値により画像データを2値化する装置(特
開平6−43120号公報)が提案されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来公報に開示の
磁粉探傷方法および装置では、磁化電流を直流にして
も、原理的に検査対象物の表面および表面近傍に存在す
るペネトレータは検出できるが、表面より深い位置にあ
ったり、微小なペネトレータは検査対象物表面に漏洩磁
束が出にくく、磁粉探傷では検出し難いという問題点を
有している。
磁粉探傷方法および装置では、磁化電流を直流にして
も、原理的に検査対象物の表面および表面近傍に存在す
るペネトレータは検出できるが、表面より深い位置にあ
ったり、微小なペネトレータは検査対象物表面に漏洩磁
束が出にくく、磁粉探傷では検出し難いという問題点を
有している。
【0007】この発明の目的は、上記従来技術の欠点を
解消し、磁粉探傷の欠陥検出能を大幅に向上させ、さら
に磁粉探傷を自動検査するうえで欠陥以外の磁粉模様を
自動除去できる磁粉探傷装置を提供することにある。
解消し、磁粉探傷の欠陥検出能を大幅に向上させ、さら
に磁粉探傷を自動検査するうえで欠陥以外の磁粉模様を
自動除去できる磁粉探傷装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明の磁粉探傷装置
は、検査対象物を磁化するに先立ち、検査対象物の欠陥
が広がる方向にへん平化するへん平化手段を有してい
る。このように、検査対象物を磁化するに先立ち、検査
対象物をへん平化手段により欠陥が広がる方向にへん平
化することによって、欠陥が表面より深い位置にあった
り、また、微小な欠陥でも欠陥がより大きくなり表面に
漏洩磁束が多く出るようになるため、磁粉探傷の検出能
が大幅に向上するのである。
は、検査対象物を磁化するに先立ち、検査対象物の欠陥
が広がる方向にへん平化するへん平化手段を有してい
る。このように、検査対象物を磁化するに先立ち、検査
対象物をへん平化手段により欠陥が広がる方向にへん平
化することによって、欠陥が表面より深い位置にあった
り、また、微小な欠陥でも欠陥がより大きくなり表面に
漏洩磁束が多く出るようになるため、磁粉探傷の検出能
が大幅に向上するのである。
【0009】また、この発明の磁粉探傷装置は、検査対
象物を磁化するに先立ち、検査対象物の欠陥が広がる方
向にへん平化するへん平化手段と、テレビカメラにより
得られた検査対象物表面の画像データから検査領域を設
定し、その領域内画像データを予め定めたしきい値によ
り2値化画像とし、その2値化画像の(縦長さ/横長
さ)を演算し、その演算値が基準値より小さいときのみ
欠陥と判定する欠陥判定手段とを有している。このよう
に、検査対象物を磁化するに先立ち、検査対象物をへん
平化手段により欠陥が広がる方向にへん平化することに
よって、欠陥が表面より深い位置にあったり、また、微
小な欠陥でも欠陥がより大きくなり表面に漏洩磁束が多
く出るようになるため、磁粉探傷の検出能が大幅に向上
するのである。また、テレビカメラにより得られた検査
対象物表面の画像データから検査領域を設定し、その領
域内画像データを予め定めたしきい値により2値化画像
とした画像には、欠陥による画像のほかに、磁粉の塊や
検査対象物表面疵による磁粉の溜まりなど欠陥以外の画
像も含まれている。欠陥画像は横に長く、これらのノイ
ズ画像は縦にも長くなる特徴があるので、2値化画像の
(縦長さ)/(横長さ)を算出し、その値が基準値より
小さいとき、すなわち横に長い時のみ欠陥として検出す
ることによって、ノイズが除去され、欠陥のみを自動検
査することができる。
象物を磁化するに先立ち、検査対象物の欠陥が広がる方
向にへん平化するへん平化手段と、テレビカメラにより
得られた検査対象物表面の画像データから検査領域を設
定し、その領域内画像データを予め定めたしきい値によ
り2値化画像とし、その2値化画像の(縦長さ/横長
さ)を演算し、その演算値が基準値より小さいときのみ
欠陥と判定する欠陥判定手段とを有している。このよう
に、検査対象物を磁化するに先立ち、検査対象物をへん
平化手段により欠陥が広がる方向にへん平化することに
よって、欠陥が表面より深い位置にあったり、また、微
小な欠陥でも欠陥がより大きくなり表面に漏洩磁束が多
く出るようになるため、磁粉探傷の検出能が大幅に向上
するのである。また、テレビカメラにより得られた検査
対象物表面の画像データから検査領域を設定し、その領
