JPH09243561A - 試料断面観察方法及びその装置 - Google Patents
試料断面観察方法及びその装置Info
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- JPH09243561A JPH09243561A JP5143896A JP5143896A JPH09243561A JP H09243561 A JPH09243561 A JP H09243561A JP 5143896 A JP5143896 A JP 5143896A JP 5143896 A JP5143896 A JP 5143896A JP H09243561 A JPH09243561 A JP H09243561A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 試料を三次元形状（ブロック形状）のまま蛍
光染色し、不透明な包埋剤を用いて包埋した後、試料を
切削してその断面を観察することにより、試料のＸ，
Ｙ，Ｚ軸方向に分解能の高い画像を容易に観察すること
ができる試料断面観察方法及びその装置を提供する。 【解決手段】 少なくとも蛍光観察に用いる波長に対し
ては光を通さない包埋剤２を用いて包埋される蛍光染色
された試料１を用意し、蛍光物質が反応する光１５を試
料面に照射し、その試料面から励起した光１６ａを観察
するようにしたものである。
光染色し、不透明な包埋剤を用いて包埋した後、試料を
切削してその断面を観察することにより、試料のＸ，
Ｙ，Ｚ軸方向に分解能の高い画像を容易に観察すること
ができる試料断面観察方法及びその装置を提供する。 【解決手段】 少なくとも蛍光観察に用いる波長に対し
ては光を通さない包埋剤２を用いて包埋される蛍光染色
された試料１を用意し、蛍光物質が反応する光１５を試
料面に照射し、その試料面から励起した光１６ａを観察
するようにしたものである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、理科学試料分析、
食品分析、医療分析、工業材料及び工業製品構造分析等
の検査・分析を行う観察方法及びその装置に係り、特に
試料を少なくとも蛍光観察に用いる波長に対しては光を
通さない（以下、単に不透明という。）包埋剤で包埋
し、その内部の蛍光物質の局在を観察する試料断面観察
方法及びその装置に関するものである。
食品分析、医療分析、工業材料及び工業製品構造分析等
の検査・分析を行う観察方法及びその装置に係り、特に
試料を少なくとも蛍光観察に用いる波長に対しては光を
通さない（以下、単に不透明という。）包埋剤で包埋
し、その内部の蛍光物質の局在を観察する試料断面観察
方法及びその装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、生物学、病理検査等で試料の特異
部の詳細な観察を行うためには、蛍光観察法が用いられ
ている。蛍光観察法は、試料に蛍光染色を施し、蛍光物
質が反応する特定の光を照射する。照射された光により
蛍光物質が照射された波長と別の波長の光を励起する。
この励起した光のみを観察することにより、通常の染色
法に比べて高感度に試料の観察が可能である。
部の詳細な観察を行うためには、蛍光観察法が用いられ
ている。蛍光観察法は、試料に蛍光染色を施し、蛍光物
質が反応する特定の光を照射する。照射された光により
蛍光物質が照射された波長と別の波長の光を励起する。
この励起した光のみを観察することにより、通常の染色
法に比べて高感度に試料の観察が可能である。
【０００３】試料への蛍光物質の染色には抗体を用いた
蛍光抗体法や、酵素を用いた酵素抗体法等があり、特定
の蛋白質、ＤＮＡ等を観察することができる方法であ
る。このため、試料内部の微小な物質や、器官の観察、
病原体の検出、癌等診断に広く用いられる方法である。
通常、蛍光観察には、以下に示すような方法が行われて
いる。
蛍光抗体法や、酵素を用いた酵素抗体法等があり、特定
の蛋白質、ＤＮＡ等を観察することができる方法であ
る。このため、試料内部の微小な物質や、器官の観察、
病原体の検出、癌等診断に広く用いられる方法である。
通常、蛍光観察には、以下に示すような方法が行われて
いる。
【０００４】（１）試料を人の手とミクロトーム等を用
いて切片を作製し、切片をスライドガラスに貼り付けて
蛍光染色し、蛍光顕微鏡を用いて観察を行っている。 （２）試料をブロックの状態で染色し、蛍光顕微鏡を用
いて観察する。 （３）試料をブロックの状態で染色し、共焦点レーザ顕
微鏡を用いて、試料内部の一層のみの光学切片を観察す
る。
いて切片を作製し、切片をスライドガラスに貼り付けて
