JPH09243657A - 容量型加速度センサ - Google Patents

容量型加速度センサ

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JPH09243657A
JPH09243657A JP8073054A JP7305496A JPH09243657A JP H09243657 A JPH09243657 A JP H09243657A JP 8073054 A JP8073054 A JP 8073054A JP 7305496 A JP7305496 A JP 7305496A JP H09243657 A JPH09243657 A JP H09243657A
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JP
Japan
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thin film
electrode
glass substrate
acceleration sensor
capacitive acceleration
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Application number
JP8073054A
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English (en)
Inventor
Takayuki Haruyama
隆之 春山
Masatoshi Oba
正利 大場
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP8073054A priority Critical patent/JPH09243657A/ja
Publication of JPH09243657A publication Critical patent/JPH09243657A/ja
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/0825—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0828—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass the mass being of the paddle type being suspended at one of its longitudinal ends

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 温度変化による出力変化を防止する容量型加
速度センサを提供すること 【解決手段】 シリコン基板1の両面に、それぞれ第1
のガラス基板2と第2のガラス基板3を接合する。第1
のガラス基板2の非接合面にはAlが蒸着されており、
可動電極または固定電極と電気的に接続される電極用薄
膜14a,14bが形成されている。またセンサチップ
の反対面となる第2固定電極の非接合面にはCrが蒸着
されており、ダミー薄膜20が形成されている。よっ
て、温度変化が生じた場合、電極用薄膜とダミー薄膜が
同じように膨張または縮小する。よってガラス基板との
熱膨張係数の相違によりセンサにかかる応力が対向する
両面にかかるので、センサ全体では反りが生じることは
なく、容量型加速度センサの出力は温度によって変化す
ることはない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、容量型加速度セン
サに関するもので、より具体的には、加速度や振動を検
出するための容量型加速度センサに関するものである。
【0002】
【従来の技術】図8,図9は、従来の容量型加速度セン
サの一例を示している。同図に示すように、偏平な矩形
状のシリコン基板1の上面に、第1のガラス基板2を接
合する。また、シリコン基板1の下面に、第2のガラス
基板3を接合する。
【0003】シリコン基板1は、エッチング加工によ
り、周囲の平面ロ字状の支持枠5に対し、2本の梁部6
を介して重り部7を片持ち支持状に連結した構造として
いる。そして、図9から明らかなように、重り部7の上
下両面と、対向する両ガラス基板2,3の対向面との間
には、所定の隙間を形成している。これにより、重り部
7に加速度が加わると、梁部6が撓み、それにともない
重り部7が変位し、前記隙間の距離が変化するようにし
ている。なお、上記重り部7の上面は、可動電極9とな
る。
【0004】さらに支持枠5の所定位置に電気・機械的
に分離された独立領域8を有している。そして、その独
立領域8の周囲に形成される空間と、重り部7の周囲に
形成される空間は、支持枠5の上面に形成された溝10
