JPH09237447A

JPH09237447A - デイスク検査装置及びデイスク検査方法

Info

Publication number: JPH09237447A
Application number: JP7096296A
Authority: JP
Inventors: Yoshizo Mihara; 義蔵三原; Ryuichi Asano; 隆一浅野
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1996-02-29
Filing date: 1996-02-29
Publication date: 1997-09-09

Abstract

(57)【要約】【課題】本発明は、デイスク検査装置及びデイスク検査
方法において、高密度で記録するデイスク状記録媒体の
検査の信頼性を一段と向上させるようにする。【解決手段】データを再生するとき、高周波信号の等化
手段の等化特性をデータを記録したときと異なる等化特
性に切り換えることにより、従来確実に検出することが
難しかつたデイスク状記録媒体上の欠陥位置による波形
歪み部のレベル変化が強調されて、この欠陥位置を一段
と高い精度で検出することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【目次】以下の順序で本発明を説明する。発明の属する技術分野従来の技術発明が解決しようとする課題（図７〜図９）課題を解決するための手段（図２）発明の実施の形態（図１〜図８）発明の効果

【０００２】

【発明の属する技術分野】本発明はデイスク検査装置及
びデイスク検査方法に関し、例えば光磁気デイスクに光
磁気デイスク記録再生装置で記録再生する際に適用し得
る。

【０００３】

【従来の技術】従来、一般的な光磁気デイスク記録再生
装置で使用される光磁気デイスクは、製造の際に発生し
た物理的欠陥により、ピツトとして予め形成されたアド
レスデータを正しく読み出せなかつたり、ユーザ用記録
領域にデータを記録しても正しく再生できない不良領域
が存在する。このため、光磁気デイスクは、製造後、全
域に亘つてアドレスデータがチエツクされると共にテス
ト用データがユーザ用記録領域に記録再生されて検証さ
れる。

【０００４】このとき、光磁気デイスクは、不良領域の
トラツク番号及びセクタ番号が光磁気デイスク上の特定
領域に記録される。実際にユーザがデータを記録再生す
るとき光磁気デイスク記録再生装置は、光磁気デイスク
上の特定領域に記録されているデータを読み出して、不
良セクタを避けて記録及び再生する。これにより、光磁
気デイスク記録再生装置は、見かけ上データ誤りが発生
しなかつたように動作してデータ誤りの発生を防止し、
データの信頼性を向上させている。

【０００５】因みに、製造時に光磁気デイスクに発生す
る欠陥の原因としては、スタンパ欠陥、基板製作の射出
成型や２Ｐプロセス中に生じた欠陥、記録材料や保護膜
剤のスパツタや塗布欠陥、基板の屈折率不良、基板や記
録材料の劣化、製造中に生じた傷、両面貼合せ基板にお
ける塵埃の挟み込み等による欠陥が考えられる。

【０００６】これらの記録媒体各種の欠陥を製造直後に
確実に検出して不良セクタを登録するために、製造直後
に検証するときの記録再生条件は、ユーザが実際に使用
するときの最悪条件を考慮して設定される。例えば、一
般的に、記録や再生の際のレーザパワーは最適点からず
らされる。またデータ検出部のＥＣＣ（符号訂正回路）
は訂正能力がユーザの使用レベルに比して低めに設定さ
れる。さらにアドレス検出部の高周波回路の等化特性は
最適点からある１つの値にずらされる。このように設定
して、アドレスデータやユーザ用記録領域のデータを正
しく再生できるか否かが判断される。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところが、近年、記録
ピツトのサイズを小さくして記録密度（記録線密度）を
向上させるに従つて、光磁気デイスク上の微細な欠陥や
傷等の相対的な影響力が従来に比して増大した。即ち、
記録密度を高くした光磁気デイスクは、デイスク欠陥に
よるアドレスデータの高周波信号の波形異常を製造工程
で制御することが困難である。

【０００８】一方、記録再生装置は、再生光学系の空間
周波数伝達特性（以下、ＭＴＦ（modulation transfer
function）という）や、高周波回路の等化特性の不揃い
が記録密度の増加に見合う程度に減少していない。また
検証装置と、検証後の光磁気デイスクを使用する記録再
生装置との間には特性の差異がある。このため、従来の
検出条件だけを適用した場合は、機器差によりアドレス
データを正しく読めたり読めなかつたりする現象が発生
し、アドレスデータの良否を正確に判定することが難し
くなりつつあつた。