蛍光染色し、蛍光顕微鏡を用いて観察を行っている。 （２）試料をブロックの状態で染色し、蛍光顕微鏡を用
いて観察する。 （３）試料をブロックの状態で染色し、共焦点レーザ顕
微鏡を用いて、試料内部の一層のみの光学切片を観察す
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の試料断面観察方法は、以下のような欠点があ
り、試料の詳細な観察には適していない。 （１）ミクロトームを用いて試料切片を作製するため
に、試料切片を作製するのに、莫大な手間がかかる。ま
た、蛍光観察時に蛍光物質が発する、切片のＸ，Ｙ軸方
向のフレアは除去できない。
た従来の試料断面観察方法は、以下のような欠点があ
り、試料の詳細な観察には適していない。 （１）ミクロトームを用いて試料切片を作製するため
に、試料切片を作製するのに、莫大な手間がかかる。ま
た、蛍光観察時に蛍光物質が発する、切片のＸ，Ｙ軸方
向のフレアは除去できない。
【０００６】（２）ブロック状態の試料を観察するため
に、試料のＸ，Ｙ，Ｚ軸方向の写り込みと蛍光物質の発
するフレアがある。そのために、試料内部の蛍光物質の
立体的な分布を詳細に観察することは困難である。 （３）試料の光学切片を観察することから、試料内部の
レーザ光線の到達しない部位の観察ができない。そのた
めに、試料のＺ軸方向の観察可能な範囲は透明度に左右
されるが、一般にＺ軸方向に１００μｍまでが観察の限
界と言われている。
に、試料のＸ，Ｙ，Ｚ軸方向の写り込みと蛍光物質の発
するフレアがある。そのために、試料内部の蛍光物質の
立体的な分布を詳細に観察することは困難である。 （３）試料の光学切片を観察することから、試料内部の
レーザ光線の到達しない部位の観察ができない。そのた
めに、試料のＺ軸方向の観察可能な範囲は透明度に左右
されるが、一般にＺ軸方向に１００μｍまでが観察の限
界と言われている。
【０００７】また、上記（２），（３）の観察法に共通
する問題点として、試料観察時に、観察を希望する部位
のみならず、その他の部位にも光が照射されているた
め、観察を希望しない部位の蛍光物質が発色し退色す
る。本発明は、上記問題点を解決するために、試料を三
次元形状（ブロック形状）のまま蛍光染色し、不透明な
包埋剤を用いて包埋した後、試料を切削してその断面を
観察することにより、試料のＸ，Ｙ，Ｚ軸方向に分解能
の高い画像を容易に観察することができる試料断面観察
方法及びその装置を提供することを目的とする。
する問題点として、試料観察時に、観察を希望する部位
のみならず、その他の部位にも光が照射されているた
め、観察を希望しない部位の蛍光物質が発色し退色す
る。本発明は、上記問題点を解決するために、試料を三
次元形状（ブロック形状）のまま蛍光染色し、不透明な
包埋剤を用いて包埋した後、試料を切削してその断面を
観察することにより、試料のＸ，Ｙ，Ｚ軸方向に分解能
の高い画像を容易に観察することができる試料断面観察
方法及びその装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、 〔１〕試料断面観察方法において、不透明な包埋剤を用
いて包埋される蛍光染色された試料又は自家蛍光を発す
る試料を用意し、蛍光物質が反応する光を試料面に照射
し、前記試料面から励起した光を観察するようにしたも
のである。
成するために、 〔１〕試料断面観察方法において、不透明な包埋剤を用
いて包埋される蛍光染色された試料又は自家蛍光を発す
る試料を用意し、蛍光物質が反応する光を試料面に照射
し、前記試料面から励起した光を観察するようにしたも
のである。
【０００９】このように、蛍光染色された試料又は自家
蛍光を発する試料を不透明な包埋剤で包埋するようにし
たので、写り込みやフレア、試料の退色を防ぐことがで
き、高解像度試料断面の観察を行うことができる。 〔２〕上記〔１〕記載の試料断面観察方法において、前
記試料を三次元形状となし、連続的に試料の新たな断面
を露出させ、前記試料のＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸方向の観察
を行うようにしたものである。
蛍光を発する試料を不透明な包埋剤で包埋するようにし
たので、写り込みやフレア、試料の退色を防ぐことがで
き、高解像度試料断面の観察を行うことができる。 〔２〕上記〔１〕記載の試料断面観察方法において、前
記試料を三次元形状となし、連続的に試料の新たな断面
を露出させ、前記試料のＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸方向の観察
を行うようにしたものである。