域内画像データを予め定めたしきい値により2値化画像
とした画像には、欠陥による画像のほかに、磁粉の塊や
検査対象物表面疵による磁粉の溜まりなど欠陥以外の画
像も含まれている。欠陥画像は横に長く、これらのノイ
ズ画像は縦にも長くなる特徴があるので、2値化画像の
(縦長さ)/(横長さ)を算出し、その値が基準値より
小さいとき、すなわち横に長い時のみ欠陥として検出す
ることによって、ノイズが除去され、欠陥のみを自動検
査することができる。
【0010】
【発明の実施の形態】この発明の磁粉探傷装置における
へん平化手段は、へん平シリンダ、へん平金具、へん平
先端金具から構成される。検査対象物のへん平化は、へ
ん平シリンダによりへん平金具を押出し、検査対象物を
へん平化する。この場合の押出し寸法は、へん平先端金
具を取替えることによって調節する。最適なへん平量
は、例えば電縫鋼管の場合であると、外径Dに対してへ
ん平化後は外径Dの80〜95%にすることである。こ
のへん平量は、後の磁粉探傷の検出能を確保し、へん平
化し過ぎによる欠陥の視認性悪化を防止するのに効果的
な数値である。例えば電縫鋼管の溶接部にペネトレータ
がある場合は、へん平化することによって欠陥をより大
きくすることになり、磁粉探傷での検出能を大幅に向上
させることができる。
へん平化手段は、へん平シリンダ、へん平金具、へん平
先端金具から構成される。検査対象物のへん平化は、へ
ん平シリンダによりへん平金具を押出し、検査対象物を
へん平化する。この場合の押出し寸法は、へん平先端金
具を取替えることによって調節する。最適なへん平量
は、例えば電縫鋼管の場合であると、外径Dに対してへ
ん平化後は外径Dの80〜95%にすることである。こ
のへん平量は、後の磁粉探傷の検出能を確保し、へん平
化し過ぎによる欠陥の視認性悪化を防止するのに効果的
な数値である。例えば電縫鋼管の溶接部にペネトレータ
がある場合は、へん平化することによって欠陥をより大
きくすることになり、磁粉探傷での検出能を大幅に向上
させることができる。
【0011】この発明の磁粉探傷装置におけるテレビカ
メラにより得られた検査対象物表面の画像データから検
査領域の設定は、検査対象物の形状、寸法、検出すべき
欠陥の方向ならびに種類によって決定されるもので、例
えば、電縫鋼管の溶接部欠陥検出の場合には、電縫溶接
部の溶接線を特定し、検査領域を溶接線を中心として所
定幅、ビードを切削した溶接部分のみに限定することに
よって、常にバックグラウンドが一定となり、誤検出を
防止し、かつ高精度で電縫鋼管の溶接部の欠陥を判定す
ることができる。
メラにより得られた検査対象物表面の画像データから検
査領域の設定は、検査対象物の形状、寸法、検出すべき
欠陥の方向ならびに種類によって決定されるもので、例
えば、電縫鋼管の溶接部欠陥検出の場合には、電縫溶接
部の溶接線を特定し、検査領域を溶接線を中心として所
定幅、ビードを切削した溶接部分のみに限定することに
よって、常にバックグラウンドが一定となり、誤検出を
防止し、かつ高精度で電縫鋼管の溶接部の欠陥を判定す
ることができる。
【0012】この発明の欠陥判定手段は、検査領域内画
像データを予め定めたしきい値により2値化画像とし、
その2値化画像の(縦長さ/横長さ)を演算し、その演
算値が基準値より小さいときのみ欠陥と判定する。すな
わち、検査領域内画像データを予め定めたしきい値によ
り2値化画像とした画像には、欠陥による画像のほか
に、磁粉の塊や製品としては問題とされない程度の検査
対象物表面疵による磁粉の溜まりなど欠陥以外の画像も
含まれている。例えば、図5に示すとおり、電縫鋼管の
溶接部51のペネトレータ欠陥F1、F2の画像は、撮像
方向を横、撮像方向に直交する方向を縦とすれば、横に
長く、前記の磁粉の塊M1や製品としては問題とされな
い程度の検査対象物表面疵による磁粉の溜まりM2、
M3、M4など溶接欠陥以外のノイズ画像は縦にも長くな
る特徴があるので、2値化画像の(縦長さ)/(横長
さ)を算出し、その値が基準値より小さいとき、すなわ
ち横に長い時のみ欠陥として検出する。2値化画像の
(縦長さ)/(横長さ)の基準値rは、図6に示すとお
り、例えば、電縫鋼管溶接部のペネトレータ欠陥の場合
には、(縦長さ)/(横長さ)=0.4以下に分布し、
溶接欠陥以外のノイズの場合には、(縦長さ)/(横長
さ)=0.6〜1に分布する。したがって、電縫鋼管の
溶接部欠陥検出の場合には、2値化画像の(縦長さ)/
(横長さ)を算出し、その値を基準値、例えばr≦0.
