JPH09231749A - 電圧供給回路 - Google Patents
電圧供給回路Info
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- JPH09231749A JPH09231749A JP8034877A JP3487796A JPH09231749A JP H09231749 A JPH09231749 A JP H09231749A JP 8034877 A JP8034877 A JP 8034877A JP 3487796 A JP3487796 A JP 3487796A JP H09231749 A JPH09231749 A JP H09231749A
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Abstract
を制限できる電圧供給回路を実現する。 【解決手段】 電圧供給回路を内部メモリ用VPP電圧
供給回路50とアウトプット部用VPPO電圧供給回路
51とに分割し、VPPO電圧供給回路51にデータ変
化によるポンプ回路30を設け、データ変化が検出され
たときのみに、それを示すデータ変化信号YDTD,C
DTDをVPPO制御回路20に出力し、ポンピングを
制御する発振信号VPROSC1,VPROSC2を発
生し、VPPOハイパワーポンプ23,24に出力し、
これらのポンピング回路によって高電圧のVPPO電圧
を発生し、データアウトプットドライバに供給するの
で、データの変化が検出されたときのみにデータ出力部
にVPPO電圧を供給し、無駄な電力の消費が抑えられ
る。
Description
記憶装置などに適用される電圧供給回路に関するもので
ある。
消費電力化が進み、画像処理に利用されるケースが増え
て来ている。図6はDRAMによって構成されたフィル
ードメモリ80の概念を示す図である。フィルードメモ
リはテレビジョン信号等の画像信号を1フィルード/1
フレーム単位で蓄積したり、遅延させたりするための画
像信号処理用メモリである。
フレームの画像信号がフィルードメモリ80に蓄積さ
れ、一定の遅延時間後出力される。このようなフィルー
ドメモリ80には高速なサンプリング周波数に対応する
サイクルおよびアクセス時間が要求され、また、画像デ
ータのリアルタイム処理が可能な非同期リード/ライト
が必要であり、さらに画像データを複数個蓄積するため
の大容量が求められている。
図である。図7において、60はメモリアレイ、61は
書き込み(ライト)用アドレスポインタ、62はライト
用データレジスタ、63は読み出し(リード)用アドレ
スポインタ、64はリード用データレジスタ、65はラ
イト/リード/リフレッシュ制御回路、66はリフレッ
シュタイマをそれぞれ示している。
るためにメモリアレイ60は高集積度のDRAMによっ
て構成されている。また、データの入出力部には高速な
サンプリング周波数に追従し、非同期リード/ライト動
作が可能なように、入力部と出力部とが分離され、それ
ぞれにデータレジスタが設けられている。さらに、自動
的に行アドレスを発生してリフレッシュを行うリフレッ
シュ動作およびライト/リード動作を制御するためのラ
イト/リード/リフレッシュ制御回路65が設けられて
いる。また、リフレッシュのタイミングを制御するため
のリフレッシュタイマも設けられている。
基本動作としては、ライト系およびリード系がそれぞれ
独立したクロック信号、イネーブル信号により制御さ
れ、ライト用データレジスタ62およびリード用データ
レジスタ63とメモリアレイ60との間のデータの転送
が、内部で自動制御されている。
60のワード線、周辺回路のアウトプットドライバ(出
力系駆動回路)などのゲート電圧昇圧用高電圧VPPを
発生するために、VPP電圧供給回路が設けられてい
る。図8はVPP電圧供給回路50aの構成を示すブロ
ック図である。図8において、10はVPPレベルセン
サ、11はVPP制御回路、12はVPPスタンバイポ
ンプ、13はVPPハイパワーポンプ、14はATD
(Address Transition Detection)ポンプ、15はDF
T(Design For Test)ポンプ、16はVPPクランパ/
リミッタ(Clamper/Limiter) 、100はVPP電圧出力
端子をそれぞれ示している。
0はVPP電圧出力端子100からフィードバックされ
たVPP電圧を受け、VPP電圧のレベルに応じてVP
P制御回路11に制御信号VPCを出力する。VPP制
御回路11はVPPレベルセンサ10からの制御信号V
PCおよび外部回路からのVPP制御信号を受け、これ
らの信号に応じてVPPスタンバイポンプ12、VPP
ハイパワーポンプ13、ATDポンプ14、DFTポン
プ15およびVPPクランパ/リミッタ16にそれぞれ
オン/オフ制御信号を出力する。
路11がスタンバイポンプ12にアクティブなオン/オ
フ制御信号を出力し、スタンバイポンプ12にVPP電
圧を発生させる。そして、スタンバイポンプ12によっ
て発生されたVPP電圧がVPP電圧出力端子100に
出力される。
御回路11がハイパワーポンプ13にアクティブなオン
/オフ制御信号を出力し、VPPハイパワーポンプ13
を動作させ、VPP電圧を発生させ、VPP電圧出力端
子100に出力する。
制御回路11がATDポンプ14にアクティブなオン/
オフ制御信号を出力し、ATDポンプ14を動作させ、
VPP電圧を発生させる。
DFTポンプ15にアクティブなオン/オフ制御信号を
出力し、DFTポンプ15を動作させ、VPP電圧を発
生させる。
されたVPP電圧が所定の電圧値を越えた場合、VPP
制御回路11がVPPクランパ/リミッタ16にアクテ