【００１０】したがって、照射される蛍光物質を励起す
る光が、試料の上端の一層のみに当たるため、試料内部
に光が到達しない。そのため、試料内部の蛍光物質の退
色がない。 〔３〕上記〔１〕記載の試料断面観察方法において、前
記試料は、容器内に三次元形状の蛍光染色された試料又
は自家蛍光を発する試料を収納し、前記容器に不透明な
包埋剤を入れ、試料に浸透させ、固体化するようにした
ものである。
る光が、試料の上端の一層のみに当たるため、試料内部
に光が到達しない。そのため、試料内部の蛍光物質の退
色がない。 〔３〕上記〔１〕記載の試料断面観察方法において、前
記試料は、容器内に三次元形状の蛍光染色された試料又
は自家蛍光を発する試料を収納し、前記容器に不透明な
包埋剤を入れ、試料に浸透させ、固体化するようにした
ものである。
【００１１】したがって、三次元形状体の試料を染色す
るために、切片の操作が不要であり、染色の工程も簡便
である。 〔４〕試料断面観察装置において、不透明な包埋剤を用
いて包埋される三次元形状の蛍光染色された試料又は自
家蛍光を発する試料を保持する保持装置と、前記試料を
Ｚ軸方向に移動させ、連続的に新たな試料の断面を露出
させる試料面生成手段と、前記新たな試料の断面に蛍光
物質が反応する特定の光を照射する手段と、前記試料か
ら励起した光を観察する手段とを設けるようにしたもの
である。
るために、切片の操作が不要であり、染色の工程も簡便
である。 〔４〕試料断面観察装置において、不透明な包埋剤を用
いて包埋される三次元形状の蛍光染色された試料又は自
家蛍光を発する試料を保持する保持装置と、前記試料を
Ｚ軸方向に移動させ、連続的に新たな試料の断面を露出
させる試料面生成手段と、前記新たな試料の断面に蛍光
物質が反応する特定の光を照射する手段と、前記試料か
ら励起した光を観察する手段とを設けるようにしたもの
である。
【００１２】したがって、深さ方向（Ｚ軸方向）に長い
試料の観察において、フレアや下層の写り込みがない、
高い精度の蛍光断面画像を得ることが可能な試料断面観
察装置を提供することができる。 〔５〕上記〔４〕記載の試料断面観察装置において、前
記試料面生成手段はマイクロスライサである。
試料の観察において、フレアや下層の写り込みがない、
高い精度の蛍光断面画像を得ることが可能な試料断面観
察装置を提供することができる。 〔５〕上記〔４〕記載の試料断面観察装置において、前
記試料面生成手段はマイクロスライサである。
【００１３】したがって、薄切試料の作製と観察、分析
の工程を連続的な動作により行うことができる。これに
より、変質しやすい試料の分析もスムーズに行うことが
できる。また、薄切片を作製する手間や、薄切片の操作
が不要である。
の工程を連続的な動作により行うことができる。これに
より、変質しやすい試料の分析もスムーズに行うことが
できる。また、薄切片を作製する手間や、薄切片の操作
が不要である。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら詳細に説明する。図１は本発明の
第１実施例を示す試料上部の蛍光観察を行う試料断面観
察装置の構成図、図２は試料上部の一層のみの観察方法
を示す図である。図１に示すように、蛍光染色された試
料１（又は自家蛍光を発する試料でもよい）は、不透明
な包埋剤２に包埋され、ベース３によって固定されてい
る。試料上部をナイフ４で切断して、切断面を観察す
る。観察は、光源１４より発せられた光を、フィルタ１
２，１３により蛍光物質が励起する特定の波長の照射光
１５を選択し、ハーフミラー６により対物レンズ５を通
して、試料上部に照射する。
て図面を参照しながら詳細に説明する。図１は本発明の
第１実施例を示す試料上部の蛍光観察を行う試料断面観
察装置の構成図、図２は試料上部の一層のみの観察方法
を示す図である。図１に示すように、蛍光染色された試
料１（又は自家蛍光を発する試料でもよい）は、不透明
な包埋剤２に包埋され、ベース３によって固定されてい
る。試料上部をナイフ４で切断して、切断面を観察す
る。観察は、光源１４より発せられた光を、フィルタ１
２，１３により蛍光物質が励起する特定の波長の照射光
１５を選択し、ハーフミラー６により対物レンズ５を通
して、試料上部に照射する。
【００１５】図２に示すように、照射光１５が試料上端
に照射されると、試料上端で反射した反射光１６ｂと試
料内部の蛍光物質より励起した励起光１６ａが発生す
る。図１に示すように、試料上端の反射光１６ｂと、試
料が発する励起光１６ａは対物レンズ５及びハーフミラ
ー６を通る。このハーフミラー６を特定の光のみを通過
させるダイクロイックミラーにすることにより、光の選