5と比較することによって、溶接欠陥以外のノイズを除
去して溶接部欠陥のみを検出することができる。
像データを予め定めたしきい値により2値化画像とし、
その2値化画像の(縦長さ/横長さ)を演算し、その演
算値が基準値より小さいときのみ欠陥と判定する。すな
わち、検査領域内画像データを予め定めたしきい値によ
り2値化画像とした画像には、欠陥による画像のほか
に、磁粉の塊や製品としては問題とされない程度の検査
対象物表面疵による磁粉の溜まりなど欠陥以外の画像も
含まれている。例えば、図5に示すとおり、電縫鋼管の
溶接部51のペネトレータ欠陥F1、F2の画像は、撮像
方向を横、撮像方向に直交する方向を縦とすれば、横に
長く、前記の磁粉の塊M1や製品としては問題とされな
い程度の検査対象物表面疵による磁粉の溜まりM2、
M3、M4など溶接欠陥以外のノイズ画像は縦にも長くな
る特徴があるので、2値化画像の(縦長さ)/(横長
さ)を算出し、その値が基準値より小さいとき、すなわ
ち横に長い時のみ欠陥として検出する。2値化画像の
(縦長さ)/(横長さ)の基準値rは、図6に示すとお
り、例えば、電縫鋼管溶接部のペネトレータ欠陥の場合
には、(縦長さ)/(横長さ)=0.4以下に分布し、
溶接欠陥以外のノイズの場合には、(縦長さ)/(横長
さ)=0.6〜1に分布する。したがって、電縫鋼管の
溶接部欠陥検出の場合には、2値化画像の(縦長さ)/
(横長さ)を算出し、その値を基準値、例えばr≦0.
5と比較することによって、溶接欠陥以外のノイズを除
去して溶接部欠陥のみを検出することができる。
【0013】
実施例1 以下にこの発明の磁粉探傷装置の詳細を実施の一例を示
す図1ないし図2に基づいて説明する。図1はこの発明
の磁粉探傷装置のへん平化装置によるへん平化動作を示
すもので、(a)図はへん平化前、(b)図はへん平化
時、(c)図はへん平化完了後の磁粉探傷時の模式図、
図2はこの発明の磁粉探傷装置の全体構成説明図であ
る。
す図1ないし図2に基づいて説明する。図1はこの発明
の磁粉探傷装置のへん平化装置によるへん平化動作を示
すもので、(a)図はへん平化前、(b)図はへん平化
時、(c)図はへん平化完了後の磁粉探傷時の模式図、
図2はこの発明の磁粉探傷装置の全体構成説明図であ
る。
【0014】図1ないし図2において、1は採取された
長さ1mの検査対象物である電縫鋼管、2は電縫鋼管1
の溶接部、3、4は電縫鋼管1を磁化するための電極
で、電縫鋼管1は表面の油分を洗浄除去されたのち溶接
線Wを時計の12時方向にして長手方向を両端を電極
3、4間にセットされる。5、6は電縫鋼管1の長手方
向と直交する方向の水平対向位置に設けたへん平シリン
ダ7、8、へん平金具9、10、へん平先端金具11、
12からなるへん平化装置で、へん平シリンダ7、8を
操作してへん平金具9、10を押出し、電縫鋼管1を両
側からへん平金具9、10により押圧してへん平化す
る。この時のへん平化寸法は、へん平先端金具11、1
2を取替えることによって調整する。したがって、図1
(b)に示すP寸法までへん平化する場合は、へん平先
端金具11、12の電縫鋼管1の長手方向と直交する方
向長さはP/2となる。
長さ1mの検査対象物である電縫鋼管、2は電縫鋼管1
の溶接部、3、4は電縫鋼管1を磁化するための電極
で、電縫鋼管1は表面の油分を洗浄除去されたのち溶接
線Wを時計の12時方向にして長手方向を両端を電極
3、4間にセットされる。5、6は電縫鋼管1の長手方
向と直交する方向の水平対向位置に設けたへん平シリン
ダ7、8、へん平金具9、10、へん平先端金具11、
12からなるへん平化装置で、へん平シリンダ7、8を
操作してへん平金具9、10を押出し、電縫鋼管1を両
側からへん平金具9、10により押圧してへん平化す
る。この時のへん平化寸法は、へん平先端金具11、1
2を取替えることによって調整する。したがって、図1
(b)に示すP寸法までへん平化する場合は、へん平先
端金具11、12の電縫鋼管1の長手方向と直交する方
向長さはP/2となる。
【0015】13、14は電縫鋼管1の上方に電縫鋼管
1に沿って平行に配設したスクリュー軸、15、16は
スクリュー軸13、14を回転させるモータ、17はス
クリュー軸13の回転により電縫鋼管1に沿って平行に
移動自在の磁粉液散布装置で、電極3、4間にセットさ
れへん平化された電縫鋼管1に所定の電流値および定め
られた時間通電して磁化させたのち、モータ15を駆動