【０００９】例えば、光ヘツドのＭＴＦは、使用するレ
ーザダイオードの発散角の不揃い等によつて、けられ率
が変わるため、揃わない。けられ率は、光ヘツドの対物
レンズの口径をＡとし、レーザビームの有効径をＷとし
てＡ／Ｗで表される。

【００１０】図７は、（Ａ／Ｗ）＝１となつて高周波域
の特性が悪いＭＴＦ曲線１を破線で示し、（Ａ／Ｗ）＝
２となつて高周波域の特性が良いＭＴＦ曲線２を実線で
示す。前者のＭＴＦ曲線１における最短波長付近のＭＴ
Ｆ値は、Ａ値となる。これに対して、後者のＭＴＦ曲線
２における最短波長付近のＭＴＦ値は、Ａ値に比して高
いＢ値となる。記録密度を高くするに従つて空間周波数
は高い値が所望されている。このため、Ａ値とＢ値との
差は、最短波長以上の領域で増大する。

【００１１】等化特性も、記録密度を高くするに従つて
高周波域の特性が重要となる。即ち、図８に示すよう
に、光ヘツドのＭＴＦの不揃いが相対的に増加するに従
つて、等化特性は、高周波域での利得の補正幅が広いこ
とが要求される。因みに、図８は、高周波域の利得が大
きいときの等化特性曲線３を実線で示し、高周波域の利
得が小さいときの等化特性曲線４を破線で示す。記録密
度を高くするに従つて、等化特性調整の誤差による影響
も大きくなり、光ヘツドと高周波系の全体的な特性差も
大きくなつてしまう。

【００１２】これらの原因による機器毎の特性の差異に
より、光磁気デイスク上にプリコードされたアドレス部
より得たアドレスデータの再生波形には、しきい値Ｖth
に対するレベル変化が不足して、比較器で検出すること
が困難な欠陥部分が発生することがあつた。このため、
アドレスデータの再生波形に対する欠陥検出結果が不揃
いになつていた。

【００１３】例えば、図９（Ａ）に示すように、アドレ
ス部の正常なあるピツト列より得た再生波形５に対し、
ピツト列の中央部のピツト欠落によつて中央部のレベル
が低下した再生波形６を考える。この場合、再生波形６
の中央部のレベルがしきい値Ｖthまで下がらなければ、
比較器は、再生波形５を比較したときと同じ期間だけ立
ち上がつた比較波形７をもつ比較出力信号を出力するこ
とになり、ピツト欠落等による欠陥を検出することがで
きない。

【００１４】これに対して、図９（Ｂ）に示すように、
ＭＴＦの高周波域の利得が高く、等化特性の高周波域の
利得が高い場合、再生波形６は高周波域が強調される。
これにより、再生波形６は、レベル低下個所が強調され
た再生波形８となる。従つて、比較器は、再生波形８の
レベル低下個所でレベル低下を検出した比較波形９をも
つ比較出力信号を出力し、ピツト欠落等による欠陥を検
出することができる。

【００１５】次に、図９（Ｃ）に示すように、アドレス
部の正常なある短いピツト列より得た再生波形１０に対
し、このピツト列の先頭ピツトの欠落によつて先頭部の
レベルが低下した再生波形１１を考える。この場合、再
生波形１１の先頭部のレベル及び位相にピツト欠落の影
響が出ていることにより、比較器は、再生波形１０を比
較したときに比して立ち上がつている期間が短い比較波
形１２をもつ比較出力信号を出力しなければいけない。

【００１６】ところが、従来等化レベルはある１つの値
に固定されていた。このため、等化特性の高周波域の利
得が高めにのみ設定されていると、図９（Ｄ）に示すよ
うに、再生波形１１は、立ち上がり及び立ち下がりの角
度が大きい再生波形１３に補正される。従つて、比較器
は、あたかも欠陥が無いように検出した比較波形１４を
もつ比較出力信号を出力してしまうことがあつた。

【００１７】また検証後の光磁気デイスクを使用する他
の記録再生装置において、等化レベルの高周波域の利得
が低い場合、図９（Ａ）に示した再生波形６は、レベル
低下が少なくなりピツト欠落が無いときの再生波形５と
して読み出される。一方、図９（Ｃ）に示した再生波形
１１は、期間が短い比較波形１２をもつ比較出力信号と
して読み出されなくなる。

【００１８】このようにして、機器毎の等化レベルの差
異により、従来の検出条件では、高密度記録の光磁気デ
イスクに記録された任意のデータが正しく再生されたか
否かを正確に判断して、不良セクタを検出することが難
しくなつてきた。このため、従来の方法で検出した不良
セクタを登録するだけでは、検証後の光磁気デイスクか
らアドレスデータを正しく読めない欠陥抜けが生じた
り、記録したはずのセクタデータを読めない状態が発生
することがあつた。従つて、検証した光磁気デイスクの
欠陥管理に対する信頼性を充分に確保することが難しく
なつてきたという問題があつた。