択性を高めることもできる。ハーフミラー６を通過した
光は試料の反射光を通さないフィルタ７によって、蛍光
物質の発した励起光１６ａのみが通過する。
に照射されると、試料上端で反射した反射光１６ｂと試
料内部の蛍光物質より励起した励起光１６ａが発生す
る。図１に示すように、試料上端の反射光１６ｂと、試
料が発する励起光１６ａは対物レンズ５及びハーフミラ
ー６を通る。このハーフミラー６を特定の光のみを通過
させるダイクロイックミラーにすることにより、光の選
択性を高めることもできる。ハーフミラー６を通過した
光は試料の反射光を通さないフィルタ７によって、蛍光
物質の発した励起光１６ａのみが通過する。
【００１６】フィルタ７を通過した励起光１６ａはハー
フミラー８により、レンズ１０を介して観察者１１によ
り観察することができ、またはカメラ９で記録すること
ができる。このようにして、試料の上端の一層のみの蛍
光観察を行うことが可能である。図３は本発明の第１実
施例を示す試料の作製方法を示す図である。
フミラー８により、レンズ１０を介して観察者１１によ
り観察することができ、またはカメラ９で記録すること
ができる。このようにして、試料の上端の一層のみの蛍
光観察を行うことが可能である。図３は本発明の第１実
施例を示す試料の作製方法を示す図である。
【００１７】（１）まず、図３（ａ）に示すように、容
器１８を用意する。 （２）次に、図３（ｂ）に示すように、容器１８の中に
蛍光染色された三次元形状の試料１を入れる。 （３）次に、図３（ｃ）に示すように、試料１を入れた
容器１８の中に、不透明または不透明化した包埋剤２を
入れ、試料に浸透させる。この際、包埋剤２は樹脂・パ
ラフィン等種々の材料を示す。
器１８を用意する。 （２）次に、図３（ｂ）に示すように、容器１８の中に
蛍光染色された三次元形状の試料１を入れる。 （３）次に、図３（ｃ）に示すように、試料１を入れた
容器１８の中に、不透明または不透明化した包埋剤２を
入れ、試料に浸透させる。この際、包埋剤２は樹脂・パ
ラフィン等種々の材料を示す。
【００１８】ここでは、真空吸引、超音波照射、加圧、
回転、振動、遠心力を用いて、試料内部に包埋剤２を浸
透させる。 （４）次に、図３（ｄ）に示すように、試料内部に包埋
剤２が浸透した状態で包埋剤２を固形化させる。固形化
させる方法は、包埋剤により異なるが、加熱、酸素遮
断、時間経過等の方法がある。
回転、振動、遠心力を用いて、試料内部に包埋剤２を浸
透させる。 （４）次に、図３（ｄ）に示すように、試料内部に包埋
剤２が浸透した状態で包埋剤２を固形化させる。固形化
させる方法は、包埋剤により異なるが、加熱、酸素遮
断、時間経過等の方法がある。
【００１９】（５）次に、固形化した試料をナイフ４を
用いて切断し、試料の断面を作製する。この切断方法と
しては、ナイフ以外のエンドミル、バイス、カッター、
レーザによる切断方法等が含まれる。次に、図３（ｅ）
に示すように、切断した試料に蛍光物質が励起光を発す
る特定の波長の照射光１５を照射し、結局、蛍光物質の
発する励起光１６ａのみを観察する。試料に照射した光
は、包埋剤が不透明であるため、試料内部には入らず、
試料上部の一層のみを観察することができる。この一層
の厚さは、試料を包埋する包埋剤の不透明度により制御
することができる。
用いて切断し、試料の断面を作製する。この切断方法と
しては、ナイフ以外のエンドミル、バイス、カッター、
レーザによる切断方法等が含まれる。次に、図３（ｅ）
に示すように、切断した試料に蛍光物質が励起光を発す
る特定の波長の照射光１５を照射し、結局、蛍光物質の
発する励起光１６ａのみを観察する。試料に照射した光
は、包埋剤が不透明であるため、試料内部には入らず、
試料上部の一層のみを観察することができる。この一層
の厚さは、試料を包埋する包埋剤の不透明度により制御
することができる。
【００２０】図４は本発明の第２実施例を示す試料の観
察装置を示す図であり、本願発明者等によって提案され
たマイクロスライサ（特開平６−２５８５７８号公報参
照）と組み合わせた例である。図４に示すように、モー
タ２９により駆動された伝導ベルト２８を通して、スピ
ンドル２５が回転され、下部に取り付けられたフライホ
イール２７と、上部に取り付けられたカウンタバランス
２４、カッターアーム２３に装着されたナイフ４が回転
する。３１は第１のプレートであり、不透明な包埋剤に
包埋し、蛍光染色した試料３２を保持する機構が設けら
れいる。３３は第２プレートである。
察装置を示す図であり、本願発明者等によって提案され
たマイクロスライサ（特開平６−２５８５７８号公報参
照）と組み合わせた例である。図４に示すように、モー
タ２９により駆動された伝導ベルト２８を通して、スピ
ンドル２５が回転され、下部に取り付けられたフライホ
イール２７と、上部に取り付けられたカウンタバランス
２４、カッターアーム２３に装着されたナイフ４が回転
する。３１は第１のプレートであり、不透明な包埋剤に
包埋し、蛍光染色した試料３２を保持する機構が設けら
れいる。３３は第２プレートである。
【００２１】このように、不透明な包埋剤に包埋し、蛍
光染色した試料３２は、先に説明したナイフ４により上
端を切断される。切断された試料３２は試料切断面の上
方に設置した落射蛍光顕微鏡により観察される。落射蛍
光顕微鏡の対物レンズ３５を通過した光は、試料切断面
を照射し、試料上部の蛍光物質が励起光を発する。この
励起光を落射蛍光顕微鏡の対物レンズ３５を用いて観察
する。
光染色した試料３２は、先に説明したナイフ４により上
端を切断される。切断された試料３２は試料切断面の上
方に設置した落射蛍光顕微鏡により観察される。落射蛍
光顕微鏡の対物レンズ３５を通過した光は、試料切断面
を照射し、試料上部の蛍光物質が励起光を発する。この
励起光を落射蛍光顕微鏡の対物レンズ３５を用いて観察
する。
【００２２】観察した後、試料は直動機構（図示なし）
により任意の切断の厚さ分上方に送られる。なお、この
直動機構は例えば、圧電アクチュエータからなり、微小
駆動させるように構成されている。ナイフの回転、試料
の送りはエンコーダ２６の信号によりコントロールされ
ている。このようにして、本発明の不透明な包埋剤に包
埋した試料とスライサを組み合わせることにより、その
試料のＺ軸方向の観察も可能となり、試料内部の蛍光物
質の詳細な三次元構造を観察することが可能となる。
により任意の切断の厚さ分上方に送られる。なお、この
直動機構は例えば、圧電アクチュエータからなり、微小
駆動させるように構成されている。ナイフの回転、試料
の送りはエンコーダ２６の信号によりコントロールされ
ている。このようにして、本発明の不透明な包埋剤に包
埋した試料とスライサを組み合わせることにより、その
試料のＺ軸方向の観察も可能となり、試料内部の蛍光物
質の詳細な三次元構造を観察することが可能となる。
【００２３】例えば、図５に示すように、包埋剤３２に
包埋された試料１はスライサによって切断され、第１の
断面を示す画像１９、第２の断面を示す画像２０、第３
の断面を示す画像２１、第４の断面を示す画像２２のよ
うにＺ軸方向の断面画像を得ることができ、包埋剤３２
が不透明なため、観察された試料断面には下層の写り込
みが見られない。
包埋された試料１はスライサによって切断され、第１の
断面を示す画像１９、第２の断面を示す画像２０、第３
の断面を示す画像２１、第４の断面を示す画像２２のよ
うにＺ軸方向の断面画像を得ることができ、包埋剤３２
が不透明なため、観察された試料断面には下層の写り込
みが見られない。
【００２４】したがって、試料のＺ軸方向の観察を高分
解能で行うことができる。なお、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、本発明の趣旨に基づき種々の
変形が可能であり、それらを本発明の範囲から排除する
ものではない。
解能で行うことができる。なお、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、本発明の趣旨に基づき種々の
変形が可能であり、それらを本発明の範囲から排除する
ものではない。
【００２５】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、以下のような効果を奏することができる。 （１）請求項１記載の発明によれば、蛍光染色した試料
又は自家蛍光を発する試料を不透明な包埋剤で包埋する
ようにしたので、写り込みやフレア、試料の退色を防ぐ
ことができ、高解像度試料断面の観察を行うことができ
る。
よれば、以下のような効果を奏することができる。 （１）請求項１記載の発明によれば、蛍光染色した試料
又は自家蛍光を発する試料を不透明な包埋剤で包埋する
ようにしたので、写り込みやフレア、試料の退色を防ぐ
ことができ、高解像度試料断面の観察を行うことができ
る。
【００２６】（２）請求項２記載の発明によれば、試料
切断面の一層のみを観察するために、蛍光物質が励起す
る波長の光のみを照射し、蛍光物質が発する光のみを観
察することができる。また、照射される蛍光物質を励起
する光が、試料の上端の一層のみに当たるため、試料内
部に光が到達しない。そのため、試料内部の蛍光物質の
退色がない。
切断面の一層のみを観察するために、蛍光物質が励起す
る波長の光のみを照射し、蛍光物質が発する光のみを観
察することができる。また、照射される蛍光物質を励起
する光が、試料の上端の一層のみに当たるため、試料内
部に光が到達しない。そのため、試料内部の蛍光物質の
退色がない。
【００２７】（３）請求項３記載の発明によれば、三次
元形状体の試料を染色するために、切片の操作が不要で
あり、染色の工程も簡便である。 （４）請求項４記載の発明によれば、深さ方向（Ｚ軸方
向）に長い試料の観察において、フレアや下層の写り込
みがない、高い精度の蛍光断面画像を得ることが可能な
試料断面観察装置を提供することができる。
元形状体の試料を染色するために、切片の操作が不要で
あり、染色の工程も簡便である。 （４）請求項４記載の発明によれば、深さ方向（Ｚ軸方
向）に長い試料の観察において、フレアや下層の写り込
みがない、高い精度の蛍光断面画像を得ることが可能な
試料断面観察装置を提供することができる。
【００２８】（５）請求項５記載の発明によれば、薄切
試料の作製と観察、分析の工程を連続的な動作により行
うことができる。これにより、変質しやすい試料の分析
もスムーズに行うことができる。また、薄切片を作製す
る手間や、薄切片の操作が不要である。
試料の作製と観察、分析の工程を連続的な動作により行
うことができる。これにより、変質しやすい試料の分析
もスムーズに行うことができる。また、薄切片を作製す
る手間や、薄切片の操作が不要である。
【図１】本発明の第１実施例を示す試料上部の蛍光観察
を行う試料断面観察装置の構成図である。
を行う試料断面観察装置の構成図である。
【図２】本発明の第１実施例を示す試料上部の一層のみ
の観察方法を示す図である。
の観察方法を示す図である。
【図３】本発明の第１実施例を示す試料の作製方法を示
す図である。
す図である。
【図４】本発明の第２実施例を示す試料の観察装置を示
す図である。
す図である。
【図５】本発明の第２実施例を示す試料の観察方法を示
す図である。
す図である。
１，３２ 蛍光染色された試料（又は自家蛍光を発す
る試料） ２ 不透明な（蛍光観察に用いる波長に対しては光を
通さない）包埋剤 ３ ベース ４ ナイフ ５ 対物レンズ ６ ハーフミラー ７，１２，１３ フィルタ ８ ハーフミラー ９ カメラ １０ レンズ １１ 観察者 １４ 光源 １５ 照射光（特定の波長の光） １６ａ 励起光 １６ｂ 反射光 １８ 容器 １９ 第１の断面を示す画像 ２０ 第２の断面を示す画像 ２１ 第３の断面を示す画像 ２２ 第４の断面を示す画像 ２３ カッターアーム ２４ カウンタバランス ２５ スピンドル ２６ エンコーダ ２７ フライホイール ２８ 伝導ベルト ２９ モータ ３１ 第１のプレート ３３ 第２のプレート ３５ 落射蛍光顕微鏡の対物レンズ
る試料） ２ 不透明な（蛍光観察に用いる波長に対しては光を
通さない）包埋剤 ３ ベース ４ ナイフ ５ 対物レンズ ６ ハーフミラー ７，１２，１３ フィルタ ８ ハーフミラー ９ カメラ １０ レンズ １１ 観察者 １４ 光源 １５ 照射光（特定の波長の光） １６ａ 励起光 １６ｂ 反射光 １８ 容器 １９ 第１の断面を示す画像 ２０ 第２の断面を示す画像 ２１ 第３の断面を示す画像 ２２ 第４の断面を示す画像 ２３ カッターアーム ２４ カウンタバランス ２５ スピンドル ２６ エンコーダ ２７ フライホイール ２８ 伝導ベルト ２９ モータ ３１ 第１のプレート ３３ 第２のプレート ３５ 落射蛍光顕微鏡の対物レンズ
Claims (5)
- 【請求項１】（ａ）少なくとも蛍光観察に用いる波長に
対しては光を通さない包埋剤を用いて包埋される蛍光染
色された試料又は自家蛍光を発する試料を用意し、
（ｂ）蛍光物質が反応する光を試料面に照射し、（ｃ）
前記試料面から励起した光を観察することを特徴とする
試料断面観察方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の試料断面観察方法におい
て、前記試料を三次元形状となし、連続的に試料の新た
な断面を露出させ、前記試料のＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸方向
の観察を行うことを特徴とする試料断面観察方法。 - 【請求項３】 請求項１記載の試料断面観察方法におい
て、前記試料は、容器内に三次元形状の蛍光染色された
試料を収納し、前記容器に前記包埋剤を入れ、試料に浸
透させ、固体化することを特徴とする試料断面観察方
法。 - 【請求項４】（ａ）少なくとも蛍光観察に用いる波長に
対しては光を通さない包埋剤を用いて包埋される三次元
形状の蛍光染色された試料又は自家蛍光を発する試料を
保持する保持装置と、（ｂ）前記試料をＺ軸方向に移動
させ、連続的に新たな試料の断面を露出させる試料面生
成手段と、（ｃ）前記新たな試料の断面に蛍光物質が反
応する特定の光を照射する手段と、（ｄ）前記試料から
励起した光を観察する手段とを具備することを特徴とす
る試料断面観察装置。 - 【請求項５】 請求項４記載の試料断面観察装置におい
て、前記試料面生成手段はマイクロスライサである試料
断面観察装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5143896A JPH09243561A (ja) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | 試料断面観察方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5143896A JPH09243561A (ja) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | 試料断面観察方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09243561A true JPH09243561A (ja) | 1997-09-19 |
Family
ID=12886943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5143896A Withdrawn JPH09243561A (ja) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | 試料断面観察方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09243561A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002148153A (ja) * | 2000-11-15 | 2002-05-22 | Inst Of Physical & Chemical Res | ３次元内部構造の解析方法及び装置 |
| JP2007212276A (ja) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Seiko Instruments Inc | 薄切片作製装置及び薄切片の作製方法 |
| JP2007218616A (ja) * | 2006-02-14 | 2007-08-30 | Seiko Instruments Inc | 自動薄切装置、自動薄切片標本作製装置及び自動薄切方法 |
| JP2008046127A (ja) * | 2006-08-16 | 2008-02-28 | Fei Co | 試料の薄片から画像を取得する方法 |
| WO2008078752A1 (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-03 | Nisshin Seifun Group Inc. | 加工食品またはその製造原料の組織構造画像の形成方法 |
| JP2009523227A (ja) * | 2005-12-22 | 2009-06-18 | エフ イー アイ カンパニ | 試料中のラベルを特定する方法 |
-
1996
- 1996-03-08 JP JP5143896A patent/JPH09243561A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2008078752A1 (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-03 | Nisshin Seifun Group Inc. | 加工食品またはその製造原料の組織構造画像の形成方法 |
| JPWO2008078752A1 (ja) * | 2006-12-27 | 2010-04-30 | 株式会社日清製粉グループ本社 | 加工食品またはその製造原料の組織構造画像の形成方法 |
| US8603826B2 (en) | 2006-12-27 | 2013-12-10 | Nisshin Seifun Group Inc. | Method of forming tissue structure image of processed food or raw material for producing the same |
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