してスクリュー軸13を回転させて磁粉液散布装置17
を移動させ、電縫鋼管1の溶接部2全長に亘って定めら
れた濃度の磁粉液を散布するよう構成されている。
1に沿って平行に配設したスクリュー軸、15、16は
スクリュー軸13、14を回転させるモータ、17はス
クリュー軸13の回転により電縫鋼管1に沿って平行に
移動自在の磁粉液散布装置で、電極3、4間にセットさ
れへん平化された電縫鋼管1に所定の電流値および定め
られた時間通電して磁化させたのち、モータ15を駆動
してスクリュー軸13を回転させて磁粉液散布装置17
を移動させ、電縫鋼管1の溶接部2全長に亘って定めら
れた濃度の磁粉液を散布するよう構成されている。
【0016】18はスクリュー軸14の回転により電縫
鋼管1に沿って平行に移動自在のテレビカメラ、19、
20はテレビカメラ18と共にスクリュー軸14の回転
により電縫鋼管1に沿って平行に移動自在の紫外線ラン
プで、紫外線ランプ19、20から紫外線を照射しつ
つ、モータ16を駆動してスクリュー軸14を回転させ
てテレビカメラ18および紫外線ランプ19、20を移
動させ、電縫鋼管1の溶接部2全長をテレビカメラ18
によって撮影するよう構成されている。21はテレビカ
メラ18で撮像されA/D変換器22で変換された画像
を映し出すテレビモニタ、23はA/D変換器22で変
換された画像信号の信号処理装置で、A/D変換器22
で変換されテレビモニタ21に表示された生画像から検
査領域であるウインドウを座標によって指定する検査領
域設定部24、検査領域の画像をその輝度によって2値
化する2値化処理部25、2値化された画像から電縫鋼
管1の溶接部2の欠陥判定を行う欠陥判定部26および
欠陥判定部26で欠陥と判定された溶接欠陥を集計する
欠陥計数部27からなる。28は検査領域、しきい値お
よびr値を検査領域設定部24、2値化処理部25およ
び欠陥判定部26に入力設定するための操作卓、29は
欠陥計数部27で計測した欠陥数を出力するプリンター
である。
鋼管1に沿って平行に移動自在のテレビカメラ、19、
20はテレビカメラ18と共にスクリュー軸14の回転
により電縫鋼管1に沿って平行に移動自在の紫外線ラン
プで、紫外線ランプ19、20から紫外線を照射しつ
つ、モータ16を駆動してスクリュー軸14を回転させ
てテレビカメラ18および紫外線ランプ19、20を移
動させ、電縫鋼管1の溶接部2全長をテレビカメラ18
によって撮影するよう構成されている。21はテレビカ
メラ18で撮像されA/D変換器22で変換された画像
を映し出すテレビモニタ、23はA/D変換器22で変
換された画像信号の信号処理装置で、A/D変換器22
で変換されテレビモニタ21に表示された生画像から検
査領域であるウインドウを座標によって指定する検査領
域設定部24、検査領域の画像をその輝度によって2値
化する2値化処理部25、2値化された画像から電縫鋼
管1の溶接部2の欠陥判定を行う欠陥判定部26および
欠陥判定部26で欠陥と判定された溶接欠陥を集計する
欠陥計数部27からなる。28は検査領域、しきい値お
よびr値を検査領域設定部24、2値化処理部25およ
び欠陥判定部26に入力設定するための操作卓、29は
欠陥計数部27で計測した欠陥数を出力するプリンター
である。
【0017】電縫鋼管1の溶接部2の欠陥を検出する場
合は、電縫鋼管1を磁化させるに先立ち、へん平シリン
ダ7、8を操作して図1(b)に示すようにへん平金具
9、10を押出し、電縫鋼管1を両側からへん平金具
9、10により押圧し、電縫鋼管1の外径Dの80〜9
0%にへん平化させたのち、へん平シリンダ7、8を操
作してへん平金具9、10を図1(c)に示すように後
退させる。電縫鋼管1の溶接部2の欠陥は、このへん平
化処理によってより大きくなる。ついで、電極3、4間
に所定の磁化電流を所定時間通電して電縫鋼管1を磁化
させる。しかるのち、モータ15を駆動して磁粉液散布
装置17を磁化させた電縫鋼管1に沿って移動させ、電
縫鋼管1の溶接部2全長に亘って定められた濃度の磁粉
液を散布する。磁化させた電縫鋼管1の溶接部2全長に
亘って散布された磁粉液は、溶接部2表面の溶接線Wに
溶接欠陥がある場合には、そこから磁束が漏れるため、
磁粉液が他の部分より多量に付着する。また、磁粉液
は、塊となったり、製品としては問題とされない程度の
材料表面疵部分にも他の部分より多量に付着する。