によりつながれ、連続した空間となっている。
【0005】一方、第1のガラス基板2は、その下面に
Cr等の導体を付着させることにより、固定電極11を
形成している。係る固定電極11は、可動電極9に対向
する位置に、可動電極9とほぼ同じ形状となるように形
成されている。従って、上記したように、重り部7が変
位して隙間の距離が変化すると、両電極9,11間の距
離が変化し、両者間の静電容量も変化する。よって、そ
の静電容量の変化を検出することにより、重り部7の変
位量、すなわち、加速度を検出することができるように
なる。
【0006】そして、両電極9,11間の静電容量の変
化に基づく信号を外部に取り出すための構造が、主とし
て第1のガラス基板2側に形成されている。すなわち、
まず、第1のガラス基板2の下面には、固定電極9に連
続してリード部12が形成されている。このリード部1
2は、シリコン基板1と第1のガラス基板2とが接合し
た際に、上記した溝10に対向するように形成され、そ
のリード部12の幅は溝10の幅よりも小さくなるよう
に形成されている。さらに、リード部12の先端が、独
立領域8の上面に位置している。これにより、リード部
12は、支持枠5と非接触となり、独立領域8に電気的
に接続されるようになる。
【0007】さらに、第1のガラス基板2には、上下に
貫通する2つの孔部(第1孔部13a,第2孔部13
b)が形成される。この時、第1孔部13aは、独立領
域8に対向し、また、第2孔部13bは、支持枠5に対
向するようにしている。
【0008】さらにまた、第1のガラス基板2の上面
に、2つの領域に分離された電極用薄膜14a,14b
が形成される。そして、一方の電極用薄膜14aが形成
された領域内には、第1孔部13aが存在し、他方の電
極用薄膜14bが形成された領域には、第2孔部13b
が存在するように形成する。また、各孔部13a,13
bの内面には、上記薄膜14a,14bが付着し、スル
ーホールを構成している。
【0009】これにより、第1孔部13aを介して電極
用薄膜14aと独立領域8とが導通されるので、固定電
極11は、リード部12,独立領域8,第1孔部13a
を介して電極用薄膜14aと電気的に接続する。また、
同様に、第2孔部13bを介して電極用薄膜14bと支
持枠5が導通されるので、可動電極9は、電極用薄膜1
4と電気的に接続する。
【0010】さらに、各電極用薄膜14a,14bの上
面には、それぞれボンディングワイヤ16a,16bが
取り付けられている。これにより、両ボンディングワイ
ヤ196a,16bを介して両電極9,11間に発生す
る静電容量に応じた信号を取り出すことができる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の容量型加速度センサでは、以下に示す問題を有
する。すなわち、第1のガラス基板2の上面に形成され
た電極用薄膜14a,14bと第1のガラス基板2の熱
膨張率が大きく異なるため、周囲の温度変化に伴い、第
1のガラス基板2と電極用薄膜14a,14bがそれぞ
れの熱膨張係数に応じて膨張/収縮しようとするので、
両者間に応力が発生する。係る応力はセンサ全体でみる
と、主としてセンサの上面(第1のガラス基板2)側に
発生するので、反りが生じる。
【0012】そして、センサに反りが生じると、センサ
の内部に形成されている可動電極9,固定電極11にも
歪みが生じてしまい、両電極間の距離が変化してしま
う。つまり、加速度が加わっていなくても、温度変化に
より静電容量が変化するので測定精度が低下する。特
に、車載用のセンサの場合には、−30℃〜+80℃の
範囲で周囲温度の変化があり得るので、上記問題がより
顕著となる。
【0013】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、上記した問題点を解
決し、温度変化によるセンサ全体の歪みの発生を可及的
に抑制し、熱的に安定な容量型加速度センサを提供する
ことにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、本発明に係る容量型加速度センサでは、振動,加
速度等の物理量に応じて変位する重り部を備えた半導体
基板の両面に絶縁基板を接合するとともに、少なくとも
一方の絶縁基板の前記重り部に形成された可動電極に対
向する面に固定電極を備えた構成を前提とする。そし
て、両方の絶縁基板の前記半導体基板との接合面と反対
側の表面に、それぞれ所定の導電性薄膜を形成した(請
求項1)。
【0015】そして、好ましくは、前記一方の絶縁基板
に形成された前記導電性薄膜が、電気的に分離された複
数の領域に分割され、かつ、各領域の導電性薄膜に、前
記固定電極並びに前記重り部に形成れさた可動電極を電
気的に接続することである(請求項2)。
【0016】半導体基板の両面に接合された絶縁基板の