ィブな制御信号を出力し、VPPクランパ/リミッタ1
6が動作し、VPP電圧出力端子100に出力されたV
PP電圧が所定の範囲内に制御される。また、テストモ
ードなどのときに、VPPクランパ/リミッタ16によ
って、VPP電圧は電源電圧にクランプされる。
ってVPP電圧出力端子100に出力されたVPP電圧
が常に検出され、VPP電圧が低くなったとき、VPP
電圧供給回路50aのポンピング動作を強めるための制
御信号VPCがVPP制御回路11に出力される。
来のVPP電圧供給回路50aにおいては、アウトプッ
トドライバ用のポンプ回路として、ATDポンプ14が
設けられている。ATDポンプ14はページモード、S
CD(Static Column Decoder) モード時にアドレス変化
検出信号を受け動作する。この場合、アドレスの変化に
対して、データも変化することが前提となっているが、
実際の場合、アドレスが変化する場合、データが変化す
るかしないかが分からない。同じデータが長く連続する
場合も考えられる。同じデータが続いた場合、アウトプ
ットドライバは動作しないので、VPP電圧供給回路が
ポンプする必要がない。したがって、ATDポンプ14
における制御方法では無駄な電力を消費してしまうとい
う問題がある。
せずに、VPPレベルの検出のみに依存する方法もある
が、レベル検出回路は潜在的に過渡特性が良くないの
で、VPP電圧の変動を低減するための平滑化コンデン
サ容量を大きくしなければならず、ICチップ面積を増
大させてしまうという問題点がある。
のであり、その目的は、消費電力を低減でき、ICチッ
プ面積の増大を制限できる電圧供給回路を提供すること
にある。
め、本発明の電圧供給回路は、データ出力系にデータ出
力用駆動電圧を供給する電圧供給回路であって、上記デ
ータ出力系への入力データの変化の有無を検出し、デー
タの変化があった場合にデータ変化検出信号を出力する
データ変化検出手段と、上記データ変化検出信号を受け
て、上記データ出力系へのデータ出力用駆動電圧を発生
し、当該データ出力系に供給する電圧発生手段とを有す
る。
段は、各データを構成するビット毎にその変化の有無を
検出して上記データ変化検出信号を出力する。
手段は、データを構成するビット中の変化したデータビ
ットの数に対応した内容の上記データ変化検出信号を出
力し、上記電圧発生手段は、上記データ変化検出信号の
内容に対応したレベルの電圧を発生する。
タの変化の有無を検出するデータ変化検出手段が設けら
れ、当該データ変化検出手段によってデータ出力系に入
力されたデータの変化があったとき、それに応じたデー
タ変化検出信号が生成され、出力される。
変化検出信号に応じて電圧が発生され、データ出力系の
駆動回路に供給される。その結果、データ出力部では、
出力データに変化があるときのみデータ出力駆動回路に
電圧が供給され、それ以外のとき電圧が供給されず、デ
ータ出力部の消費電力の低減が図れる。さらに、発生さ
れた電圧のレベル変動が少ないので、平滑用コンデンサ
の容量を小さくて済み、ICチップのサイズの増加を抑
制できる。
するビット数に応じた内容のデータ変化検出信号が生成
され、当該データ変化検出信号のレベルに応じたレベル
の電圧が電圧発生手段によって発生されるので、データ
変化のあったビット数に応じて電荷のチャージ量が調整
され、消費電力がさらに低減できる。
示す概念図である。図1において、10aはVPPレベ
ルセンサ(VPS)、11aはVPP制御回路(VPP
CTL)、12aはVPPスタンバイポンプ(VPSP
MP)、13aはVPPハイパワーポンプ(VPHPM
P)、15aはVPP緊急時ポンプ(VPEMPM
P)、16aはVPPクランパ/リミッタ(VPPCL
AMP)、10bはVPPOレベルセンサ(VPO
S)、12bはVPPOスタンバイポンプ(VPOSP
MP)、16bはVPPOクランパ/リミッタ(VPO
CLAMP)、17はVPPOイネーブル制御回路、1
8はYデータ変化検出回路(VPYDTD)、19はC
データ変化検出回路(VPCDTD)、20はVPPO
制御回路(VPROSC)、21,22はVPPO緊急
時ポンプ(VPOEYPMP,VPOECPMP)、2
3,24はVPPOハイパワーポンプ(VPOHPMP
−1,VPOHPMP−2)、30はデータ変化による
ポンプ回路、50はVPP電圧供給回路、51はVPP
O電圧供給回路、100はVPP電圧出力端子、101
はVPPO電圧出力端子をそれぞれ示している。
回路はVPP電圧供給回路50とVPPO電圧供給回路
51の二つによって構成されている。フィルードメモリ
の場合、内部メモリ部とリードクロック信号によって制
御されたデータ出力部は、非同期動作するので、ノイズ
の相互干渉を防ぐため、メモリ部専用VPP電圧とアウ
トプットドライバ(出力駆動回路)専用のVPPO電圧
はそれぞれVPP電圧供給回路50およびVPPO電圧
供給回路51によって発生される。そしてVPPO電圧
供給回路51の中にデータ変化に応じて昇圧電圧を得る
チャージポンプ回路30が設けられ、このチャージポン
プ回路30がデータの変化を検出し、データが変化した
ときのみにVPPO電圧を発生するようにそのポンピン
グ回路を動作させ、VPPO電圧を発生させてVPPO
電圧出力端子101に出力する。
プ回路30はYデータ変化検出回路18、Cデータ変化
検出回路19、VPPO制御回路20およびVPPOハ
イパワーポンプ23,24によって構成されている。Y
データ変化検出回路18は画像データの中のYデータの
変化を検出し、Yデータの変化が検出されたとき、VP
PO制御回路20にYデータ変化信号YDTDを出力す
る。Cデータ変化検出回路19は画像データの中のCデ