【００１９】これを解決するため、光磁気デイスクを複
数回検証し、検出結果の確実性を確保したり、機器毎の
等化レベルの偏差の上限に設定した検証装置と、下限に
設定した検証装置とにそれぞれかけて検証することが考
えられる。ところが、複数回検証することは製造時間が
増加する欠点がある。また機器毎の等化レベルの偏差の
上限及び下限仕様を作ることは、検証装置のコストを大
幅に増加させたり、製造時間が増加するため、検証が煩
雑となると共に、コストを増加させる等の欠点があつ
た。

【００２０】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、高密度で記録するデイスク状記録媒体の検査の信頼
性を向上させ得るデイスク検査装置及びデイスク検査方
法を提案しようとするものである。

【００２１】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、デイスク状記録媒体を検査して欠
陥位置を判別するデイスク検査装置において、デイスク
状記録媒体に記録再生する高周波信号を等化する際の、
互いに異なる第１及び第２の等化特性を有する等化手段
と、デイスク状記録媒体より再生して等化した高周波信
号に基づいて得た再生データの誤りを訂正するデータ誤
り訂正手段と、等化手段を制御する制御手段とを設け
る。また制御手段によつて第１及び第２の等化特性を切
り換えてデータ誤り訂正手段の訂正結果に基づいて欠陥
位置を判別する。

【００２２】また本発明においては、デイスク状記録媒
体を検査して欠陥位置を判別するデイスク検査装置にお
いて、デイスク状記録媒体に記録再生する高周波信号を
等化する際の、互いに異なる第１及び第２の等化特性を
有する等化手段と、デイスク状記録媒体より再生して等
化した高周波信号が入力され、当該高周波信号の波形歪
みを検出する波形歪み検出手段と、等化手段を制御する
制御手段とを設ける。また制御手段によつて第１及び第
２の等化特性を切り換えて波形歪み検出手段の検出結果
に基づいて欠陥位置を判別する。

【００２３】データを再生するとき、高周波信号の等化
手段１９の等化特性を検査データを記録したときと異な
る等化特性に切り換えることにより、従来確実に検出す
ることが難しかつたデイスク状記録媒体上の欠陥位置に
よる波形歪み部のレベル変化が強調されて、この欠陥位
置を一段と高い精度で検出することができる。これによ
り、高密度で記録するデイスク状記録媒体の検査の信頼
性を一段と向上させることができる。

【００２４】さらに本発明においては、デイスク状記録
媒体を検査して欠陥位置を判別するデイスク検査方法に
おいて、記録データに対応した高周波信号をデイスク状
記録媒体に記録する際の第１の等化特性と異なる第２の
等化特性に切り換えて、デイスク状記録媒体より再生し
た高周波信号を第２の等化特性により等化する等化処理
と、等化した高周波信号に基づいて得た再生データの誤
りを訂正するデータ誤り訂正処理と、データ誤り訂正処
理の訂正結果に基づいて欠陥位置を判別する欠陥位置判
別処理とを設ける。

【００２５】さらに本発明においては、デイスク状記録
媒体を検査して欠陥位置を判別するデイスク検査方法に
おいて、記録データに対応した高周波信号をデイスク状
記録媒体に記録する際の第１の等化特性と異なる第２の
等化特性に切り換えて、デイスク状記録媒体より再生し
た高周波信号を第２の等化特性により等化する等化処理
と、等化した高周波信号の波形歪みを検出する波形歪み
検出処理と、波形歪み検出処理の検出結果に基づいて欠
陥位置を判別する欠陥位置判別処理とを設ける。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。

【００２７】図１は、全体としてデイスク検査装置とし
ての光磁気デイスク記録再生装置１５を示し、光磁気デ
イスクを検証する際、従来の検出条件で欠陥位置として
の不良セクタを検出することに加えて、等化特性を切り
換えて記録及び再生すると共に、再生高周波信号Ｓ１の
波形歪みを検出して不良セクタを検出する。

【００２８】光磁気デイスク記録再生装置１５は、制御
手段としてのシステムコントロール回路１６で内部を制
御する。光磁気デイスク記録再生装置１５は、インター
フエース回路であるＳＣＳＩ（Small Computer System
Interface ）コントローラ１７を介して外部装置との間
でデータを入出力する。