両表面に導電性薄膜が形成されるので、半導体基板を中
心としてほぼ面対称な構造となる。従って、たとえ導電
性薄膜と絶縁基板との熱膨張係数が大きく異なっていた
としても、温度変化に伴う応力の発生方向は、両絶縁基
板で互いに反対方向となるので、相殺される。よって、
各基板が歪むことがなく、可動電極と固定電極間の距離
が温度によって変化しない。
【0017】絶縁基板としては、実施の形態ではガラス
基板であるが、これに限ることはなく合成樹脂その他の
種々の材料を用いることができる。また、両方の絶縁基
板の表面に形成する導電性薄膜の材質は、同一の材質あ
るいは熱膨張係数が近似する材質が好ましいが、異なる
ものでももちろんよい。また、形状や形成する層数も同
じにすると、温度変化に伴い生じる歪みが少なくなり好
ましいが、異なっていてももちろんよい。
【0018】また、請求項2のように構成した場合に
は、片面側から信号を取り出すことになり、係る場合
に、可動電極,固定電極と接続された導電性薄膜が実施
の形態の電極用薄膜に相当し、反対側の導電性薄膜が実
施の形態のダミー薄膜に相当する。
【0019】さらに、前記導電性薄膜の表面の少なくと
も一部を絶縁性薄膜で覆うようにするとより好ましい
(請求項3)。係る構成にすると、導電性薄膜が長期に
わたって腐食等の変質を生じることがなく、長期にわた
って、熱的に安定な状態が維持される。
【0020】
【発明の実施の形態】図1,図2は、本発明に係る容量
型加速度センサの第1の実施の形態を示している。同図
に示すように、基本的なセンサ部分の構成は、従来のも
のと同様である。すなわち、重り部7を有するシリコン
基板1の上下両面に、それぞれ第1,第2のガラス基板
2,3を陽極接合により接合し一体化している。そし
て、重り部7の上面が可動電極9となり、第1のガラス
基板2の下面に固定電極11が形成されている。
【0021】さらに、第1のガラス基板2の上面には、
2つの領域に分離された電極用薄膜14a,14bが形
成されており、この電極用薄膜14a,14bに固定電
極11及び可動電極9が導通される。なお、その導通す
るための構成は、従来例と同様であるので、同一符号を
付し、詳細な説明を省略する。
【0022】また、本例では、上記した電極用薄膜14
a,14bは、Alから構成され、その形状は、第1の
ガラス基板2の長辺に沿って平行に伸びる同一形状の長
方形に構成される。そして、係る電極用薄膜14a,1
4bを製造するには、まず、第1のガラス基板2の上面
全体にAlを蒸着して成膜し、その後、中心線上をハー
フダイシングし、成膜したAlの一部を帯状に除去す
る。これにより、その除去された中心線(ダイシングラ
イン15)を境に、2つの領域に分離された電極用薄膜
14a,14bが形成される。また、ハーフダイシング
することにより、第1のガラス基板2の表面も一部除去
されるため、ダイシングライン15に相当するガラス基
板2の表面にも溝が形成される。なお、係る構成は従来
公知のものと同様であるため、対向する部材に同一符号
を付し、その詳細な説明を省略する。
【0023】ここで本発明では、電極用薄膜14a,1
4bの形成面と反対側の面、すなわち、第2のガラス基
板3の下面にダミー薄膜20を形成している。このダミ
ー薄膜20は、本例ではCrを蒸着することにより構成
し、しかも、第2のガラス基板3の下面全面に、厚みが
均一となるように形成されている。
【0024】係る構成にすると、加速度センサは、上面
に電極用薄膜14a,14bが形成されており、下面に
ダミー薄膜20が形成されている。すると、CrとAl
は、ともに金属であり両者の熱膨張係数の差は、ガラス
との差に比べると小さい。従って、温度変化に伴い第1
のガラス基板2と電極用薄膜14a,14bとの間で生
じる応力と、第2のガラス基板3とダミー薄膜20との
間で生じる応力はほぼ等しくなり、相殺される。つま
り、電極用薄膜14a,14b側で生じていた加速度セ
ンサを反らせようとする力を、ダミー薄膜20により打
ち消す。よって、温度変化が生じてもセンサに反りが生
じることがなく、可動電極9と固定電極11との距離は
均一に保たれる。従って、温度変化があっても可動電極
9,固定電極11間に発生する静電容量に変化は生じ
ず、熱的に安定する。
【0025】なお、上記した第1の実施の形態では、ダ
ミー薄膜20をCrを用いて構成したが、電極用薄膜と
同じ材質のAlを用いて構成してももちろんよい。係る
場合には、熱膨張係数や、ガラス基板との接着強度も電
極用薄膜と同じになるので、反り・歪みなどなく、より
特性が向上する。
【0026】図3は、本発明に係る第2の実施の形態を
示している。本実施の形態は、第1のガラス基板2の上
面に形成する電極用導電膜14を、下層21と上層22
の2層構造にしたタイプの加速度センサに適用した例を
示している。すなわち、下層21は、ガラスと密着性の
良い金属であるCrを蒸着して形成する。また、上層2
2は、ボンディングワイヤ16とのボンディング性の良
好な金属であるAuを蒸着して形成する。また、Crと
Auは、ともに金属であるので、両者間での密着性は良
好となる。つまり、Auを直接ガラスの表面に蒸着する
ことができないので、Crを接着層として使用するよう
にしている。
【0027】そして、係る構成において、第2のガラス
基板3の下面に、ダミー薄膜20を設ける。このダミー
薄膜20は、本形態ではCrを蒸着した一層構造として
いる。そして、図では現れていないが、電極用薄膜14
は、第1の実施の形態(図1)と同様に、ダイシングラ
インにより2つに分離されている。また、ダミー薄膜2
0は、基板全面に成膜されている。
【0028】このように、ダミー薄膜20を設けること
により、何もないものに比べて、温度変化に対する反り
・歪みが抑制される。特に、本例では、ダミー薄膜20
が、下層21と同一の材質(Cr)で構成したので、そ
の部分での熱膨張係数は等しくなり、熱に対する安定性
がより向上する。なお、その他の構成ならびに作用効果
は、上記した第12の実施の形態と同様であるので、そ
の説明を省略する。
【0029】なお、本形態では、ダミー薄膜20を一層
としているが、係るダミー薄膜20も複数の材質の層か
ら構成してもよい。その場合に、ダミー薄膜20の構成
を電極用薄膜14の構成・材質と同一にすることが、さ
らにセンサチップ4の反りを防止する上で好ましい。
【0030】図4,図5は、本発明に係る加速度センサ
の第3の実施の形態を示している。本実施の形態では、
上記した第1の実施の形態を基本とし、さらにボンディ
ングワイヤ16a,16bとの接合領域を除く電極用薄
膜14a,14bの上面を絶縁膜24で被覆するように
している。この絶縁膜は、酸化膜から構成する。この絶
縁膜24により電極用薄膜14a,14bの多くの領域
を被覆し、腐食するのを防止し、耐久性の向上を図って
いる。
【0031】そして、製造するには、第1のガラス基板
2の上面全面に電極用薄膜を構成するAlを全面に蒸着
した状態で、その表面全面に酸化膜を形成する。次い
で、酸化膜の一部を帯状に除去し、Alの一部を露出さ
せる。その後、ハーフダイシングを行い、ダイシングラ
イン25により2つの領域に分割する。よって、絶縁膜
24も2つに分割される。なお、最終的に露出したAl
にボンディングワイヤ16a,16bを取り付ける。
【0032】上記した絶縁膜24を設けたタイプの加速
度センサでも、上記した第1の実施の形態と同様に第2
のガラス基板3の下面にCrを全面に蒸着してダミー薄
膜20を形成する。さらに本例では、このダミー薄膜2
0の表面を酸化膜等の絶縁膜26で皮膜する。
【0033】係る構成にすることにより、ダミー薄膜2
0も外気等に触れることはなく、腐食性ガス雰囲気下に
おかれても、ダミー薄膜20は腐食しない。従って、長
期にわたってダミー薄膜20の状態を電極用薄膜14
a,14bと同様の状態にすることができ、熱に対する
安定性が長期間保持される。なお、その他の構成並びに
作用効果は上記した各実施の形態と同様であるので、そ
の詳細な説明を省略する。
【0034】さらに絶縁膜24と同一材料によって絶縁
膜26を構成すると、この絶縁膜26も、ダミー薄膜2
0と同様に、絶縁膜26に起因する温度変化に対する応
力を解消する機能も発揮し、加速度センサの反りの発生
がより確実に抑制される。なお、具体的な図示は省略す
るが、絶縁膜を形成するタイプとしては、この実施の形
態に限ることはなく、例えば電極用薄膜14を複数層で
形成したタイプの(例えば第2の実施の形態のもの)セ
ンサの表面に絶縁膜を形成してもよい。
【0035】図6は、本発明に係る加速度センサの第4
の実施の形態を示している。本実施の形態も、第1の実
施の形態を基本とし、第1のガラス基板2の上面に、2
つに分割された電極用薄膜14a,14bが形成され、
ボンディングワイヤ16を介してセンサ内の可動電極,
固定電極間の静電容量を検出できるようにしている。そ
して、電極用薄膜14a,14bは、Alを蒸着するこ
とにより形成している。
【0036】ここで本実施の形態では、第2のガラス基
板3の下面に形成するダミー薄膜20を、電極用薄膜1
4a,14bの形状に合わせて、2つの領域に分離して
形成している。すなわち、ダミー薄膜20及び第2のガ
ラス基板3の下面の所定位置に、ハーフダイシング工程
により、第2のガラス基板3の両短辺を2等分するよう
にダミーダイシングライン28を形成する。つまり、ダ
ミーダイシングライン28とダイシングライン15は、
上下方向で一致する。
【0037】そしてこのダミーダイシングライン28に
より、第2のガラス基板3の表面も一部除去された溝部
となり、その両側に残ったCrが、ダミー薄膜20とな
る。そして、このダミー薄膜20は、電極用薄膜14
a,14bと同形状となっている。
【0038】よって、ダミー薄膜20を分割せずに形成
した場合よりも、ダミー薄膜20から第2のガラス基板
3の下面にかかる応力は、電極用薄膜14から第1のガ
ラス基板2の上面にかかる応力とより等しくなる。よっ
て、温度変化があっても、センサ全体には反りが生じ
ず、容量型加速度センサの出力はさらに安定する。ま
た、このようにダミー薄膜を分割する構造も、上記した
第2,第3の実施の形態に対して適用することができる
のはもちろんである。
【0039】なお、上記した各実施の形態では、いずれ
も電極用薄膜14a,14bを分割するのにハーフダイ
シング工程を用いて行った例を示したが、本発明はこれ
に限ることはなく、例えばエッチング工程により形成し
てもよい。一例を図示すると、上記した第4の実施の形
態のように、第1,第2のガラス基板2,3の表面にそ
れぞれ、Alからなる電極用薄膜14aと、Crからな
るダミー用薄膜20を形成するタイプの場合には、図7
に示すようになる。
【0040】つまり、各金属膜を全面に蒸着後、パター
ニングしたレジストにより必要部分をマスクした状態で
エッチングする。すると、露出した金属膜が除去され、
図示するように未形成領域29となる。そして、この未
形成領域29は、ガラス基板2,3の表面は除去されず
平坦面となる。そして、係る構成は、他の実施の形態に
も適用できるのはもちろんである。
【0041】また、上記した各実施の形態並びに変形例
は、いずれも、信号取り出し用の電極用薄膜をともにセ
ンサの上面に形成したが、本発明はこれに限ることはな
く、一方を下面側に形成してもよい。また、電極用薄膜
は2つの領域に形成したが、本発明はこれに限ることは
なく、3つ以上の領域に分割されたものでもよい(例え
ば第2のガラス基板3側にも固定電極を設け、差分をと
るような場合には、3つに分離される)。
【0042】
【発明の効果】以上のように、本発明に係る容量型加速
度センサでは、センサの両面に導電性薄膜が形成される
ので、温度変化により一方のガラス基板と導電性薄膜と
の間で発生する応力と、他方のガラス基板側で発生する
応力がほぼ等しくなるので、センサに反りが生じようと
するのが相殺される。そのため、温度変化に基づく可動
電極と固定電極との静電容量の変化を防ぎ、容量型加速
度センサの出力が、温度変化により変化するのを防止し
ている。よって、容量型加速度センサは温度変化に対し
て安定した出力をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る容量型加速度センサの第1の実施
の形態を示す斜視図である。
【図2】図1に示す容量型加速度センサのA−A断面図
である。
【図3】本発明に係る容量型加速度センサの第2の実施
の形態を示す断面図である。
【図4】本発明に係る容量型加速度センサの第3の実施
の形態を示す断面図である。
【図5】図4に示す容量型加速度センサのA−A断面図
である。
【図6】本発明に係る容量型加速度センサの第4の実施
の形態を示す斜視図である。
【図7】本発明に係る容量加速度センサの変形例を示す
斜視図である。
【図8】従来の容量型加速度センサの分解斜視図であ
る。
【図9】従来の容量型加速度センサの断面図である。
【符号の説明】
1 シリコン基板(半導体基板) 2 第1のガラス基板(絶縁基板) 3 第2のガラス基板(絶縁基板) 7 重り部 9 可動電極 11 固定電極 14,14a,14b 電極用薄膜(導電性薄膜) 20 ダミー薄膜(導電性薄膜) 21 下層(導電性薄膜) 22 上層(導電性薄膜) 24,26 絶縁膜(絶縁性薄膜)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 振動,加速度等の物理量に応じて変位す
    る重り部を備えた半導体基板の両面に絶縁基板を接合す
    るとともに、少なくとも一方の絶縁基板の前記重り部に
    形成された可動電極に対向する面に固定電極を備え、 かつ、前記両絶縁基板の前記半導体基板との接合面と反
    対側の表面に、それぞれ導電性薄膜を形成したことを特
    徴とする容量型加速度センサ。
  2. 【請求項2】 前記一方の絶縁基板に形成された前記導
    電性薄膜が、電気的に分離された複数の領域に分割さ
    れ、 かつ、各領域の導電性薄膜に、前記固定電極並びに前記
    重り部に形成れさた可動電極を電気的に接続したことを
    特徴とする請求項1に記載の容量型加速度センサ。
  3. 【請求項3】 前記導電性薄膜の表面の少なくとも一部
    を絶縁性薄膜で覆うようにしたことを特徴とする請求項
    1または2に記載の容量型加速度センサ。
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