ータの変化を検出し、Cデータの変化が検出されたと
き、VPPO制御回路20にCデータ変化信号CDTD
を出力する。VPPO制御回路20はVPPOレベルセ
ンサ10bからの制御信号VPOCおよびYデータ変化
検出回路18からのYデータ変化信号YDTDとCデー
タ変化検出回路19からのCデータ変化信号CDTDを
受け、これらの制御信号に応じてVPPOハイパワーポ
ンプ23,24にポンピングを制御する発振信号VPR
OSC1,VPROSC2をそれぞれ出力する。
PPO制御回路20からのポンピングを制御する発振信
号VPROSC1,VPROSC2およびVPP制御回
路11aからのオン/オフ制御信号VPHPENを受
け、これらの制御信号に応じてポンピング動作を行い、
VPPO電圧を発生し、VPPO電圧出力端子101に
出力する。
ンサ10a、VPP制御回路11a、VPPスタンバイ
ポンプ12a、VPPクランパ/リミッタ16a、VP
Pハイパワーポンプ13aおよびVPP緊急時ポンプ1
5aによって構成されている。
クされたVPP電圧出力端子100のVPP電圧を受
け、VPP電圧レベルに応じてVPP制御回路11aに
制御信号VPCを出力する。VPP制御回路11aはV
PPレベルセンサ10aからの制御信号VPCを受け、
それに応じてVPPスタンバイポンプ12a、VPPク
ランパ/リミッタ16a、VPPハイパワーポンプ13
aおよびVPP緊急時ポンプ15aにそれぞれオン/オ
フ制御信号VPSEN,VPCLMP,VPHPENお
よびVPEMENを出力する。
路11aはアクティブなオン/オフ制御信号VPSEN
をVPPスタンバイポンプ12aに出力し、メモリアク
ティブ時に、VPP制御回路11aはアクティブなオン
/オフ制御信号VPHPENをVPPハイパワーポンプ
13aに出力し、緊急時にVPP制御回路11aはアク
ティブなオン/オフ制御信号VPEMENをVPP緊急
時ポンプ15aに出力する。また、VPP電圧出力端子
100に出力されたVPP電圧のレベルが所定の電圧値
を越えた場合、VPP制御回路11aはVPPクランパ
/リミッタ16aにアクティブなオン/オフ制御信号V
PCLMPを出力し、VPPクランパ/リミッタ16a
を動作させ、ポンピング回路によって出力されたVPP
電圧のレベルを所定の範囲内に制限する。
御回路11aからアクティブなオン/オフ制御信号VP
SENを受けたときポンピング動作を行い、VPP電圧
を発生し、VPP電圧出力端子100に出力する。VP
Pハイパワーポンプ13aはVPP制御回路11aから
アクティブなオン/オフ制御信号VPHPENを受けた
ときポンピング動作を行い、VPP電圧を発生し、VP
P電圧出力端子100に出力する。VPP緊急時ポンプ
15aはVPP制御回路11aからアクティブなオン/
オフ制御信号VPEMENを受けたときポンピング動作
を行い、VPP電圧を発生し、VPP電圧出力端子10
0に出力する。VPPクランパ/リミッタ16aはVP
P制御回路11aからアクティブオン/オフ制御信号V
PCLMPを受けたとき、電圧クランパ/リミッタとし
て動作し、VPP電圧のレベルを所定の範囲内に制限す
る。
ルセンサ10b、VPPOイネーブル制御回路17、V
PPOスタンバイポンプ12b、VPPOクランパ/リ
ミッタ16b、VPPO緊急時ポンプ21,22および
データ変化によるポンプ回路30によって構成されてい
る。
ックされたVPPO電圧出力端子101のVPPO電圧
を受け、VPPO電圧レベルに応じて制御信号VPOC
を発生し、VPPOイネーブル制御回路17およびデー
タ変化によるポンプ回路30中のVPPO制御回路20
にそれぞれ出力する。
Oレベルセンサ10bからの制御信号VPOCを受け、
それに応じてポンピングを制御する発振信号VPOEY
OSC,VPOECOSCを発生し、VPPO緊急時ポ
ンプ21,22にそれぞれ出力する。
Oイネーブル制御回路17からポンピングを制御する発
振信号VPOEYOSC,VPOECOSCおよびVP
P制御回路11aからのオン/オフ制御信号VPOEE
Nを受け、これらの信号に応じてポンピング動作を行
い、VPPO電圧を発生し、VPPO電圧出力端子10
1に出力する。
PPO電圧供給回路の構成に基づき、本実施形態におけ
るこれらの回路の動作について説明する。VPP電圧供
給回路50において、VPPレベルセンサ10aによっ
てVPP電圧出力端子100に出力されたVPP電圧の
レベルが検出され、VPP電圧のレベルに応じて制御信
号VPCが発生され、VPP制御回路11aに入力され
る。
サ10aからの制御信号VPCを受け、この制御信号V
PCに応じてVPPスタンバイポンプ12a、VPPハ
イパワーポンプ13a、VPP緊急時ポンプ15aおよ
びVPPクランパ/リミッタ16aにそれぞれオン/オ
フ制御信号が出力される。
制御回路11aは外部回路からの制御信号RAS1,I
SYSE2などを受け、これらの制御信号に制御され
る。たとえば、システム初期化イネーブル信号ISYS
E2がアクティブ状態に設定されたとき、VPPレベル
センサ10aおよびVPP制御回路11aが初期化され
る。
イパワーポンプ13a、VPP緊急時ポンプ15aによ
って構成されたポンピング回路がVPP制御回路11a
からのオン/オフ制御信号によって制御され、それぞれ
の制御信号に応じて、所定のポンピング回路が動作し、
VPP電圧が発生され、VPP電圧出力端子100に出
力される。また、ポンピング回路によって発生されたV
PP電圧のレベルが所定値を越えたとき、VPP制御回
路11aからの制御信号VPCLMPによってVPPク
ランパ/リミッタ16aが動作し、VPP電圧のレベル
が所定の範囲内に制限される。なお、これらのポンピン
グ回路およびクランパ/リミッタは外部回路からの制御
信号VBHLOSCE2,RAS1などを受け、これら
の制御信号によってそれぞれの動作が制御される。
VPPOレベルセンサ10bによってVPPO電圧出力
端子101に出力されたVPPO電圧のレベルが検出さ
れ、VPPO電圧のレベルに応じてVPPO制御信号V
POCが発生され、VPPOイネーブル制御回路17お
よびVPPO制御回路20にそれぞれ入力される。
ポンピングを制御する発振信号VPOEYOSC,VP
OECOSCが発生され、それぞれVPPO緊急時ポン
プ21、22に出力される。そして、VPPO緊急時ポ
ンプ21、22がVPP制御回路11aからのオン/オ
フ制御信号VPOEENを受け、さらにVPPOイネー
ブル制御回路17からのポンピングを制御する発振信号
VPOEYOSC,VPOECOSCを受け、緊急時に
動作し、VPPO電圧が発生され、VPPO電圧出力端
子101に出力される。なお、VPPOイネーブル制御
回路17が外部回路からのクロック信号RCP,制御信
号ISYSE3などを受け、これらの制御信号によって
動作が制御される。たとえば、クロック信号RCPによ
って動作のタイミングが制御され、システム初期化イネ
ーブル信号ISYSE3がアクティブ状態に設定された
とき初期化される。
は、Yデータ変化検出回路18およびCデータ変化検出
回路19によって、データを構成する二種類の信号、す
なわち、YデータおよびCデータの変化が検出され、こ
れらのデータの変化が検出されたとき、それぞれのデー
タの変化を示すYデータ変化信号YDTDとCデータ変
化信号CDTDが発生され、VPPO制御回路20に入
力される。
レベルセンサ10bおよびYデータ変化検出回路18、
Cデータ変化検出回路19からの制御信号に応じてポン
ピングを制御する発振信号VPROSC1,VPROS
C2が発生され、VPPOハイパワーポンプ23、24
にそれぞれ入力される。なお、VPPO制御回路20は
回路からのクロック信号RCPおよび制御信号ISYS
E3によって、動作が制御される。たとえば、クロック
信号RCPによって、動作がタイミングが制御され、シ
ステム初期化イネーブル信号ISYSE3がアクティブ
状態に設定されたとき初期化される。
って、VPPO制御回路20からのポンピングを制御す
る発振信号VPROSC1,VPROSC2およびVP
P制御回路11aからのオン/オフ制御信号VPHPE
Nに応じて、VPPO電圧が発生され、VPPO電圧出
力端子101に出力される。
およびVPPO電圧供給回路51によって、VPP電圧
およびVPPO電圧がそれぞれ発生され、VPP電圧出
力端子100およびVPPO電圧出力端子101に出力
される。さらに、VPPO電圧供給回路51の中にデー
タ変化によるポンプ回路30が設けられ、データの変化
が検出されたときのみに、VPPO電圧を発生するポン
ピング回路23、24が動作し、VPPO電圧が発生さ
れ、出力される。この結果、データの変化に応じてVP
POが発生され、データのアウトプット部にVPPO電
圧が供給されるので、データのアウトプットドライバな
どの出力部に無駄な電力の消費が抑えられる。
出回路(VPYDTD)18、Cデータ変化検出回路
(VPCDTD)19およびVPPO制御回路(VPR
OSC)20の構成を示す回路図である。図2におい
て、YCMP0〜YCMP7、CCMP0〜CCMP7
はエクスクルーシブ・オア(Ex.OR)回路によって
構成された比較回路、YDLY0〜YDLY7、CDL
Y0〜CDLY7はDフリップフロップによって構成さ
れた遅延回路、ORGはオア回路、TFFはTフリップ
フロップをそれぞれ示している。
いては、データがYデータとCデータの属性の異なる2
種類の信号から構成され、それぞれのデータが8ビット
を有する。さらに、8ビットのYデータはYデータ変化
検出回路18の入力端子YDO_0〜YDO_7に入力
され、8ビットのCデータはCデータ変化検出回路19
の入力端子CDO_0〜CDO_7にそれぞれ入力され
る。
タがエクスクルーシブ・オア回路によって構成された比
較回路YCMP0〜YCMP7、CCMP0〜CCMP
7の一方の入力端子に入力され、さらにDフリップフロ
ップによって構成された遅延回路YDLY0〜YDLY
7、CDLY0〜CDLY7を介して比較回路YCMP
0〜YCMP7、CCMP0〜CCMP7のもう一方の
入力端子に入力される。なお、これらの遅延回路YDL
Y0〜YDLY7、CDLY0〜CDLY7の遅延タイ
ミングはリード系のクロック信号RCPによって制御さ
れる。
P0〜CCMP7の出力信号YDTD0〜YDTD7お
よびCDTD0〜CDTD7はオア回路ORGの入力端
子に入力され、オア回路ORGの出力端子がTフリップ
フロップTFFのT入力端子に接続されている。Tフリ
ップフロップTFFの出力端子にポンピングを制御する
発振信号VPROSC1,VPROSC2がそれぞれ出
力される。なお、TフリップフロップTFFの動作タイ
ミングもクロック信号RCPによって制御される。
18において、Yデータの各ビットと遅延回路YDLY
0〜YDLY7によってクロック信号RCPの1周期分
遅延された前回のYデータの各ビットとがそれぞれ比較
回路YCMP0〜YCMP7に入力され、エクスクルー
シブ・オア回路によって構成された比較回路YCMP0
〜YCMP7によって比較される。Yデータの変化があ
る場合、所定の比較回路YCMPx(x=0,1,…,
7)の出力端子にハイレベルの信号YDTDxが出力さ
れる。一方、Yデータの変化がない場合、比較回路YC
MP0〜YCMP7はローレベルの信号YDTD0〜Y
DTD7が出力される。
ータの各ビットと遅延回路CDLY0〜CDLY7によ
ってクロック信号RCP1周期分遅延された前回のCデ
ータの各ビットとがそれぞれ比較回路CCMP0〜CC
MP7に入力され、エクスクルーシブ・オア回路によっ
て構成された比較回路YCMP0〜YCMP7によって
比較される。Cデータの変化がある場合、所定の比較回
路CCMPx(x=0,1,…,7)の出力端子にハイ
レベルの信号CDTDxが出力される。一方、Cデータ
の変化がない場合、比較回路CCMP0〜CCMP7は
ローレベルの信号CDTD0〜CDTD7が出力され
る。
YCMP0〜YCMP7、CCMP0〜CCMP7によ
って出力された信号がオア回路ORGの入力端子に入力
され、YデータまたはCデータに変化がある場合、オア
回路ORGの出力端子にハイレベルの信号が出力され、
TフリップフロップTFFのT入力端子に入力されるの
で、TフリップフロップTFFの出力端子にハイレベル
とローレベルを相互にとるポンピングを制御する発振信
号VPROSC1,VPROSC2が出力されるので、
VPPOハイパワーポンプ23,24が動作し、VPP
O電圧が発生され、アウトプットドライバにVPPO電
圧が供給される。。
合、オア回路ORGの出力端子にローレベルの信号が出
力され、TフリップフロップTFFのT入力端子に入力
されるので、TフリップフロップTFFの出力信号レベ
ルが保持されるので、VPPOハイパワーポンプ23,
24が動作せず、アウトプットドライバにVPPO電圧
が供給されることなく、無駄な電力の消費が抑えられ
る。
おける動作のタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図示のように、クロック信号RCPはハイレベルと
ローレベルを相互にとる信号である。そして、Y信号変
化検出回路18に入力された、たとえば、8ビットのY
データまたはC信号変化検出回路19に入力された、た
とえば、8ビットのCデータのあるデータYDO_xあ
るいはCDO_xが変化したとき、Y信号変化検出回路
18またはC信号変化検出回路19の出力信号YDTD
xまたはCDTDxがハイレベルとなる。
ORGによってハイレベルの信号が出力され、Tフリッ
プフロップTFFのT端子に入力される結果、図3に示
すように、クロック信号RCPの次回の立ち上がりエッ
ジで、TフリップフロップTFFの出力信号が反転され
る。
いとき、Y信号変化検出回路18およびC信号変化検出
回路19によってローレベルの信号が出力される。そし
て、VPPO制御回路20において、オア回路ORGに
よってローレベルの信号が出力され、Tフリップフロッ
プTFFのT端子に入力される。その結果、Tフリップ
フロップTFFの出力信号レベルが一定に保持される。
び反転出力信号がポンピングを制御する発振信号VPR
OSC1,VPROSC2としてVPPOハイパワーポ
ンプ23,24に入力されるので、ポンピングを制御す
る発振信号VPROSC1の立ち上がりエッジでVPP
Oハイパワーポンプ(VPOHPMP−1)23がポン
ピング動作が行われ、VPPO電圧が発生される。ま
た、ポンピングを制御する発振信号VPROSC2の立
ち上がりエッジでVPPOハイパワーポンプ(VPOH
PMP−2)24がポンピング動作が行われ、VPPO
電圧が発生される。
れたVPPOハイパワーポンプ23,24の構成を示す
回路図である。なお、VPPOハイパワーポンプ23と
VPPOハイパワーポンプ24とが同様な構成を有する
ので、図4はその一つ、たとえば、VPPOハイパワー
ポンプ(VPOHMPM−1)23の回路図のみを示し
ている。
2は接地線、200はポンピングを制御する発振信号V
PROSC1の入力端子、201はオン/オフ制御信号
VPHPENの入力端子、202はナンド(NAND)
回路、203,204はインバータ、205,206は
遅延回路で、たとえば、1ナノ秒(1ns)の遅延時間
を提供する遅延回路、207はインバータ、208はノ
ア(NOR)回路、209はNAND回路、210,2
11,…,215はインバータ、D1 ,D2 ,D3 はダ
イオード、C1 ,C2 ,C3 ,C4 はキャパシタ、SW
1 ,SW2 ,SW3 ,SW4 はスイッチ回路、NT1 ,
NT2 ,…,NT8 はnMOSトランジスタ、220は
出力端子をそれぞれ示している。
C1の入力端子200およびオン/オフ制御信号VPH
PENの入力端子201がそれぞれNAND回路202
の入力端子に接続され、NAND回路202の出力端子
とインバータ203の入力端子とが接続されている。
ND1 がインバータ204の入力端子に接続され、イン
バータ204の出力端子が遅延回路205の入力端子に
接続され、遅延回路205の出力端子が遅延回路206
の入力端子に接続され、これらの接続点によってノード
ND2 が構成される。遅延回路206の出力端子がイン
バータ207を介して、ノードND3 に接続されてい
る。
ードND1 とノードND3 に接続され、NOR回路20
8の出力端子がノードND4 に接続されている。ダイオ
ードD1 のカソードがノードND4 に接続され、アノー
ドが接地されている。また、キャパシタC1 の一方の端
子がノードND4 に接続され、他方の端子がノードND
5 に接続されている。
とドレイン電極が電源電圧VCCの供給線1に接続され、
ソース電極がノードND5 に接続されている。nMOS
トランジスタNT2 ,NT3 ,NT4 のゲート電極とソ
ース電極が接続され、これらのnMOSトランジスタが
電源電圧VCCの供給線1とノードND5 との間に直列に
接続されている。
ノードND1 とノードND3 に接続され、NAND回路
209の出力端子がインバータ210を介して、ノード
ND 6 に接続されている。ダイオードD2 のカソードが
ノードND6 に接続され、アノードが接地されている。
また、キャパシタC2 の一方の端子がノードND6 に接
続され、他方の端子がノードND7 に接続されている。
がノードND5 に接続され、ドレイン電極が電源電圧V
CCの供給線1に接続され、ソース電極がノードND7 に
接続されている。
ノードND2 とノードND8 との間に直列に接続されて
いる。ダイオードD3 のカソードがノードND8 に接続
され、アノードが接地されている。キャパシタC3 の一
方の端子がノードND8 に接続され、他方の端子がノー
ドND9 に接続されている。キャパシタC4 の一方の端
子がノードND8 に接続され、他方の端子がノードND
10に接続されている。また、ノードND8 とノードND
9 との間に、スイッチ回路SW1 が接続され、ノードN
D8 とノードND10との間に、スイッチ回路SW2 が接
続されている。
を介して、ノードND11に接続され、ノードND10がス
イッチ回路SW4 を介して、ノードND11に接続されて
いる。
がノードND5 に接続され、ドレイン電極が電源電圧V
CCの供給線1に接続され、ソース電極がノードND11に
接続されている。nMOSトランジスタNT7 のゲート
電極が出力端子220に接続され、ドレイン電極がノー
ドND7 に接続され、ソース電極がノードND11に接続
されている。nMOSトランジスタNT8 のゲート電極
がノードND7 に接続され、ドレイン電極がノードND
11に接続され、ソース電極が出力端子220に接続され
ている。
W1 が非導通状態にあり、スイッチ回路SW2 が導通状
態となっているので、キャパシタC4 がバイパスされ、
機能せず、キャパシタC3 が機能する。また、スイッチ
回路SW3 が導通状態にあり、スイッチ回路SW4 が非
導通状態にあるので、ノードND10とノードND11が絶
縁されており、ノードND9 とノードND11が導通され
ている。なお、ここでスイッチ回路SW2 を非導通状態
に設定し、スイッチ回路SW4を導通状態に設定するこ
とによって、ノードND8 とノードND11との間に、キ
ャパシタC3 とキャパシタC4 とが並列に接続され、本
チャージポンプ回路のポンピング能力をさらに高めるこ
とができる。
ーポンプ23の動作について説明する。オン/オフ制御
信号VPHPENの入力端子にハイレベルの信号が入力
されているとき、ポンピングを制御する発振信号VPR
OSC1の入力端子200に入力された信号がNAND
回路202を介して、内部回路に転送される。一方、オ
ン/オフ制御信号VPHPENの入力端子にローレベル
の信号が入力されているとき、ポンピングを制御する発
振信号VPROSC1の入力端子200に入力された信
号が内部回路に転送されず、ハイパワーポンプ23の動
作が停1される。すなわち、オン/オフ制御信号VPH
PENがハイレベルでアクティブ状態となる。
入力端子200に入力されたポンピングを制御する発振
信号VPROSC1が一定のレベルに保持されたまま
で、オン/オフ制御信号VPHPENがローレベルに保
持されているとき、ノードND 4 がハイレベル、ND6
およびND8 がローレベルに保持される。
ベルであってデータの変化が検出された場合には、入力
端子200に入力されたポンピングを制御する発振信号
VPROSC1がハイレベルとローレベルを相互的にと
る発振信号となる。この入力信号がNAND回路20
2、インバータ203を介して、ノードND1 に入力さ
れる。
よって反転され、さらに遅延回路205によって所定の
遅延時間が経た後、ノードND2 に入力される。ノード
ND2 の信号が遅延回路206によってさらに遅延され
た後、インバータ207によって反転され、ノードND
3 に入力される。これによって、入力端子200に入力
された信号と同相の信号がノードND1に入力され、ノ
ードND2 にはノードND1 の反転信号の遅延信号が入
力される。ノードND3 にはノードND2 の反転信号の
遅延信号が入力される。
11〜215を介して、ノードND 8 に入力されるの
で、ノードND8 の信号はノードND2 の反転信号に一
定の遅延時間が与えられた信号となる。すなわち、ノー
ドND8 の信号はノードND1の信号に一定の遅延時間
を与えた信号である。
1 およびノードND3 の信号がそれぞれ入力され、ま
た、NAND回路209の入力端子にノードND1 およ
びノードND3 の信号がそれぞれ入力される。この結
果、ノードND1 とノードND3がともにローレベルの
とき、NOR回路208、すなわちノードND4 にハイ
レベルの信号が入力され、それ以外のときに、ノードN
D4 にローレベルの信号が入力される。また、ノードN
D1 とノードND3 の信号がともにハイレベルのとき、
ノードND6 にハイレベルの信号が入力され、それ以外
のとき、ノードND 6 にローレベルの信号が入力され
る。
るとき、ノードND5 がVCC以上の電圧であると、キャ
パシタC1 がnMOSトランジスタNT1 によって、
(VCC−Vth)までにチャージされ、ノードND6 がロ
ーレベルに保持されているときノードND5 がVCC以上
の電圧であると、キャパシタC2 がnMOSトランジス
タNT6 によって電源電圧VCCのレベルにチャージされ
る。なお、ここで、VthはnMOSトランジスタNT1
のしきい値電圧を示す。また、ノードND8 がローレベ
ルに保持されているとき、ノードND5 がVCC以上の電
圧であると、キャパシタC3 がnMOSトランジスタN
T5 によって電源電圧VCCのレベルにチャージされる。
D6 が相互にハイレベルとローレベルをとり、それぞれ
のノードに接続されたキャパシタC1 およびC2 が相互
にチャージされる。また、ノードND8 のレベルに応じ
て、キャパシタC3 もnMOSトランジスタNT5 を介
してチャージされる。
き、キャパシタC3 が電源電圧VCCレベルまでにチャー
ジされ、その後、ノードND8 がハイレベル、たとえ
ば、電源電圧VCCレベルまでに上昇したとき、キャパシ
タC3 によって、ノードND11が電源電圧VCCの倍のレ
ベルまで昇圧される。そして、ノードND7 がキャパシ
タC2 によって昇圧され、電源電圧VCCの倍のレベルま
でに達すると、nMOSトランジスタNT8 が導通状態
となり、ノードND11の高電圧が出力端子220に出力
される。そして、ノードND6 のレベルがローレベルに
下がったとき、ノードND7 のレベルも下がり、キャパ
シタC2 がnMOSトランジスタNT6 を介して電源電
圧VCCレベルにチャージされ、ノードND7 が電源電圧
VCCレベルに戻るので、nMOSトランジスタNT8 が
非導通状態となり、ノードND11と出力端子220が絶
縁状態となる。また、ノードND6 が下がると同期に、
ノードND8 のレベルも下がるので、キャパシタC3 が
nMOSトランジスタNT5 を介して電源電圧VCCレベ
ルにチャージされ、ノードND11が電源電圧VCCレベル
に戻る。
3において、ポンピングを制御する発振信号VPROS
C1信号入力端子200に発振信号が入力されたとき、
入力信号の立ち上がりエッジに同期して、ポンピング動
作が行われ、出力端子220に高電圧が出力され、そし
て、入力信号の立ち下がりエッジに同期して、出力端子
220への高電圧の出力が停止される。
出力端子101に接続され、メモリのアウトプット部へ
高電圧のVPPO電圧を提供する。
ば、電圧供給回路を内部メモリ用VPP電圧供給回路と
アウトプット部用VPPO電圧供給回路とに分割し、V
PPO電圧供給回路51にデータ変化によるポンプ回路
30を設け、データ変化が検出されたときのみに、それ
を示すデータ変化信号YDTD,CDTDをVPPO制
御回路20に出力し、ポンピングを制御する発振信号V
PROSC1,VPROSC2を発生し、VPPOハイ
パワーポンプ23,24に出力し、これらポンピング回
路によって高電圧のVPPO電圧を発生し、VPPO電
圧出力端子101に出力するので、データの変化が検出
されたときのみにデータ出力部にVPPO電圧を供給
し、無駄な電力消費が抑えられる。
示す回路図であり、データ変化検出回路の回路図であ
る。図5において、DT0 〜DTX はデータ入力端子、
DLY0 〜DLYX は遅延回路、DCMP0 〜DCMP
X はエクスクルーシブ・オア回路によって構成された比
較回路、NTR0 〜NTRX はnMOSトランジスタ、
Rは負荷抵抗、BAMPは出力増幅器、TOUT は出力端
子をそれぞれ示している。
の検出は、すべてのデータのビットの論理和をとること
せずに、ビットを分割して制御する。図示のように、x
ビットのデータがデータ入力端子DT0 〜DTX に入力
され、入力されたデータがそれぞれ遅延回路DLY0 〜
DLYX を介して、元のデータとともに比較回路DCM
P0〜DCMPX に入力される。
nMOSトランジスタNTR0 〜NTRX のゲート電極
にそれぞれ接続され、nMOSトランジスタNTR0 〜
NTRX のドレイン電極が共通接続され、これらの接続
点によってノードND1 が構成され、さらにノードND
1 が抵抗R1 を介して電源電圧VCCの供給線1に接続さ
れている。nMOSトランジスタNTR0 〜NTRX の
ソース電極は接地され、ノードND1 が増幅器BAMP
を介して出力端子TOUT に接続されている。
力されたデータがクロック信号1周期分遅延され、出力
されるので、現在の入力データとクロック信号1周期分
前の入力データとが比較され、データの変化がある場
合、比較回路の出力端子にハイレベルの信号が出力さ
れ、データの変化がない場合、比較回路の出力端子にロ
ーレベルの信号が出力される。
が変化した場合、それに応じてnMOSトランジスタN
TR0 〜NTRX の内所定のトランジスタが導通状態と
なり、導通状態にあるnMOSトランジスタに導通電流
が流れるので、入力されたデータの内、変化したデータ
のビット数に応じて、抵抗Rに流れる電流値が決まり、
ノードND1 の電圧も決まる。
して出力端子TOUT に出力され、ポンプ回路の制御信号
として、ポンプ回路に入力される。そして、ポンプ回路
がこの制御信号に応じてポンピング動作が行い、VPP
O電圧を発生し、データ出力部に供給する。
応じて、ポンプ回路に入力された制御信号のレベルが変
化するので、必要な電荷のチャージ量に応じて、VPP
O電圧がデータ出力部に供給され、アウトプット部の消
費電力がさらに抑えられる。
回路によれば、大容量なメモリ装置におけるデータ出力
部の消費電力を低減することができ、ICチップサイズ
の増加を抑制できる利点がある。
す回路図である。
である。
示す回路図である。
る。
ある。
CMP0 〜DCMPX…比較回路 YDLY0〜YDLY7,CDLY0〜CDLY7,D
LY0 〜DLYX …遅延回路 ORG…オア回路 TFF…Tフリップフロップ D1 ,D2 ,D3 …ダイオード C1 ,C2 ,C3 ,C4 …キャパシタ SW1 ,SW2 ,SW3 ,SW4 …スイッチ回路 NT1 ,NT2 〜NT8 …nMOSトランジスタ YDO_0〜YDO_7,CDO_0〜CDO_7,D
T0 〜DTX …データ入力端子 NTR0 〜NTRX …nMOSトランジスタ R…抵抗 BAMP…出力増幅器 TOUT …出力端子 VCC…電源電圧 GND…接地電位
Claims (3)
- 【請求項1】 データ出力系にデータ出力用駆動電圧を
供給する電圧供給回路であって、 上記データ出力系への入力データの変化の有無を検出
し、データの変化があった場合にデータ変化検出信号を
出力するデータ変化検出手段と、 上記データ変化検出信号を受け、上記データ出力系への
データ出力用駆動電圧を発生して上記データ出力系に供
給する電圧発生手段とを有する電圧供給回路。 - 【請求項2】 上記データ変化検出手段はデータを構成
するビット毎にその変化の有無を検出して上記データ変
化検出信号を出力する請求項1に記載の電圧供給回路。 - 【請求項3】 上記データ変化検出手段はデータを構成
するビット中の変化したビットの数に対応した内容の上
記データ変化検出信号を出力し、上記電圧発手段は上記
データ変化検出信号の内容に対応したレベルの電圧を供
給する請求項1に記載の電圧供給回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03487796A JP3933217B2 (ja) | 1996-02-22 | 1996-02-22 | 電圧供給回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03487796A JP3933217B2 (ja) | 1996-02-22 | 1996-02-22 | 電圧供給回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09231749A true JPH09231749A (ja) | 1997-09-05 |
| JP3933217B2 JP3933217B2 (ja) | 2007-06-20 |
Family
ID=12426383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03487796A Expired - Fee Related JP3933217B2 (ja) | 1996-02-22 | 1996-02-22 | 電圧供給回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3933217B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7474140B2 (en) | 2005-11-29 | 2009-01-06 | Hynix Semiconductor Inc. | Apparatus for generating elevated voltage |
| JP2011096295A (ja) * | 2009-10-27 | 2011-05-12 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
| CN115622401A (zh) * | 2021-07-16 | 2023-01-17 | 圣邦微电子(北京)股份有限公司 | 多相功率转换电路的控制电路和多相电源 |
-
1996
- 1996-02-22 JP JP03487796A patent/JP3933217B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7474140B2 (en) | 2005-11-29 | 2009-01-06 | Hynix Semiconductor Inc. | Apparatus for generating elevated voltage |
| JP2011096295A (ja) * | 2009-10-27 | 2011-05-12 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
| CN115622401A (zh) * | 2021-07-16 | 2023-01-17 | 圣邦微电子(北京)股份有限公司 | 多相功率转换电路的控制电路和多相电源 |
| US12597870B2 (en) | 2021-07-16 | 2026-04-07 | Sg Micro Corp | Control circuit for multi-phase power conversion circuit and multi-phase power supply |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3933217B2 (ja) | 2007-06-20 |
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| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051228 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060110 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060313 |
|
| A02 | Decision of refusal |
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| A521 | Written amendment |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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