【００２９】データを記録する際、光磁気デイスク記録
再生装置１５は、データをデータ誤り訂正手段としての
誤り訂正回路１８に与えて誤り訂正符号を付加したデー
タを高周波信号（図中、ＲＦで示す）回路１９に与え
る。光磁気デイスク記録再生装置１５は、システムコン
トロール回路１６によつて切り換えることによつて、高
周波信号回路１９内の等化手段としての等化回路３２に
記録モードに応じた等化特性を与える。

【００３０】光磁気デイスク記録再生装置１５は、デイ
スク状記録媒体としての光磁気デイスク２０に効率的に
記録するため、記録再生系の特性に整合させたデータを
高周波信号回路１９からレーザパワーコントロール回路
２１に与える。光磁気デイスク記録再生装置１５は、レ
ーザパワーコントロール回路２１より駆動信号を光ヘツ
ド固定部２２に与えて、光ヘツド固定部２２内のレーザ
ダイオード２３を駆動して光磁気デイスク２０に記録す
る。このとき、光磁気デイスク記録再生装置１５は、光
ヘツド固定部２２及び高周波信号回路１９を介して得た
レーザ光の強度データをレーザパワーコントロール回路
２１にフイードバツクしてレーザダイオード２３を駆動
する。

【００３１】次に、データを再生する際、光磁気デイス
ク記録再生装置１５は、光ヘツド固定部２２が出力した
再生高周波信号Ｓ１を高周波信号回路１９に与える。こ
のとき、光磁気デイスク記録再生装置１５は、システム
コントロール回路１６によつて切り換えることによつ
て、高周波信号回路１９内の等化回路３２に再生モード
に応じた等化特性を与える。

【００３２】光磁気デイスク記録再生装置１５は、高周
波信号回路１９で再生高周波信号Ｓ１に基づいて再生デ
ータＳ２を生成させ、この再生データＳ２を誤り訂正回
路１８に与える。光磁気デイスク記録再生装置１５は、
誤り訂正回路１８で再生データＳ２に基づいてデータの
誤りを訂正して元のデータＳ３を復元し、このデータＳ
３をＳＣＳＩコントローラ１７を介して外部に出力す
る。

【００３３】光ヘツド固定部２２は、光磁気デイスク２
０より得た光を光ヘツド可動部２４を介して光検出器２
５に与え、光検出器２５の出力信号をプリアンプ２６で
増幅する。これにより、サーボ及び高周波信号等が増幅
される。また光ヘツド固定部２２は、記録の際の駆動信
号及び高周波信号を高周波重畳回路２７で重畳してレー
ザダイオード２３を駆動する。

【００３４】光磁気デイスク記録再生装置１５は、光ヘ
ツド可動部２４が有するレンズのアクチエータをフオー
カスサーボ回路２８で制御して光磁気デイスク２０上に
焦点を合わせると共に、光磁気デイスク２０上のトラツ
クをトラツキングサーボ回路２９で走査する。光磁気デ
イスク記録再生装置１５は、光磁気デイスク２０の回転
を駆動手段としてのデイスクサーボ回路３０で制御する
と共に、光ヘツド可動部２４全体の位置をラジアルサー
ボ回路３１で光磁気デイスク２０の半径方向に制御しデ
イスク２０上のトラツクを走査する。

【００３５】次に、光磁気デイスク２０の記録領域を検
証する際、光磁気デイスク記録再生装置１５は、記録し
た信号に対し、設定された誤り訂正能力の範囲内でデー
タを正しく再生することができるか否かと、アドレス部
に複数回記録されている信号を設定数（例えば３個中２
個）以上読み出せるか否かとをセクタ毎に検出して記憶
しておく。また光磁気デイスク記録再生装置１５は、ア
ドレスデータの再生波形歪みの有無を検出して記憶して
おく。

【００３６】さらに、光磁気デイスク記録再生装置１５
は、サーボ誤り信号が一定値以上に達するか否かと、デ
ータ部の再生同期信号を一定数の一致条件で検出できる
か否かとを検出する。さらに、光磁気デイスク記録再生
装置１５は、再生高周波信号が欠落したか否かを検出す
る。

【００３７】光磁気デイスク記録再生装置１５は、以上
の検出結果に基づいて、不良セクタを判定してシステム
コントロール回路１６に記憶する。光磁気デイスク記録
再生装置１５は、検証の際に発見した不良セクタの位置
情報を光磁気デイスク２０上の欠陥管理領域（ＤＭＡ
（Detect Nanagenment Area ））と呼ばれる特定領域に
記録し、実際に使用する際、不良セクタを避けて記録及
び再生する。因みに、これらの不良セクタを判定する際
に、レーザパワーや記録及び再生条件を通常の使用条件
から故意にずらしたり、ＥＣＣの訂正能力を低めに設定
することもある。