合は、電縫鋼管1を磁化させるに先立ち、へん平シリン
ダ7、8を操作して図1(b)に示すようにへん平金具
9、10を押出し、電縫鋼管1を両側からへん平金具
9、10により押圧し、電縫鋼管1の外径Dの80〜9
0%にへん平化させたのち、へん平シリンダ7、8を操
作してへん平金具9、10を図1(c)に示すように後
退させる。電縫鋼管1の溶接部2の欠陥は、このへん平
化処理によってより大きくなる。ついで、電極3、4間
に所定の磁化電流を所定時間通電して電縫鋼管1を磁化
させる。しかるのち、モータ15を駆動して磁粉液散布
装置17を磁化させた電縫鋼管1に沿って移動させ、電
縫鋼管1の溶接部2全長に亘って定められた濃度の磁粉
液を散布する。磁化させた電縫鋼管1の溶接部2全長に
亘って散布された磁粉液は、溶接部2表面の溶接線Wに
溶接欠陥がある場合には、そこから磁束が漏れるため、
磁粉液が他の部分より多量に付着する。また、磁粉液
は、塊となったり、製品としては問題とされない程度の
材料表面疵部分にも他の部分より多量に付着する。
【0018】次いでモータ16を駆動して紫外線ランプ
19、20で照射しつつテレビカメラ18を電縫鋼管1
に沿って移動させ、電縫鋼管1の溶接部2を含む全長を
撮影する。電縫鋼管1の溶接部2は、紫外線ランプ1
9、20で照射すると、溶接欠陥や磁粉の塊ならび製品
としては問題とされない程度の材料表面疵部分は他の部
分より明るく現れ、また、溶接線Wはモニタテレビ21
の生画像に薄いが他の部分より若干明るく現れる。テレ
ビカメラ18で撮影された画像信号は、A/D変換器2
2で変換されたのち信号処理装置23に出力される。信
号処理装置23は、A/D変換器22から入力される画
像信号に対して所定の処理を行い、電縫鋼管1の溶接部
2の溶接欠陥の有無を判定する。
19、20で照射しつつテレビカメラ18を電縫鋼管1
に沿って移動させ、電縫鋼管1の溶接部2を含む全長を
撮影する。電縫鋼管1の溶接部2は、紫外線ランプ1
9、20で照射すると、溶接欠陥や磁粉の塊ならび製品
としては問題とされない程度の材料表面疵部分は他の部
分より明るく現れ、また、溶接線Wはモニタテレビ21
の生画像に薄いが他の部分より若干明るく現れる。テレ
ビカメラ18で撮影された画像信号は、A/D変換器2
2で変換されたのち信号処理装置23に出力される。信
号処理装置23は、A/D変換器22から入力される画
像信号に対して所定の処理を行い、電縫鋼管1の溶接部
2の溶接欠陥の有無を判定する。
【0019】信号処理装置23は、検査領域設定部24
に予め入力設定されている検査領域の4点の座標
(X1、Y1)、(X2、Y2)、(X3、Y3)、(X4、
Y4)と、A/D変換器22から入力される所定の周期
で量子化され、各画素のデジタル化された輝度に基づい
て電縫鋼管1の管軸方向の各画素ラインの平均輝度を算
出し、溶接線W検出のための第1のしきい値によって2
値化処理し、溶接線Wの画素ラインを特定し、溶接線W
の上下に検査領域であるウインドウを撮影領域中に4点
の座標(X1、Y1)、(X2、Y2)、(X3、Y3)、
(X4、Y4)で設定する。
に予め入力設定されている検査領域の4点の座標
(X1、Y1)、(X2、Y2)、(X3、Y3)、(X4、
Y4)と、A/D変換器22から入力される所定の周期
で量子化され、各画素のデジタル化された輝度に基づい
て電縫鋼管1の管軸方向の各画素ラインの平均輝度を算
出し、溶接線W検出のための第1のしきい値によって2
値化処理し、溶接線Wの画素ラインを特定し、溶接線W
の上下に検査領域であるウインドウを撮影領域中に4点
の座標(X1、Y1)、(X2、Y2)、(X3、Y3)、
(X4、Y4)で設定する。
【0020】ついで信号処理装置23は、前記により設
定された検査領域、すなわちウインドウ内の画素毎の輝
度を予め入力設定されている溶接欠陥検出のための第2
のしきい値によって2値化処理部25で2値化する。前
記2値化によって溶接線Wを中心とするウインドウ内に
は、溶接線W上のペネトレータ欠陥のほかに磁粉の塊や
製品としては問題とされない程度の材料表面疵による磁
粉の溜まりのノイズ画像が存在する。ペネトレータ欠陥
は、溶接線W方向に細長く、磁粉の塊や磁粉の溜まりの
ノイズは、丸くなる傾向を示すので、弁別のため溶接線
W方向、すなわち横寸法に対する縦寸法の比(r)を、
欠陥判定部26でr=(縦長さ)/(横長さ)により算
出し、予め入力設定されている基準値、例えばr=0.
5と比較し、r≦0.5を選別することによって、磁粉
の塊や磁粉の溜まりのノイズが除去され、ペネトレータ
欠陥のみを取出すことができる。取出されたペネトレー
タ欠陥は、欠陥計数部27でその個数と欠陥長さの総和
寸法が演算され、プリンター29に出力される。
定された検査領域、すなわちウインドウ内の画素毎の輝
度を予め入力設定されている溶接欠陥検出のための第2
のしきい値によって2値化処理部25で2値化する。前
記2値化によって溶接線Wを中心とするウインドウ内に
は、溶接線W上のペネトレータ欠陥のほかに磁粉の塊や
製品としては問題とされない程度の材料表面疵による磁
粉の溜まりのノイズ画像が存在する。ペネトレータ欠陥
は、溶接線W方向に細長く、磁粉の塊や磁粉の溜まりの
ノイズは、丸くなる傾向を示すので、弁別のため溶接線
W方向、すなわち横寸法に対する縦寸法の比(r)を、
欠陥判定部26でr=(縦長さ)/(横長さ)により算
出し、予め入力設定されている基準値、例えばr=0.
5と比較し、r≦0.5を選別することによって、磁粉
の塊や磁粉の溜まりのノイズが除去され、ペネトレータ
欠陥のみを取出すことができる。取出されたペネトレー
タ欠陥は、欠陥計数部27でその個数と欠陥長さの総和
寸法が演算され、プリンター29に出力される。
【0021】実施例2 前記実施例1の磁粉探傷装置を用い、外径31.8m
m、肉厚2.0mm、長さ1mの炭素鋼電縫鋼管につい
て、磁化前にへん平化処理した場合とへん平化処理しな
かった場合のそれぞれについた、直流電流2000Aで
5秒間磁化したのち、粒子径1〜2μmの蛍光磁粉液を
散布して付着させ、テレビカメラの倍率10倍で、ペネ
トレータ欠陥とノイズとの判別は、横寸法に対する縦寸
法の比r≦0.5で実施し、ペネトレータ欠陥の検出能
を比較した。その結果を図4に示す。なお、図4の横軸
の欠陥長さは、図3に示す溶接線W方向の長さLで、縦
軸の欠陥深さは、図3に示す電縫鋼管表面からの深さD
eで、ミクロ顕微鏡写真により測定したものである。
m、肉厚2.0mm、長さ1mの炭素鋼電縫鋼管につい
て、磁化前にへん平化処理した場合とへん平化処理しな
かった場合のそれぞれについた、直流電流2000Aで
5秒間磁化したのち、粒子径1〜2μmの蛍光磁粉液を
散布して付着させ、テレビカメラの倍率10倍で、ペネ
トレータ欠陥とノイズとの判別は、横寸法に対する縦寸
法の比r≦0.5で実施し、ペネトレータ欠陥の検出能
を比較した。その結果を図4に示す。なお、図4の横軸
の欠陥長さは、図3に示す溶接線W方向の長さLで、縦
軸の欠陥深さは、図3に示す電縫鋼管表面からの深さD
eで、ミクロ顕微鏡写真により測定したものである。
【0022】図4に示すとおり、磁化前にへん平化処理
した場合は、ペネトレータ欠陥の検出限界は欠陥長さ
0.1mmの場合、欠陥深さ0.1mm、欠陥長さ0.
6mmの場合、欠陥深さ1.2mmまで可能であるのに
対し、磁化前にへん平化処理しなかった場合は、欠陥長
さ0.35mmが限界で、それ以下の微小な欠陥は、表
面疵であっても検出できず、欠陥長さ0.6mmの場合
で、欠陥深さ約0.7mmが限度であった。すなわち、
ペネトレータ欠陥の検出能は、へん平化処理しなかった
場合の検出可能限界の欠陥長さ0.35mm、欠陥深さ
約0.7mmに対し、へん平化処理することによって、
検出可能限界が欠陥長さ0.1mm、欠陥深さ1.2m
mと大幅に向上している。
した場合は、ペネトレータ欠陥の検出限界は欠陥長さ
0.1mmの場合、欠陥深さ0.1mm、欠陥長さ0.
6mmの場合、欠陥深さ1.2mmまで可能であるのに
対し、磁化前にへん平化処理しなかった場合は、欠陥長
さ0.35mmが限界で、それ以下の微小な欠陥は、表
面疵であっても検出できず、欠陥長さ0.6mmの場合
で、欠陥深さ約0.7mmが限度であった。すなわち、
ペネトレータ欠陥の検出能は、へん平化処理しなかった
場合の検出可能限界の欠陥長さ0.35mm、欠陥深さ
約0.7mmに対し、へん平化処理することによって、
検出可能限界が欠陥長さ0.1mm、欠陥深さ1.2m
mと大幅に向上している。
【0023】
【発明の効果】この発明の磁粉探傷装置は、検査対象物
を磁化するに先立ち、へん平化手段によって欠陥が広が
る方向にへん平化処理すると共に、ノイズによる磁粉模
様を自動的に除去することによって、磁粉探傷の検出能
を大幅に向上することができる。
を磁化するに先立ち、へん平化手段によって欠陥が広が
る方向にへん平化処理すると共に、ノイズによる磁粉模
様を自動的に除去することによって、磁粉探傷の検出能
を大幅に向上することができる。
【図1】この発明の磁粉探傷装置のへん平化装置による
へん平化動作を示すもので、(a)図はへん平化前、
(b)図はへん平化時、(c)図はへん平化完了後の磁
粉探傷時の模式図である。この発明の磁粉探傷装置の全
体構成説明図である。
へん平化動作を示すもので、(a)図はへん平化前、
(b)図はへん平化時、(c)図はへん平化完了後の磁
粉探傷時の模式図である。この発明の磁粉探傷装置の全
体構成説明図である。
【図2】この発明の磁粉探傷装置の全体構成説明図であ
る。
る。
【図3】実施例2における電縫鋼管溶接部の欠陥長さと
欠陥深さの説明のための一部切り欠き斜視図である。
欠陥深さの説明のための一部切り欠き斜視図である。
【図4】実施例2における磁化前のへん平化処理の有無
によるペネトレータ欠陥検出能(欠陥長さと欠陥深さ)
の比較を示すグラフである。
によるペネトレータ欠陥検出能(欠陥長さと欠陥深さ)
の比較を示すグラフである。
【図5】2値化後の画像データの一例図である。
【図6】2値化後の画像データのペネトレータ欠陥と磁
粉の塊および磁粉の溜まりと縦横寸法分布との関係を示
すグラフである。
粉の塊および磁粉の溜まりと縦横寸法分布との関係を示
すグラフである。
【図7】従来の電縫鋼管溶接部のへん平試験の説明図
で、(a)図はへん平化前、(b)図はへん平化後を示
す。
で、(a)図はへん平化前、(b)図はへん平化後を示
す。
1、71 電縫鋼管 2、51 溶接部 3、4 電極 5、6 へん平化装置 7、8 へん平シリンダ 9、10 へん平金具 11、12 へん平先端金具 13、14 スクリュー軸 15、16 モータ 17 磁粉液散布装置 18 テレビカメラ 19、20 紫外線ランプ 21 テレビモニタ 22 A/D変換器 23 信号処理装置 24 検査領域設定部 25 2値化処理部 26 欠陥判定部 27 欠陥計数部 28 操作卓 29 プリンター 72 電縫溶接部 73 平板 W 溶接線 F1、F2 ペネトレータ欠陥 M1 磁粉の塊 M2、M3、M4 磁粉の溜まり L 欠陥長さ De 欠陥深さ
Claims (2)
- 【請求項1】 検査対象物を磁化する手段と、磁化させ
た検査対象物の表面に磁粉液を付着させる手段と、検査
対象物表面に光を照射する手段と、該手段により照射さ
れた部分を撮像するテレビカメラと、テレビカメラによ
り得られた検査対象物表面の画像データを2値化して解
析し、検査対象物の欠陥を判定する手段とからなる磁粉
探傷装置において、検査対象物を磁化するに先立ち、検
査対象物の欠陥が広がる方向にへん平化するへん平化手
段を有することを特徴とする自動磁粉探傷装置。 - 【請求項2】 検査対象物を磁化する手段と、磁化させ
た検査対象物の表面に磁粉液を付着させる手段と、検査
対象物表面に光を照射する手段と、該手段により照射さ
れた部分を撮像するテレビカメラと、テレビカメラによ
り得られた検査対象物表面の画像データを2値化して解
析し検査対象物の欠陥を判定する手段とからなる磁粉探
傷装置において、検査対象物を磁化するに先立ち、検査
対象物の欠陥が広がる方向にへん平化するへん平化手段
と、テレビカメラにより得られた検査対象物表面の画像
データから検査領域を設定し、その領域内画像データを
予め定めたしきい値により2値化画像とし、その2値化
画像の(縦長さ)/(横長さ)を算出し、その算出値が
基準値より小さいときのみ欠陥と判定する欠陥判定手段
とを有することを特徴とする自動磁粉探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08067208A JP3077793B2 (ja) | 1996-02-27 | 1996-02-27 | 自動磁粉探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08067208A JP3077793B2 (ja) | 1996-02-27 | 1996-02-27 | 自動磁粉探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09229876A true JPH09229876A (ja) | 1997-09-05 |
| JP3077793B2 JP3077793B2 (ja) | 2000-08-14 |
Family
ID=13338270
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08067208A Expired - Fee Related JP3077793B2 (ja) | 1996-02-27 | 1996-02-27 | 自動磁粉探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3077793B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008061892A (ja) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | Tokyo Univ Of Science | 表皮組織定量化装置及びプログラム |
| CN103698392A (zh) * | 2013-12-09 | 2014-04-02 | 眉山南车紧固件科技有限公司 | 拉铆钉群磁群化探伤方法及装置 |
| JP2014092407A (ja) * | 2012-11-01 | 2014-05-19 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 溶接検査装置及び溶接検査方法 |
| WO2017164338A1 (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | マークテック株式会社 | 探傷装置、及び探傷装置による欠陥検出方法 |
| JP2021131260A (ja) * | 2020-02-18 | 2021-09-09 | 日鉄テックスエンジ株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム |
| WO2025177667A1 (ja) * | 2024-02-20 | 2025-08-28 | Jfeスチール株式会社 | 電縫鋼管、ラインパイプおよび電縫鋼管の製造方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009019887A (ja) * | 2007-07-10 | 2009-01-29 | Nippon Steel Corp | 電縫鋼管の溶接部欠陥の検査方法と装置 |
-
1996
- 1996-02-27 JP JP08067208A patent/JP3077793B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008061892A (ja) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | Tokyo Univ Of Science | 表皮組織定量化装置及びプログラム |
| JP2014092407A (ja) * | 2012-11-01 | 2014-05-19 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 溶接検査装置及び溶接検査方法 |
| CN103698392A (zh) * | 2013-12-09 | 2014-04-02 | 眉山南车紧固件科技有限公司 | 拉铆钉群磁群化探伤方法及装置 |
| WO2017164338A1 (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | マークテック株式会社 | 探傷装置、及び探傷装置による欠陥検出方法 |
| JP2017173251A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | マークテック株式会社 | 探傷装置、及び探傷装置による欠陥検出方法 |
| JP2021131260A (ja) * | 2020-02-18 | 2021-09-09 | 日鉄テックスエンジ株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム |
| WO2025177667A1 (ja) * | 2024-02-20 | 2025-08-28 | Jfeスチール株式会社 | 電縫鋼管、ラインパイプおよび電縫鋼管の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3077793B2 (ja) | 2000-08-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO2003093761A1 (fr) | Procede et instrument de mesure de la forme de coupe du manchon de verre d'un tube electrique soude | |
| CN102680494B (zh) | 基于机器视觉的抛光金属弧状面瑕疵实时检测方法 | |
| CN111521626A (zh) | 一种压力管道焊接质量的x射线检测方法 | |
| WO2000060344A1 (fr) | Procede et appareil d'essai non destructif | |
| JP3077793B2 (ja) | 自動磁粉探傷装置 | |
| JP3361768B2 (ja) | 蛍光x線分析装置およびx線照射位置確認方法 | |
| JP2007017377A (ja) | 蛍光探傷装置および蛍光探傷方法 | |
| JP7132894B2 (ja) | 磁粉探傷装置、及び磁粉探傷方法 | |
| JP2000258398A (ja) | 欠陥検査方法,欠陥検査装置及び欠陥検査支援方法 | |
| JP3440569B2 (ja) | 磁粉探傷方法及びその装置 | |
| JPH08184580A (ja) | 電縫鋼管溶接部の自動磁粉探傷装置 | |
| JPH05180781A (ja) | 表面欠陥検査方法及び装置 | |
| JP2001021332A (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
| JP2004138417A (ja) | 鋼板の疵検査方法およびその装置 | |
| JP2877776B2 (ja) | 金属部材の両面突合せ溶接部のオフシーム量計測方法及び装置 | |
| JPH0477843B2 (ja) | ||
| Aoki et al. | Intelligent image processing for abstraction and discrimination of defect image in radiographic film | |
| JP3435224B2 (ja) | 非金属介在物の検査装置 | |
| JPH0731131B2 (ja) | 周期性パタ−ンの斑検査方法 | |
| JPH0337564A (ja) | 自動磁粉探傷装置 | |
| JP2004061310A (ja) | アルミニウム押出形材の外観検査装置及び外観検査方法 | |
| JP2909756B2 (ja) | 非金属介在物検査方法及び非金属介在物検査装置 | |
| JPH06294748A (ja) | Uo鋼管の溶接部表面疵検査方法 | |
| JP4121628B2 (ja) | 画面検査方法及びその装置 | |
| JPH02186247A (ja) | 光学検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |