JPH09246165A - ブラインド装置 - Google Patents
ブラインド装置Info
- Publication number
- JPH09246165A JPH09246165A JP8054481A JP5448196A JPH09246165A JP H09246165 A JPH09246165 A JP H09246165A JP 8054481 A JP8054481 A JP 8054481A JP 5448196 A JP5448196 A JP 5448196A JP H09246165 A JPH09246165 A JP H09246165A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- blind device
- blind
- blinds
- ray
- transmission region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ウエハ上の投影面において、隣の露光領域と
の間に隙間を無いようにしても、重なる部分が発生しな
いようにすることを目的とする。 【解決手段】 X線マスクを照射する領域が、斜線領域
で示す形状Fとなるように、ブラインド2e〜2hを構
成し、ブラインド装置のX線通過領域の上部ほど狭く下
部ほど広くなるように、ブラインド2fおよびブライン
ド2eのX線遮断端部の形状を斜めに形成する。
の間に隙間を無いようにしても、重なる部分が発生しな
いようにすることを目的とする。 【解決手段】 X線マスクを照射する領域が、斜線領域
で示す形状Fとなるように、ブラインド2e〜2hを構
成し、ブラインド装置のX線通過領域の上部ほど狭く下
部ほど広くなるように、ブラインド2fおよびブライン
ド2eのX線遮断端部の形状を斜めに形成する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、X線などを露光
光源として用いてマスクパターンをウエハ上に転写する
ことで、半導体素子パターンを形成する露光装置におい
て、露光光を一部遮断するためのブラインド装置に関す
る。
光源として用いてマスクパターンをウエハ上に転写する
ことで、半導体素子パターンを形成する露光装置におい
て、露光光を一部遮断するためのブラインド装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】一般に露光装置に用いられているブライ
ンド装置は、面積の大きな露光光に対してチップ領域の
寸法に応じて遮光制御するためのものである。このブラ
インド装置は、四方からそのチップ領域を囲むように移
動する4つの矩形状ブラインドと、そのブラインドを正
確な位置に位置決めする駆動機構から構成される。そし
て、露光に際して、それらブラインドが露光チップのサ
イズに対応してこれを囲むように配置される。
ンド装置は、面積の大きな露光光に対してチップ領域の
寸法に応じて遮光制御するためのものである。このブラ
インド装置は、四方からそのチップ領域を囲むように移
動する4つの矩形状ブラインドと、そのブラインドを正
確な位置に位置決めする駆動機構から構成される。そし
て、露光に際して、それらブラインドが露光チップのサ
イズに対応してこれを囲むように配置される。
【0003】図3および図4は、X線露光装置に用いる
従来のブラインド装置の構成を示す断面図と平面図であ
る。同図において、SOR(synchrotron orbit radiat
ion )リングより導かれたX線L1は石英板からなるブ
ラインド2a〜2dにより部分的に遮断される。このブ
ラインド2a〜2dは、位置決め手段3により位置制御
される。位置決め手段3は、ロータリーエンコーダ付き
DCサーボモータなどを駆動源として、ブラインド2a
〜2dの位置決めをおこなう。なお、同図では、ブライ
ンド2aの位置決め手段3のみを図示しており、他を省
略してあるが、他も同様である。
従来のブラインド装置の構成を示す断面図と平面図であ
る。同図において、SOR(synchrotron orbit radiat
ion )リングより導かれたX線L1は石英板からなるブ
ラインド2a〜2dにより部分的に遮断される。このブ
ラインド2a〜2dは、位置決め手段3により位置制御
される。位置決め手段3は、ロータリーエンコーダ付き
DCサーボモータなどを駆動源として、ブラインド2a
〜2dの位置決めをおこなう。なお、同図では、ブライ
ンド2aの位置決め手段3のみを図示しており、他を省
略してあるが、他も同様である。
【0004】転写するパタンが形成されているX線マス
ク1は、ブラインド2a〜2dの下に配置されたマスク
ステージ7に取り付けられている。そして、ブラインド