【００３８】ここで、図２は光磁気デイスク記録再生装
置１５の不良セクタ検出系の主要部を示す。光磁気デイ
スク記録再生装置１５は、光ヘツド固定部２２より与え
られた再生高周波信号Ｓ１を高周波信号回路１９内の等
化回路３２に与え、再生モードに応じた等化特性によつ
て等化した再生高周波信号Ｓ４を生成させる。光磁気デ
イスク記録再生装置１５は、再生高周波信号Ｓ４をコン
パレータ３３に与えて基準電圧Ｖthと比較し、比較して
得た比較出力信号Ｓ５をＰＬＬ（Phase LockedLoop ）
回路３４に与える。

【００３９】光磁気デイスク記録再生装置１５は、ＰＬ
Ｌ回路３４において、比較出力信号Ｓ５にロツクして読
出クロツクとこれに同期した再生データＳ２とを生成さ
せる。光磁気デイスク記録再生装置１５は、誤り訂正回
路１８が再生データＳ２を元のデータＳ３に復元できな
いとき、訂正結果としてのエラーフラグデータＳ６を誤
り訂正回路１８よりシステムコントロール回路１６に与
えて不良セクタとして記憶させる。

【００４０】光磁気デイスク記録再生装置１５は、消
去、記録及び再生のそれぞれのモード毎に、システムコ
ントロール回路１６より切換制御信号Ｓ７を与えて等化
回路３２の高周波域利得を切り換えてそれぞれのモード
に対応した等化特性に設定する。例えば、上述の３モー
ドの場合、光磁気デイスク記録再生装置１５は、消去及
び記録モードにおいて高周波域利得を低く設定し、再生
モードにおいて高周波域利得を高く設定してアドレスデ
ータの良否を判定する。因みに、モードと等化利得の組
合せは逆の場合や、２つのモードで高周波域利得を高く
設定する場合もある。

【００４１】再生モードの等化特性の高周波域利得が高
く設定された場合、図９（Ａ）に示した再生波形６の波
形歪みは図９（Ｂ）に示した再生波形８のように欠陥に
よるレベル変化が強調される。再生モードの等化特性の
高周波域利得が低く設定された場合、図９（Ｄ）に示し
た再生波形１３の型の波形歪みは、図９（Ｃ）に示した
再生波形１１のように欠陥部分によるレベル変化が強調
される。

【００４２】これにより、光磁気デイスク記録再生装置
１５は、波形が確実に歪んだ比較出力信号Ｓ５を得て、
誤り訂正回路１８において誤り検出用冗長度符号チェッ
ク（以下、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check ）とい
う）信号でアドレスデータ不良を検出することができ
る。従つて、光磁気デイスク記録再生装置１５は、ピツ
ト欠け等による欠陥検出精度を向上することができる。

【００４３】一方、図３に示すように、等化特性を切り
換えても歪み部の電圧レベルが基準電圧Ｖthに対してわ
ずかに上回る再生波形３５は、誤り訂正回路１８におい
て誤りが無いと判定される。これを避けるため、光磁気
デイスク記録再生装置１５は、この再生波形３５の再生
高周波信号Ｓ４を高周波信号回路１９内の波形歪み検出
手段としての波形歪み検出回路３６で判定する。

【００４４】すなわち、光磁気デイスク記録再生装置１
５は、再生高周波信号Ｓ４を波形歪み検出回路３６に与
え、基準電圧Ｖthに比して高い基準電圧Ｖth1 と、低い
基準電圧Ｖth2 とによつて再生高周波信号Ｓ４の波形歪
みの有無を検出する。再生高周波信号Ｓ４の波形歪みを
検出すると、光磁気デイスク記録再生装置１５は、検出
結果としての歪み検出信号Ｓ８をシステムコントロール
回路１６に与えて不良セクタとして記憶させる。

【００４５】図４に示すように、波形歪み検出回路３６
は、再生高周波信号Ｓ４を２つのコンパレータ３７及び
３８にそれぞれ入力する。また波形歪み検出回路３６
は、基準電圧Ｖth1 をコンパレータ３７に印加し、基準
電圧Ｖth2 をコンパレータ３８に印加する。因みに、波
形歪み検出回路３６は、抵抗Ｒ_H1、Ｒ_H2、Ｒ_L1及びＲ_L2
でなる直列回路の両端に定電圧Ｖ1 及びＶ2 がそれぞれ
印加され、抵抗Ｒ_H2及びＲ_L1の接続中点に基準電圧Ｖth
が印加されている。これにより、波形歪み検出回路３６
は、抵抗Ｒ_H1及びＲ_H2の接続中点より基準電圧Ｖth1 を
得ると共に、抵抗Ｒ_L1及びＲ_L2の接続中点より基準電圧
Ｖth2 を得ている。

【００４６】波形歪み検出回路３６は、コンパレータ３
７及び３８の出力信号Ｓ９及びＳ１０を排他的論理和回
路３９に与えて出力信号Ｓ９及びＳ１０のレベルを比較
する。これにより、図３に示すように、波形歪み検出回
路３６は、出力信号Ｓ９のレベルが再生高周波信号Ｓ４
の波形歪みにより論理「Ｌ」レベルに立ち下がると、排
他的論理和回路３９より論理「Ｈ」レベルに立ち上がる
歪み検出信号Ｓ８をシステムコントロール回路１６に出
力する。従つて、システムコントロール回路１６は再生
高周波信号Ｓ４に波形歪みが発生したことを検知し、ア
ドレス誤りとして登録することができる。

【００４７】図５は、光磁気デイスク記録再生装置１５
による光磁気デイスクの記録フオーマツト例を示す。光
磁気デイスク２０上には、スパイラル状に連続する記録
トラツクが設けられる。記録トラツクは、一定量の記録
データの記録領域毎の例えば3102バイトのセクタに分割
されている。それぞれのセクタの先頭には、プリコード
された例えば55バイトのアドレス部が設けられている。
アドレス部には、データをアクセスする際に必要なアド
レス情報が予め記録されている。

【００４８】アドレス情報は、セクタマーク、基準信
号、アドレスマーク信号、識別信号及びポストアンブル
信号（図中、それぞれＳＭ、ＶＦＯ、ＡＭ、ＩＤ及びＰ
Ａで示す）で構成されている。基準信号ＶＦＯ、アドレ
スマーク信号ＡＭ及び識別信号ＩＤは信頼性を確保する
ためそれぞれ３回記録されている。セクタマークＳＭ
は、アドレス部の始まりであることを示す。基準信号Ｖ
ＦＯは、信号検出の際に必要なクロツクをＰＬＬ回路に
作成させる。アドレスマーク信号ＡＭは、識別信号ＩＤ
の始まりを示す。識別信号ＩＤは、トラツク番号及びセ
クタ番号と、幾つ目の識別信号ＩＤかを示す識別番号
と、ＣＲＣ信号とでなる。ポストアンブル信号ＰＡはア
ドレス部の終わりを示す。

【００４９】光磁気デイスク記録再生装置１５は、各セ
クタをトラツク番号及びセクタ番号によつて区別してア
クセスし、再生されたトラツク番号及びセクタ番号が正
しいか否かをＣＲＣ信号によつて判定する。

【００５０】以上の構成において、光磁気デイスクを別
の装置でバルク消去した後、この光磁気デイスクを検証
する場合を説明する。因みに、バルク消去法は、検証装
置で消去する方法と異なり、ほぼ瞬間的に消去すること
ができることにより、一般的に採用されている。

【００５１】検証の記録動作のとき、光磁気デイスク記
録再生装置１５は、ユーザ用記録領域に検証用基準信号
を記録すると同時にアドレスデータを検証する。アドレ
スデータを検証するとき、光磁気デイスク記録再生装置
１５は、図８の等化特性曲線４で示したように、高周波
域利得を低く設定している。

【００５２】アドレスデータの良否の第１の判定条件
を、１セクタ内の３つのアドレスデータのうち正しく読
めないアドレスデータが１個以上ありアドレスデータが
３個全部読めなかつた場合とする。またアドレスデータ
の良否の第２の判定条件を、波形歪み検出によつて誤り
が検出された場合とする。第１及び第２の判定条件の少
なくとも一方が満たされたとき、光磁気デイスク記録再
生装置１５は、このセクタを不良と判定し記憶してお
く。

【００５３】この判定条件において、例えば図６（Ａ）
に示したアドレスデータ中の本来の再生波形５に対し
て、波形中央に歪み部がある再生波形４０について考え
る。歪み部は周波成分が高周波域に偏つている。ところ
が、記録のとき等化特性の高周波域利得が低く設定され
ている。このため、歪み部の電圧レベルが基準電圧Ｖth
まで下がらない場合、再生波形４０は正常なアドレスデ
ータとして読み出される。

【００５４】また波形歪み検出回路３６も、歪み部の電
圧レベルが基準電圧Ｖth1 以下に下がらない場合、再生
波形４０に波形歪みが無いと判定することになる。この
ため、記録のとき設定された等化特性だけでは、再生波
形４０を出力したセクタを波形不良セクタとしてＤＭＡ
に登録できずに、検出漏れが発生してしまう。

【００５５】次に、検証の再生動作のとき、光磁気デイ
スク記録再生装置１５は、図８の等化特性曲線３で示し
たように、高周波域利得を高く設定する。これにより、
再生波形４０は図６（Ｄ）に示すように、波形中央の歪
み部の電圧レベルが再生波形４０に比して低い再生波形
４１に変化する。この再生波形４１は、波形中央の歪み
部の電圧レベルが基準電圧Ｖthまで下がつていない。こ
のため、光磁気デイスク記録再生装置１５は、誤り訂正
回路１８でアドレス誤りを検出することができない。

【００５６】ところが、この再生波形４１の波形中央の
歪み部の電圧レベルが基準電圧Ｖth1 以下に下がつてい
る場合、光磁気デイスク記録再生装置１５は、波形歪み
検出回路３６によつて波形中央の歪み部を検出する。こ
れにより、光磁気デイスク記録再生装置１５は、この再
生波形４１をもつアドレスデータを不良アドレスとして
判定し、システムコントロール回路１６で不良セクタと
して登録することができる。

【００５７】このようにして、光磁気デイスク記録再生
装置１５は、記録動作のときと再生動作のときとで等化
特性の高周波域利得を切り換えると共に、波形歪みを検
出する。これにより、光磁気デイスク記録再生装置１５
は、光磁気デイスクの微小欠陥等により発生した不良セ
クタを一段と高い精度で検出してアドレスデータの信頼
性を向上させることができる。

【００５８】以上の構成によれば、検証データを再生す
るとき、高周波回路１９内の等化回路３２の等化特性を
検証データを記録したときと異なる等化特性に切り換え
ると共に、再生高周波信号Ｓ４の波形歪みを検出するこ
とにより、従来確実に検出することが難しかつた光磁気
デイスク上のアドレス部の欠陥による波形歪み部のレベ
ル変化が強調されて、アドレス部の欠陥を一段と高い精
度で検出することができる。これにより、高密度で記録
する光磁気デイスクの検証の信頼性を一段と向上させる
ことができる。

【００５９】また、検証中にモードを変えることによつ
て１回の検証動作で充分な信頼性を確保することができ
る。これにより、製造コストの上昇をも抑えることがで
きる。

【００６０】なお上述の実施例においては、光磁気デイ
スク２０を検証する場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、任意の記録方式で記録したデイスク状記録
媒体を検証する検査装置に広く適用できる。この場合に
も上述と同様の効果を得ることができる。

【００６１】また上述の実施例においては、アドレスデ
ータに対して検証する場合について述べたが、本発明は
これに限らず、ユーザ用記録領域に記録したデータを検
証する場合にも適用することができる。

【００６２】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、データを
再生するとき、高周波信号の等化手段の等化特性をデー
タを記録したときと異なる等化特性に切り換えることに
より、従来確実に検出することが難しかつたデイスク状
記録媒体上の欠陥位置による波形歪み部のレベル変化が
強調されて、この欠陥位置を一段と高い精度で検出する
ことができる。これにより、高密度で記録するデイスク
状記録媒体の検査の信頼性を一段と向上させ得るデイス
ク検査装置及びデイスク検査方法を実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるデイスク検査装置及びデイスク検
査方法による光磁気デイスク記録再生装置の一実施例を
示すブロツク図である。

【図２】図１の光磁気デイスク記録再生装置の不良セク
タ検出系を示すブロツク図である。

【図３】複数のしきい値による歪み検出状態の説明に供
する波形図である。

【図４】波形歪み検出回路の構成を示す接続図である。

【図５】デイスク上の記録フオーマツト例を示す略線図
である。

【図６】等化特性の差異による波形の変化及び歪み検出
信号を示す波形図である。

【図７】けられ率毎のＭＴＦを示す特性曲線図である。

【図８】高周波域利得が異なる２種類の等化特性を示す
特性曲線図である。

【図９】等化特性の差異による波形の変化及び歪み検出
信号を示す波形図である。

【符号の説明】

１、２……ＭＴＦ曲線、３、４……等化特性曲線、５、
６、８、１０、１１、１３、３５、４０、４１……再生
波形、７、９、１２、１４……比較波形、１５……光磁
気デイスク記録再生装置、１６……システムコントロー
ル回路、１７……ＳＣＳＩコントローラ、１８……誤り
訂正回路、１９……高周波信号回路、２０……光磁気デ
イスク、２１……レーザパワーコントロール回路、２２
……光ヘツド固定部、２３……レーザダイオード、２４
……光ヘツド可動部、２５……光検出器、２６……プリ
アンプ、２７……高周波重畳回路、２８……フオーカス
サーボ回路、２９……トラツキングサーボ回路、３０…
…デイスクサーボ回路、３１……ラジアルサーボ回路、
３２……等化回路、３３、３７、３８……コンパレー
タ、３４……ＰＬＬ回路、３６……波形歪み検出回路、
３９……排他的論理和回路。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】デイスク状記録媒体を検査して欠陥位置を
判別するデイスク検査装置において、上記デイスク状記録媒体に記録再生する高周波信号を等
化する際の、互いに異なる第１及び第２の等化特性を有
する等化手段と、上記デイスク状記録媒体より再生して上記等化した上記
高周波信号に基づいて得た再生データの誤りを訂正する
データ誤り訂正手段と、上記等化手段を制御する制御手段とを具え、上記第１及
び第２の等化特性を切り換えて上記データ誤り訂正手段
の訂正結果に基づいて上記欠陥位置を判別することを特
徴とするデイスク検査装置。
【請求項２】上記等化された高周波信号が入力され、当
該高周波信号の波形歪みを検出する波形歪み検出手段を
有し、上記データ誤り訂正手段の訂正結果と、上記波形歪み検
出手段の検出結果とに基づいて上記欠陥位置を判別する
ことを特徴とする請求項１に記載のデイスク検査装置。
【請求項３】上記第１及び第２の等化特性は、高周波域
の利得が異なることを特徴とする請求項１に記載のデイ
スク検査装置。
【請求項４】デイスク状記録媒体を検査して欠陥位置を
判別するデイスク検査装置において、上記デイスク状記録媒体に記録再生する高周波信号を等
化する際の、互いに異なる第１及び第２の等化特性を有
する等化手段と、上記デイスク状記録媒体より再生して上記等化した高周
波信号が入力され、当該高周波信号の波形歪みを検出す
る波形歪み検出手段と、上記等化手段を制御する制御手段とを具え、上記第１及
び第２の等化特性を切り換えて上記波形歪み検出手段の
検出結果に基づいて上記欠陥位置を判別することを特徴
とするデイスク検査装置。
【請求項５】上記第１及び第２の等化特性は、高周波域
の利得が異なることを特徴とする請求項４に記載のデイ
スク検査装置。
【請求項６】デイスク状記録媒体を検査して欠陥位置を
判別するデイスク検査方法において、記録データに対応した高周波信号を上記デイスク状記録
媒体に記録する際の第１の等化特性と異なる第２の等化
特性に切り換えて、上記デイスク状記録媒体より再生し
た上記高周波信号を上記第２の等化特性により等化する
等化処理と、上記等化した高周波信号に基づいて得た再生データの誤
りを訂正するデータ誤り訂正処理と、上記データ誤り訂正処理の訂正結果に基づいて上記欠陥
位置を判別する欠陥位置判別処理とを具えることを特徴
とするデイスク検査方法。
【請求項７】上記等化した高周波信号の波形歪みを検出
する波形歪み検出処理を有し、上記欠陥位置判別処理は、上記データ誤り訂正処理の訂正結果と、上記波形歪み検
出処理の検出結果とに基づいて上記欠陥位置を判別する
ことを特徴とする請求項６に記載のデイスク検査方法。
【請求項８】上記第１及び第２の等化特性は、高周波域
の利得が異なることを特徴とする請求項６に記載のデイ
スク検査方法。
【請求項９】デイスク状記録媒体を検査して欠陥位置を
判別するデイスク検査方法において、記録データに対応した高周波信号を上記デイスク状記録
媒体に記録する際の第１の等化特性と異なる第２の等化
特性に切り換えて、上記デイスク状記録媒体より再生し
た上記高周波信号を上記第２の等化特性により等化する
等化処理と、上記等化した高周波信号の波形歪みを検出する波形歪み
検出処理と、上記波形歪み検出処理の検出結果に基づいて上記欠陥位
置を判別する欠陥位置判別処理とを具えることを特徴と
するデイスク検査方法。
【請求項１０】上記第１及び第２の等化特性は、高周波
域の利得が異なることを特徴とする請求項９に記載のデ
イスク検査方法。