2a〜2dにより照射領域を成形されたX線が、X線マ
スク1のデバイス領域αを照射し、ここを透過したX線
がウエハ4上に照射される。X線マスク1は、シリコン
基板上に形成されたX線を透過するメンブレン上に、転
写するパターンが形成されたものである。なお、8はウ
エハ4が載置されるウエハステージ、9は転写するパタ
ーンを形作るX線の吸収体である。
ク1は、ブラインド2a〜2dの下に配置されたマスク
ステージ7に取り付けられている。そして、ブラインド
2a〜2dにより照射領域を成形されたX線が、X線マ
スク1のデバイス領域αを照射し、ここを透過したX線
がウエハ4上に照射される。X線マスク1は、シリコン
基板上に形成されたX線を透過するメンブレン上に、転
写するパターンが形成されたものである。なお、8はウ
エハ4が載置されるウエハステージ、9は転写するパタ
ーンを形作るX線の吸収体である。
【0005】ブラインド2a〜2dは、X線マスク1の
上方(光源側)で、四方からデバイス領域αを取り囲む
ように配置され、この下方にX線マスク1を取り付ける
マスクステージ7が配置される。位置決め手段3によ
り、所定に位置に正確に配置されたブラインド2a〜2
dにより、X線L1の照射領域が成形され、例えば、デ
バイス領域α以外へのX線L1の照射を遮る。
上方(光源側)で、四方からデバイス領域αを取り囲む
ように配置され、この下方にX線マスク1を取り付ける
マスクステージ7が配置される。位置決め手段3によ
り、所定に位置に正確に配置されたブラインド2a〜2
dにより、X線L1の照射領域が成形され、例えば、デ
バイス領域α以外へのX線L1の照射を遮る。
【0006】このように、ブラインド装置は、X線マス
クの所望の領域にのみX線を照射するようにするもので
ある。X線マスクに形成されたマスクパタンをウエハ上
に複数形成するX線露光では、X線マスクとウエハとの
相対位置を逐次変えながら、それぞれX線を照射するよ
うにしている。このような露光において、必要以上にX
線照射領域を広げると、既に露光をおこなった領域の一
部に、再度X線が照射される場合が発生してしまう。こ
のため、ブラインド装置によって、複数形成するパタン
の隣同士の間隔(ピッチ)より、X線の照射領域を小さ
くしておく必要がある。
クの所望の領域にのみX線を照射するようにするもので
ある。X線マスクに形成されたマスクパタンをウエハ上
に複数形成するX線露光では、X線マスクとウエハとの
相対位置を逐次変えながら、それぞれX線を照射するよ
うにしている。このような露光において、必要以上にX
線照射領域を広げると、既に露光をおこなった領域の一
部に、再度X線が照射される場合が発生してしまう。こ
のため、ブラインド装置によって、複数形成するパタン
の隣同士の間隔(ピッチ)より、X線の照射領域を小さ
くしておく必要がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したよ
うなX線露光においては、SORリングより得られるX
線をスリット形状として用いており、これを走査するこ
とでX線マスク全域を照射するようにしている。この走
査においては、ブラインド装置直前の回転可能な走査用
ミラーを用いることでなされる。すなわち、走査用ミラ
ーを回転させることで、ここを反射するスリット状のX
線の走査用ミラーからの投影方向を変更して、スリット
の走査をおこなうようにしている。
うなX線露光においては、SORリングより得られるX
線をスリット形状として用いており、これを走査するこ
とでX線マスク全域を照射するようにしている。この走
査においては、ブラインド装置直前の回転可能な走査用
ミラーを用いることでなされる。すなわち、走査用ミラ
ーを回転させることで、ここを反射するスリット状のX
線の走査用ミラーからの投影方向を変更して、スリット
の走査をおこなうようにしている。
【0008】ここで、この走査用ミラーに到達するまで
のX線は、そのスリットの長手方向に広がるようにして
到達する場合が多く、このために走査用ミラーは円柱よ
り切り出した形状の凹面鏡となっている。このため、図
5に示すように、X線のスリットを走査するために走査
用ミラーを回転させると、その走査によるランナウトの
ためX線の反射面位置が変化し、反射してからのX線の
スリットの長手方向への広がり方が変化してしまう。
のX線は、そのスリットの長手方向に広がるようにして
到達する場合が多く、このために走査用ミラーは円柱よ
り切り出した形状の凹面鏡となっている。このため、図
5に示すように、X線のスリットを走査するために走査
用ミラーを回転させると、その走査によるランナウトの
ためX線の反射面位置が変化し、反射してからのX線の
スリットの長手方向への広がり方が変化してしまう。
【0009】図5において、51a〜51cは走査ミラ
ーによるスリット状のX線の反射状態を示す反射部であ
り、この下方よりX線は入射してくる。そして、この反
射部51a〜51cを反射したスリット状のX線は、弓
なりに反った形状となり、ブラインド装置52を通過し
て投影面53に投影される。ここで、反射部51aは、
図示していない走査ミラーがブラインド装置52の面に
対して反射面がより伏せているときの反射状態であり、
入射と反射との角度がより小さい状態となっている。こ
れに対して、反射部51cは、走査ミラーがブラインド
装置52の面に対して反射面がより起きあがっていると
きの反射状態であり、入射と反射との角度がより大きい
状態となっている。
ーによるスリット状のX線の反射状態を示す反射部であ
り、この下方よりX線は入射してくる。そして、この反
射部51a〜51cを反射したスリット状のX線は、弓
なりに反った形状となり、ブラインド装置52を通過し
て投影面53に投影される。ここで、反射部51aは、
図示していない走査ミラーがブラインド装置52の面に
対して反射面がより伏せているときの反射状態であり、
入射と反射との角度がより小さい状態となっている。こ
れに対して、反射部51cは、走査ミラーがブラインド
装置52の面に対して反射面がより起きあがっていると
きの反射状態であり、入射と反射との角度がより大きい
状態となっている。
【0010】そして、反射部51bの反射でブラインド
装置52のほぼ中央を通過していくスリット状のX線
は、そのスリットの長手方向にほとんど変化がない状態
とすれば、反射部51aの反射でブラインド装置52の
下方を通過していくスリット状のX線は、その方向にせ
ばまっていく。これに対して、反射部51cの反射でブ
ラインド装置52の上方を通過していくスリット状のX
線は、そのスリットの長手方向に広がっていく。
装置52のほぼ中央を通過していくスリット状のX線
は、そのスリットの長手方向にほとんど変化がない状態
とすれば、反射部51aの反射でブラインド装置52の
下方を通過していくスリット状のX線は、その方向にせ
ばまっていく。これに対して、反射部51cの反射でブ
ラインド装置52の上方を通過していくスリット状のX
線は、そのスリットの長手方向に広がっていく。
【0011】従って、以上示したことにより、従来では
以下に示すような問題点があった。すなわち、反射部5
1aの反射による投影状態53aは、反射部51bによ
る投影状態53bや反射部51cの反射による投影状態
53cに比較して、幅が狭くなってしまう。また、凹面
鏡を反射してきた光のため、投影面53に投影されたと
きの形状は、前述したようにスリットが弓なりに反って
しまっている。そして、それらのことにより、X線マス
クに形成されたマスクパタンをウエハ上に複数形成する
ようにする場合、図6に示すように、隣と露光領域が重
なる2重露光領域61や未露光領域62が発生してしま
う。
以下に示すような問題点があった。すなわち、反射部5
1aの反射による投影状態53aは、反射部51bによ
る投影状態53bや反射部51cの反射による投影状態
53cに比較して、幅が狭くなってしまう。また、凹面
鏡を反射してきた光のため、投影面53に投影されたと
きの形状は、前述したようにスリットが弓なりに反って
しまっている。そして、それらのことにより、X線マス
クに形成されたマスクパタンをウエハ上に複数形成する
ようにする場合、図6に示すように、隣と露光領域が重
なる2重露光領域61や未露光領域62が発生してしま
う。
【0012】上述したように、2重露光領域61や未露
光領域62があると、これがデバイス領域にも影響する
ため、X線マスクのパタンをウエハ上に正確に転写でき
なくなる。そして、この2重露光領域61や未露光領域
62を無くそうとして、スクライブラインの幅を大きく
したり、デバイス領域を小さくするようにすれば、ウエ
ハ面内に形成できるチップの数を少なくしてしまう。
光領域62があると、これがデバイス領域にも影響する
ため、X線マスクのパタンをウエハ上に正確に転写でき
なくなる。そして、この2重露光領域61や未露光領域
62を無くそうとして、スクライブラインの幅を大きく
したり、デバイス領域を小さくするようにすれば、ウエ
ハ面内に形成できるチップの数を少なくしてしまう。
【0013】この発明は、以上のような問題点を解消す
るためになされたものであり、ウエハ上の投影面におい
て、隣の露光領域との間に隙間を無いようにしても、重
なる部分が発生しないようにすることを目的とする。
るためになされたものであり、ウエハ上の投影面におい
て、隣の露光領域との間に隙間を無いようにしても、重
なる部分が発生しないようにすることを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】この発明のブラインド装
置は、透過領域で互いに平行でない向かい合う直線部分
を構成する2つの直線ブラインドを備えるようにした。
このため、スリット状の露光光を直線ブラインドの直線
部分の直線方向に走査すると、ウエハ上に投影されたス
リット状の露光光のスリット方向の長さが変化する。ま
た、透過領域で曲線部分を構成する曲線ブラインドを備
えるようにした。このため、弓なりに反ったスリット状
の露光光が走査されても、ウエハ上には捜査開始と終了
の端辺が直線状態で露光光が投影される。
置は、透過領域で互いに平行でない向かい合う直線部分
を構成する2つの直線ブラインドを備えるようにした。
このため、スリット状の露光光を直線ブラインドの直線
部分の直線方向に走査すると、ウエハ上に投影されたス
リット状の露光光のスリット方向の長さが変化する。ま
た、透過領域で曲線部分を構成する曲線ブラインドを備
えるようにした。このため、弓なりに反ったスリット状
の露光光が走査されても、ウエハ上には捜査開始と終了
の端辺が直線状態で露光光が投影される。
【0015】
【発明の実施の形態】以下この発明の実施の形態を図を
参照して説明する。図1は、この発明の実施の形態にお
けるブラインド装置の構成を示す平面図である。同図に
おいて、2e〜2hはブラインド、3e〜3hはそれぞ
れブラインド2e〜2hの位置決めをおこなう位置決め
手段である。ブラインド2e〜2hは、その平面形状が
従来とは異なり、X線マスクを照射する領域が、斜線領
域で示す形状Fとなるようにするものである。
参照して説明する。図1は、この発明の実施の形態にお
けるブラインド装置の構成を示す平面図である。同図に
おいて、2e〜2hはブラインド、3e〜3hはそれぞ
れブラインド2e〜2hの位置決めをおこなう位置決め
手段である。ブラインド2e〜2hは、その平面形状が
従来とは異なり、X線マスクを照射する領域が、斜線領
域で示す形状Fとなるようにするものである。
【0016】図2の斜視図に示すように、X線のスリッ
トを走査するための走査用ミラーの走査によるランナウ
トにより、反射してからのX線のスリットの長手方向へ
の広がり方が変化しても、投影面における投影像22の
幅が上下で異なることがない。そして、投影像22の上
辺および底辺が弓なりに反った形状とならず、直線で構
成されるようになる。
トを走査するための走査用ミラーの走査によるランナウ
トにより、反射してからのX線のスリットの長手方向へ
の広がり方が変化しても、投影面における投影像22の
幅が上下で異なることがない。そして、投影像22の上
辺および底辺が弓なりに反った形状とならず、直線で構
成されるようになる。
【0017】図5にも示したように、異なる状態の反射
部21a〜21cを反射したスリット状のX線は、図2
に示す状態で、ブラインド装置上部を通過しているとき
ほど広がっていき、ブラインド装置下部を通過している
ときほど狭まっていく。ここで、この実施の形態では、
ブラインド装置のX線通過領域の上部ほど狭く下部ほど
広くなるように、ブラインド2fおよびブラインド2e
のX線遮断端部の形状を斜めに形成する。そして、弓な
りに反って反射してくるスリット状のX線を、X線透過
領域の上端部および下端部において、その逆に反った形
状としたブラインド2g,2hによって、その透過した
状態を直線形状とする。
部21a〜21cを反射したスリット状のX線は、図2
に示す状態で、ブラインド装置上部を通過しているとき
ほど広がっていき、ブラインド装置下部を通過している
ときほど狭まっていく。ここで、この実施の形態では、
ブラインド装置のX線通過領域の上部ほど狭く下部ほど
広くなるように、ブラインド2fおよびブラインド2e
のX線遮断端部の形状を斜めに形成する。そして、弓な
りに反って反射してくるスリット状のX線を、X線透過
領域の上端部および下端部において、その逆に反った形
状としたブラインド2g,2hによって、その透過した
状態を直線形状とする。
【0018】以上のようにすることで、ブラインド装置
を通過したX線は、ウエハに投影された状態では、その
走査領域が長方形に成形されるようになる。この結果、
この実施の形態によれば、ウエハ上に形成されるブライ
ンド装置によって成形される1露光分のX線露光領域を
複数並べるように配置しても、一部に隙間ができたり重
なる領域が発生することがない。この結果、効率よく複
数のチップをウエハ上に形成することが可能となる。
を通過したX線は、ウエハに投影された状態では、その
走査領域が長方形に成形されるようになる。この結果、
この実施の形態によれば、ウエハ上に形成されるブライ
ンド装置によって成形される1露光分のX線露光領域を
複数並べるように配置しても、一部に隙間ができたり重
なる領域が発生することがない。この結果、効率よく複
数のチップをウエハ上に形成することが可能となる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、この発明では、透
過領域で互いに平行でない向かい合う直線部分を構成す
る2つの直線ブラインドを備えるようにした。また、透
過領域で曲線部分を構成する曲線ブラインドを備えるよ
うにした。このため、この発明によれば、スリット状の
露光光を直線ブラインドの直線部分の方向に走査する
と、ウエハ上に投影されたスリット状の露光光のスリッ
ト方向の長さが変化し、弓なりに反ったスリット状の露
光光が走査されても、ウエハ上には矩形状態で露光光が
投影される。この結果、ウエハ上への露光光の投影領域
を長方形に成形することができ、隣の露光領域との間に
隙間を無いようにしても、重なる部分が発生しないよう
にすることができる。このため、効率よく複数のチップ
をウエハ上に形成することが可能となる。
過領域で互いに平行でない向かい合う直線部分を構成す
る2つの直線ブラインドを備えるようにした。また、透
過領域で曲線部分を構成する曲線ブラインドを備えるよ
うにした。このため、この発明によれば、スリット状の
露光光を直線ブラインドの直線部分の方向に走査する
と、ウエハ上に投影されたスリット状の露光光のスリッ
ト方向の長さが変化し、弓なりに反ったスリット状の露
光光が走査されても、ウエハ上には矩形状態で露光光が
投影される。この結果、ウエハ上への露光光の投影領域
を長方形に成形することができ、隣の露光領域との間に
隙間を無いようにしても、重なる部分が発生しないよう
にすることができる。このため、効率よく複数のチップ
をウエハ上に形成することが可能となる。
【図1】 この発明の実施の形態におけるブラインド装
置の構成を示す平面図である。
置の構成を示す平面図である。
【図2】 この発明の実施の形態におけるX線の走査状
態を示す斜視図である。
態を示す斜視図である。
【図3】 X線露光装置に用いる従来のブラインド装置
の構成を示す断面図である。
の構成を示す断面図である。
【図4】 X線露光装置に用いる従来のブラインド装置
の構成を示す平面図である。
の構成を示す平面図である。
【図5】 X線の走査状態を示す斜視図である。
【図6】 従来のウエハ面上へのX線の投影状態を示す
平面図である。
平面図である。
2a〜2g…ブラインド、3a〜3g…位置決め手段。
フロントページの続き (72)発明者 露嵜 晴夫 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日本 電信電話株式会社内
Claims (5)
- 【請求項1】 パターンが形成されているマスク上部に
配置し、露光光を遮断する複数のブラインドにより前記
露光光の透過領域を形成し、前記マスクを介してウエハ
上に照射する露光光の照射領域を所望の形状に成形する
ブラインド装置において、 前記透過領域で互いに平行でない向かい合う直線部分を
構成する2つの直線ブラインドを有することを特徴とす
るブラインド装置。 - 【請求項2】 パターンが形成されているマスク上部に
配置し、露光光を遮断する複数のブラインドにより前記
露光光の透過領域を形成し、前記マスクを介してウエハ
上に照射する露光光の照射領域を所望の形状に成形する
ブラインド装置において、 前記透過領域で曲線部分を構成する曲線ブラインドを有
することを特徴とするブラインド装置。 - 【請求項3】 請求項1記載のブラインド装置におい
て、 前記透過領域で曲線部分を構成する曲線ブラインドを有
することを特徴とするブラインド装置。 - 【請求項4】 請求項2または3記載のブラインド装置
において、 前記透過領域で互いに向かい合う同一方向に曲がってい
る曲線部を構成する2つの曲線ブラインドを有すること
を特徴とするブラインド装置。 - 【請求項5】 請求項1または3または4記載のブライ
ンド装置において、 前記露光光の前記ブラインド装置平面への入射角によっ
て、前記向かい合う直線ブラインドの間隔が変化してい
ることを特徴とするブラインド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05448196A JP3284299B2 (ja) | 1996-03-12 | 1996-03-12 | ブラインド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05448196A JP3284299B2 (ja) | 1996-03-12 | 1996-03-12 | ブラインド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09246165A true JPH09246165A (ja) | 1997-09-19 |
| JP3284299B2 JP3284299B2 (ja) | 2002-05-20 |
Family
ID=12971860
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05448196A Expired - Fee Related JP3284299B2 (ja) | 1996-03-12 | 1996-03-12 | ブラインド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3284299B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100579886B1 (ko) * | 2004-10-07 | 2006-05-15 | 한국과학기술원 | 인공 우주방사선 조사장치 |
-
1996
- 1996-03-12 JP JP05448196A patent/JP3284299B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100579886B1 (ko) * | 2004-10-07 | 2006-05-15 | 한국과학기술원 | 인공 우주방사선 조사장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3284299B2 (ja) | 2002-05-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2979667B2 (ja) | 反射型のx線露光用マスク | |
| US5235626A (en) | Segmented mask and exposure system for x-ray lithography | |
| EP0109193B1 (en) | X-ray lithographic system | |
| JP3094439B2 (ja) | 露光方法 | |
| KR0178566B1 (ko) | 전자빔 시스템의 묘화용 애퍼처 | |
| JP4481561B2 (ja) | 半導体デバイス用マスク | |
| JPH03108310A (ja) | 露光装置 | |
| JPH09246165A (ja) | ブラインド装置 | |
| JP3313628B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JP2000269122A (ja) | ダミーパターン形成方法及び半導体製造方法 | |
| JP3175059B2 (ja) | 周辺露光装置及び方法 | |
| JPH09148241A (ja) | 走査露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法 | |
| JPH0323900B2 (ja) | ||
| JP2734396B2 (ja) | 露光マスク | |
| JP3184395B2 (ja) | 露光装置 | |
| JPH0546696B2 (ja) | ||
| JP2003068616A (ja) | マスク、半導体装置および露光装置 | |
| US6009143A (en) | Mirror for providing selective exposure in X-ray lithography | |
| JP3357579B2 (ja) | ブロッカ装置 | |
| JPH07135142A (ja) | パターン形成方法及び装置 | |
| JP2705191B2 (ja) | パターン転写方法とマスク | |
| JP2731959B2 (ja) | X線露光装置 | |
| JPH07283124A (ja) | X線露光装置 | |
| JPH05175103A (ja) | X線露光装置 | |
| JP2701422B2 (ja) | パターン転写方法と装置及びマスク |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090308 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090308 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100308 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110308 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |